DE3011499C2 - Spannungsprüfvorrichtung - Google Patents

Spannungsprüfvorrichtung

Info

Publication number
DE3011499C2
DE3011499C2 DE3011499A DE3011499A DE3011499C2 DE 3011499 C2 DE3011499 C2 DE 3011499C2 DE 3011499 A DE3011499 A DE 3011499A DE 3011499 A DE3011499 A DE 3011499A DE 3011499 C2 DE3011499 C2 DE 3011499C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
voltage
resistor
temperature
testing device
diode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE3011499A
Other languages
English (en)
Other versions
DE3011499A1 (de
Inventor
Isao Kameoka Kyoto Kai
Toshiyuki Kyoto Kobayashi
Yuichiro Nakagawa
Hideharu Nagaokakyo Kyoto Nakai
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Tateisi Electronics Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Omron Tateisi Electronics Co
Publication of DE3011499A1 publication Critical patent/DE3011499A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3011499C2 publication Critical patent/DE3011499C2/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • G01R19/16533Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the application
    • G01R19/16538Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the application in AC or DC supplies
    • G01R19/16542Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the application in AC or DC supplies for batteries
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R17/00Measuring arrangements involving comparison with a reference value, e.g. bridge
    • G01R17/10AC or DC measuring bridges
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/382Arrangements for monitoring battery or accumulator variables, e.g. SoC
    • G01R31/3835Arrangements for monitoring battery or accumulator variables, e.g. SoC involving only voltage measurements

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)

Description

30
Die Erfindung betrifft eine Spannungsprüfvorrichtung mit einer mit ihrer Eingangsdiagonalen mit der zu prüfenden Spannung zu verbindenden Brückenschaltung, die in drei Zweigen einen Widerstand und im vierten Zweig eine Halbleiterdiode aufweist und deren Ausgangsdiagonale mit den Eingängen eines (Comparators verbunden ist.
Es ist eine Spannungsprüfschalt'ing bekannt (DE-OS 18 09 857), bei der die drei Widerstände der Brückenschaltung gewöhnliche ohmsche Widerstände sind und die Halbleiterdiode eine Zener-Diode ist. Die bekannte Prüfschaltung arbeitet in der geforderten Weise nur, wenn der Sollwert der zu prüfenden Spannung über der Zener-Spannung liegt. Zener-Spannungen sind aber von der Größenordnung Volt, so daß die bekannte Prüfvorrichtung für das Prüfen kleiner Spannungen ausscheidet. Außerdem sind bei der bekannten Vorrichtung Temperaturänderungen der Brücke Anlaß zu Fehlmessungen.
Aufgabe der Erfindung ist es daher, eine Spannungsprüfvorrichtung der eingangs genannten Art zu schaffen, die für niedrige Spannungen besonders gut geeignet und unempfindlich gegenüber Temperaturschwankungen der Brücke ist.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die Halbleiterdiode bezüglich der Eingangsspannung in Durchlaßrichtung gepolt ist und der mit der Halbleiterdiode verbundene, bezüglich der Eingangsspannung parallel zu ihr liegende Widerstand ein temperaturabhängiger Widerstand mit negativem Temperaturkoeffizienten ist Mit der in Durchlaßrichtung gepolten Diode wird die Durchlaßkennlinie der Diode ausgenutzt, die ihren Knickpunkt, von dem ab die Spannung praktisch stromunabhängig ist, im Millivoltbereich hat. Auf diese Weise lassen sich auch kleine Spannungen, wie etwa diejenigen von kleinen Trockenbatterien, wie sie beispielsweise in elektronischen Thermometern Verwendung finden, gut prüfen, wobei das Vorsehen eines Widerstands mit negativem Temperaturkoeffizienten, also gleichem Temperaturgang wie die Diode, sicherstellt, daß Temperaturschwankungen der Brückenschaltung das Meßergebnis allenfalls in weitaus geringerem Maße beeinflussen als bei Verwendung gewöhnlicher, im wesentlichen iemperaturunabhängiger Widerstände in allen übrigen Zweigen der Brücke.
Gemäß einer bevorzugten Ausgestaltung der Erfindung ist vorgesehen, daß zwischen dem temperaturabhängigen Widerstand und dem damit bezüglich der Eingangsspannung in Reihe liegenden Widerstand ein Regelwiderstand vorgesehen ist, dessen beweglicher Kontakt den einen Anschluß der Ausgangsdiagonale bildet Mit diesem Regelwiderstand läßt sich die Grenzspannung an der Eingangsdiagonale einstellen, von der ab sich die Potentialverhältnisse an der Ausgangsdiagonale umkehren.
Zur Verbesserung der Linearität der Temperaturcharakteristik ist gemäß einer weiteren bevorzugten Ausgestaltung der Erfindung im Zweig des temperaturabhängigen Widerstands diesem ein Widerstand parallel geschaltet
Ausführungsformen der Erfindung werden im folgenden in Verbindung mit der beigefügten Zeichnung beschrieben. Auf dieser zeigt
F i g. 1 ein Blockschaltbild eines elektronischen Thermometers mit einer Spannungsprüfvorrichtung gemäß der Erfindung, und
F i g. 2 eine verbesserte Schaltung gegenüber der in F i g. 1 gezeigten Spannungsprüfvorrichtung.
Die Erfindung wird im folgenden am Beispiel eines elektronischen klinischen Thermometers erläutert. Es ist jedoch zu beachten, daß sich die Anwendung der Spannungsprüfvorrichtung gemäß der Erfindung nicht auf Thermometer beschränkt.
Gemäß F i g. 1 umfaßt ein elektronisches Thermometer zur Bestimmung der Körpertemperatur eine Temperaturfühlschaltung 1, einen Analog-Digitalwandler 2 zur Umwandlung eines durch die Schaltung 1 erzeugten analogen Signals in ein Digitalsignal, eine Treiberschaltung 3, eine Digitalanzeige 4, eine Spannungsquelle 5 und eine Spannungsprüfvorrichtung 100. Die Spannungsquelle 5 besteht beispielsweise aus zwei Trockenbatterien, von denen jede eine Anfangsspannung von ungefähr 1,6 V hat. Die Spannungsprüfvorrichtung 100 besteht aus einer Brückenschaltung und einem Komparator 10. Die Brückenschaltung besteht aus vier Armen: einem ersten Widerstand 6, einem temperaturempfindlichen Widerstand 7, beispielsweise einem Thermistor mit negativer Temperaturcharakteristik, einem zweiten Widerstand 8 und einer Halbleiterdiode 9, die eine Siliziumdiode sein kann. Eine Diagonale mit oberem Anschluß A und unterem Anschluß B ist mit der Spannungsquelle 5 verbunden. Eine weitere Diagonale mit einem linken Anschluß C und einem rechten Anschluß D ist mit dem Komparator 10 verbunden. Das Ausgangssignal des Komparators 10 wird als Inhibierungssignal auf die Treiberschaltung 3 gegeben. Der Thermistor 7 hat einen negativen Temperaturkoeffizienten, so daß seine Temperaturcharakteristik, wie im folgenden noch erwähnt, ähnlich derjenigen der Halbleiterdiode 9 ist.
Im folgenden wird nun die Arbeitsweise obiger Schaltung dargelegt. Die die Körpertemperatur abfühlende Fühlvorrichtung 1 gibt ein Signal auf den Analog-Digitalwandler 2, der seinerseits das Analogsi-
gnal in ein Digitalsignal umwandelt und dieses auf die Treiberschaltung 3 gibt Die Treiberschaltung 3 verstärkt dann das Digitalsignal, und die Anzeige 4 zeigt mit Erhalt des verstärkten Signals von der Treiberschaltung 3 die abgefühlte Temperatur an. Obiger Vorgang dauert an, solange die Spannung der Spannungsquelle 5, die beispielsweise 3,2 Volt betragen kann, über einem bestimmten Wert liegt, der beispielsweise 2,8 Volt sein kann. Die Treiberschaltung 3 hört jedoch auf zu arbeiten, wenn am Komparator 10 ein Inhibierungssignal erzeugt wird, wobei dieses Inhibierungssignal erzeugt wird, wenn die Spannung der Spannungsquelle unter diesen bestimmten Wert fällt Die Spannungsquelle S gibt eine Spannung auf den zweiten Widerstand 8 und die damit in Reihe liegende Diode 9. Die Diode 9 ist in Durchlaßrichtung vorgespannt Der Durchlaß-Spannungsabfall Ober der Diode, d. h. die Referenzspannung für den Vergleich, ist eine Sättigungsspannung in Durchlaßrichtung, die ungefähr 0,6 V beträgt Der Spannungsabfall ist für jede gegebene Temperatur konstant, unabhängig von dem durch die Diode 9 gehenden Strom. Der Spannungsabfall nimmt jedoch mit zunehmender Temperatur mit einer Geschwindigkeit von ungefähr 2 mV/°C ab. Die Spannungsquelle 5 gibt ihre Spannung auch auf den ersten Widerstand 6 und den damit in Reihe geschalteten Thermistor 7. Die Widerstandswerte für den Widerstand 6, den Widerstand 8 und den Thermistor 7 sind so gewählt, daß im Anfangszeitpunkt der Verwendung der Trockenbatterien 5 der Spannungsabfall am Widerstand 7 geringfügig größer als der Spannungsabfall über der Diode 9 ist Im vorliegenden Beispiel sind gewählt der Widerstand 6:24 Kiloohm, der Widerstand 8: 24 Kiloohm und der Thermistor 7:3 Kiloohm bei 25° C.
Das Inhibierungssignal aus dem Komparator 10 wird nicht erzeugt wenn das Potential am Anschluß C bzw. der Spannungsabfall über dem Thermistor 7 gleich oder größer als das Potential am Anschluß D bzw. der Spannungsabfall über der Diode 9 ist. Selbst wenn die Umgebungstemperatur schwankt, ändert sich wegen der Gleichheit der Temperaturcharakteristik von Thermistor 7 und Diode 9 die Potentialdifferenz zwischen den Anschlüssen Cund D nicht es sei denn, die Spannung der Trockenbatterien ändert sich. Die Spannung der Trockenbatterien 5 nimmt mit zunehmender Einsatzdauer allmählich ab. Der Strom durch die Diode 9 und den Widerstand 8 nimmt mit der Spannung der Trockenbatterien 5 ab. Der Spannungsabfall an der Diode 9 bleibt jedoch konstant auch wenn die Spannung der Spannungsquelle abnimmt Andererseits nimmt mit abnehmender Spannung der Trockenbatterien 5 auch der Strom durch Thermistor 7 und Widerstand 6 ab, so daß der Spannungsabfall am Thermistor 7 mit abnehmender Spannung der Spannungsquelle abnimmt Wenn der Spannungsabfall am Thermistor 7 niedriger als der Spannungsabfall an der Diode 9 wird, erzeugt der Komparator 10 ein Ausgangssignal, das die Treiberschaltung 3 und damit die Anzeige 4 inhibiert
Fig.2 zeigt eine verbesserte Schaltung der Spannungsprüfvorrichtung gemäß der Erfindung, die praktischer ist als die Schaltung der F i g. 1. Gleiche Elemente in den F i g. 1 und 2 sind mit gleichen Bezugszeichen versehen. In F i g. 2 ist ein Regelwiderstand 61 mit dem Widerstand 6 in Reihe geschaltet und ein Widerstand 71 zum Widerstand 7 parallel geschaltet Der Widerstand 61 dient zur Einstellung der Schwellenspannung zwischen den Anschlüssen C und D bzw. der Differenz der Spannungsabfälle von Diode und temperaturabhängigem Widerstand. Der Regelwiderstand 61 hat einen beweglichen Kontakt, der dem linken Anschluß Cder in F i g. 1 gezeigten Ausführungsform entspricht Der Widerstand 71 dient dazu, die Linearität der Temperaturcharakteristik zu verbessern. Bei der vorliegenden Ausführungsform haben die Elemente folgende Werte:
Widerstand 6 Widerstand 8 Thermistor 7 Widerstand 71
24 Kiloohm 24 Kiloohm
3 Kiloohm (bei 25° C)
3,6 Kiloohm
Aus obiger Beschreibung ergibt sich, daß das beschriebene klinische Thermometer von den Nachteilen bekannter Thermometer insofern frei ist, als eine auf gealterte Batterien zurückgehende fehlerhafte Temperaturanzeige verhindert ist. Der Benutzer des Thermometers wird auf die Alterung der Batterien hingewiesen, weil die Anzeige 4 dann nichts mehr wiedergibt Mit anderen Worten, das Thermometer zeigt keine fehlerhaften Temperaturen an. Es liegt auf der Hand, daß die Spannungsprüfvorrichtung gemäß der Erfindung auf viele andere elektrische Vorrichtungen anwendbar ist, die einige Trockenbatterien geringer Kapazität and niedriger Spannung verwenden.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (3)

Patentansprüche:
1. Spannungsprüfvorrichtung mit einer mit ihrer Eingangsdiagonalen mit der zu prüfenden Spannung zu verbindenden Brückenschaltung, die in drei Zweigen einen Widerstand und im vierten Zweig eine Halbleiterdiode aufweist und deren Ausgangsdiagonale mit den Eingängen eines !Comparators verbunden ist, dadurch gekennzeichnet, daß die Halbleiterdiode (9) bezüglich der Eingangsspannung in Durchlaßrichtung gepolt ist und der mit der Halbleiterdiode verbundene, bezüglich der Eingangsspannung parallel zu ihr liegende Widerstand ein temperaturabhängiger Widerstand (7) mit negativem Temperaturkoeffizienten ist
2. Spannungsprüfvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen dem temperatjrabhängigen Widerstand (7) und dem damit bezüglich der Eingangsspannung in Reihe liegenden Widerstand (6) ein Regelwiderstand vorgesehen ist, dessen beweglicher Kontakt den einen Anschluß der Ausgangsdiagonale bildet
3. Spannungsprüfvorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß im Zweig des temperaturabhängigen Widerstands (7) diesem ein Widerstand (71) parallel geschaltet ist
DE3011499A 1979-06-28 1980-03-25 Spannungsprüfvorrichtung Expired DE3011499C2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1979089576U JPS567071U (de) 1979-06-28 1979-06-28

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3011499A1 DE3011499A1 (de) 1981-01-08
DE3011499C2 true DE3011499C2 (de) 1982-10-14

Family

ID=13974621

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE3011499A Expired DE3011499C2 (de) 1979-06-28 1980-03-25 Spannungsprüfvorrichtung

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JPS567071U (de)
DE (1) DE3011499C2 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4241523A1 (de) * 1992-12-10 1994-06-16 Edag Eng & Design Ag Batterie-Überwachungsschaltung

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4422992C1 (de) * 1994-06-30 1995-06-29 Siemens Ag Verfahren zum Prüfen eines batteriebetriebenen, elektronischen Gerätes auf ausreichende Versorgungsspannung
JP2015040773A (ja) * 2013-08-22 2015-03-02 独立行政法人産業技術総合研究所 電圧検出回路

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1809857A1 (de) * 1968-11-15 1970-06-04 Licentia Gmbh Anordnung zur Erfassung eines bestimmten Gleichspannungswertes

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4241523A1 (de) * 1992-12-10 1994-06-16 Edag Eng & Design Ag Batterie-Überwachungsschaltung

Also Published As

Publication number Publication date
JPS567071U (de) 1981-01-22
DE3011499A1 (de) 1981-01-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3007142C2 (de) Halbleiter-Druckaufnehmervorrichtung mit Nullpunkt-Temperaturkompensation
DE2522437A1 (de) Temperaturmesswertwandler
EP0528784B1 (de) Verfahren zur Bestimmung einer Messgrösse
DE2917237C2 (de)
EP0106345A2 (de) Mess- und Linearisierungsschaltung für einen kapazitiven Messfühler
DE69820043T2 (de) Vorrichtung zur druckmessung
DE2518890A1 (de) Linearisierungsvorrichtung
DE3011499C2 (de) Spannungsprüfvorrichtung
DE1648873A1 (de) Feuchtigkeitsmessvorrichtung
DE3200353A1 (de) Verfahren und schaltungsanordnung, insbesondere zur temperaturmessung
DE3043053C1 (de) Schaltungsanordnung zur Auswertung von Signalen
DE102020100675A1 (de) Kapazitiver Drucksensor mit Temperaturerfassung
EP0667509A2 (de) Temperaturkompensation bei Massenstromsensoren nach dem Prinzip des Hitzdraht-Anemometers
EP0129132B1 (de) Messeinrichtung zur Erfassung einer Temperaturdifferenz
DE3016775C2 (de) Temperaturnachweissschaltung
DE2755211A1 (de) Anordnung zur direkten messung hydrostatischer druecke
DE4015042A1 (de) Vorrichtung zur analog-digital-wandlung einer messgroesse, die von in brueckenschaltung angeordneten sensoren erzeugt wird, insbesondere von dehnungsmessstreifen in einer waegezelle
DE2158269C3 (de) Schaltung zum Umformen von Widerstandswerten in Stromwerte
DE858023C (de) Verfahren zur temperaturkompensierten Messung von PH -Werten od. dgl.
DE2048918A1 (de) Nichtlinearer Gleichspannungsver starker
DE1573387C (de) Temperatur Meßgerat
DE1616049C (de) Schaltung zum Umwandeln einer als elektrische Widerstandsänderung abgebildeten physikalischen Meßgröße in einen dieser umgekehrt proportionalen Strom
DE2412969C3 (de) Schaltungsanordnung zum Umwandeln des Widerstandswertes eines Meßwiderstandes und insbesondere eines Widerstandsthermometers in einen proportionalem Stromwert
DE2711774A1 (de) Messgeraet zum automatischen messen des widerstandes und der erwaermung von widerstandsbehafteten elektrischen bauelementen
DE1811521C3 (de) Schaltungsanordnung für die Messung des Querschnittes von Erzeugnissen der Textilindustrie

Legal Events

Date Code Title Description
OAP Request for examination filed
OD Request for examination
D2 Grant after examination
8339 Ceased/non-payment of the annual fee