DE2941123A1 - System zum testen von bauelementen - Google Patents

Description

DIPL. ING. HEINZ BARDEHLE München, 10.Oktober 1979 PATENTANWALT 2 9 A 1 1 J Q Aktenzeichen: Mein Zeichen.' 2959

USM Corporation

Fannington, Connecticut 06032 Zustelladresse: 181 Elliot Street

Beverly, Mass. 01915

U.S.A.

System zum Testen von Bauelementen

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Beschreibung

Die Erfindung bezieht sich auf eine Maschine bzw. einen Mechanismus, der ein oder mehrere elektrische Bauelemente in einen Aufnahmeträger, wie in eine gedruckte Schaltungsplatte, einzusetzen gestattet. Die Erfindung betrifft insbesondere das Testen und überprüfen eines elektrischen Bauelementes vor seiner Einführung in den betreffenden Aufnahmeträger bzw. in das Aufnahmemedium.

Elektrische und elektronische Bauelemente werden derzeit von einer Vielzahl verschiedener Hersteller in stets steigenden Zahlen hergestellt. Diese Hersteller unterwerfen ihre Produkte häufig strengen Qualitätskontrollnormen während der Produktion und im Anschluß daran. Trotz der Anwendung dieser Qualitätskontrollnormen zeigen die betreffenden elektrischen und elektronischen Bauelemente dennoch verschiedene Ausfallraten bei ihren Endverbrauchern bzw. bei den Endabnehmern.

Die Endabnehmer setzen mehrere dieser elektronischen oder elektrischen Bauelemente in einer speziellen Schaltungskonfiguration zusammen, die eine oder mehrere Funktionen innerhalb einer elektrischen oder elektronischen Gesamteinrichtung ausführt. Diese spezielle Schaltungskonfiguration wird in den meisten Fällen durch eine gedruckte Schaltungsplatte festgelegt, die die betreffenden Bauelemente aufnimmt. Die betreffenden bestimmten Bauelemente können dabei automatisch in die gedruckte Schaltungsplatte eingefügt bzw. eingesetzt werden, und zwar ggfs. durch Verwendung einer Bauelement-Einsetzmaschine. Diese zuletzt erwähnte Lösung wird häufig von einem Einrichtungshersteller angewandt, der mit der Massenproduktion befaßt ist.

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Es sei darauf hingewiesen, daß es bedeutsam ist, jegliches Problem auszusondern, welches mit der automatischen Bauelementbeschickung in einer Produktionsanlage mit einer hohen Massenproduktion verknüpft ist. Dies würde jede fehlerhafte Beschickung der Bauelement-Einsetzmaschine mit falschen Bauelementen einschließen. Damit würde überdies die Beschickung bzw. Zuführung der richtigen Bauelemente in einer falschen Weise eingeschlossen sein, d.h. durch fehlerhafte Ausrichtung der betreffenden Bauelemente, so daß sie in der falschen Richtung für das Einsetzen ausgerichtet sind. Dies würde überdies die Ermittelung eines Bauelementes einschließen, welches entweder vom ursprünglichen Bauelementhersteller her bereits defekt oder durch anschließende Verarbeitung bzw. Handhabung durch den Einrichtungshersteller beschädigt worden war.

Der Forderung nach Überprüfung der elektrischen Bauelemente aus den vorstehend erwähnten Gründen sind stets die Forderungen nach einem zweckmäßigen Handhaben und Einsetzen der Bauelemente durch den Hersteller der elektrischen oder elektronischen Einrichtung entgegengestanden. Dieser Umstand hat bisher zu dem Nachteil geführt, daß ein umfangreicher Test zum Zeitpunkt der Bauelementeinführung vorzunehmen war. In diesem Zusammenhang ist anzumerken, daß der Test üblicherweise auf eine überprüfung der Ausrichtung eines gegebenen Bauelements beschränkt war, indem ein Ausschnitt bzw. eine Aussparung am vorderen Ende des Bauelements ermittelt wurde. Das Bauelement wurde danach eingesetzt, wenn die richtige Ausrichtung angegeben wurde.

Der Erfindung liegt nun die Aufgabe zugrunde, eine Bauelement-Einsetzmaschine zu schaffen, die die Fähigkeit besitzt, elektrische Bauelemente vor ihrer Einführung in einen Aufnahmeträger testen zu können.

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Ferner soll die neu zu schaffende Bauelementeinsetzmaschlne die Fähigkeit aufweisen, die Ansprechcharakteristik des jeweiligen Bauelements vor dem Einsetzen in einem Aufzeichnungsträger messen zu können.

überdies soll die neu zu schaffende Bauelementeinsetzmaschine die Fähigkeit aufweisen, das jeweilige elektrische Bauelement eindeutigen Testbedingungen unterziehen zu können, bevor das betreffende Bauelement in einen Aufzeichnungsträger eingesetzt wird.

Schließlich soll die neu zu schaffende Bauelement-Einsetzmaschine die Fähigkeit zeigen, das jeweilige elektrische Bauelement während einer bestimmten Zeitspanne vor dem Einsetzen in einen Aufzeichnungsträger eindeutigen Testbedingungen aussetzen zu können.

Gelöst wird die vorstehend aufgezeigte Aufgabe durch die in den Patentansprüchen erfaßte Erfindung.

Gemäß der Erfindung wird eine Vielzahl von elektrischen Kontakten mittels eines Paares von Fingergreifern festgelegt, die normalerweise das Bauelement unmittelbar vor dessen Einsetzen in den Aufzeichnungsträger festhalten. Das Bauelement wird in bezug auf diese elektrischen Kontakte ausgerichtet, wenn es zunächst mittels des Paares der Fingergreifer erfaßt wird. Gemäß der Erfindung werden nun ein oder mehrere elektrische Kontakte dazu herangezogen, Testsignale an das Bauelement zu übertragen. Mit Hilfe unterschiedlicher elektrischer Kontakte wird das Ansprechverhalten des betreffenden Bauelementes auf diese Testsignale hin überwacht. Die Zuführung der Testsignale und die Überwachung des Ansprechverhaltens des Bauelements auf diese Testsignale werden durch eine selektive TestSteuereinrichtung festgelegt. Diese selektive Teststeuereinrichtung ist derart betrieben, daß ein oder

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mehrere unterschiedliche Tests festgelegt werden, die unterschiedliche Ansprechverhaxten seitens des jeweiligen Bauelements erfordern.

Bei einer bevorzugten Ausführungsform umfassen die Tests die Zuführung von Verknüpfungspegelsignalen zu ausgewählten Stiften eines vorgegebenen integrierten Schaltungs-Bauelements. Jeder Test umfaßt darüber hinaus die augenblickliche bzw. kurzzeitige Zuführung von ausgewählten Speisungs- und Erdungspegeln zu dem integrierten Schaltungsbauelement. Die Ansprechverhaltensweisen der integrierten Schaltung durch die Ansteuerung an den betreffenden Stiften werden mit einer für das jeweilige integrierte Schaltungsbauelement vorgesehenen bestimmten Wertetabelle verglichen.

In dem Fall, daß sich bezüglich des getesteten Bauelements keine geprüfte Funktionsfähigkeit ergibt, wird die selektive Bauelementteststeuerung derart wirksam, daß die Hauptsteuerung der Bauelementeinsatzmaschine in Alarm gesteuert wird. Die Hauptsteuerung bzw. Hauptsteuereinrichtung wird daraufhin jegliche weitere Maßnahme unterbrechen und überdies der Bedienperson Kenntnis von dem unrichtigen Testergebnis geben.

Anhand von Zeichnungen wird die Erfindung nachstehend beispielsweise näher erläutert.

Fig. 1 zeigt in einem Blockdiagramm eine Bauelementeinsetzmaschine gemäß der vorliegenden Erfindung. Fig. 2 zeigt in einem Blockdiagramm eine selektive Bauelement-Teststeuereinrichtung.

Fig. 3 zeigt in einem detaillierten Blockdiagramm die selektive Bauelement-Teststeuereinrichtung gemäß Fig. Fig. 4 zeigt in einem Flußdiagramm die Operationen, die von einer Zentraleinheit innerhalb der selektiven Bauelement-Teststeuereinrichtung gemäß Fig. 3 ausgeführt

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werden.

Fig. 5a, 5b und 5c veranschaulichen elektrisch empfindliche Fingergreifer innerhalb der selektiven Bauelement-Teststeuereinrichtung gemäß Fig. 3.

Fig. 6 zeigt eine Testsignal-Torschaltung innerhalb der selektiven Bauelement-Teststeuereinrichtung gemäß Fig. 2 und 3.

Fig. 7 veranschaulicht eine Vergleicherschaltung, wie sie in der selektiven Bauelement-Teststeuereinrichtung gemäß Fig. 3 verwendet ist.

Fig. 8 veranschaulicht den Aufbau eines Stromgenerators, wie er in der selektiven Bauelement-Teststeuereinrichtung gemäß Fig. 3 verwendet ist.

Fig. 9 veranschaulicht eine Erdungs- und Strom-Kontaktauswahlschaltung für die selektive Bauelement-Teststeuereinrichtung gemäß Fig. 3.

In Fig. 1 ist eine Bauelement-Einsetzmaschine gemäß der vorliegenden Erfindung generell in BlockdLagrammform veranschaulicht. Dabei ist eine Hauptsteuereinrichtung 20 vorgesehen, die derart betrieben wird, daß sie eine Bauelement-Auswahl- und Einsetzvorrichtung 22 über zwei Steuerverbindungen 24 und 26 steuert. Es sei darauf hingewiesen, daß die Hauptsteuereinrichtung 20 und die Auswahl- und Einsetzvorrichtung 22 generelle Elemente darstellen, die in jeder derzeit modernen Bauelementeinsetzmaschine zu finden sind. Dies wird beispielsweise durch die Bauelement-Einsetzmaschine nach der US-PS 40 63 347 veranschaulicht. Die in der betreffenden US-Patentschrift angegebene Maschine wird derart betrieben, daß sie Bauelemente in einer durch das Hauptsteuersystem festgelegten sequentiellen Weise auswählt. Die jeweils ausgewählten Bauelemente werden in jedem Falle zu einem Bauelement-Einsetzmechanismus der Maschine übertragen. Das jeweilige Bauelement wird anschließend in einen Aufnahmeträger, wie in eine gedruckte Schaltungsplatte, eingesetzt. Der

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Hauptsteuerteil der betreffenden Maschine ist danach in der Weise wirksam, daß er das nächste auszuwählende Bauelement auswählt.

Gemäß der vorliegenden Erfindung wird die Auswahl des nächsten Bauelements durch die Hauptsteuereinrichtung der Bauelement-Einsetzmaschine zu einer selektiven Bauelement-Teststeuereinrichtung 28 hin übertragen. Diese selektive Bauelement-Teststeuereinrichtung legt danach einen oder mehrere digitale Tests für das jeweilige bestimmte Bauelement fest. Diese Tests werden an dem ausgewählten Bauelement durchgeführt, welches für das Einsetzen ergriffen worden ist, und zwar innerhalb der Bauelement-Auswahl- und Einsetzvorrichtung 22. Die Ansprechverhaltensweisen des jeweiligen Bauelements auf die bestimmten Tests werden innerhalb der selektiven Bauelement-Teststeuereinrichtung überprüft. Die selektive Bauelement-Teststeuereinrichtung wird derart betrieben, daß sie die Ergebnisse des Tests zu der Hauptsteuereinrichtung 20 hin überträgt.

Die Hauptsteuereinrichtung 20 wird daraufhin in der Weise betrieben, daß sie ein Einsetzen des Bauelements für den Fall freigibt, daß die Testergebnisse positiv sind. Im anderen Fall unterbricht die Hauptsteuereinrichtung 20 das Einsetzen des ergriffenen Bauelements und signalisiert der Bedienperson das relative Testergebnis.

In Fig. 2 ist in Blockdiagrammform die selektive Bauelement-Teststeuereinrichtung 28 veranschaulicht. Das Bauelement-Auswahlsignal von der Hauptsteuereinrichtung her wird einer Testprogramm-Auswahleinrichtung 30 zugeführt. Die Testprogramm-Auswahleinrichtung 30 ist derart betrieben, daß sie einen oder mehrere digitale Tests auf das Auftreten des Bauelement-Auswahlsignals hin auswählt und festlegt. Jeder Test wird durch eine Vielzahl von

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2-Pegel-Signalen gesondert festgelegt, die von der Testprogramm-Auswahleinrichtung 30 erzeugt werden. Bestimmte dieser Testsignale werden einer Testsignal-Torschaltung zugeführt. Diese Testsignal-Torschaltung 32 leitet die Eingangstestsignalzustände zu zwei elektrisch empfindlichen Fingergreifern 34 hin. Wie weiter unten noch im einzelnen erläutert werden wird, sind die elektrisch empfindlichen Fingergreifer 34 derart wirksam, daß sie das Jeweils ergriffene Bauelement diesen Eingangstestsignalbedingungen unterwerfen.

Die Testprogramm-Auswahleinrichtung 30 gibt ferner eine Reihe von 2-Pegel-Zustandssignalen an eine Vergleicherschaltung 36 ab. Die Vergleicherschaltung 36 erhält ferner eine Anzeige bezuglich des Typs des elektrischen Bauelements, welches zu testen ist, direkt von der Testprogramm-Auswahleinrichtung 30 über eine Leitung 38 zugeführt. Dieses zuletzt erwähnte Signal bewirkt in Verbindung mit dem 2-Pegel-Zustandssignal von der Testprogramm-Auswahleinrichtung, daß die Vergleicherschaltung 36 in den Stand versetzt ist, schließlich einen Vergleich mit den Ausgangssignaleη von dem dem Test unterzogenen Bauelement vorzunehmen.

Die Testprogramm-Auswahleinrichtung 30 erzeugt ferner eine Gruppe von 2-Pegel-Signalen, die die bestimmten Speisungs- und Erdungsbedingungen für das Bauelement festlegen, welches von den elektrisch empfindlichen Fingergreifern 34 ergriffen ist. Diese 2-Pegel-Signale werden einer Speisequelle 40 zugeführt. Die Speisequelle 40 ist derart wirksam, daß sie eine bestimmte Reihe von Speisungs- und Erdungs-ZustandsSignalen erzeugt, die den elektrisch empfindlichen Fingergreifern 34 zugeführt werden. Die Zuführung von Speise- und Erdungssignalen zu dem jeweiligen Bauelement wird auf eine vorher festgelegte Zeitspanne begrenzt, die durch die Testprogramm-Auswahleinrichtung 30 festgelegt ist. Die verschiedenen Aus

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gangssignale bzw. Verhaltensweisen des so gespeisten Bauelements werden mit einer erwarteten Reihe von 2-Pegel-Zustandssignalen in der Vergleicherschaltung verglichen. Dies wird ebenfalls auf einer zeitlich festgelegten Grundlage vorgenommen, was durch ein Signal festgelegt wird, welches von der Testprogramm-Auswahleinrichtung 30 über eine Leitung 42 zugeführt wird. Die Ergebnisse dieses zeitlichen Vergleichs werden über eine Leitung 44 zu der Testprogramm-Auswahleinrichtung 30 zurückübertragen. Die Testprogramm-Auswahleinrichtung 30 überträgt danach entweder die Ergebnisse des Tests zu der Hauptsteuereinrichtung 20 hin, oder aber sie führt das nächstfolgende Testprogramm bezüglich des bestimmten Bauelementes durch.

In Fig. 3 ist die selektive Bauelement-Teststeuereinrichtung 28 in weiteren Einzelheiten veranschaulicht. Die verschiedenen Verknüpfungselemente, die in Fig. 2 zuvor betrachtet worden sind, sind in Fig. 3 in entsprechender Weise bezeichnet. Die Testprogramm-Auswahleinrichtung und die Speisequelle 40 gemäß Fig. 2 sind darüber hinaus mit gestrichelten Linien eingerahmt. Zunächst sei auf die Testprogramm-Auswahleinrichtung 30 eingegangen, bezüglich der ersichtlich ist, daß sie eine Zentraleinheit bzw. einen zentralen Prozessor 46 enthält, der mit verschiedenen weiteren Verknüpfungselementen verbunden ist bzw. mit diesen in Schnittstellenverbindung steht. Die Zentraleinheit 46 ist vorzugsweise ein Mikroprozessor des Typs 8080 der Firma Intel.

Die Zentraleinheit 46 erhält das Jeweilige Bauelement-Auswahlsignal von der Hauptsteuereinrichtung 20 gemäß Fig. 1 her. Auf das Auftreten dieses Signales hin adressiert die Zentraleinheit einen Speicher 48 über einen Adreßbus 50. Der Speicher 48 ist in einer solchen Art und Weise adressiert, daß er eine Testinformation

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enthält, welche dem Bauelement zugehörig ist. Diese Testinformation ist in einer Gruppe von aufeinanderfolgend adressierbaren Speicherplätzen untergebracht. Das Adressieren dieser Speicherplätze beginnt mit der Adresse, die von der Zentraleinheit 46 auf das Auftreten des Bauelement-Auswahlsignals hin erzeugt wird. Der Zugriff zu der Testinformation erfolgt durch aufeinanderfolgendes Adressieren dieser Speicherplätze über den Adreßbus 50. Das Auslesen der in den betreffenden Speicherplätzen gespeicherten Testinformation erfolgt über einen Speicherbus 52. Ein Teil der Testinformation, zu der ein Zugriff hin erfolgt ist, wird in ein Eingabe-Zuteilungsregister 54 über einen Ausgabebus 56 geladen. Ein weiterer Teil der Testinformation, zu der hin ein Zugriff erfolgt ist, wird über den Ausgabebus 56 in ein Wertetabellenregister 58 geladen. Das Laden der Testinformation in die betreffenden Register 54 und 58 wird durch Ladesignale freigegeben, die von einem Adressendecoder 60 her abgegeben werden und die auf zwei Leitungen 62 und 64 auftreten.

Die 2-Pegel-Zustandsausgangssignale von dem somit geladenen Eingabe-Zuteilungsregister 54 werden über eine Busleitung 68 an die Testsignal-Torschaltung 32 abgegeben, während die Ausgangszustandssignale von dem somit geladenen Wertetabellenregister 58 über eine Busleitung 66 an die Testsignal-Torschaltung 32 abgegeben werden. Die Testsignal-Torschaltung wird derart betrieben, daß die verschiedenen 2-Pegel-Zustandssignale an die elektrisch empfindlichen Fingergreifer 34 über eine Busleitung 70 übertragen werden. Die elektrisch empfindlichen Fingergreifer 34 sind ihrerseits derart wirksam, daß sie diese 2-Pegel-Zustandssignale an ein festgehaltenes Bauelement anlegen bzw. abgeben.

Im Hinblick auf die Zentraleinheit 46 ist ersichtlich,

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daß deren rechte Seite eine Anzahl von Anschlüssen aufweist. Diese Anschlüsse, die auch als Ports bezeichnet werden, sind für Mikroprozessoren, wie für den Mikroprozessor 8080 der Firma Intel, üblich. Gemäß der Erfindung wird die Zentraleinheit 46 derart betrieben, daß sie eine gewisse von dem Speicher 48 her erhaltene Testinformation zu diesen Anschlüssen hin überträgt. Diese Information wird ihrerseits weitgehend an die Speisequelle 40 abgegeben, und zwar über eine Reihe von Anschluß-Busleitungen 74,76 und 78. Ein Bit dieser Information wird außerdem dazu herangezogen, ein "Bauelement-Bezeichnungs"-Signal festzulegen, welches auf der Leitung 38 auftritt. Dieses "Bauelement -Bezeichnungs"-Signal wird der Vergleicherschaltung 36 zugeführt.

Die auf der Anschluß-Busleitung 74 auftretende Testinformation wird einem Stromgenerator 80 zugeführt. Der Stromgenerator wird derart betrieben, daß er nachfolgend einen bestimmten ausgewählten Strom während einer festgelegten Zeitspanne erzeugt, wie dies durch die Testinformation auf der Busleitung 74 festgelegt ist. Dieser Strom wird über eine Leitung 84 einer Erd- und Stromeingangs-Zuteilungsschaltung 82 zugeführt. Diese zuletzt genannte Schaltung erhält außerdem die Testinformation von der Zentraleinheit 46 über die Anschluß-Busleitungen 76 und zugeführt. Die Erdungs- und Strom-Eingangszuteilungsschaltung 82 wird anschließend derart betrieben, daß bestimmte elektrische Kontakte an den elektrisch empfindlichen Fingergreifern 34 bezeichnet werden, die die Erdungsbzw. Stromzustandssignale zu erhalten haben. Diese Zustandssignale werden den betreffenden bezeichneten elektrischen Kontakten über eine Busleitung 86 zugeführt. Das ergriffene Bauelement spricht auf die ihm somit zugeführten Erdungs- und Strom-Eingangszustandssignale an (und auf die 2-Pegel-Testzustandssignale, die von der Testsignal-Torschaltung 323 zugeführt werden) und erzeugt auf einer Busleitung 88 eine entsprechende Reihe

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von 2-Pegel-Ausgangssignalen. Diese auf der Busleitung 88 auftretenden 2-Pegel-Ausgangssignale werden der Vergleicherschaltung 36 zugeführt. Die Vergleicherschaltung 36 erhält außerdem eine Reihe von erwarteten Testergebnissen von dem Wertetabellen-Register 58 über eine Busleitung 59. Diese zuletzt erwähnten 2-Pegel-Zustandssignale werden für die Vergleicherschaltung 36 dann verfügbar gemacht, wenn das Wertetabellen-Register 58 geladen wurde. Die erwarteten 2-Pegel-Zustandssignale von der Busleitung 89 werden mit den tatsächlichen 2-Pegel-Zustandssignalen verglichen, die auf der Busleitung 88 auftreten. Dies erfolgt zu einem solchen Zeitpunkt, daß ein Vergleichs-Freigabesignal von dem Adressendecoder 60 über die Leitung 42 aufgenommen wird. Die Ergebnisse des Vergleichs werden über die Leitung 44 zu der Zentraleinheit 46 zurückübertragen. Wenn das Vergleichsergebnis günstig ist, führt die Zentraleinheit 46 entweder einen weiteren Test durch, oder sie übermittelt eine positive Testergebnis-Bestätigung zu der Hauptsteuereinrichtung 20.

In Fig. 4 ist in einem Flußdiagramm die Arbeitsweise der Zentraleinheit 46 veranschaulicht. Das Flußdiagramm beginnt mit einer Entscheidung darüber, ob ein Bauelement ausgewählt worden ist oder nicht. Wie zuvor angedeutet worden ist, wird dies der Zentraleinheit 46 von der Hauptsteuereinrichtung 20 gemeldet. Die Auswahl eines Bauelements von der Hauptsteuereinrichtung 20 zeigt überdies das somit ausgewählte bestimmte Bauelement an. Damit verbunden ist die vorherige Zuteilung einer bestimmten Nummer für das jeweilige Bauelement. Mit anderen Worten ausgedrückt heißt dies, daß jedes Bauelement zuvor mit ¹¹O" bis ^Hk-1" numeriert wird, wobei "k" kennzeichnend ist für die Nummer bzw. Anzahl einzelner Bauelemente, die auszuwählen, zu testen und einzusetzen sind. Diese Nummer wird in dem Bauelement-Signal erscheinen, das der Zentraleinheit 46 zugeführt wird.

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Auf die Auswahl eines Bauelementes hin wird die Zentraleinheit 46 derart betrieben, daß eine Test-Zählerstellung von "m" eingestellt wird. Dies ermöglicht die anschließende Durchführung von mehr als einem Test. Es hat sich herausgestellt, daß zumindest zwei Tests üblicherweise erforderlich sind, um in angemessener Weise ein Bauelement vor dem Einsetzen zu testen.

Auf das Festlegen einer Test-Zählerstellung von "m^w hin besteht der nächste Schritt darin, das ausgewählte Bauelement-Signal in eine Speicheradresse umzusetzen, welche den Speicherplatz für das erste Wort der Information für den ersten Test kennzeichnet. Dies wird vorzugsweise dadurch vorgenommen, daß die Bauelement-Nummer mit der maximalen Zahl von Speicherplätzen multipliziert sind, die zur Speicherung der Test-Information für irgendein gegebenes Bauelement erforderlich sind. Mit anderen Worten heißt dies, daß dann, wenn es erforderlich wäre, ein Maximum von 16 Speicherplätzen zur Durchführung von "m" Tests bezüglich eines oder mehrerer Bauelemente bereitzustellen, die Zahl 16 den Multiplikationsfaktor darstellen würde. Es dürfte einzusehen sein, daß der tatsächliche Multiplikationsfaktor von der Wortbreite des Speichers sowie von der Gesamtzahl von Wörtern abhängen wird, die erforderlich sind, um die "m" Tests auszuführen. Es sei ferner darauf hingewiesen, daß dann, wenn die erste Speicheradresse des mit "0" numerierten Bauelements von Null verschieden ist, diese Adresse ebenfalls zu den zuvor erwähnten Multiplikationsergebnissen hinzuzuaddieren ist.

Nachdem die erste Adresse somit festgelegt ist, arbeitet die Zentraleinheit nunmehr in der Weise, daß sie einen Zugriff zu der Testinformation unter dieser Adresse ausführt. Gemäß einem vorher festgelegten Laden der Testinformation in den Speicher 48 gehört die in der ersten Speicheradresse vorhandene Information zu den Eingabe-

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Zuteilungen für das betreffende bestimmte Bauelement. Der nächste Schritt in dem Flußdiagramm gemäß Fig. 4 besteht somit im Lesen und Schreiben dieser Eingabe-Zuteilungen in das Register 54 gemäß Fig. 3. Gemäß Fig. 3 wird dies dadurch bewirkt, daß der Bus bzw. die Busleitung 54 mit den bestimmten Eingabe-Zuteilungen beschickt wird und daß danach eine Adresse abgegeben wird, die den Adressendecoder 60 derart triggert, daß dieser ein Ladesignal an die Leitung 62 abgibt, wodurch die Eingabe-Zuteilungsinformation in das Eingabe-Zuteilungsregister 54 geladen wird. Die Eingabe-Zuteilungen bestehen aus 2-Pegel-Zustandssignalen, die parallelen das Eingabe-Zuteilungsregister 54 zu einem solchen Zeitpunkt geladen werden, zu dem das Ladesignal auf der Leitung 62 auftritt.

In entsprechender Weise besteht der nächste Schritt in dem Flußdiagramm gemäß Fig. 4 darin, daß das Lesen und Schreiben der Wertetabelle für den Test in das Register 58 durchgeführt wird. Zu diesem Zweck wird die Wertetabellen-Information ausgelesen , die in den nächstfolgenden adressierbaren Speicherplätzen innerhalb des Speichers 48 gespeichert ist, und danach wird die betreffende Information parallel in das Wertetabellen-Register 58 geladen. Das eigentliche Laden wird dadurch vorgenommen, daß ein Adressensignal an die Adressen-Busleitung 50 abgegeben wird und daß die betreffende Adresse durch den Adressendecoder 60 decodiert wird, der seinerseits ein Ladesignal an die Leitung 64 abgibt.

Der nächste Schritt in dem Flußdiagramm gemäß Fig. 4 besteht darin, daß das Lesen und Einschreiben der Strom-Auswahl in einem bezeichneten Anschluß erfolgt. Der betreffende bestimmte bezeichnete Anschluß wird dabei derjenige Anschluß sein, der der Anschluß-Busleitung 74 zugehörig ist. Daraufhin erfolgt das Lesen und Einschreiben der Strom-Eingabezuteilung in einen dem Anschluß-Bus 76 zugehörigen bezeichneten Anschluß. Die Bauelement-Bezeichungsinformation wird danach in einen der Leitung 38

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gemäß Fig. 3 zugehörigen Anschluß geschrieben. Der nächste Informationsteil, der in einen Anschluß einzuschreiben ist, stellt die Erdungs-Zuteilung dar. Dieser Informationsteil wird in den dem Anschluß-Bus 78 zugehörigen Anschluß eingeschrieben.

Es dürfte einzusehen sein, daß die gesamte Information, die an den den Anschluß-Busleitungen 74,76 und 78 zugehörigen Anschlüssen eingeschrieben wird, unmittelbar verfügbar gemacht wird für das signalmäßig aufnehmende Verknüpfung selement. In diesem Zusammenhang sei angemerkt, daß der Stromgenerator 80 derart betrieben wird, daß er einen ausgewählten Strom erzeugt, kurz nachdem die Information in den dem Anschlußbus 74 zugehörigen Anschluß eingeschrieben worden ist. Dieser Strom wird anschließend einem bestimmten Kontakt innerhalb der elektrisch empfindlichen Fingergreifer 34 zugeführt, und zwar kurz nachdem die Strom-Eingangszuteilung in den dem Anschlußbus 76 zugehörigen Anschluß eingeschrieben worden ist. Schließlich wird ein bestimmter Kontakt innerhalb der elektrisch empfindlichen Fingergreifer 34 dem Erdungszustand ausgesetzt, kurz nachdem die Erdungs-Eingangszuteilung in den dem Anschlußbus 78 zugehörigen Anschluß eingeschrieben worden ist. Es sei darauf hingewiesen, daß das festgehaltene Bauelement einem bestimmten Speisepegel ausgesetzt wird, der durch den ausgewählten Strom festgelegt ist, so bald der Erdungszustand ausgeübt wird bzw. das Bauelement diesem ausgesetzt ist. Das so gespeiste Bauelement wird einer relativ kurzen Einschwingzeit bzw. Einstellzeit ausgesetzt werden. Diese Einschwingzeit wird dadurch bereitge stellt, daß eine bestimmte Zeitspanne festgelegt wird, während der dem dem Test unterzogenen Bauelement ermöglicht ist, sich zu stabilisieren. Dies ist in Fig. 4 als gesonderter Schritt auf das Lesen und Einschreiben der Erdungs-Zuteilung in den dem Anschlußbus 78 zugehörigen Anschluß veranschaulicht.

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Im Hinblick auf Fig. 4 sei darauf hingewiesen, daß der nächste Schritt darin besteht, einen Vergleich innerhalb der Vergleicherschaltung 36 einzuleiten, und zwar auf den Ablauf der betreffenden bestimmten Zeitspanne. Dies wird mit der in Fig. 3 dargestellten Verknüpfungsanordnung bewirkt, indem ein Adressensignal an die Adressenbusleitung 50 abgegeben wird. Dieses Signal wird durch den Adressendecoder 60 decodiert, der seinerseits ein Vergleicherfreigabesignal über die Leitung 62 an die Vergleicherschaltung 3b abgibt.

Der nächste von der Zentraleinheit 46 nach dem Flußdiagramm gemäß Fig. 4 auszuführende Schritt besteht darin, das Ergebnis des Vergleichs zu erhalten, der somit durch die Vergleicherschaltung 36 vorgenommen worden ist. Dies wird dadurch erreicht, daß das 2-Pegel-Signal gelesen wird, welches von der Vergleicherschaltung 36 zu der Zentraleinheit 46 über die Leitung 44 übertragen wird.

Der nächste Schritt in dem Flußdiagramm gemäß Fig. 4 besteht darin, die Anschlüsse der Zentraleinheit 46 zu nullen. Dadurch wird die Speisung für das Bauelement auf die Beendigung des Testes hin wirksam abgeschaltet. Es sei darauf hingewiesen, daß diese Speisungsabschaltung für das Bauelement zu einem Zeitpunkt auftreten wird, der kurz nach der Abgabe des Vergleicherfreigabesignals liegt. In diesem Zusammenhang sei bemerkt, daß dem Testen jedes Bauelements eine zeitliche Gesamtbeschränkung dadurch auferlegt wird, daß die Zeitspanne begrenzt wird, während der das jeweilige Bauelement der tatsächlichen Speisung ausgesetzt ist. Diese zeitliche Beschränkung begrenzt jegliche Beschädigung des festgehaltenen Bauelements in dem Fall, daß dieses während des Tests fehlerhaft funktioniert.

Der nächste auf die Nullung der Anschlüsse hinjfolgende Schritt besteht darin, daß festgelegt wird, ob das

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Vergleichsergebnis von der Leitung 44 zutrifft. Wenn dies im negativen Sinne beantwortet wird, dann wird die Zentraleinheit 46 in der Weise wirksam, daß ein "Fehler" in die Hauptsteuereinrichtung 20 als Testergebnis eingeschrieben wird. Wenn hingegen die Antwort positiv ausfällt, dann wird die Test-Zählerstellung vermindert, und ferner wird die Frage gestellt, ob die Test-Zählerstellung gleich Null ist oder nicht. Wenn diese Antwort bejaht wird, dann wird der als Zentraleinheit bezeichnete Zentralprozessor 46 derart betrieben, daß ein Weiterleitungssignal zu der Hauptsteuereinrichtung 20 geschrieben wird. Wenn die Test-Zählerstellung nicht gleich Null ist, dann führt der Zentralprozessor 46 einen übergang im Zyklus zum Punkt A in dem Flußdiagramm aus. An dieser Stelle enthält die nächstfolgende Adresse für den Speicher 48 das erste Informationswort für den nächsten Test. Dieses bestimmte Informationswort wird entweder vollständig oder teilweise die Eingangszuteilungen für den bestimmten Test enthalten, der auszuführen ist. Die Organisation der Testinformation innerhalb des Speichers 48 ist dabei dieselbe wie für den ersten Test, so daß lediglich eine sequentielle Adressierung vorzunehmen ist, wenn die verschiedenen Schritte unterhalb des Punktes A ausgeführt werden. Diese Durchführung nachfolgender Tests wird solange fortgesetzt, bis entweder ein Fehler bezüglich eines vorgegebenen Tests festgestellt wird oder bis eine Test-Zähler st ellung von Null erreicht ist. Im zuletzt erwähnten Fall wird der Zentralprozessor derart betrieben, daß ein "Durchlaßsignal" in die Hauptsteuereinrichtung 20 über die Leitung geschrieben wird, die die Testergebnisse überträgt.

Es sei darauf hingewiesen, daß die Hauptsteuereinrichtung 20 gemäß Fig. 1 derart betrieben wird, daß sie in geeigneter Weise entweder auf die "Umgehungs"- oder

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"Fehler"-Signale von dem Zentralprozessor 46 her anspricht. In diesem Zusammenhang sei angemerkt, daß die Hauptsteuereinrichtung 20 vorzugsweise ein digitaler Rechner ist, der so programmiert ist, daß er die normalen Auswahl- und Einsetzfunktionen einer Bauelement-Einsetzmaschine ausführt. Dies stellt die normale Konfiguration einer Hauptsteuereinrichtung innerhalb einer derzeit modernen Bauelement-Einsetzmaschine dar. Eine zur Fortführung des Einsetzens dienende Freigabe wird in der Hauptsteuereinrichtung programmiert. Diese Freigabe wird von der Aufnahme des "Umgehungs"-Signals von dem Zentralprozessor 46 her abhängig gemacht. Diese Freigabe wird niemals im Falle eines Bauelementausfalls erteilt. Die Hauptsteuereinrichtung oder eine gesondert zugeteilte Alarmschaltung sprechen auf ein "Ausfall"- bzw. "Fehler"-Signal an, um einen Alarm auszulösen, der der Bedienperson der Maschine gemeldet wird.

In Fig. 5A ist ein festgehaltenes bzw. ergriffenes Bauelement 90 als innerhalb zweier elektrisch empfindlicher Fingergreifer 92 und 94 festgehalten dargestellt. Die elektrisch empfindlichen Fingergreifer 92 und 94 stellen eine bevorzugte Konfiguration der elektrisch empfindlichen Fingergreifer J>k gemäß Fig. 2 und 3 dar. Das festgehaltene Bauelement 90 stellt ein an sich bekanntes Bauelement mit einer sogenannten Dual-In-Line-Stiftbelegung dar; ein derartiges Bauelement wird üblicherweise auch als DIP-Bauelement bezeichnet. Das betreffende DIP-Bauelement weist längs jeder Seite zehn gesonderte Anschlußstifte auf. Es dürfte einzusehen sein, daß jeder dieser Anschlußstifte entweder einen Eingang oder einen Ausgang bezüglich der in dem betreffenden Bauelement enthaltenen bestimmten elektrischen Schaltung darstellt.

Es dürfte ferner einzusehen sein, daß zumindest zwei dieser Anschlußstifte Speise- und Masse- bzw.Erdungs-Zustands-

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signale für die betreffende bestimmte elektrische Schaltung innerhalb des Bauelements erfordern können. Diese Anschlußstift-Festlegungen ändern sich von einem DIP-Bauelement zum nächsten DIP-Bauelement. Es ist daher erforderlich, daß jeder Anschlußstift gesondert und individuell zum Zwecke der Erzeugung der geeigneten bzw. in Frage kommenden Zustandssignalbedingungen für den jeweiligen Anschlußstift berührt wird.

Gemäß der Erfindung führt ein erfolgreiches Testen des jeweiligen festgehaltenen elektrischen Bauelements 90 dazu, daß die Anschlußstifte des betreffenden Bauelements in einen Aufzeichnungsträger, wie in eine gedruckte Schaltungsplatte 96 gemäß Fig. 5a eingeführt bzw. eingesetzt werden. Daraufhin folgt ein Abschneiden und Umstauchen dieser Anschlußstifte mittels zweier beweglicher Messer 98 und 100. Dies wird durch die Hauptsteuereinrichtung 20 im Anschluß an einen erfolgreichen Test des jeweiligen Bauelements festgelegt.

In Fig. 5b ist der Fingergreifer 92 im einzelnen veranschaulicht. Der Fingergreifer 92 ist an seinem oberen Ende durch eine Reihe von konzentrischen Löchern gelenkig gelagert, wie dies dargestelltjT Das gegenüberliegende Ende des Fingergreifers 92 umfaßt eine Vielzahl von einzelnen elektrischen Kontakten, wie den Kontakt 102, die die Anschlußstifte eines festgehaltenen Bauelements gesondert berühren. Es dürfte einzusehen sein, daß die tatsächliche Anzahl der elektrischen Kontakte in Abhängigkeit von der maximalen Bauelementgröße variieren wird, die aufzunehmen ist. Der Fingergreifer 92 enthält zehn gesonderte elektrische Kontakte, die eine Seite eines zwanzig Anschlußstifte aufweisenden DIP-Bauelements gemäß Fig. 5a aufnehmen können. Die Anzahl der an einem Paar von elektrisch empfindlichen Fingergreifern vorhandenen Kontakte wird hier mit "n" bezeichnet. Es dürfte einzusehen sein, daß diese Anzahl je nach

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der Größe der maximal aufzunehmenden DlP-ßauelemente variieren kann.

Das untere Ende jedes elektrischen Kontaktes gemäß Fig. 5c weist eine Aussparung auf, um einen Umfangsteil eines Anschlußstiftes aufzunehmen. Jeder elektrische Kontakt ist im übrigen so konstruiert, daß er geeignete Belastungsdrucke zu tragen vermag, die während des Einsetzens eines festgehaltenen Bauelements in eine gedruckte Schaltungsplatte auftreten. Das obere Ende des jeweiligen elektrischen Kontaktes, wie des Kontaktes 102, weist eine entgegengerichtete Ausnehmung auf, die über einen isolierten Vorsprung 104 eines Gesamtisolationsblocks 106 paßt. Die isolierenden Vorsprünge sind in Abstand an dem Isolationsblock 106 vorgesehen, um für einen Luftspalt zwischen jede« elektrischen Kontakt zu sorgen, der darüber in Stellung bringbar ist bzw. paßt. Auf diese Art und Weise ist jeder elektrische Kontakt von seinen benachbarten elektrischen Kontakten elektrisch isoliert.

Jeder elektrische Kontakt weist ein Gewindeloch auf, welches eine elektrisch leitende Schraube 108 durch den Isolationsblock 106 aufnimmt. Der Isolationsblock 106 ist seinerseits an einem Hauptbauteil 110 des Fingergreifers angeschraubt. Eine Vielzahl von federnd vorgespannten Kontakten, wie der Kontakt 112, sind innerhalb des Bauteiles 110 in entsprechender Stellung angebracht. Die federnd vorgespannten Kontakte werden aufgrund einer inneren Federvorspannung so bezeichnet, die ein elektrisch leitendes Ende nach außen drückt. Im Falle des federnd vorgespannten Kontaktes 112 handelt es sich dabei um ein elektrisch leitendes Ende 114, welches den Kopf der elektrisch leitenden Schraube 108 berührt.

Der federnd vorgespannte Kontakt 112 weist drei gesonderte elektrische Leitungen 118, 120 und 122 auf, die von einem freien Anschlußende nach außen abstehen. Jede dieser

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elektrischen Leitungen ist üblicherweise mit dem elektrisch leitenden Ende 114 innerhalb des federnd vorgespannten Kontaktes 112 verbunden. Jede dieser elektrischen Leitungen ist überdies mit einer bestimmten Schaltung in Fig. 3 verbunden. Die elektrische Leitung ist speziell mit der Testsignal-Torschaltung 32 verbunden. Die elektrische Leitung 120 ist mit der Vergleicherschaltung 36 verbunden, während die elektrische Leitung 122 mit Erde bzw. Masse und der Strom-Eingangszuteilungsschaltung 82 verbunden ist. In jedem Falle bildet die bestimmte elektrische Leitung einen Teil der Busleitung, welche zwischen dem Schaltungselement und den elektrisch empfindlichen Fingergreifern 34 gemäß Fig. 3 verläuft. Die elektrische Leitung118 bildet einen Teil der Busleitung 70, welche die Testsignal-Torschaltung 32 mit den elektrisch empfindlichen Fingergreifern 34 verbindet. Die elektrische Leitung 120 bildet einen Teil der Busleitung 88, welche die Vergleicherschaltung 36 mit den elektrisch empfindlichen Fingergreifern 34 verbindet. Die elektrische Leitung 122 bildet einen Teil der Busleitung 86, welche die Erdungs- und Stromeingangs-Zuteilungsschaltung 82 mit den elektrisch empfindlichen Fingergreifern 34 verbindet. In jedem Falle führt die bestimmte Busleitung ^Mnⁿ Leitungen, die individuell mit den entsprechenden federnd vorgespannten Kontakten innerhalb der elektrisch empfindlichen Fingergreifer verbunden sind. Auf diese Art und Weise ist jeder Anschlußstift eines festgehaltenen Bauelements individuell mit der Testsignal-Torschaltung 32, der Vergleicherschaltung 36 und der Erdungs- und Strom-Eingabe-Zuteilungsschaltung 82 verbunden. Dies ermöglicht die Abgabe bzw. das Einprägen eines 2-Pegel-Testzustandssignals oder die Festlegung eines Erdungs- oder Stromzustands an einem vorgegebenen Anschlußstift eines festgehaltenen Bauelements. Dadurch ist darüber hinaus die Ermittelung eines Zustandssignals ermöglicht, welches an dem Anschlußstift zu irgendeinem gegebenen Zeitpunkt vorhanden ist.

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In Fig. 6 ist die Testsignal-Torschaltung 32 im einzelnen veranschaulicht. Es sei daran erinnert, daß die Testsignal-Torschaltung 32 derart betrieben ist, daß sie eine Reihe von 2-Pegel-Testzustandssignalen über eine Busleitung 66 von dem Wertetabellen-Register 58 her aufnimmt. Es sei ferner daran erinnert, daß die Testsignal-Torschaltung ferner eine Reihe von Eingangs-Zuteilungssignalen von dem Eingangs-Zuteilungöregister 54 über die Busleitung 68 aufnimmt. Die einzelnen Leitungen innerhalb der Busleitungen 66 und 68 sind in Fig_o 6 mit durch Bindestriche an vorangestellten Zahlen angefügtenBezeichnungen bezeichnet, wobei die betreffenden vorangestellten Zahlen die jeweilige Busleitung bezeichnen. Diese durch Bindestriche nachgestellten Zeichen weisen im übrigen die Anhangzeichen von "1" bis "n" auf. Dies ist kennzeichnend für die Anzahl von Leitungen in der jeweiligen Busleitung, die benötigt werden, um die "n" 2-Pegel-Signale von den entsprechenden oben liegenden Registern 54 und 58 zu übertragen. In diesem Zusammenhang sei angemerkt, daß jedes 2-Pegel-Signal von dem Wertetabellen-Register 58 einen Eingabe- oder Ausgabezustand für einen bestimmten Anschlußstift des DIP-Bauelements festlegt, welches zu testen ist. Diese Eingabe- oder Ausgabezustände sind von binärer Natur, so daß sie entweder eine binäre 1 oder eine binäre 0 anzeigen. Die besondere Kombination all dieser binärer Zustände stellt die bestimmte Wertetabelle für den bestimmten Test dar. Jedes 2-Pegel-Signal von dem Eingangs- bzw. Eingabe-Zuteilungsregister 54 her legt fest, ob der betreffende bestimmte Anschlußstift als Eingangsstift zu behandeln ist. Auf diese Art und Weise wird jeder Anschlußstift eines festgehaltenen Bauelements innerhalb der elektrisch empfindlichen Fingergreifer mit den geeigneten bzw. in Frage kommenden 2-Pegel-Signalen in Verbindung stehen, die von den Registern 54 und 58 abgegeben werden. Die in Fig. 6 dargestellte Testsignal-Torschaltung umfaßt eine Vielzahl von Tor- bzw. Tastverstärkern, die mit 124-1 bis 124-n bezeichnet sind. Jeder dieser Tastverstärker

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arbeitet in der Weise, daß er ein auf einer entsprechenden Eingangsleitung 68-1 bis 68-n auftretendes Testsignal in dem Fall weiterleitet, daß er durch ein Eingabe-Zuteilungssignal in geeigneter Weise freigegeben ist, welches auf einer entsprechenden Eingangsleitung 66-1 bis 66-n auftritt. Die resultierenden Testsignale treten auf den entsprechenden Ausgangsleitungen 70-1 bis 70n auf. Es dürfte einzusehen sein, daß jede der Ausgangsleitungen 70-1 bis 70-n eine der Leitungen der Busleitung 70 gemäß Fig. 3 darstellt. Jede dieser Ausgangsleitungen wird überdies als eine Leitung entsprechend der zu dem federnd vorgespannten Kontakt 112 gemäß Fig. 5c führenden Leitung 118 erscheinen.

In Fig. 7 ist die Vergleicherschaltung 36 im einzelnen dargestellt. Die Vergleicherschaltung nimmt insbesondere die Eingangssignale von den elektrisch empfindlichen Fingergreifern 34 über die Eingangsleitungen 88-1 bis 88-n auf. Diese Leitungen bilden die Busleitung 88 gemäß Fig. 6, und überdies entsprechen sie den Leitungen 120, die von den bestimmten federnd vorgespannten Kontakten gemäß Fig. 5c angesteuert werden.

Die Vergleicherschaltung erhält außerdem von dem Zentralprozessor über die Eingangsleitung 38 das sogenannte Bauelement-Konfigurationssignal zugeführt. Dieses Bauelement-Konfigurationssignal tritt verknüpfungsmäßig mit einem niedrigen Pegel dann auf, wenn das dem Test unterzogene Bauelement offene Kollektorausgänge aufweist. Das mit einem niedrigen Verknüpfungspegel auftretende Verknüpfungssignal wird durch einen Verstärker 126 invertiert, um die Basis eines Transistors 128 anzusteuern, wodurch ein Stromfluß durch einen Widerstand 130 und eine Diode 132 hervorgerufen wird. Dies ermöglicht die Ermittelung von offenen Kollektorausgängen mittels der Operationsverstärker 134-1 bis 134-n. Es dürfte einzusehen sein, daß die zuvor erwähnte Schaltungsanordnung dann nicht aktiviert werden wird,

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wenn das dem Test unterzogene Bauelement keine offenen Kollektorausgänge aufweist. In jedem Fall wird das Ausgangszustandssignal des jeweiligen Operationsverstärkers 134-1 bis 134-n der einen Seite eines Standard-Vergleichers 136 zugeführt. Die andere gegenüberliegende Seite des Vergleichers 136 erhält eine Reihe von erwarteten 2-Pegel-Zustandstestsignalen über eine Reihe von Eingangsleitungen 89-1 bis 89-n zugeführt. Diese zuletzt erwähnten Eingangsleitungen bilden die internen Leitungen innerhalb der Busleitung 89 gemäß Fig. 3. Die erwarteten 2-Pegel-Testzustandssignale auf diesen Leitungen stimnuen mit den binären Zuständen der Wertetabelle überein, die bezüglich des bestimmten Tests zuvor beschrieben worden sind, der somit durchgeführt wird.

Wie oben im Zusammenhang mit Fig. 3 bereits erläutert, arbeitet die Vergleicherschaltung 136 in der Weise, daß ein Vergleich in Abhängigkeit von einem Vergleicherfreigabesignal durchgeführt wird, welches auf der Leitung auftritt. Das Vergleichsergebnis ist ein auf der Leitung 44 auftretendes 2-Pegel-Ausgangssignal. Dieses Signal wird dem Zentralprozessor 46 als Vergleichs-Ergebnissignal zugeführt.

In Fig. 8 ist der Stromgenerator 80 im einzelnen dargestellt. Der Stromgenerator erhält drei gesonderte 2-Pegel-Signale über die Leitungen 74-1, 74-2 und 74-3 zugeführt, die Teil der Anschluß-Busleitung 74 gemäß Fig. 3 bilden. Ein mit niedrigem Verknüpfungspegel auftretendes Verknüpfungszustandssignal, das an einem der 2-Pegel-Signaleingänge auftritt, wird mittels eines entsprechenden Verstärkers 138-1, 138-2 bzw. 138-3 invertiert, um die Basis eines entsprechenden Transistors 140-1, 140-2 bzw. 140-3 anzusteuern. Der Transistor, der auf diese Art und Weise in den leitenden Zustand überführt wird, zieht einen Strom aus einer Spannungsquelle Vs durch seinen Vorschalt-

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widerstand. Es sei darauf hingewiesen, daß der somit fließende bestimmte Strom durch den Wert des Vorschaltwiderstandes 142-1, 142-2 oder 142-3 festgelegt ist. In jedem Falle wird der so festgelegte Strom über die Leitung 84 abgegeben, die mit der Erdungs- und Stromeingabe-Zuteilungsschaltung verbunden ist.

In Fig. 9 ist die Erdungs- und Stromeingabe-Zuteilungsschaltung 82 im einzelnen dargestellt. Der von dem Stromgenerator ausgewählte Strom tritt auf der Leitung 84 auf, die mit einer Vielzahl von Stromeingabe-Zuteilungsschaltungen 144-1 bis 144-n verbunden ist. Jede der betreffenden Stromeingabe-Zuteilungsschaltungen 144-1 bis 144-n erhält ein 2-Pegel-Eingangssignal über eine entsprechende Leitung 76-1 bis 76-n zugeführt. Jede dieser Eingangsleitungen 76-1 bis 76-n bildet einen Teil der Anschluß-Busleitung 76 gemäß Fig. 3. Dabei wird lediglich eine dieser bestimmten Leitungen einen hohen Verknüpfungspegel führen, so daß die betreffende bestimmte Stromeingabe-Zuteilungsschaltung 144-1 bis 144-n freigegeben wird. Dieses mit hohem Verknüpfungspegel auftretende Signal steuert die Basis eines Transistors, wie des Transistors 146 in der Stromeingabe-Zuteilungsschaltung 144-1 an. Der von der Eingangs- bzw. Eingabeleitung 84 her gelieferte Strom fließt somit über die Ausgabeleitung 86-1, die einen Teil der Busleitung 86 gemäß Fig. 3 bildet. Wie oben im Zusammenhang mit Fig. 5c bereits erläutert, sind die verschiedenen Leitungen innerhalb der Busleitung 86 mit den entsprechenden federnd vorgespannten Kontakten, wie dem Kontakt 112, über Leitungen, wie über die Leitung 122 verbunden. Auf diese Art und Weise wird ein ausgewählter Strom einem bestimmten Eingangsanschluß des festgehaltenen Bauelements 90 gemäß Fig. 5c aufgeprägt.

Im Hinblick auf Fig. 9 sei noch bemerkt, daß dort eine

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Vielzahl von Erdungs-Eingangsauswahlschaltungen 148-1 bis 148-n ebenfalls im allgemeinen mit den entsprechenden Ausgangsleitungen 86-1 bis 86-n verbunden ist. Jede dieser Erdungs-Eingangszuteilungsschaltungen erhält außerdem ein 2-Pegel-Eingangssignal über eine entsprechende Eingangsleitung 78-1 bis 78-n zugeführt. Dabei tritt lediglich eines dieser 2-Pegel-Eingangssignale mit einem hohen Verknüpfungspegel auf, so daß auf diese Art und Weise das Fließen eines genügenden Stromes durch eine Diode, Wie die Diode 150, und damit die Ansteuerung der Basis eines Transistors, wie des Transistors 152, bewirkt wird, der daraufhin das Potential der entsprechenden Ausgangsleitung, wie der Ausgangsleitung 86-1, auf Erdpotential zieht. Die somit geerdete Ausgangsleitung prägt einer bestimmten Anschlußstiftleitung des festgehaltenen Bauelements 90 den Erdungszustand auf. Dies führt dazu, daß das 'festgehaltene Bauelement für den unmittelbar folgenden Bauelementtest gespeist wird.

Durch die Erfindung ist also ein Testsystem in einer Bauelement-Einsetzmaschine geschaffen, um ein Bauelement unmittelbar vor dessen Einsetzen in eine gedruckte Schaltungsplatte zu testen. Das Einsetzen des Bauelements erfolgt unter der Bedingung, daß ein oder mehrere Tests erfolgreich durchlaufen sind, die für das bestimmte Bauelement festgelegt sind. Jeder Test umfaßt die selektive Abgabe eines oder mehrerer Testsignale an vorher festgelegte Eingänge des betreffenden Bauelements. Jeder Test umfaßt ferner eine begrenzte Abgabe eines bestimmten Zustandsspeisesignals. Ein erfolgreiches Durchlaufen der vorgeschriebenen Tests führt zu einer Freigabe des Einsetzens des betreffenden Bauelements in die gedruckte Schaltungsplatte.

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Claims (16)

DIPUINCHEINZBARDEHLE München, 10.Oktober 1979 PATENTANWALT ? Q A 1 1 ? *? Aktenzeichen: Mein Zeichen: * Patentansprüche

1. System zum Testen von Bauelementen, die automatisch mittels einer Bauelement-Einsetzmaschine in einen Aufnahmeträger einzusetzen sind, dadurch gekennzeichnet.

daß innerhalb des automatischen Steuerteiles der Bauelement-Einsetzmaschine eine Identifizierungseinrichtung (20) vorgesehen ist, die automatisch jedes Bauelement identifiziert, welches durch die betreffende Bauelement-Einsetzmaschine in einen Aufnahmeträger einzusetzen ist, daß eine Auswahleinrichtung (30) vorgesehen ist, die auf die Identifizierung eines in einen Aufnahmeträger einzusetzenden Bauelements automatisch zumindest einen Test für jedes derartige identifizierte Bauelement auswählt,

daß eine Signalabgabeeinrichtung (46) vorgesehen ist, die auf die automatische Auswahl eines Tests hin zumindest ein Signal an einen gekennzeichneten Eingang des betreffenden Bauelements abgibt, daß eine Vergleichereinrichtung (36) vorgesehen ist, die das Reaktionssignal des dem Test unterzogenen Bauelements mit einem erwarteten Ergebnissignal vergleicht,

daß eine Greifeinrichtung (34) vorgesehen ist, die das in einen Aufnahmeträger einzusetzende Bauelement ergreift und die eine Vielzahl von Kontakteinrichtungen (102) umfaßt, welche die Eingänge und Ausgänge des jeweiligen Bauelements berühren, und daß eine Verarbeitungseinrichtung (58,44,46) vorgesehen ist, die das Vergleichsergebnis derart verarbeitet, daß das Einsetzen des jeweiligen

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Bauelements in einen Aufnähmeträger in dem Fall unterbunden wird, daß in dem Vergleichstest ein Fehler auftritt.

2. System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Auswahleinrichtung eine Speichereinrichtung (48) und eine Adressierungseinrichtung (46) aufweist,

daß die Speichereinrichtung (48) eine das Testen des Jeweiligen Bauelements betreffende Testinformation speichert, die bezüglich des jeweiligen Bauelements in einer Vielzahl von adressierbaren Speicherplätzen gespeichert ist, und daß die Adressierungseinrichtung (46) auf die automatische Identifizierung eines Bauelementes hin die Speicherplätze adressiert, die die Testinformation bezüglich des Testes des identifizierten, in einen Aufnahmeträger einzusetzenden Bauelementes enthalten.

3. System nach Anspruch 1 oder 2, wobei durch die

auf das Testen des jeweiligen Bauelementes sich beziehende Testinformation zumindest zwei Tests je Bauelement festgelegt sind, dadurch gekennzeichnet, daß die Signalabgabeeinrichtung (46), die einen Zugriff zu der gespeicherten Testinformation auszuführen imstande ist, derart betrieben ist, daß ein sequentieller Zugriff zu dem zweiten Test in dem Fall erfolgt, daß das Bauelement den ersten Test durchläuft.

4. System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,

daß die zumindest ein Signal an einen gekennzeichneten Eingang des jeweiligen Bauelements abgebende Signalabgabeeinrichtung eine Signalerzeugungseinrichtung (48,60), welche eine Vielzahl von durch den jeweils ausgewählten Test festgelegten Testsignalen

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erzeugt, und eine Eingangs-Festlegeeinrichtung (54) umfaßt, die selektiv zumindest einen Eingang des jeweiligen Bauelements selektiv festlegt, der zumindest ein Signal aus einer Vielzahl von erzeugten TestSignalen aufnimmt.

5. System nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die zumindest ein Signal an einen gekennzeichneten Eingang abgebende Signalabgabeeinrichtung eine Vielzahl von Torschaltungseinrichtungen (32) umfaßt, die Testsignalzustände an das jeweils festgehaltene Bauelement weiterzuleiten gestatten und die individuell mit der Vielzahl von das jeweilige Bauelement berührenden Kontakteinrichtungen (102) verbunden sind.

6. System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine Auswahleinrichtung (38,74) vorgesehen ist, die einen Speisungszustand aus einer Vielzahl von Speisungszuständen für das jeweilige Bauelement auswählt, und daß eine Speisungszustands-Abgabeeinrichtung (80,82,84,86) vorgesehen ist, die den jeweils ausgewählten Speisungszustand an eine der in einer Vielzahl vorgesehenen Kontakteinrichtungen (102) abgibt, welche mit den Eingängen und Ausgängen des jeweiligen Bauelements in Berührung stehen.

7. System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Einrichtungen (80) vorgesehen sind, die die Größe der Speisung bzw. Speisespannung für die Abgabe an das dem Test unterzogene Bauelement festlegen, und daß eine Abgabeeinrichtung (34) vorgesehen ist, die die festgelegte Größe der Speisung bzw. Speisespannung an das dem Test unterzogene jeweilige Bauelement abgibt.

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8. System nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die die Größe der jeweiligen Speisung bzw. Speisespannung festlegenden Einrichtungen eine Auswahleinrichtung (82) umfassen, mittels der ein Speisungszustand aus einer Vielzahl von Speisungszuständen für das dem Test unterzogene Bauelement auswählbar ist.

9. System nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Abgabeeinrichtung (34), die eine festgelegte Speisegröße an das dem Test unterzogene jeweilige Bauelement abgibt, eine Einrichtung (54) umfaßt, die selektiv einen Eingang des betreffenden Bauelements festlegt, welches die ausgewählte Speisegröße aufzunehmen hat.

10. System nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Abgabeeinrichtung (34), die die festgelegte Speisegröße an das dem Test unterzogene Bauelement abgibt, eine Begrenzungseinrichtung (70) umfaßt, welche die Zeitspanne begrenzt, während der die festgelegte Speisegröße an das jeweilige Bauelement abgegeben wird.

11. System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die das jeweilige Bauelement ergreifende Greifeinrichtung (34) zwei gelenkig gelagerte Fingergreifer (92,94) aufweist, die jeweils eine Vielzahl von festen elektrischen Kontakten (102) aufweisen, welche an den Enden der betreffenden Fingergreifer (92,94) nach unten abstehen, und daß die in einer Vielzahl vorgesehenen festen elektrischen Kontakte (102) derart betrieben sind, daß sie ein elektrisches Bauelement (90) für das Einsetzen in einen Aufzeichnungsträger zu erfassen vermögen.

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12. System nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß das Paar der Fingergreifer (92,94) ferner eine Isolationseinrichtung (104) enthält, die jeden elektrischen Kontakt (102) von benachbarten elektrischen Kontakten derart isoliert, daß eine Vielzahl von isolierten elektrischen Kontakten festgelegt ist.

13. System nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß die in einer Vielzahl vorgesehenen festen elektrischen Kontakte (102) jeweils an einem Anschlußstift anliegen, der von dem jeweiligen Bauelement (90) absteht, welches zwischen den beiden gelenkig gelagerten Fingergreifern (92,94) positioniert ist.

14. System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die zur Verarbeitung des Ergebnisses der Vergleichs vorgesehene Verarbeitungseinrichtung eine Einrichtung (98), welche die Anzahl der auf das jeweilige Bauelement anzuwendenden Tests festlegt, eine Einrichtung (28), die festlegt, ob die festgelegte Anzahl von Tests abgeschlossen worden ist, und eine Einrichtung (46) umfaßt, die den nächsten Test in dem Fall durchführt, daß die festgelegte Anzahl von Tests nicht abgeschlossen ist.

15. System nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Verarbeitungseinrichtung zur Verarbeitung des Vergleichsergebnisses ferner eine Sperreinrichtung (20) umfaßt, die die Ausführung jeglicher weiterer Tests in dem Fall sperrt, daß ein Fehler in dem Vergleichstest auftritt.

16. System nach einem der Ansprüche 1 bis 15, dadurch gekennzeichnet, daß Einrichtungen (48) vorgesehen

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sind, die zumindest einen Test für jedes Bauelement festlegen, daß der Test eine Wertetabelle (58) umfaßt, die für das jeweilige Bauelement aus binären Eingangs- und Ausgangszuständen besteht, daß eine Einrichtung (34) vorgesehen ist, die die binären Eingangszustandssignale vorher festgelegten Eingängen des jeweiligen Bauelements aufprägt, daß eine Vergleichseinrichtung (36) die Reaktionssignale des betreffenden Bauelements mit den erwarteten binären Zustandssignalen vergleicht und daß eine Verarbeitungseinrichtung (58,44,46) das Ergebnis des Vergleichs derart verarbeitet, daß das Einsetzen des betreffenden Bauelements in dem Fall gesperrt ist, daß in dem Vergleichstest ein Fehler aufgetreten ist.

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