DE3200006A1 - Verfahren und vorrichtung zur entnahme und zur spektralanalytischen untersuchung von metallischen proben - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zur entnahme und zur spektralanalytischen untersuchung von metallischen proben

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DE3200006A1
DE3200006A1 DE19823200006 DE3200006A DE3200006A1 DE 3200006 A1 DE3200006 A1 DE 3200006A1 DE 19823200006 DE19823200006 DE 19823200006 DE 3200006 A DE3200006 A DE 3200006A DE 3200006 A1 DE3200006 A1 DE 3200006A1
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Norbert 4504 Bad Iburg Henning
Winfried Dipl.-Phys. 4100 Duisburg Kiefer
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Kloeckner Werke AG
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/66Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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Description

  • Verfahren und Vorrichtung zur Entnahme und zur spektralana-
  • lytischen Untersuchung von metallischen Proben Die Erfindung betrifft Verfahren zur Entnahme und zur spektralanalytischen Untersuchung von metallischen Proben, die im flüssigen Zustand metallischen Schmelzen entnommen werden sowie Vorrichtungen zur Durchführung dieser Verfahren.
  • Unter metallischen Proben sind im folgenden zu verstehen: Roheisenproben, die als Löffelproben entnommen werden, ferner Tauchproben, die Konvertern, Elektroöfen, Induktionsöfen u. dgl. während der Stahlerzeugung entnommen werden sowie auch metallische Proben aus Nichteisenmetallen.
  • Metallische Proben sind bekanntlich bei der Erschmelzung erforderlich, um die Zusammensetzung der jeweiligen Charge bestimmen zu können. Bei der Stahlherstellung sind Proben erforderlich, um gegebenenfalls eine Temperaturkorrektur vornehmen oder noch gewisse Legierungsbestandteile zugeben zu können. Konverter müssen zu diesem Zweck in die Chargierstellung gebracht werden, anschließend werden mittels Tauchlanzen Tauchproben entnommen.
  • Diese metallischen Proben werden abgekühlt, anschließend wird ihre Oberfläche blank geschliffen und auf Haarrisse und Lunker geprüft. Bei einwandfreier Oberfläche werden diese Proben in Spektrographen spektralanalytisch untersucht, indem zwischen der Oberfläche einer Probe (Prüffläche? und einer Gegenelektrode Funkenspektren erzeugt werden, die auf ein Gitter abgebildet und ausgewertet werden. Die fntensitäten der Linien sind ein Maß für die Gewichtsanteile der einzelnen Komponenten in der Schmelze.
  • Das Abkühlen der Proben soll schnell erfolgen, damit keine Entmischung der Komponenten erfolgen kann, die zu einer falschen Analyse führt. Aus diesem Grunde werden Proben durch Eintauchen in ein Kühlmedium, im allgemeinen Wasser, abgekühlt bzw. abgeschreckt. Hierbei bilden sich durch den stets vorhandenen atmosphärischen Sauerstoff Zunderschichten. Eine spektralanalytische Untersuchung setzt jedoch voraus, daß zur einwandfreien Erzeugung und Abbildung eines Funkenspektrums die Prüfflächen eben und zunderfrei sind. Aus diesem Grunde müssen die herkömmlich gezogenen Proben zunächst abgeschliffen werden. Die abgeschliffenen blanken Oberflächen (Prüfflächen) werden anschließend einer visuellen Prüfung unterzogen. Damit das Funkenspektrum ordnungsgemäß auf das Gitter abgebildet wird, ist es weiterhin erforderlich, daß die Prüfflächen weder Haarrisse noch Lunker aufweisen. Vielfach sind jedoch die Haarrisse und Lunker so klein, daß sie auch vom Fachpersonal mit großer fachlicher Erfahrung übersehen werden können.
  • Ein visuelles Erkennen scheidet auch dann aus, wenn die Lunker dicht unterhalb der geschliffenen Fläche verlaufen, wobei ihr Abstand so gering sein kann, daß die Funkenentladungen durch die visuell einwandfreie Oberfläche in die Lunker durchschlagen können. Die Lunker können noch aus anderen Gründen zu einer fehlerhaften Analyse führen: Lunker entstehen bekanntlich dadurch, daß Proben Gasblasen enthalten können, die während des Abkühlens zu Hohlräumen führen. Während des Abkühlens können Gase chemische Reaktionen auslösen, wodurch das Analyseneryebnis ebenfalls verfälscht wird. Weiterhin kann die Lunkerbildung zur Folge haben, daß die lokale Materialzusammensetzung von der durchschnittlichen Zusammensetzung der Materialprobe abweicht, wodurch eine wesentliche Voraussetzung für die Durchführung einer ordnungsgemässen Analyse entfällt. Es ist deshalb eine große Erfahrung für die Beurteilung erforderlich, ob die spektralanalytischen Werte die Zusammensetzung der Schmelze anzeigen oder nicht.
  • Falls eine fehlerhafte Analyse nicht auszuschließen ist bzw.
  • eine fehlerhafte Analyse vorliegt, muß von neuem eine Probe gezogen und damit die gesamte Analyse wiederholt werden. Dieser Aufwand ist somit erheblich. Beim Konverterbetrieb ist eine mehrmalige Analyse darüber hinaus nicht möglich. Im allgemeinen stehen für die Analyse maximal 10 Minuten zur Verfügung, innerhalb derer die Probe zu ziehen, abzukühlen, zu schleifen und spektralanalytisch zu untersuchen ist.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde,- ein Verfahren zur Entnahme und zur spektralanalytischen Untersuchung von metallischen Proben, die im flüssigen Zustand metallischen Schmelzen entnommen werden, anzugeben, das eine eventuelle Wiederholung des gesamten Analysenganges, d. h. beginnend mit einer erneuten Probenentnahme, nicht erfordert.
  • Diese Aufgabe wird gemäß einem ersten Lösungsprinzip dadurch gelöst, daß während der Entnahme einer metallischen Probenmenge auf einem Probenträger mehrere Teilproben erzeugt werden, die Teilproben auf dem Probenträger nacheinander spektralanalytisch untersucht werden, die Analysenwerte der Teilproben miteinander verglichen und bei einer Abweichung der Aalysenwerte einiger Teilproben von den Analysenwerten der Mehrzahl der Teilproben die Analysenwerte dieser einigen Teilproben verworfen werden.
  • Gemäß einem zweiten Lösungsprinzip werden während der EntnAhme einer metallischen Probenmenge auf einem Probenträger mehrere Teilproben erzeugt, die Teilproben auf dem Probenträger gleichzeitig spektralanalytisch untersucht, die Analysenwerte der Teilproben miteinander verglichen, wobei bei Abweichung der Analysenwerte einiger Teilproben von den Analysenwerten der Mehr zahl der Teilproben die Analysenwerte dieser einigen Teilproben verworfen werden.
  • Erfindungswesentlich ist hierbei, daß auf dem Probenträger durch die Probenmenge während der Entnahme gleichzeitig mehrere Teilproben erzeugt werden, so daß hinsichtlich Zusamniensetzung und Entstehen für diese Teilproben die identischen Parameter vorliegen. Im Prinzip werden diese Proben dadurch erzeugt, daß erfindungsgemäß in dem in eine Schmelze eintauchenden Endabschnitt einer Lanze anstelle einer Tauchkokille als Probenträger eine Platte angeordnet ist, die mehrere durchgehende Bohrungen aufweist. Die in den Endabschnitt einströmende Probenmenge dringt in die Bohrungen ein und bildet Teilproben, die über die von der Schmelze abgewandten Seite des Probenträgers kuppenartig vorstehen können.
  • Dadurch, daß durch die metallische Probenmenge sehr kleine Proben erzeugt werden, kühlen diese Teilproben sehr schnell ab, so daß ein Entmischen der einzelnen Komponenten nicht stattfinden kann. Darüber hinaus kann diese Entnahme in einer inerten Atmosphäre erfolgen, so daß eine Zunderbildung auf der Oberfläche der Proben von vornherein vermieden wird bzw. ist die Zunderschicht derart dünn, das sie ohne weiteres von der Funkentladung durchschlagen wird. Der Probenträger mit den Teilproben wird in einem Spektrographen (Quantometer) angeordnet.und sukzessive derart bewegt, daß die Teilproben nach dem ersten Ausführungsprinzip nacheinander in die Abfunkposition zur Gegenelektrode des Quantometers gebracht werden und die Funkenentladung ausgelöst und auf einem Gitter abgebildet wird. Die Spektrallinien werden in an sich bekannter Weise ausgewertet und die Werte werden gespeichert. Nachdem sukzessive sämtliche Teilproben spektralanalytisch analysiert worden sind, werden die Analysenwerte miteinander verglichen. Falls innerhalb vorgegebener Toleranzwerte die Analysenwerte einer oder mehrerer Proben von der Mehrzahl der Proben abweichen, werden diese Analysenwerte im Speicher gelöscht und anhand der ermittelten verbleibenden Analysenwerte die entsprechenden Eingriffe beispielsweise im Konverterbetrieb vorgenommen. Der Probenträger ist im einfachsten Fall eine runde Scheibe, deren Bohrungen auf einem Kreis unter gleichen Winkelabständen angeordnet sind. Sie weist auf ihrer Unterseite im Bereich ihrer Achse eine Sackbohrung auf, in die die Welle z. B. eines Schrittmotors eingeführt wird, der die Teilproben in die Abfunkposition dreht. Gemäß dem zweiten Lösungsprinzip werden die Teilproben nicht nacheinander, sondern gleichzeitig analysiert. Zu diesem Zweck ist eine der Anzahl der Teilproben entsprechende Anzahl von Funkenstände vorgesehen, denen jeweils ein entsprechendes Gitter zugeordnet ist. Auf diese Weise ist es möglich, die spektralanalytische Untersuchung der Teilproben eines Probenträgers gleichzeitig vorzunehmen.
  • und die Analysenwerte über eine Vergleichseinrichtung alle miteinander zu vergleichen, wobei dann bei einer Abweichung der Analysenwerte einiger Teilproben von den Analysenwerten der anderen Teilproben diese Analysenwerte verworfen werden.
  • Gemäß dem zweiten Verfahrensprinzip ist es auch möglich, an den Teilproben eines Probenträgers gleichzeitig verschiedene spektralanalytische Untersuchungen vorzunehmen, indem beispielsweise an der einen Teilprobe der Kohlenstoffgehalt und an den anderen Mangan usw. bestimmt werden. In diesem Fall ist es jedoch erforderlich, daß diese Teilproben von vornherein einwandfreie Prüfflächen aufweisen. In einer walX teren Ausgestaltung der Erfindung werden deshalb bei der abgewandelten Durchführung dieses zweiten Verfahrensprinzips die Teilproben auf eine riss- und lunkerfreie Prüffläche hin untersucht, wobei anschließend die riss- und lunkerfreien Teilproben gleichzeitig spektralanalytisch untersucht werden.
  • In diesem Fall ist es dann vorteilhaft, falls fünf Funkenstände und Gitter vorgesehen sind, Probenträger zu verwenden die mehr als fünf Bohrungen zur Erzeugung von Teilproben auf weisen, damit nach dem Verwerfen von einer oder mehreren Teilproben die gesamte spektralanalytische Untersuchung erfindungsgemaß in einem Zuge durchgeführt werden kann.
  • Die Erzeugung der aufgrund ihrer Entnahme identischen Teilproben auf dem Probenträger erfolgt erfindungsgemäß dadurch, daß der Probenträger in einer Lanze angeordnet wird, diese in die metallische Schmelze eingetaucht wird, wobei dann die in die Lanze einströmende Probenmenge in die Bohrungen strömt und auf dem Probenträger die Teilproben erzeugt. Derartige Lanzen sind an sich bekannt und dienen zur Entnahme von Tauchproben mittels Tauchkokillen. Diese Lanzen weisen an ihrem in die Schmelze eintauchenden Endabschnitt eine Verschlußkappe auf, die durch die Schmelze aufgeschmolzen wird. Die Probenmenge strömt dann in die Tauchkokille, aus der dann die Tauchprobe entnommen, gekühlt und analysiert wird. Es zeigte sich jedoch, daß bei diesen Proben ein Entmischen nicht in allen Fällen auszuschließen ist. Die Einzelheiten sind noch nicht geklärt.
  • Erfindungsgemäß ist anstelle der Tauchkokille in dem Endabschnitt der Probenträger z. B.'in Form einer Scheibe angeordnet, die mehrere Bohrungen aufweist. Für die in den Endabschnitt der Lanze turbulent einströmende Probenmenge bildet der Probenträger zunächst eine starre Wand, durch dessen Bohrungen unter erheblichem Strömungswiderstand und in turbulenter Strömung ein Teil der Probenmenge einströmt und zum Teil im Bereich dieser Bohrungen auf dem Probenträger während des Zurückziehens der Lanze Teilproben in Form von kleinen Kuppen erzeugt. Hierbei kann die Anordnung des Probenträgers so erfolgen1 daß er nach dem Eindringen der Probenschmelze in die Bohrungen in der Lanze zurückgezogen wird, so daß er kurzzeitig in thermischem Kontakt mit der Probenmenge steht. Hierdurch wird erreicht, daß die Probenmengen sich sehr schnell abkühlen. In dem Falle, daß die Lanze mit einem Inertgas gespült wird, ist die Ausbildung von-Zunderschichten nicht möglich, so daß die Proben ohne weitere Behandlung auf dem Probenträger spektralanalytisch untersucht werden können. Der Probenträger kann beispielsweise aus einem Metall bestehen, das einen höheren Schmelzpunkt hat als die Schmelze. Bei Stahlbädern ist es beispielsweise möglich, Probenträger aus Wolfram zu verwenden. Statt dessen ist es auch möglich, den Probenträger aus einem Keramikmaterial herzustellen. Nach der Entnahme der Probenträger können die Kuppen soweit abgeschliffen werden, daß die Prüfflächen der Teilproben in der Oberfläche des Probenträgers liegen. Falls die Kuppen eine einheitliche Höhe aufweisen, ist ein Abschleifen zur Einhaltung definierter Abfunkbedingungen nicht erforderlich, falls sie im wesentlichen zunderfrei sind, d. h. eventueller Zunder von den Funken der Bogenentladung durchgeschlagen.wird.
  • Die Erfindung wird in der Zeichnung anhand von AusfUhrungsbeispielen erläutert. Es zeigen: Fig. 1 ein Ausführungsbeispiel eines Probenträgers in Draufsicht, Fig. 2 einen Schnitt gemäß der Linie II-II in Fig. 1, Fig. 3 schematisch im Schnitt eine Lanze mit einem Probenträger und Fig. 4 das Blockschaltbild eines Spektrographen mit mehreren Gegenelektroden und mehreren Gittern.
  • In Fig. 1 und 2 ist mit 1 ein als Scheibe ausgebildeter Probenträger bezeichnet, der vier durchgehende Bohrungen 2 aufweist, die unter 900 zueinander kranzartig auf einem KreiS angeordnet sind. Gemäß Fig. 2 weist der Probenträger auf seiner Unterseite einen Ansatz 3 mit einer Sachbohrung 4 auf.
  • Mittels dieser Sackbohrung wird der Probenträger auf die Achse 5 eines Schrittmotors gesetzt, der unterhalb eines Petry-Tisches eines Quantometers angeordnet ist und der die Teilproben nacheinander in die Abfunkposition zur Gegenelektrode dreht. Petry-Tisch, Quantometer und Gegenelektrode sind, da an sich bekannt, nicht dargestellt.
  • Fig. 3 zeigt einen Schnitt durch eine Lanze 7, in die ein Probenträger 1 derart eingesetzt ist, daß der Ansatz 3 in Richtung zu der an sich bekannten Verschlußkappe 8 zeigt, die in der Schmelze schmilzt, so daß die Probenmenge in die Lanze einströmt. Sie gelangt zum Probenträger und dringt in die Bohrungen 2 unter gleichzeitiger Erzeugung der Teilproben 9 ein. Der Probenträger wird der Lanze entnommen und auf die Achse des Schrittmotors gesetzt. Die Teilproben werden nacheinander spektralanalytisch untersucht. Die Meßwerte werden gespeichert und miteinander verglichen. Bei einer Abweichung der Analysenwerte einer Teilprobe von den Analysenwerten der anderen Teilproben werden die Analysenwerte dieser einen Teilprobe verworfen.
  • In Fig. 4 ist der Einfachheit halber ein Quantometer mit exfindungsgemäß drei Gittern 11, 12 und 13 sowie drei, jeweils einem Gitter zugeordnete Gegenelektroden dargestellt, die mit 14, 15 und 16 bezeichnet sind. Der nicht dargestellte Probenteller weist Teilproben 17, 18 und 19 auf, die sich in Abfunkposition zur jeweiligen zugeordneten Gegenelektrode befinden. Die Funkenspektren werden gleichzeitig erzeugt und über die nicht bezifferten Primärspalte auf die Gitter abgebildet, die jeweils auf einem Rowlandkreis angeordnet sind.
  • Auf dem jeweiligen Rowlandkreis ist jeweils eine Blende 20 bzw. 21 bzw. 22 mit nicht bezifferten Bohrungen angeordnet, über die auf ebenfalls nicht bezifferte Fotozellen die Spektrallinien abgebildet werden. Jeder Fotozelle ist ein Integrationsglied nachgeschaltet. Jedes Integrationsglied besteht im wesentlichen aus einem Kondensator, der während einer vorgegebenen Zeit durch den von der Fotozelle abgegebenen Strom aufgeladen wird. Nach dieser vorgegebenen Zeit wird der Kondensator von seiner zugeordneten Fotozelle getrennt, die 1adungsmenge bestimmt und ein dieser Ladungsmenge proportionales Ausgangssignal von dem Integrationsglied abgegeben. Diese Ausgangssignale werden ausgewertet und sind ein Maß für die Intensität der jeweiligen Spektrallinien. Die Werte für jede Teilprobe werden gespeichert. Die Werte jeder Teilprobe werden mit den Werten der anderen Teilproben verglichen. Bei einer Abweichung der Werte einer Teilprobe von den Werten der anderen Teilproben werden diese abweichenden Werte im Speicher gelöscht, d. h. die betreffende Teilprobe wird verworfen. Dadurch, daß gleichzeitig mehrere identische Teilproben analysiert werden, ist es nicht erforderlich, wenn eine oder zwei Teilproben hinsichtlich ihrer Werte mit den Werten der Mehrzahl der Teilproben nicht übereinstimmen. In Fig. 4 sind lediglich drei Gitteranordnungen dargestellt. In der Praxis wird so verfahren, daß im allgemeinen eine Gitteranordnung von fünf Gittern bzw. noch mehr gewählt wird. Es liegt im Rahmen der Erfindung, beispielsweise mit der in Fig. 4 dargestellten Anordnung von drei Gittern Probenträger mit z. B. sechs Teilproben zu untersuchen, wobei jeweils drei Teilproben gleichzeitig untersucht werden. In diesem Falle wird der Probenträger ebenfalls verschwenkbar angeordnet. Es liegt im Rahmen der Erfindung beide Verfahrensprinzipien miteinander zu kombinieren, indem beispielsweise mit einem Quantometere das in Fig. 4 drei Gitter aufweist, lediglich mit zwei Gittern gearbeitet wird.
  • Die erfindungsgemäßen Maßnahmen stellen sicher, daß im Konverterbetrieb die spektralanalytischen Analysen in extrem kurzer Zeit durchgeführt werden können, ohne daß gegebenenfalls eine nochmalige Probenentnahme erforderlich ist.

Claims (5)

  1. Verfahren und Vorrichtung zur Entnahme und zur spektralanalytischen Untersuchung von metallischen Proben Patentansprüche Verfahren zur Entnahme und zur spektralanalytischen Untersuchung von metallischen Proben, die im flüssigen Zustand metallischen Schmelzen entnommen werden, da du r c h gek e n n z e ich ne t, daß während der Entnahme einer metallischen Probenmenge auf einem Probenträger mehrere Teilproben erzeugt werden, die Teilproben nacheinander spektralanalytisch untersucht werden, die Analysenwerte der Teilproben miteinander verglichen und daß bei einer Abweichung der Analysenwerte einiger Teilproben von den Analysenwerten der Mehrzahl der Teilproben die Analysenwerte dieser einigen Teilproben verworfen werden.
  2. 2. Verfahren zur Entnahme und zur spektralanalytischen Untersuchung von metallischen Proben, die im flüssigen Zustand metallischen Schmelzen entnommen werden, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß während der Entnahme einer metallischen Probenmenge auf einem Probenträger mehrere Teilproben erzeugt werden, die Teilproben gleichzeitig spektralanalytisch untersucht werden, die Analysenwerte der Teilproben miteinander verglichen und daß bei einer Abweichung der Analysenwerte einiger Teilproben von den Analysenwerten der Mehrzahl der Teilproben die Analysenwerte dieser einigen Proben verworfen werden.
  3. 3 Verfahren zur Entnahme und zur spektralanalytischen Untersuchung von metallischen Proben, die im flüssigen Zustand einer metallischen Schmelze entnommen werden, d a du r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß während der Entnahme einer metallischen Probenmenge auf einem Probenträger mehrere Teilproben erzeugt werden, die Teilproben auf eine riss- und lunkerfreie Prüffläche hin untersucht werden und die riss- und lunkerfreien Teilproben gleichzeitig spektralanalytisch untersucht werden.
  4. 4 Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß zur Erzeugung der Teliproben ein in einer Lanze angeordneter Probenträger mit mehreren Bohrungen in die metallische Schmelze eingetaucht wird und die in die Lanze eintauchende Probenmenge in die Bohrungen strömt und auf dem Probenträger die Teilproben erzeugt.
  5. 5 Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1 g e k e n n z e i c h n e t d u r c h eine den Probenträger in Abfunkstellung der Teilproben zur Gegenelektrode verschwenkende Einrichtung.
    6o Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 2, gekennzeichnet durch mehrere Gegenelektroden und mehrere Gitter zur Erzeugung des Funkenspektrums mehrerer Teilproben.
DE19823200006 1982-01-02 1982-01-02 Verfahren und vorrichtung zur entnahme und zur spektralanalytischen untersuchung von metallischen proben Withdrawn DE3200006A1 (de)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3703928A1 (de) * 1987-02-09 1988-08-18 Franz Josef Bruening Funkenemissions-spektrometeranlage

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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DE3703928A1 (de) * 1987-02-09 1988-08-18 Franz Josef Bruening Funkenemissions-spektrometeranlage

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