DE3340243C2 - - Google Patents

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DE3340243C2 DE19833340243 DE3340243A DE3340243C2 DE 3340243 C2 DE3340243 C2 DE 3340243C2 DE 19833340243 DE19833340243 DE 19833340243 DE 3340243 A DE3340243 A DE 3340243A DE 3340243 C2 DE3340243 C2 DE 3340243C2
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Description

Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zum Prüfen der Leiterbahnen von in gedruckter Schaltungstechnik hergestellten Leiterplatten auf Leitungsschluß, Belastbarkeit und/oder Strom­ durchgang, mit einer Grundplatte mit einer Vielzahl von federn­ den Kontakten, die in einem vorgegebenen, leiterplattenüblichen Rastermaß angeordnet und über Leitungen mit dem elektrischen Prüf- und Steuergerät verbunden sind, einer ersten Führungsplat­ te, die in unmittelbarer Nähe der Grundplatte angeordnet und mit einer Vielzahl von im Rastermaß angeordneten Löchern versehen ist, einer zweiten Führungsplatte mit einer der Zahl der durch die Leiterbahnen gehenden Bohrungen entsprechenden Zahl von Löchern, die rastermaßunabhängig in der zweiten Führungsplatte dem Leiterplattenbohrungsmuster entsprechend angeordnet sind, und mit die Löcher der beiden Führungsplatten durchsetzenden Kon­ taktelementen, die mit ihrem einen Ende mit den federnden Kon­ takten in Wirkverbindung stehen und mit ihrem anderen Ende mit den Bohrungen in den Leiterbahnen kontaktierbar sind.
Zum Prüfen der Leiterbahnen von in gedruckter Schaltungstechnik hergestellten Leiterplatten ist eine Vorrichtung bekannt, bei der in einer Grundplatte eine Vielzahl von federnden Kontakten im Rastermaß von 2,54 mm angeordnet sind. Jeder der federnden Kontakte geht an seinem leiterplattenfernen Ende in einen Wrap-Stift über, mit dem er über eine elektrische Leitung mit dem Prüf- und Steuer­ gerät verbunden ist. Zur Prüfung der Leiterplatten wird diese auf die federnden Kontakte der Kontaktstifte aufgelegt und durch An­ drücken in gut leitende Verbindung mit diesen gebracht. Danach be­ ginnt das Prüf- und Steuergerät die einzelnen Leiterbahnen auf Kurz­ schluß, Belastbarkeit und/oder Stromdurchgang abzufragen. Zur Prü­ fung kann hierbei in dem Prüf- und Steuergerät ein dem Muster der Leiterbahnen auf der zu prüfenden Leiterplatte komplementäres Lei­ terbahnmuster vorhanden sein, das in seiner Gesamtheit mit dem Leiterbahnmuster der zu prüfenden Leiterplatte verglichen wird, oder ein Prüfprogramm, das einzelne Leiterbahnen zu einem Leiter­ bahnenzug zusammenschaltet und diesen Leitungszug auf seine Ord­ nungsgemäßheit überprüft.
Die Handhabung dieser Prüfeinrichtung ist dann verhältnismäßig problemlos, wenn sie zur Prüfung von Leiterplatten herangezogen wird, bei denen ausschließlich die durch die Leiterbahnen gehenden Bohrungen im selben Rastermaß von 2,54 mm angeordnet sind, wie die in der Grundplatte befindlichen federnden Kontakte. Umständlich und problematisch wird die Handhabung einer solchen Prüfvorrich­ tung jedoch dann, wenn auch Leiterplatten geprüft werden sollen, bei denen sowohl durch die Leiterbahnen gehende Bohrungen im Ra­ stermaß von 2,54 mm als auch Bohrungen außerhalb dieses Raster­ maßes vorkommen, Leiterplatten also, wie sie heutzutage nahezu ausschließlich verwendet werden. In einem solchen Fall müssen in der Grundplatte zusätzliche Bohrungen für die federnden Kontakte vorgesehen werden, was wegen des geringen Abstandes der Rastermaß­ bohrungen äußerst schwierig und zeitraubend ist. Ist der Versatz zwischen einer Rastermaßbohrung und einer zusätzlich außerhalb des Rastermaßes anzubringenden Bohrung zu gering, so muß auf das Einsetzen eines zusätzlichen federnden Kontaktes gänzlich ver­ zichtet werden und der Rastermaßfederkontakt etwas beigebogen werden, damit der federnde Kontaktteil die Leiterplattenbohrung kontaktieren kann.
Diese Nachteile und Schwierigkeiten werden bei einer anderen bekannten Prüfvorrichtung der eingangs beschriebenen Gattung (DE-OS 31 42 817) dadurch umgangen, daß in unmittelbarer Nähe der Grundplatte mit den im Rastermaß angeordneten federnden Kon­ takten eine erste Führungsplatte angeordnet ist, die mit im Ra­ stermaß angeordneten Löchern versehen ist, und entfernt von die­ ser eine zweite Führungsplatte, in der sich Bohrungen nach Zahl und Konfiguration entsprechend dem Leiterplattenbohrungsmuster befinden. Die Löcher und Bohrungen werden von Kontaktelemen­ ten durchsetzt, die einerseits mit den federnden Kontakten der Grundplatte und andererseits mit den durch die Leiterbahnen ge­ henden Bohrungen der Leiterplatte kontaktierbar sind. Die Kon­ taktelemente bestehen aus einem Federdraht und sind an ihrem leiterplattenseitigen Ende jeweils mit einem Kontaktkopf verse­ hen, dessen Durchmesser größer als derjenige der das Kontakt­ element aufnehmenden Bohrung in der zweiten Führungsplatte ist. Bei dieser Prüfvorrichtung bilden die Kontaktelemente eine elek­ trische Verbindung zwischen den beweglichen Teilen der federn­ den Kontakte und den außerhalb des Rastermaßes liegenden Boh­ rungen in der Leiterplatte, indem sie den Versatz von federn­ dem Kontakt in der Grundplatte und Bohrung in der Leiterplatte durch eine elastische Verformung des Federdrahtes ausgleichen. Mit einer solchen Vorrichtung lassen sich zufriedenstellende Er­ gebnisse in der Kontaktierung der Leiterplattenbohrungen mit den Kontaktelementen erzielen. Von Nachteil ist, daß derartige, aus einem Kontaktkopf und einem darin befestigten Federdraht bestehen­ de Kontaktelemente verhältnismäßig teuer sind und ihre Montage in den Führungsplatten zeitaufwendig ist. Zudem hat eine solche Vorrichtung ein relativ großes Bauvolumen, was im wesentli­ chen auf den verhältnismäßig großen Abstand der beiden pa­ rallelen Führungsplatten zurückzuführen ist.
Beiden bekannten Prüfeinrichtungen ist zudem der Nachteil gemein­ sam, daß sie verhältnismäßig teuer sind, was darauf zurückzuführen ist, daß sie ohne die teuren federnden Kontaktstifte der Grundplat­ te nicht auskommen. Da jeder dieser federnden Kontaktstifte in der Größenordnung von DM 3,-- kostet, für eine Prüfvorrichtung zur Prü­ fung von Leiterplatten üblicher Größe jedoch 10 000 solcher federn­ den Kontaktstifte benötigt werden, stellt die Grundplatte mit den Kontaktstiften ein wesentliches Kostenelement einer solchen Prüf­ vorrichtung dar.
Bei einer weiteren bekannten Prüfvorrichtung (DE-GM 80 23 908) befinden sich über der mit federnden Kontakten im Rastermaß ver­ sehenen Grundplatte zwei zueinander parallele und einander be­ nachbarte Führungsplatten, in der starre Kontaktstifte angeord­ net sind, deren Axialbewegung begrenzt ist. Die der Grundplatte abgewandten Enden der Kontaktstifte ragen weit aus einer der Führungsplatten zur Kontaktierung mit der Leiterplatte heraus. Mit dieser Vorrichtung lassen sich jedoch nur Leiterplatten mit im Rastermaß angeordneten Bohrungen prüfen.
Diese Schwierigkeiten und Nachteile der bekannten Prüfeinrich­ tungen sollen durch die Erfindung überwunden werden. Es ist da­ her Aufgabe der Erfindung, eine Prüfvorrichtung für die Prüfung von Leiterplatten mit beliebigen Bohrungsmustern zu konzipieren, die mit möglichst wenig Aufwand herstellbar ist.
Diese Aufgabe wird, ausgehend von einer Vorrichtung der eingangs beschriebenen Gattung erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die zweite Führungsplatte als Prüftischplatte zur Auflage der die zu prüfenden Leiterbahnen tragenden Leiterplatte ausgebildet ist, daß die Kontaktelemente als starre Kontaktstifte ausgebildet sind, daß jeder Kontaktstift im Bereich der ersten Führungs­ platte mit Mitteln zum Begrenzen seiner Axialbewegung in Richtung auf die Grund­ platte versehen ist, und daß der Abstand zwischen der Prüftisch­ platte und der Grundplatte und die wirksame Länge der starren Kontaktstifte dergestalt gewählt sind, daß bei auf der Prüf­ tischplatte liegender Leiterplatte die Kontaktstifte mit ihren leiterplattenseitigen Enden bis in die Oberflächenebene der Prüftischplatte zurückgedrückt sind.
Bei der erfindungsgemäßen Prüfvorrichtung gleichen die starren Kontaktstifte einen Versatz von federndem Kontakt in der Grund­ platte und einer außerhalb des Rastermaßes liegenden Bohrung in der Leiterplatte durch eine leichte Schrägstellung zwischen den beiden Führungsplatten aus. Durch die kontaktkopflose Aus­ bildung der starren Kontaktstifte und deren Führung und Beweg­ barkeit in axialer Richtung wird erreicht, daß jeder Kontakt­ stift während des Prüfvorganges die ihm zugeordnete Leiterplat­ tenbohrung zentrisch berührt, Fehlkontaktierungen also nicht auftreten können, wenn das Bohrungsmuster in der Prüftischplat­ te und dasjenige der Leiterplatte übereinstimmen. Dies ist darauf zurückzuführen, daß der der Leiterplatte zugewandte Kopf jedes Kontaktstiftes bei auf die Prüftischplatte aufgelegter Leiter­ platte in Längsrichtung des Stiftes bis in die Oberflächenebene der Prüftischplatte gegen die Kraft der Federelemente zurückge­ drückt wird, wodurch sich eine Schrägstellung des Kontaktstiftes im Kontaktierungsbereich der Leiterplatte nicht auswirken kann. Die zwischen der Prüftischplatte und der Grundplatte angeordne­ te erste Führungsplatte mit den im selben Rastermaß wie die fe­ dernden Kontakte angeordneten Löcher dient ebenfalls zur Führung und zur Begrenzung der der Grundplatte zugewandten Enden der Kon­ taktstifte. Um zu verhindern, daß die Kontaktstifte durch die in der Prüftischplatte vorhandenen Bohrungen in den Zwischenraum zwischen Prüftischplatte und erste Führungsplatte gedrückt werden, sind Begrenzungsmittel vorgesehen.
Gemäß einer vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung wer­ den diese Mittel dadurch realisiert, daß jeder Kontaktstift an seinem grundplattenseitigen Ende mit einem durch die Lö­ cher in der ersten Führungsplatte ragenden Zapfen versehen ist, wobei der Durchmesser jedes Lochs kleiner als der Kontaktstiftdurchmesser ist. Der Kon­ taktstift kann sich bei einer solchen Ausführungsform also mit seinem aus dem Zapfenquerschnitt vorspringenden Stiftquerschnitt auf der ersten Führungsplatten abstützen, wenn er versehentlich durch ein Werkzeug oder durch einen Vorsprung auf der Leiterplatte zu stark in longitudinaler Richtung gegen die Grundplatte gedrückt wird.
Um sicherzustellen, daß auch bei einer extremen Schrägstellung eines Kontaktstiftes zwischen der Leiterplatte und dem Kontakt­ stift eine einwandfreie, zur Leiterplattenbohrung zentrische Kon­ taktierung mit der Leiterplatte erfolgt, empfiehlt es sich, jeden Kontaktstift an seinem leiterplattenseitigen Ende mit einer halb­ kugelförmigen Kontaktkuppe zu versehen.
Um auch zwischen den einzelnen federnden Kontakten und den ihnen zugeordneten Kontaktstiften in jeder Schräglage des Kontaktstiftes eine einwandfreie Kontaktierung zu erhalten, ist gemäß einer be­ sonders vorteilhaften Ausführungsform jeder federnde Kontakt aus einem in der Grundplatte sitzenden Anschlußstift und einer dem Kontaktstift zugewandten Kontakthaube aufgebaut, die beide über eine Druckfeder elektrisch und mechanisch miteinander verbunden sind. Die gegenüber einem handelsüblichen federnden Kontakt durch die Haube vergrößerte Kontaktfläche gewährleistet in jeder möglichen Winkellage des Kontaktstiftes eine einwandfreie Kontak­ tierung zwischen Kontaktstift und Kontakthaube. Ein derartiger Federkontakt hat darüber hinaus den Vorteil, daß er im Vergleich zu den handelsüblichen Federkontakten äußerst einfach aufgebaut ist und um mehr als zwei Drittel billiger ist als ein herkömm­ licher Federkontakt. Dadurch lassen sich die Kosten für die erfin­ dungsgemäße Prüfvorrichtung beträchtlich senken.
Als vorteilhaft hat es sich erwiesen, die Kontakthaube mit einer zentrischen Vertiefung zur Führung des Kontaktstiftes zu versehen.
Gleichzeitig kann dadurch auch die Kontaktierung zwischen Kontakt­ stift und Kontakthaube insofern weiter verbessert werden, als auch bei extremen Schräglagen des Kontaktstiftes der an den Kontaktstift angeformte Zapfen flächig und nicht punktförmig mit der Kontakt­ haube in Verbindung steht.
Ferner hat es sich als zweckmäßig erwiesen, die Anschlußstifte der Kontaktfedern als Wrap-Stifte auszubilden. Diese lassen sich schnel­ ler mit den zur Prüf- und Steuereinrichtung führenden Leitungen verbinden als dies bei Lötstiften der Fall wäre.
Nach einem weiteren Gedanken der Erfindung sind die Prüftischplat­ te und die erste Führungsplatte mittels Schrauben und Distanzstücken miteinander verbunden. Die Prüftischplatte und die erste Führungsplatte sowie die zwischen den beiden Platten angeordneten Kontaktstifte bilden hierbei eine kassettenartige Einheit, die auf die Grund­ platte aufgesetzt und von dieser abgenommen werden kann. Jeder zu prüfenden Leiterplatte ist eine derartige Kassetteneinheit zuge­ ordnet, was den Vorteil mit sich bringt, daß die Prüfeinrichtung mit wenigen Handgriffen auf die Prüfung unterschiedlichster Leiter­ platten umgerüstet werden kann: es ist lediglich die Kassetten­ einheit für die eine Leiterplatte abzunehmen und die Kassetten­ einheit für eine andere zu prüfende Leiterplatte auf die Grund­ platte aufzusetzen. Da die Kassetteneinheit lediglich aus zwei Isolierstoffplatten, einer Vielzahl von Kontaktstiften, die in großen Stückzahlen billigst herstellbar sind, einigen Schrauben und Distanzstücken besteht, ist der Wert einer solchen Kassetten­ einheit verhältnismäßig gering, so daß die Kosten für den Auf­ bau und die Lagerung einer Anzahl von Kassetteneinheiten für ver­ schiedene zu prüfende Leiterplatten gering sind und den Vorteil einer solchen Kassetteneinheit nicht schmälern. Die sich durch diese Kassetteneinheit ergebende Erleichterung in der Hand­ habung der Prüfvorrichtung ist beträchtlich und stellt einen besonderen Vorteil gegenüber den handelsüblichen Prüfvorrich­ tungen dar, deren Umrüstung wesentlich umständlicher und zeit­ raubender ist.
Eine weitere Vereinfachung in der Handhabung der erfindungs­ gemäßen Kassetteneinheit kann dadurch erreicht werden, daß die Schrauben, die die Prüftischplatte und die erste Führungsplatte zu­ sammenhalten, gleichzeitig zur Befestigung der beiden Platten an der Grundplatte benutzt werden. Um zu verhindern, daß beim Lösen dieser mehrfach genutzten Schrauben die Prüftischplatte und die erste Führungsplatte versehentlich auseinanderfallen, emp­ fiehlt es sich, mindestens zwei zusätzliche Schraubverbindun­ gen zum Verbinden der ersten Führungsplatte und der Prüftischplatte bei von der Grundplatte gelösten Platten vorzusehen. Bei Ab­ nahme der Kassetteneinheit werden also die beiden zusätzli­ chen Schraubverbindungen zuerst im Sinne eines festen Ver­ bindens der beiden Platten betätigt und danach werden die die Kassetteneinheit an der Grundplatte haltenden Schrauben ge­ löst, so daß danach die Kassetteneinheit mit fest zueinander angeordneten Platten von der Grundplatte abgenommen und ins Prüfwerkzeuglager gegeben werden kann.
Nach einem weiteren Gedanken der Erfindung ist die Prüftisch­ platte gegen eine Federkraft höhenbeweglich an der ersten Führungs­ platte befestigt. Die Ruhelage der Prüftischplatte ist hierbei so gewählt, daß die leiterplattenseitigen Enden der Kontakt­ stifte unterhalb der Oberfläche der Prüftischplatte enden, beim Auflegen der Leiterplatte auf die Prüftischplatte also keine Kontaktierung zwischen den Leiterbahnen und den Kontaktstiften entsteht. Erst beim Niederdrücken der Prüftischplatte gelangen die Kontaktstifte in Berührung mit den Leiterbahnen der Leiter­ platte. Durch die Höhenbeweglichkeit der Prüftischplatte wird somit erreicht, daß beim Auflegen und Zentrieren der Leiterplat­ te auf der Prüftischplatte die Kontaktstifte die feinen Leiter­ bahnen nicht zerkratzen oder beschädigen können. Darüber hinaus ist dadurch sichergestellt, daß auch bei dicht aneinanderliegen­ den Leiterplattenbohrungen und starker Schrägstellung einzelner Kontaktstifte diese einwandfrei in die ihnen zugeordneten Leiter­ plattenbohrungen gelangen können.
Als zweckmäßig hat es sich erwiesen, jeden Kontaktstift an sei­ nem der Prüftischplatte zugeordneten Ende über eine der Höhenbe­ wegung entsprechende Länge mit einem um bis zu drei Zehntel­ millimeter verminderten Durchmesser zu versehen. Dadurch lassen sich sicher Klemmungen zwischen Kontaktstift und Prüftisch­ platte beim Niederdrücken derselben vermeiden. An und für sich könnte jeder Kontaktstift über seine gesamte Länge mit dem ver­ minderten Durchmesser versehen werden, jedoch ist dann wegen des größeren Spiels des Kontaktstiftes in der Prüftischplatte nicht mehr sichergestellt, daß beim Einführen des Kontaktstiftes durch die Bohrung in der Prüftischplatte der Kontaktstift in die die­ ser Bohrung in vertikaler Richtung am nächsten liegende Raster­ maßbohrung gelangt.
Die Prüftischplatte ist auf ihrer der Leiterplatte zugewandten Oberfläche am zweckmäßigsten mit Zentrierzapfen für die aufzu­ legende Leiterplatte versehen. Neben der genauen Lagefixierung der Leiterplatte durch die Zentrierzapfen können diese darüber hinaus als Schlüssel für die Zuordnung einer bestimmten Leiter­ platte zu einer bestimmten Kassetteneinheit benutzt werden. Dies kann dadurch erreicht werden, daß jeder Kassetteneinheit eine bestimmte Zentrierzapfenkonfiguration und jeder Leiterplatte eine entsprechende Lochkonfiguration zugeordnet sind, wodurch gewähr­ leistet ist, daß tatsächlich nur die dieser Kassetteneinheit zugeordnete Leiterplatte geprüft werden kann, andere Leiter­ platten jedoch nicht.
Die Erfindung sei anhand der Zeichnung, die in zum Teil sche­ matischer Darstellung ein Ausführungsbeispiel enthält, näher erläutert. Es zeigt
Fig. 1 eine teilgeschnittene Aufsicht auf eine Prüf­ vorrichtung,
Fig. 2 einen Schnitt durch die Prüfeinrichtung gemäß Fig. 1,
Fig. 3 einen Schnitt durch die Grundplatte der Prüf­ einrichtung gemäß Fig. 1, in vergrößerter Darstellung, und
Fig. 4 einen Schnitt durch die Prüfeinrichtung entlang der Linie IV-IV in vergrößerter Darstellung.
Wie aus den Fig. 1 und 2 ersichtlich ist, besteht der me­ chanische Teil der Prüfeinrichtung aus einer Grundplatte 1 mit einer Vielzahl von Federkontakten 2, die in einem leiter­ plattenüblichen Rastermaß von 2,54 mm in der aus Kunststoff bestehenden Grundplatte 1 angeordnet sind. Die von den Feder­ kontakten 2 ausgefüllte Fläche entspricht in etwa der doppel­ ten Fläche einer Leiterplatte in Europa-Format, so daß also zwei solcher Normleiterplatten gleichzeitig geprüft werden können. Die Kontaktfederfläche ist von einem Rand begrenzt, der zur Aufnahme von Befestigungsmitteln vorgesehen ist.
Jeder Federkontakt 2 in der Grundplatte 1 besteht, wie aus Fig. 3 ersichtlich ist, aus einem Wrap-Stift 3, dessen eines Ende frei aus der Grundplatte 1 ragt und dessen anderes Ende in eine Bohrung 4 in der Grundplatte 1 hineinragt. In der Boh­ rung 4 befindet sich eine Druckfeder 5, die einerseits auf das in die Bohrung 4 ragende Ende des Wrap-Stiftes aufgepreßt ist und andererseits in einer Kontakthaube 6 endet, die in der Boh­ rung 4 verschieblich geführt ist. An ihrem einem Kontaktstift 7 zugeordneten Ende ist die Kontakthaube 6 mit einer zentralen Vertiefung 8 versehen, die unter anderem einer Zentrierung des Kontaktstiftes 7 auf der Haube 6 dient. Es ist ohne weiteres ersichtlich, daß ein solcher Federkontakt, der lediglich aus drei einfachen Bauteilen besteht, wesentlich kostengünstiger herstellbar ist als die bekannten Federkontakte, bei denen die beiden relativ zueinander beweglichen Teile teleskopartig in­ einandergreifen.
Über der Grundplatte 1 und auf dieser aufliegend befindet sich eine erste Führungsplatte 9 mit einer Anzahl von Bohrungen 10, die im selben Rastermaß wie die Federkontakte 2 in der ersten Führungs­ platte 9 angeordnet sind. Das Muster der Löcher 10 in der ersten Füh­ rungsplatte 9 entspricht also demjenigen der Federkontakte 2 in der Grundplatte 1. Die erste Führungsplatte 9 ist auf einen Me­ tallrahmen 11 aufgenietet, der die Prüfeinrichtung nach außen hin mechanisch abschirmt und zu einer Erhöhung der mechani­ schen Stabilität der ersten Führungsplatte 9 beiträgt.
Über der ersten Führungsplatte 9 und in Abstand zu dieser befindet sich die Prüftischplatte 12, die in ihrer wirksamen Fläche gleich groß wie die Grundplatte 1 und die erste Führungsplatte 9 ist. Die Prüftischplatte 12 enthält eine Vielzahl von Bohrungen 13, die in ihrer Anordnung dem Bohrungsmuster der zu prüfenden Leiter­ platte entspricht. Die Bohrungen 13 sind teilweise im gleichen Rastermaß von 2,54 mm angeordnet, wie die Bohrungen 10 in der ersten Führungsplatte 9 bzw. wie die Federkontakte 2 in der Grund­ platte 1, teilweise jedoch auch außerhalb dieses Rastermaßes. Für jede zu prüfende Leiterplatte ist also eine Prüftischplatte herzustellen, die in Anzahl und Konfiguration der Bohrungen den Bohrungen entspricht, die durch die Leiterbahnen der Leiter­ platte gehen.
Die Prüftischplatte 12 ist mittels mehrerer Schraubverbindungen 14 höhenverstellbar an der ersten Führungsplatte 9 befestigt. Jede dieser Schraubverbindungen 14 besteht aus zwei Teilen 15 und 16, von denen der Teil 15 in einer Ausnehmung in der ersten Führungs­ platte 9 eingenietet ist und der andere Teil 16 teleskopartig im Teil 15 verschieblich gelagert ist. Beide Teile 15 und 16 sind mit einer Druckfeder 17 beaufschlagt, gegen deren Kraft der Teil 16 im Teil 15 nach unten drückbar ist. Zur unverlier­ baren Festlegung des Teils 16 im Teil 15 ist letzteres an sei­ nem freien Ende 18 eingerollt und das Teil 16 mit einer Schul­ ter 19 versehen. Durch beide Teile 15 und 16 ragt eine Schraube 20, die eine Ausnehmung 21 in der Prüftischplatte 12 durchsetzt und in eine Schraubhülse 22 eingeschraubt ist, die in der Grund­ platte 1 sitzt. Um eine plane Auflage der ersten Führungsplatte 9 auf der Grundplatte 1 sicherzustellen, befindet sich in der Grund­ platte 1 eine die überstehenden Teile der Nietverbindung des Teils 15 mit der ersten Führungsplatte 9 aufnehmende Vertiefung 23. Wie ersichtlich, gestattet die Schraubverbindung 14, die an meh­ reren Stellen des Randumfangs angeordnet ist, eine Bewegung der Prüftischplatte in vertikaler Richtung entgegen der Kraft der Feder 17. Gleichzeitig dient die Schraubverbindung 14 dazu, die durch die erste Führungsplatte 9 und die Prüftischplatte 12 gebildete Kassette 24 auf der Grundplatte 1 festzulegen.
Beim Entfernen der Kassette 24 wird die Schraube 20 aus der Schraubhülse 22 gedreht und anschließend kann die Zwischen­ platte 9 und die über die beiden Teile 15 und 16 auf dieser Zwischenplatte ruhende Prüftischplatte von der Grundplatte 1 abgehoben werden. Da nach Lösen von Schraube 20 und Schraub­ hülse 22 zwischen der Prüftischplatte 12 und der ersten Führungs­ platte 9 keine feste Verbindung mehr besteht, kann es gesche­ hen, daß durch unsachgemäßes Behandeln der Kassette 24 aus Versehen die Prüftischplatte 12 angehoben wird und die zwischen der Prüftischplatte 12 und der ersten Führungsplatte 9 angeordneten Kontaktstifte 7 aus ihren Bohrungen herausfallen. Um dies zu vermeiden, sind im Bereich der Schraubverbindung 14 zusätz­ liche Maßnahmen vorgesehen, um nach Lösen der beiden Schrauben 20 und 21 eine feste Verbindung zwischen den beiden Platten 9 und 12 zu erhalten. Diese Maßnahmen bestehen darin, daß in der Prüftischplatte 12 eine Bohrung 25 vorgesehen ist und in der ersten Führungsplatte 9 eine Mutter 26 eingenietet ist, in die eine nicht dargestellte Schraube, die durch die Bohrung 25 einge­ führt ist, eingeschraubt werden kann. Die Mutter 26 ragt in eine dafür vorgesehene Ausnehmung 27 in der Grundplatte 1. Vor Lösen der beiden Schrauben 20 und 21 wird eine Schraube durch die Bohrung 25 in der Prüftischplatte 12 eingeführt und in die Mutter 26 eingeschraubt. Nach Festziehen dieser Schraube kann dann die Schraubverbindung 22/20 gelöst werden und die Kasset­ te 24 von der Grundplatte1 abgenommen werden. Die Gefahr, daß die Kontaktstifte 7 aus ihren Bohrungen fallen, ist nicht län­ ger akut.
Wie insbesondere Fig. 2 zu entnehmen ist, ist jeder Kontakt­ stift 7 an seinem grundplattenseitigen Ende mit einem durch die Löcher 10 in der ersten Führungsplatte 9 ragenden Zapfen 28 ver­ sehen, dessen Durchmesser kleiner als der Kontaktstiftdurch­ messer ist, so daß bei abgenommener Kassette 24 der Kontakt­ stift 7 nicht nach unten herausfallen kann. Ferner ist jeder Kontaktstift 7 an seinem der Prüftischplatte 12 zugeordneten Ende mit vermindertem Durchmesser ausgebildet, und zwar über eine Länge, die in etwa der Höhenbewegung der Prüftischplatte 12 entspricht. Hierdurch wird einmal ein Verklemmen des Kon­ taktstiftes 7 bei seiner Schrägstellung, wie sie in Fig. 2 dargestellt ist, verhindert, und gleichzeitig wird durch die in der Länge begrenzte Absetzung des Durchmessers erreicht, daß der Stift beim Einführen durch die Prüftischplatte 12 so lange geführt ist, bis er mit seinem Zapfen 28 in dasjenige Loch 10 der ersten Führungsplatte 9 eintaucht, das in der Vertikalen dem Loch 13 am nächsten ist, durch das der Kontaktstift 1 eingeführt ist.
Um zu verhindern, daß beim Abnehmen der Kassette 24 die in dieser angeordneten Kontaktstifte 7 nach vorne, das heißt also über die Bohrungen 13 in der Prüftischplatte 12 herausfallen, empfiehlt es sich, nach Lösen der Schrauverbindung 20/22 eine Haube auf die Prüftischplatte 12 aufzusetzen. Diese kann gleich­ zeitig als Staubschutz dienen. Jeder Kontaktstift 7 kann zur Kontaktierung der Löcher 30 in der Leiterplatte 29 mit einer halbkugelförmigen Kontaktkuppe oder auch, wie in vorliegendem Beispiel, mit einer Kanten aufweisenden Spitze 31 versehen sein.

Claims (12)

1. Vorrichtung zum Prüfen der Leiterbahnen von in gedruckter Schal­ tungstechnik hergestellten Leiterplatten auf Leitungsschluß, Be­ lastbarkeit und/oder Stromdurchgang, mit einer Grundplatte mit einer Vielzahl von federnden Kontakten, die in einem vorgegebe­ nen, leiterplattenüblichen Rastermaß angeordnet und über Leitun­ gen mit dem elektrischen Prüf- und Steuergerät verbunden sind, einer ersten Führungsplatte, die in unmittelbarer Nähe der Grund­ platte angeordnet und mit einer Vielzahl von im Rastermaß ange­ ordneten Löchern versehen ist, einer zweiten Führungsplatte mit einer der Zahl der durch die Leiterbahnen gehenden Bohrungen entsprechenden Zahl von Löchern, die rastermaßunabhängig in der zweiten Führungsplatte dem Leiterplattenbohrungsmuster entspre­ chend angeordnet sind, und mit die Löcher der beiden Führungs­ platten durchsetzenden Kontaktelementen, die mit ihrem einen Ende mit den federnden Kontakten in Wirkverbindung stehen und mit ihrem anderen Ende mit den Bohrungen in den Leiterbahnen kon­ taktierbar sind, dadurch gekennzeichnet, daß die zweite Füh­ rungsplatte als Prüftischplatte (12) zur Auflage der die zu prü­ fenden Leiterbahnen tragenden Leiterplatte (29) ausgebildet ist, daß die Kontaktelemente als starre Kontaktstifte (7) ausgebil­ det sind, daß jeder Kontaktstift (7) im Bereich der ersten Führungsplatte (9) mit Mitteln zum Begrenzen seiner Axialbewe­ gung in Richtung auf die Grundplatte (1) versehen ist, und daß der Abstand zwischen der Prüftischplatte (12) und der Grund­ platte (1) und die wirksame Länge der starren Kontaktstifte (7) dergestalt gewählt sind, daß bei auf der Prüftischplatte (12) lie­ gender Leiterplatte (29) die Kontaktstifte (7) mit ihren leiter­ plattenseitigen Enden bis in die Oberflächenebene der Prüf­ tischplatte zurückgedrückt sind.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zur Begrenzung der Axialbewegung jeder Kontaktstift (7) an seinem grundplattenseitigen Ende mit einem durch die Löcher (10) in der ersten Führungsplatte (9) ragen­ den Zapfen (28) versehen ist und der Durchmesser jedes Lochs (10) kleiner als der Kontaktstiftdurchmesser ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß jeder Kontaktstift (7) an seinem leiterplattenseitigen Ende mit einer halbkugelförmigen Kontakt­ kuppe versehen ist.
4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüftischplatte (12) gegen eine Federkraft (7) höhenbeweglich an der ersten Führungsplatte (9) befestigt ist.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß jeder Kontaktstift (7) an seinem der Prüftischplatte (12) zugeordneten Ende über eine der Höhen­ bewegung entsprechende Länge einen um bis zu drei Zehntel­ millimeter verminderten Durchmesser aufweist.
6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüftischplatte (12) und die erste Führungsplatte (9) mittels Schrauben (20, 22) und Distanz­ stücken (15, 16) miteinander verbunden sind.
7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Schrauben (20, 22) gleich­ zeitig zur Befestigung der beiden Platten (12, 9) an der Grund­ platte (1) vorgesehen sind.
8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens zwei zusätzliche Schraub­ verbindungen (26) zum Verbinden der ersten Führungsplatte (9) und der Prüftischplatte (12) bei von der Grundplatte (1) gelösten Platten (9, 12) vorhanden sind.
9. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß jeder federnde Kontakt (2) aus einem in der Grundplatte (1) sitzenden Anschlußstift (3) und einer Kon­ takthaube (6) besteht, die beide über eine Druckfeder (5) elek­ trisch und mechanisch miteinander verbunden sind.
10. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Kontakthaube (6) mit einer zen­ trischen Vertiefung (8) zur Führung des Kontaktstiftes (7) ver­ sehen ist.
11. Vorrichtung nach Anspruch 9 oder 10, dadurch gekennzeichnet, daß der Anschlußstift (3) als Wrapstift ausgebildet ist.
12. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüftischplatte (12) mit Zentrierzapfen für die aufzulegenden Leiterplatten (29) ver­ sehen ist.
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