DE3342947C2

DE3342947C2 - System zur Verarbeitung eines grafischen Musters

Info

Publication number: DE3342947C2
Application number: DE3342947A
Authority: DE
Inventors: Shuichi Kyoto Araki; Hideshi Kashiyama; Michio Otsu Shiga Ogura
Original assignee: Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Current assignee: Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date: 1982-12-01
Filing date: 1983-11-26
Publication date: 1987-05-14
Also published as: DE3342947A1; GB2131660A; FR2537305B1; GB8331729D0; JPS59101969A; JPH059834B2; FR2537305A1; GB2131660B; US4573201A

Abstract

Daten von charakteristischen Punkten auf den Umrißlinien von Bildeinheiten wie z. B. Lettern, Zeichen, Bildmustern u. ä. sind in einem Speicher gespeichert. Die Daten werden bei Bedarf ausgelesen und Verfahrensschritten zur Änderung des Abbildungsmaßstabs, z. B. einer Vergrößerung oder Verkleinerung, Drehung o. ä., unterworfen. Die erhaltenen Bildeinheitsdaten werden dann gemäß einem vorgegebenen Layout arrangiert, um so die gewünschte Positionsbeziehung zwischen den Bildeinheiten herzustellen. Die Daten des so arrangierten Bildmusters werden dann in eindimensionale, zeitlich serielle Daten verwandelt, die es gestatten, eine Ein-Aus-Steuerung der Abtast- und Belichtungsvorrichtung einer eindimensionalen Ausgabeeinheit vorzunehmen. Das Verfahren erlaubt eine Bildverarbeitung in einem einzigen Schritt. Es wird ein System zur Durchführung des Verfahrens angegeben.

Description

Die Erfindung betrifft ein System zur Verarbeitung eines durch binäre Umrißkoordinaten definierten grafischen Musters in Lauflängendaten zur flächenhaften Darstellung.
Derartige Systeme dienen insbesondere zur Duplizierung und Aufzeichnung von Lettern, Zeichen, Bildmustern und ähnlichem mit Hilfe computergesteuerter Fototypesatzmaschinen unter Verwendung von Bildabtast- und Wiedergabevorrichtungen, wie z. B. elektronischen Farbscannern. Die Reproduktionen werden in einem Bildrahmen auf einem fotoempfindlichen Material erstellt.
Mit dem verwendeten Begriff "Letter" sind insbesondere chinesische Schriftzeichen, "Hiragana"-Zeichen, "Katakana"- Zeichen, lateinische Buchstaben usw. gemeint. Der Begriff "Zeichen" beinhaltet vorgezeichnete Lettern, wie z. B. Logotypen u. dgl. Schließlich sind unter Bildmustern beispielsweise krummlinig begrenzte Bildmuster, wie z. B. Kreise, Ellipsen usw. zu verstehen, die durch eine Kurvengleichung dargestellt werden können.

Aus IEEE Transactions on Computers, Vol. C-30, No. 1, Januar 1981, Seiten 41 bis 48, ist ein derartiges System bekannt, wobei nach der Festlegung der Umrißlinie eines Musters oder Zeichens dessen Inneres mittels Scanning-Linien geschwärzt wird. Die Schwärzung beginnt im ersten Schnittpunkt mit der Umrißlinie und endet beim zweiten Schnittpunkt. Dies hat den Nachteil, daß bei Überlappungen zweier Umreißlinien der überlappte Bereich nicht geschwärzt werden kann, da der Schnittpunkt der Scanning-Linie mit der Umrißlinie des überlappten Bereichs als Information zur Beendigung der Schwärzung gewertet wird. Es läßt sich daher mit dem bekannten Verfahren bei der Überlappung von Umrißlinien lediglich eine Anordnung darstellen, bei der überlappte Bereiche gegenüber angrenzenden Bereichen voneinander abgesetzt sind, nicht jedoch eine Anordnung, bei der derartige Gebiete eine gleiche Tönung aufweisen.

Aus der DE-AS 15 24 565 ist ein anderes Reproduktionssystem bekannt, bei dem eine Fläche durch Abtastlinien abgetastet und wiedergegeben wird. In Zusammenhang mit sich überlappenden Mustern stehende Probleme sind dort nicht angesprochen.

Schließlich ist aus der US-PS 41 56 237 ein Verfahren zum Einfärben von durch geschlossene Umrißlinien definierten Vorlagen bekannt, die sich auch überlappen dürfen. Bei einer Überlappung nimmt diese immer die Farbe der "oberen" Vorlage an, während die "untere" Vorlage ohne Einfluß bleibt. Die Erstellung einer Überlappung ohne Farbe ist nicht möglich. Dieses Verfahren ist dadurch lediglich bei der Einfärbung einfacher, sich überlappender Bereiche anwendbar, wohingegen eine Schwarz/Weiß-Darstellung von komplizierten Vorlagen mit vielen Überlappungen und eingeschlossenen sowie sich verzahnenden Bereichen nicht möglich ist.

Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, die vorstehend genannten Nachteile zu vermeiden und ein System zu schaffen, bei dem beliebige Überlappungen von Umrißlinien erlaubt sind und bei dem die dabei entstehenden einzelnen abgeschlossenen Bereiche wahlweise geschwärzt oder nicht geschwärzt werden können, so daß eine Bearbeitung auf sehr kompliziertem Muster in einem einzigen Schritt ermöglicht wird.

Zur Lösung dieser Aufgabe wird ein System vorgeschlagen, das gekennzeichnet ist durch einen ersten Speicher zur Speicherung der X-Y-Koordinaten aller charakteristischen Punkte auf allen Umrißlinien des grafischen Musters, eine damit verbundene Datenumwandlungseinheit zum Auslesen der in dem ersten Speicher gespeicherten Daten und zur Umwandlung derselben in Übereinstimmung mit einem gewünschten Layout, einen zweiten Speicher zur Speicherung der so umgewandelten Daten, eine erste Einheit zur Erstellung von Daten auf der Grundlage der Daten aus dem zweiten Speicher zur Festlegung von Liniensegmenten, die die Punkte verbinden, und zur Erzeugung von Information darüber, ob sich die Liniensegmente im einzelnen auf der Anfangs- oder Endseite der Aufzeichnung bezüglich der Abtastrichtung einer Abtast-Linie befinden, einen dritten Speicher zur Speicherung der durch die erste Einheit erstellten Daten, eine Abtastlinien-Kontrolleinheit zur Steuerung der Abtastung der Fläche des Layouts, eine zweite Einheit zur Berechnung der Koordinatenwerte aller Schnittpunkte auf der Grundlage der in dem dritten Speicher gespeicherten Liniensegmentdaten und der Abtastlinien-Steuerdaten, einen vierten Speicher zur Speicherung dieser Koordinatenwerte der Schnittpunkte und eine Sortiereinheit zur Sortierung der aus dem vierten Speicher ausgelesenen Daten nach Anfangs- und Endpunkten in der Folge der Abtastrichtung, einen fünften Speicher zur Speicherung der sortierten Daten, eine logische Verknüpfungseinheit, die bei gegebener Überlappung mehrerer Muster die Schnittpunktkoordinaten auf die resultierenden Anfangs- und Endpunkte einer Abtastlinie reduziert, die einer dritten Einheit zur Erzeugung von Lauflängendaten zur Steuerung einer Aufzeichnungs- Ausgabeeinheit zugeführt werden.

Durch die zusätzliche Berücksichtigung der Reihenfolge aller charakteristischen Punkte und der relativen Größe von Koordinatenwerten derselben lassen sich wahlweise schwarze und nicht-schwarze Bereiche in beliebiger Anordnung auf einfache Weise realisieren, indem jeder Schnittpunkt einer Scanning-Linie mit einer Umrißlinie noch die Information beinhaltet, ob der nachfolgende Bereich geschwärzt oder nicht geschwärzt werden soll. Mit einer eindimensionalen Ausgabeeinheit lassen sich somit auch komplizierte Darstellungen mit vielen Überschneidungen auf eindeutige und gezielte Weise abtasten und aufzeichnen. Eine fehlerfreie Umwandlung der vorgegebenen Werte einer Darstellung und die die freie Wahl von schwarzen und/oder weißen Flächen in überlappten Bereichen der Muster werden dadurch sichergestellt.

Durch die in den Unteransprüchen aufgeführten Maßnahmen sind vorteilhafte Weiterbildungen und Verbesserungen des im Anspruch 1 angegebenen Systems möglich.

Einzelheiten der vorliegenden Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung und den Zeichnungen. Es zeigt

Fig. 1 ein Beispiel eines Musters, z. B. einer Satztype, die in Form von binären Signalen auszudrücken ist;

Fig. 2 Abwandlungen des Musters gemäß Fig. 1; dabei ist

Fig. 2 (A) eine Darstellung des Originalmusters;

Fig. 2 (B) zeigt ein Muster, das man erhält, indem man das Originalmuster einem Vergrößerungsprozeß unterwirft;

Fig. 2 (C) zeigt ein Muster, das man erhält, indem man das Originalmuster in Vertikalrichtung streckt;

Fig. 2 (D) illustriert ein Muster, das man durch Abflachen oder Abplatten des Originalmusters erhält;

Fig. 2 (E) weist ein Muster aus, das man erhält, indem man das Originalmuster neigt, und

Fig. 2 (F) zeigt ein Muster, das man durch ein Drehen des Originalmusters erhält;

Fig. 3 ein Verfahren zur Ableitung von die Belichtung steuernden Daten;

Fig. 4 exemplarisch ein Verfahren, in dem zwei rechteckige Muster überlagert werden, um sie in einem synthetisierten Muster zusammenzusetzen;

Fig. 5 (A) und 5 (B) ein Verfahren, bei dem eine Mehrzahl von Mustern zusammengesetzt werden und der überlappte Bereich dadurch dargestellt wird, daß man ihn als weißes Fach bzw. weiße Tasche beläßt;

Fig. 6 ein Verfahren, in dem eine Mehrzahl von Mustern zusammengesetzt werden und die überlappten Bereiche dadurch festgestellt werden, daß man ihre Farben einer "Schwarz-Weiß-Umkehr" unterwirft;

Fig. 7 ähnelt Fig. 5 (A) und illustriert Lauflängendaten;

Fig. 8 zeigt das Blockdiagramm eines Ausführungsbeispiels eines Systems zur Durchführung des Verfahrens und

Fig. 9 ein Flußdiagramm des Systems gemäß Fig. 8.

Ein Muster, wie z. B. eine Satztype o. ä., die in Form von binären Signalen ausgedrückt werden soll, kann als ein einzelner geschlossener Bereich oder eine Kombination von mehreren geschlossenen Bereichen dargestellt werden. Der in Fig. 1 dargestellte Buchstabe "A" ist beispielsweise ein Muster, das zwei geschlossene Bereiche besitzt; diese werden von je einer Umrißlinie gebildet, von denen eine die Punkte P&sub1; bis P&sub8; und die andere die Punkte P&sub9; bis P&sub1;&sub2; verbindet. In diesem Fall sind alle Punkte P&sub1; bis P&sub1;&sub2; charakteristische Punkte, die erforderlich sind, um den Buchstaben "A" zu definieren.
Da in dem obigen Beispiel beide Umrißlinien aus Geraden zusammengesetzt sind, ist es nur erforderlich, alle Ecken der Umrißlinien zu spezifizieren. Wenn eine Umrißlinie aus Kurven besteht, werden die Scheitelpunkte eines geeigneten, in den Umriß ein- oder um ihn herumgeschriebenen Polygons als charakteristische Punkte ausgewählt.
Die Daten aller Lettern, Zeichen, Formelemente o. ä. werden in Form von Koordinatenwerten in einem Speicher (Original- Satztypenspeicher) gespeichert. Die Koordinatenwerte stellen dabei die Positionen von charakteristischen Punkten in einem internen Koordinatensystem dar, das der Satztype zu eigen ist. In allen, geschlossene Schleifen bildenden Umrißlinien wird in diesem Fall die jeweilige Reihenfolge der charakteristischen Punkte bestimmt. Die Reihenfolge bzw. der Rang jedes charakteristischen Punkts wird festgelegt, indem man zunächst die Richtung seiner entsprechenden Umrißlinie bestimmt. Diese ergibt sich ihrerseits durch eine Feststellung, auf welcher Seite eines den charakteristischen Punkt mit seinem benachbarten charakteristischen Punkt verbindenden Liniensegments sich der schwarze Bereich des Musters befindet. Ausgehend von der Richtung der Umrißlinie wird dann die Reihenfolge der charakteristischen Punkte bestimmt.
In dem Speicher wird zusätzlich die Anzahl der geschlossenen Schleifen und die Zahl der charakteristischen Punkte in jeder geschlossenen Schleife als die Satztype charakterisierende Daten gespeichert. In dem in Fig. 1 illustrierten Beispiel wird in Kombination mit den Koordinatenwerten der zwölf charakteristischen Punkte "2" als Zahl der geschlossenen Schleifen, "8" als Zahl der charakteristischen Punkte auf der ersten geschlossenen Schleife und "4" als Zahl der charakteristischen Punkte auf der zweiten geschlossenen Schleife in dem Speicher gespeichert.
Indem man das oben beschriebene Verfahren ablaufen läßt, werden Satztypendaten der nötigen Lettern, Zeichen, Formelemente u. ä. allesamt in einem Speicher gespeichert. Wenn man nun eine bestimmte Zusammenstellung entwirft, werden die erforderlichen Satztypendaten ausgelesen und dann gemäß einer Anordnung, die mit dem Layout der Zusammenstellung übereinstimmt, in einen weiteren Speicher geschrieben, wodurch sie als Bildbelichtungsdaten gespeichert werden.
Da die Daten jeder Satztype in einem ersten Speicher (im folgenden "Original-Satztypenspeicher" genannt) in Form von Koordinatenwerten gespeichert sind, die ihren Ursprung in dem Bereich des jeweiligen Satztypenmusters haben, werden sie zuerst in Koordinatenwerte umgewandelt, die die Satztype charakterisieren, wenn sie gemäß einem vorgegebenen Layout angeordnet ist. Die so umgewandelten Satztypendaten werden in einen Belichtungsbild-Datenspeicher eingeschrieben. Genauer gesagt, ist es für diese Koordinaten-Transformation nur erforderlich, daß man zu den ursprünglichen Koordinatenwerten aller charakteristischen Punkte die Koordinatenwerte des Ursprungs hinzuaddiert, die dem Ort des Ursprungs entsprechen, wenn sich das Satztypenmuster in seiner Position gemäß dem Layout befindet.
Wenn Verfahrensschritte zur Änderung des Abbildungsmaßstabs, Winkeltransformation, Drehung o. ä. erforderlich sind, sollten die Bidlbelichtungsdaten aus Daten aufgebaut sein, die man nach Durchführung derartiger Verfahrensschritte erhält. Diese Verfahrensschritte werden durchgeführt, um Schrifttypenmuster in der wirklichen Fototypiesatzarbeit zu verwenden, nachdem die Schrifttypenmuster in Übereinstimmung mit dem jeweiligen Layout-Design verformt wurden. Verschiedene Beispiele solcher Modifikationen sind in Fig. 2 illustriert.
Fig. 2 (B) illustriert schematisch ein Muster, das einem Verfahrensschritt zur Änderung des Abbildungsmaßstabs unterworfen wurde. Das dargestellte Muster wurde durch eine Vergrößerung des Originalmusters erhalten; das Originalmuster kann aber auch in seiner Größe vermindert werden.
(C) illustriert schematisch ein durch vertikales Strecken des Originalmusters (A) erhaltenes Muster, ein durch Abflachen oder Abplatten des Originalmusters (A) erhaltenes Muster (D), ein durch Neigen des Originalmusters (A) erhaltenes Muster (E) und ein Muster (F), das man durch eine Drehung des Originalmusters (A) erhält. Diese Verfahrensschritte können im einzelnen auf folgende Art und Weise ausgeführt werden.
Das vergrößerte Muster (B) wird erhalten, indem man alle X-Y-Koordinatenwerte der charakteristischen Punkte des Originalmusters (A) mit einem gewünschten Wert multipliziert, um so neue Koordinatenwerte zu erhalten.
Das gestreckte Muster (C) und abgeplattete Muster (D) wird erhalten, indem man nur die X-Koordinatenwerte bzw. die Y-Koordinatenwerte mit gewünschten Faktoren multipliziert, um so jeweils neue Koordinatenwerte zu erhalten.
Wenn die X-Koordinatenwerte jeweils um Beträge geändert werden, die ihren zugehörigen Y-Koordinatenwerten proportional sind, ergibt sich ein geneigtes Muster (E).
Das gedrehte Muster (F), das durch eine Drehung um einen Drehwinkel R aus dem Originalmuster (A) hervorgeht, wird erhalten, indem man neue Koordinatenwerte des gedrehten Musters (F) gemäß der folgenden Gleichung bestimmt:
x&min; = cos R · x - sin R · y
y&min; = sin R · x - cos R · y
wobei
(x, y): Koordinatenwerte eines charakteristischen Punkts auf einem Originalmuster;
(x&min;, y&min;): Koordinatenwerte des entsprechenden charakteristischen Punkts auf einem gedrehten Muster;
und
R: Drehwinkel.
Bezüglich grafischer Formelemente, die keine Lettern sind, z. B. Kreisen oder Ellipsen, ist es von einem praktischen Gesichtspunkt aus von Vorteil, die Daten der jeweiligen Kontur auf der Grundlage ihrer Kurvengleichung zu bestimmen.
Es ist selbstverständlich möglich, diese grafischen Muster in dem Satztypenspeicher mit demselben Verfahren zu speichern, wie die oben beschriebenen Schrifttypen. Vorzugsweise werden aber die Daten bezüglich des Umrisses aller solcher Formelemente in den gewünschten Abmessungen als Bildbelichtungsdaten bei Bedarf rechnerisch erstellt, da bei einer Vergrößerung der Bildelemente eines Originalmusters der diskontinuierliche (nicht-glatte) Verlauf aller Umrißlinien bemerkbar wird. Die Bildqualität wird also beeinträchtigt, wenn das Originalmuster einem Verfahrensschritt zur Änderung des Abbildungsmaßstabs und insbesondere einer Vergrößerung unterworfen wird.
Auf der Grundlage der Daten, die in dem Belichtungsbild- Datenspeicher gespeichert wurden und Lettern, Muster u. ä. in einer Anordnung gemäß dem geforderten Layout enthalten, wird die Linienraster-Ausgeabeeinheit gesteuert. Um das gemäß der obigen Beschreibung erstellte Muster zu scannen und zu belichten, ist es erforderlich, als Steuerdaten Informationen bezüglich der Koordinatenwerte von Punkten bereitzustellen, an denen die Scan-Linie in jedem Abtastzyklus der Ausgabeeinheit die Umrißlinien des Musters schneidet. Außerdem wird für alle Schnittpunkte eine Information darüber benötigt, ob an diesem Punkt die Belichtung beginnt oder endet.
Diese Information kann auf folgende Art und Weise erhalten werden.
Nimmt man das in Fig. 1 dargestellte Muster als Beispiel, so kann man annehmen, daß die Richtung aller Scan-Linien parallel zu der Y-Achse verläuft und das Muster von oben nach unten abgetastet wird. Weiterhin wird angenommen, daß die Scan-Linie pro einzelnen Abtastzyklus um jeweils einen Schritt (Ganghöhe) in Richtung der X-Achse von links nach rechts wandert. Die Daten aller Umrißlinien werden als Daten bezüglich der Liniensegmente erhalten, die sukzessive die charakteristischen Punkte verbinden, die unter Angabe ihrer jeweiligen X-Y-Koordinatenwerte gespeichert sind. Unter der Voraussetzung, daß der X-Koordinatenwert "x" der Scan-Linie bestimmt ist, erhält man daher einen Y-Koordinatenwert "y" des Schnittpunkts zwischen einer Scan-Linie und der Umrißlinie gemäß der folgenden Gleichung.
y = ( Δ y × N) + y _n
wobei °=c:50&udf54;&udf53;vu10&udf54;&udf53;vz4&udf54; &udf53;vu10&udf54;hierbei sind
(x _n, y _n): die Koordinatenwerte eines charakteristischen Punkts P _n;
(x _n+1, y _n+1): die Koordinatenwerte des charakteristischen Punkts P _n+1;
N: die Anzahl der Abtast-Operationen, in denen der Punkt P _n als Anfangspunkt auftritt
°=c:30&udf54;&udf53;vu10&udf54;&udf53;vz2&udf54; &udf53;vu10&udf54;P: die Schrittweite (Ganghöhe) der Scan- Linien.
Da Δ y für jedes Liniensegment eines Abschnitts einen konstanten Wert annimmt, kann die Rechenoperation vereinfacht werden, indem man diesen konstanten Wert sukzessive zu dem Y-Koordinatenwert "y _n" der ersten Scan-Linie (d. h. der durch den Punkt P _n verlaufenden Scan-Linie) hinzuaddiert.
Die Unterscheidung, ob der jeweilige Schnittpunkt ein Anfangs- oder Endpunkt der Belichtung ist, wird durchgeführt, indem man feststellt, ob sich das entsprechende Liniensegment ober- oder unterhalb des schwarzen Bereichs des Musters befindet.
Im folgenden wird ein Liniensegment, das sich an der Oberrandseite eines Musters befindet, als "unten schwarz" bezeichnet, während ein an der Unterrandseite des Musters befindliches Liniensegment die Bezeichnung "unten weiß" erhält. Man erkennt ohne weiteres, daß ein Schnittpunkt auf einem "unten schwarz"-Liniensegment ein Anfangspunkt für die Belichtung und ein Schnittpunkt auf einem "unten weiß"-Liniensegment ein Endpunkt für die Belichtung wird.
Die Unterscheidung, ob ein benachbarte charakteristische Punkte verbindendes Liniensegment "unten schwarz" oder "unten weiß" ist, wird durchgeführt, indem man die Größe der X-Koordinatenwerte der charakteristischen Punkte unter Berücksichtigung der Reihenfolge bzw. Rangordnung der charakteristischen Punkte vergleicht.
Die X-Koordinatenwerte der benachbarten charakteristischen Punkte werden also miteinander verglichen. Wenn der X- Koordinatenwert des ranghöheren charakteristischen Punkts kleiner ist als der des rangniedrigeren charakteristischen Punkts, wird das Liniensegment als "unten schwarz"-Liniensegment bestimmt. Andererseits wird das Liniensegment als "unten weiß"-Liniensegment bestimmt, wenn der X-Koordinatenwert des ranghöheren charakteristischen Punkts größer ist als der des rangniedrigeren charakteristischen Punkts. Hierbei wird der letztrangige charakteristische Punkt einer einzelnen geschlossenen Schleife bezüglich des charakteristischen Punkts mit dem Rang eins in derselben geschlossenen Schleife so behandelt, als ob er diesem im Rang voranginge.
Die folgende Tabelle zeigt "unten schwarz"-Liniensegmente und "unten weiß"-Liniensegmente mit Bezug auf das in Fig. 1 dargestellte Beispiel °=c:90&udf54;&udf53;vu10&udf54;&udf53;vz8&udf54; &udf53;vu10&udf54;
Auf die oben beschriebene Weise kann ein die gewünschten Lettern, Zeichen u. a. Formelemente enthaltendes grafisches Muster in Form von binären Daten wiedergegeben werden, indem man die Belichtung mit einer Linienraster-Ausgabeeinheit steuert. Dies erfolgt auf der Grundlage der Y- Koordinatenwerte der Punkte, an denen sich eine einen ganz bestimmten X-Koordinatenwert aufweisende Scan-Linie mit dem Umriß all der Satztypen-Muster von Lettern, Zeichen u. ä. kreuzt, die gemäß einem gewünschten Layout angeordnet sind, sowie auf der Grundlage von Informationen darüber, ob diese Schnittpunkte Anfangs- oder Endpunkte der Belichtung sind.
Nimmt man an, daß der Y-Koordinatenwert eines Start-Punktes, bei dem das Scannen beginnt, "y _max" ist, die Y-Koordinatenwerte der Anfangspunkte der Belichtung "y&sub1;", "y&sub3;", . . . und die Y-Koordinatenwerte der Endpunkte der Belichtung "y&sub2;", "y&sub4;", . . . sind, wie dies in Fig. 3 gezeigt ist, so können die die Belichtung steuernden Daten als Belichtungssteuerungs- Lauflängendaten (run-length data) erhalten werden, und zwar auf der Grundlage der Daten bezüglich dieser Koordinatenwerte und der jeweiligen Anzahl von Bits in dem Belichtungsbereich und dem Nicht-Belichtungsbereich.
In anderen Worten, werden die Koordinatenwerte aller Schnittpunkte in Abhängigkeit davon sortiert, ob sie Anfangs- oder Endpunkte der Belichtung sind. Die so sortierten Koordinatenwerte werden dann in ansteigender (oder abfallender) Reihenfolge verschmolzen (merged), um Lauflängendaten zu erhalten.
Das obige Verfahren kann wie folgt illustriert werden, wobei man die Darstellung von Fig. 3 als Beispiel nimmt. °=c:100&udf54;&udf53;vu10&udf54;&udf53;vz9&udf54; &udf53;vu10&udf54;
Die Koordinatenwerte sind hier mit den Buchstaben "B" und "W" indiziert, um anzuzeigen, ob die zu den Koordinatenwerten gehörenden Schnittpunkte Anfangs- oder Endpunkte der Belichtung sind.
In einem einzelnen Satztypenmuster treten offensichtlich Anfangs- und Endpunkte der Belichtung abwechselnd auf. In bestimmten Layout-Designs läßt man aber oft eine Mehrzahl von Mustern überlappen, um so ein zusammengesetztes oder synthetisiertes Muster zu erhalten.
Ein höchst einfaches Beispiel dafür ist in Fig. 4 gezeigt, in der zwei rechteckige Muster überlagert sind, um ein synthetisiertes Muster zu erhalten. Die Durchführung des Sortierens und Verschmelzens gemäß dem oben beschriebenen Verfahren kann hie wie folgt illustriert werden: °=c:110&udf54;&udf53;vu10&udf54;&udf53;vz10&udf54; &udf53;vu10&udf54;
In dem letzteren Stadium treten nämlich in dem obigen Beispiel zwei Anfangspunkte der Belichtung ("unten schwarz") hintereinander auf und ebenso zwei Endpunkte der Belichtung ("unten weiß"). In diesem Fall werden die Zwischenwerte "y ^B&sub3;" und "y ^W&sub2;" ignoriert, und die Belichtung wird durch Lauflängendaten gesteuert, die "y ^B&sub1;" als Anfangsunkt und "y ^W&sub4;" als Endpunkt verwenden.
In bestimmten Layout-Designs wird eine Mehrzahl von Mustern zusammengebracht, wie dies in Fig. 5 oder Fig. 6 illustriert ist, und die einander überlappenden Teile werden als "weiße Fächer" oder "Fächer mit Schwarz-Weiß-Umkehr" (pocket) dargestellt.
Um Daten zur Steuerung eines solchen Musters zu erhalten, wird zunächst angenommen, daß Schichten, die jeweils eine der zusammenzubringenden, einzelnen Bildeinheiten enthalten, überlagert werden. Man gibt jeder Schicht ein Attribut, das die Daten der darunter befindlichen Schicht beherrscht, wodurch die gewünschten Steuerdaten erzeugt werden können. (Im Gegensatz zu den logischen Operationen, die an Daten in solchen verschiedenen Schichten durchgeführt werden, können die logischen Operationen in einem Fall, wie er in Fig. 4 illustriert ist, als logische Operationen innerhalb ein und derselben Schicht betrachtet werden.)
Jeder der Schichten wird eines der folgenden drei Attribute gegeben:

(I) Mache den von einer geschlossenen Schleife umrandeten Bereich des in der darunterliegenden Schicht befindlichen Musters schwarz;
(II) mache den von einer geschlossenen Schleife umrandeten Bereich des in der darunterliegenden Schicht befindlichen Musters weiß und
(III) kehre in dem von einer geschlossenen Schleife unmrandeten Bereich des in der darunterliegenden Schicht befindlichen Musters Schwarz in Weiß bzw. Weiß in Schwarz um.

In dem in Fig. 5 gezeigten Beispiel wird angenommen, daß die erforderlichen Bildeinheiten jeweils in drei in Fig. 5 (B) dargestellten Schichten enthalten sind, um ein Muster zu erzeugen, wie es in Fig. 5 (A) abgebildet ist. Der untersten Schicht 4, die einen Kreis 1 enthält, ist das Attribut "I" zugeordnet. Der mittleren Schicht 5, die ein Dreieck 2 enthält, ist das Attribut "II" gegeben; das Dreieck 2 entspricht einem Bereich des Kreises 1, in dem die schwarze Farbe in weiße Farbe umgekehrt ist. Der obersten Schicht 6 schließlich, die ein dem Farbumkehrbereich zu überlagerndes Dreieck 3 enthält, ist das Attribut "I" zugeordnet. Durch Ausführung einer logischen Operation erhält man Bildbelichtungsdaten, die dem in Fig. 5 (A) gezeigten, synthetisierten Muster entsprechen.
In dem in Fig. 6 dargestellten Beispiel ist der untersten Schicht 7 das Attribut "I" zugeordnet, während sowohl der mittleren Schicht 8 als auch der obersten Schicht 9 jeweils das Attribut "III" gegeben ist. Wo sich zwei oder mehr, das Attribut "III" tragende Schichten überlappen, wird die Schwarz-Weiß-Umkehr für jede Schicht ausgeführt, wodurch man ein synthetisiertes Muster erhält, wie es im unteren Teil der Zeichnung dargestellt ist.
Die genannten logischen Operationen können wie folgt ausgeführt werden.
Fig. 8 ist ein Blockdiagramm, das ein zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens geeignetes System zeigt. Das System wird noch nachstehend im einzelnen beschrieben. Es besitzt drei Speicher, nämlich einen Speicher 23 für in derselben Schicht verschmolzene Y-Koordinatenwerte, einen ersten Speicher 25 für zwischen verschiedenen Schichten verschmolzene Y-Koordinatenwerte und einen zweiten Speicher 26 für zwischen verschiedenen Schichten verschmolzene Y- Koordinatenwerte. Im Interesse eines einfacheren Verständnisses der Beschreibung werden diese Speicher im folgenden jeweils als "Schichtspeicher 23", "erster Zwischenschichtspeicher 25" und "zweiter Zwischenschichtspeicher 26" abgekürzt.
Man nehme nun an, daß eine Stückzahl "i" von jeweils die nötigen Bildeinheiten enthaltenden Schichten überlagert werden, um ein gewünschtes, synthetisiertes Muster zu bilden. Hinsichtlich der Muster beginnend mit der ersten bis hin zur (i-1)-ten Schicht sei angenommen, daß die zugehörigen, zwischen den Schichten ablaufenden logischen Operationen vollendet sind, und daß das Ergebnis dieser Operationen bereits in dem ersten Zwischenschichtspeicher 25 (oder in dem zweiten Zwischenschichtspeicher 26) abgespeichert ist. Andererseits wird auch angenommen, daß für die letzte, i-te Schicht bereits eine schichtinterne logische Operation abgelaufen ist, und daß das Ergebnis in dem Schichtspeicher 23 abgespeichert ist.
Die Y-Koordinatenwerte "y&sub1;, y&sub2;, y&sub3;, . . ., y _n" sind dabei in der richtigen Reihenfolge im ersten Zwischenschichtspeicher 25 und dem Schichtspeicher 23 gespeicheert. Die Y-Koordinatenwerte sind so angeordnet, daß "unten weiß" und "unten schwarz" abwechselnd auftritt.
Die in den beiden Speichern 23, 25 gespeicherten Y- Koordinatenwerte werden unter Berücksichtigung des der i-ten Schicht zugeordneten Attributs "I", "II" oder "III" einem Verschmelzungsprozeß (merge) unterworfen. Die Ergebnisse dieses Verschelzungsprozesses werden in dem zweiten Zwischenschichtspeicher 26 abgespeichert (oder in dem ersten Zwischenschichtspeicher 25, wenn sich die Resultate der an der ersten bis (i-1)-ten Schicht durchgeführten logischen Operationen in dem zweiten Zwischenschichtspeicher 26 befinden). Dieser Verschmelzungsprozeß wird in Abhängigkeit von dem jeweiligen Attribut und der Art und Weise der Überlagerung von Mustern wie folgt durchgeführt.

(1) Wenn der i-ten Schicht das Attribut "I" ("mache die darunterliegende Schicht schwarz") gegeben wurde, und
- (1-1) wenn der schwarze Abschnitt (y ⁱ _k, y ⁱ _k+1) in den weißen Abschnitt (y ^Σ _l, y ^Σ _l+1) des Arbeitsergebnisses ausgehend von der ersten Schicht bis zur (i-1)-ten Schicht (im folgenden abgekürzt als "Σ ⁱ") fällt, so werden die Werte wie folgt verschmolzen:
  . . ., y ^Σ _l, y ⁱ _k, y ⁱ _k+1, y ^Σ _l+1, . . . ;
- (1-2) wenn sich der schwarze Abschnitt (y ⁱ _k, y ⁱ _k+1) in der i-ten Schicht über den weißen Abschnitt (y ^Σ _l, y ^Σ _l+1) von Σ ⁱ und seinen anschließenden schwarzen Abschnitt y ^Σ _l+1, y ^Σ _l+2) erstreckt, werden die Werte wie folgt verschmolzen:
  . . ., y ^Σ _l, y ⁱ _k, y ^Σ _l+2, . . . ;
- (1-3) wenn sich der schwarze Abschnitt (y ⁱ _k, y ⁱ _k+1) in der i-ten Schicht über den schwarzen Abschnitt (y ^Σ _l, y ^Σ _l+1) von Σ ⁱ und seinen anschließenden weißen Abschnitt (y ^Σ _l+1, y ^Σ _l+2) erstreckt, werden die Werte wie folgt verschmolzen:
  . . ., y ^Σ _l, y ⁱ _k+1, y ^Σ _l+2, . . . ; und
- (1-4) wenn eine der schwarzen Abschnitte den anderen schwarzen Abschnitt in seiner Gesamtheit enthält, wird der so enthaltene schwarze Abschnitt ignoriert.
(2) Wenn der i-ten Schicht das Attribut "II" ("mache die darunterliegende Schicht weiß") zugeordnet ist, und
- (2-1) wenn der schwarze Abschnitt y ⁱ _k, y ⁱ _k+1) in der i-ten Schicht in den weißen Abschnitt (y ^Σ _l, y ^Σ _l+1) von Σ ⁱ fällt, so wird der schwarze Abschnitt ignoriert;
- (2-2) wenn sich der schwarze Abschnitt (y ⁱ _k, y ⁱ _k+1) in der i-ten Schicht über den weißen Abschnitt (y ^Σ _l, y ^Σ _l+1) und den sich daran anschließenden schwarzen Abschnitt (y ^Σ _l+1, y ^Σ _l+2) erstreckt, werden die Werte wie folgt verschmolzen:
  . . ., y ^Σ _l, y ⁱ _k+1, y ^Σ _l+2, . . . ;
- (2-3) wenn sich der schwarze Abschnitt y ⁱ _k, y ⁱ _k+1) in der i-ten Schicht über den schwarzen Abschnitt (y ^Σ _l, y ^Σ _l+1) und den sich daran anschließenden weißen Abschnitt (y ^Σ _l+1, y ^Σ _l+2) von Σ ⁱ erstreckt, werden die Werte wie folgt verschmolzen:
  . . ., y ^Σ _l, y ⁱ _k, y ⁱ _k+1, y ^Σ _l+1, . . . ; und
- (2-4) wenn der schwarze Abschnitt (y ⁱ _k, y ⁱ _k+1) in der i-ten Schicht innerhalb des schwarzen Abschnitts (y ^Σ _l, y ^Σ _l+1) von Σ ⁱ enthalten ist, werden die Werte wie folgt verschmolzen:
  . . ., y ^Σ _l, y ⁱ _k, y ⁱ _k+1, y ^Σ _l+1, . . .
(3) wenn der i-ten Schicht das Attribut "III" (Umkehr der Farben Schwarz und Weiß in der unteren Schicht) gegeben wurde, werden die "y" von Σ ⁱ in der ansteigenden (oder abfallenden) Reihenfolge verschmolzen.

Die logische Operation zwischen Daten in verschiedenen Schichten kann auf die oben beschriebene Art und Weise ausgeführt werden, nämlich indem man ihre Verschmelzung in geeigneter Weise in Übereinstimmung mit dem der i-ten Schicht gegebenen Attribut und der Art und Weise der Überlappung der Muster durchführt.
Wenn die mit den Musterdaten durchgeführten logischen Operationen innerhalb der Schichten und zwischen den Schichten abgeschlossen sind, erhält man die Y-Koordinatenwerte der Anfangs- und Endpunkte der Belichtung für das komplette Muster, wie es schließlich belichtet und aufgezeichnet werden soll, und zwar in Form der verschmolzenen y-Werte. Auf der Grundlage dieser so verschmolzenen y-Werte werden dann Lauflängendaten erstellt, die geeignet sind, die Linienraster-Ausgabeeinheit zu steuern.
Die erwähnten Lauflängendaten werden als Differenz zwischen den y-Werten und ihren benachbarten y-Werten angegeben, und dann in die Lauflängendaten für eine einzelne Scan- Linie umgewandelt, indem man den Maximalwert "y _max" der y-Werte in dem belichteten Bildbereich zu dem Anfang der Differenzen hinzuaddiert.
Für ein übliches Muster nehmen die Lauflängendaten ihren Ausgang von weißen Daten, deren Scan-Startbit auf "ON" gedreht wurde. Im Fall des in Fig. 7 dargestellten Musters, das mit dem in Fig. 5 gezeigten Muster identisch ist, werden die Lauflängendaten beispielsweise wie folgt angegeben: °=c:170&udf54;&udf53;vu10&udf54;&udf53;vz16&udf54; &udf53;vu10&udf54;
In der obigen Tabelle zeigt der Kontrollwert (1R) die Farbe Weiß (unbelichtet) an, die bei dem Scan-Startpunkt beginnt. Andererseits zeigen (R 1) und (RR) jeweils die Farben Schwarz (belichtet) und Weiß (unbelichtet) an.
Fig. 8 ist ein Blockdiagramm, das den Aufbau eines Systems zeigt, wie es nützlicherweise bei der Durchführung des oben beschriebenen Datenverarbeitungsverfahrens verwendet werden kann.
Ein Original-Satztypenspeicher 10 ist ein Speicher, in dem Daten einzelner Muster, wie z. B. Lettern, Zeichen u. ä. gespeichert sind. Wie mit Bezug auf Fig. 1 beschrieben, enthält der Original-Satztypenspeicher 10 die Koordinatenwerte von charakteristischen Punkten solcher Satztypen, wobei die Koordinatenwerte mit Bezug auf ein internes, jeweils den Satztypen eigenes Koordinatensystem bestimmt sind, die Anzahl geschlossener Schleifen und die Zahl von charakteristischen Punkten auf jeder geschlossenen Schleife. Durch den Eingriff einer Bedienungsperson werden die Daten einer ausgewählten Satztype ausgegeben und einer Original- Satztypen-Umwandlungseinheit 13 zugeführt. Wenn eine Verschmelzungsoperation zwischen verschiedenen Schichten durchgeführt werden soll, stellen die vorerwähnten drei Typen von Attributen ebenfalls Eingabedaten dar.
Eine Einheit 11 zur Erzeugung grafischer Satztypen dient dazu, Daten bezüglich geometrischer Muster zu liefern, die durch Kurvengleichungen dargestellt werden können. Diese Daten werden, wie oben beschrieben, in Übereinstimmung mit einem vorgegebenen Layout in einen Belichtungs-Ausgabebild- Setzdatenspeicher 14 eingespeist.
Bei dieser Datengewinnung ist es aber von Vorteil, die erforderlichen Kurven mit entsprechenden Polygonen zu approximieren und das Verfahren genauso durchzuführen, wie bei Schriftsatztypen, wobei man die Scheitelpunkte der Polygone als ihre charakteristischen Punkte verwendet, so daß sie auf dieselbe Art und Weise wie Schriftsatztypen o. ä. verarbeitet werden können.
Gelegentlich werden in der Einheit 11 zur Erzeugung grafischer Satztypen auch Daten bezüglich gerader Linien, Striche, Balken o. ä. erzeugt.
Ein Steuerdatenspeicher 12 für Lettern/Zeichen/Muster erstellt gemäß den Anweisungen der Bedienungsperson Datenproduktions- Steuersignale für die Einheit 11 zur Erzeugung grafischer Satztypen und Datenumwandlungs-Steuersignale für die Original-Satztypen-Umwandlungseinheit 13.
Die Original-Satztypen-Umwandlungseinheit 13 unterwirft alle von dem Original-Satztypenspeicher 10 eingegebenen Satztypendaten in Übereinstimmung mit einem vorgegebenen Layout bestimmten grafischen Transformationen, z. B. Verfahrensschritten zur Änderung des Abbildungsmaßstabs, Winkeltransformationen, Drehungen u. ä. Überdies bestimmt die Original-Satztypen-Umwandlungseinheit 13 im Betrieb die Koordinatenwerte aller charakteristischen Punkte gemäß der Anordnung jeder Satztype auf der Fläche des vorgegebenen Layouts, und sie führt die Ergebnisse der Operation der nächsten Stufe zu, nämlich dem Belichtungs-Ausgabebild- Setzdatenspeicher 14. Die Satztypen, z. B. Lettern, Zeichen, Muster u. ä. werden also gemäß einem vorgegebenen Layout angeordnet, so daß sie einen vollen Bildrahmen komplettieren. Die entsprechenden Daten sind in Form von Koordinatenwerten der jeweils zugehörigen charakteristischen Punkte in dem Belichtungs-Ausgabebild-Setzdatenspeicher 14 gespeichert.
Diese charakteristischen Punkte sind bereits in jeder Satztype numeriert. Eine Erzeugungseinheit 15 für Liniensegmentdaten erzeugt im Betrieb Daten von Liniensegmenten, die sukzessive benachbarte charakteristische Punkte verbinden, und die Operationsergebnisse werden dann in die nachfolgende Einheit, einen Liniensegment-Datenspeicher 16, eingespeist und dort gespeichert. Die Daten aller Liniensegmente sind als Gleichung einer Liniensegment-Geraden angegeben, die die jeweiligen beiden Punkte verbindet, und sie enthalten überdies, wie oben erwähnt, je eines der drei Attribute für eine schichtenverknüpfende logische Additionsoperation sowie die Information für das Liniensegment, ob es "unten schwarz" oder "unten weiß" ist.
Eine Scanlinien-Kontrolleinheit 17 gibt Daten bezüglich der X-Koordinatenwerte von Scan-Linien aus, die sukzessive die Fläche des obenerwähnten Layouts in der Richtung der Y-Achse abtasten. Eine Berechnungseinheit 18 für Liniensegment- Y-Koordinatenwerte berechnet gestützt auf die in dem Speicher 16 gespeicherten Liniensegmentdaten und die X-Koordinatenwertdaten der Scan-Linien die Y-Koordinatenwerte der Schnittpunkte (im folgenden kurz "Y-Werte") zwischen den Scan-Linien und den Umrißlinien der Satztypen. Die Y-Werte werden in einen Y-Wert-Speicher 19 eingegeben und dort gespeichert.
Eine Y-Wert-Sortiereinheit 20 sortiert die in dem Y-Wert- Speicher 19 abgespeicherten Y-Koordinatenwerte der Schnittpunkte in Abhängigkeit davon, ob die Schnittpunkte Anfangspunkte (unten schwarz) oder Endpunkte (unten weiß) der Belichtung sind. Das Ergebnis des Sortiervorgangs wird in einem Speicher 21 für sortierte Y-Werte gespeichert. Diese Daten werden dann in einer schichtinternverknüpfenden logischen Additionseinheit 22 einem Verschmelzungsprozeß unterworfen, der bereits mit Bezug auf Fig. 4 beschrieben wurde. Die resultierenden Daten werden dann in einem Speicher 23 für schichtintern verschmolzene Y-Werte gespeichert.
Die schichtenverknüpfende logische Additionseinheit 24 und der erste und zweite Speicher 25, 26 für zwischen Schichten verschmolzene Y-Werte wurden schon oben beschrieben.
Eine Lauflängendaten-Erzeugungseinheit 27 erstellt auf der Grundlage der in diesen Speichern 25, 26 gespeicherten Y-Koordinatenwerte Daten betreffend die Y-Koordinatenwerte von Anfangspunkten der Belichtung und der zu belichtenden Längen (der Anzahl von Bildelementen). Die so erzeugten Daten werden anschließend in dem nachfolgenden Lauflängendaten- Speicher 28 gespeichert. Diese Lauflängendaten werden dann in Synchronisation mit der Scanbewegung der Linienraster- Ausgabeeinheit ausgelesen, die zur Bildwiedergabe dient, wobei die Belichtung dieser Einheit gesteuert und ein binäres (zweiwertiges) Bildmuster aufgezeichnet wird, das in seiner Anordnung einem vorgegebenen Layout entspricht.

Claims

1. System zur Verarbeitung eines durch binäre Umrißkoordinaten definierten grafischen Musters in Lauflängendaten zur flächenhaften Darstellung, gekennzeichnet durch
einen ersten Speicher (10) zur Speicherung der X-Y-Koordinaten aller charakteristischen Punkte auf allen Umrißlinien des grafischen Musters,
eine damit verbundene Datenumwandlungseinheit (13) zum Auslesen der in dem ersten Speicher (10) gespeicherten Daten und zur Umwandlung derselben in Übereinstimmung mit einem gewünschten Layout,
einen zweiten Speicher (14) zur Speicherung der so umgewandelten Daten,
eine erste Einheit (15) zur Erstellung von Daten auf der Grundlage der Daten aus dem zweiten Speicher (14) zur Festlegung von Liniensegmenten, die die Punkte verbinden, und zur Erzeugung von Information darüber, ob sich die Liniensegmente im einzelnen auf der Anfangs- oder Endseite der Aufzeichnung bezüglich der Abtastrichtung einer Abtast- Linie befinden,
einen dritten Speicher (16) zur Speicherung der durch die erste Einheit (15) erstellten Daten,
eine Abtastlinien-Kontrolleinheit (17) zur Steuerung der Abtastung der Fläche des Layouts,
eine zweite Einheit (18) zur Berechnung der Koordinatenwerte aller Schnittpunkte auf der Grundlage der in dem dritten Speicher gespeicherten Liniensegmentdaten und der Abtastlinien-Steuerdaten,
einen vierten Speicher (19) zur Speicherung dieser Koordinatenwerte der Schnittpunkte und
eine Sortiereinheit (20) zur Sortierung der aus dem vierten Speicher (19) ausgelesenen Daten nach Anfangs- und Endpunkten in der Folge der Abtastrichtung,
einen fünften Speicher (21) zur Speicherung der sortierten Daten,
eine logische Verknüpfungseinheit (22), die bei gegebener Überlappung mehrerer Muster die Schnittpunktkoordinaten auf die resultierenden Anfangs- und Endpunkte einer Abtastlinie reduziert, die einer dritten Einheit (27) zur Erzeugung von Lauflängendaten zur Steuerung einer Aufzeichnungs- Ausgabeeinheit zugeführt werden.

2. System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine Vielzahl von Typen grafischer Muster einzeln unter Verwendung je eines spezifischen X-Y-Koordinatensystems im ersten Speicher (10) gespeichert sind und daß durch die Datenumwandlungseinheit (13) nach Bedarf aus dieser Vielzahl eines oder mehrere dieser grafischen Muster herausgreifbar sind, wobei die X-Y-Koordinatenwerte aller im gewünschten Lauyout angeordneter grafischer Muster gemäß deren Position in zu einem Koordinatensystem auf dem Layout gehörige Koordinatenwerte umgewandelt werden.

3. System nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Anordnung jedes grafischen Musters auf dem Layout die Bestimmung seines Orts sowie eine Vielfalt von Modifikationen beinhaltet.

4. System nach Anspruch 3, gekennzeichnet durch aus folgender Gruppe ausgewählte Modifikation: Modifikation in der Vergrößerung, Strecken in der Vertikalrichtung, Abflachen bzw. Abplatten, Neigen, Drehen.

5. System nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß bei einer Mehrzahl übereinander in demselben Bereich auf einem Layout angeordneter grafischer Muster die Positionsreihenfolge der grafischen Muster bestimmt wird, indem jedem grafischen Muster über einen Steuerdatenspeicher (12) ein Attribut hinzugefügt wird, das geeignet ist, die Aufzeichnung des jeweils darunterliegenden grafischen Musters zu steuern, um dadurch die Wiedergabe oder Nicht- Wiedergabe eines Bereichs des reproduzierten Musters zu kontrollieren, der dem schwarzen Bereich des oberen Musters entspricht.

6. System nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß man für das Attribut eine Wahl aus drei Typen von Attributen trifft, die aus "unten schwarz", "unten weiß" und "unten schwarz/weiß vertauscht" bestehen.

7. System nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß eine Einheit (11) zur Erzeugung von Daten geometrischer Muster mit dem zweiten Speicher (14) verbunden ist.

8. System nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Steuerdatenspeicher (12) Datenproduktions-Steuersignale für die Einheit (11) erzeugt.