DE3424696C2 - - Google Patents
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/71—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
- G01N21/73—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited using plasma burners or torches
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Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Zuführung von
Analysensubstanz in die Anregungszone eines Plasma-Emis
sionsspektrometers mit einem außerhalb der Anregungszone
angeordneten, die Analysensubstanz enthaltenden, durch
Widerstandsheizung aufheizbaren verschiebbaren Proben
träger, Mitteln zum Zuführen eines die verdampfte Analysen
substanz aufnehmenden Schutzgases und einem sich zwischen
Gaszuführung und Anregungszone erstreckenden Strömungs
kanal.
Zur Erzeugung freier Atome und die Anregung dieser
Atome für die Emissionsspektralanalyse werden zunehmend
Plasmen verschiedener Art verwendet, die sehr kleine
Nachweisgrenzen ermöglichen und gegen störende Matrix
effekte weniger empfindlich sind als andere bekannte
Anregungsverfahren. Bei der Plasmaanregung wird die
Analysensubstanz im allgemeinen gelöst und als Aerosol
in das Plasma injiziert. Da durch eine derartige Pro
benvorbereitung die Analysensubstanz zwangsläufig stärker
verdünnt wird, erhöht sich die Nachweisgrenze und zur
Verbesserung der Empfindlichkeit bedarf es aufwendiger
Anreicherungsverfahren, bei deren Durchführung die
Substanz gegebenenfalls durch Aufschlußmittel und dgl.
verunreinigt werden kann. Das direkte Einbringen pulver
förmiger Analysensubstanz in das Plasma ist andererseits
wenig zuverlässig, da die Stabilität des Plasmas und damit
die Analysengenauigkeit beeinträchtigt wird. Durch die
DE-OS 29 49 460 ist es auch bekannt, dampfförmig die
Analysensubstanz in die Plasmazone einzuführen. Die
Substanz ist zu diesem Zweck in einem napfförmigen
Behälter aus einem den elektrischen Strom leitenden
Werkstoff angeordnet, der in die Plasmazone bewegt und
durch Wirbelströme und Wärmestrahlung auf eine Temperatur
über der Verdampfungs- oder Sublimationstemperatur der
Analysensubstanz erhitzt wird. Die innerhalb der Plasma
wolke verdampfende Substanz ändert deren Raumstruktur
nur unwesentlich. Bei diesem Verfahren wird ein Teil der
zur Erzeugung des Plasmas verfügbaren elektrischen Energie
zum Aufheizen des Probenbehälters und zur Verdampfung der
Analysensubstanz verbraucht, so daß diese Art der Proben
einspeisung nur möglich ist, wenn eine größere als für
die Plasmaerzeugung nötige elektrische Anschlußleistung
vorliegt.
Es ist weiterhin bekannt, die Probensubstanz in einem
Graphitrohrofen zu verdampfen oder zu verbrennen und
den Dampf bzw. die Verbrennungsprodukte dem Plasma zuzu
leiten (z. B. Spectrochimica Acta Vol. 36B, 901-917, 1981).
Eine solche Ausbildungsform ist in der DE-OS 32 33 130
beschrieben. Die in einem Probenträger erzeugten flüchtigen
Produkte werden mittels eines Ansaugsystems in die Anre
gungszone transportiert, gegebenenfalls unterstützt durch
ein Trägergas, das durch den Verdampfungs- bzw. Verbren
nungsraum geführt wird.
Für eine gute Analysengenauigkeit ist es wichtig, daß
während der Analysendauer die zeitliche und räumliche
Konzentration der in die Anregungszone transportierten
verdampften Analysensubstanz möglichst konstant und
darüber hinaus auch reproduzierbar ist. Bestimmende
Einflußgrößen der zeitlichen und räumlichen Verteilung
und der Reproduzierbarkeit sind die Verdampfungsgeschwin
digkeit der Analysensubstanz und vor allem die Strömung
des die verdampfte Substanz aufnehmenden Schutzgases.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine
definierte stabile Gasströmung zu schaffen, in der die
verdampfte Analysensubstanz mit konstanter zeitlicher
und räumlicher Konzentration der Anregungszone zugeführt
wird.
Die Aufgabe wird bei einer Vorrichtung der eingangs
genannten Art dadurch gelöst, daß
- a) der Probenträger als Tiegel ausgebildet und
senkrecht unter der Anregungszone angeordnet ist,
b) der gesamte Strömungskanal gerade ist und
c) die Mittel zur Zuführung des Schutzgases aus einer Düsenplatte bestehen, über deren Mittelpunkt sich der Tiegel in einer laminaren Strömung des Schutzgases befindet.
Die einem Spektrometer zugeordnete Anregungszone
besteht aus einem Argonplasma, das induktiv ange
koppelt ist (ICP) oder durch Mikrowellen erzeugt
wird und dessen Temperatur etwa 6000 bis 8000 K
beträgt. Unterhalb der Anregungszone ist der
widerstandsbeheizte Tiegel mit der Analysensubstanz
zwischen Stromzuführungsbacken eingespannt. Tiegel
und Stromzuführung sind zweckmäßig derart ausgelegt,
daß die Verdampfungstemperatur der Analysensubstanz
mit der üblichen Netzspannung von 220 V und einer
Stromstärke von 15 bis 20 A erreicht wird. Bei häufigem
Wechsel der Tiegelform oder bei einem vorgegebenen
Aufheizprogramm ist es zweckmäßig, regelbare Vorwider
stände oder Transformatoren zu verwenden. Die Kontur
der Stromzuführungsbacken entspricht der Tiegelform;
sie werden durch mechanische, pneumatische
oder hydraulische Federelemente gegen den Tiegel gepreßt.
Unterhalb des Tiegels ist eine Düsenplatte angeordnet,
aus der beim Betrieb der Vorrichtung ein Schutzgas, ins
besondere Argon, um den Tiegel geblasen wird,
wobei sich ein laminarer Schutzgasstrom um den Tiegel
bildet. Das den Tiegel umspülende Schutzgas strömt mit
dem Dampf der Analysensubstanz in die Anregungszone.
Düsenplatte, Tiegel und Anregungszone bilden
einen homogenen Strömungskanal, dessen geometrische Form
durch begrenzende Elemente, z. B. Hohlzylinder, Hohlkegel
und dgl. den jeweiligen Verfahrensbedingungen angepaßt
werden kann. Der im wesentlichen laminare Gasstrom
schützt den Tiegel gegen den Angriff oxidierender und
korrodierender Gase, ist Träger der verdampfenden
Analysensubstanz und transportiert den Dampf in die
Anregungszone, ohne die Stabilität des Plasmas zu
beeinträchtigen. Die Ausbildung einer homogenen Dampf
strömung wird durch die Verwendung eines Tiegels ge
fördert, der mit einem gelochten Deckel verschlossen
ist. Form und Größe der Deckelbohrung werden im wesent
lichen bestimmt durch die Menge der Analysensubstanz
und deren Verdampfungsgeschwindigkeit.
Der Tiegel selbst besteht aus einem den elektrischen
Strom leitenden, temperaturbeständigen und gegen die
Analysensubstanz inerten Material, besonders Graphit,
der durch thermische, chemische und thermo
chemische Verfahren gereinigt ist und dessen Gehalt an
Verunreinigungen weniger als 10 ppm und insbesondere
weniger als 1 ppm beträgt. Prinzipiell sind alle Graphit
sorten, eingeschlossen Pyrographit, flexibler Graphit
und Glaskohlenstoff geeignet, die einer Reinigungsbe
handlung unterworfen wurden. Die normale Porosität des
Graphits stört im allgemeinen nicht, da Graphit unter
den vorgegebenen Bedingungen nicht oder nur im geringen
Umfang von Schmelzen benetzt wird, d. h., eine zusätz
liche Verdichtung des Tiegels durch Imprägnieren oder
Beschichtungen ist nur ausnahmsweise nötig. In einem
solchen Fall wird der Tiegel zweckmäßig mit einer imper
meablen Schicht aus z. B. Pyrokohlenstoff versehen.
In der Vorrichtung ist der Tiegel verschiebbar angeordnet,
so daß ohne Zeitverlust ein erster Tiegel durch einen
zweiten Tiegel usw. ersetzt werden kann. Zweckmäßig ist
das Umsetzen der Tiegel automatisiert und der Bewegungs
ablauf ist mit der Bewegung der Stromzuführungsbacken
gekoppelt, die im gleichen Takt gegen den Tiegel gepreßt
und vom Tiegel abgezogen werden. In einer bevorzugten
Lösung ist der Tiegel um eine zum Strömungskanal parallele
aber mit diesem nicht zusammenfallende Achse schwenkbar.
Mehrere Tiegel sind dabei auf einem Kreisring angeordnet,
der in vorgegebenen Zeitabständen um den Winkelbetrag
360/n gedreht wird, wenn n die Anzahl der Tiegel ist. Im
gleichen Takt werden die Stromzuführungsbacken gelöst,
abgezogen und gegen den nachfolgenden Tiegel gepreßt.
Die Erfindung wird im folgenden anhand von Zeichnungen
beispielhaft beschrieben. Es zeigt
Fig. 1 - einen Schnitt der
Vorrichtung,
Fig. 2 - den Tiegel mit Stromzuführungsbacken
im Querschnitt und
Fig. 3 - im Schnitt längs der Linie I-I in
Fig. 2.
In Fig. 1 ist 1 ein Quarzrohrbrenner, mit Anschlüssen
2, 2′ über die dem Quarzrohrbrenner Argon zugeführt
wird. Der Ausgang des Rohrs ist von der Induktions
spule 3 umschlossen, an der - zeichnerisch nicht dar
gestellt - eine hohe HF-Leistung anliegt. In Verlänge
rung des Quarzrohrbrenners 1 ist der Tiegel 4 angeordnet,
der mit dem gelochten Deckel 5 abgedeckt und zwischen
Stromzuführungsbacken 6, 6′ eingespannt ist. Tiegel und
Backen bestehen aus Graphit. Die Backen sind Teil der
wassergekühlten Stromzuführung 7, 7′, die über zeichnerisch
nicht dargestellte Anschlüsse mit einer Stromquelle ver
bunden sind. Ebenfalls nicht dargestellt ist das Feder
system, mit welchem die Stromzuführungsbacken gegen den
Tiegel gepreßt werden. Unterhalb des Tiegels 4 und mit
diesem und dem Quarzrohrbrenner 1 fluchtend, ist die
Düsenplatte 8 und ein Anschluß 9 zur Zuführung von Schutz
gas angeordnet. Düsenplatte 8, Tiegel 4 und Quarzrohr
brenner 1 bilden einen Strömungskanal; der Übergang
zwischen dem unteren Teil und dem oberen Teil des Kanals
ist durch ein konisches Übergangsteil 10 gebildet.
Zur Analyse einer Substanz wird der die Analysensubstanz
enthaltende Tiegel 4 zwischen die Stromzuführungsbacken 6,
6′ eingespannt und durch direkte Widerstandserhitzung auf
eine Temperatur oberhalb des Siede- oder Sublimationspunkts
der Analysensubstanz erhitzt. Gleichzeitig wird über die
Anschlüsse 2, 2′ und 9 Argon in die Vorrichtung geleitet,
die Induktionsspule 3 in Betrieb gesetzt und das
durch das HF-Feld strömende Gas ionisiert. Der durch
den gelochten Deckel 5 des Tiegels 4 austretende Dampf
der Analysensubstanz wird von dem den Tiegel 4 um
spülenden Argonstrom aufgenommen, zur Plasmazone trans
portiert und ohne wesentliche Störung der Plasmastruktur
in die durch den heißen Plasmakern definierte Anregungs
zone eingespeist. Die angeregten Atome emittieren eine
für die Analysensubstanz charakteristische Strahlung,
die mit dem zugeordneten Spektrometer gemessen wird.
In den Fig. 2 und 3 sind der Tiegel 4 mit gelochtem
Deckel 5 und Stromzuführungsbacken 6, 6′ im einzelnen
dargestellt.
Claims (5)
1. Vorrichtung zur Zuführung von Analysensubstanz in die
Anregungszone eines Plasma-Emissionsspektrometers mit
einem außerhalb der Anregungszone angeordneten, die
Analysensubstanz enthaltenden, durch Widerstands
heizung aufheizbaren verschiebbaren Probenträger,
Mitteln zum Zuführen eines die verdampfte Analysen
substanz aufnehmenden Schutzgases und einem sich
zwischen Gaszuführung und Anregungszone erstreckenden
Strömungskanal, dadurch gekennzeichnet, daß
- a) der Probenträger als Tiegel ausgebildet und
senkrecht unter der Anregungszone angeordnet
ist,
b) der gesamte Strömungskanal gerade ist und
c) die Mittel zur Zuführung des Schutzgases aus einer Düsenplatte bestehen, über deren Mittel punkt sich der Tiegel in einer laminaren Strömung des Schutzgases befindet.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß der Tiegel mit einem ge
lochten Deckel verschlossen ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 und 2, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Tiegel aus
gereinigtem Graphit besteht.
4. Vorrichtung nach Anspruch 1 bis 3, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Tiegel zwischen
Stromzuführungsbacken eingespannt ist.
5. Vorrichtung nach Anspruch 1 bis 4, dadurch ge
kennzeichnet, daß mehrere Tiegel auf einem
Kreisring angeordnet und durch Drehen des Kreis
rings um seinen Mittelpunkt gegen den Strömungs
kanal schwenkbar sind.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19843424696 DE3424696A1 (de) | 1984-07-05 | 1984-07-05 | Vorrichtung zur zufuehrung von analysensubstanz in ein plasma |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (2)
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DE3424696C2 true DE3424696C2 (de) | 1988-01-21 |
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ID=6239867
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE19843424696 Granted DE3424696A1 (de) | 1984-07-05 | 1984-07-05 | Vorrichtung zur zufuehrung von analysensubstanz in ein plasma |
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1984
- 1984-07-05 DE DE19843424696 patent/DE3424696A1/de active Granted
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Also Published As
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DE3424696A1 (de) | 1986-02-06 |
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