DE3446181C2 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Bestimmen der
Relativlagen zwischen einer Markierung und einer Schwingblende
nach dem Oberbegriff des Patentanspruches 1.
Ein bekanntes Lagenbestimmungsverfahren des Schwingtyps
wird bei einem photoelektrischen Mikroskop angewandt
und bietet eine hohe Meßempfindlichkeit. Dieses
Verfahren, das z. B. in Nikon Tech. J., No. 2,24, 1973,
"About Photo-electric Microscope", Band I des Servo
Technology Manual, New Technology Development Center,
III-72, beschrieben ist, wird daher derzeit oft als
Lagenbestimmungs- oder -meßverfahren für verschiedene
Arten automatischer Positioniervorrichtungen, etwa
bei Halbleiter-Herstellungsvorrichtungen u. dgl.
angewandt.
Im folgenden ist das Arbeitsprinzip des Schwingtyp-Lagenmeßverfahrens
kurz erläutert. Dabei wird ein
Lichtstrahl von einer Strahlungs- oder Lichtquelle
auf ein zu untersuchenden Objekt geworfen, auf dem
eine Markierung ausgebildet ist, wobei das
reflektierte Licht über einen schwingenden Schlitz
durch einen Detektor erfaßt wird. Da hierbei der Schlitz
schwingt, sind die Wellenformen des Meßsignals je nach
der Relativstellung zwischen Schlitz und Markierung
verschieden. Eine Änderung der Signalwellenform zur
Markierungslage X ist in Fig. 12 veranschaulicht. Wie
sich aus dieser Darstellung ergibt, wird dann, wenn
die Markierungslage mit der Schwingungs-Mittelstellung
des Schlitzes koinzidiert, nämlich am Punkt (e), das
Meßsignal zu einem Signal mit einer Frequenz, die das
Doppelte der Schwingfrequenz (Grundfrequenz) des
Schlitzes beträgt, und die Grundfrequenzkomponente
wird dabei zu Null. Demzufolge wird mittels Synchronmessung
nur die Grundfrequenzkomponente
des Meßsignals erhalten, während dabei die
Komponente mit einer Frequenz entsprechend dem Doppelten
der Grundfrequnez beseitigt oder unterdrückt wird.
Die Zustandsänderung der Grundfrequenzkomponente zur
Markierungslage ist in diesem Fall als Ausgangskennlinie
dargestellt. Letzteres eignet sich zur Verwendung
bei der Lagenbestimmung oder -messung mittels
eines Null-Messers und für die Ansteuerung
eines Servosystems, weil das Ausgangssignal an
dem Punkt, an welchem die Markierungslage mit dem
Schwingungszentrum des Schlitzes koinzidiert, zu Null
wird und die Vorzeichen vor und hinter diesem Punkt
entgegengesetzt sind.
Andererseits variiert die Form der genannten Ausgangskennlinie
in Abhängigkeit von den Lagenmeßbedingungen,
wie Markierungsbreite, Schlitzbreite, Kontrast, Abtast-(Schwingungs-)Amplitude,
Beleuchtungshelligkeit usw.,
so daß die Beziehung zwischen der Meßgröße
und der Markierungslage nicht konstant ist. Um
nun jederzeit eine genaue Lageinformation zu erhalten,
ist jedesmal eine Neu-Eichung erforderlich. Wird eine
solche Eichung nicht für jeden Meßvorgang
durchgeführt, so wird die Lageneinstellung ungenau,
und die Lagenbestimmung dauert sehr lange. Beispielsweise
sei der Fall betrachtet, in welchem dieses Lagenmeßverfahren
für die Lagenbestimmung vor der Belichtung
mittels einer Belichtungsvorrichtung für ein Verfahren
zur Herstellung von Halbleitern benutzt wird. Da
die Belichtung wiederholt vor und nach einer Anzahl
verschiedener Arbeitsgänge beim Halbleiter-Herstellungsverfahren
durchgeführt wird, ist der Kontrast der
Lagenmeßmarkierung aufgrund der Unterschiede in den
einzelnen Arbeitsgängen sowie in den Bedingungen oder
Zuständen der Resistschichten jedesmal verschieden, so
daß auch der Scheitel- oder Spitzenwert und der Gradient
der Ausgangskennlinie des photoelektrischen
Mikroskope des Schwingtyps jedesmal unterschiedlich
sind. Im Hinblick hierauf ist auch ein Verfahren
ins Auge gefaßt worden, bei dem die Information bezüglich
des Kontrasts einer Markierung, der von den
verschiedenen Arbeitsgängen abhängt, im voraus in
einem elektronischen Rechner gespeichert und das Ausgangssignal
auf der Grundlage dieser Information korrigiert
wird. Bei diesem Verfahren ist jedoch eine
Korrektur mit hoher Genauigkeit unmöglich, weil die
Kontrastinformation einer Markierung auf der Vorausbestimmung
beruht. Da dieses Ausgangssignal zudem auch
als Folge einer Änderung der Beleuchtungsstärke instabil
wird, sind der Scheitelwert und der Gradient
der Ausgangskennlinie ebenfalls einer zeitabhängigen
Änderung unterworfen, wenn eine ausreichende Stabilität
der Beleuchtungsstärke nicht gewährleistet werden
kann. Neuderdings ist es weiterhin möglich, die Ausrichtung
nach dem Prinzip dieser Lagenbestimmung bei
einem Elektronenstrahlübertragungs-Druckgerät durchzuführen,
das für den Übertragungsdruck von feinen
Mustern in der Größenordnung von unter einem Mikrometer
als erfolgversprechend angesehen wird. In diesem
Fall ergibt sich jedoch ein ähnliches Problem. Obgleich
weiterhin in diesem Fall eine Markierung nicht
mit einem Lichtstrahl, sondern mit einem Elektronenstrahl
bestrahlt wird, ist dabei eine photoelektrische
Fläche im Spiel, die als Quelle für die Erzeugung
dieses Elektronenstrahls dient und die sich im Zeitverlauf
(in ihrer Güte) verschlechtert, so daß sich die
Strahlungsmenge des Elektronenstrahls im Zeitverlauf
ändert. Die zeitliche Änderung tritt daher auch im
Ausgangssignal auf. Da solche zeitliche Änderungen
schwierig vorherzubestimmen sind, ist es tatsächlich
schwierig, das Ausgangssignal auf der Grundlage der
erwähnten Vorausbestimmung mit hoher
Genauigkeit zu korrigieren.
Aus diesem Grund ist es nötig, den Gradienten der
Ausgangskennlinie mittels automatischer Verstärkungsregelung
(AVR) des Signals stets konstant zu halten.
Mittels der AVR ist es einfach, die Verstärkung
so zu regeln, daß die Spitzenspannung der Ausgangskennlinie
eine konstante Größe annimmt, indem eine
Markierung für die Lagenbestimmung dem Strahl aus
einer festen Richtung angenähert wird. Bei diesem Verfahren
muß allerdings die Bestimmung vorgenommen werden,
während die Markierung für eine bestimmte Zeitspanne
abgetastet wird, so daß die Lagenbestimmung
oder -messung eine lange Zeit in Anspruch nimmt und
damit die Arbeitsleistung der Vorrichtung
herabgesetzt wird. Mit diesem Verfahren kann jedoch
nicht die zeitliche Änderung des Signals während der
Zeitspanne des Abgreifens des Spitzenwerts der Ausgangskurve
berücksichtigt werden, und eine genaue
Positionierung innerhalb kurzer Zeit ist dabei schwierig.
Andererseits ist ein in Echtzeit durchführbares AVR-Verfahren
ins Auge gefaßt worden, bei dem der Effektiv-
oder Spitzenwert des Signals erfaßt und die Verstärkung
so geregelt wird, daß dieser Wert stets konstant ist.
Das bei Schwingtyp-Lagenbestimmungssystem erhaltene
Meßsignal besitzt jedoch eine komplizierte Wellenform,
weil es sowohl die Hochfrequenzkomponente als
auch die Grundfrequenzkomponente enthält und deren
Ausgangskomponenten in ihrer Abhängigkeit von der
Markierungslage und dgl. stark voneinander verschieden
sind. Bei diesem bisherigen Verfahren ist
es mithin, schwierig, ohne Heranziehung von Lageninformationen
die automatische Verstärkungsregelung
mit hohem Genauigkeitsgrad durchzuführen.
In der DE-AS 14 48 854 ist eine Anordnung zur Bestimmung
der Lage von Markierungen in bezug auf eine
Festmarkierung beschrieben, wobei ein oszillierender
Bauteil verwendet wird, welcher einen zur Abtastung
vorgesehenen Lichtstrahl beeinflußt. Die Lichtabtastimpulse
werden von einem photoelektrischen
Empfänger mit einem nachgeschalteten Verstärker
empfangen. Information über die Markierungslage
wird dabei im zeitlichen Abstand der durch die Abtastung
erzeugten Abtastimpulse enthalten. Um nun
bei einer solchen Anordnung die aus einem Vergleichssignal
stammenden Fehleranteile zu vermeiden,
werden die Abtastimpulse nach ihrer Verstärkung
einem Eingang einer bistabilen Kippstufe
zugeführt, an deren zweiten Eingang Steuerimpulse
in Abhängigkeit von der Schwingfrequenz liegen,
wobei an die Kippstufe ein das Tastverhältnis
ermittelndes Anzeigeinstrument angeschlossen ist.
Weiterhin ist aus der Zeitschrift "Feinwerktechnik",
71, Jahrgang, 1967, Heft 4, Seiten 160-166 das photoelektrische
Einfangen von Strichmarken beschrieben,
bei dem - ähnlich wie in der Anordnung der DE-AS
14 48 854, auf das oszillatorische Abtasten und eine
Auswertung durch Vergleich aufeinanderfolgender
Impulsabstände oder durch Oberwellenanalyse hingewiesen
wird. Bei der Signalauswertung für die
oszillatorische Strichabtastung werden Impulsformer
und ein Differenzierglied eingesetzt, denen ein Flip-Flop
und ein Integrierglied nachgeschaltet sind.
Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung ein Verfahren
und eine Vorrichtung zum Bestimmen der Relativlagen
zwischen einer Markierung und einer Schwingblende
zu schaffen, wobei der Ausgangspegel eines
Lagenmeßsignales auch dann konstant sein soll, wenn
sich die Lagenmeßbedingungen verändern, so daß unabhängig
von diesen die Relativlage der Markierung
und der Schwingblende ohne Verlängerung der Meßzeit
oder Verringerung der Meßgenauigkeit eindeutig bestimmt
werden kann.
Diese Aufgabe wird bei einem Verfahren nach dem
Oberbegriff des Patentanspruches 1 erfindungsgemäß
durch die in dessen kennzeichnenden Teil enthaltenen
Merkmale gelöst.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung ergeben
sich aus den Patentansprüchen 2 bis 8. Es wird also
ein Strahl, der von einem ersten Markierungsabschnitt
auf einem ersten Teil durch Bestrahlung mit
einem Strahl von einer Strahlungsquelle erhalten
wird, auf einen zweiten, einen zweiten Markierungsabschnitt
aufweisenden Teil geworfen. Der vom
zweiten Teil erhaltene Strahl wird von einem Strahlungsdetektor
erfaßt. Gleichzeitig werden der genannte
Strahl und der erste oder der zweite Teil relativ zueinander
in Schwingung versetzt, und ein Meßausgangssignal
des Srahlungsdetektors wird synchron mit dieser
Schwingung abgegriffen. Bezüglich jedes
Signals der Grundwellenkomponente af und der Harmonischen
Komponente anf n-ter Ordnung (mit n = eine ganze
Zahl entsprechend 2 oder höher) des durch synchronen
Abgriff erhaltenen Ausgangssignals wird jedes Signal
einer Funktionsumwandlung unter der Voraussetzung
unterworfen, daß eine vorbestimmte entsprechende Beziehung
zwischen diesen Signalen eingehalten wird. Die
Relativlagen von erstem und zweitem Teil werden mittels
der durch die Funktionsumwandlung erhaltenen Signale
af* und anf* bestimmt. In diesem Fall kann der erste
oder zweite Markierungsabschnitt ein Schlitz oder eine
Markierung aus einer von der peripheren oder Umfangssubstanz
verschiedenen Substanz sein.
Im folgenden sind bevorzugte Ausführungsbeispiele der
Erfindung anhand der Zeichnung näher erläutert. Es
zeigen:
Fig. 1 eine schematische Darstellung einer Lagenbestimmungsvorrichtng
des Schwingtyps zur
Verwendung bei einem Lagenbestimmungsverfahren
gemäß der Erfindung,
Fig. 2 ein Blockschaltbild zur Darstellung einer praktischen
Anordnung eines Signalverarbeitungsteils
als Hauptteil der Vorrichtung nach Fig. 1,
Fig. 3 ein Signalwellenformdiagramm für Ausgangskennlinien
der Grundfrequenzkomponente und der
Komponente doppelter Frequenz an der Markierungslage,
Fig. 4 ein Signalwellenformdiagramm für Ausgangskennlinien
der Grundfrequenzkomponente und der
Komponente doppelter Frequenz an der Markierungslage
nach den Funktionsumwandlungen,
Fig. 5 eine zur Erläuterung eines anderen Ausführungsbeispiels
des erfindungsgemäßen Verfahrens
dienende schematische Darstellung eines
Elektronenstrahlübertragungs-Druckgeräts des
Typs mit photoelektrischer Flächenmaskierung
sowie eines Lagenbestimmungsmechanismus,
Fig. 6 ein Blockschaltbild einer Schaltung für Signalverarbeitung
mittels digitaler arithmetischer
oder Rechenoperation zur Erläuterung noch eines
anderen Ausführungsbeispiels der Erfindung,
Fig. 7 eine Aufsicht auf eine Musterform einer Ausrichtmarkierung
in Form eines Musters aus einer
Anzahl von Linien und Zwischenräumen,
Fig. 8 ein Signalwellenformdiagramm von Ausgangskennlinien
der Grundfrequenzkomponente und der
Komponente doppelter Frequenz an der Markierungslage
bei Verwendung der Markierung nach
Fig. 7,
Fig. 9 ein Signalwellenformdiagramm von Ausgangskennlinien
der Grundfrequenzkomponente und der
Komponente doppelter Frequenz an der Markierungslage
bei Verwendung der Markierung nach
Fig. 7 nach der Funktionswandlung,
Fig. 10 eine zur Erläuterung einer Abwandlung des Verfahrens
gemäß dem ersten Ausführungsbeispiel
dienende schematische Darstellung einer Lagenbestimmungsvorrichtung
des Schwingtyps
mit einem an der Lichteinfallsseite angeordneten
Schlitz,
Fig. 11 eine zur Erläuterung einer weiteren Abwandlung
des Verfahrens gemäß der ersten Ausführungsform
dienende schematische Darstellung einer
Lagenbestimmungsvorrichtung des Schwingtyps
zur Erfassung eines übertragenen Strahls
und
Fig. 12 eine graphische Darstellung zur Erläuterung
des Grundprinzips des Schwingtyp-Lagenbestimmungsverfahrens,
welche die Änderung der
Meßsignalwellenform an der Markierungslage X
verdeutlicht.
Vor der Erläuterung der Ausführungsbeispiele der Erfindung
sei zunächst das der Erfindung zugrundeliegende
Prinzip beschrieben.
Der Grundgedanke der Erfindung liegt darin, daß beim
Schwingtyp-Lagenbestimmungs- oder -meßverfahren die
Grundwellenkomponente af und die Harmonische Komponente
anf n-ter Ordnung (mit n = eine ganze Zahl entsprechend
2 oder höher), z. B. die zweite Harmonische Komponente
a2f, die durch synchrones Abgreifen des
Strahl-Meßausgnagssignals erhalten werden, nicht unmittelbar
als Lagenmeßsignale benutzt, sondern vielmehr
die Komponenten af und a2f einer speziellen Funktionsumwandlung
zur Gewinnung von Signalen af* und a2f*,
die durch eine Änderung in den Lagenbestimmungsbedingungen
nicht beeinflußt sind oder werden, unterworfen
werden. Diese Signale af* und a2f* werden als Lagenmeßsignale
benutzt.
Die Beziehung zwischen den Ausgangskennlinien der
Signale af und a2f, die durch das erwähnte synchrone
Abgreifen erhalten werden, ist in Fig. 3 dargestellt.
Dabei entspricht das Signal af Null an dem Punkt, an
welchem die Markierungslage Null ist (mit dem Schwingungszentrum
koinzidiert); a2f besitzt den Scheitel-
oder Spitzenwert, und a2f den Spitzenwert besitzt.
Diese Beziehungen sind für die Lagenbestimmung dieser
Art charakteristisch. Wenn die Kombination der Ausgangskennlinien
af* und a2f*, die durch eine gewisse
Umwandlung der Signale af und a2f gewonnen werden,
ähnlichen Beziehungen genügt, können die Kennlinien
af* und a2f* ebenfalls als Lagenmeßsignale benutzt
werden.
Ausgedehnte, diesbezüglich durchgeführte
Untersuchungen haben gezeigt, daß solche Umwandlungsfunktionen
vorliegen, so daß selbst bei einer
Änderung der Lagenbestimmungsbedingungen die der oben
genannten Beziehung genügenden Kennlinien af* und a2f*
durch diese Änderungen nicht nachteilig beeinflußt
werden. Die Umwandlungsfunktionen
sind folgende:
darin bedeuten α₁, β₁, α₂, β₂, K₁ und K₂ beliebige
Konstanten. Die Verwendung dieser umgewandelten Signale
af* und a2f* als Lagenmeßsignale erlaubt die Einhaltung
der genannten Beziehungen für die Kennlinien
und ermöglicht die Durchführung der Lagenbestimmung;
dies hat die Wirkung einer automatischen Verstärkungsregelung
für die Änderung im Eingangssignalpegel.
Nachstehend sind bevorzugte Ausführungsbeispiele der
Erfindung im einzelnen erläutert.
Fig. 1 veranschaulicht schematisch eine bei einem ersten
Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen Verfahrens
verwendete Schwingtyp-Lagenbestimmungsvorrichtung. Ein
von einer Strahlungsquelle aus einer Lichtquelle 101
und einer Fokussierlinie 102 u. dgl. ausgestrahlter
Lichtstrahl 103 wird über einen halbdurchlässigen
Spiegel 104 und eine Objektivlinse 105 auf ein Untersuchungsobjekt
(erster Teil) 106 geworfen. Beispielsweise
ist auf dem Untersuchungsobjekt 106 eine geradlinige
Positionier-Markierung (erster Markierungsabschnitt)
107 ausgebildet, und der Lichtstrahl 103
wird nahe der Markierung 107 aufgestrahlt. Die Markierung
107 besteht aus einem Element mit einer größeren
Reflexionsfähigkeit als der des Untersuchungsobjekts.
Das infolge der Bestrahlung mit dem Lichtstrahl von
der Markierung 107 reflektierte Licht 108 pflanzt
sich aufwärts durch die Objektivlinse 105 und den
halbdurchlässigen oder Halbspiegel 104 fort und tritt
durch einen Schlitz (zweiter Markierungsabschnitt) 110
einer Schlitzplatte oder -blende (zweiter Teil) 109
hindurch und wird einem photoelektrischen Wandler
(Strahlungsdetektor) 111 empfangen. Ein vom Wandler 111
ausgegebenes Meßsignal P wird über einen Vorverstärker
112 einer noch näher zu beschreibenden Signalverarbeitungseinheit
113 zugeführt.
Die Schlitzplatte 109 ist mit einem Vibrator 114 verbunden,
durch den der Schlitz 110, wie durch den Pfeil S
angedeutet, in einer Richtung senkrecht zur Fortpflanzungsrichtung
des reflektierten Lichts 108 in Schwingung
versetzbar ist. Der Vibrator 114 schwingt in Übereinstimmung
mit einem Schwingausgangssignal Q eines
Oszillators 115, so daß die durch den Schlitz 110 der
Schlitzplatte 109 hindurchtretende Lichtmenge entsprechend
der Schwingung verändert wird. Der Vibrator 114
besteht z. B. aus einem piezoelektrischen Element, das
sich nach Maßgabe der angelegten Spannung ausdehnt
und zusammenzieht. Das Schwingausgangssignal Q des
Oszillators 115 wird außer dem Vibrator 114 auch der
Signalverarbeitungseinheit 113 zugeführt, die ihrerseits
das eingespeiste Meßsignal P auf noch zu beschreibende
Weise synchron mit dem Schwingausgangssignal
Q des Oszillators 115 abgreift
und eine vorgesehene, noch zu beschreibende
Signalumwandlung durchführt und das umgewandelte
Ausgangssignal zu einer Anzeigeeinheit 116
liefert.
Gemäß Fig. 2 umfaßt die Signalverarbeitungseinheit 113
Abstimmverstärker 201, 202, Synchron-Detektor 203,
204, Verstärker 205, 206, eine Addierstufe 207, einen
Begrenzer 208, Teiler (Dividierstufen) 209, 210 sowie
einen Frequenzvervielfacher 211. Das über den Vorverstärker
112 eingespeiste Meßsignal P wird dabei jeweils
den beiden Abstimmverstärkern 201 und 202 mit
unterschiedlichen Abstimmfrequenzen f und 2f eingespeist.
Die verstärkten Ausgangssignale dieser Verstärker
201, 202 werden den Synchrondetektoren 203 bzw.
204 zugeführt. Das Schwingausgangssignal Q
(Frequenz f) vom Oszillator 115 wird dem Synchron-Detektor
203 eingespeist, während ein Ausgangssignal Q′
(Frequenz 2f) aus dem durch den Frequenzvervielfacher
211 verdoppelten Ausgangssignal Q dem Synchron-Detektor
204 aufgeprägt wird. Jedes verstärkte Signal wird durch
die Synchron-Detektoren 203 und 204 synchron mit den
Schwingausgangssignalen Q und Q′ einer Synchronisationserfassung
unterworfen. Dabei wird die Grundwellenkomponente
af des Meßausgangssignals vom Synchron-Detektor
203 ausgegeben, während der Synchron-Detektor
204 die zweite Harmonische (Komponente) a2f ausgibt.
Diese beiden Meßausgangssignale af und a2f werden durch
die Verstärker 205 bzw. 206 zu α | af | bzw. β | a2f |
verstärkt und der Addierstufe 207 eingespeist. Das
von der Addierstufe 207 gelieferte Ausgangssignal
α | af | + β | a2f | wird über den Begrenzer 208 den
Teilern 209 und 210 zugeführt, die daraufhin
R₁ = α · af/(α | af | + β | a2f |)
bzw.
R₂ = β · af/(α | af | + β | a2f |)
liefern. Diese Ausgangssignale werden als die neuen
Lagenmeßsignale R₁ und R₂ der Anzeigeeinheit 116 zugeführt.
In obigen Gleichungen bedeuten α und β jeweils
beliebige Konstanten.
Im folgenden ist das Stellungs- oder Lagenbestimmungsverfahren
mittels der beschriebenen Vorrichtung erläutert.
Das Grundprinzip des Schwingtyp-Lagenbestimmungsverfahrens
ist ähnlich wie beim bisherigen Verfahren.
Zunächst wird durch Einschalten der Lichtquelle 101
ein Lichtstrahl auf die Markierung 107 auf dem Untersuchungs-Objekt
106 geworfen. Das von der Markierung
107 reflektierte Licht wird über die Schlitzplatte 109
durch den photoelektrischen Wandler 111 abgenommen.
Gleichzeitig wird die Schlitzplatte 109 in Schwingung
versetzt, so daß sich die Menge des von der Markierung
107 reflektierten, vom Wandler 111 empfangenen Lichts
108 entsprechend der Schwingung verändert. Durch
synchrones Abgreifen des Meßausgangssignals P werden
die Grundwellenkomponenten af und die zweite Harmonische
a2f erhalten.
Die beschriebenen Verfahrensschritte sind ähnlich wie
beim bisherigen Verfahren; beim erfindungsgemäßen Verfahren
werden dagegen diese Komponenten durch die
Signalverarbeitungseinheit 113 den im folgenden beschriebenen
Umwandlungen unterworfen.
Insbesondere wird dabei die Tatsache berücksichtigt,
daß die Ausgangssignale af und a2f nach der synchronen
Erfassung bestimmte charakteristische
Beziehungen bezüglich der Position oder Lage besitzen,
wie dies noch näher erläutert werden wird. Unter
Verwendung dieser beiden Ausgangssignale, wie sie
sind, werden die
folgenden Umwandlungen durchgeführt:
Die Ausgangssignale af* und a2f* nach diesen Umwandlungen
werden als die neuen Lagenmeßsignale R₁ und R₂
benutzt.
Im folgenden sind die Beziehungen bezüglich der Positionen
der Signale af, a2f und af*, a2f* beschrieben.
Fig. 3 zeigt typische Ausgangskennlinien von af und a2f,
deren Beziehungen derart sind, daß das Signal af gleich
Null ist und a2f einen Spitzenwert P₂ besitzt, wenn die
Lagenabweichungsgröße zwischen der Markierung 107 und
dem Schlitz 110 gleich Null ist, während a2f gleich
Null an dem Punkt ist, an dem af die Spitzengröße
(Scheitelwert) P₁ besitzt. Selbst wenn sich der Eingangssignalpegel
aufgrund einer Kontraständerung der
Markierung ändert, werden - wie noch zu beschreiben
sein wird - die obigen Beziehungen stets eingehalten,
und das Verhältnis zwischen af und a2f an derselben
Markierungsposition ist stets konstant.
Üblicherweise erfolgt die Positionierung in der Weise,
daß die Lage oder Stellung korrigiert wird und das
Lagenmeßausgangssignal af zu Null wird. Die Lagenmeßkurve
(oder -kennlinie) ist jedoch nicht immer auf
die Kurve von af, wie sie vorliegt, beschränkt, vielmehr
ist es möglich, als Lagenmeßkurve eine solche Kurve
zu verwenden, daß das Ausgangssignal gleich Null an dem
Punkt ist, an welchem die Lagenabweichungsgröße gleich
Null ist, und die in dem Bereich B monoton wird, in
welchem die Lagenkoordinaten der Markierung 107 zwischen
X₂ und X₃ liegen. Unter Berücksichtigung der genannten
Beziehungen von af und a2f werden daher die
Größen von α und β so gewählt, daß sie einer konstanten
Beziehung von z. B. α : ×β = |P₂ | : | P₁ | genügen. Dabei
ist | P₂ / | P₁ | konstant und eine bekannte Größe, wenn
die Breite der Markierung und die Abtastamplitude dieselben
sind. Die Ausgangskennlinien von af* und a2f*,
durch Umwandlung nach den obigen Gleichungen (1) unter
Heranziehung der auf diese Weise bestimmten Größen α und
β erhalten, sind in Fig. 4 dargestellt. Für af* ist
die Kurve oder Kennlinie derart, daß das Ausgangssignal
an dem Punkt an dem die Lagenabweichung gleich Null ist,
zu Null und in dem Bereich B monoton wird, wo die Lagenkoordinaten
zwischen X₂ und X₃ liegen. Dies bedeutet,
daß die Positionierung unter Verwendung von af* als
Lagenmeßkurve durchgeführt werden kann. Zudem können
auch die Lagen in den Bereichen A und C, die außerhalb
des Bereichs B liegen, unter Verwendung von sowohl af*
als auch a2f* erfaßt oder bestimmt werden.
Im folgenden ist erläutert, weshalb sich die Größen af*
und a2f* in keinem Fall in bezug auf die Änderung der
Eingangssignalgröße ändern (AVR-Funktion). Da vorausgesetzt
werden kann, daß sich die Ausgangssignale af
und a2f proportional zur
Änderung des Eingangssignalpegels ändern, wird bei vorläufiger
Betrachtung eines Falls, in welchen die folgenden
Änderungen
af → K · af
a2f → K · a2f (K<0)
auftreten, anhand von Gleichungen (1) folgendes erhalten:
Es ist somit ersichtlich, daß sich af* und a2f* nicht
in Abhängigkeit von K ändern. Unter Heranziehung der
Ausgangskennlinie von af* für die Lagenbestimmung ist
es daher möglich, ein stabiles Lagenmeßsignal mit
einer AVR-Wirkung für die Änderung im Eingangssignalpegel
zu erhalten.
Wie vorstehend beschrieben, ist es bei diesem Ausführungsbeispiel
möglich, die Schwingtyp-Lagenbestimmung
mit AVR-Wirkung für die Änderung des Eingangssignalpegels
ohne Verlust der Meßgenauigkeit durchzuführen.
Da zudem die AVR-Wirkung mittels der Verarbeitung
des Ausgangssignals mit einer Rechenoperation
nach der synchronen Erfassung erzielt werden kann,
ermöglicht dies die Durchführung der automatischen
Verstärkungsregelung (AVR) mit hoher Genauigkeit und
mit geringer Beeinflussung durch die Rausch- oder
Störsignalkomponente des Eingangssignals. Die Lagenbestimmung
mit AVR-Wirkung kann somit auch für eine
Änderung im Eingangssignalpegel aufgrund der Kontraständerung
der Markierung auf einem insbesondere in einer
Halbleiter-Herstellungsvorrichtung verwendeten Plättchen
und aufgrund der zeitlichen Änderung einer Quelle
zur Erzeugung eines Markierungssignals erfolgen, so
daß die Lagenbestimmung und Positionierung mit hohem
Genauigkeitsgrad möglich wird. Da es außerdem nicht
nötig ist, eine zusätzliche Erfassung zur Messung der
Änderung im Eingengssignalpegel durchzuführen, kann die
für die Positionierung nötige Zeit verkürzt werden, so
daß sich auch ein Vorteil bezüglich einer Verbesserung
der Bearbeitungsleistung
ergibt.
Fig. 5 veranschaulicht schematisch ein Elektronenstrahlübertragungs-Druckgerät
der photoelektrischen Oberflächenmaskentyps
und einen Meßmechanismus für die Lagenbestimmung
zur Verdeutlichung eines Verfahrens gemäß
einem zweiten Ausführungsbeispiel der Erfindung. Dabei
sind den Teilen von Fig. 1 entsprechende Teile mit denselben
Bezugsziffern wie vorher bezeichnet und nicht
mehr im einzelnen erläutert.
Der Aufbau dieses Druckgeräts entspricht einem herkömmlichen
Gerät, so daß es nur kurz beschrieben wird.
Dabei sind eine photoelektrische Maske (erster Teil)
502 und eine Probe (zweiter Teil) 503 einander lotrecht
gegenüberstehend in einem Vakuumbehälter 501 angeordnet.
Die Maske 502 umfaßt ein Ultraviolettstrahlung
durchlassendes Glas-Substrat 5044, ein Maskenmuster 505
aus einem Element (z. B. Chrom), das Ultraviolettstrahlung
abfängt, und eine photoelektrische Oberfläche
506 aus einem Element (z. B. CsI), das bei Bestrahlung
mit Ultraviolettstrahlung einen Elektronenstrahl
emittiert. Außerdem ist auf der Maske 502 eine Positionier-Markierung
(erster Markierungsabschnitt) 507
zur Positionierung mit der Probe 503 ausgebildet. Die
Probe 503 ist auf einem Tisch 513 angeordnet und in
der Zeichnungsebene nach rechts und links sowie senkrecht
zur Zeichnungsebene bewegbar. Auf der Probe 503
ist eine Positionier-Markierung (zweiter Markierungsabschnitt)
508 in der Lage entsprechend der Markierung 507
auf der photoelektrischen Maske 502 ausgebildet. Aufgrund
der Bestrahlung mit dem Elektronenstrahl wird die
Markierung 508 mit Röntgenstrahlung bestrahlt. Die von
der Markierung 508 emittierte Röntgenstrahlung wird
durch einen Röntgendetektor (Strahlungsdetektor) 509 erfaßt.
Über dem Vakuumbehälter oder -gefäß 501 ist eine Lichtquelle
510 zur Erzeugung der Ultraviolettstrahlung angeordnet.
Letztere wird über eine Blende 511 und ein UV-Strahlung
durchlassendes Fenster 512 auf die photoelektrische
Maske 502 geworfen. Zusätzlich ist außerhalb
des Behälters 501 eine Fokussierspule 521 vorgesehen,
die das fokussierte Magnetfeld in der Richtung (lotrechte
Richtung gemäß Fig. 5) richtet, in welcher
Maske 502 und Probe 503 einander zugewandt sind bzw.
gegenüberstehen. Zwischen die Maske 502 und die Probe
503 ist eine Hochspannungs-Gleichstromversorgung 522
geschaltet, durch die ein elektrisches Feld zwischen
Maske und Probe in derselben Richtung wie das angelegte
Magnetfeld angelegt wird. Weiterhin ist an der Außenseite
des Behälters 501 eine Strahlablenk-Spule 523
angeordnet. Der von der photoelektrischen Maske 502
abgestrahlte Elektronenstrahl wird durch die Spule 523
gemäß Fig. 5 nach rechts und links und senkrecht zu
dieser Richtung abgelenkt.
Die Anordnung nach Fig. 5 enthält ferner eine Vakuumpumpe
531 für das Evakuieren des Vakuumbehälters 501,
eine Beleuchtungs-Stromversorgung 532 für die Lichtquelle
510, eine Erregungsstromversorgung 533 zur
Speisung der Fokussierspule 521 und eine Erregungsstromversorgung
534 zur Speisung der Ablenkspule 523.
Bei dieser Anordnung sind der vorher erwähnte Vorverstärker
112, die Signalverarbeitungseinheit 113, der
Oszillator 115, die Anzeigeeinheit 116 usw. an das
Druckgerät mit dem beschriebenen Aufbau angeschlossen.
Das Meßausgangssignal des Röntgendetektors 509 wird
dabei dem Vorverstärker 112 zugeliefert, und dessen
Ausgangssignal wird der Signalverarbeitungseinheit 113
eingespeist. Zusätzlich wird das Schwingausgangssignal
des Oszillators 115 der Signalverarbeitungseinheit 113
und der Stromversorgung 534 zugeführt. Infolgedessen
ist oder wird der der Ablenkspule 523 zugeführte Strom
moduliert, und der von der photoelektrischen Maske 504
emittierte Elektronenstrahl wird abgelenkt.
Der Röntgendetektor 509 entspricht dem Untersuchungsobjekt
106; die Probe 103 entspricht dem Schlitz 109;
und Stromversorgung 534 und Spule 523 entsprechen dem
Vibrator 114.
Im folgenden ist das Verfahren der Positionierung zwischen
der photoelektrischen Maske 502 und der Probe 503
erläutert.
Wenn zunächst die Lichtquelle 510 angesteuert
wird, werden die von ihr emittierten Ultraviolettstrahlen
541 über die Blende 511 auf die photoelektrische
Maske 502 geworfen. Aufgrund der Blende 511
bestrahlen die Ultraviolettstrahlen 541 dabei nur den
nahe der Markierung 507 auf der Maske 502 befindlichen
Bereich. Infolge der Bestrahlung mit den Ultraviolettstrahlen
541 emittiert die Markierung 507 auf der
photoelektrischen Maske 502 Photoelektronen bzw. einen
Elektronenstrahl 542. Der Elektronenstrahl 542 pflanzt
sich aufgrund des fokussierten Magnetfelds und des
elektrischen Felds abwärts fort und trifft auf die Probe
503 auf. Gleichzeitig wird die Spule 523 nach Maßgabe
eines vom Oszillator 115 abgegebenen Signals so angesteuert,
daß der Elektronenstrahl 542 abgelenkt bzw. in
Schwingung versetzt wird. Dabei schwingen der Elektronenstrahl
542 und der Strahldetektor 509 auf ähnliche
Weise, wie die Schlitzplatte 109 in Schwingung versetzt
wird, relativ zueinander, so daß die Markierung 508
durch den Elektronenstrahl 542 abgetastet werden kann.
Das Meßsignal vom Röntgendetektor 509 wird über den
Vorverstärker 112 der Signalverarbeitungseinheit 113 eingespeist.
In letzterer wird das vom Röntgendetektors 509
abgegebene Meßsignal, ähnlich wie beim vorher beschriebenen
Ausführungsbeispiel, synchron mit einem Schwingsignal
vom Oszillator 115 erfaßt.
Das Meßsignal vom Röntgendetektor 509
wird nämlich syncrhon erfaßt.
Die aufgrund der Synchronerfassung
erhaltene Grundwellenkomponente af und die
zweite Harmonische (Komponente) a2f werden auf ähnliche
Weise, wie vorher beschrieben, einer Funktionsumwandlung
auf der Grundlage von obigen Gleichungen
(1) unterworfen. Die relative Lagenabweichung zwischen
der photoelektrischen Maske 502 und der Probe
503 wird durch die bzw. mittels der Signale af* und
a2f*, die durch die Funktionsumwandlung erhalten werden,
erfaßt bzw. bestimmt. Die relative Lageneinstellung
von Maske 502 und Probe 503 erfolgt beispielsweise
durch geringfügiges Verschieben der Probe 503
nach Maßgabe dieser Lagenabweichung. Für diese Positionierung
kann die Ablenkstellung des Strahls durch
die Ablenkspule 523 durch Verschieben der Lage der
Probe 503 konstant an ihrem Ort gehalten werden.
Auf diese Weise kann bei diesem Ausführungsbeispiel die
Lagenbestimmung nach dem Schwingtyp
mit AVR-Wirkung für die Änderung des
Eingangssignalpegels ohne Beeinträchtigung der Meßgenauigkeit
erfolgen. Es wird mithin eine ähnliche Wirkung
erzielt wie beim vorher beschriebenen Ausführungsbeispiel.
Fig. 6 veranschaulicht für ein drittes Ausführungsbeispiel
des erfindungsgemäßen Verfahrens eine Schaltung
zur Durchführung der erwähnten Signalverarbeitung mittels
digitaler Rechenoperation. Dabei sind den Teilen
Fig. 2 entsprechende Teile mit denselben Bezugsziffern
wie dort bezeichnet und daher nicht mehr im
einzelnen erläutert. Dieses Ausführungsbeispiel unterscheidet
sich von dem zuerst beschriebenen dadurch,
daß die automatische Verstärkungsregelung (AVR) mittels
der Rechenoperationsverarbeitung durch einen Digitalrechner
anstelle der AVR-Verarbeitung des Analogsignals
erfolgt. In der Signalverarbeitungseinheit 113 werden
nämlich die jeweiligen Meßausgangssignale af und a2f
der Syncrhon-Detektoren 203 bzw. 204 einem Digitalrechner
601 zugeführt, in welchem durch Ausführung
der Operationen
af* und a2f* erhalten werden. Unter Heranziehung der
Ausgangskennlinie von af* für die Lagenbestimmung ist
es daher möglich, die Lagenbestimmung mit einer ähnlichen
AVR-Wirkung wie beim ersten Ausführungsbeispiel
durchzuführen. Durch die digitale
Verarbeitung werden im Vergleich zur Analogverarbeitung
Vorteile, wie geringere Belastung oder geringerer
Aufwand an Hardware des Prozessors, erzielt, während
der wesentliche Grundgedanke bezüglich der automatischen
Verstärkungsregelung derselbe ist.
Die vorstehende Beschreibung
richtete sich auf die Verwendung einer Linie, die
üblicherweise als Musterform der Markierung benutzt
wird. Diese Markierungs-Musterform kann jedoch gemäß
Fig. 7 auch aus einer Anzahl von Linien und Zwischenräumen
bestehen und als Positioniermarkierung beim
Elektronenstrahlübertraungsdrucken benutzt werden.
Die Ausgangskennlinien für af und a2f in diesem Fall
sind in Fig. 8 dargestellt. Die nach Umwandlung erhaltenen
Ausgangskennlinien für af* und a2f* sind in Fig. 9
gezeigt. Wie aus diesen graphischen Darstellungen hervorgeht,
werden bei diesem Beispiel ebenfalls die Ausgangskennlinien
für af* und a2f* mit denselben Tendenzen
wie bei den beschriebenen Ausführungsbeispielen erhalten,
so daß ersichtlicherweise eine Lagenbestimmung
mit einer ähnlichen Wirkung wie bei den beschriebenen
Ausführungsbeispielen vorgenommen werden kann. Das Lagenbestimmungsverfahren
gemäß der Erfindung ist nämlich
auf beliebige Markierungs-Musterformen anwendbar, wie
sie für die übliche Lagenbestimmung benutzt werden. Obgleich
bei den beschriebenen Ausführungsbeispielen weiterhin
die Funktionsumwandlungen unter Benutzung der
Grundfrequenzkomponente af und der zweiten Harmonischen
(Komponente) a2f durchgeführt werden, wird deshalb,
weil die ungeradzahlige Harmonische 1(2n+1)f und
die geradzahlige Harmonische a2nf ähnliche Charakterisika
besitzen wie af bzw. a2f, auch dann eine ähnliche Wirkung
erzielt, wenn die Funktionsumwandlungen unter Verwendung
von a(2n+1)f und a2nf anstelle von af und a2f
durchgeführt werden.
Bei dem zuerst beschriebenen Ausführungsbeispiel kann
andererseits gemäß Fig. 10 die zum Modulieren des Lichtstrahls
103 schwingende Schlitzplatte 109 an der Lichteinfallseite,
d. h. zwischen der Strahlungsquelle 101
und der Markierung 107 angeordnet sein. Dabei entsprechen
die Schlitzplatte 109 dem ersten Teil und das Untersuchungsobjekt
106 dem zweiten Teil. Weiterhin kann
gemäß Fig. 11 das einfallende Licht auf die Rückseite
des Untersuchungsobjekts 106 geworfen werden, und das
durchgelassene Licht oder ein vorbestimmtes, durch die
Bestrahlung erzeugter Strahl kann abgegriffen werden.
Bei Verwendung der Markierung, die den Elektronenstrahl
aufgrund der Bestrahlung an der Markierung 107 abstrahlt,
kann der Detektor zum Abgreifen des Elektronenstrahls
als Strahldetektor 111 benutzt werden. Die
Strahlungsquelle kann weiterhin eine solche sein, die
anstelle eines Lichtstrahls den Elektronenstrahl emittiert.
In diesem Fall kann die Einrichtung zum Schwingenlassen
des Strahls durch die Einrichtung zum Ablenken
des Lichtstrahls ersetzt werden. Als Abgreifstrahl
können weiterhin reflektierte Elektronen, Sekundärelektronen
oder Röntgenstrahlen usw. benutzt werden.
Darüber hinaus ist es auch möglich, die tatsächlich benutzten
Umwandlungskonstanten willkürlich oder beliebig
zu ändern und sie auf leicht verwendbare Größen zu
setzen oder einzustellen.
Claims (8)
1. Verfahren zum Bestimmen der Relativlagen zwischen
einer Markierung und einer Schwingblende, bei dem
von einer Strahlungsquelle Strahlung auf die
Markierung geworfen und die durchgelassene oder
reflektierte Strahlung von einem Detektor erfaßt
wird, wobei die Schwingblende zwischen Strahlungsquelle
und Strahlungsdetektor angeordnet ist und
am Strahlungsdetektor synchron zur Schwingung der
Schwingblende ein Signal mit einer Grundwellenkomponente
af und harmonische Komponenten anf abgegriffen
und zur Lagebestimmung der Markierung
ausgewertet wird,
dadurch gekennzeichnet, daß
zur Normierung der Grundwellenkompoennte und
einer harmonischen Kompoennte anf (mit n = eine
ganze Zahl entsprechend 2 oder höher) die Signale
nach folgenden Formeln umgewandelt werden:
in denen a₁, a₂, β₁, β₂, K₁ und K₂ beliebige
Konstanten bedeuten.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Spitzenwerte P₁ und P₂ der Grundwellenkomponente
af und der zweiten harmonischen Komponente
aaf in folgender Beziehung stehen:
3. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach
Anspruch 1 oder 2, mit einer Strahlungsquelle
zur Beleuchtung einer Markierung, einer Schwingblende
zwischen Strahlungsquelle und einem
Strahlungsdetektor und einer Auswerteschaltung,
die das Ausgangssignal des Strahlungsdetektors
synchron mit der Schwingung der Schwingblende
auswertet,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Auswerteschaltung zwei Synchron-Detektoren
(203, 204) zur Gewinnung der Grundwellenkomponente
af und der harmischen Komponente anf n-ter
Ordnung umfaßt, von denen der erste Synchron-Detektor
(111; 509) syncrhon erfaßt, indem er
als Bezugssignal ein Signal derselben Frequenz
wie die Schwingungsfrequenz f der Schwingblende
benutzt, und von denen der zweite Synchron-Detektor
(204) das Ausgangssignal synchron erfaßt, indem
er als Bezugssignal ein Signal mit einer Frequenz,
die das n-fache der Schwingungsfrequenz f beträgt,
benutzt.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, gekennzeichnet durch
einen ersten Abstimmverstärker (201) zum Verstärken
des Ausgangssignals des Strahlungsdetektors (111;
509) vor dem synchronen Erfassen durch den ersten
Synchron-Detektor (203) mit der Abstimmfrequenz
f und durch einen zweiten Abstimmverstärker (202)
zum Verstärken des mit der Abstimmfrequenz f
verstärkten Ausgangssignals vor dem synchronen
Erfassen durch den zweiten Synchron-Detektor
(204) mit der Abstimmfrequenz nf.
5. Vorrichtung nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet,
daß die Strahlungsquelle (101)
Licht emittiert.
6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 3 bis 5,
dadurch gekennzeichnet, daß die Schwingblende
(109) im Beleuchtungsstrahlengang der Markierung
(107) angeordnet ist.
7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 3 bis 5,
dadurch gekennzeichnet, daß die Schwingblende (109)
unmittelbar vor dem Strahlungsdetektor (111)
angeordnet ist.
8. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet,
daß als Strahlung ein Elektronenstrahl
verwendet wird und die periodische Abtastung der
Markierung durch elektromagnetische Ablenkung
des Elektronenstrahls erfolgt.
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