CN208736976U - 电路板的测试电路及测试仪器 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种电路板的测试电路及测试仪器，包括排阻、第一接线端子、第二接线端子、单片机以及显示电路。单片机包括多个逻辑输出脚、多个测试输出电压脚及多个测试输入电压脚，所述排阻的第一端分别与单片机的多个逻辑输出脚连接，排阻的第二端分别与单片机的多个测试输出电压脚连接，排阻的第二端与所述测试输出电压脚的连接节点与第二接线端子中的相应接线端连接，第二接线端子与待测电路板的测试插座连接。单片机的多个测试输入电压脚与第一接线端子中的多个接线端一一对应连接，第一接线端子的多个接线端与待测电路板的多个顶针测试点一一对应连接。本实用新型能够减小电路板的测试电路的单一性，满足用户的多元化需求。

Description

电路板的测试电路及测试仪器

技术领域

本实用新型涉及电路板的测试电路技术领域，特别涉及一种电路板的测试电路及测试仪器。

背景技术

现有的焊接质量(即开短路检测)检测方法普遍为电阻测试法，即对引脚的电阻以及相邻引脚的电阻进行检测，当引脚电阻为无穷大时，则判断该脚为虚焊。当相邻引脚电阻为0Ω时，则判断为相邻引脚异常连焊。实现此种判断原理的电路结构较为复杂，而且对测试电阻的元器件的精度要求较高。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提供一种电路板的测试电路，旨在解决现有电路板的测试电路的电路结构较为复杂的技术问题。

为实现上述目的，本实用新型提出一种电路板的测试电路，所述电路板的测试电路包括排阻、第一接线端子、第二接线端子、用于输出逻辑电平并处理测试电压以及输出与测试电压对应的控制信号的单片机以及用于显示测试结果的显示电路；

所述单片机包括多个逻辑输出脚、多个测试输出电压脚及多个测试输入电压脚，所述排阻的第一端分别与所述单片机的多个逻辑输出脚连接，所述排阻的第二端分别与所述单片机的多个测试输出电压脚连接，所述排阻的第二端与所述测试输出电压脚的连接节点与所述第二接线端子中的相应接线端连接，所述第二接线端子与待测电路板的测试插座连接；所述单片机的多个测试输入电压脚与所述第一接线端子中的多个接线端一一对应连接，所述第一接线端子的多个接线端与所述待测电路板的多个顶针测试点一一对应连接。

可选地，所述排阻包括多个电阻，多个所述电阻的第一端与多个所述逻辑输出脚一一对应连接，多个所述电阻的第二端与多个所述测试输出电压脚一一对应连接，多个所述电阻的第二端还与所述第二接线端子中的多个接线端一一对应连接。

可选地，所述电路板的测试电路还包括测试触发开关，所述测试触发开关的第一端与所述单片机的受控端连接，所述测试触发开关的第二端接地。

可选地，所述显示电路为指示灯显示电路，所述指示灯电路与所述单片机的控制信号输出端连接。

可选地，所述指示灯显示电路包括第一电阻、第一发光二极管和工作电压输入端，所述第一电阻的第一端与所述单片机的控制信号输出端连接，所述第一电阻的第二端与所述第一发光二极管的阴极连接，所述第一发光二极管的阳极与所述工作电压输入端连接。

可选地，所述指示灯显示电路还包括第一电容和第二电容，所述第一电容的第一端及所述第二电容的第一端均与所述工作电压输入端连接，所述第一电容的第二端及所述第二电容的第二端均接地。

为实现上述目的，本实用新型还提出一种电路板的测试仪器，包括如上所述的电路板的测试电路。

本实用新型提出的一种电路板的测试电路，包括排阻、第一接线端子、第二接线端子、单片机以及显示电路。其中，单片机用于输出逻辑电平并处理测试电压以及输出与测试电压对应的控制信号，显示电路用于显示测试结果。通过将所述排阻的第一端分别与所述单片机的多个逻辑输出脚连接，所述排阻的第二端分别与所述单片机的多个测试输出电压脚连接，所述排阻的第二端与所述测试输出电压脚的连接节点与所述第二接线端子中的相应接线端连接，所述第二接线端子与待测电路板的测试插座连接。以此实现对输入待测电路板的电压的检测。另外，所述单片机的多个测试输入电压脚与所述第一接线端子中的多个接线端一一对应连接，所述第一接线端子的多个接线端与所述待测电路板的多个顶针测试点一一对应连接。以此实现对输出各个待测顶针测试点的电压的检测。此时，在单片机中，将检测到的输入待测电路板的电压与顶针测试点的电压比对。即可以得出待测电路板的待测电路的焊接情况。从而简化了电路板的测试电路，同时还在不影响测试结果的情况下降低了测试精度要求，并降低了生产成本。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本实用新型中电路板的测试电路的结构示意图；

图2为本实用新型中待测电路板的电路结构示意图。

本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明，本实用新型实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，在本实用新型中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。

为解决电路板的测试电路的功能单一的问题，如图1、2所示，本实用新型提供一种电路板的测试电路包括排阻RP1、第一接线端子CN1、第二接线端子CN2、单片机U1以及显示电路102。所述单片机U1包括多个逻辑输出脚、多个测试输出电压脚及多个测试输入电压脚，所述排阻RP1的第一端分别与所述单片机U1的多个逻辑输出脚连接，所述排阻RP1的第二端分别与所述单片机U1的多个测试输出电压脚连接，所述排阻RP1的第二端与所述测试输出电压脚的连接节点与所述第二接线端子CN2中的相应接线端连接，所述第二接线端子CN2与待测电路板101的测试插座CN3连接；所述单片机U1的多个测试输入电压脚与所述第一接线端子CN1中的多个接线端一一对应连接，所述第一接线端子CN1的多个接线端与所述待测电路板101的多个顶针测试点1011一一对应连接。

其中，所述待测电路板101的测试插座CN3为待测焊接点的电压输入端，顶针测试点1011为多个待测焊接点1012的电压输出端。第二接线端子CN2与待测电路板101的测试插座CN3连接，可以实现对多个输入待测电路板101的待测焊接点电压的独立检测。第一接线端子CN1的多个接线端与所述待测电路板101的多个顶针测试点1011一一对应连接，可以实现对对输出各个待测电路板101的焊接点电压的独立检测。单片机U1将测得的待测电路板101的同一焊接点的输入电压与输出电压相比较，若是输入电压与输出电压相等，则表示此焊接点质量合格，若是输入电压与输出电压不相等，则表示此焊接点异常焊接。随后，单片机U1输出控制信号使得显示电路102显示测试结果，此时显示方式可以为指示灯显示或者显示屏显示或者其他。上述实施例中，实现检测的电路简单容易批量制作，另外，实现检测的方法检测精度较高，不用再涉及计算实际的电阻值，仅依靠电压的比较便可以判断焊接情况，便于检测以及大范围的应用，精确度较高。

可选地，所述排阻RP1包括多个电阻，多个所述电阻的第一端与多个所述逻辑输出脚一一对应连接，多个所述电阻的第二端与多个所述测试输出电压脚一一对应连接，多个所述电阻的第二端还与所述第二接线端子CN2中的多个接线端一一对应连接。

其中，第一电阻R1的第一端与单片机U1的第一逻辑输出脚P12连接，第一电阻R1的第二端分别与第一测试输出电压脚P1以及第二接线端子CN2的第一接线端1连接，第二接线端子CN2的第一接线端1还与待测电路板101的测试插座CN3的第一端1连接。第二电阻R2的第一端与单片机U1的第二逻辑输出脚P13连接，第二电阻R2的第二端分别与第二测试输出电压脚P2以及第二接线端子CN2的第二接线端2连接，第二接线端子CN2的第二接线端2还与待测电路板101的测试插座CN3的第二端2连接。第三电阻R3的第一端与单片机U1的第三逻辑输出脚P14连接，第三电阻R3的第二端分别与第三测试输出电压脚P3以及第二接线端子CN2的第三接线端3连接，第二接线端子CN2的第三接线端3还与待测电路板101的测试插座CN3的第三端3连接。第四电阻R4的第一端与单片机U1的第四逻辑输出脚P15连接，第四电阻R4的第二端分别与第四测试输出电压脚P4以及第二接线端子CN2的第四接线端4连接，第二接线端子CN2的第四接线端4还与待测电路板101的测试插座CN3的第四端4连接。第五电阻R5的第一端与单片机U1的第五逻辑输出脚P16连接，第五电阻R5的第二端分别与第五测试输出电压脚P5以及第二接线端子CN2的第五接线端5连接，第二接线端子CN2的第五接线端5还与待测电路板101的测试插座CN3的第五端5连接。第六电阻R6的第一端与单片机U1的第六逻辑输出脚P17连接，第六电阻R6的第二端分别与第六测试输出电压脚P6以及第二接线端子CN2的第六接线端6连接，第二接线端子CN2的第六接线端6还与待测电路板101的测试插座CN3的第六端6连接。第七电阻R7的第一端与单片机U1的第七逻辑输出脚P18连接，第七电阻R7的第二端分别与第七测试输出电压脚P7以及第二接线端子CN2的第七接线端7连接，第二接线端子CN2的第七接线端7还与待测电路板101的测试插座CN3的第七端7连接。第八电阻R8的第一端与单片机U1的第八逻辑输出脚P19连接，第八电阻R8的第二端分别与第八测试输出电压脚P8以及第二接线端子CN2的第八接线端8连接，第二接线端子CN2的第八接线端8还与待测电路板101的测试插座CN3的第八端8连接。单片机U1的第一测试输入脚P9与第一接线端子CN1的第一接线端1及所述待测电路板101的第一顶针测试点1连接，单片机U1的第二测试输入脚P10与第一接线端子CN1的第二接线端2及所述待测电路板101的第二顶针测试点2连接，单片机U1的第三测试输入脚P11与第一接线端子CN1的第三接线端3及所述待测电路板101的第三顶针测试点3连接，单片机U1的第四测试输入脚P20与第一接线端子CN1的第四接线端及所述待测电路板101的第四顶针测试点4连接。单片机U1的第五测试输入脚P21与第一接线端子CN1的第五接线端5及所述待测电路板101的第五顶针测试点5连接。单片机U1的第六测试输入脚P22与第一接线端子CN1的第六接线端6及所述待测电路板101的第六顶针测试点6连接。单片机U1的第七测试输入脚P23与第一接线端子CN1的第七接线端7及所述待测电路板101的第七顶针测试点7连接，单片机U1的第八测试输入脚P24与第一接线端子CN1的第八接线端8及所述待测电路板101的第八顶针测试点8连接。

上述实施例中，当单片机U1的第一逻辑输出脚P12至单片机U1的第八逻辑输出脚P19输出电平信号均为高电平时，分别测量单片机U1的第一测试输出电压脚P1至单片机U1的第八测试输出电压脚P8的电平，再测量单片机U1的第一测试输入脚P9至单片机U1的第八测试输入脚P24的电平。将测得的测量单片机U1的第一测试输出电压脚P1与测量单片机U1的第一测试输入脚P9的电平比对，若是两者电平相等，则可得出第一待测焊接点为正常焊接，同理可判断第二待测焊接点至第八待测焊接点的焊接情况。

若是第一逻辑输出脚P12至单片机U1的第八逻辑输出脚P19输出电平信号均为低电平时，分别测量单片机U1的第一测试输出电压脚P1至单片机U1的第八测试输出电压脚P8的电平，再测量单片机U1的第一测试输入脚P9至单片机U1的第八测试输入脚P24的电平。将测得的测量单片机U1的第一测试输出电压脚P1与测量单片机U1的第一测试输入脚P9的电平比对，若是两者电平相等，则可得出第一待测焊接点为正常焊接，同理可判断第二待测焊接点至第八待测焊接点的焊接情况。

当第一逻辑输出脚P12至单片机U1的第八逻辑输出脚P19输出电平信号顺序为高、低、高、低、高、低、高、低的电平时，若是测得单片机U1的第一测试输入脚P9至单片机U1的第八测试输入脚P24有相邻的测试输入脚的电平相同，则可判断两相邻焊接点有连焊的情况出现，若是测得的单片机U1的第一测试输入脚P9至单片机U1的第八测试输入脚P24的电平与对应的第一测试输出电压脚P1至单片机U1的第八测试输出电压脚P8的电平以及对应的第一逻辑输出脚P12至单片机U1的第八逻辑输出脚P19的输出电平顺序相等，则可以判定所有焊接点为正常焊接。

上述几种逻辑电平的输出方式以及依靠电路的连接方法可以测得单个焊接点的焊接异常或者相邻焊接点之间的连焊情况，实现的方式简单，功能多样，具有极大地经济价值。

值得注意的是，八个测试点仅为本案的一个实施例，在此基础上，需要增加同时测得的焊接点的数目仅需增加相应的IO口和排阻RP1的电阻数量即可，并不影响现有的测量电路的测量，且能同时实现更多焊接点的测量，具有较大的工业化价值。

可选地，所述电路板的测试电路还包括测试触发开关S1，所述测试触发开关S1的第一端与所述单片机U1的受控端连接，所述测试触发开关S1的第二端接地。

其中，当测试触发开关S1获得触发信号，输出低电平信号给单片机U1的受控端P26使得单片机U1开始工作。此种触发方式实现起来较为简单，便于操作。

可选地，所述显示电路102为指示灯电路，所述指示灯电路与所述单片机U1的控制信号输出端P27连接。

其中，当单片机U1检测到某个焊接点异常时，则可以输出控制信号使得指示灯亮。可以直观得出某个焊接点异常的结论，较为方便。

可选地，所述指示灯电路包括第九电阻R9、第一发光二极管D1和工作电压输入端VCC，所述第九电阻R9的第一端与所述单片机U1的控制信号输出端P27连接，所述第九电阻R9的第二端与所述第一发光二极管D1的阴极连接，所述第一发光二极管D1的阳极与所述工作电压输入端VCC连接。

可选地，所述指示灯电路还包括第一电容C1和第二电容C2，所述第一电容C1的第一端及所述第二电容C2的第一端均与所述工作电压输入端VCC连接，所述第一电容C1的第二端及所述第二电容C2的第二端均接地。

为实现上述目的，本实用新型还提出一种电路板的测试仪器，包括如上所述的电路板的测试电路。

可以理解的是，由于在本实用新型电路板的测试仪器使用了上述电路板的测试电路，因此，本实用新型电路板的测试仪器的实施例包括上述电路板的测试电路全部实施例的全部技术方案，所达到的技术效果也完全相同，在此不再赘述。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是在本实用新型的实用新型构思下，利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (7)

1.一种电路板的测试电路，其特征在于，所述电路板的测试电路包括排阻、第一接线端子、第二接线端子、用于输出逻辑电平并处理测试电压以及输出与测试电压对应的控制信号的单片机以及用于显示测试结果的显示电路；

所述单片机包括多个逻辑输出脚、多个测试输出电压脚及多个测试输入电压脚，所述排阻的第一端分别与所述单片机的多个逻辑输出脚连接，所述排阻的第二端分别与所述单片机的多个测试输出电压脚连接，所述排阻的第二端与所述测试输出电压脚的连接节点与所述第二接线端子中的相应接线端连接，所述第二接线端子与待测电路板的测试插座连接；所述单片机的多个测试输入电压脚与所述第一接线端子中的多个接线端一一对应连接，所述第一接线端子的多个接线端与所述待测电路板的多个顶针测试点一一对应连接。

2.如权利要求1所述电路板的测试电路，其特征在于，所述排阻包括多个电阻，多个所述电阻的第一端与多个所述逻辑输出脚一一对应连接，多个所述电阻的第二端与多个所述测试输出电压脚一一对应连接，多个所述电阻的第二端还与所述第二接线端子中的多个接线端一一对应连接。

3.如权利要求1所述电路板的测试电路，其特征在于，所述电路板的测试电路还包括测试触发开关，所述测试触发开关的第一端与所述单片机的受控端连接，所述测试触发开关的第二端接地。

4.如权利要求1所述电路板的测试电路，其特征在于，所述显示电路为指示灯显示电路，所述指示灯电路与所述单片机的控制信号输出端连接。

5.如权利要求4所述电路板的测试电路，其特征在于，所述指示灯显示电路包括第一电阻、第一发光二极管和工作电压输入端，所述第一电阻的第一端与所述单片机的控制信号输出端连接，所述第一电阻的第二端与所述第一发光二极管的阴极连接，所述第一发光二极管的阳极与所述工作电压输入端连接。

6.如权利要求5所述电路板的测试电路，其特征在于，所述指示灯显示电路还包括第一电容和第二电容，所述第一电容的第一端及所述第二电容的第一端均与所述工作电压输入端连接，所述第一电容的第二端及所述第二电容的第二端均接地。

7.一种电路板的测试仪器，包括权利1-6任一项所述的电路板的测试电路。