DE3010814A1 - Vielstrahllinse zur erzeugung mehrerer korpuskularstrahlsonden - Google Patents

Vielstrahllinse zur erzeugung mehrerer korpuskularstrahlsonden

Info

Publication number
DE3010814A1
DE3010814A1 DE19803010814 DE3010814A DE3010814A1 DE 3010814 A1 DE3010814 A1 DE 3010814A1 DE 19803010814 DE19803010814 DE 19803010814 DE 3010814 A DE3010814 A DE 3010814A DE 3010814 A1 DE3010814 A1 DE 3010814A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
lens
plates
magnetic
writing device
electron beam
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19803010814
Other languages
English (en)
Inventor
Klaus Dipl.-Ing. Anger
Jürgen Dipl.-Ing. Frosien
Burkhard Prof. Dr. 1000 Berlin Lischke
Erich Dr. 8000 München Plies
Klaus Dipl.-Ing. 1000 Berlin Tonar
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE19803010814 priority Critical patent/DE3010814A1/de
Publication of DE3010814A1 publication Critical patent/DE3010814A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y10/00Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y40/00Manufacture or treatment of nanostructures
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J3/00Details of electron-optical or ion-optical arrangements or of ion traps common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
    • H01J3/14Arrangements for focusing or reflecting ray or beam
    • H01J3/20Magnetic lenses
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/30Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
    • H01J37/3002Details
    • H01J37/3007Electron or ion-optical systems
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/30Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
    • H01J37/317Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects for changing properties of the objects or for applying thin layers thereon, e.g. for ion implantation
    • H01J37/3174Particle-beam lithography, e.g. electron beam lithography
    • H01J37/3177Multi-beam, e.g. fly's eye, comb probe

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)

Description

  • Vielstrahllinse zur Erzeugung mehrerer Korpuskular-
  • strahlsonden Die Erfindung betrifft eine Vielstrahllinse zur gleichzeitigen Erzeugung mehrerer paralleler, auf eine Bildebene fokussierter Korpuskularstrahlsonden.
  • Eine derartige Linse ist aus der DE-OS 21 02 592 zur Erzeugung mehrerer paralleler Mikro-Ionenstrahlen bekannt. Dabei handelt es sich um eine elektrostatische Fliegenaugenlinse, die aus einer oder mehreren isoliert aufgebauten und elektrostatisch aufgeladenen Lochplatte(n) bestehen kann. Mit Hilfe dieser Mikro-Ionenstrahlen können auf einer Halbleiterscheibe (Wafer) viele identische Strukturen gleichzeitig geschrieben werden. Da ein Großteil der erzeugten Ionen im Monochromator herausgefiltert wird, ist die letztlich auf den Halbleiter gelangende Intensität so klein, daß es zu erheblichen Schreibzeiten kommt.
  • Es ist weiterhin bekannt, Elektronenstrahlen zur Erzeugung der für die Halbleiterherstellung notwendigen Strukturen zu verwenden. Die dazu verwendeten Geräte arbeiten in der Regel mit nur einem Strahl, d. h. nur einer Elektronensonde. Bei diesem Konzept können nur Bruchteile der von der Kathode emittierten Elektronen für die Strukturerzeugung verwendet werden, da es bei höheren Strahlstromdichten in Uberkreuzungsbereichen aufgrund der Wechselwirkung zwischen den Elektronen zu einer Energieverbreiterung und damit zu einer Auflösungsverschlechterung käme. Die Schreibzeiten sind daher ebenfalls sehr groß. Es ist bei derartigen Geräten auch schon eine elektrostatische Fliegenaugenlinse bekannt, durch die bei gleichbleibender Auflösung das ausgeleuchtete Gesichtsfeld auf dem Wafer beträchtlich vergrößert werden kann (Journal Vacuum Science Technology" 15 (3), 1978, Seiten 1035 bis 1038).
  • Durch die elektrostatischen Fliegenaugenlinsen wird bereits die parallele Benutzung sehr vieler Korpuskularstrahl sonden ermöglicht und damit die Schreibzeit gegenüber einer Einzelsonde herabgesetzt. Ganz allgemein besitzen aber elektrostatische Linsen große Linsenfehler.
  • Um mit ihnen eine bestimmte Auflösung erreichen zu können, muß die Apertur M der einzelnen Strahlbündel stark eingeschränkt werden. Hierdurch geht aber wieder sehr vit Intensität verloren, so daß das angestrebte Ziel einer schnelleren Strukturerzeugung auf einem Wafer nur teilweise erreicht wird.
  • Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine einfache Vielstrahloptik anzugeben, mit der die Intensität der einzelnen Sonden gesteigert und damit die gesamte Schreibzeit für einen Wafer erheblich verkürzt werden kann. Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch zwei parallele magnetische Platten mit mehreren koaxialen Bohrungen gelöst. Die magnetischen Platten sind dabei gemeinsam aufmagnetisiert. Jedes der Lochpaare bildet dann eine magnetische Einzellinse. Aufgrund der geringeren Linsenfehler magnetischer Linsen können größere Aperturwinkel und damit sehr viel höhere Intensitäten als bei vergleichbaren elektrostatischen Vielstrahllinsen erreicht werden. Eine besonders einfache Ausführung der magnetischen Vielstrahllinse ergibt sich dadurch, daß für die magnetischen Platten-Permanentmagnete vorgesehen sind.
  • Um gewisse Geräteschwankungen, beispielsweise Abstandsänderungen durch thermische Ausdehnungen, mit einer Änderung der Brennweite der Einzellinsen kompensieren zu können, ist in Weiterbildung der Erfindung vorgesehen, daß die Platten aus ferromagnetischem Material bestehen und die Polschuhe einer großen Magnetlinse bilden. Durch Änderung der Erregung der großen Magnetlinse läßt sich die Brennweite aller Einzellinsen gleichmäßig verändern.
  • In einer vorteilhaften Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, daß die Abstände zwischen den Platten über deren Querschnitt variiert sind. Damit wird ermöglicht, Flußänderungen über den Vielstrahllinsenquerschnitt und daraus resultierende Brennweitenvariationen der Einzellinsen auszugleichen. Beispielsweise läßt sich ein zu geringer magnetischer Fluß in der Mitte der Vielstrahllinse und damit eine zu lange Brennweite durch eine Verringerung der Spaltbreite korrigieren.
  • Die erfindungsgemäße Vielstrahllinse läßt sich vorteilhaft in einem Korpuskularstrahlschreiber zur Herstellung hochintegrierter Halbleiterschaltungen mit einer Korpuskelquelle und einem Kondensorlinsensystem zum Parallelisieren und Aufweiten des Korpuskularstrahls einsetzen, wenn zur Erzeugung eines großflächigen Parallelstrahlbündels eine Hybridlinse vorgesehen ist, in deren vordere Brennebene die Korpuskelquelle abgebildet ist.
  • Die Hybridlinse besteht aus einer stromerregten Wicklung, die von einem Eisenmantel umgeben ist. Der Eisenmantel überdeckt teilweise auch die Stirnflächen der Wicklung.
  • Das magnetische Feld dieser Linse wird in seiner Größe und seiner Form teilweise durch die Erregung der Wicklung und teilweise durch den Eisenmantel bestimmt. Im Gegensatz zu herkömmlichen Kondensorlinsen besitzt diese bekannte Hybridlinse kleinere Linsenfehler, so daß sich mit ihr ein großflächiges Bündel paralleler Elektronenstrahlen erzeugen läßt, ohne die Auflösung zu verschlechtem.
  • Um mit der Vielzahl der Korpuskularstrahlsonden gleichzeitig eine Vielzahl identischer Strukturen auf einem Wafer schreiben zu können, muß dieser relativ zu den Sonden verschoben werden. Aus der DE-OS 21 02 592 ist dazu eine rechnergesteuerte mechanische Verschiebung des Wafers vorgesehen. Aus der Zeitschrift "Journal Vacuum Science Technology", 15, 1978, Seiten 1035 bis 1038 ist für die elektrostatische Fliegenaugenlinse ein System aus gekreuzten Ablenkplatten bekannt, die für jede Einzellinse praktisch ein eigenes Ablenksystem darstellen.
  • Um zu identischen Ablenkwinkeln und damit identischen Verschiebungen auf dem Wafer zu gelangen, muß dieses elektrostatische Ablenksystem sehr genau und aufwendig justiert werden. Es darf während des Schreibvorganges keine Relativbewegung gegenüber der Fliegenaugenlinse, beispielsweise durch Erschütterungen, erfahren.
  • Eine vorteilhafte Vereinfachung besteht bei der erfindungsgemäßen Verwendung der magnetischen Vielstrahllinse in einem Korpuskularstrahlschreiber darin, daß ein Ablenksystem annähernd in der vorderen Brennebene einer in Strahlrichtung vor der Hybridlinse liegenden Kondensorlinse angeordnet ist. Durch dieses Ablenksystem wird das Bild der Korpuskelquelle in der vorderen Brennebene der Hybridlinse verschoben und damit der gesamte parallele Korpuskelstrahl gekippt. Sämtliche Einzelkorpuskularsonden werden dadurch auf dem Wafer um die gleiche Strecke in der gleichen Richtung verschoben.
  • Gegenüber Geräten mit nur einer einzelnen Elektronenstrahlsonde erhöht sich bei Verwendung der erfindungs- gemäßen Vielstrahllinse der Gesamtsondenstrom, d. h. die Summe der Sondenströme sämtlicher Einzellinsen, um mehrere Größenordnungen. In gleichem Maße reduziert sich die Schreibzeit. Durch die Verwendung von gleichzeitig mehreren hundert Sonden zum Schreiben kann die Schreibzeit beispielsweise für die Fläche eines Wafers mit mehreren cm Durchmesser auf ca. 1 min oder sogar Bruchteile davon verringert werden.
  • Anhand von 6 Figuren wird im folgenden die Erfindung näher beschrieben und erläutert sowie eine Abschätzung des Gesamtsondenstromes durchgeführt.
  • Fig. 1 zeigt dabei den prinzipiellen Aufbau einer magnetischen Vielstrahllinse.
  • Fig. 2 zeigt die gemeinsame Erregung der Linsenplatten über eine große Magnetlinse.
  • Fig. 3 zeigt eine andere Ausführungsform der magnetischen Vielstrahllinse mit variierter Spaltbreite.
  • Die Fig. 4 zeigt schematisch einen Elektronenstrahlschreiber, in dem die erfindungsgemäße Vielstrahllinse verwendet wird.
  • Anhand der Figuren 5 und 6 wird die Abschätzung der Auflösung, der Transparenz sowie des Gesamtsondenstromes durchgeführt.
  • In Fig. 1 sind mit 1 und 2 zwei magnetische, parallel zueinander ausgerichtete Platten im Schnitt dargestellt, die eine Reihe koaxialer Bohrungen 3 bis 6 aufweisen.
  • Jedes der durch die Bohrungen 3 bis 6 festgelegten Lochpaare bildet dann eine magnetische Einzellinse. Durch den Pfeil 7 ist beispielhaft die Richtung des magnetischen Flusses B angegeben. In diesem Ausführungsbeispiel können die beiden magnetischen Platten 1 und 2 aus Permanentmagneten aufgebaut sein.
  • Fig. 2 zeigt eine magnetische Vielstrahllinse, bei der die Magnetplatten 1 und 2 aus ferromagnetischem Material bestehen und als Polschuhe einer großen Magnetlinse 10 ausgebildet sind. Diese Magnetlinse 10 besitzt eine Wicklung 11 und einen diese Wicklung umschließenden Eisenmantel 12. Der Abstand der beiden Magnetplatten1 und 2 ist über ihren gesamten Querschnitt konstant.
  • Durch Änderung des Stromes in der Wicklung 11 kann die magnetische Erregung und damit die Magnetisierung der beiden Platten 1 und 2 geändert werden. Entsprechend ändert sich auch die Brennweite der Einzellinsen.
  • Fig. 3 zeigt, wiederum im Schnitt, ein magnetisches Plattenpaar 15 und 16, bei dem die untere Platte 16 mit der in den Figuren 1 und 2 gezeigten Platte 2 identisch ist. Die obere Platte 15 hingegen verändert zur Mitte hin ihre Dicke derart, daß der Abstand zwischen den beiden Platten 15 und 16 schrittweise von Bohrung zu Bohrung zur Mitte hin abnimmt. Dadurch wird ein zu geringer magnetischer Fluß in der Mitte der Vielstrahllinse und eine damit verbundene zu lange Brennweite korrigiert.
  • In Fig. 4 ist schematisch ein Vielstrahlelektronenschreiber mit einer Elektronenquelle 20, einem ersten Kondensor 21, einer Hybridlinse 22 sowie der erfindungsgemäßen Vielstrahllinse 23 dargestellt. Die Linsen sind in dieser Figur nur durch Pfeile angedeutet. Die Elektronenquelle 20 wird durch die erste Kondensorlinse 21 in eine Ebene 24 abgebildet. Diese Ebene 24 stellt gleichzeitig die vordere Brennebene der nachfolgenden Hybridlinse 22 dar. Durch die erste Kondensorlinse 21 wird die Elektronenquelle stark verkleinert in die Ebene 24 abgebildet. Gleichzeitig wird dadurch das Elektronenstrahlbündel 25 so stark aufgefächert, daß mit ihm die erfindungsgemäße Vielstrahllinse 23 mit einem Durchmesser von mehreren cm gleichmäßig ausgeleuchtet werden kann. Mit Hilfe einer Aperturblende 26 wird zusammen mit der Dimensionierung der Einzellinsen die geforderte Auflösung eingestellt. Mit 27 ist die Ebene bezeichnet, auf die die Einzelelektronenstrahlsonden fokussiert sind.
  • Weiterhin ist in dieser Fig. 4 ein Ablenksystem 28 in der vorderen Brennebene des Kondensors 21 eingezeichnet.
  • Als Beispiel sind für die Auslenkung in einer Richtung zwei Magnetspulen des Ablenksystems dargestellt. Für die Auslenkung in der dazu senkrechten Richtung müßten zwei weitere Magnetspulen vorgesehen sein. Ebensogut sind auch elektrostatische Ablenkplatten denkbar. Durch Erregung des Ablenksystems kann das Elektronenstrahlbündel, wie gestrichelt mit 25' angegeben, derart ausgelegt werden, daß das Bild der Elektronenquelle in der Ebene 24 aus der Systemachse herausgelenkt wird, so daß das parallele Elektronenstrahlbündel nach der Hybridlinse um einen Winkel gegen die Systemachse gekippt ist.
  • Durch diese Kippung werden sämtliche Sonden in der Bildebene 27 um den gleichen Betrag in der gleichen Richtung verschoben.
  • Auf diese Art und Weise ist es durch Steuerung allein des Ablenksystens28 möglich, eine der Zahl der Vielstrahllinsen entsprechende Zahl von Chips mit identischen Mustern zu beachten. In der perspektivisch dargestellten Ebene 27 sind beispielhaft drei Spuren 29, 30 und 31 dreier Einzellinsen der Vielstrahllinse 23 dargestellt.
  • Fig. 5 zeigt einen vergrößerten Ausschnitt aus der Fig. 4. Gleiche Teile sind mit gleichen Bezugszeichen versehen. Durch die Aperturblende 26 wird aus dem Strahlenbündel 25 ein Bundes mit einem Durchmesser 2r ausgeblendet. Dieses Bündel fällt auf eine Eleellinqe der Vielstrahllinse 23 mit den magnetischen Platten 1 und 2.
  • Die Spaltbreite zwischen den Platten ist mit S bezeichnet, der Durchmesser der koaxialen Bohrung mit D. Das Strahlenbündel 25 wird in die Bildebene 27 fokussiert.
  • Die Brennweite der Sinzellinse sei f. Die markierte Strecke g in der Bildebene 27 gibt die Auflösung der Linse an. a ist der ausgenutzte Aperturwinkel, der sich wegen der kleinen Winkel zu = = ! ergibt.
  • In der Fig. 6 ist in Draufsicht ein Ausschnitt der Vielstrahllinse 23 mit vier Einzellinsen dargestellt. Gestrichelt ist zusätzlich die Chipkantenlänge L des zu belichtenden Wafers eingezeichnet. Wie man dieser Darstellung entnehmen kann, ist jedem Chip des Wafers eine Einzellinse zugeordnet, so daß alle Chips gleichzeitig beschrieben werden können.
  • Unter Berücksichtigung allein des Öffnungsfehlers ergibt sich folgende Auflösung: Bei schwachen Linsen gilt aus Durandeaus in "Revue d'optique1, t. 40, No. 5, 1961, Seite 305 veröffentlichw ten Kurven für die Öffnungsfehlerkonstante CÖ Wie man diesen Kurven weiter entnehmen kann, ist bei einem Verhältnis 5D = 2 der Wert z1 = 0,5 und bei einem 5 Verhältnis D = 0,5 der Wert z2 = 2.
  • Für die Auflösung folgt 7 = 1/2 3 zi.
  • Unter der zusätzlichen Annahme, daß der Durchmesser D der Koaxialbohrung der halben Chipkantenlänge L entspricht, hat die Abbildungsoptik eine Transparenz T von: Damit kann ein unmittelbarer Zusammenhang zwischen erreichbarer Auflösung und Transparenz der Vielstrahloptik hergestellt werden: Damit ergibt sich beispielsweise für ein z1 = 0,5 und eine Chipkantenlänge von 5 mm bei einer geforderten Auflösung von etwa 1/um eine Transparenz von 10 Die erfindungsgemäße magnetische Vielstrahllinse läßt sich ebenso vorteilhaft in Ionenbearbeitungsgeräten, wie sie beispielsweise aus der DE-OS 21 02 592 bekannt sind, einsetzen und führt wegen der geringeren Linsenfehler und der damit größeren möglichen Transparenz zu einer weiteren erheblichen Verkürzung der Schreibzeiten.
  • 6 Patentansprüche 6 Figuren

Claims (6)

  1. Patentansprüche &. Vielstrahllinse zur gleichzeitigen Erzeugung mehrerer paralleler, auf eine Bildebene fokussierter Korpuskularstrahlsonden, g e k e n n z e i c h n e t durch zwei parallele magnetische Platten (1,2;15,16) mit mehreren konzentrischen Bohrungen (3 bis 6).
  2. 2. Vielstrahllinse nach Anspruch 1, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß für die Platten (1,2;15,16) Permanentmagnete vorgesehen sind.
  3. 3. Vielstrahllinse nach Anspruch 1, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß die Platten (1,2) aus ferromagnetischem Material bestehen und die Polschuhe einer großen Magnetlinse (10) bilden.
  4. 4. Vielstrahllinse nach einem der Ansprüche 1 bis 3, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß der Abstand zwischen den Platten (15,16) über deren Querschnitt variiert ist.
  5. 5. Verwendung einer Vielstrahllinse nach einem der Ansprüche 1 bis 4 in einem Korpuskularstrahlgerät zur Herstellung hochintegrierter Halbleiterschaltungen mit einer Korpuskelquelle und einem Kondensorlinsensystem zum Parallelisieren und Aufweiten des Korpuskularstrahls, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t daß zur Erzeugung eines großflächigen parallelen Strahlenbündels (25) eine Hybridlinse (22) vorgesehen ist, in deren vordere Brennebene (24) die Xorpuskelquelle (20) annähernd abgebildet ist.
  6. 6. Verwendung einer Vielstrahllinse nach Anspruch 5, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß annähernd in der vorderen Brennebene einer in Strahlrichtung vor der Hybridlinse (22) liegenden Kondensorlinse (21) ein Ablenksystem (28) angeordnet ist.
DE19803010814 1980-03-20 1980-03-20 Vielstrahllinse zur erzeugung mehrerer korpuskularstrahlsonden Withdrawn DE3010814A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19803010814 DE3010814A1 (de) 1980-03-20 1980-03-20 Vielstrahllinse zur erzeugung mehrerer korpuskularstrahlsonden

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19803010814 DE3010814A1 (de) 1980-03-20 1980-03-20 Vielstrahllinse zur erzeugung mehrerer korpuskularstrahlsonden

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE3010814A1 true DE3010814A1 (de) 1981-09-24

Family

ID=6097831

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19803010814 Withdrawn DE3010814A1 (de) 1980-03-20 1980-03-20 Vielstrahllinse zur erzeugung mehrerer korpuskularstrahlsonden

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE3010814A1 (de)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0580318A1 (de) * 1992-07-14 1994-01-26 AT&T Corp. Bauelementeherstellung im Submikronbereich unter Verwendung eines Mehrlochblendenfilters
EP1432007A1 (de) * 2002-12-17 2004-06-23 ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH Mehrachsige zusammengesetzte Linse, Strahlsystem mit dieser Linse, und Herstellungsverfahren für diese Linse
WO2011071549A1 (en) 2009-12-11 2011-06-16 Hermes Microvision, Inc. A multi-axis magnetic lens
WO2012082171A1 (en) 2010-12-14 2012-06-21 Hermes-Microvision, Inc. Apparatus of plural charged particle beams with multi-axis magnetic lens
CN112388141A (zh) * 2015-09-24 2021-02-23 阿卡姆股份公司 X射线校准标准对象

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2832582A1 (de) * 1977-07-25 1979-02-01 Akashi Seisakusho Kk Elektronenlinsenanordnung fuer grossflaechige elektronenstrahl-abtastung

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2832582A1 (de) * 1977-07-25 1979-02-01 Akashi Seisakusho Kk Elektronenlinsenanordnung fuer grossflaechige elektronenstrahl-abtastung

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
US-Z: IEEE Transactions on Electron Devices, Bd. ED-22, 1975, Nr. 7, S. 399-409 *

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0580318A1 (de) * 1992-07-14 1994-01-26 AT&T Corp. Bauelementeherstellung im Submikronbereich unter Verwendung eines Mehrlochblendenfilters
US8158954B2 (en) 2002-12-17 2012-04-17 ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH Multi-axis lens, beam system making use of the compound lens, and method of manufacturing the compound lens
EP1432007A1 (de) * 2002-12-17 2004-06-23 ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH Mehrachsige zusammengesetzte Linse, Strahlsystem mit dieser Linse, und Herstellungsverfahren für diese Linse
WO2004054352A3 (en) * 2002-12-17 2004-10-28 Integrated Circuit Testing Multi-axis lens, beam system making use of the compound lens, and method of manufacturing the compound lens
US7576917B2 (en) 2002-12-17 2009-08-18 ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH Multi-axis lens, beam system making use of the compound lens, and method of manufacturing the compound lens
WO2004054352A2 (en) * 2002-12-17 2004-07-01 Ict, Integrated Circuit Testing Gesellschaft Für Halbleiterprüftechnik Mbh Multi-axis lens, beam system making use of the compound lens, and method of manufacturing the compound lens
EP2510523A1 (de) * 2009-12-11 2012-10-17 Hermes Microvision Inc. Mehrachsige magnetische linse
WO2011071549A1 (en) 2009-12-11 2011-06-16 Hermes Microvision, Inc. A multi-axis magnetic lens
EP2510523A4 (de) * 2009-12-11 2014-10-01 Hermes Microvision Inc Mehrachsige magnetische linse
EP3244419A3 (de) * 2009-12-11 2018-01-17 Hermes Microvision Inc. Mehrachsige magnetische linse
WO2012082171A1 (en) 2010-12-14 2012-06-21 Hermes-Microvision, Inc. Apparatus of plural charged particle beams with multi-axis magnetic lens
EP2652485A1 (de) * 2010-12-14 2013-10-23 Hermes-Microvision, Inc. Vorrichtung mit mehreren geladenen teilchenstrahlen und einer mehrachsigen magnetischen linse
EP2652485A4 (de) * 2010-12-14 2014-08-13 Hermes Microvision Inc Vorrichtung mit mehreren geladenen teilchenstrahlen und einer mehrachsigen magnetischen linse
EP3232444A1 (de) * 2010-12-14 2017-10-18 Hermes Microvision Inc. Mehrachsige magnetische immersionsobjektivlinse
CN112388141A (zh) * 2015-09-24 2021-02-23 阿卡姆股份公司 X射线校准标准对象

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2832582C2 (de) Magnetische Elektronenlinsenanordnung
DE19848070B4 (de) Niedrigenergie-Elektronenstrahllithographie
EP0218920B1 (de) Elektronenenergiefilter vom Omega-Typ
DE3913965A1 (de) Direkt abbildendes sekundaerionen-massenspektrometer mit laufzeit-massenspektrometrischer betriebsart
DE2555744A1 (de) Magnetische linse
EP0028585B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Korpuskularbestrahlung
DE2647855A1 (de) Verfahren zum projizieren eines buendels aus geladenen partikeln
DE3532781A1 (de) Anordnung zur detektion von sekundaer- und/oder rueckstreuelektronen in einem elektronenstrahlgeraet
DE2620262A1 (de) Rechner-gesteuertes elektronenstrahllithographie-verfahren
DE2702445A1 (de) Korpuskularstrahloptisches geraet zur verkleinernden abbildung einer maske auf ein zu bestrahlendes praeparat
DE3852097T2 (de) Telezentrische Ablenkung auf Sekundärfelder mittels einer Immersionslinse mit variabler Achse.
DE2727733A1 (de) Elektronenstrahllithographieanordnung
DE69624192T2 (de) Rasterelektronenmikroskop
EP0106154B1 (de) Varioformstrahl-Ablenkobjektiv für Neutralteilchen und Verfahren zu seinem Betrieb
DE69807151T2 (de) Rasterelektronenmikroskop
DE19522362A1 (de) Elektronenstrahl-Schreibvorrichtung und -Verfahren
DE69331620T2 (de) Elektronische Linse
DE3010814A1 (de) Vielstrahllinse zur erzeugung mehrerer korpuskularstrahlsonden
DE2834391C2 (de) Einrichtung zur Erzeugung von Zeichenmustern auf einer Objektfläche mittels Elektronenstrahlen
DE3003125A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur elektronenstrahllithographie
DE3020281C2 (de) Vorrichtung zur Doppelablenk-Abtastung eines Partikelstrahls
EP0920709B1 (de) Elektronenoptische linsenanordnung mit spaltförmigem öffnungsquerschnitt
EP0025579A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur schnellen Ablenkung eines Korpuskularstrahles
EP0036618A1 (de) Hochstrom-Elektronenquelle
DE2721704A1 (de) Korpuskularoptikvorrichtung

Legal Events

Date Code Title Description
OM8 Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law
8139 Disposal/non-payment of the annual fee