DE3340243C2 - - Google Patents
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- DE3340243C2 DE3340243C2 DE19833340243 DE3340243A DE3340243C2 DE 3340243 C2 DE3340243 C2 DE 3340243C2 DE 19833340243 DE19833340243 DE 19833340243 DE 3340243 A DE3340243 A DE 3340243A DE 3340243 C2 DE3340243 C2 DE 3340243C2
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zum Prüfen der
Leiterbahnen von in gedruckter Schaltungstechnik hergestellten
Leiterplatten auf Leitungsschluß, Belastbarkeit und/oder Strom
durchgang, mit einer Grundplatte mit einer Vielzahl von federn
den Kontakten, die in einem vorgegebenen, leiterplattenüblichen
Rastermaß angeordnet und über Leitungen mit dem elektrischen
Prüf- und Steuergerät verbunden sind, einer ersten Führungsplat
te, die in unmittelbarer Nähe der Grundplatte angeordnet und mit
einer Vielzahl von im Rastermaß angeordneten Löchern versehen
ist, einer zweiten Führungsplatte mit einer der Zahl der durch
die Leiterbahnen gehenden Bohrungen entsprechenden Zahl von
Löchern, die rastermaßunabhängig in der zweiten Führungsplatte
dem Leiterplattenbohrungsmuster entsprechend angeordnet sind,
und mit die Löcher der beiden Führungsplatten durchsetzenden Kon
taktelementen, die mit ihrem einen Ende mit den federnden Kon
takten in Wirkverbindung stehen und mit ihrem anderen Ende mit
den Bohrungen in den Leiterbahnen kontaktierbar sind.
Zum Prüfen der Leiterbahnen von in gedruckter Schaltungstechnik
hergestellten Leiterplatten ist eine Vorrichtung bekannt, bei
der in einer Grundplatte eine Vielzahl von federnden Kontakten im
Rastermaß von 2,54 mm angeordnet sind. Jeder der federnden Kontakte
geht an seinem leiterplattenfernen Ende in einen Wrap-Stift über,
mit dem er über eine elektrische Leitung mit dem Prüf- und Steuer
gerät verbunden ist. Zur Prüfung der Leiterplatten wird diese auf
die federnden Kontakte der Kontaktstifte aufgelegt und durch An
drücken in gut leitende Verbindung mit diesen gebracht. Danach be
ginnt das Prüf- und Steuergerät die einzelnen Leiterbahnen auf Kurz
schluß, Belastbarkeit und/oder Stromdurchgang abzufragen. Zur Prü
fung kann hierbei in dem Prüf- und Steuergerät ein dem Muster der
Leiterbahnen auf der zu prüfenden Leiterplatte komplementäres Lei
terbahnmuster vorhanden sein, das in seiner Gesamtheit mit dem
Leiterbahnmuster der zu prüfenden Leiterplatte verglichen wird,
oder ein Prüfprogramm, das einzelne Leiterbahnen zu einem Leiter
bahnenzug zusammenschaltet und diesen Leitungszug auf seine Ord
nungsgemäßheit überprüft.
Die Handhabung dieser Prüfeinrichtung ist dann verhältnismäßig
problemlos, wenn sie zur Prüfung von Leiterplatten herangezogen
wird, bei denen ausschließlich die durch die Leiterbahnen gehenden
Bohrungen im selben Rastermaß von 2,54 mm angeordnet sind, wie die
in der Grundplatte befindlichen federnden Kontakte. Umständlich
und problematisch wird die Handhabung einer solchen Prüfvorrich
tung jedoch dann, wenn auch Leiterplatten geprüft werden sollen,
bei denen sowohl durch die Leiterbahnen gehende Bohrungen im Ra
stermaß von 2,54 mm als auch Bohrungen außerhalb dieses Raster
maßes vorkommen, Leiterplatten also, wie sie heutzutage nahezu
ausschließlich verwendet werden. In einem solchen Fall müssen in
der Grundplatte zusätzliche Bohrungen für die federnden Kontakte
vorgesehen werden, was wegen des geringen Abstandes der Rastermaß
bohrungen äußerst schwierig und zeitraubend ist. Ist der Versatz
zwischen einer Rastermaßbohrung und einer zusätzlich außerhalb des
Rastermaßes anzubringenden Bohrung zu gering, so muß auf das
Einsetzen eines zusätzlichen federnden Kontaktes gänzlich ver
zichtet werden und der Rastermaßfederkontakt etwas beigebogen
werden, damit der federnde Kontaktteil die Leiterplattenbohrung
kontaktieren kann.
Diese Nachteile und Schwierigkeiten werden bei einer anderen
bekannten Prüfvorrichtung der eingangs beschriebenen Gattung
(DE-OS 31 42 817) dadurch umgangen, daß in unmittelbarer Nähe
der Grundplatte mit den im Rastermaß angeordneten federnden Kon
takten eine erste Führungsplatte angeordnet ist, die mit im Ra
stermaß angeordneten Löchern versehen ist, und entfernt von die
ser eine zweite Führungsplatte, in der sich Bohrungen nach Zahl
und Konfiguration entsprechend dem Leiterplattenbohrungsmuster
befinden. Die Löcher und Bohrungen werden von Kontaktelemen
ten durchsetzt, die einerseits mit den federnden Kontakten der
Grundplatte und andererseits mit den durch die Leiterbahnen ge
henden Bohrungen der Leiterplatte kontaktierbar sind. Die Kon
taktelemente bestehen aus einem Federdraht und sind an ihrem
leiterplattenseitigen Ende jeweils mit einem Kontaktkopf verse
hen, dessen Durchmesser größer als derjenige der das Kontakt
element aufnehmenden Bohrung in der zweiten Führungsplatte ist.
Bei dieser Prüfvorrichtung bilden die Kontaktelemente eine elek
trische Verbindung zwischen den beweglichen Teilen der federn
den Kontakte und den außerhalb des Rastermaßes liegenden Boh
rungen in der Leiterplatte, indem sie den Versatz von federn
dem Kontakt in der Grundplatte und Bohrung in der Leiterplatte
durch eine elastische Verformung des Federdrahtes ausgleichen.
Mit einer solchen Vorrichtung lassen sich zufriedenstellende Er
gebnisse in der Kontaktierung der Leiterplattenbohrungen mit den
Kontaktelementen erzielen. Von Nachteil ist, daß derartige, aus
einem Kontaktkopf und einem darin befestigten Federdraht bestehen
de Kontaktelemente verhältnismäßig teuer sind und ihre Montage
in den Führungsplatten zeitaufwendig ist. Zudem hat eine solche
Vorrichtung ein relativ großes Bauvolumen, was im wesentli
chen auf den verhältnismäßig großen Abstand der beiden pa
rallelen Führungsplatten zurückzuführen ist.
Beiden bekannten Prüfeinrichtungen ist zudem der Nachteil gemein
sam, daß sie verhältnismäßig teuer sind, was darauf zurückzuführen
ist, daß sie ohne die teuren federnden Kontaktstifte der Grundplat
te nicht auskommen. Da jeder dieser federnden Kontaktstifte in der
Größenordnung von DM 3,-- kostet, für eine Prüfvorrichtung zur Prü
fung von Leiterplatten üblicher Größe jedoch 10 000 solcher federn
den Kontaktstifte benötigt werden, stellt die Grundplatte mit den
Kontaktstiften ein wesentliches Kostenelement einer solchen Prüf
vorrichtung dar.
Bei einer weiteren bekannten Prüfvorrichtung (DE-GM 80 23 908)
befinden sich über der mit federnden Kontakten im Rastermaß ver
sehenen Grundplatte zwei zueinander parallele und einander be
nachbarte Führungsplatten, in der starre Kontaktstifte angeord
net sind, deren Axialbewegung begrenzt ist. Die der Grundplatte
abgewandten Enden der Kontaktstifte ragen weit aus einer der
Führungsplatten zur Kontaktierung mit der Leiterplatte heraus.
Mit dieser Vorrichtung lassen sich jedoch nur Leiterplatten mit
im Rastermaß angeordneten Bohrungen prüfen.
Diese Schwierigkeiten und Nachteile der bekannten Prüfeinrich
tungen sollen durch die Erfindung überwunden werden. Es ist da
her Aufgabe der Erfindung, eine Prüfvorrichtung für die Prüfung
von Leiterplatten mit beliebigen Bohrungsmustern zu konzipieren,
die mit möglichst wenig Aufwand herstellbar ist.
Diese Aufgabe wird, ausgehend von einer Vorrichtung der eingangs
beschriebenen Gattung erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die
zweite Führungsplatte als Prüftischplatte zur Auflage der die
zu prüfenden Leiterbahnen tragenden Leiterplatte ausgebildet ist,
daß die Kontaktelemente als starre Kontaktstifte ausgebildet
sind, daß jeder Kontaktstift im Bereich der ersten Führungs
platte mit Mitteln
zum Begrenzen seiner Axialbewegung in Richtung auf die Grund
platte versehen ist, und daß der Abstand zwischen der Prüftisch
platte und der Grundplatte und die wirksame Länge der starren
Kontaktstifte dergestalt gewählt sind, daß bei auf der Prüf
tischplatte liegender Leiterplatte die Kontaktstifte mit ihren
leiterplattenseitigen Enden bis in die Oberflächenebene der
Prüftischplatte zurückgedrückt sind.
Bei der erfindungsgemäßen Prüfvorrichtung gleichen die starren
Kontaktstifte einen Versatz von federndem Kontakt in der Grund
platte und einer außerhalb des Rastermaßes liegenden Bohrung
in der Leiterplatte durch eine leichte Schrägstellung zwischen
den beiden Führungsplatten aus. Durch die kontaktkopflose Aus
bildung der starren Kontaktstifte und deren Führung und Beweg
barkeit in axialer Richtung wird erreicht, daß jeder Kontakt
stift während des Prüfvorganges die ihm zugeordnete Leiterplat
tenbohrung zentrisch berührt, Fehlkontaktierungen also nicht
auftreten können, wenn das Bohrungsmuster in der Prüftischplat
te und dasjenige der Leiterplatte übereinstimmen. Dies ist darauf
zurückzuführen, daß der der Leiterplatte zugewandte Kopf jedes
Kontaktstiftes bei auf die Prüftischplatte aufgelegter Leiter
platte in Längsrichtung des Stiftes bis in die Oberflächenebene
der Prüftischplatte gegen die Kraft der Federelemente zurückge
drückt wird, wodurch sich eine Schrägstellung des Kontaktstiftes
im Kontaktierungsbereich der Leiterplatte nicht auswirken kann.
Die zwischen der Prüftischplatte und der Grundplatte angeordne
te erste Führungsplatte mit den im selben Rastermaß wie die fe
dernden Kontakte angeordneten Löcher dient ebenfalls zur Führung
und zur Begrenzung der der Grundplatte zugewandten Enden der Kon
taktstifte. Um zu verhindern, daß die Kontaktstifte durch die in
der Prüftischplatte vorhandenen Bohrungen in den Zwischenraum
zwischen Prüftischplatte und erste Führungsplatte gedrückt werden,
sind Begrenzungsmittel vorgesehen.
Gemäß einer vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung wer
den diese Mittel dadurch realisiert, daß jeder Kontaktstift
an seinem grundplattenseitigen Ende mit einem durch die Lö
cher in der ersten Führungsplatte ragenden Zapfen versehen ist,
wobei der Durchmesser
jedes Lochs kleiner als der Kontaktstiftdurchmesser ist. Der Kon
taktstift kann sich bei einer solchen Ausführungsform also mit
seinem aus dem Zapfenquerschnitt vorspringenden Stiftquerschnitt
auf der ersten Führungsplatten abstützen, wenn er versehentlich durch ein
Werkzeug oder durch einen Vorsprung auf der Leiterplatte zu stark
in longitudinaler Richtung gegen die Grundplatte gedrückt wird.
Um sicherzustellen, daß auch bei einer extremen Schrägstellung
eines Kontaktstiftes zwischen der Leiterplatte und dem Kontakt
stift eine einwandfreie, zur Leiterplattenbohrung zentrische Kon
taktierung mit der Leiterplatte erfolgt, empfiehlt es sich, jeden
Kontaktstift an seinem leiterplattenseitigen Ende mit einer halb
kugelförmigen Kontaktkuppe zu versehen.
Um auch zwischen den einzelnen federnden Kontakten und den ihnen
zugeordneten Kontaktstiften in jeder Schräglage des Kontaktstiftes
eine einwandfreie Kontaktierung zu erhalten, ist gemäß einer be
sonders vorteilhaften Ausführungsform jeder federnde Kontakt aus
einem in der Grundplatte sitzenden Anschlußstift und einer dem
Kontaktstift zugewandten Kontakthaube aufgebaut, die beide über
eine Druckfeder elektrisch und mechanisch miteinander verbunden
sind. Die gegenüber einem handelsüblichen federnden Kontakt
durch die Haube vergrößerte Kontaktfläche gewährleistet in jeder
möglichen Winkellage des Kontaktstiftes eine einwandfreie Kontak
tierung zwischen Kontaktstift und Kontakthaube. Ein derartiger
Federkontakt hat darüber hinaus den Vorteil, daß er im Vergleich
zu den handelsüblichen Federkontakten äußerst einfach aufgebaut
ist und um mehr als zwei Drittel billiger ist als ein herkömm
licher Federkontakt. Dadurch lassen sich die Kosten für die erfin
dungsgemäße Prüfvorrichtung beträchtlich senken.
Als vorteilhaft hat es sich erwiesen, die Kontakthaube mit einer
zentrischen Vertiefung zur Führung des Kontaktstiftes zu versehen.
Gleichzeitig kann dadurch auch die Kontaktierung zwischen Kontakt
stift und Kontakthaube insofern weiter verbessert werden, als auch
bei extremen Schräglagen des Kontaktstiftes der an den Kontaktstift
angeformte Zapfen flächig und nicht punktförmig mit der Kontakt
haube in Verbindung steht.
Ferner hat es sich als zweckmäßig erwiesen, die Anschlußstifte der
Kontaktfedern als Wrap-Stifte auszubilden. Diese lassen sich schnel
ler mit den zur Prüf- und Steuereinrichtung führenden Leitungen
verbinden als dies bei Lötstiften der Fall wäre.
Nach einem weiteren Gedanken der Erfindung sind die Prüftischplat
te und die erste Führungsplatte mittels Schrauben und Distanzstücken
miteinander verbunden. Die Prüftischplatte und die erste Führungsplatte
sowie die zwischen den beiden Platten angeordneten Kontaktstifte
bilden hierbei eine kassettenartige Einheit, die auf die Grund
platte aufgesetzt und von dieser abgenommen werden kann. Jeder zu
prüfenden Leiterplatte ist eine derartige Kassetteneinheit zuge
ordnet, was den Vorteil mit sich bringt, daß die Prüfeinrichtung
mit wenigen Handgriffen auf die Prüfung unterschiedlichster Leiter
platten umgerüstet werden kann: es ist lediglich die Kassetten
einheit für die eine Leiterplatte abzunehmen und die Kassetten
einheit für eine andere zu prüfende Leiterplatte auf die Grund
platte aufzusetzen. Da die Kassetteneinheit lediglich aus zwei
Isolierstoffplatten, einer Vielzahl von Kontaktstiften, die in
großen Stückzahlen billigst herstellbar sind, einigen Schrauben
und Distanzstücken besteht, ist der Wert einer solchen Kassetten
einheit verhältnismäßig gering, so daß die Kosten für den Auf
bau und die Lagerung einer Anzahl von Kassetteneinheiten für ver
schiedene zu prüfende Leiterplatten gering sind und den Vorteil
einer solchen Kassetteneinheit nicht schmälern. Die sich durch
diese Kassetteneinheit ergebende Erleichterung in der Hand
habung der Prüfvorrichtung ist beträchtlich und stellt einen
besonderen Vorteil gegenüber den handelsüblichen Prüfvorrich
tungen dar, deren Umrüstung wesentlich umständlicher und zeit
raubender ist.
Eine weitere Vereinfachung in der Handhabung der erfindungs
gemäßen Kassetteneinheit kann dadurch erreicht werden, daß die
Schrauben, die die Prüftischplatte und die erste Führungsplatte zu
sammenhalten, gleichzeitig zur Befestigung der beiden Platten
an der Grundplatte benutzt werden. Um zu verhindern, daß beim
Lösen dieser mehrfach genutzten Schrauben die Prüftischplatte
und die erste Führungsplatte versehentlich auseinanderfallen, emp
fiehlt es sich, mindestens zwei zusätzliche Schraubverbindun
gen zum Verbinden der ersten Führungsplatte und der Prüftischplatte
bei von der Grundplatte gelösten Platten vorzusehen. Bei Ab
nahme der Kassetteneinheit werden also die beiden zusätzli
chen Schraubverbindungen zuerst im Sinne eines festen Ver
bindens der beiden Platten betätigt und danach werden die die
Kassetteneinheit an der Grundplatte haltenden Schrauben ge
löst, so daß danach die Kassetteneinheit mit fest zueinander
angeordneten Platten von der Grundplatte abgenommen und ins
Prüfwerkzeuglager gegeben werden kann.
Nach einem weiteren Gedanken der Erfindung ist die Prüftisch
platte gegen eine Federkraft höhenbeweglich an der ersten Führungs
platte befestigt. Die Ruhelage der Prüftischplatte ist hierbei
so gewählt, daß die leiterplattenseitigen Enden der Kontakt
stifte unterhalb der Oberfläche der Prüftischplatte enden, beim
Auflegen der Leiterplatte auf die Prüftischplatte also keine
Kontaktierung zwischen den Leiterbahnen und den Kontaktstiften
entsteht. Erst beim Niederdrücken der Prüftischplatte gelangen
die Kontaktstifte in Berührung mit den Leiterbahnen der Leiter
platte. Durch die Höhenbeweglichkeit der Prüftischplatte wird
somit erreicht, daß beim Auflegen und Zentrieren der Leiterplat
te auf der Prüftischplatte die Kontaktstifte die feinen Leiter
bahnen nicht zerkratzen oder beschädigen können. Darüber hinaus
ist dadurch sichergestellt, daß auch bei dicht aneinanderliegen
den Leiterplattenbohrungen und starker Schrägstellung einzelner
Kontaktstifte diese einwandfrei in die ihnen zugeordneten Leiter
plattenbohrungen gelangen können.
Als zweckmäßig hat es sich erwiesen, jeden Kontaktstift an sei
nem der Prüftischplatte zugeordneten Ende über eine der Höhenbe
wegung entsprechende Länge mit einem um bis zu drei Zehntel
millimeter verminderten Durchmesser zu versehen. Dadurch lassen
sich sicher Klemmungen zwischen Kontaktstift und Prüftisch
platte beim Niederdrücken derselben vermeiden. An und für sich
könnte jeder Kontaktstift über seine gesamte Länge mit dem ver
minderten Durchmesser versehen werden, jedoch ist dann wegen des
größeren Spiels des Kontaktstiftes in der Prüftischplatte nicht
mehr sichergestellt, daß beim Einführen des Kontaktstiftes durch
die Bohrung in der Prüftischplatte der Kontaktstift in die die
ser Bohrung in vertikaler Richtung am nächsten liegende Raster
maßbohrung gelangt.
Die Prüftischplatte ist auf ihrer der Leiterplatte zugewandten
Oberfläche am zweckmäßigsten mit Zentrierzapfen für die aufzu
legende Leiterplatte versehen. Neben der genauen Lagefixierung
der Leiterplatte durch die Zentrierzapfen können diese darüber
hinaus als Schlüssel für die Zuordnung einer bestimmten Leiter
platte zu einer bestimmten Kassetteneinheit benutzt werden. Dies
kann dadurch erreicht werden, daß jeder Kassetteneinheit eine
bestimmte Zentrierzapfenkonfiguration und jeder Leiterplatte eine
entsprechende Lochkonfiguration zugeordnet sind, wodurch gewähr
leistet ist, daß tatsächlich nur die dieser Kassetteneinheit
zugeordnete Leiterplatte geprüft werden kann, andere Leiter
platten jedoch nicht.
Die Erfindung sei anhand der Zeichnung, die in zum Teil sche
matischer Darstellung ein Ausführungsbeispiel enthält, näher
erläutert. Es zeigt
Fig. 1 eine teilgeschnittene Aufsicht auf eine Prüf
vorrichtung,
Fig. 2 einen Schnitt durch die Prüfeinrichtung gemäß
Fig. 1,
Fig. 3 einen Schnitt durch die Grundplatte der Prüf
einrichtung gemäß Fig. 1, in vergrößerter
Darstellung, und
Fig. 4 einen Schnitt durch die Prüfeinrichtung entlang
der Linie IV-IV in vergrößerter Darstellung.
Wie aus den Fig. 1 und 2 ersichtlich ist, besteht der me
chanische Teil der Prüfeinrichtung aus einer Grundplatte 1
mit einer Vielzahl von Federkontakten 2, die in einem leiter
plattenüblichen Rastermaß von 2,54 mm in der aus Kunststoff
bestehenden Grundplatte 1 angeordnet sind. Die von den Feder
kontakten 2 ausgefüllte Fläche entspricht in etwa der doppel
ten Fläche einer Leiterplatte in Europa-Format, so daß also
zwei solcher Normleiterplatten gleichzeitig geprüft werden
können. Die Kontaktfederfläche ist von einem Rand begrenzt,
der zur Aufnahme von Befestigungsmitteln vorgesehen ist.
Jeder Federkontakt 2 in der Grundplatte 1 besteht, wie aus
Fig. 3 ersichtlich ist, aus einem Wrap-Stift 3, dessen eines
Ende frei aus der Grundplatte 1 ragt und dessen anderes Ende
in eine Bohrung 4 in der Grundplatte 1 hineinragt. In der Boh
rung 4 befindet sich eine Druckfeder 5, die einerseits auf das
in die Bohrung 4 ragende Ende des Wrap-Stiftes aufgepreßt ist
und andererseits in einer Kontakthaube 6 endet, die in der Boh
rung 4 verschieblich geführt ist. An ihrem einem Kontaktstift 7
zugeordneten Ende ist die Kontakthaube 6 mit einer zentralen
Vertiefung 8 versehen, die unter anderem einer Zentrierung des
Kontaktstiftes 7 auf der Haube 6 dient. Es ist ohne weiteres
ersichtlich, daß ein solcher Federkontakt, der lediglich aus
drei einfachen Bauteilen besteht, wesentlich kostengünstiger
herstellbar ist als die bekannten Federkontakte, bei denen die
beiden relativ zueinander beweglichen Teile teleskopartig in
einandergreifen.
Über der Grundplatte 1 und auf dieser aufliegend befindet sich
eine erste Führungsplatte 9 mit einer Anzahl von Bohrungen 10, die
im selben Rastermaß wie die Federkontakte 2 in der ersten Führungs
platte 9 angeordnet sind. Das Muster der Löcher 10 in der ersten Füh
rungsplatte 9 entspricht also demjenigen der Federkontakte 2
in der Grundplatte 1. Die erste Führungsplatte 9 ist auf einen Me
tallrahmen 11 aufgenietet, der die Prüfeinrichtung nach außen
hin mechanisch abschirmt und zu einer Erhöhung der mechani
schen Stabilität der ersten Führungsplatte 9 beiträgt.
Über der ersten Führungsplatte 9 und in Abstand zu dieser befindet sich
die Prüftischplatte 12, die in ihrer wirksamen Fläche gleich
groß wie die Grundplatte 1 und die erste Führungsplatte 9 ist. Die
Prüftischplatte 12 enthält eine Vielzahl von Bohrungen 13, die
in ihrer Anordnung dem Bohrungsmuster der zu prüfenden Leiter
platte entspricht. Die Bohrungen 13 sind teilweise im gleichen
Rastermaß von 2,54 mm angeordnet, wie die Bohrungen 10 in der
ersten Führungsplatte 9 bzw. wie die Federkontakte 2 in der Grund
platte 1, teilweise jedoch auch außerhalb dieses Rastermaßes.
Für jede zu prüfende Leiterplatte ist also eine Prüftischplatte
herzustellen, die in Anzahl und Konfiguration der Bohrungen den
Bohrungen entspricht, die durch die Leiterbahnen der Leiter
platte gehen.
Die Prüftischplatte 12 ist mittels mehrerer Schraubverbindungen
14 höhenverstellbar an der ersten Führungsplatte 9 befestigt. Jede
dieser Schraubverbindungen 14 besteht aus zwei Teilen 15 und
16, von denen der Teil 15 in einer Ausnehmung in der ersten Führungs
platte 9 eingenietet ist und der andere Teil 16 teleskopartig
im Teil 15 verschieblich gelagert ist. Beide Teile 15 und 16
sind mit einer Druckfeder 17 beaufschlagt, gegen deren Kraft
der Teil 16 im Teil 15 nach unten drückbar ist. Zur unverlier
baren Festlegung des Teils 16 im Teil 15 ist letzteres an sei
nem freien Ende 18 eingerollt und das Teil 16 mit einer Schul
ter 19 versehen. Durch beide Teile 15 und 16 ragt eine Schraube
20, die eine Ausnehmung 21 in der Prüftischplatte 12 durchsetzt
und in eine Schraubhülse 22 eingeschraubt ist, die in der Grund
platte 1 sitzt. Um eine plane Auflage der ersten Führungsplatte 9 auf
der Grundplatte 1 sicherzustellen, befindet sich in der Grund
platte 1 eine die überstehenden Teile der Nietverbindung des
Teils 15 mit der ersten Führungsplatte 9 aufnehmende Vertiefung 23.
Wie ersichtlich, gestattet die Schraubverbindung 14, die an meh
reren Stellen des Randumfangs angeordnet ist, eine Bewegung der
Prüftischplatte in vertikaler Richtung entgegen der Kraft der
Feder 17. Gleichzeitig dient die Schraubverbindung 14 dazu, die
durch die erste Führungsplatte 9 und die Prüftischplatte 12 gebildete
Kassette 24 auf der Grundplatte 1 festzulegen.
Beim Entfernen der Kassette 24 wird die Schraube 20 aus der
Schraubhülse 22 gedreht und anschließend kann die Zwischen
platte 9 und die über die beiden Teile 15 und 16 auf dieser
Zwischenplatte ruhende Prüftischplatte von der Grundplatte 1
abgehoben werden. Da nach Lösen von Schraube 20 und Schraub
hülse 22 zwischen der Prüftischplatte 12 und der ersten Führungs
platte 9 keine feste Verbindung mehr besteht, kann es gesche
hen, daß durch unsachgemäßes Behandeln der Kassette 24 aus
Versehen die Prüftischplatte 12 angehoben wird und die zwischen
der Prüftischplatte 12 und der ersten Führungsplatte 9 angeordneten
Kontaktstifte 7 aus ihren Bohrungen herausfallen. Um dies zu
vermeiden, sind im Bereich der Schraubverbindung 14 zusätz
liche Maßnahmen vorgesehen, um nach Lösen der beiden Schrauben
20 und 21 eine feste Verbindung zwischen den beiden Platten 9
und 12 zu erhalten. Diese Maßnahmen bestehen darin, daß in der
Prüftischplatte 12 eine Bohrung 25 vorgesehen ist und in der
ersten Führungsplatte 9 eine Mutter 26 eingenietet ist, in die eine
nicht dargestellte Schraube, die durch die Bohrung 25 einge
führt ist, eingeschraubt werden kann. Die Mutter 26 ragt in
eine dafür vorgesehene Ausnehmung 27 in der Grundplatte 1. Vor
Lösen der beiden Schrauben 20 und 21 wird eine Schraube durch
die Bohrung 25 in der Prüftischplatte 12 eingeführt und in die
Mutter 26 eingeschraubt. Nach Festziehen dieser Schraube kann
dann die Schraubverbindung 22/20 gelöst werden und die Kasset
te 24 von der Grundplatte1 abgenommen werden. Die Gefahr, daß
die Kontaktstifte 7 aus ihren Bohrungen fallen, ist nicht län
ger akut.
Wie insbesondere Fig. 2 zu entnehmen ist, ist jeder Kontakt
stift 7 an seinem grundplattenseitigen Ende mit einem durch
die Löcher 10 in der ersten Führungsplatte 9 ragenden Zapfen 28 ver
sehen, dessen Durchmesser kleiner als der Kontaktstiftdurch
messer ist, so daß bei abgenommener Kassette 24 der Kontakt
stift 7 nicht nach unten herausfallen kann. Ferner ist jeder
Kontaktstift 7 an seinem der Prüftischplatte 12 zugeordneten
Ende mit vermindertem Durchmesser ausgebildet, und zwar über
eine Länge, die in etwa der Höhenbewegung der Prüftischplatte
12 entspricht. Hierdurch wird einmal ein Verklemmen des Kon
taktstiftes 7 bei seiner Schrägstellung, wie sie in Fig. 2
dargestellt ist, verhindert, und gleichzeitig wird durch die
in der Länge begrenzte Absetzung des Durchmessers erreicht,
daß der Stift beim Einführen durch die Prüftischplatte 12 so
lange geführt ist, bis er mit seinem Zapfen 28 in dasjenige
Loch 10 der ersten Führungsplatte 9 eintaucht, das in der Vertikalen
dem Loch 13 am nächsten ist, durch das der Kontaktstift 1
eingeführt ist.
Um zu verhindern, daß beim Abnehmen der Kassette 24 die in
dieser angeordneten Kontaktstifte 7 nach vorne, das heißt also
über die Bohrungen 13 in der Prüftischplatte 12 herausfallen,
empfiehlt es sich, nach Lösen der Schrauverbindung 20/22 eine
Haube auf die Prüftischplatte 12 aufzusetzen. Diese kann gleich
zeitig als Staubschutz dienen. Jeder Kontaktstift 7 kann zur
Kontaktierung der Löcher 30 in der Leiterplatte 29 mit einer
halbkugelförmigen Kontaktkuppe oder auch, wie in vorliegendem
Beispiel, mit einer Kanten aufweisenden Spitze 31 versehen sein.
Claims (12)
1. Vorrichtung zum Prüfen der Leiterbahnen von in gedruckter Schal
tungstechnik hergestellten Leiterplatten auf Leitungsschluß, Be
lastbarkeit und/oder Stromdurchgang, mit einer Grundplatte mit
einer Vielzahl von federnden Kontakten, die in einem vorgegebe
nen, leiterplattenüblichen Rastermaß angeordnet und über Leitun
gen mit dem elektrischen Prüf- und Steuergerät verbunden sind,
einer ersten Führungsplatte, die in unmittelbarer Nähe der Grund
platte angeordnet und mit einer Vielzahl von im Rastermaß ange
ordneten Löchern versehen ist, einer zweiten Führungsplatte mit
einer der Zahl der durch die Leiterbahnen gehenden Bohrungen
entsprechenden Zahl von Löchern, die rastermaßunabhängig in der
zweiten Führungsplatte dem Leiterplattenbohrungsmuster entspre
chend angeordnet sind, und mit die Löcher der beiden Führungs
platten durchsetzenden Kontaktelementen, die mit ihrem einen
Ende mit den federnden Kontakten in Wirkverbindung stehen und
mit ihrem anderen Ende mit den Bohrungen in den Leiterbahnen kon
taktierbar sind, dadurch gekennzeichnet, daß die zweite Füh
rungsplatte als Prüftischplatte (12) zur Auflage der die zu prü
fenden Leiterbahnen tragenden Leiterplatte (29) ausgebildet ist,
daß die Kontaktelemente als starre Kontaktstifte (7) ausgebil
det sind, daß jeder Kontaktstift (7) im Bereich der ersten
Führungsplatte (9) mit Mitteln zum Begrenzen seiner Axialbewe
gung in Richtung auf die Grundplatte (1) versehen ist, und daß
der Abstand zwischen der Prüftischplatte (12) und der Grund
platte (1) und die wirksame Länge der starren Kontaktstifte (7)
dergestalt gewählt sind, daß bei auf der Prüftischplatte (12) lie
gender Leiterplatte (29) die Kontaktstifte (7) mit ihren leiter
plattenseitigen Enden bis in die Oberflächenebene der Prüf
tischplatte zurückgedrückt sind.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß zur Begrenzung der Axialbewegung
jeder Kontaktstift (7) an seinem grundplattenseitigen Ende mit
einem durch die Löcher (10) in der ersten Führungsplatte (9) ragen
den Zapfen (28) versehen ist und der Durchmesser jedes Lochs (10)
kleiner als der Kontaktstiftdurchmesser ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, daß jeder Kontaktstift (7) an seinem
leiterplattenseitigen Ende mit einer halbkugelförmigen Kontakt
kuppe versehen ist.
4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß die Prüftischplatte (12) gegen
eine Federkraft (7) höhenbeweglich an der ersten Führungsplatte (9)
befestigt ist.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4,
dadurch gekennzeichnet, daß jeder Kontaktstift (7) an seinem
der Prüftischplatte (12) zugeordneten Ende über eine der Höhen
bewegung entsprechende Länge einen um bis zu drei Zehntel
millimeter verminderten Durchmesser aufweist.
6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5,
dadurch gekennzeichnet, daß die Prüftischplatte (12) und die erste
Führungsplatte (9) mittels Schrauben (20, 22) und Distanz
stücken (15, 16) miteinander verbunden sind.
7. Vorrichtung nach Anspruch 6,
dadurch gekennzeichnet, daß die Schrauben (20, 22) gleich
zeitig zur Befestigung der beiden Platten (12, 9) an der Grund
platte (1) vorgesehen sind.
8. Vorrichtung nach Anspruch 7,
dadurch gekennzeichnet, daß mindestens zwei zusätzliche Schraub
verbindungen (26) zum Verbinden der ersten Führungsplatte (9) und der
Prüftischplatte (12) bei von der Grundplatte (1) gelösten
Platten (9, 12) vorhanden sind.
9. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 8,
dadurch gekennzeichnet, daß jeder federnde Kontakt (2) aus einem
in der Grundplatte (1) sitzenden Anschlußstift (3) und einer Kon
takthaube (6) besteht, die beide über eine Druckfeder (5) elek
trisch und mechanisch miteinander verbunden sind.
10. Vorrichtung nach Anspruch 9,
dadurch gekennzeichnet, daß die Kontakthaube (6) mit einer zen
trischen Vertiefung (8) zur Führung des Kontaktstiftes (7) ver
sehen ist.
11. Vorrichtung nach Anspruch 9 oder 10,
dadurch gekennzeichnet, daß der Anschlußstift (3) als Wrapstift
ausgebildet ist.
12. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 11,
dadurch gekennzeichnet, daß die Prüftischplatte (12) mit
Zentrierzapfen für die aufzulegenden Leiterplatten (29) ver
sehen ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19833340243 DE3340243A1 (de) | 1983-11-08 | 1983-11-08 | Vorrichtung zum pruefen von leiterplatten |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19833340243 DE3340243A1 (de) | 1983-11-08 | 1983-11-08 | Vorrichtung zum pruefen von leiterplatten |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3340243A1 DE3340243A1 (de) | 1985-05-23 |
DE3340243C2 true DE3340243C2 (de) | 1987-11-19 |
Family
ID=6213666
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19833340243 Granted DE3340243A1 (de) | 1983-11-08 | 1983-11-08 | Vorrichtung zum pruefen von leiterplatten |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3340243A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4414770A1 (de) * | 1994-04-27 | 1995-11-02 | Hubert Driller | Testsystem für bestückte und unbestückte Leiterplatten |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3539931A1 (de) * | 1985-11-11 | 1987-05-14 | Wagner Hans Juergen | Einrichtung zum pruefen von leiterplatten |
DE3630548A1 (de) * | 1986-09-08 | 1988-03-10 | Mania Gmbh | Vorrichtung zum elektronischen pruefen von leiterplatten mit kontaktpunkten im 1/20 zoll-raster |
DE9206126U1 (de) * | 1992-05-07 | 1992-06-25 | Hewlett-Packard GmbH, 7030 Böblingen | Testvorrichtung für elektronische Leiterplatten |
Family Cites Families (4)
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---|---|---|---|---|
DE7031416U (de) * | 1970-08-21 | 1971-04-29 | Siemens Ag | Vorrichtung zur elektrischen pruefung von gedruckten schaltungsplatten. |
DE2933862A1 (de) * | 1979-08-21 | 1981-03-12 | Paul Mang | Vorrichtung zur elektronischen pruefung von leiterplatten. |
DE8023908U1 (de) * | 1980-09-08 | 1981-07-30 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Adapter für die Leiterplattenprüfung |
DE3142817A1 (de) * | 1980-10-30 | 1982-07-08 | Everett/Charles, Inc., 91730 Rancho Cucamonga, Calif. | Uebertragungseinrichtung, test-spannvorrichtung mit uebertragungseinrichtung und verfahren zur bildung einer uebertragungseinrichtung |
-
1983
- 1983-11-08 DE DE19833340243 patent/DE3340243A1/de active Granted
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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DE4414770A1 (de) * | 1994-04-27 | 1995-11-02 | Hubert Driller | Testsystem für bestückte und unbestückte Leiterplatten |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3340243A1 (de) | 1985-05-23 |
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