DE3340084A1 - Einrichtung zur positionierung von bauteilen auf einem werkstueck - Google Patents

Einrichtung zur positionierung von bauteilen auf einem werkstueck

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    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • H01L21/681Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment using optical controlling means

Description

  • EINRICHTUNG ZUR POSITIONIERUNG VON BAUTEILEN AUF EINEM
  • WERKSTÜCK Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Einrichtung zur Positionierung von Bauteilen auf einem Werkstück, welche Einrichtung mindestens ein Bauteile-Magazin bzw. eine Bauteile-Magazingruppe, mindestens eine Bauteile-Transportvorrichtung mit einem Greiforgan zur Aufnahme eines Bauteiles sowie mindestens eine Werkstück-Halteanordnung zur Aufnahme mindestens eines Werkstückes umfasst, wobei, die Bauteile-Transportvorrichtung zwizwischen dem Bauteile-Magazin bzw. der Bauteile-Magazingruppe und der Werkstück-Halteanordnung verschiebbar gelagert ist.
  • Ein bevorzugtes Anwendungsgebiet der erfindungsgemässen Einrichtung ist z.B. im Aufbringen elektronischer Bauelemente auf einen Träger zu erblicken. Als Träger kommen Dickschichtschaltungen, Dünnschichtschaltungen, Leiterplatten oder ähnliche Werkstücke in Betracht. Solche Träger umfassen eine Leiterträgerplatte, die aus keramischem oder einem anderen geeigneten Material besteht, auf deren Oberfläche einerseits ein vorgegebenes Muster von elektrisch leitfähigen Bahnen und andererseits eine Mehrzahl von Anschlusspunkten zur Aufnahme von diskreten, elektrischen bzw.
  • elektronischen Bauelementen wie z.B. Widerständen, Transistoren, Kondensatoren und dgl. vorgesehen ist. Insbesondere wegen der geringen Abmessungen und der gedrängten Anordnung von Dünnschicht- bzw. Dickschichtschaltungen ist es von ausschlaggebender Bedeutung, dass die auf die aufzusetzenden Elemente mit grösstmöglichster Präzision an den vorgesehenen Platz gebracht werden, bevor sie z.B. durch Löten mit den Leiterbahnen des Trägers verbunden werden.
  • Im Interesse einer rationellen, möglichst weitgehend automatisierten Fertigung solcher Schaltungen werden Bestückunqsautomaten verwendet, welche selbsttätig, durch ein geeignetes Programm gesteuert, Bauelemente aus einem Magazin oder aus einem ausgewählten Magazin einer Magazingruppe entnehmen, diese in den Bereich der Leiterplatte transportieren und schliesslich die Bauelemente an einer genau6 vorbestimmten Position auf der Leiterplatte ablegen. Die Transportvorrichtung zum Verbringen der einzelnen Bauelemente vom ausgewähltem Magazin zur vorgegebenen Position auf der Leiterplatte kann nach bekanntem Stand der Technik mit der erwünschten, hohen Präzision gesteuert werden.
  • Andererseits ist die Lage der einzelnen Bauelemente innerhalb des Magazins nicht mit der erforderlichen Präzision gewährleistet, so dass die Position eines vom Greiforgan der Transportvorrichtung aufgenommenen Bauelementes gegenüber einer theoretisch genauen Positionierachse durch das Greiforgan der Transportvorrichtung nicht gewährleistet ist. Mit anderen Worten bedeutet das, dass ein vom Greiforgan der Transportvorrichtung aus dem Magazin aufgenommenes Bauelement mehr oder weniger gegenüber der theoretischen Positionierachse durch das Greiforgan verschoben und/oder verdreht sein kann.
  • Um diese nicht voraussehbare Lageverschiebung zu korrigieren, hat man bisher vorgeschlagen, das Greiforgan der Transportvorrichtung mit Zentriermitteln zu versehen, um ein ungenau aufgenommenes Bauelement in die theoretisch erwünschte Sollposition gegenüber der Positionierachse zu bringen, d.h. das Bauelement mechanisch so zu verschie#ben, dass dessen Symmetrieachse mit der Positionie#rachse durch das Greiforgan zusammenfällt. Eine solche Vorrichtung ist z.B. in der USA-Patentschrift Nr. 4,135, 630 beschrieben, die eine Anordnung zum Zentrieren elektronischer Bauelemente offenbart, die aus einem Magazin entnommen worden sind und auf einer Leiterplatte aufgesetzt werden sollen. Es wird dabei von der Ueberlegung ausgegangen, dass die zu positionierenden Bauelemente während des Entnehmens aus dem Magazin möglicherweise dezentral erfasst werden und demzufolge nicht in der korrekten Sollposition auf den Leiterträger abgesetzt werden können. Um dies zu vermeiden, schlägt die genannte USA-Patentschrift die Verwendung eines Zentrierorganes vor, mit Hilfe dessen die aus dem Magazin entnommenen Bauelemente relativ zur theoretischen Positionierachse durch das Greiforgan zentriert werden können.
  • An sich arbeitet diese Vorrichtung zufriedenstellend, ben#ötigt aber in mechanischer Hinsicht aufwendige Mittel, um die im allgemeinen sehr geringe Abmessungen aufweisenden, aus dem Magazin aufgenommenen Bauelemente zu umgreifen und mechanisch zu verschieben, damit sie die# theoretische Sollposition in Bezug auf die durch das Greiforgan verlaufende Zentrierachse einnehmen. Die Konstruktion einer solchen Zentriervorrichtung, die sehr präzise ausgebildet sein muss, ist demzufolge aufwendig und sehr teuer.
  • Dazu kommt, dass mit einem die Präzision der Zentriervorrichtung beeinträchtigenden Verschleiss gerechnet werden muss, und weiter, dass unter Umständen eine Beschädigung der Bauelementerfolgen kann. Ein weiterer Nachteil der bekannten Anordnung ist darin zu sehen, dass die bewegten Massen verhältnismässig gross sind; im Interesse einer geringen Taktzeit beim Aufbringen der Bauelemente auf die Leiterplatte müssen deshalb die Antriebsmittel für die Transportvorrichtung, die zwangsläufig die Zentriervorrichtung umfassen müssen, überdimensioniert werden. Schliesslich ist ein Nachteil der bekannten Anordnung darin zu sehen, dass meistens eine Mehrzahl von verschieden grossen, als Zangen ausgebildeten Zentriervorrichtungen vorgesehen sein muss, die auswechselbar am Greiforgan befestigt sind, um Bauelemente unterschiedlicher Grösse zentrieren zu können. Neben dem unerwünscht hohen Zeitaufwand für das Auswechseln der Zentriervorrichtungen ist auch nachteilig, dass eine Anzahl von unterschiedlichen Æentriervorrichtungen vorrätig gehalten werden muss.
  • Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Einrichtung der eingangs erwähnten Art vorzuschlagen, welche diese Nachteile nicht mehr aufweist und insbesondere ermöglicht, Werkstücke, z.B.
  • Leiterplatten für elektronische Schaltungen, in rascher Folge mit höchster Präzision mit aus einem Magazin entnommenen Bauteilen zu bestücken. Es soll dabei auf die Verwendung einer komplizierten, mechanisch aufwendigen und daher teuren Zentriervorrichtung verzicntet werden. Ausserdem soll diese Vorrichtung für sämtliche vorkommenden Bauteile-Grössen geeignet sein und somit den Benutzer von der lästigen Notwendigkeit entheben, je nach verwendetem Bauteil gegebenenfalls eine Zentriervorrichtung auswechseln zu müssen. Schliesslich soll mit der vorgeschlagenen Einrichtung vermieden werden, dass die Bauteile beschädigt werden könnten und weiter, dass bei zunehmendem Verschleiss eine Beeinträchtigung der Genauigkeit erfolgt.
  • Die Erfindung geht aus von einer Einrichtung zum Positionieren von Bauteilen auf einem Werkstück, welche Einrichtung mindestens ein Bauteile-Magazin bzw. eine Bauteile-Magazingruppe, mindestens eine Bauteile-Transportvorrichtung mit einem Greiforgan zur Aufnahme eines Bauteiles sowie mindestens eine Werkstück-Halteanordnung zur Aufnahme mindestens eines Werkstückes umfasst, wobei die Bauteile-Transportvorrichtung zwischen dem Bauteile-Magazin bzw. der Bauteile-Magazingruppe und der Werkstück-Halteanordnung verschiebbar gelagert ist.
  • Zur Lösung der erfindungsgemässen Aufgabe zeichnet sich diese Einrichtung dadurch aus, dass im Bereich des Verschiebeweges des Greiforganes der Bauteile-Transportvorrichtung eine Lageerfassungs-Einrichtung vorgesehen ist, welche die relative Lageabweichung eines vom Greiforgan der Bauteile-Transportvorrichtung getragenen Bauteiles gegenüber einer auf eine Zentrierachse durch das Greiforgan bezogenen Soll-Position misst, und dass ein mit der Lageerfassungs-Einrichtung und zumindest mit dem Antrieb der Bauteile-Transportvorrichtung verbundenes Steuergerät vorgesehen ist, welches den genannten Antrieb unter Berücksichtigung des Lageabweichungs-Messwertes beeinflusst.
  • Bei der erfindungsgemässen Einrichtung wird also von folgender Ueberlegung ausgegangen: Es wird darauf verzichtet, das vom Greiforgan aufgenommene Bauteil unter Verwendung einer Zentriervorrichtung mit der theoretisch optimalen Lage bezüglich der Zentrierachse durch das Greiforgan in Übereinstimmung, d.h. in eine gegenüber dieser Positionierachse konzentrische Position zu bringen. Vielmehr wird das Ausmass der Exzentrizität, mit der das Bauteil erfasst wurde, gemessen und anschliessend der Bewegungsablauf der Bauteile-Transportvorrichtung und/oder gegebenenfalls die Position des Werkstück-Trägers so nachgeregelt, dass das Bauteil schliesslich mit höchster Präzision an der theoretisch vorgegebenen Soll-Position auf dem Werkstück abgesetzt wird.
  • Durch den Verzicht auf Zentriervorrichtungen kann die bewegte Masse der Bauteile-Transportvorrichtung wesentlich geringer gehalten werden; dies kann sich vorteilhaft in einer verminderten Taktzeit bei gleichbleibender Antriebsleistung für die Bauteile-Transportvorrichtung oder wahlweise in einer geringeren Dimensionierung der Antriebsvorrichtung bei gleichbleibender Taktzeit niederschlagen. Die Nachregelung, sei es der Bewegungsbahn der Bauteile-Transportvorrichtung, sei es der Lage des Werkstückes, kann im Rahmen der ohnehin erforderlichen Steuereinrichtung der gesamten Anlage, z.B. durch zweckentsprechende Änderung bzw. Ergänzung des Steuerprogrammes, erfolgen und erfordert somit keinen zusätzlichen apparativen Aufwand.
  • Nach dem erfindungsgemässen Vorschlag ist die Lageerfassungs-Einrichtung im Bereich des Verschiebeweges des Greiforgans der Bauteile-Transportvorrichtung angeordnet. Eine zweckmässige Lösung kann darin bestehen, dass diese Lageerfassungs-Einrichtung im wesentlichen konzentrisch über der Werkstück-Halteanordnung angeordnet ist. Dies ermöglicht, dass die Bauteile-Transportvorrichtung im Verlauf ihrer Verschiebebewegung über der Werkstück-Halteanordnung kurz angehalten wird, nämlich dann, wenn das vom Greiforgan erfasste Werkstück in den Bereich der Lageerfassungs-Einrichtung gelangt ist. Während dieser kurzen Anhaltephase wird die effektive Lage des Bauteiles relativ zur durch das Greiforgan verlaufenden Positionierachse erkannt, und es wird ein Korrektursignal gebildet, welches ein Mass für die Lageabweichung in horizontaler X- und Y-Richtung sowie gegebenenfalls bezüglich Verdrehung darstellt. Da die Lageerfassungs-Einrichtung mit einem Steuergerät verbunden ist, welches dieses Korrektursignal empfängt, kann entweder die Bewegungsbahn der Bauteile-Transportvorrichtung oder die Lage des Werkstückes durch Verschieben der Werkstück-Halteanordnung nachgeregelt werden, oder aber eine Korrektur kann durch beide Massnahmen gleichzeitig erfolgen.
  • Eine andere Möglichkeit kann darin bestehen, dass die Lageerfassungs-Einrichtung in zumindest annähernd konzentrischer Lage an der Bauteile-Transportvorrichtung, unterhalb des Greiforganes, angeordnet ist. Diese Lösung ermöglicht ein Erfassen der effektiven Position des Bauteiles am Greiforgan während der Bewegung der Transportvorrichtung, ohne diese anzuhalten; bezüglich der Auswertung der von der Lageerfassungs-Einrichtung gelieferten Korrektursignale gilt das vorstehend gesagte sinngemäss.
  • Für die Ausbildung der Lageerfassungs-Einrichtung bestehen verschiedene Möglichkeiten. Gemäss einer bevorzugten Ausführungsform kann diese ein rahmenartiges Gestell umfassen, durch welches das Greiforgan der Bauteile-Transportvorrichtung hindurchtreten kann, wobei, wie bereits erwähnt, unter Umständen ein kurzes Anhalten der Bauteile-Transportvorrichtung erfolgt, wenn sich das vom Greiforgan aufgenommene Bauteil innerhalb des rahmenartigen Gestelles befindet. Während des Durchtritts des Bauteiles durch die Lageerfassungs-Einrichtung bzw. während dieser Anhaltephase wird die effektive Lage des Bauteiles relativ zur theoretischen Positionierachse erkannt und ein Korrektursignal bzw. mehrere Korrektursignale gebildet.
  • Die Lageabtastung des Bauteiles kann durch Berührung oder berührungslos erfolgen. Im ersteren Fall können an den vier Seiten des vorzugsweise rechteckigen bzw. quadratischen Rahmens der Lageerfassungs-Einrichtung längsverschiebbare Nadeln vorgesehen sein, die bis zum Auftreffen auf die jeweilige Seite des Bauteiles ausgefahren werden. Das Mass der Verschiebung jeder einzelnen Nadel bildet nach entsprechender logischer Verknüpfung ein Korrektursignal, aus dem sich die Abweichung der Lage des Bauteiles von der theoretischen Soll-Lage in horizontaler X- und Y-Richtung ableiten lässt.
  • Im zweiten Fall kann eine berührungslose Abtastung z.B. mit Hilfe eines Laserstrahles bzw. mehrerer Laserstrahlen erfolgen. Auch hier bestehen mehrere Möglichkeiten, die in den abhängigen Ansprüchen im einzelnen definiert sind und in der nachfolgenden Beschreibung einiger Ausführungsbeispiele noch im einzelnen erörtert werden. An dieser Stelle sei nur festgehalten, dass die berührungslose Abtastung der Lage eines Bauteiles nicht nur an sich prinzipielle Vorteile bietet (wie z.B. das Fehlen jeglicher Abnutzungserscheinungen), sondern dass dadurch auch die Erfassung einer Verschwenkung des Bauteiles um die Positionierachse durch das Greiforgan, zusätzlich zur Erfassung einer Fehlpositionierung in horizontaler X- und Y-Richtung, möglich ist. Ferner ist dabei auch ein Erkennen der Höhenlage des Bauteiles möglich.
  • Im folgenden werden Ausführungsbeispiele der erfindungsgemässen Einrichtung, unter Bezugnahme auf die beiliegenden Zeichnungen, näher erläutert. Im einzelnen zeigen: Fig. 1 eine schematische Darstellung einer Anordnung zur Positionierung von Bauteilen in einer Seitenansicht, Fig. 2 eine Ansicht der Werkstück-Halteanordnung und der Bauteile-Magazingruppe der Anordnung gemäss Fig. 1 von oben, Fig. 3 eine schematische Aufsicht auf eine Lageerfassungs-Einrichtung mit mechanischer, berührender Abtastung, Fig. 4 eine schematische Aufsicht auf eine erste Ausführungsform einer Lageerfassungs-Einrichtung mit berührungsloser Abtastung, Fig. 5 eine schematische Aufsicht auf eine zweite Ausführungsform einer Lageerfassungs-Einrichtung mit berührungsloser Abtastung, Fig. 6 dieselbe Ansicht wie Fig. 5, jedoch mit verdrehtem Bauteil, Fig. 7 eine schematische Aufsicht auf eine dritte Ausführungsform einer Lageerfassungs-Einrichtung mit berührungsloser Abtastung, und Fig. 8 dieselbe Ansicht wie Fig. 7, jedoch mit verdrehtem Bauteil.
  • Die Einrichtung gemäss Figur 1 umfasst eine Konsole 1, auf welcher eine Werkstück-Halteanordnung in Form eines Arbeitstisches 2 angebracht ist. Nicht näher dargestellte Antriebsorgane, die unter der Wirkung einer ebenfalls nicht dargestellten Steuereinrichtung stehen, erlauben es, den Arbeitstisch 2 horizontal in Richtung der Pfeile X wie auch in Richtung der Pfeile Y (Figur 2) zu verschieben, d.h. in zwei zueinander senkrecht stehenden Richtungen in einer Horizontalebene. Auf dem Arbeitstisch 2 ist ein Werkstück 3, z.B. in Form eines mit Leiterbahnen versehenen Keramiksubstrates, zur Herstellung einer elektronischen Schaltung angeordnet. Positionier- bzw. Halteorgane 4 dienen dazu, das Werkstück 3 gegenüber dem Arbeitstisch 2 in einer vorbestimmten Lage zu fixieren.
  • Eine weitere Konsole 5, die benachbart zur Konsole 1 angeordnet ist, trägt eine Anzahl von Bauelementemagazinen 6; diese umfassen einen Vorratsteil 7, aus welchem ein Band 8 herausragt, das mit einer Mehrzahl von z.B. aufgeklebten Bauelementen 9a, 9b usw.
  • versehen ist. Selbstverständlich können die Bauelementemagazine 7 auch anders ausgebildet sein, und es sind eine Reihe von Betätigungsorganen für diese Magazine erforderlich; auf diese Einzelheiten braucht im Rahmen der vorliegenden Erfindung nicht näher eingegangen zu werden, da sie im Ermessensbereich des mit der Materie vertrauten Fachmannes liegen.
  • Oberhalb der beiden Konsolen 1 und 5 ist eine Führung 10 angeordnet, die eine Bauteile-Transportvorrichtung 11 aufnimmt. Diese umfasst einen schlittenartigen Teil 12, der entlang der Führung 10 in Richtung des Pfeiles A längsverschiebbar ist. Vorzugsweise kann die gesamte Führung 10 zusätzlich in einer senkrecht dazu verlaufenden, horizontalen Richtung entlang des Pfeiles B querverschiebbar sein. Die Transportvorrichtung 11 umfasst ein Bauteile-Aufnahmeorgan 13, welches mit einer Hohlnadel 14 bestückt ist, um die einzelnen Bauelemente 9a - 9b aus den Magazinen zu entnehmen. Das Innere der Hohlnadel 14 ist an eine (nicht dargestellte) Vakuumquelle angeschlossen; beim Auftreffen der Spitze der Nadel 14 auf das aufzunehmende Bauelement 9 wird das Vakuum an die Nadel 14 angelegt, so dass das Bauelement 9 an der Spitze der Nadel 14 haften bleibt. Zu diesem Zweck ist die gesamte Anordnung bzw. das Bauelement-Aufnahmeorgan 13 in Richtung des Pfeiles C höhenverstellbar. Das heisst, dass die Nadel 14 aus der in Figur 1 gezeigten Position auf ein ausgewähltes Bauelement 9 abgesenkt werden kann, um dieses durch Ansaugen festzuhalten.
  • Wie schon erwähnt, ist die Anordnung 11 entlang der Führung 10 in Ricntung des Pfeiles A verschiebbar, nämlich in eine Position (gestrichelt dargestellt in Figur 1) oberhalb einer Lageerfassungs-Einrichtung 15. Letztere befindet sich zentral über dem Arbeitstisch 2 und besitzt im wesentlichen rahmenförmige Gestalt, so dass das Bauelement-Aufnahmeorgan 13 mit der das Bauelement 9 tragenden Nadel 14 durch diese hindurchtreten kann.
  • Auf nähere Einzelheiten bezüglich der Lageerfassungs-Einrichtung 15 wird im folgenden noch ausführlich eingegangen werden. Jedenfalls ist die Lageerfassungs-Einrichtung im Stande, die effektive Position eines Bauelementes 9 relativ zu einer durch das Zentrum der Nadel 14 verlaufenden, vertikalen Positionierachse zu erkennen und daraus ein Korrektursignal bzw. Korrektursignale abzuleiten.
  • Das Bauelement gemäss Fig. 6 und 8 befindet sich in verdrehter bzw. dezentrierter Lage, während das Bauelement gemäss Fig. 3, 4, 5 und 7 lediglich in X- bzw. Y-Richtung verschoben ist. Die Lageerfassungs-Einrichtung 15 ist im Stande, im Fall der Situation gemäss Fig. 6 und 8 den Drehwinkel des Bauelementes 9 zu erkennen, daraus ein Korrektursignal abzuleiten und die Nadel 14 bzw. das Tragoran 13 zu einer Verdrehung zu veranlssen, bis das Werkstück 9 die in Fig. 3, 4, 5 und 7 gezeigte Lage parallel zu den Seitenkanten des Werkstückes 3 einnimmt. Andererseits wird durch die Einrichtung 15 eine laterale Verschiebung in horizontaler Richtung, in der Situation z.B. gemäss Figur 3 um den Betrag x in X-Richtung und um den Betrag y in Y-Richtung, erkannt.
  • Daraus werden ebenfalls Korrektursignale abgeleitet, die entweder die Bewegungsbahn der Anordnung 11 in Richtung der Pfeile A und B oder die Verschiebung des Arbeitstisches 2 in X und Y-Richtung oder aber eine Kombination all dieser Bewegungen beeinflussen.
  • In der Praxis arbeitet die Einrichtung wie folgt: Die Bauteile-Transportvorrichtung 11 befindet sich gemäss Figur 1 in einer Position oberhalb eines ausgewählten Magazins 6. Die Nadel 14 wird in Richtung des Pfeiles C abgesenkt, bis deren Spitze auf der Oberfläche des aufzunehmenden Bauelementes 9c auftrifft.
  • Danach wird das Vakuum an die Nadel 14 angelegt,und die Nadel 14 wird zurückgezogen, so dass das Bauelement 9c an der Spitze der Nadel 14 haften bleibt. Im Normalfall wird ein so aufgenommenes Bauelement 9c nicht genau zentrisch an der Spitze der Nadel 14 haften, sondern in X- und Y-Richtung versetzt sein. ferner ist auch möglich, dass das Bauelement zudem verdreht sein kann.
  • Nun bewegt sich die Transportvorrichtung 11 in die in Figur 1 gestrichelt gezeigte Lage über dem Arbeitstisch 2 und die Nadel 14 wird soweit abgesenkt, dass sich das Bauelement 9c innerhalb der rahmenförmigen Lageerfassungs-Einrichtung 15 befindet. Dort wird die Exzentrizität des Bauelementes 9c gegenüber der theoretischen Positionierachse im Zentrum der Nadel 14 erfasst; daraus resultierende Korrektursignale bewirken nun gegebenenfalls eine Verdrehung des Werkstückes um die durch die Nadel 14 verlaufende Positionierachse sowie entweder eine Lagekorrektur der Transportvorrichtung 11 in Richtung der Pfeile A und/oder B, eine Verschiebung des Arbeitstisches 2 in X und/oder Y-Richtung oder eine Kombination beider Korrekturbewegungen. Nachdem dies geschehen ist, ist sichergestellt, dass sich das an der Spitze der Nadel 14 befindliche Bauelement 9c in korrekter Lage oberhalb des Werkstückes 3 befindet, so dass anschliessend die Nadel 14 abgesenkt werden kann, um das Bauelement 9c mit höchster Präzision auf das Werkstück 3 abzulegen.
  • Wie schon zuvor erwähnt,erkennt die Lageerfassungs-Einrichtung 15 auch eine Verdrehung des Bauelementes 9c gegenüber der theoretischen Soll-Lage. Das daraus gewonnene Korrektursignal kann dazu benützt werden, die Nadel 14 zu verdrehen, bis die erwünschte, parallele Ausrichtung des Bauelementes 9c zu den Kanten des Werkstückes 3 erreicht ist. Mit Hilfe der heute zur Verfügung stehenden Steuerorgane kann diese Auswertung und Korrektur so schnell erfolgen, dass eventuell gar kein oder aber kein nennenswert langer Aufenthalt des Bauelementes in der Lageerfassungs-Einrichtung 15 erforderlich ist.
  • Nachdem das Bauelement 9c auf dem Werkstück 3 abgelegt worden ist, wird das Vakuum innerhalb der Nadel 14 aufgehoben und diese zurückgezogen, währenddem sich die Transportvorrichtung 11 in die in Figur 1 gezeigte Ausgangslage oder in eine in Richtung des Pfeiles A etwas verschobene Lage über einem der Magazine 6 zurückbewegt. Nun kann die Nadel 14 erneut abgesenkt werden, um ein weiteres Bauelement 9a - 9b aufzunehmen, und der vorstehend geschilderte Vorgang wiederholt sich von neuem.
  • Verschiedene Ausführungsbeispiele der Lageerfassungs-Einrichtung 15 sind in den Figuren 3-8 dargestellt und werden im folgenden näher erläutert.
  • In der Figur 3 ist eine mechanische Lösung zu sehen, die mit einer berührenden Abtastung des zu positionierenden Bauelementes 20 arbeitet. Die Einrichtung 15 umfasst einen quadratischen Rahmen, der aus vier Seitenteilen 21a - 21d zusammengesetzt ist.
  • Jedes der Rahmenteile 21a - 21d trägt eine Nadel 22a - 22d, die längsverschiebbar gelagert ist und unter Einfluss eines Antriebs- und Messorganes 23a - 23d steht. Mittels letzterem können die Nadeln 22a - 22d in Richtung der Pfeile U-l - U-4 längsverschoben werden, d.h. quer zum Verlauf der Rahmenseiten 21a -21d. Die Ausbildung der Antriebs- und Messorgane 23a - 23d ist bekannter Stand der Technik und braucht an dieser Stelle nicht näher erläutert zu werden. Jedenfalls stehen die Organe 23a -23d in Wirkungsverbindung mit dem zentralen Steuerorgan der gesamten Einrichtung, wobei die Funktion wie folgt ist: In der Ausgangslage befinden sich die Nadeln 22a - 22d in einer mehr oder weniger zurückgezogenen Position, so dass ein von der -Hohlnadel 14 getragenes Bauelement 20 in das Innere des Rahmens 21a - 21d eintauchen kann. Das Zentrum der Nadel 14, d.h. die theoretische Positionierachse, ist mit M bezeichnet. Nachdem das Bauelement 20 in die Lageerfassungs-Einrichtung 15 eingetaucht ist, werden die Nadeln 21a - 21d unter Wirkung der Antriebs- und Messorgane 23a - 23d in Richtung des Bauelementes 20 bewegt, bis die Nadelspitzen auf den Seitenflächen des desselben aufliegen.
  • Der Verschiebeweg der Nadeln 22a - 22d wird dabei von den Antriebs- und Messorganen 23a - 23d erfasst; aus diesen Messwerten kann ein Korrektursignal bzw. können Korrektursignale gebildet werden, die ein Mass für die Abweichung des Zentrums N des Bauelementes 20 von der theoretischen Sollposition, nämlich der Achse M bilden. Mit diesem Korrektursignal wird der Antrieb der Bauelemente-Transportvorrichtung und/oder der Antrieb der Werkstück-Halteanordnung beeinflusst. Nachdem die Lage des Bauelementes 20 erkannt ist, werden die Nadeln 22a - 22d zurückgezogen und das Bauelement 20 kann auf das Werkstück 3 abgesenkt werden, wo es die theoretisch optimale Position mit grösstmöglichster Präzision einnimmt. Die in der Figur 3 dargestellte und vorstehend beschriebene Anordnung der Lageerfassungs-Einrichtung 15 ist insbesondere dann vorteilhaft anzuwenden, wenn die Beschaffenheit der Seitenflächen der Bauelemente 20 unregelmässig oder nicht im voraus bekannt ist. Andererseits ist ein Nachteil dieser Anordnung darin zu erblicken, dass eine Verschwenkung des Bauelementes 20 um die Achse M nicht erkannt werden kann. Es muss also vorausgesetzt werden, dass das Bauelement 20 in einer winkelgerechten Position aus dem Magazin entnommen worden ist und lediglich in X- und Y-Richtung gegenüber der Soll-Lage bezüglich der Achse M verschoben ist.
  • Ein zweites Ausführungsbeispiel der Lageerfassungs-Einrichtung 15 ist in der Figur 4 dargestellt. Es ist wiederum ein quadratischer Rahmen mit vier Rahmenseiten 21a - 21d vorhanden, in welchen das mit dem Bauelement 20 versehene Greiforgan der Bauelement-Haltevorrichtung eintaucht. Die Anordnung gemäss Fig.4 umfasst zwei Laserdioden 24a und 24b, die drehbar an einander gegenüberliegenden Ecken des Rahmens angeordnet sind. Die Laserdioden senden einen scharf gebündelten Strahl aus, der von einem innerhalb des Rahmens befindlichen Bauteil reflektiert wird. Die zwei verbleibenden, ebenfalls gegenüberliegenden Ecken des Rahmens nehmen je eine Empfangsdiode 25a und 25b auf, die einen reflektierten Strahl zu empfangen bestimmt sind.
  • Aus der Fig.4 ist zu entnehmen, dass die Laserdiode 24b im Verlauf ihrer Rotation einmal einen Strahl aussenden wird, der zunächst von der Seitenfläche 20a des Bauelementes 20 so reflektiert wird, dass er auf die Empfangsdiode 25a fällt und von dieser registriert wird. Im Verlauf der weiteren Rotation der Laserdiode 24b tritt der Zustand ein, bei dem der Laserstrahl von der Seitenfläche 20d des Bauelementes reflektiert und von der Empfangsdiode 25b aufgenommen wird. Im Moment des Empfangs des einerseits von der Seitenfläche 20a und andererseits von der Seitenfläche 20d reflektiertem Laserstrahls nimmt die Laserdiode 24b jeweils eine ganz bestimmte Winkelstellung ein. Diese wird vom Steuergerät der Einrichtung erkannt und gespeichert. Entsprechendes gilt für die rotierende Laserdiode 24a: Sie wird im Verlauf ihrer Rotation eine Winkelstellung einnehmen, bei der der ausgehende Strahl von der Seitenfläche 20c so reflektiert wird, dass er von der Empfangsdiode 25b empfangen wird, und danach eine solche Winkelstellung, dass der Strahl von der Seitenfläche 20b des Bauelementes so reflektiert wird, dass er auf die Empfangsdiode 25a fällt. Auch diese beiden Winkelstellungen werden vom Steuergerät der Einrichtung' registriert. Aus den im Steuergerät registrierten Winkelwerten lässt sich, nach bekannten mathematischen Gesetzen, ein Korrektursignal bzw. mehrere Korrektursignale ableiten, das bzw. die ein Mass für die Abweichung der Lage des Bauelementes 20 von der theoretisch idealen Soll-Lage ist bzw. sind.
  • Die vorstehend geschilderten Überlegungen gehen davon aus, dass das Bauelement 20 gegenüber den Rahmenseiten 21a - 21d eine winkelgerechte Lage einnimmt; dies ist in Fig.4 mit ausgezogenen Linien dargestellt. Es kann aber auch sein, dass das Bauelement 20 eine um die Achse M verdrehte Position einnimmt. Diese Position, wie auch die Reflexionsverhältnisse der Laserstrahlen, sind in diesem Fall in Fig. 4 gestrichelt dargestellt. Es leuchtet ein, dass somit die Verdrehwinkel der Laserdioden 24a und 24b im Moment, wo deren Strahlen von den Empfangsdioden 25a und 25b erfasst werden, gegenüber der vorherigen Situation verschieden sind. Durch Auswertung der Winkelstellungen der beiden Laserdioden, bei denen eine Reflexion eintritt, und durch kontinuierliches Verdrehen des Bauelementes 20, gegebenenfalls in beiden Richtungen nacheinander, lässt sich nach ebenfalls bekannten mathematischen Gesetzen diejenige Position des Bauelementes bestimmen, in der es eine genau parallele Lage zu den Seiten 21a - 21d des Rahmens einnimmt.
  • In den Figuren 5 und 6 ist ein weiteres Ausführunsbeispiel der Lageerfassungs-Einrichtung 15 dargestellt, das ebenfalls mit berührungsloser Abtastung des Bauelementes 20 arbeitet. Die eine Rahmenseite 21c ist dabei mit einer Reihe von Strahlen aussendenden Elementen 26, z.B. mit Laserdioden ausgestattet. Deren Strahl ist scharf gebündelt und verläuft parallel zu den Rahmenseiten 21b und 21d. Auf der der Rahmenseite 21c gegenüberliegenden Rahmenseite 21a ist eine entsprechend angeordnete Reihe von Empfangselementen 27, z.B. von lichtempfindlichen Dioden oder ähnlichen Halbleitern vorgesehen, in der Weise, dass jede der Laserdioden 26 einen Strahl auf eine zugeordnete Empfangsdiode 27 richtet.
  • Bei der Situation gemäss Figur 5 ist das Bauelemet 20 gegenüber der Zentrierachse N in X-Richtung nach rechts und in Y-Richtung nach unten verschoben, nimmt jedoch eine winkelgerechte, d.h. zu den Seiten 21 des Rahmens parallele Lage ein. Demzufolge empfangen eine Anzahl von linksseitigen Dioden 27 sowie eine Anzahl von rechtseitigen Dioden 27 die von den Laserdioden 26 ausgesandten Strahlen, währenddem die mittig gelegenen Empfangsdioden 27 keinen Strahl empfangen können, da sie im Schatten des Bauelementes 20 liegen. Das Verhältnis zwischen der Anzahl der linksseitigen und der rechtseitigen Empfangsdioden 27, die einen Strahl empfangen, bildet somit ein Mass für die Exzentrizität der Lage des Bauelementes 20 in X-Richtung. Zur Erfassung der Exzentrizität in Y-Richtung wird das Bauelement 20 um exakt 90 grad verdreht; in entsprechender Weise kann ein Mass für die Lageabweichung gewonnen werden. Diese beiden Messwerte werden im Steuergerät der Einrichtung verarbeitet, so dass ein bzw. mehrere Korrektursignale resultieren, die die Bewegung der Bauelemente-Transportvorrichtung und/oder der Werkstück-Haltevorrichtung beeinflussen.
  • Falls die Situation der Figur 6 vorliegt, d.h. falls das Bauelement 20 gegenüber der Achse M verdreht ist, empfängt nur eine geringere Anzahl der rechtseitig sowie der linksseitig gelegenen Empfangsdioden 27 einen von den Laserdioden 26 ausgehenden Strahl. Somit wird das Bauelement 20 solange um die Achse M verdreht, bis die Anzahl der einen Strahl empfangenden Dioden 27 maximal ist. Dadurch ist sichergestllt, dass das Bauelement 20 relativ zu den Rahmenseiten 21 eine parallele Lage einnimmt.
  • Eine weitere Ausfhhrungsmöglichkeit, die ebenfalls berührungslos arbeitet und die im wesentilichen eine Kombination der Aus führ ungen gemäss Figur 4 einerseits und gemäss Figuren 5 und 6 andererseits darstellt, ist in den Figuren 7 und 8 zu sehen. Die Lageerfassungs-Einrichtung 15 umfasst wiederum einen Rahmen mit den Seiten 21a - 21d, wobei die eine Seite 21a ähnlich wie bei der Ausführung gemäs Figuren 5 und 6 mit einer Reihe von Empfangsdioden 31 versehen ist. Die gegenüberliegende Seite 21c umfasst eine fest angebrachte Lichtquelle 30 in Form einer doppelten Laserdiode, deren Hälften 30a und 30b einen eng gebündelten Strahl in zwei diametral gegenüberliegende Richtungen aussenden. Die Strahlen verlaufen im wesentlichen parallel zur Rahmenseite 21c. Im Bereich der zur Rahmenseite 21c benachbart liegenden Ecken sind Reflexionselemente 28a und 28b, z.B. in Form von Spiegeln angebracht, die um eine Achse 29a bzw. 29b rotierbar sind. Die von den Hälften 30a und 30b der Laserdiode 30 ausgehenden Strahlen treffen auf die Spiegel 28a und 28b auf und werden gegen das Innere der Lageerfassungs-Einrichtung 15 reflektiert, wo sich das Bauelement 20 befindet.
  • Je nach Lage des Bauelementes 20, sei es in X- und Y-Richtung, sei es bezüglich einer Verdrehung um die Achse M, wie es in der Figur 8 zu sehen ist, werden mehr oder weniger der Empfangsdioden 31 von den durch die Laserdioden 30a und 30b ausgesandten und von den rotierenden Spiegeln 28a und 28b reflektierten Lichtstrahlen beaufschlagt. Das zweckmässigste Vorgehen wird wieder wie folgt sein: Das Bauelement 20, das sich in einer Lage gemäss Figur 8 betinden mag, wird solange um die Achse M verschwenkt, bis dessen winkelgerechte Lage erkannt ist. Danach wird aus der Anzahl der linksseitig und der rechtseitig vom Lichtstrahl beaufschlagten Empfangsdioden innerhalb der Diodenzeile 31 auf eine allfällige Verschiebung in X-Richtung geschlossen und daraus ein X-Korrektursignal abgeleitet. Nun wird das Bauelement 20 um exakt 90 grad gedreht, eine allfällige Y-Abweichung wird erfasst und daraus ein Y-Korrektursignal gewonnen. Diese Korrektursignale werden, wie schon zuvor erwähnt, vom zentralen Steuergerät in dem Sinne verarbeitet, dass dadurch eine Nachregelung der Bewegung der Bauteile-Transportvorrichtung und/oder der Werkstück-Halteanordnung resultiert.
  • Es versteht sich von selbst, dass die beispielsweise beschriebenen Vorrichtungen und Anordnungen im Rahmen der Erfindung zahlreichen Modifikationen unterworfen sein können. Des weiteren ist es denkbar, die erfindungsgemässe Einrichtung nicht nur zur Positionierung von Bauelementen auf einem Leiterträger für elektronische Schaltungen zu verwenden, sondern bei jeglichem anderen Arbeitsvorgang, der die genaue Positionierung eines Bauteiles an einer vorgegebenen Position auf bzw. in einem Werkstück erfordert.
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Claims (17)

  1. PATENTANSPRUCHE 1. Einrichtung zur Positonierung von Bauteilen auf einem Werkstück, welche zumindest ein Bauteile-Magazin bzw. eine Bauteile-Magazingruppe, zumindest eine Bauteile-Transportvorrichtung mit einem Greiforgan zur Aufnahme eines Bauteiles sowie zumindest eine Werkstück-Halteanordnung zur Aufnahme mindestens eines Werkstückes umfasst, wobei die Bauteile-Transportvorrichtung zwischen dem Bauteile-Magazin bzw. der Bauteile-Magazingruppe und der Werkstück-Halteanordnung verschiebbar gelagert ist, dadurch gekennzeichnet, dass im Bereich des Verschiebeweges des Greiforgans der Bauteile-Transportvorrichtung eine Lageerfassungs-Einrichtung vorgesehen ist, welche die relative Lageabweichung eines vom Greiforgan der Bauteile-Transportvorrichtung getragenen Bauteiles gegenüber einer auf eine Zentrierachse durch das Greiforgan bezogenen Soll-Position misst, und dass ein mit der Lageerfassungs-Einrichtung und zumindest mit dem Antrieb der Bauteile-Transportvorrichtung verbundenes Steuergerät vorgesehen ist, welches den genannten Antrieb unter Berücksichtigung des Lageabweichungs-Messwertes beeinflusst.
  2. 2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Lageerfassungs-Einrichtung in zumindest annähernd konzentrischer Lage im Abstand oberhalb der Werkstück-Halteanordnung angeordnet ist.
  3. 3. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Lageerfassungs-Einrichtung in zumindest annähernd konzentrischer Lage an der Bauteile-Transportvorrichtung, unterhalb des Greiforganes, angeordnet ist.
  4. 4. Einrichtung nach Ansprüchen 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Lageerfassungs-Einrichtung einen Rahmen aufweist, durch welchen das mit dem Bauteil versehene Greiforgan der Bauteile-Transportvorrichtung hindurchbewegbar ist.
  5. 5. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1-4, dadurch gekennzeichnet, dass der Rahmen rechteckige bzw. quadratische Gestalt besitzt und entlang mindestens einer Rahmenseite mit Lageerfassungs-Organen versehen ist.
  6. 6. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1-5, dadurch gekennzeichnet, dass zumindest einzelne der Rahmenseiten mit einer längsverschiebbaren, sich im wesentlichen senkrecht zur Rahmenseite erstreckenden, zumindest annähernd in der Mitte der Rahmenseite angeordneten Lageerfassungs-Nadel versehen sind, die unter Einfluss eines Antriebs- und Messorganes stehen, welches die Nadel gegen die Mitte des Rahmens zu verschieben bestimmt ist und welche das Mass der Verschiebung der Nadel misst.
  7. 7. Einrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Antriebs- und Messorgane mit dem Steuergerät der Einrichtung in Wirkungsverbindung stehen.
  8. 8. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1-5, dadurch gekennzeichnet, dass im Bereich zweier gegenüberliegender Ecken des Rahmens je ein zu einer zumindest um 90 grad verschwenkbaren Bewegung antreibbares, einen durch das Bauteil reflektierbaren Strahl aussendendes Element und im Bereich der beiden anderen, gegenüberliegenden Ecken des Rahmens je ein den genannten Strahl empfangendes Element vorgesehen ist.
  9. 9. Einrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass die die Strahlen aussendenden Elemente um 360 grad rotierbar sind.
  10. 10. Einrichtung nach den Ansprüchen 8 oder 9, dadurch gekennzeichnet, dass die die Strahlen aussendenden Elemente sowie die die Strahlen empfangenden Elemente an das Steuergerät der Einrichtung angeschlossen sind.
  11. 11. Einrichtung nach einem der Ansprüche 8-10, dadurch gekennzeichnet, dass die die Strahlen aussendenden Elemente Laserdioden und die die Strahlen empfangenden Elemente lichtempfliche Halbleiterelemente sind.
  12. 12. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1-5, dadurch gekennzeichnet, dass zumindest entlang einer Rahmenseite eine Reihe von nebeneinander angeordneten, Strahlen aussendenden Elementen und zumindest entlang einer gegenüber dieser Rahmenseite liegenden Rahmenseite eine Reihe von nebeneinander angeordneten, die genannten Strahlen empfangenden Elementen vorgesehen sind.
  13. 13. Einrichtung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass die die Strahlen aussendenden Elemente Laserdioden und die die Strahlen empfangenden Elemente lichtempflindliche Halbleiterelemente sind, wobei jeder Laserdiode ein lichtempfindliches Halbleiterelement zugeordnet ist.
  14. 14. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1-5, dadurch gekennzeichnet, dass entlang mindestens einer Rahmenseite eine Reihe von nebeneinander angeordneten, lichtempflichen Empfangselementen vorgesehen ist, und dass in der Mitte der gegenüberliegenden Rahmenseite ein nach zwei diametral gegenüberliegenden Seiten Strahlen aussendendes Element sowie im Bereich der Enden dieser Rahmenseite zwei zu einer rotierenden Bewegung antreibbare B»-flexionselemente angeordnet ist bzw. sind.
  15. 15. Einrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, dass das genannte, Strahlen aussendende Element eine Doppel-Laserdiode ist, welche je einen Laserstrahl in einer im wesentlichen parallel zu dieser Rahmenseite verlaufenden Richtung zu den beiden als Spiegel ausgebildeten Reflexionselementen aussendet.
  16. 16. Einrichtung nach Anspruch 14 oder 15, dadurch gekennzeichnet, dass die lichtempfindlichen Empfangselemente durch Halbleiterelemente gebildet sind.
  17. 17. Einrichtung nach einem oder mehreren der Ansprüche 8-16, dadurch gekennzeichnet, dass die die Strahlen aussendenden Elemente sowie die die Strahlen empfangenden Elemente mit dem Steuergerät der Einrichtung in Wirkungsverbindung stehen.
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