DE2941123A1 - System zum testen von bauelementen - Google Patents
System zum testen von bauelementenInfo
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- G01—MEASURING; TESTING
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
USM Corporation
Fannington, Connecticut 06032
Zustelladresse: 181 Elliot Street
Beverly, Mass. 01915
U.S.A.
030017/0803
Die Erfindung bezieht sich auf eine Maschine bzw. einen Mechanismus, der ein oder mehrere elektrische Bauelemente in einen Aufnahmeträger, wie in eine gedruckte
Schaltungsplatte, einzusetzen gestattet. Die Erfindung betrifft insbesondere das Testen und überprüfen eines
elektrischen Bauelementes vor seiner Einführung in den betreffenden Aufnahmeträger bzw. in das Aufnahmemedium.
Elektrische und elektronische Bauelemente werden derzeit von einer Vielzahl verschiedener Hersteller in stets
steigenden Zahlen hergestellt. Diese Hersteller unterwerfen ihre Produkte häufig strengen Qualitätskontrollnormen während der Produktion und im Anschluß daran.
Trotz der Anwendung dieser Qualitätskontrollnormen zeigen die betreffenden elektrischen und elektronischen Bauelemente dennoch verschiedene Ausfallraten bei ihren
Endverbrauchern bzw. bei den Endabnehmern.
Die Endabnehmer setzen mehrere dieser elektronischen oder elektrischen Bauelemente in einer speziellen Schaltungskonfiguration zusammen, die eine oder mehrere Funktionen
innerhalb einer elektrischen oder elektronischen Gesamteinrichtung ausführt. Diese spezielle Schaltungskonfiguration wird in den meisten Fällen durch eine gedruckte
Schaltungsplatte festgelegt, die die betreffenden Bauelemente aufnimmt. Die betreffenden bestimmten Bauelemente können dabei automatisch in die gedruckte Schaltungsplatte eingefügt bzw. eingesetzt werden, und zwar
ggfs. durch Verwendung einer Bauelement-Einsetzmaschine. Diese zuletzt erwähnte Lösung wird häufig von einem
Einrichtungshersteller angewandt, der mit der Massenproduktion befaßt ist.
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Es sei darauf hingewiesen, daß es bedeutsam ist, jegliches
Problem auszusondern, welches mit der automatischen Bauelementbeschickung in einer Produktionsanlage
mit einer hohen Massenproduktion verknüpft ist. Dies würde jede fehlerhafte Beschickung der Bauelement-Einsetzmaschine
mit falschen Bauelementen einschließen. Damit würde überdies die Beschickung bzw. Zuführung der
richtigen Bauelemente in einer falschen Weise eingeschlossen sein, d.h. durch fehlerhafte Ausrichtung der betreffenden
Bauelemente, so daß sie in der falschen Richtung für das Einsetzen ausgerichtet sind. Dies würde
überdies die Ermittelung eines Bauelementes einschließen, welches entweder vom ursprünglichen Bauelementhersteller
her bereits defekt oder durch anschließende Verarbeitung bzw. Handhabung durch den Einrichtungshersteller beschädigt
worden war.
Der Forderung nach Überprüfung der elektrischen Bauelemente aus den vorstehend erwähnten Gründen sind stets die
Forderungen nach einem zweckmäßigen Handhaben und Einsetzen der Bauelemente durch den Hersteller der elektrischen
oder elektronischen Einrichtung entgegengestanden. Dieser Umstand hat bisher zu dem Nachteil geführt, daß
ein umfangreicher Test zum Zeitpunkt der Bauelementeinführung vorzunehmen war. In diesem Zusammenhang ist
anzumerken, daß der Test üblicherweise auf eine überprüfung der Ausrichtung eines gegebenen Bauelements beschränkt
war, indem ein Ausschnitt bzw. eine Aussparung am vorderen Ende des Bauelements ermittelt wurde. Das
Bauelement wurde danach eingesetzt, wenn die richtige Ausrichtung angegeben wurde.
Der Erfindung liegt nun die Aufgabe zugrunde, eine Bauelement-Einsetzmaschine
zu schaffen, die die Fähigkeit besitzt, elektrische Bauelemente vor ihrer Einführung
in einen Aufnahmeträger testen zu können.
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Ferner soll die neu zu schaffende Bauelementeinsetzmaschlne
die Fähigkeit aufweisen, die Ansprechcharakteristik des jeweiligen Bauelements vor dem Einsetzen in einem
Aufzeichnungsträger messen zu können.
überdies soll die neu zu schaffende Bauelementeinsetzmaschine
die Fähigkeit aufweisen, das jeweilige elektrische Bauelement eindeutigen Testbedingungen unterziehen zu
können, bevor das betreffende Bauelement in einen Aufzeichnungsträger eingesetzt wird.
Schließlich soll die neu zu schaffende Bauelement-Einsetzmaschine die Fähigkeit zeigen, das jeweilige elektrische
Bauelement während einer bestimmten Zeitspanne vor dem Einsetzen in einen Aufzeichnungsträger eindeutigen Testbedingungen
aussetzen zu können.
Gelöst wird die vorstehend aufgezeigte Aufgabe durch die in den Patentansprüchen erfaßte Erfindung.
Gemäß der Erfindung wird eine Vielzahl von elektrischen
Kontakten mittels eines Paares von Fingergreifern festgelegt, die normalerweise das Bauelement unmittelbar vor
dessen Einsetzen in den Aufzeichnungsträger festhalten. Das Bauelement wird in bezug auf diese elektrischen Kontakte
ausgerichtet, wenn es zunächst mittels des Paares der Fingergreifer erfaßt wird. Gemäß der Erfindung werden
nun ein oder mehrere elektrische Kontakte dazu herangezogen, Testsignale an das Bauelement zu übertragen. Mit
Hilfe unterschiedlicher elektrischer Kontakte wird das Ansprechverhalten des betreffenden Bauelementes auf diese
Testsignale hin überwacht. Die Zuführung der Testsignale
und die Überwachung des Ansprechverhaltens des Bauelements auf diese Testsignale werden durch eine selektive
TestSteuereinrichtung festgelegt. Diese selektive
Teststeuereinrichtung ist derart betrieben, daß ein oder
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mehrere unterschiedliche Tests festgelegt werden, die unterschiedliche Ansprechverhaxten seitens des jeweiligen
Bauelements erfordern.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform umfassen die Tests die Zuführung von Verknüpfungspegelsignalen zu ausgewählten
Stiften eines vorgegebenen integrierten Schaltungs-Bauelements. Jeder Test umfaßt darüber hinaus
die augenblickliche bzw. kurzzeitige Zuführung von ausgewählten Speisungs- und Erdungspegeln zu dem integrierten
Schaltungsbauelement. Die Ansprechverhaltensweisen der integrierten Schaltung durch die Ansteuerung an den
betreffenden Stiften werden mit einer für das jeweilige integrierte Schaltungsbauelement vorgesehenen bestimmten
Wertetabelle verglichen.
In dem Fall, daß sich bezüglich des getesteten Bauelements
keine geprüfte Funktionsfähigkeit ergibt, wird die selektive Bauelementteststeuerung derart wirksam,
daß die Hauptsteuerung der Bauelementeinsatzmaschine in Alarm gesteuert wird. Die Hauptsteuerung bzw. Hauptsteuereinrichtung
wird daraufhin jegliche weitere Maßnahme unterbrechen und überdies der Bedienperson Kenntnis
von dem unrichtigen Testergebnis geben.
Anhand von Zeichnungen wird die Erfindung nachstehend beispielsweise näher erläutert.
Fig. 1 zeigt in einem Blockdiagramm eine Bauelementeinsetzmaschine
gemäß der vorliegenden Erfindung. Fig. 2 zeigt in einem Blockdiagramm eine selektive
Bauelement-Teststeuereinrichtung.
Fig. 3 zeigt in einem detaillierten Blockdiagramm die selektive Bauelement-Teststeuereinrichtung gemäß Fig.
Fig. 4 zeigt in einem Flußdiagramm die Operationen, die von einer Zentraleinheit innerhalb der selektiven Bauelement-Teststeuereinrichtung
gemäß Fig. 3 ausgeführt
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werden.
Fig. 5a, 5b und 5c veranschaulichen elektrisch empfindliche
Fingergreifer innerhalb der selektiven Bauelement-Teststeuereinrichtung gemäß Fig. 3.
Fig. 6 zeigt eine Testsignal-Torschaltung innerhalb der
selektiven Bauelement-Teststeuereinrichtung gemäß Fig. 2 und 3.
Fig. 7 veranschaulicht eine Vergleicherschaltung, wie sie in der selektiven Bauelement-Teststeuereinrichtung
gemäß Fig. 3 verwendet ist.
Fig. 8 veranschaulicht den Aufbau eines Stromgenerators, wie er in der selektiven Bauelement-Teststeuereinrichtung
gemäß Fig. 3 verwendet ist.
Fig. 9 veranschaulicht eine Erdungs- und Strom-Kontaktauswahlschaltung
für die selektive Bauelement-Teststeuereinrichtung
gemäß Fig. 3.
In Fig. 1 ist eine Bauelement-Einsetzmaschine gemäß der vorliegenden Erfindung generell in BlockdLagrammform veranschaulicht.
Dabei ist eine Hauptsteuereinrichtung 20 vorgesehen, die derart betrieben wird, daß sie eine Bauelement-Auswahl-
und Einsetzvorrichtung 22 über zwei Steuerverbindungen 24 und 26 steuert. Es sei darauf hingewiesen,
daß die Hauptsteuereinrichtung 20 und die Auswahl-
und Einsetzvorrichtung 22 generelle Elemente darstellen, die in jeder derzeit modernen Bauelementeinsetzmaschine
zu finden sind. Dies wird beispielsweise durch die Bauelement-Einsetzmaschine nach der US-PS 40 63 347
veranschaulicht. Die in der betreffenden US-Patentschrift angegebene Maschine wird derart betrieben, daß sie Bauelemente
in einer durch das Hauptsteuersystem festgelegten sequentiellen Weise auswählt. Die jeweils ausgewählten
Bauelemente werden in jedem Falle zu einem Bauelement-Einsetzmechanismus der Maschine übertragen. Das jeweilige
Bauelement wird anschließend in einen Aufnahmeträger, wie
in eine gedruckte Schaltungsplatte, eingesetzt. Der
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Hauptsteuerteil der betreffenden Maschine ist danach in der Weise wirksam, daß er das nächste auszuwählende
Bauelement auswählt.
Gemäß der vorliegenden Erfindung wird die Auswahl des nächsten Bauelements durch die Hauptsteuereinrichtung
der Bauelement-Einsetzmaschine zu einer selektiven Bauelement-Teststeuereinrichtung
28 hin übertragen. Diese selektive Bauelement-Teststeuereinrichtung legt danach einen oder mehrere digitale Tests für das jeweilige bestimmte
Bauelement fest. Diese Tests werden an dem ausgewählten Bauelement durchgeführt, welches für das Einsetzen
ergriffen worden ist, und zwar innerhalb der Bauelement-Auswahl- und Einsetzvorrichtung 22. Die Ansprechverhaltensweisen
des jeweiligen Bauelements auf die bestimmten Tests werden innerhalb der selektiven Bauelement-Teststeuereinrichtung
überprüft. Die selektive Bauelement-Teststeuereinrichtung wird derart betrieben,
daß sie die Ergebnisse des Tests zu der Hauptsteuereinrichtung 20 hin überträgt.
Die Hauptsteuereinrichtung 20 wird daraufhin in der Weise betrieben, daß sie ein Einsetzen des Bauelements
für den Fall freigibt, daß die Testergebnisse positiv sind. Im anderen Fall unterbricht die Hauptsteuereinrichtung
20 das Einsetzen des ergriffenen Bauelements und signalisiert der Bedienperson das relative Testergebnis.
In Fig. 2 ist in Blockdiagrammform die selektive Bauelement-Teststeuereinrichtung
28 veranschaulicht. Das Bauelement-Auswahlsignal von der Hauptsteuereinrichtung her wird einer Testprogramm-Auswahleinrichtung 30 zugeführt.
Die Testprogramm-Auswahleinrichtung 30 ist derart
betrieben, daß sie einen oder mehrere digitale Tests auf das Auftreten des Bauelement-Auswahlsignals hin auswählt
und festlegt. Jeder Test wird durch eine Vielzahl von
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2-Pegel-Signalen gesondert festgelegt, die von der Testprogramm-Auswahleinrichtung
30 erzeugt werden. Bestimmte dieser Testsignale werden einer Testsignal-Torschaltung
zugeführt. Diese Testsignal-Torschaltung 32 leitet die Eingangstestsignalzustände zu zwei elektrisch empfindlichen
Fingergreifern 34 hin. Wie weiter unten noch im einzelnen erläutert werden wird, sind die elektrisch
empfindlichen Fingergreifer 34 derart wirksam, daß sie das Jeweils ergriffene Bauelement diesen Eingangstestsignalbedingungen
unterwerfen.
Die Testprogramm-Auswahleinrichtung 30 gibt ferner eine
Reihe von 2-Pegel-Zustandssignalen an eine Vergleicherschaltung
36 ab. Die Vergleicherschaltung 36 erhält ferner eine Anzeige bezuglich des Typs des elektrischen
Bauelements, welches zu testen ist, direkt von der Testprogramm-Auswahleinrichtung
30 über eine Leitung 38 zugeführt. Dieses zuletzt erwähnte Signal bewirkt in Verbindung
mit dem 2-Pegel-Zustandssignal von der Testprogramm-Auswahleinrichtung,
daß die Vergleicherschaltung 36 in den Stand versetzt ist, schließlich einen Vergleich mit den Ausgangssignaleη von dem dem Test
unterzogenen Bauelement vorzunehmen.
Die Testprogramm-Auswahleinrichtung 30 erzeugt ferner eine Gruppe von 2-Pegel-Signalen, die die bestimmten
Speisungs- und Erdungsbedingungen für das Bauelement festlegen, welches von den elektrisch empfindlichen Fingergreifern
34 ergriffen ist. Diese 2-Pegel-Signale werden einer Speisequelle 40 zugeführt. Die Speisequelle 40 ist
derart wirksam, daß sie eine bestimmte Reihe von Speisungs- und Erdungs-ZustandsSignalen erzeugt, die den
elektrisch empfindlichen Fingergreifern 34 zugeführt
werden. Die Zuführung von Speise- und Erdungssignalen zu dem jeweiligen Bauelement wird auf eine vorher festgelegte
Zeitspanne begrenzt, die durch die Testprogramm-Auswahleinrichtung 30 festgelegt ist. Die verschiedenen Aus
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gangssignale bzw. Verhaltensweisen des so gespeisten Bauelements werden mit einer erwarteten Reihe von
2-Pegel-Zustandssignalen in der Vergleicherschaltung
verglichen. Dies wird ebenfalls auf einer zeitlich festgelegten Grundlage vorgenommen, was durch ein Signal
festgelegt wird, welches von der Testprogramm-Auswahleinrichtung
30 über eine Leitung 42 zugeführt wird. Die Ergebnisse dieses zeitlichen Vergleichs werden über eine
Leitung 44 zu der Testprogramm-Auswahleinrichtung 30 zurückübertragen.
Die Testprogramm-Auswahleinrichtung 30 überträgt danach entweder die Ergebnisse des Tests zu
der Hauptsteuereinrichtung 20 hin, oder aber sie führt das nächstfolgende Testprogramm bezüglich des bestimmten
Bauelementes durch.
In Fig. 3 ist die selektive Bauelement-Teststeuereinrichtung 28 in weiteren Einzelheiten veranschaulicht. Die verschiedenen
Verknüpfungselemente, die in Fig. 2 zuvor betrachtet worden sind, sind in Fig. 3 in entsprechender
Weise bezeichnet. Die Testprogramm-Auswahleinrichtung
und die Speisequelle 40 gemäß Fig. 2 sind darüber hinaus mit gestrichelten Linien eingerahmt. Zunächst sei auf die
Testprogramm-Auswahleinrichtung 30 eingegangen, bezüglich der ersichtlich ist, daß sie eine Zentraleinheit bzw. einen
zentralen Prozessor 46 enthält, der mit verschiedenen weiteren Verknüpfungselementen verbunden ist bzw. mit
diesen in Schnittstellenverbindung steht. Die Zentraleinheit 46 ist vorzugsweise ein Mikroprozessor des Typs 8080
der Firma Intel.
Die Zentraleinheit 46 erhält das Jeweilige Bauelement-Auswahlsignal
von der Hauptsteuereinrichtung 20 gemäß Fig. 1 her. Auf das Auftreten dieses Signales hin
adressiert die Zentraleinheit einen Speicher 48 über einen Adreßbus 50. Der Speicher 48 ist in einer solchen
Art und Weise adressiert, daß er eine Testinformation
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enthält, welche dem Bauelement zugehörig ist. Diese Testinformation ist in einer Gruppe von aufeinanderfolgend
adressierbaren Speicherplätzen untergebracht. Das Adressieren dieser Speicherplätze beginnt mit der
Adresse, die von der Zentraleinheit 46 auf das Auftreten des Bauelement-Auswahlsignals hin erzeugt wird. Der Zugriff
zu der Testinformation erfolgt durch aufeinanderfolgendes Adressieren dieser Speicherplätze über den
Adreßbus 50. Das Auslesen der in den betreffenden Speicherplätzen gespeicherten Testinformation erfolgt
über einen Speicherbus 52. Ein Teil der Testinformation, zu der ein Zugriff hin erfolgt ist, wird in ein Eingabe-Zuteilungsregister
54 über einen Ausgabebus 56 geladen. Ein weiterer Teil der Testinformation, zu der hin ein
Zugriff erfolgt ist, wird über den Ausgabebus 56 in ein Wertetabellenregister 58 geladen. Das Laden der Testinformation
in die betreffenden Register 54 und 58 wird durch Ladesignale freigegeben, die von einem Adressendecoder
60 her abgegeben werden und die auf zwei Leitungen 62 und 64 auftreten.
Die 2-Pegel-Zustandsausgangssignale von dem somit geladenen
Eingabe-Zuteilungsregister 54 werden über eine Busleitung 68 an die Testsignal-Torschaltung 32 abgegeben,
während die Ausgangszustandssignale von dem somit geladenen Wertetabellenregister 58 über eine Busleitung
66 an die Testsignal-Torschaltung 32 abgegeben werden.
Die Testsignal-Torschaltung wird derart betrieben, daß die verschiedenen 2-Pegel-Zustandssignale an die
elektrisch empfindlichen Fingergreifer 34 über eine Busleitung 70 übertragen werden. Die elektrisch empfindlichen
Fingergreifer 34 sind ihrerseits derart wirksam, daß sie diese 2-Pegel-Zustandssignale an ein festgehaltenes
Bauelement anlegen bzw. abgeben.
Im Hinblick auf die Zentraleinheit 46 ist ersichtlich,
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daß deren rechte Seite eine Anzahl von Anschlüssen aufweist. Diese Anschlüsse, die auch als Ports bezeichnet
werden, sind für Mikroprozessoren, wie für den Mikroprozessor 8080 der Firma Intel, üblich. Gemäß
der Erfindung wird die Zentraleinheit 46 derart betrieben, daß sie eine gewisse von dem Speicher 48 her erhaltene
Testinformation zu diesen Anschlüssen hin überträgt. Diese Information wird ihrerseits weitgehend an
die Speisequelle 40 abgegeben, und zwar über eine Reihe von Anschluß-Busleitungen 74,76 und 78. Ein Bit dieser
Information wird außerdem dazu herangezogen, ein "Bauelement-Bezeichnungs"-Signal
festzulegen, welches auf der Leitung 38 auftritt. Dieses "Bauelement -Bezeichnungs"-Signal
wird der Vergleicherschaltung 36 zugeführt.
Die auf der Anschluß-Busleitung 74 auftretende Testinformation wird einem Stromgenerator 80 zugeführt. Der
Stromgenerator wird derart betrieben, daß er nachfolgend einen bestimmten ausgewählten Strom während einer festgelegten
Zeitspanne erzeugt, wie dies durch die Testinformation auf der Busleitung 74 festgelegt ist. Dieser Strom
wird über eine Leitung 84 einer Erd- und Stromeingangs-Zuteilungsschaltung 82 zugeführt. Diese zuletzt genannte
Schaltung erhält außerdem die Testinformation von der
Zentraleinheit 46 über die Anschluß-Busleitungen 76 und zugeführt. Die Erdungs- und Strom-Eingangszuteilungsschaltung
82 wird anschließend derart betrieben, daß bestimmte elektrische Kontakte an den elektrisch empfindlichen
Fingergreifern 34 bezeichnet werden, die die Erdungsbzw. Stromzustandssignale zu erhalten haben. Diese Zustandssignale
werden den betreffenden bezeichneten elektrischen Kontakten über eine Busleitung 86 zugeführt.
Das ergriffene Bauelement spricht auf die ihm somit zugeführten Erdungs- und Strom-Eingangszustandssignale an
(und auf die 2-Pegel-Testzustandssignale, die von der
Testsignal-Torschaltung 323 zugeführt werden) und erzeugt
auf einer Busleitung 88 eine entsprechende Reihe
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von 2-Pegel-Ausgangssignalen. Diese auf der Busleitung 88
auftretenden 2-Pegel-Ausgangssignale werden der Vergleicherschaltung
36 zugeführt. Die Vergleicherschaltung 36 erhält außerdem eine Reihe von erwarteten Testergebnissen
von dem Wertetabellen-Register 58 über eine Busleitung 59.
Diese zuletzt erwähnten 2-Pegel-Zustandssignale werden
für die Vergleicherschaltung 36 dann verfügbar gemacht,
wenn das Wertetabellen-Register 58 geladen wurde. Die erwarteten 2-Pegel-Zustandssignale von der Busleitung 89
werden mit den tatsächlichen 2-Pegel-Zustandssignalen verglichen,
die auf der Busleitung 88 auftreten. Dies erfolgt zu einem solchen Zeitpunkt, daß ein Vergleichs-Freigabesignal
von dem Adressendecoder 60 über die Leitung 42 aufgenommen wird. Die Ergebnisse des Vergleichs werden über
die Leitung 44 zu der Zentraleinheit 46 zurückübertragen. Wenn das Vergleichsergebnis günstig ist, führt die Zentraleinheit
46 entweder einen weiteren Test durch, oder sie übermittelt eine positive Testergebnis-Bestätigung zu
der Hauptsteuereinrichtung 20.
In Fig. 4 ist in einem Flußdiagramm die Arbeitsweise der Zentraleinheit 46 veranschaulicht. Das Flußdiagramm beginnt
mit einer Entscheidung darüber, ob ein Bauelement ausgewählt worden ist oder nicht. Wie zuvor angedeutet
worden ist, wird dies der Zentraleinheit 46 von der Hauptsteuereinrichtung 20 gemeldet. Die Auswahl eines Bauelements
von der Hauptsteuereinrichtung 20 zeigt überdies das somit ausgewählte bestimmte Bauelement an. Damit verbunden
ist die vorherige Zuteilung einer bestimmten Nummer für das jeweilige Bauelement. Mit anderen Worten ausgedrückt
heißt dies, daß jedes Bauelement zuvor mit 11O"
bis Hk-1" numeriert wird, wobei "k" kennzeichnend ist
für die Nummer bzw. Anzahl einzelner Bauelemente, die auszuwählen, zu testen und einzusetzen sind. Diese Nummer
wird in dem Bauelement-Signal erscheinen, das der Zentraleinheit 46 zugeführt wird.
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Auf die Auswahl eines Bauelementes hin wird die Zentraleinheit
46 derart betrieben, daß eine Test-Zählerstellung von "m" eingestellt wird. Dies ermöglicht die anschließende
Durchführung von mehr als einem Test. Es hat sich herausgestellt, daß zumindest zwei Tests üblicherweise erforderlich
sind, um in angemessener Weise ein Bauelement vor dem Einsetzen zu testen.
Auf das Festlegen einer Test-Zählerstellung von "mw hin
besteht der nächste Schritt darin, das ausgewählte Bauelement-Signal in eine Speicheradresse umzusetzen, welche
den Speicherplatz für das erste Wort der Information für den ersten Test kennzeichnet. Dies wird vorzugsweise dadurch
vorgenommen, daß die Bauelement-Nummer mit der maximalen Zahl von Speicherplätzen multipliziert sind,
die zur Speicherung der Test-Information für irgendein gegebenes Bauelement erforderlich sind. Mit anderen Worten
heißt dies, daß dann, wenn es erforderlich wäre, ein Maximum von 16 Speicherplätzen zur Durchführung von "m"
Tests bezüglich eines oder mehrerer Bauelemente bereitzustellen, die Zahl 16 den Multiplikationsfaktor darstellen
würde. Es dürfte einzusehen sein, daß der tatsächliche Multiplikationsfaktor von der Wortbreite des Speichers
sowie von der Gesamtzahl von Wörtern abhängen wird, die erforderlich sind, um die "m" Tests auszuführen. Es sei
ferner darauf hingewiesen, daß dann, wenn die erste Speicheradresse des mit "0" numerierten Bauelements von
Null verschieden ist, diese Adresse ebenfalls zu den zuvor erwähnten Multiplikationsergebnissen hinzuzuaddieren ist.
Nachdem die erste Adresse somit festgelegt ist, arbeitet die Zentraleinheit nunmehr in der Weise, daß sie einen
Zugriff zu der Testinformation unter dieser Adresse ausführt. Gemäß einem vorher festgelegten Laden der Testinformation
in den Speicher 48 gehört die in der ersten Speicheradresse vorhandene Information zu den Eingabe-
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Zuteilungen für das betreffende bestimmte Bauelement. Der nächste Schritt in dem Flußdiagramm gemäß Fig. 4 besteht
somit im Lesen und Schreiben dieser Eingabe-Zuteilungen in das Register 54 gemäß Fig. 3. Gemäß Fig. 3 wird dies dadurch
bewirkt, daß der Bus bzw. die Busleitung 54 mit den bestimmten Eingabe-Zuteilungen beschickt wird und daß danach
eine Adresse abgegeben wird, die den Adressendecoder 60 derart triggert, daß dieser ein Ladesignal an die
Leitung 62 abgibt, wodurch die Eingabe-Zuteilungsinformation in das Eingabe-Zuteilungsregister 54 geladen wird.
Die Eingabe-Zuteilungen bestehen aus 2-Pegel-Zustandssignalen, die parallelen das Eingabe-Zuteilungsregister 54
zu einem solchen Zeitpunkt geladen werden, zu dem das Ladesignal auf der Leitung 62 auftritt.
In entsprechender Weise besteht der nächste Schritt in dem Flußdiagramm gemäß Fig. 4 darin, daß das Lesen und Schreiben
der Wertetabelle für den Test in das Register 58 durchgeführt wird. Zu diesem Zweck wird die Wertetabellen-Information
ausgelesen , die in den nächstfolgenden adressierbaren Speicherplätzen innerhalb des Speichers 48 gespeichert ist,
und danach wird die betreffende Information parallel in das Wertetabellen-Register 58 geladen. Das eigentliche
Laden wird dadurch vorgenommen, daß ein Adressensignal an die Adressen-Busleitung 50 abgegeben wird und daß die
betreffende Adresse durch den Adressendecoder 60 decodiert wird, der seinerseits ein Ladesignal an die Leitung 64 abgibt.
Der nächste Schritt in dem Flußdiagramm gemäß Fig. 4 besteht darin, daß das Lesen und Einschreiben der Strom-Auswahl
in einem bezeichneten Anschluß erfolgt. Der betreffende bestimmte bezeichnete Anschluß wird dabei derjenige
Anschluß sein, der der Anschluß-Busleitung 74 zugehörig ist. Daraufhin erfolgt das Lesen und Einschreiben
der Strom-Eingabezuteilung in einen dem Anschluß-Bus 76 zugehörigen bezeichneten Anschluß. Die Bauelement-Bezeichungsinformation
wird danach in einen der Leitung 38
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gemäß Fig. 3 zugehörigen Anschluß geschrieben. Der nächste Informationsteil, der in einen Anschluß einzuschreiben
ist, stellt die Erdungs-Zuteilung dar. Dieser Informationsteil wird in den dem Anschluß-Bus 78 zugehörigen
Anschluß eingeschrieben.
Es dürfte einzusehen sein, daß die gesamte Information, die an den den Anschluß-Busleitungen 74,76 und 78 zugehörigen
Anschlüssen eingeschrieben wird, unmittelbar verfügbar gemacht wird für das signalmäßig aufnehmende Verknüpfung
selement. In diesem Zusammenhang sei angemerkt, daß der Stromgenerator 80 derart betrieben wird, daß er
einen ausgewählten Strom erzeugt, kurz nachdem die Information in den dem Anschlußbus 74 zugehörigen Anschluß
eingeschrieben worden ist. Dieser Strom wird anschließend einem bestimmten Kontakt innerhalb der elektrisch empfindlichen
Fingergreifer 34 zugeführt, und zwar kurz nachdem die Strom-Eingangszuteilung in den dem Anschlußbus 76 zugehörigen
Anschluß eingeschrieben worden ist. Schließlich wird ein bestimmter Kontakt innerhalb der elektrisch
empfindlichen Fingergreifer 34 dem Erdungszustand ausgesetzt, kurz nachdem die Erdungs-Eingangszuteilung in den
dem Anschlußbus 78 zugehörigen Anschluß eingeschrieben worden ist. Es sei darauf hingewiesen, daß das festgehaltene
Bauelement einem bestimmten Speisepegel ausgesetzt wird, der durch den ausgewählten Strom festgelegt ist, so
bald der Erdungszustand ausgeübt wird bzw. das Bauelement diesem ausgesetzt ist. Das so gespeiste Bauelement wird
einer relativ kurzen Einschwingzeit bzw. Einstellzeit ausgesetzt werden. Diese Einschwingzeit wird dadurch bereitge
stellt, daß eine bestimmte Zeitspanne festgelegt wird, während der dem dem Test unterzogenen Bauelement ermöglicht
ist, sich zu stabilisieren. Dies ist in Fig. 4 als gesonderter Schritt auf das Lesen und Einschreiben der
Erdungs-Zuteilung in den dem Anschlußbus 78 zugehörigen Anschluß veranschaulicht.
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Im Hinblick auf Fig. 4 sei darauf hingewiesen, daß der nächste Schritt darin besteht, einen Vergleich innerhalb
der Vergleicherschaltung 36 einzuleiten, und zwar auf den Ablauf der betreffenden bestimmten Zeitspanne. Dies wird
mit der in Fig. 3 dargestellten Verknüpfungsanordnung bewirkt,
indem ein Adressensignal an die Adressenbusleitung 50 abgegeben wird. Dieses Signal wird durch den
Adressendecoder 60 decodiert, der seinerseits ein Vergleicherfreigabesignal über die Leitung 62 an die Vergleicherschaltung
3b abgibt.
Der nächste von der Zentraleinheit 46 nach dem Flußdiagramm gemäß Fig. 4 auszuführende Schritt besteht darin,
das Ergebnis des Vergleichs zu erhalten, der somit durch die Vergleicherschaltung 36 vorgenommen worden ist. Dies
wird dadurch erreicht, daß das 2-Pegel-Signal gelesen wird,
welches von der Vergleicherschaltung 36 zu der Zentraleinheit
46 über die Leitung 44 übertragen wird.
Der nächste Schritt in dem Flußdiagramm gemäß Fig. 4 besteht darin, die Anschlüsse der Zentraleinheit 46 zu
nullen. Dadurch wird die Speisung für das Bauelement auf die Beendigung des Testes hin wirksam abgeschaltet.
Es sei darauf hingewiesen, daß diese Speisungsabschaltung für das Bauelement zu einem Zeitpunkt auftreten wird, der
kurz nach der Abgabe des Vergleicherfreigabesignals liegt. In diesem Zusammenhang sei bemerkt, daß dem Testen jedes
Bauelements eine zeitliche Gesamtbeschränkung dadurch auferlegt wird, daß die Zeitspanne begrenzt wird, während der
das jeweilige Bauelement der tatsächlichen Speisung ausgesetzt ist. Diese zeitliche Beschränkung begrenzt jegliche
Beschädigung des festgehaltenen Bauelements in dem Fall, daß dieses während des Tests fehlerhaft funktioniert.
Der nächste auf die Nullung der Anschlüsse hinjfolgende
Schritt besteht darin, daß festgelegt wird, ob das
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Vergleichsergebnis von der Leitung 44 zutrifft. Wenn dies im negativen Sinne beantwortet wird, dann wird die
Zentraleinheit 46 in der Weise wirksam, daß ein "Fehler"
in die Hauptsteuereinrichtung 20 als Testergebnis eingeschrieben wird. Wenn hingegen die Antwort positiv ausfällt,
dann wird die Test-Zählerstellung vermindert, und ferner wird die Frage gestellt, ob die Test-Zählerstellung
gleich Null ist oder nicht. Wenn diese Antwort bejaht wird, dann wird der als Zentraleinheit bezeichnete Zentralprozessor
46 derart betrieben, daß ein Weiterleitungssignal zu der Hauptsteuereinrichtung 20 geschrieben wird. Wenn
die Test-Zählerstellung nicht gleich Null ist, dann führt der Zentralprozessor 46 einen übergang im Zyklus zum
Punkt A in dem Flußdiagramm aus. An dieser Stelle enthält die nächstfolgende Adresse für den Speicher 48 das
erste Informationswort für den nächsten Test. Dieses bestimmte Informationswort wird entweder vollständig oder
teilweise die Eingangszuteilungen für den bestimmten Test enthalten, der auszuführen ist. Die Organisation der
Testinformation innerhalb des Speichers 48 ist dabei dieselbe wie für den ersten Test, so daß lediglich eine
sequentielle Adressierung vorzunehmen ist, wenn die verschiedenen Schritte unterhalb des Punktes A ausgeführt
werden. Diese Durchführung nachfolgender Tests wird solange fortgesetzt, bis entweder ein Fehler bezüglich eines
vorgegebenen Tests festgestellt wird oder bis eine Test-Zähler st ellung von Null erreicht ist. Im zuletzt erwähnten
Fall wird der Zentralprozessor derart betrieben, daß ein "Durchlaßsignal" in die Hauptsteuereinrichtung 20
über die Leitung geschrieben wird, die die Testergebnisse überträgt.
Es sei darauf hingewiesen, daß die Hauptsteuereinrichtung
20 gemäß Fig. 1 derart betrieben wird, daß sie in geeigneter Weise entweder auf die "Umgehungs"- oder
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"Fehler"-Signale von dem Zentralprozessor 46 her anspricht.
In diesem Zusammenhang sei angemerkt, daß die Hauptsteuereinrichtung 20 vorzugsweise ein digitaler
Rechner ist, der so programmiert ist, daß er die normalen Auswahl- und Einsetzfunktionen einer Bauelement-Einsetzmaschine
ausführt. Dies stellt die normale Konfiguration einer Hauptsteuereinrichtung innerhalb einer derzeit
modernen Bauelement-Einsetzmaschine dar. Eine zur Fortführung des Einsetzens dienende Freigabe wird in der
Hauptsteuereinrichtung programmiert. Diese Freigabe wird von der Aufnahme des "Umgehungs"-Signals von dem Zentralprozessor
46 her abhängig gemacht. Diese Freigabe wird niemals im Falle eines Bauelementausfalls erteilt. Die
Hauptsteuereinrichtung oder eine gesondert zugeteilte
Alarmschaltung sprechen auf ein "Ausfall"- bzw. "Fehler"-Signal an, um einen Alarm auszulösen, der der Bedienperson
der Maschine gemeldet wird.
In Fig. 5A ist ein festgehaltenes bzw. ergriffenes Bauelement 90 als innerhalb zweier elektrisch empfindlicher
Fingergreifer 92 und 94 festgehalten dargestellt. Die elektrisch empfindlichen Fingergreifer 92 und 94 stellen
eine bevorzugte Konfiguration der elektrisch empfindlichen Fingergreifer J>k gemäß Fig. 2 und 3 dar. Das festgehaltene
Bauelement 90 stellt ein an sich bekanntes Bauelement mit einer sogenannten Dual-In-Line-Stiftbelegung dar; ein
derartiges Bauelement wird üblicherweise auch als DIP-Bauelement bezeichnet. Das betreffende DIP-Bauelement
weist längs jeder Seite zehn gesonderte Anschlußstifte auf. Es dürfte einzusehen sein, daß jeder dieser Anschlußstifte
entweder einen Eingang oder einen Ausgang bezüglich der in dem betreffenden Bauelement enthaltenen bestimmten
elektrischen Schaltung darstellt.
Es dürfte ferner einzusehen sein, daß zumindest zwei dieser Anschlußstifte Speise- und Masse- bzw.Erdungs-Zustands-
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signale für die betreffende bestimmte elektrische Schaltung innerhalb des Bauelements erfordern können. Diese
Anschlußstift-Festlegungen ändern sich von einem DIP-Bauelement
zum nächsten DIP-Bauelement. Es ist daher erforderlich,
daß jeder Anschlußstift gesondert und individuell zum Zwecke der Erzeugung der geeigneten bzw.
in Frage kommenden Zustandssignalbedingungen für den jeweiligen Anschlußstift berührt wird.
Gemäß der Erfindung führt ein erfolgreiches Testen des jeweiligen festgehaltenen elektrischen Bauelements 90
dazu, daß die Anschlußstifte des betreffenden Bauelements in einen Aufzeichnungsträger, wie in eine gedruckte
Schaltungsplatte 96 gemäß Fig. 5a eingeführt bzw. eingesetzt werden. Daraufhin folgt ein Abschneiden und
Umstauchen dieser Anschlußstifte mittels zweier beweglicher Messer 98 und 100. Dies wird durch die Hauptsteuereinrichtung
20 im Anschluß an einen erfolgreichen Test des jeweiligen Bauelements festgelegt.
In Fig. 5b ist der Fingergreifer 92 im einzelnen veranschaulicht. Der Fingergreifer 92 ist an seinem oberen Ende
durch eine Reihe von konzentrischen Löchern gelenkig gelagert, wie dies dargestelltjT Das gegenüberliegende Ende
des Fingergreifers 92 umfaßt eine Vielzahl von einzelnen elektrischen Kontakten, wie den Kontakt 102, die die Anschlußstifte
eines festgehaltenen Bauelements gesondert berühren. Es dürfte einzusehen sein, daß die tatsächliche
Anzahl der elektrischen Kontakte in Abhängigkeit von der maximalen Bauelementgröße variieren wird, die aufzunehmen
ist. Der Fingergreifer 92 enthält zehn gesonderte elektrische Kontakte, die eine Seite eines zwanzig Anschlußstifte
aufweisenden DIP-Bauelements gemäß Fig. 5a aufnehmen können.
Die Anzahl der an einem Paar von elektrisch empfindlichen Fingergreifern vorhandenen Kontakte wird hier mit "n" bezeichnet.
Es dürfte einzusehen sein, daß diese Anzahl je nach
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der Größe der maximal aufzunehmenden DlP-ßauelemente
variieren kann.
Das untere Ende jedes elektrischen Kontaktes gemäß Fig. 5c weist eine Aussparung auf, um einen Umfangsteil eines Anschlußstiftes
aufzunehmen. Jeder elektrische Kontakt ist im übrigen so konstruiert, daß er geeignete Belastungsdrucke zu tragen vermag, die während des Einsetzens eines
festgehaltenen Bauelements in eine gedruckte Schaltungsplatte auftreten. Das obere Ende des jeweiligen elektrischen
Kontaktes, wie des Kontaktes 102, weist eine entgegengerichtete Ausnehmung auf, die über einen isolierten
Vorsprung 104 eines Gesamtisolationsblocks 106 paßt. Die isolierenden Vorsprünge sind in Abstand an dem Isolationsblock
106 vorgesehen, um für einen Luftspalt zwischen jede« elektrischen Kontakt zu sorgen, der
darüber in Stellung bringbar ist bzw. paßt. Auf diese Art und Weise ist jeder elektrische Kontakt von seinen
benachbarten elektrischen Kontakten elektrisch isoliert.
Jeder elektrische Kontakt weist ein Gewindeloch auf, welches eine elektrisch leitende Schraube 108 durch den
Isolationsblock 106 aufnimmt. Der Isolationsblock 106 ist seinerseits an einem Hauptbauteil 110 des Fingergreifers
angeschraubt. Eine Vielzahl von federnd vorgespannten Kontakten, wie der Kontakt 112, sind innerhalb des Bauteiles
110 in entsprechender Stellung angebracht. Die federnd vorgespannten Kontakte werden aufgrund einer
inneren Federvorspannung so bezeichnet, die ein elektrisch leitendes Ende nach außen drückt. Im Falle des federnd
vorgespannten Kontaktes 112 handelt es sich dabei um ein elektrisch leitendes Ende 114, welches den Kopf der
elektrisch leitenden Schraube 108 berührt.
Der federnd vorgespannte Kontakt 112 weist drei gesonderte elektrische Leitungen 118, 120 und 122 auf, die von einem
freien Anschlußende nach außen abstehen. Jede dieser
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elektrischen Leitungen ist üblicherweise mit dem elektrisch leitenden Ende 114 innerhalb des federnd
vorgespannten Kontaktes 112 verbunden. Jede dieser elektrischen Leitungen ist überdies mit einer bestimmten
Schaltung in Fig. 3 verbunden. Die elektrische Leitung ist speziell mit der Testsignal-Torschaltung 32 verbunden.
Die elektrische Leitung 120 ist mit der Vergleicherschaltung 36 verbunden, während die elektrische Leitung 122 mit
Erde bzw. Masse und der Strom-Eingangszuteilungsschaltung 82 verbunden ist. In jedem Falle bildet die bestimmte
elektrische Leitung einen Teil der Busleitung, welche zwischen dem Schaltungselement und den elektrisch empfindlichen
Fingergreifern 34 gemäß Fig. 3 verläuft. Die elektrische Leitung118 bildet einen Teil der Busleitung 70,
welche die Testsignal-Torschaltung 32 mit den elektrisch empfindlichen Fingergreifern 34 verbindet. Die elektrische
Leitung 120 bildet einen Teil der Busleitung 88, welche die Vergleicherschaltung 36 mit den elektrisch empfindlichen
Fingergreifern 34 verbindet. Die elektrische Leitung 122 bildet einen Teil der Busleitung 86, welche die
Erdungs- und Stromeingangs-Zuteilungsschaltung 82 mit den elektrisch empfindlichen Fingergreifern 34 verbindet.
In jedem Falle führt die bestimmte Busleitung Mnn Leitungen,
die individuell mit den entsprechenden federnd vorgespannten Kontakten innerhalb der elektrisch empfindlichen
Fingergreifer verbunden sind. Auf diese Art und Weise ist jeder Anschlußstift eines festgehaltenen Bauelements
individuell mit der Testsignal-Torschaltung 32, der Vergleicherschaltung 36 und der Erdungs- und Strom-Eingabe-Zuteilungsschaltung
82 verbunden. Dies ermöglicht die Abgabe bzw. das Einprägen eines 2-Pegel-Testzustandssignals
oder die Festlegung eines Erdungs- oder Stromzustands an einem vorgegebenen Anschlußstift eines festgehaltenen
Bauelements. Dadurch ist darüber hinaus die Ermittelung eines Zustandssignals ermöglicht, welches an
dem Anschlußstift zu irgendeinem gegebenen Zeitpunkt vorhanden ist.
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In Fig. 6 ist die Testsignal-Torschaltung 32 im einzelnen veranschaulicht. Es sei daran erinnert, daß die Testsignal-Torschaltung
32 derart betrieben ist, daß sie eine Reihe von 2-Pegel-Testzustandssignalen über eine Busleitung
66 von dem Wertetabellen-Register 58 her aufnimmt. Es sei ferner daran erinnert, daß die Testsignal-Torschaltung
ferner eine Reihe von Eingangs-Zuteilungssignalen von dem Eingangs-Zuteilungöregister 54 über die
Busleitung 68 aufnimmt. Die einzelnen Leitungen innerhalb der Busleitungen 66 und 68 sind in Figo 6 mit durch Bindestriche
an vorangestellten Zahlen angefügtenBezeichnungen bezeichnet, wobei die betreffenden vorangestellten Zahlen
die jeweilige Busleitung bezeichnen. Diese durch Bindestriche nachgestellten Zeichen weisen im übrigen die
Anhangzeichen von "1" bis "n" auf. Dies ist kennzeichnend
für die Anzahl von Leitungen in der jeweiligen Busleitung, die benötigt werden, um die "n" 2-Pegel-Signale von den
entsprechenden oben liegenden Registern 54 und 58 zu übertragen. In diesem Zusammenhang sei angemerkt, daß jedes
2-Pegel-Signal von dem Wertetabellen-Register 58 einen Eingabe- oder Ausgabezustand für einen bestimmten Anschlußstift
des DIP-Bauelements festlegt, welches zu testen ist.
Diese Eingabe- oder Ausgabezustände sind von binärer Natur, so daß sie entweder eine binäre 1 oder eine binäre 0 anzeigen.
Die besondere Kombination all dieser binärer Zustände stellt die bestimmte Wertetabelle für den bestimmten Test
dar. Jedes 2-Pegel-Signal von dem Eingangs- bzw. Eingabe-Zuteilungsregister 54 her legt fest, ob der betreffende
bestimmte Anschlußstift als Eingangsstift zu behandeln ist. Auf diese Art und Weise wird jeder Anschlußstift eines
festgehaltenen Bauelements innerhalb der elektrisch empfindlichen Fingergreifer mit den geeigneten bzw. in
Frage kommenden 2-Pegel-Signalen in Verbindung stehen,
die von den Registern 54 und 58 abgegeben werden. Die in Fig. 6 dargestellte Testsignal-Torschaltung umfaßt eine
Vielzahl von Tor- bzw. Tastverstärkern, die mit 124-1 bis 124-n bezeichnet sind. Jeder dieser Tastverstärker
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arbeitet in der Weise, daß er ein auf einer entsprechenden Eingangsleitung 68-1 bis 68-n auftretendes Testsignal in
dem Fall weiterleitet, daß er durch ein Eingabe-Zuteilungssignal in geeigneter Weise freigegeben ist, welches auf
einer entsprechenden Eingangsleitung 66-1 bis 66-n auftritt. Die resultierenden Testsignale treten auf den entsprechenden
Ausgangsleitungen 70-1 bis 70n auf. Es dürfte einzusehen sein, daß jede der Ausgangsleitungen 70-1 bis
70-n eine der Leitungen der Busleitung 70 gemäß Fig. 3 darstellt. Jede dieser Ausgangsleitungen wird überdies als
eine Leitung entsprechend der zu dem federnd vorgespannten Kontakt 112 gemäß Fig. 5c führenden Leitung 118 erscheinen.
In Fig. 7 ist die Vergleicherschaltung 36 im einzelnen dargestellt.
Die Vergleicherschaltung nimmt insbesondere die Eingangssignale von den elektrisch empfindlichen Fingergreifern
34 über die Eingangsleitungen 88-1 bis 88-n auf. Diese Leitungen bilden die Busleitung 88 gemäß Fig. 6, und
überdies entsprechen sie den Leitungen 120, die von den bestimmten federnd vorgespannten Kontakten gemäß Fig. 5c
angesteuert werden.
Die Vergleicherschaltung erhält außerdem von dem Zentralprozessor
über die Eingangsleitung 38 das sogenannte Bauelement-Konfigurationssignal zugeführt. Dieses Bauelement-Konfigurationssignal
tritt verknüpfungsmäßig mit einem niedrigen Pegel dann auf, wenn das dem Test unterzogene
Bauelement offene Kollektorausgänge aufweist. Das mit einem niedrigen Verknüpfungspegel auftretende Verknüpfungssignal wird durch einen Verstärker 126 invertiert, um die
Basis eines Transistors 128 anzusteuern, wodurch ein Stromfluß durch einen Widerstand 130 und eine Diode 132 hervorgerufen
wird. Dies ermöglicht die Ermittelung von offenen Kollektorausgängen mittels der Operationsverstärker 134-1
bis 134-n. Es dürfte einzusehen sein, daß die zuvor erwähnte Schaltungsanordnung dann nicht aktiviert werden wird,
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wenn das dem Test unterzogene Bauelement keine offenen Kollektorausgänge aufweist. In jedem Fall wird das Ausgangszustandssignal
des jeweiligen Operationsverstärkers 134-1 bis 134-n der einen Seite eines Standard-Vergleichers
136 zugeführt. Die andere gegenüberliegende Seite des Vergleichers 136 erhält eine Reihe von erwarteten
2-Pegel-Zustandstestsignalen über eine Reihe von Eingangsleitungen
89-1 bis 89-n zugeführt. Diese zuletzt erwähnten Eingangsleitungen bilden die internen Leitungen
innerhalb der Busleitung 89 gemäß Fig. 3. Die erwarteten 2-Pegel-Testzustandssignale auf diesen Leitungen
stimnuen mit den binären Zuständen der Wertetabelle
überein, die bezüglich des bestimmten Tests zuvor beschrieben worden sind, der somit durchgeführt wird.
Wie oben im Zusammenhang mit Fig. 3 bereits erläutert, arbeitet die Vergleicherschaltung 136 in der Weise, daß
ein Vergleich in Abhängigkeit von einem Vergleicherfreigabesignal
durchgeführt wird, welches auf der Leitung auftritt. Das Vergleichsergebnis ist ein auf der Leitung
44 auftretendes 2-Pegel-Ausgangssignal. Dieses Signal wird dem Zentralprozessor 46 als Vergleichs-Ergebnissignal
zugeführt.
In Fig. 8 ist der Stromgenerator 80 im einzelnen dargestellt. Der Stromgenerator erhält drei gesonderte 2-Pegel-Signale
über die Leitungen 74-1, 74-2 und 74-3 zugeführt, die Teil der Anschluß-Busleitung 74 gemäß Fig. 3 bilden.
Ein mit niedrigem Verknüpfungspegel auftretendes Verknüpfungszustandssignal,
das an einem der 2-Pegel-Signaleingänge auftritt, wird mittels eines entsprechenden
Verstärkers 138-1, 138-2 bzw. 138-3 invertiert, um die Basis eines entsprechenden Transistors 140-1, 140-2 bzw.
140-3 anzusteuern. Der Transistor, der auf diese Art und Weise in den leitenden Zustand überführt wird, zieht einen
Strom aus einer Spannungsquelle Vs durch seinen Vorschalt-
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widerstand. Es sei darauf hingewiesen, daß der somit
fließende bestimmte Strom durch den Wert des Vorschaltwiderstandes 142-1, 142-2 oder 142-3 festgelegt ist.
In jedem Falle wird der so festgelegte Strom über die Leitung 84 abgegeben, die mit der Erdungs- und Stromeingabe-Zuteilungsschaltung
verbunden ist.
In Fig. 9 ist die Erdungs- und Stromeingabe-Zuteilungsschaltung 82 im einzelnen dargestellt. Der von dem Stromgenerator
ausgewählte Strom tritt auf der Leitung 84 auf, die mit einer Vielzahl von Stromeingabe-Zuteilungsschaltungen
144-1 bis 144-n verbunden ist. Jede der betreffenden Stromeingabe-Zuteilungsschaltungen 144-1 bis 144-n
erhält ein 2-Pegel-Eingangssignal über eine entsprechende
Leitung 76-1 bis 76-n zugeführt. Jede dieser Eingangsleitungen 76-1 bis 76-n bildet einen Teil der Anschluß-Busleitung
76 gemäß Fig. 3. Dabei wird lediglich eine dieser bestimmten Leitungen einen hohen Verknüpfungspegel führen, so daß die betreffende bestimmte Stromeingabe-Zuteilungsschaltung
144-1 bis 144-n freigegeben wird. Dieses mit hohem Verknüpfungspegel auftretende Signal
steuert die Basis eines Transistors, wie des Transistors 146 in der Stromeingabe-Zuteilungsschaltung 144-1 an.
Der von der Eingangs- bzw. Eingabeleitung 84 her gelieferte Strom fließt somit über die Ausgabeleitung 86-1, die
einen Teil der Busleitung 86 gemäß Fig. 3 bildet. Wie oben im Zusammenhang mit Fig. 5c bereits erläutert, sind
die verschiedenen Leitungen innerhalb der Busleitung 86 mit den entsprechenden federnd vorgespannten Kontakten,
wie dem Kontakt 112, über Leitungen, wie über die Leitung 122 verbunden. Auf diese Art und Weise wird ein
ausgewählter Strom einem bestimmten Eingangsanschluß des festgehaltenen Bauelements 90 gemäß Fig. 5c aufgeprägt.
Im Hinblick auf Fig. 9 sei noch bemerkt, daß dort eine
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Vielzahl von Erdungs-Eingangsauswahlschaltungen 148-1
bis 148-n ebenfalls im allgemeinen mit den entsprechenden Ausgangsleitungen 86-1 bis 86-n verbunden ist. Jede
dieser Erdungs-Eingangszuteilungsschaltungen erhält außerdem ein 2-Pegel-Eingangssignal über eine entsprechende
Eingangsleitung 78-1 bis 78-n zugeführt. Dabei tritt lediglich eines dieser 2-Pegel-Eingangssignale mit einem
hohen Verknüpfungspegel auf, so daß auf diese Art und Weise das Fließen eines genügenden Stromes durch eine
Diode, Wie die Diode 150, und damit die Ansteuerung der Basis eines Transistors, wie des Transistors 152, bewirkt
wird, der daraufhin das Potential der entsprechenden Ausgangsleitung, wie der Ausgangsleitung 86-1, auf Erdpotential
zieht. Die somit geerdete Ausgangsleitung prägt einer bestimmten Anschlußstiftleitung des festgehaltenen
Bauelements 90 den Erdungszustand auf. Dies
führt dazu, daß das 'festgehaltene Bauelement für den unmittelbar folgenden Bauelementtest gespeist wird.
Durch die Erfindung ist also ein Testsystem in einer Bauelement-Einsetzmaschine geschaffen, um ein Bauelement
unmittelbar vor dessen Einsetzen in eine gedruckte Schaltungsplatte zu testen. Das Einsetzen des Bauelements erfolgt
unter der Bedingung, daß ein oder mehrere Tests erfolgreich durchlaufen sind, die für das bestimmte Bauelement
festgelegt sind. Jeder Test umfaßt die selektive Abgabe eines oder mehrerer Testsignale an vorher festgelegte
Eingänge des betreffenden Bauelements. Jeder Test umfaßt ferner eine begrenzte Abgabe eines bestimmten
Zustandsspeisesignals. Ein erfolgreiches Durchlaufen der vorgeschriebenen Tests führt zu einer Freigabe des
Einsetzens des betreffenden Bauelements in die gedruckte Schaltungsplatte.
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Claims (16)
1. System zum Testen von Bauelementen, die automatisch mittels einer Bauelement-Einsetzmaschine in einen
Aufnahmeträger einzusetzen sind, dadurch gekennzeichnet.
daß innerhalb des automatischen Steuerteiles der Bauelement-Einsetzmaschine eine Identifizierungseinrichtung (20) vorgesehen ist, die automatisch
jedes Bauelement identifiziert, welches durch die betreffende Bauelement-Einsetzmaschine in einen
Aufnahmeträger einzusetzen ist, daß eine Auswahleinrichtung (30) vorgesehen ist,
die auf die Identifizierung eines in einen Aufnahmeträger einzusetzenden Bauelements automatisch
zumindest einen Test für jedes derartige identifizierte Bauelement auswählt,
daß eine Signalabgabeeinrichtung (46) vorgesehen ist, die auf die automatische Auswahl eines Tests
hin zumindest ein Signal an einen gekennzeichneten Eingang des betreffenden Bauelements abgibt,
daß eine Vergleichereinrichtung (36) vorgesehen ist, die das Reaktionssignal des dem Test unterzogenen
Bauelements mit einem erwarteten Ergebnissignal vergleicht,
daß eine Greifeinrichtung (34) vorgesehen ist, die das in einen Aufnahmeträger einzusetzende Bauelement
ergreift und die eine Vielzahl von Kontakteinrichtungen (102) umfaßt, welche die Eingänge
und Ausgänge des jeweiligen Bauelements berühren, und daß eine Verarbeitungseinrichtung (58,44,46)
vorgesehen ist, die das Vergleichsergebnis derart verarbeitet, daß das Einsetzen des jeweiligen
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Bauelements in einen Aufnähmeträger in dem Fall
unterbunden wird, daß in dem Vergleichstest ein Fehler auftritt.
2. System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Auswahleinrichtung eine Speichereinrichtung
(48) und eine Adressierungseinrichtung (46) aufweist,
daß die Speichereinrichtung (48) eine das Testen des Jeweiligen Bauelements betreffende Testinformation
speichert, die bezüglich des jeweiligen Bauelements in einer Vielzahl von adressierbaren
Speicherplätzen gespeichert ist, und daß die Adressierungseinrichtung (46) auf die automatische Identifizierung eines Bauelementes
hin die Speicherplätze adressiert, die die Testinformation bezüglich des Testes des
identifizierten, in einen Aufnahmeträger einzusetzenden Bauelementes enthalten.
3. System nach Anspruch 1 oder 2, wobei durch die
auf das Testen des jeweiligen Bauelementes sich beziehende Testinformation zumindest zwei Tests je
Bauelement festgelegt sind, dadurch gekennzeichnet, daß die Signalabgabeeinrichtung (46), die einen
Zugriff zu der gespeicherten Testinformation auszuführen
imstande ist, derart betrieben ist, daß ein sequentieller Zugriff zu dem zweiten Test in
dem Fall erfolgt, daß das Bauelement den ersten Test durchläuft.
4. System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die zumindest ein Signal an einen gekennzeichneten Eingang des jeweiligen Bauelements abgebende
Signalabgabeeinrichtung eine Signalerzeugungseinrichtung (48,60), welche eine Vielzahl von durch
den jeweils ausgewählten Test festgelegten Testsignalen
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erzeugt, und eine Eingangs-Festlegeeinrichtung (54) umfaßt, die selektiv zumindest einen
Eingang des jeweiligen Bauelements selektiv festlegt, der zumindest ein Signal aus einer Vielzahl
von erzeugten TestSignalen aufnimmt.
5. System nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die zumindest ein Signal an einen gekennzeichneten
Eingang abgebende Signalabgabeeinrichtung eine Vielzahl von Torschaltungseinrichtungen
(32) umfaßt, die Testsignalzustände an das jeweils festgehaltene Bauelement weiterzuleiten
gestatten und die individuell mit der Vielzahl von das jeweilige Bauelement berührenden
Kontakteinrichtungen (102) verbunden sind.
6. System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine Auswahleinrichtung (38,74) vorgesehen
ist, die einen Speisungszustand aus einer Vielzahl von Speisungszuständen für das jeweilige Bauelement
auswählt, und daß eine Speisungszustands-Abgabeeinrichtung
(80,82,84,86) vorgesehen ist, die den jeweils ausgewählten Speisungszustand an eine der in einer Vielzahl vorgesehenen Kontakteinrichtungen
(102) abgibt, welche mit den Eingängen und Ausgängen des jeweiligen Bauelements in Berührung stehen.
7. System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Einrichtungen (80) vorgesehen sind, die die
Größe der Speisung bzw. Speisespannung für die Abgabe an das dem Test unterzogene Bauelement
festlegen, und daß eine Abgabeeinrichtung (34) vorgesehen ist, die die festgelegte Größe der
Speisung bzw. Speisespannung an das dem Test unterzogene jeweilige Bauelement abgibt.
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8. System nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die die Größe der jeweiligen Speisung bzw.
Speisespannung festlegenden Einrichtungen eine Auswahleinrichtung (82) umfassen, mittels der
ein Speisungszustand aus einer Vielzahl von Speisungszuständen für das dem Test unterzogene
Bauelement auswählbar ist.
9. System nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Abgabeeinrichtung (34), die eine festgelegte
Speisegröße an das dem Test unterzogene jeweilige Bauelement abgibt, eine Einrichtung (54)
umfaßt, die selektiv einen Eingang des betreffenden Bauelements festlegt, welches die ausgewählte
Speisegröße aufzunehmen hat.
10. System nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Abgabeeinrichtung (34), die die festgelegte
Speisegröße an das dem Test unterzogene Bauelement abgibt, eine Begrenzungseinrichtung (70)
umfaßt, welche die Zeitspanne begrenzt, während der die festgelegte Speisegröße an das jeweilige Bauelement
abgegeben wird.
11. System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die das jeweilige Bauelement ergreifende
Greifeinrichtung (34) zwei gelenkig gelagerte Fingergreifer (92,94) aufweist, die jeweils eine
Vielzahl von festen elektrischen Kontakten (102) aufweisen, welche an den Enden der betreffenden
Fingergreifer (92,94) nach unten abstehen, und daß die in einer Vielzahl vorgesehenen festen
elektrischen Kontakte (102) derart betrieben sind, daß sie ein elektrisches Bauelement (90) für das
Einsetzen in einen Aufzeichnungsträger zu erfassen vermögen.
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12. System nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß das Paar der Fingergreifer (92,94) ferner
eine Isolationseinrichtung (104) enthält, die jeden elektrischen Kontakt (102) von benachbarten
elektrischen Kontakten derart isoliert, daß eine Vielzahl von isolierten elektrischen Kontakten
festgelegt ist.
13. System nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß die in einer Vielzahl vorgesehenen festen
elektrischen Kontakte (102) jeweils an einem Anschlußstift anliegen, der von dem jeweiligen
Bauelement (90) absteht, welches zwischen den beiden gelenkig gelagerten Fingergreifern (92,94)
positioniert ist.
14. System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die zur Verarbeitung des Ergebnisses der Vergleichs
vorgesehene Verarbeitungseinrichtung eine Einrichtung (98), welche die Anzahl der auf das
jeweilige Bauelement anzuwendenden Tests festlegt, eine Einrichtung (28), die festlegt, ob die festgelegte
Anzahl von Tests abgeschlossen worden ist, und eine Einrichtung (46) umfaßt, die den nächsten
Test in dem Fall durchführt, daß die festgelegte Anzahl von Tests nicht abgeschlossen ist.
15. System nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet,
daß die Verarbeitungseinrichtung zur Verarbeitung des Vergleichsergebnisses ferner eine Sperreinrichtung
(20) umfaßt, die die Ausführung jeglicher weiterer Tests in dem Fall sperrt, daß ein Fehler
in dem Vergleichstest auftritt.
16. System nach einem der Ansprüche 1 bis 15, dadurch gekennzeichnet, daß Einrichtungen (48) vorgesehen
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sind, die zumindest einen Test für jedes Bauelement
festlegen, daß der Test eine Wertetabelle (58) umfaßt, die für das jeweilige Bauelement aus binären Eingangs- und Ausgangszuständen
besteht, daß eine Einrichtung (34)
vorgesehen ist, die die binären Eingangszustandssignale vorher festgelegten Eingängen
des jeweiligen Bauelements aufprägt, daß eine Vergleichseinrichtung (36) die Reaktionssignale
des betreffenden Bauelements mit den erwarteten binären Zustandssignalen vergleicht und daß
eine Verarbeitungseinrichtung (58,44,46) das Ergebnis des Vergleichs derart verarbeitet, daß
das Einsetzen des betreffenden Bauelements in dem Fall gesperrt ist, daß in dem Vergleichstest ein Fehler aufgetreten ist.
&30017/0803
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8125 | Change of the main classification |
Ipc: G01R 31/26 |
|
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: EMHART INDUSTRIES, INC., FARMINGTON, CONN., US |
|
8128 | New person/name/address of the agent |
Representative=s name: BARDEHLE, H., DIPL.-ING. DOST, W., DIPL.-CHEM. DR. |
|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: DYNAPERT INC., WILMINGTON, DEL., US |
|
8328 | Change in the person/name/address of the agent |
Free format text: BARDEHLE, H., DIPL.-ING. DOST, W., DIPL.-CHEM. DR.RER.NAT. ALTENBURG, U., DIPL.-PHYS., PAT.-ANWAELTE PAGENBERG, J., DR.JUR. FROHWITTER, B., DIPL.-ING., RECHTSANWAELTE GEISSLER, B., DIPL.-PHYS.DR.JUR., PAT.- U. RECHTSANW., 8000 MUENCHEN |
|
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: EMHART INC., NEWARK, DEL., US |
|
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |