DE3040138C2 - - Google Patents

Info

Publication number
DE3040138C2
DE3040138C2 DE19803040138 DE3040138A DE3040138C2 DE 3040138 C2 DE3040138 C2 DE 3040138C2 DE 19803040138 DE19803040138 DE 19803040138 DE 3040138 A DE3040138 A DE 3040138A DE 3040138 C2 DE3040138 C2 DE 3040138C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
memory
address
read
memory modules
inputs
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE19803040138
Other languages
English (en)
Other versions
DE3040138A1 (de
Inventor
Henner Dr.-Ing. 7257 Ditzingen De Schneider
Claus Juergen Dipl.-Ing. 7050 Waiblingen De Becherer
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Alcatel Lucent Deutschland AG
Original Assignee
Standard Elektrik Lorenz AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Standard Elektrik Lorenz AG filed Critical Standard Elektrik Lorenz AG
Priority to DE19803040138 priority Critical patent/DE3040138A1/de
Publication of DE3040138A1 publication Critical patent/DE3040138A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3040138C2 publication Critical patent/DE3040138C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/08Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
    • G06F11/10Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
    • G06F11/1008Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/08Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
    • G06F11/10Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
    • G06F11/1076Parity data used in redundant arrays of independent storages, e.g. in RAID systems
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/08Address circuits; Decoders; Word-line control circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/10Programming or data input circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C17/00Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
    • G11C17/14Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards in which contents are determined by selectively establishing, breaking or modifying connecting links by permanently altering the state of coupling elements, e.g. PROM
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C17/00Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
    • G11C17/14Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards in which contents are determined by selectively establishing, breaking or modifying connecting links by permanently altering the state of coupling elements, e.g. PROM
    • G11C17/18Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zum Programmieren einer Speicheranordnung aus mehreren Speicherbausteinen, wobei jeder Speicherbaustein mehrere in Zeilen und Spal­ ten angeordnete Speicherelemente aufweist, wobei
  • - die Speicherelemente zum Einschreiben von Daten durch eine als Adressenumformer ausgebildete Ansteuereinrich­ tung, entsprechend einer am Eingang der Ansteuereinrich­ tung anliegenden Adresse, zeilenweise und spaltenweise adressierbar sind, wobei
  • - der Adressenumformer mit Zeilenadresseneingängen der Speicherbausteine zum Ansteuern einer Zeile jedes Spei­ cherbausteines verbunden ist.
Es ist bereits eine Speicheranordnung bekannt (DE-OS 14 74 480), die Magnetdraht-Speicherelemente in 2 1/2 D Speicherorganisation aufweist. Solche bitorientierten Speicher weisen Speichermatrizen auf, die in Matrix- Zeilen und Matrix-Spalten angeordnet sind. Eine Ansteue­ rung einer Zeile des Speichers erfolgt über eine Treiber- Matrix, entsprechend einer angelegten Zeilenadresse und die Ansteuerung der zugehörigen Spaltenadresse erfolgt durch eine weitere Matrix die entsprechende Schalter zum Einschreiben eines Bits öffnet. Weiterhin ist es be­ kannt (US-PS 35 99 146), in einem Speicherbaustein mit wahlfreiem Zugriff (RAM) für die abzuspeichernden Daten ein jeweils zugehöriges Prüfbit abzuspeichern und zwar in einem Teilbereich des gleichen Speicherbausteins. Da­ bei wird das zugehörige Prüfbit aus der anliegenden Adresse für das einzuschreibende Datenwort mittels eines Prüfbitgenerators gewonnen.
Bekannte programmierbare Festwertspeicher sind in der Regel so ausgeführt, daß Daten oder Programme in die je­ weils adressierten Zeilen des Speichers eingeschrieben werden können. Vor der Programmierung enthalten sämtliche Speicherstellen des Festwertspeichers beispielsweise eine logische Eins. Bei der Programmierung werden die Speicher­ stellen, die einen anderen Zustand als eine logische Eins annehmen sollen, umprogrammiert, d. h. sie werden auf Null gesetzt. Die auf Null gesetzten Speicherstellen lassen sich nach der Programmierung nicht mehr einzeln umprogram­ mieren. Bei einem Teil der bekannten Festwertspeicher ist es allerdings möglich, sie z. B. durch Bestrahlen mit UV- Licht wieder in ihren ursprünglichen Zustand zu setzen (sog. EPROM).
Solche handelsüblichen PROM- oder EPROM-Speicherbausteine besitzen üblicherweise einen Freigabeeingang EN, um ein­ programmierte Daten zum Auslesen freizugeben.
Um die Daten eines umfangreicheren Programmes abspeichern zu können, werden mehrere derartige Festwertspeicher be­ nötigt. Die einzelnen Festwertspeicher sind i. a. byte­ orientiert, d. h. durch Anlegen einer Adresse wird eine bestimmte Zeit des Festwertspeichers zum Einschreiben oder Auslesen des darin abgelegten Bytes aktiviert. Bei bekannten Speicheranordnungen, die mehrere programmier­ bare Festwertspeicher enthalten, werden die einzelnen Festwertspeicher vor dem Zusammenfügen zu der Gesamt­ speicheranordnung jeweils getrennt programmiert. Jeder dieser einzelnen Festwertspeicher enthält damit eine bestimmte Anzahl von Wörtern, die einen Teil des gesamten abgespeicherten Programms darstellen. Da in jedem Fest­ wertspeicher unterschiedliche Programmteile abgespeichert sind, ist bei der Lagerhaltung der vor dem Bestücken pro­ grammierten Festwertspeicher eine besondere Sorgfalt er­ forderlich, um Verwechslungen zu vermeiden. Diese Sorg­ falt ist auch bei der späteren Bestückung der Leiter­ platten und bei Wartungs- und Reparaturarbeiten erforder­ lich.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Einrich­ tung zum Programmieren einer Speicheranordnung der ein­ gangs genannten Art zu schaffen, bei der das Programm oder die Daten in die aus einzelnen Festwertspeichern aufgebaute fertige Speicheranordnung eingeschrieben werden können.
Eine erfindungsgemäße Einrichtung der eingangs genannten Art ist dadurch gekennzeichnet,
  • - daß die Speicherbausteine byteorientierte Festwert- Speicherbausteine sind,
  • - daß der Adressenumformer zum Ansteuern einer Spalte jedes Speicherbausteins mit Adresseneingängen einer Reihe von 1-aus-8-Demultiplexern verbunden ist,
  • - daß je ein Demultiplexer mit den Dateneingängen eines Speicherbausteins verbunden ist, so daß jedes Bit eines in die Speicheranordnung einzuprogrammierenden Datenwortes in einen anderen der Festwert-Speicher­ bausteine eingeschrieben wird,
  • - daß der Adressenumformer mit Freigabeeingängen der Speicherbausteine verbunden ist, über die derjenige Speicherbaustein aktiviert wird, in den ein Bit ein­ zuprogrammieren ist,
  • - daß einer der Speicherbausteine über den zugeordneten 1-aus-8- Demultiplexer mit einer Prüfbitlogik verbunden ist und
  • - daß die Prüfbitlogik mit den Dateneingängen der anderen 1-aus-8-Demultiplexer verbunden ist und ein zu dem einzuschrei­ benden Datenwort gehörendes Prüfbit erzeugt, das in dem der Prüfbitlogik zugeordneten Speicherbaustein abge­ speichert wird.
Eine vorteilhafte Ausgestaltung der Erfindung ist dem Unteranspruch zu entnehmen.
Die Vorteile der Erfindung liegen insbesondere in der Verein­ fachung der Lagerhaltung und der Fertigung umfangreicher Fest­ wertspeicheranordnungen. Sie ist insbesondere für die sog. bit­ orientierte Speicherung geeignet, bei der die Information bit­ weise in die physikalischen Speicherbausteine eingeschrieben sind, da nunmehr die Notwendigkeit entfällt, die Daten zur Programmierung einzelner, i. a. byte- oder wortorientierter Speicherbausteine umzuformatieren. Erfindungsgemäß kann der gesamten Speicheranordnung die externe, normal formatierte Information angeboten werden.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird im folgenden anhand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigt
Fig. 1 eine Speicheranordnung und
Fig. 2 einen in der Speicheranordnung nach Fig. 1 verwendeten programmierbaren Festwertspeicher in schematischer Darstellung.
Die aus Fig. 1 ersichtliche Speicheranordnung enthält einen Adressenumformer AU und mehrere Reihen R 1, R 2, . . . von Fest­ wertspeichern, von denen lediglich die Festwertspeicher EP 0, EP 1, . . ., EP 8 der ersten Reihe R 1 im einzelnen dargestellt sind. Außerdem weist die Speicheranordnung mehrere Demultiplexer bzw. Decoder D 0 bis D 8 auf, die jeweils den Festwertspeichern EP 0 bis EP 8 zugeordnet sind. Durch eine Prüfbitlogik PB, wird jeweils zu einem über die Decoder D 0 bis D 7 in die Festwertspeicher EP 0 bis EP 7 einzuschreibenden Datenworts ein Prüfbit erzeugt, welches in dem Festwertspeicher EP 8 abgespeichert wird.
Jede der Reihen R 1, R 2, . . . besteht somit aus neun Festwert­ speichern, von denen die Festwertspeicher EP 0 bis EP 7 zur Aufnahme von Daten bestimmt sind, während der Festwertspei­ cher EP 8 zur Aufnahme von Prüfbits vorgesehen ist. Soll nun beispielsweise in den Festwertspeicher EP 1 eine Null einge­ schrieben werden, so wird sie an den Eingang des Decoders D 1 angelegt. Die Decoder D 0 bis D 8 sind ausgangsseitig jeweils über acht Leitungen mit den Spalten S 1 bis S 8 (vgl. Fig. 2) der Festwertspeicher EP 0 bis EP 8 verbunden. Jeder Decoder D 0 bis D 8 weist einen Adresseneingang AS auf, der mit dem Adressenumformer AU verbunden ist. An diese Adresseneingänge AS wird die Adresse der Spalte angelegt, in die ein Bit ein­ geschrieben werden soll. Da im Ausführungsbeispiel die einzelnen Festwertspeicher jeweils acht Spalten aufweisen, genügen drei Leitungen zum Übertragen der die jeweilige Spalte kennzeichnenden Adresse. Den Festwertspeichern EP 0 bis EP 8 wird über ihre Adresseneingänge AZ gleichzeitig mitgeteilt, in welche Zeile Z 1 bis Zn das Bit eingeschrieben werden soll. Zu diesem Zweck sind die Adresseneingänge AZ über elf Leitungen mit einer entsprechenden Anzahl von Aus­ gängen des Adreßumformers AU verbunden. Eine vom Adreß­ umformer AU über diese elf Leitungen übertragene Adresse wird sämtlichen Festwertspeichern gleichzeitig zugeführt. Dazu sind acht je mit einem Freigabeeingang EN eines Fest­ wertspeichers verbundene Auswahlleitungen vorhanden, über die der zu programmierende Festwertspeicher - z. B. der Festwertspeicher EP 1 - aktiviert werden kann.
Der Adreßumformer hat also die Aufgabe, eine an ihm ein­ gangsseitig anliegende Adresse so umzuformen, daß ausgangs­ seitig über die acht Auswahlleitungen ein bestimmter Fest­ wertspeicher EP 0 bis EP 7 zur Aufnahme eines Bits freigegeben wird. Als Freigabesignal kann dem Freigabeeingang EN des Festwertspeichers beispielsweise eine logische Eins zugeführt werden.
Weist die Speicheranordnung wie dargestellt mehrere Reihen R 1, R 2, . . . von Festwertspeichern auf so muß der Adreß­ umformer AU außerdem aus der an seinem Eingang anliegenden Adresse ein Freigabesignal ableiten, welches eine der Reihen R 1, R 2, . . . für die Aufnahme von Daten freigibt. Zu diesem Zweck ist er mit Auswahleingängen RS 1, RS 2, . . . verbunden, die ihrerseits zum Einschalten der zugehörigen, für die Aufnahme von Prüfbits vorgesehenen Festwertspeicher EP 8 mit deren Freigabeeingang EN verbunden sein können. Im dar­ gestellten Ausführungsbeispiel ist z. B. der Auswahleingang RS 1 der Reihe R 1 direkt mit dem Freigabeeingang EN des Fest­ wertspeichers EP 8 verbunden.
Mit der vorgenannten Speicheranordnung wird erreicht, daß ein an den Eingängen der Decoder D 0 bis D 7 anliegendes Datenwort so auf mehrere Festwertspeicher EP 0 bis EP 7 ver­ teilt wird, daß in jedem dieser Festwertspeicher nur ein Bit des Datenwortes abgespeichert wird. Diese Aufteilung auf mehrere Festwertspeicher hat in Verbindung mit dem intern erzeugten Prüfbit den Vorteil, daß beim späteren Auslesen ein Fehler der Daten erkannt werden kann. Wird nämlich beim Auslesen, welches analog wie das oben be­ schriebene Einspeichern von Daten erfolgt, einer der Fest­ wertspeicher falsch adressiert, so kann der entstehende Fehler anhand des Prüfbits festgestellt werden.
Zum Einschreiben der Daten wird der Adreßumformer AU ein­ gangsseitig mit einem in der Zeichnung nicht dargestellten handelsüblichen Programmiergerät verbunden. Die Festwert­ speicher EP 0, . . . EP 8 entsprechen der eingangs erwähnten Ausführung, d. h. sämtliche Speicherstellen weisen vor dem Programmieren eine logische Eins auf und können durch An­ legen einer logischen Null bitweise umprogrammiert werden. Die einzelnen Bits einer Zeile Z 1 bis Zn (Fig. 2) eines bekannten Festwertspeichers können in der Schaltungsanordnung einzeln nacheinander umprogrammiert werden.
Durch die erfindungsgemäße Programmiereinrichtung kann eine weitgehend selbsttätige Programmierung größerer Speicher­ einheiten vorgenommen werden. Durch eine derartige Pro­ grammierung fertig bestückter Speicheranordnungen werden Bestückungsfehler und der sonst für die Lagerhaltung unter­ schiedlich programmierter Festwertspeicher erforderliche Aufwand vermieden.

Claims (2)

1. Einrichtung zum Programmieren einer Speicheran­ ordnung aus mehreren Speicherbausteinen, wobei jeder Spei­ cherbaustein mehrere in Zeilen und Spalten angeordnete Speicherelemente aufweist, wobei die Speicherelemente zum Einschreiben von Daten durch eine als Adressenumformer ausgebildete Ansteuereinrichtung, entsprechend einer am Eingang der Ansteuereinrichtung anliegenden Adresse, zei­ lenweise und spaltenweise adressierbar sind, wobei der Adressenumformer mit Zeilenadresseneingängen der Speicher­ bausteine zum Ansteuern einer Zeile jedes Speicherbau­ steins verbunden ist, dadurch gekennzeichnet, daß die Speicherbausteine (EP 0, . . ., EP 8) byteorientierte Festwert-Speicherbausteine sind, daß der Adressenumformer (AU) zum Ansteuern einer Spalte jedes Speicherbausteins (EP 0, . . ., EP 8) mit Adres­ seneingängen (AS) einer Reihe von 1-aus-8-Demultiplexern (D 0 , . . ., D 8) verbunden ist, daß je ein Demultiplexer (D 0, . . ., D 8) mit den Dateneingängen eines Speicherbau­ steins verbunden ist, so daß jedes Bit eines in die Spei­ cheranordnung einzuprogrammierenden Datenwortes in einen anderen der Festwert-Speicherbausteine (EP 0, . . ., EP 7) eingeschrieben wird, daß der Adressenumformer (AU) mit Freigabeeingängen (EN) der Speicherbausteine verbunden ist, über die derjenige Speicherbaustein aktiviert wird, in den ein Bit einzuprogrammieren ist, daß einer der Speicherbausteine (EP 8) über den zugeordneten 1-aus-8- Demultiplexer (D 8) mit einer Prüfbitlogik (PB) verbunden ist und daß die Prüfbitlogik (PB) mit den Dateneingängen der anderen 1-aus-8-Demultiplexer (D 0, . . ., D 7) verbun­ den ist und ein zu dem einzuschreibenden Datenwort ge­ hörendes Prüfbit erzeugt, das in dem der Prüfbitlogik (PB) zugeordneten Speicherbaustein (EP 8) abgespeichert wird.
2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Speicheranordnung mehrere Reihen (R 1, R 2, . . . ) von Festwert-Speicherbausteinen (EP 0, . . ., EP 8) aufweist und daß ein Auswahleingang (RS 1, RS 2, . . .) je­ der Reihe mit dem Adressenumformer (AU) verbunden ist, so daß entsprechend der am Eingang des Adressenumformers (AU) anliegenden Adresse jeweils eine Reihe von Festwert- Speicherbausteinen (EP 0, . . ., EP 8) angesteuert wird.
DE19803040138 1980-10-24 1980-10-24 Speicheranordnung mit programmierbaren festwertspeichern Granted DE3040138A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19803040138 DE3040138A1 (de) 1980-10-24 1980-10-24 Speicheranordnung mit programmierbaren festwertspeichern

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19803040138 DE3040138A1 (de) 1980-10-24 1980-10-24 Speicheranordnung mit programmierbaren festwertspeichern

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3040138A1 DE3040138A1 (de) 1982-05-13
DE3040138C2 true DE3040138C2 (de) 1987-06-04

Family

ID=6115107

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19803040138 Granted DE3040138A1 (de) 1980-10-24 1980-10-24 Speicheranordnung mit programmierbaren festwertspeichern

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE3040138A1 (de)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2531256A1 (fr) * 1982-07-28 1984-02-03 Faiveley Ets Circuit electronique a memoire notamment pour vehicule

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US403859A (en) * 1889-05-21 reeves
US3405399A (en) * 1964-06-16 1968-10-08 Sperry Rand Corp Matrix selection circuit
DE1296203B (de) * 1965-09-06 1969-05-29 Siemens Ag Nach dem Koinzidenzprinzip arbeitender Speicher
US3599146A (en) * 1968-04-19 1971-08-10 Rca Corp Memory addressing failure detection

Also Published As

Publication number Publication date
DE3040138A1 (de) 1982-05-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2008663C3 (de) Datenspeicher- und Datenspeicheransteuerschaltung
DE2913999C2 (de) Einrichtung zum Prüfen von Systemprogrammen numerischer Steuerungen für Werkzeugmaschinen
DE2364785C3 (de) Integrierter Halbleiterspeicher mit nach guten und defekten Speicherzellen sortierten Speicherzellen
DE2715751C3 (de) Speicheranordnung mit defekten Modulen
DE4234155A1 (de) Zeilenredundanzschaltung fuer eine halbleiterspeichervorrichtung
DE1906940A1 (de) Speicher mit Redundanz
DE1906940C3 (de)
DE3329022A1 (de) Datenspeichereinrichtung
DE60011035T2 (de) Verfahren zur logischen Aufteilung einer nichtflüchtigen Speichermatrix
DE19922786B4 (de) Halbleiterspeicher mit Testeinrichtung
DE3040138C2 (de)
DE19830362A1 (de) Halbleiterspeichervorrichtung
DE19924153B4 (de) Schaltungsanordnung zur Reparatur eines Halbleiterspeichers
DE102004027423A1 (de) Speicherschaltung mit redundanten Speicherbereichen
DE10146185B4 (de) Verfahren zum Betrieb eines Halbleiterspeichers und Halbleiterspeicher
EP0035772B1 (de) Mikroprogramm-Steuereinrichtung
DE3009317C2 (de) Hybrid-Assoziativspeicher
DE2242279B2 (de) Schaltungsanordnung zur Ermittlung von Fehlern in einer Speichereinheit eines programmgesteuerten Datenvermittiungssystems
DE2004934B2 (de) Speicheranordnung mit schaltungen zur fehlererkennung und fehlerkorrektur
DE4223532A1 (de) Schaltungsanordnung zum Prüfen der Adressierung wenigstens einer Matrix
DE10139724A1 (de) Integrierter Speicher mit Speicherzellen in mehreren Speicherzellenblöcken und Verfahren zum Betrieb eines solchen Speichers
WO1999054819A1 (de) Speicheranordnung mit redundanten speicherzellen und verfahren zum zugriff auf redundante speicherzellen
EP0766175B1 (de) Integrierter Halbleiterspeicher mit Redundanzspeicherzellen
DE3042789C2 (de)
EP1160669B1 (de) Integrierter Halbleiterspeicher mit redundanter Einheit von Speicherzellen

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee