DE3131232A1 - Halbleiter-ringlaservorrichtung - Google Patents
Halbleiter-ringlaservorrichtungInfo
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 32
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 20
- 238000003776 cleavage reaction Methods 0.000 claims description 17
- 230000007017 scission Effects 0.000 claims description 17
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 8
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 12
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 description 5
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 229910000980 Aluminium gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- 238000005265 energy consumption Methods 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 239000004568 cement Substances 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- CPBQJMYROZQQJC-UHFFFAOYSA-N helium neon Chemical compound [He].[Ne] CPBQJMYROZQQJC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009021 linear effect Effects 0.000 description 1
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 1
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 238000002207 thermal evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
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Description
J I ό IZJZ
Die Erfindung betrifft eine Halbleiter-Ringlaservorrichtung, welche ein Halbleiter-Laserelement und einen ringförmigen
Resonator mit einem ringförmigen optischen Pfad '5 umfaßt, der außerhalb des Laserelementes so angeordnet
ist, daß eine Ringlaser-Schwingung erzeugt wird.
Ein Halbleiter-Laserelement hat im Vergleich zu einem
Gaslaser oder dgl. Vorteile, wie beispielsweise sehr kleine
Größe, geringes Gewicht, niedrigen Energieverbrauch, hohen Wirkungsgrad, niedrige Kosten und andere, und deshalb
hat man kürzlich damit begonnen, das Halbleiter-Laserelement für eine optische Kommunikation, einen Laserdrucker,
eine Videoplatte und andere Vorrichtungen zu verwenden.
Auf dem Gebiet des Ringlaser-Gyroskops, das als Winkelgeschwindigkeit
sdetektor dient,.der in einer Trägheitsnavigationsvorrichtung
für ein Flugzeug oder dgl. verwendet wird, ist es aber bisher üblich, daß ein Helium-Neon-Laser
eine konkurrenzlose Stellung einnimmt und noch, kein Halbleiter-Laserelement verwendet worden ist.
Der Grund dafür liegt darin, daß bei einem herkömmlichen Halbleiter-Laserelement ein Wellenleiter in einer Kristallstruktur
des Laserelementes so angeordnet ist, daß er einen rechten Winkel zu einer Spaltebene der Kristallstruktur
bildet, so daß die Spaltebene als Spiegel dient
en β* eft ft ·
14* · 9 <l· q
ϊ ο e » · β · ι» *
und der sieh zwischen der vorderen und dazu parallelen hinteren Spaltebene erstreckende Wellenleiter so ausgebildet
ist, daß er ein optischer Fabry-Perot-Resonator wird, um eine Laserschwingung zu bewirken. Selbst wenn
ein ringförmiger optischer Pfad außerhalb dieses Laserelementes vorgesehen ist, kann folglich kein reiner ringförmiger
Oszillator gebildet werden, und daher kann kein sehr empfindlicher Winkelgeschwindigkcdtsdetektor erhalten
werden.
10
Gegenstand der Erfindung ist die Schaffung einer Halblei-
^ ter-Ringlaservorrichtung, welche im Vergleich zu einer
Gas-Ringlaservorrichtung Vorteile, wie zum Beispiel kleine
Größe, geringes Gewicht, niedrigen Energieverbrauch, hohen Wirkungsgrad, niedrige Kosten und andere aufweist
und welche beispielsweise zur Verwendung in einer Ringlaser-Gyroskopvorrichtung geeignet ist; die Vorrichtung
ist dadurch gekennzeichnet, daß ein Wellenleiter eines Halbleiter-Laserelementes so angeordnet ist, daß der Neigungswinkel
des Wellenleiters zur Normale auf eine Spaltebene des Laserelementes einen Brewster'sehen Winkel bilden
kann bezüglich des Wellenleitermediums und eines Mediums,
welches der Spaltebene benachbart ist, und daß ein ringförmiger optischer Pfad mit einem optischen System,
·*■■ 25 das eine Linse, einen Spiegel und andere Bauteile umfaßt,
außerhalb des Halbleiter-Laserelementes so angeordnet ist, daß ein ringförmiger Resonator gebildet wird.
Die Erfindung nutzt das Prinzip des Brewster'sehen Winkels,
Gemäß diesem Prinzip wird, wie in Figur 1 gezeigt, bei Einfall eines Strahls von einem Medium I (Brechungsindex
η-,) auf ein Medium II mit unterschiedlichem Brechungsindex (Brechungsindex iin), wenn der Einfallswinkel Θ. und
der üurchlasswinkel Θ, die Bedingung Θ. + &, = 90 Grad
erfüllen, der Einfallswinkel Θ. als Brewster'scher Winkel
bezeichnet, und es gilt tan Θ. = η,-,/η-,; in diesem Zustand
O i J I L O
• **■« β »«V φ R
' wird die linear polarisierte Welle des Strahls, deren
elektrischer Feldvektor parallel zur Einfallsebene liegt, völlig reflektionsfrei. Erfindungsgemäß ist daher in Anwendung
dieses Prinzips ein Wellenleiter eines Halbleiter-Laserelementes so angeordnet, daß der Neigungswinkel des
Wellenleiters zur Normale auf eine Spaltebene des Laserelementes einen Brewster'sehen Winkel bilden kann bezüglich
des Wellenleitermediums und eines Mediums, welches der Spaltebene benachbart ist, so daß eine linear polarisierte
Welle, deren elektrischer Feldvektor parallel zu einer p-n-tfbergangsebene liegt, an der Spaltebene über^-
haupt nicht reflektiert wird. Außerdem ist erfindungsgemäß ein ringförmiger optischer Pfad außerhalb des Laserelementes
so angeordnet, daß eine Ringlaserschwingung bewirkt wird.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nachfolgend anhand
der Zeichnungen erläutert. Es zeigt:
Figur 1 ein Diagramm; zur Erläuterune des Prinzips des
Brewster'sehen Winkels;
Figur 2 eine perspektivische schematische Ansicht zur Erläuterung des Aufbaus eines Ausführungsbeispiels
für ein Halbleiter-Laserelement; Figur 3 eine Draufsicht unter Auslassung von Teilen
auf das Halbleiter-Laserelement von Figur 2; und
Figuren k
bis 6 Diagramme zur Erläuterung des Aufbaus von Ausführungsbeispielen
für die Halbleiter-Ring
laservorrichtung.
Figur 2 zeigt ein Beispiel für ein Halbleiter-Laserelement,
Bezugszeichen 1 bezeichnet ein n-Ga-As-Substrat, Bezugszeichen 2 bezeichnet eine η-Α1χ -Ga1_χ -As-Überzugsschicht,
Bezugszeichen 3 ' bezeichnet einen n-Alv -Ga1 T -As-Wellenleiterbereich, Bezugszeichen /+
g g
« β ο *« β aea-
e* Ά η β β »a
5
eine aktive Alv -Ga1 Ύ -Schicht, und Bezugszeichen 5 be-
eine aktive Alv -Ga1 Ύ -Schicht, und Bezugszeichen 5 be-
Λ. »j ι "Ά -ι
zeichnet eine ρ-Al , -Ga1 τ, -As-Überzugsschicht,und diese
X2 l-A 2
Schichten 2,3» 4- und 5 bilden einen streifenförmigen Mesa-
Abschnitt, der so ausgebildet ist, daß er einen Brewster'
sehen Winkel θ~ bezüglich einer Normalen zu jeder Spaltebene 6 aufweist. Bezugszeichen 7 bezeichnet eine
n-AlY -Ga1 Y -As-Außenschicht» Bezugszeichen 8 bezeichnet
eine SiO5- Isolierschicht, welche den oberen Bereich der
ιυ Außenschicht 7 außer dem streifenförmigen Mesa-Abschnitt
bedeckt, Bezugszeichen 9 bezeichnet eine Cr-Au-Metallfilmelektrode,
welche in direktem Kontakt mit der Überzugsschicht 5 des streifenförmigen Mesa-Abschnitts steht und
die Isolierschicht 8 bedeckt, und Bezugszeichen 10 be- '·* zeichnet eine AuGeNi-Au-Metallfilmelektrode.
Dieses Element wird in einem Verfahren hergestellt, bei welchem die Überzugsschicht.2, der Wellenleiterbereich 3,
die aktive Schicht 4. und die Überzugs schicht 5 der Reihe
nach auf dem Substrat 1 gezogen werden durch ein herkömmliches
sequentielles Plüssigphasen-Aufwachsverfahren und dann der streifenförmige Mesa-Abschnitt der Elemente
2,3,4- und 5 durch Mesa-A'tzung gebildet wird. Indem wiederum
ein Flüssigphasen-(Epitaxial-)Aufwachsverfahren
verwendet wird, wird die Außenschicht 7 auf der oberen Fläche des Substrats 1 und auf den Seitenflächen des Mesa-Abschnitts
gezogen oder gezüchtet, und dann wird das SiO„
niedergeschlagen, um die obere Fläche der Außenschicht 7 außer der oberen Fläche des streifenförmigen Mesa- Ab-Schnitts
zu überdecken. Danach wird eine thermische Diffusion von Zn durch ein Fenster der SiO„-Schicht ausgeführt,
um die SiOp-Isolierschicht 8 zu bilden. Schließlich werden
die Metallschichten der Elektroden 9 und TO auf der
oberen und der unteren Fläche des Laserelementes durch eine Verdampfungsniederschlagsbehandlung gebildet. (Referenz:
K.Saito und R.Ito "Buried-Heterostructure AlGaAs Lasers", IEEE Journal of Quantum Electronics, Vol. 16,
p.p. 205-215, February 1980).
JIJI ZJZ
• «
' Wenn wie oben beschrieben der Wellenleiterbereich 3 bei
seiner Bildung so eingestellt wird, daß er einen Brewster1
sehen Winkel bezüglich der Normalen auf die Spaltebene 6 bildet, kann durch das herkömmliche Verfahren leicht ein
Halbleiter-Laserelement hergestellt werden, welches an seiner Spaltebene 6 keine Reflexionsfunktion aufweist.
Figur 3 ist eine schematische Ansicht eines Modells des Halbleiter-Laserelementes von Figur 2, von oben betrachtet;
in dieser Ansicht ist die p-n-Übergangsebene des Wellenleiters 3 als eine·zur Zeichenebene parallele Ebene
gezeigt.
Ein spezielles Beispiel für den Brewster'sehen Winkel 8^
wird folgendermaßen beschrieben: Wenn der Brechnungsindex des Wellenleiters eines AlGaAs-Laserelementes etwa 3,5
beträgt und der Brechungsindex des umgebenden Gaskörpers etwa 1,0 beträgt, dann gilt
ΘΒ = tan"1 1,0/3,5 ="16°
Figur 4- zeigt ein Ausführungsbeispiel der Erfindung. Bezugszeichen
11 bezeichnet das oben beschriebene Halbleiter-Laserelement, dessen Spaltebene 6 eine nichtreflektierende
Ebene geworden ist; das Laserelement 11 ist mit seiner oberen und seiner unteren Elektrode über einen
Widerstand 12 an eine elektrische Antriebsquelle 13 angeschlossen. Das Bezugszeichen 14- bezeichnet eine Linse,
Bezugszeichen 15 bezeichnet einen Spiegel und Bezugszeichen 15A bezeichnet einen Strahlteiler, und auf diese
Weise wird ein ringförmiger Resonator mit einem ringförmigen optischen Pfad 16 durch ein System dieser optischen
Teile gebildet. Ein Strahl 19 im Uhrzeigersinn und ein
Strahl 20 gegen den Uhrzeigersinn werden von dem Strahlteiler 15A abgenommen.
Wenn dieses Ausführungsbeispiel auf eine Ringlaser-Gyroskopvorrichtung
angewandt wird, wird diese so eingerichtet, daß der Strahl 19 im Uhrzeigersinn und der Strahl
β · α
δ β ο * ft *
»β β « β
BO 9 6
20 gegen äen Uhrzeigersinn, welche den Strahlteiler 1 5A
durchlaufen, unter Verwendung eines Prismas, eines Spiegels oder dgl. (nicht gezeigt) zusammengefügt werden
können und die Frequenzdifferenz der beiden Strahlen von
einem optischen Detektor (nicht gezeigt) als Sehwebungssignal einer Veränderung des optischen Ausgangssignals
abgenommen wird. - . - -
Wenn in Figur 4· einer oder mehrere der zwei Spiegel 15
und des einzelnen Strahlteilers' 15A durch ein Beugungsgitter
ersetzt werden, ist eine derartige vorteilhafte Wirkung zu erwarten, daß'die Einzelfrequenz-Wahleigenschaft
und die Polarisationsebenen-Lineareigenschaft verbessert werden,
.
Figur 5 zeigt ein anderes Ausführungsbeispiel. Bei diesem
wird der ringförmige optische Pfad durch ein optisches Faserglied 17 anstelle der Spiegel 15 in Figur U gebildet.
In jedem der Ausführungsbeispiele der Figuren k und 5
ist das Medium, welches der Spaltebene 6 benachbart sein soll, ein gasförmiger Körper, wie zum Beispiel Luft oder
dgl. Wenn eine ölgetränkte Linse oder dgl. anstelle der Linse 5 verwendet wird, wird ein Medium wie Öl, optischer
Zement oder dgl. in einen Raum zwischen dem Halbleiter-Laserelement und der Linse gefüllt, und in diesem Fall
muß der Neigungswinkel des Wellenleiters des Halbleiter-Laserelementes
so eingestellt werden, daß er den Brewster1 sehen Winkel entsprechend diesem Medium aufweist.
Figur 6 zeigt ein anderes Ausführungsbeispiel, bei welchem
das oben beschriebene Halbleiter-Laserelement 11 und das optische Faserteil 17 direkt miteinander verbunden
sind, ohne ein optisches System wie eine Linse oder dgl. einzufügen. Bei diesem Ausführungsbe1 spiel ist der Wellenleiter 3 des Halbleiter-Läserelementes 11 so eingestellt,
daß sein Neigungswinkel bezüglich der Normalen zu der
i J I Δ6Δ
Spaltebene 6 der Brewster'sehe Winkel &„ bezüglich des
Elementmediums und eines Kernes 18 des optischen Faserteiles 17 ist, und der Kern 18 des optischen Faserteiles
17, dessen Endfläche so geschnitten ist, daß sie den genannten Winkel aufweist, und poliert ist, ist direkt mit
dem Wellenleiter 3 verbunden. Auf diese Weise wird die polarisierte Welle, welche parallel zu# der p-n-Übergangsebene
ist, an der Verbindungsfläche völlig reflexionsfrei.
Wenn der Brechungsindex des Wellenleiters 3 des Halbleiter-Laserelementes
11 etwa 3,5 beträgt und der Brechungsindex des optischen Faserteiles 17 etwa 1,5 beträgt, ergibt
sich in diesem Fall folgender Brewster' scher Winkel 8R:'
ΘΒ = tan"1 1,5/3,5 = 23,2°
Das Halbleiter-Laserelement in diesem Ausführungsbeispiel kann leicht auf ähnliche Art wie oben hergestellt werden.
Der ringförmige optische Pfad, der aus dem optischen Faserteil 17 außerhalb des Halbleiter-Laserelementes 11 besteht,
bildet einen ringförmigen Resonator zum Bewirken einer Ringlaser-Oszillation und ist so angeordnet, daß
ein im Uhrzeigersinn laufender Strahl 19 und ein gegen den Uhrzeigersinn laufender Strahl 20 von beiden Enden
eines gebogenen Abschnitts 21 des optischen Faserteiles abgenommen werden.
Wenn eines der Ausführungsbeispiele der Figuren 5 und 6 für eine Ringlaser-Gyroskopvorrichtung verwendet wird,
ist diese ähnlich dem Fall des in Figur 4- gezeigten Beispiels so eingerichtet, daß der Strahl 19 im Uhrzeigersinn
und der Strahl 20 gegen den Uhrzeigersinn unter Verwendung eines Spiegels, eines Prismas oder dgl. (nicht gezeigt)
zusammengeführt werden können, s© daß der Frequenzunterschied der beiden Strahlen von einem ( nicht
gezeigten) optischen Detektor als Schwebungssignal einer
Veränderung des optischen Ausgangssignals abegnommen wird.
9 Φ ir
' Erfindüngsgcmäß ist also der Wellenleiterbereich des
Halbleiter-Laserelementes so angeordnet, daß sein Neigungswinkel
bezüglich der Normalen zu der Spaltebene des Laserelementes einen Brewster1sehen Winkel zwischen einem
Wellenleitermedium und einem Medium bilden kann, welches der Spaltebene benachbart ist, und der ringförmige Pfad
wird durch ein Sptisches System außerhalb des Halbleiter-Läserelementes
derart gebildet, daß es als ringförmiger - Resonator dient, so daß eine praktisch ausgezeichnete
Halbleiter-Ringlaservorrichtung erhalten werden kann, welche im-Vergleich zu einer Gas-Ringlaservorrichtung derartige
Vorteile aufweist wie kleine Größe, leichtes Gewicht, niedrigen Energieverbrauch, hohen Wirkungsgrad,
niedrige Kosten und andere und beispielsweise zur Verwendung
in einer Ringlaser-Gyroskopvorrichtung oder dgl. geeignet ist.
Der Patentanwalt
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Leerseite
Claims (2)
- 313123Dipl.-Ing. H. MITSCHERLICH *-*°-° %.: :..: \i-dao MÖNCHEN 22 Dipl.-Ing. K. GUNSCHMANN Steinsdorfstraße 10Dr. rer. not. W. KÖRBER * (°89)Dipl.-I ng. J. SCHMIDT-EVERSPATENTANWÄLTE 6 . Au gu S t 19P,1JeSeiichi ISHIZAKA1-3-1, Kasumigaseki, Chiyoda-ku, Tokyo / JAPAN undHONDA GIKEN KOGYO KABUSHIKI KAISHA27-8, 6-chome, Jingumae, Shibuya-ku, Tokyo / JAPANAnsprüche:My Halbleiter- Ringlaservorriehtung, dadurch gekennzeichnet, daß ein Wellenleiter (3) eines Halbleiter-Laserelemen tes (11) so angeordnet ist, daß der Neigungswinkel des ■15 Wellenleiters zur Normale auf eine Spaltebene (6) des Laserelementes einen Brewster'sehen Winkel bilden kann bezüglich des Wellenleitermediums und eines Mediums, welches der Spaltebene benachbart ist, und daß ein ringförmiger optischer Pfad mit einem optischen System, das eine Linse (14)» einen Spiegel (15) und andere Bauteile umfaßt, außer halb des Halbleiter-Laserelementes so angeordnet ist, daß ein ringförmiger Resonator gebildet wird.
- 2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein optisches Faserteil (17)·zum Aufbauen wenigstens eines Teiles des ringförmigen optischen Pfades (16) verwen det wird.
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8364 | No opposition during term of opposition | ||
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