DE2855692C2 - Halbleiterschaltung - Google Patents
HalbleiterschaltungInfo
- Publication number
- DE2855692C2 DE2855692C2 DE2855692A DE2855692A DE2855692C2 DE 2855692 C2 DE2855692 C2 DE 2855692C2 DE 2855692 A DE2855692 A DE 2855692A DE 2855692 A DE2855692 A DE 2855692A DE 2855692 C2 DE2855692 C2 DE 2855692C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- islands
- switch
- circuit
- thyristors
- island
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier
- H01L27/0203—Particular design considerations for integrated circuits
- H01L27/0207—Geometrical layout of the components, e.g. computer aided design; custom LSI, semi-custom LSI, standard cell technique
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04Q—SELECTING
- H04Q3/00—Selecting arrangements
- H04Q3/42—Circuit arrangements for indirect selecting controlled by common circuits, e.g. register controller, marker
- H04Q3/52—Circuit arrangements for indirect selecting controlled by common circuits, e.g. register controller, marker using static devices in switching stages, e.g. electronic switching arrangements
- H04Q3/521—Circuit arrangements for indirect selecting controlled by common circuits, e.g. register controller, marker using static devices in switching stages, e.g. electronic switching arrangements using semiconductors in the switching stages
Description
50
Die Erfindung betrifft eine insbesondere als Kreuzschienenschalter
in einem Fernmeldeamt verwendbare Halbleiterschaltung mit Thyristoren als steuerbaren
Schalter, die einerseits mit einer Ansteuerschaltung und andererseits mit Schutzschaltungen zusammenwirken.
Bisher wird als Kreuzschienenschalter in Fernsprechvermittlungsanlagen
meist ein Schalter mit Metallkontakten verwendet Ein derartiger Schalter arbeitet mit
mechanisch bewegten Bauelementen, und er weist daher eine nur relativ niedrige Betriebsgeschwindigkeit
auf. Außerdem kommt es unvermeidbar zu Abrieb an den Metallkontakten, so daß ein solcher Schalter nur
eine begrenzte Lebensdauer aufweist und auch in seiner Zuverlässigkeit zu wünschen übrig läßt. Des weiteren ist
beim Betriebe eines derartigen Schalters ein starkes Kontaktrauschen zu verzeichnen. Weiterhin fällt eine
mit solchen Schaltern aufgebaute FemsprechvermiU-lungsanlage
relativ groß und schwer aus, und sie benötigt daher viel Stellfläche, Schließlich verlangen
Schalter der obenerwähnten Art eine hohe Ansteuerleistung und bedingen damit einen großen Wartungsaufwand.
Fernsprechvermittlungsanlagen kommen nunmehr in steigende/n Maße in Verbindung mit elektronischen
Systemen wie z. B. Bildübertragungseinrichtungrn oder
elektronischen Rechnern zum Einsatz, Für diesen Anwendungsfall sollten die Schalter in der Fernsprechvermittlungsanlage
nur geringen Platzbedarf aufweisen und sich gleichzeitig durch hohe Betriebsgeschwindigkeit
und gute Zuverlässigkeit auszeichnen. Ausgehend von diesen Vorstellungen wurde bereits daran gedacht,
für den Aufbau der Kreuzschienenschalter Halbleiter zu verwenden, die an die Stelle der bisher üblichen
mechanischen Schalter treten und elektronisch mit hoher Ansprechgeschwindigkeit arbeiten.
Von einem Schalter in einer Fernsprechvermittlungsanlage wird nun verlangt, daß er in offenem Zustand
eine hohe Sperrspannung auszuhalten vermag, daß er in geschlossenem Zustand einen hohen Stromfluß zuläßt
und daß sein Widerstand in offenem Zustand sehr hoch und in geschlossenem Zustand sehr klein ist Alle diese
Eigenschaften lassen sich am einfachsten dadurch erzielen, daß mit Thyristoren gearbeitet wird. Dabei
muß ein mit Thyristoren bestückter Schalter neben dem eigentlichen Schalterteil eine Ansteuerschaltung und
eine Schutzschaltung aufweisen, damit ein zuverlässiges Arbeiten des Schalters gewährleistet ist
Wenn nun eine Ansteuerschaltung, eine Schutzschaltung und eine eigentliche Schalterschaltung ohne die
Einhaltung einer bestimmten gegenseitigen, räumlichen Zuordnung in einem Chip vereinigt werden sollen, so
fällt dieser Chip wegen der komplizierten Verbindungen relativ groß aus, und es ergibt sich eine geringe
Integrationsdichte für die Halbleiterschaltung als Ganzes, wobei außerdem relativ häufig Fehler im
Betrieb auftreten. Wenn am Schalter im Betrieb eine Spannung von beispielsweise 200 V anliegt, so ergeben
sich störende Einflüsse auf andere Schaltungsteile, die wiederum bei dem gewünschten eng benachbarten
Schaltungsaufbau zu unerwünschten Rückwirkungen auf das Schalterverhalten selbst führen. Normalerweise
liegen die jeweiligen hohen Spannungen an der Ansteuerschaltung oder an der Schutzschaltung, so daß
diese nahe beieinander vorgesehen werden können. Zusätzlich ergeben eich durch die metallischen Verbindungen
innerhalb der Halbleiterschaltung parasitäre Kapazitäten. Bei einem Schaltungsaufbau ohne bestimmte
räumliche Zuordnung der einzelnen Bauteile zueinander ergeben sich relativ lange Verbindungen,
und es treten daher auch relativ große parasitäre Kapazitäten auf, die eine Ursache für eine Fehlfunktion
der Schalter bilden können.
Aus der US-PS 40 15 143 ist nun ein Halbleiterschalter
bekannt, der mit Thyristoren aufgebaut ist und sich durch eine hohe Durchbruchsspannung auszeichnet
Außerdem ist bei diesem Schalter ein zeitlich rascher Anstieg der anliegenden Spannung zullssig, ohne daß
die Thyristoren ungewollt durchschalten. Weiterhin läßt sich der Schalter durch einen relativ kleinen Steuerstrom
schließen, und er kann auf einfache Weise in integrierte Halbleiterschaltungen eingefügt werden. Mit
Thyristoren ausgestattete integrierte Halbleiterschaltungen sind weiter auch aus der DE-OS 26 55 622
bekannt. Bei allen diesen bekannten Anordnungen sind
jedoch der eigentliche Scfcsltertejl, die Ansteuerschaltung
und die Schutzschaltung nicht in einem einzigen Chip vereinigt
Per Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Halbleiterschaltung der eingangs erwähnten Art zu
schaffen, die sich durch kurze Verbindungen zwischen den Schaltunssteilen, geringe innere Kapazitäten und
einen hohen Integrationsgrad aufzeichnet, so daß sich ein Halbleiterschalter mit Thyristoren ergibt, der sich in
vorteilhafter Weise als Kreuzschienenschalter in Fernsprechvermittlungsanlagen einsetzen läßt
Die gestellte Aufgabe wird erfindungsgemäß gelöst durch eise Halbleiterschaltung, wie sie im Patentanspruch
1 angegeben ist; vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Das Grundprinzip der Erfindung liegt dabei darin, daß
die einzelnen Schaltungsteile innerhalb der erfindungsgemäß
ausgebildeten Halbleiterschaltung eine ganz bestimmte gegenseitige und räumlich gesehene Zuordnung
aufweisen, die zu einem gewünschten elektrischen Verhalten führt Dabei bedarf es weder für den Betrieb
der Ansteuerschaltung noch für die Schutzschaltungen
einer höheren Spannung, und es ist dabvx ein
dichtgedrängter Schaltungsaufbau möglich. Darüber hinaus fallen interne Kapazitäten innerhalb der
erfindungsgemäß ausgebildeten Halbleiterschaltung sehr klein aus, so daß der erfindungsgemäß ausgebildete
Schalter von auf kapazitive Ursachen zurückzuführenden Störungen zumindest weitgehend frei ist Dabei sind
erfindungsgemäß Bereiche zur Verringerung von parasitären Kapazitäten insbesondere dadurch erzielt
daß zwischen den Schalterinseln Inseln liegen, die entweder die Ansteuerschaltung oder die Schutzschaltungen
oder beides aufnehmen und durch ihre Zwischenfügung eine kapazitive Beeinflussung zwisehen
den Schalterinseln vermeiden; die einzelnen Schalterinseln sind also durch die erfindungsgemäß
vorgesehene geometrische Lage der einzelnen Schaltungsteile innerhalb der Halbleiterschaltung gewissermaßen
in kapazitiver Hinsicht voneinander isoliert so daß sich keinerlei kapazitive Rückwirkungen von einer
Schalterinsel auf eine andere ergeben können.
In der Zeichnung ist die Erfindung anhand bevorzugter Ausführungsbeispiele veranschaulicht; dabei zeigt
F i g. 1 ein Blockschaltbild für ein erstes Ausführungsbeispiel der Erfindung,
F i g. 2 ein Schaltbild für Einzeiheita; der Schaltungsblöcke von F i g. 1,
F i g. 3 ein Oberflächenmuster für die Anordnung der Schaltungen von F i g. 2 in einem Chip. so
Fig.3A, 3B und 3C Oberflächenmuster mit jeweils
Teilen der Fig. 3,
Fig.5 ein Blockschaltbild für ein anderes Ausführungsbeispiel
der Erfindung, ss
F i g. 6 ein Schaltbild mit Einzelheiten der Blöcke von F ig. 5.
F i g. 7 ein Blockschaltbild noch eines weiteren Ausführungsbeispiels für die Erfindung, und
Fig.8 ein Schaltbild mit einer Matrix für einen
Koppelpunkt-Wähler von vier Punkten.
F i g. 1 ist ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel der
Erfindung und zeigt ein Blockschaltbild eines Koppelpunkt-Wählers. Die kleinste Einheit eines Koppelpunkt-Wählers
für eine Fernsprechvermittlungsanlage ist ein Punkt, der aus 7v.'ei Schaltern, wenigstens einer
Ansteuerschaltung hierfür und jeweils zwei Schulz Schaltungen für die jeweili/in Schalter besteht.
Die Schalter, die Ansteuer-Schaltung und die Schutzschaltungen sind in Fig,I einem Chip 10
vorgesehen, Bei dieser Anordnung sind Schutzschaltungsinseln 13A, 13A'und 135, 135'auf beiden Seiten
von Schalterinseln HA, UB vorgesehen, und die Schutzschaltungsinseln 13 A 13A', 135und 135'liegen
so zwischen den Schalterinseln HA und UB, daß diese nicht aneinandergrenzen. Die Funktionselemente der
jeweiligen Schaltungen sind in Silizium-Einkristall-Inseln
ausgeführt die voneinander durch einen Siliziumdioxidfilm und polykristallines Silizium getrennt sind.
Die FunktJonselemente werden durch selektive Diffusion hergestellt nachdem ein Muster im SiliziumdioxidfjLrn
durch die herkömmliche Photolack- und Ätztechnik gebildet wurde (vgL US-PS 31 35 638). Der Chip 10 der
Fig. 1 hat eine Schaltungsanordnung, bei der die Ansteuer-Schaltung in der Mitte liegt, während die
Schalter an den Endteilen des Chips 10 vorgesehen sind. Die Anordnung, bei der die Ansteuer-Schaltung
zwischen den Schaltern liegt bildet einen Bereich, der die zwischen den beiden Schalterinseln HA und 115
auftretende parasitäre Kapazität verris.gert Die beiden
Schalterinseln 1IA und 115 sind durch der. Bereich 14
vollkommen getrennt was die Kapazität ausreichend verringert so daß kein ungewolltes Durchschalten von
Thyristoren Fehlfunktion durch den Ladestrom hervorgerufen werden kann. Bei dem Ausführungsbeispiel der
Fig. 1 bildet die Ansteuerschaltungsinsel 12 den Bereich 14 und verringert damit die parasitäre
Kapazität
Darüber hinaus sind die Schalterinsel UA, die Ansteuerschaltungsinsel 12 und die Schutzschaltungsinsel
13A und 13A' sowie die Schalterinsel 115 die Ansteuerschaltungsinsel 12 und die Schutzschaltungsinseln
135 und 135'nebeneinander vorgesehen. Deshalb können die Verbindungen zwischen den jeweiligen
Schaltungen mit der kürzesten Entfernung ausgeführt werden. Entsprechend kann eine infolge der Verbindungen
auftretende parasitäre Kapazität in einem Ausmaß verringert werden, daß sie die Wähl- oder Scnalteigenschaften
nicht beeinflußt Durch die funktioneile und vernünftige Anordnung der jeweiligen Schaltungen in
dieser Weise ist auch die Führung der Verbindungen vereinfacht und damit kann die Integrationsdichte
gesteigert werden.
Der Betrieb des Ausführungsbeispiels wird anhand von Fig.2 näher erläutert Dabei wird zur Vereinfachung
der Darstellung im folgenden nur auf die Verhältnisse an den mit A gekennzeichneten Bauelemente
eingegangen, da der Betrieb der anderen, mit 5 gekennzeichneten Bauelemente in gleicher Weise
erfolgt
Durch den Koppelpunkt·Wähler muß ein Rufsignal mit einer Wechselspannung von 75 V geschickt werden.
Da dauer die Spannung des Anoden- und des Kathoden-Anschlusses 21A bzw. 22A gegenüber Masse
bzw. Erde schwankt muß während der gesamten Zeitdauer, in der das Rufsignal anliegt ein Steuerstrom
fließen. Daher muß zusätzlich zum üblichen Kathoden· Steueranschluß 23A ein Anoden-Steueranschluß 24A
vorgesehen werden, der mit einem Steuersignal von niedriger Spannung arbeitet.
Um Thyristoren 25A und 25A'der SchalterilYsei IM
zu zünden, ist die Ansteuerschaltungsinsel 12 erforderlich. Da die Thyristoren 25A und 25A' einen großen
Haltestroin '.'erlangen, tritt Rauschen auf, wenn der
Strom für die Schalterinsel HA plötzlich abgeschaltet wird. Der Haltestrom kann nun durch einen kontinuier-
lichen Fluß des Steuerstromes verringert werden, und daher kann das Auftreten dieses Rauschens verhindert
werden. Dazu ist die Ansteuerschaltung die Ansteuerschaltungsinsel 12 als eine Konstantstromschaltung mit
hoher Impedanz ausgelegt. Diese Konstantstromschal· tung ist in üblicher Weise aufgebaut und umfaßt (vgl.
F i g. 2) einen Transistor 42/4, der mit dem Anoden-SteueranschluD
24/4 über eine Diode 41/4 verbunden ist, einen Transistor 43A der mit dem Kathoden-Steueranschluß
23/4 verbunden ist, zwei Diodenpaare 43 und 46 to und Widerstände 47 und 48. Weiterhin sind Pole 50 und
50/4 einer Stromquelle vorgesehen.
Um den Einfluß zu verringern, den der Steuerstrom zum Zünden der Thyristoren 25 A und 25/4' auf den
Betrieb der gesamten Fernsprechvermittlungsanlage ausübt, sollte die Ansteuerempfindlichkeit der Thyristoren
25Λ und 25/4'hoch sein. Was die Ansteuerempfindlichkeit
der Thyristoren 25A 25A' anbelangt, so wird eine hohe Empfindlichkeit erzieit, indem zwischen den
Kathoden-Steueranschlüssen 23A 23,4'und dem Kathoden-Anschluß
2\A Widerstände 27 A 27A' vorgesehen werden. Damit ein fehlerhaftes Zünden der
Thyristoren 25/4 und 25A' durch einen zu raschen
Spannungsanstieg verhindert wird, kann der Ladestrom für die Sperrschicht der Thyristoren 25A und 25 A 'durch
Transistoren 29Λ und 29/4' überbrückt werden, die
zwischen den Kathoden-Steueranschlüssen 23/4, 23/4' und dem Kathoden-Anschluß 22/4 vorgesehen sind.
Wenn sich die am Anoden-Anschluß 21 anliegende Spannung ändert, wird ein Strom in den Transistoren
31/4 und 31/4' erzeugt, und damit werden die Transistoren 29A und 29Λ' betätigt und eingeschaltet.
Dadurch entsteht ein Kurzschluß zwischen den Steueranschlüssen der Thyristoren 25Λ und 25A' und
dem Kathoden-Anschluß 22/4. Ein durch den d V/di-Effekt
an den Thyristoren 25A und 25/4' erzeugter Ladeoder
Verschiebungsstrom wird durch die Transistoren 29/4 und 29/4'zum Kathoden-Anschluß 22A überbrückt,
so daß die Thyristoren 25-4 und 25/4' durch den
Ladestrom nicht eingeschaltet werden. Die Transistoren *o 29/4 und 29,4' wirken als Kurzschluß-Emitter-Bauelement
zwischen den Steueranschlüssen und den Kathoden-Anschlüssen. Die Widerstände 27/4 und 27/4'
wirken als Kurzschluß-Emitter-Bauelement in gleicher Weise wie die Transistoren 29/4 und 29/4'und werden *5
wirksam, wenn die Transistoren 29/4, 29/4' nicht durchschalten.
Dioden 33/4 und 33/4' bewirken, daß die Basis der
Transistoren 29Λ und 29A'nicht schädlich vorgespannt
wird, und verhindern eine Fehlfunktion durch einen so
Durchbruch am Emitter der Transistoren 29/4 und 29A'
die durch den Entladestrom vom Übergang der Thyristoren nach der plötzlichen Änderung der
Anodenspannung der Thyristoren aufgeladen sind.
F i g. 3 zeigt eine Draufsicht auf das Schaltungsmuster für den Chip 10 von F i g. 1. Dabei sind Silizium-Einkristall-Inseln
SWA und SWB vorgesehen, in denen die
Thyristoren 25A und 25/4'und 25ßund 25ß'ausgeführt
sind, die die Schalterinseln WA und HB bilden.
Weiterhin ist eine Silizium-Einkristall-Insel D vorgesehen,
in der die Bauelemente ausgeführt sind, die die Ansteuerschaltungsinsel 12 bilden. Weiterhin sind
Silizium-Einkristall-Inseln Pa, Pb und Pa Pd vorgesehen,
in denen die Transistoren 29Λ und 29Λ' die Widerstände 27A und 21A' usw. ausgeführt sind, die
jeweils die Schutzschaltungsinseln 13A 13/4', 132? und
135' bilden. Ein dielektrischer Film 51 isoliert die Silizhim-Einkristall-Inseln voneinander und von einem
Trägerkörper aus polykristallinen Silizium 52. Eine Verbindungseinrichtung 53 aus Aluminium dient zum
Verbinden von mit Fremdstoff diffundierten oder dotierten Bereichen in den Silizium-Einkristall-Inseln.
Diese Verbindungen werden mittels der herkömmlichen Photolack- und Atztechnik, mittels Vakuum-Aufdampfung,
usw. hergestellt. Die Oberfläche des Chips 10 ist mit Ausnahme der Teile, an denen die Verbindungseinrichtung
53 einen ohmschen Kontakt herstellt, mit einem Siliziumdioxidfilm bedeckt. Die diffundierten
Bereiche des p-Typs und die diffundierten Bereiche des η-Tips, die die Bauelemente bilden, sind jeweils durch
gestrichelte und strichpunktierte Linien angedeutet.
Da die Schalterinseln SWA und ,SWe voneinander
durch die Ansteuerschaltungsinseln Dund einen Teil der
Schutzschaltungsinseln Ρλ, Po isoliert sind, stören sie
einander nicht. Da die Verbindungen der Verbindungseinrichtung 53 die Bauelemente mit kürzesten Entfernungen
verbinden und einfech ausgeführt sind, werden
durch die Verbindungen aufgebaute parasitäre Kapazitäten verringert.
Es soll nun der Fall untersucht werden, daß die Schalterinseln 11-4 und llß, also die Inseln SWλ und
SWb, nebeneinander angeordnet sind. Wenn in diesem Fall ein starkes elektrisches Feld an den Thyristoren
25/4 und 25/4'liegt, wird eine parasitäre Kapazität, die
zwischen den beiden Einkristall-Inseln SWa und SWb
aufgeb? .: ist, groß, und der Ladeström läßt auch die
Thyristoren 25ß und 25ß' auf der Insel SWB in den
>Ein«-Zustand übergehen. Wenn ein negatives elektrisches Feld an der Insel SWa liegt, »'eten am unteren Teil
und an den seitlichen Oberfläcfcenteilen der anderen Einkristall-Insel SWb Inversions- oder Umkehrschichten
auf, so daij sich die Sperrspannung der Thyristoren verringert und daß Zünd-Empfindlichkeitsänderungen
in den Thyristor-Kennlinien auftreten. Wenn die Inseln SWa und SWb nebeneinanderliegen, wird außerdem die
Verbindungseinrichtung 53, an der ein starkes elektrisches Feld liegt, sehr kompliziert, und damit tritt unter
ihr eine ähnliche Inversionsschicht auf und bildet eine Ursache für die Verschlechterung der Sperrspannung
der Thyristoren 25Λ und 25A 'sowie 25ßund 25ß'.
Die Fig.3A, 3B und 3C zeigen Einzelheiten des Schaltungsaufbaus, wobei jeweils die Schalterinsel IiA
die Schutzschaltungsinsel 13/4 und die Ansteuerschaltungsinsel 12 vergrößert dargestellt sind.
Dabei sind vorgesehen eine p-Diffusionsschicht p, eine n-Diffusionsschicht n, ein Emitter £ eine Basis B
und ein Kollektor C Der Thyristor ist ein Planar-Thyristor von Lateral-Struktur, und ne liegt in der Mitte der
beiden Thyristoren 25A 25/4'und ist diesen gerneVisam.
In Fig.4 sind Einkristall-Inseln SWA, Pa und Pb
dielektrisch durch einen Siliziumdioxidfilm 51 isoliert und auf einem polykristallinen Siliziumkörper 52
angeordnet
Wie in F i g. 3 gezeigt ist, sind erfindungsgemäß die
Inseln SWa und SWB isoliert und am entferntesten
voneinander vorgesehen, wodurch die parasitäre Kapazität klein gemacht werden kann, und weiterhin
können die Inversionsschichten geschwächt werden, so daß die Störungen zwischen den Schalterinseln
verhinderbar sind. Selbst wenn die Schalterinsel 11 und
die Ansteuerschaltungsinsel 12 oder die Schutzschaltungsinsel 13 nebeneinander vorgesehen sind, stören sie
einander beim Schaltungsbetrieb nicht
Im folgenden wird ein zweites Ausführungsbeispiei der Erfindung anhand der F i g. 5 näher erläutert, in der
einander entsprechende Bauteile mit den gleichen
Eine Schalter-Schaltung, eine Ansteuer-Schaltung
und eine Schutz-Schaltung sind auf einem Koppelpunkt-Schalter-Chip 10 angeordnet. Wie F i g. 5 zeigt, sind
Schalterinseln IM und Hfl und Schutzschaltungsinseln
13Λ 13/4', 13ß'und 13flin einer Linie angeordnet, und
eine Ansteuerschaltungsinsel 12 liegt parallel zu dieser Linie.
Die iichutzschaltungsinseln 13/4'und 13Sbilden einen
Bereich 14', der die Schalterinseln UA und lld voneinander trennt
Da so die Schalterinseln IM und IU durch den
Bereich 14' voneinander getrennt sind, kann eine Störung durch Wechselwirkung zwischen ihnen vermieden
werden. Bei dieser Anordnung werden die Wähler-Schaltungen durch eine Ansteuer-Schaltung
angesteuert, und daher kann die Integrationsdichte der Ansteuerschaltungsinsel 12 verbessert werden. Außerdem
werden die Verbindungen zwischen den Schaliurigssieilcri
aiii 'KüiZcSicit.
Fig.6 zeigt Einzelheiten der Blöcke von Fig. 5. Da
insoweit auf die vorstehenden Erläuterungen zu F i g. 2 verwiesen werden kann, sind nähere Erklärungen nicht
erforderlich.
Da der Halbleiter-Koppelpunkt-Wähler den herkömmlichen Crossbar-Wähler ersetzen soll, muß er
neben seinen Wähler-Eigenschaften wenig aufwendig sein. Zu diesem Zweck sollten zahlreiche Punkte in
einem Chip angeordnet und die Integrationsdichte erhöht werden.
Fig.7 zeigt ein Halbleiter-Koppelpunkt-Wähler-Chip
10, bei dem Koppelpunkt-Schalter von vier Punkten auf dem gleichen Chip nach einem anderen
Ausführungsbeispiel der Erfindung vorgesehen sind. Dies ist in Obereinstimmung mit der Anordnung der
Schaltungen beim ersten Ausführungsbeispiel, wobei
beiden Seiten der Reihe der Ansteuerschaltungsinseln sind Schalterinseln 111, 112, 113, 114 und Schutzschal-
s tungsinseln 131,132,134 vertikal in Reihe angeordnet.
von vier Punkten. Eine Fernsprechvermittlungsanlage besteht aus einer Matrix von Leitungen V1 und Vi sowie
ter XP vorgesehen sind, deren jeder einen Punkt bildet.
Die Halbleiter-Koppelpunkt-Schalter der vier Punkte in F i g. 7 haben einen Aufbau, bei dem die Matrix in F i g. 8
in einem Chip ausgeführt ist. Wie aus F i g. 6 folgt, sind die Leitung V und die Leitung H an zwei Stellen mit
Verbindungen von Anschlüssen jedes Koppelpunkt-Schalters XP verbunden, und die Anschlüsse auf der
gleichen Leitung können gemeinsam ausgeführt werden. Für die vom Chip 10 in F i g. 7 nach außen geführten
Verbindungsanschlüsse sind sechzehn Anschlüsse mit
__ A ........ l._ — Ja·. A HKtniiKMtnUnl^iKiHRiHfXttn 4 1 4 t Λ
£\J riUaiiailltll. ULI niUl^UV,! ^(.liaitUllgdlllJ^lll IAI 1.1 I V/l UbI lieh,
da die Schalterinseln 111, 112, 113, 114 aus acht Thyristoren bestehen. Von diesen können sechs
Anschlüsse gemeinsam ausgeführt werden, und die übrigen zehn Anschlüsse können eingerichtet werden.
Wenn die Anzahl der in dem Chip einzurichtenden Anschlüsse abnimmt, ist die integrationsdichte erhöht,
und daher kann auch in vorteilhafter Weise die Verbindungsführung vereinfacht werden. Es ist auch
eine Anordnung möglich, bei der mehrere Spalten in seitlicher Richtung entsprechend der Anordnung des
zweiten Ausführungsbeispiels der Erfindung vorgesehen sind. Diese Anordnung ist auch für Schaltungen aus
einem Leistungs-IC (IC = integrierte Schaltung), der aus einer Schaltung für hohe Spannungen und einer
Schaltung für niedere Spannungen besteht, außer den Schaltungen des Koppelpunkt-Wählers anwendbar.
Claims (7)
1. Halbleiterschaltung, insbesondere zwr Verwendung
als Kreuzschienenschalter in einem Fernmeldeamt, mit Thyristoren als steuerbaren Schalter, die
einerseits mit einer Ansteuerschaltung und andererseits mit Schutzschaltungen zusammenwirken, dadurch
gekennzeichnet, daß in einem Trägerkörper (52) aus polykristallinem Silizium eine
Mehrzahl von durch einen dielektrischen Film (51) gegeneinander isolierten Inseln (SWa, SWb, Pa, Pb,
Pc Pa D) aus einkristallinem Silizium derart zu einem Chip (10) integriert sind, daß sich unabhängige
Schalterinseln (114, llß; 111, 112, 113, 114) mit
Thyristoren (254, 25Λ', Ί5Β, 2SB') ergeben, zwischen is
denen ein Bereich (14) liegt, der wenigstens eine Schutzschaltungsinsel (134, ISA', 13ß, 13B'; 131,
132,134) und/oder wenigstens eine Ansteuerschaltungsinsel
(12,121,122,123,124) enthält
2. Halbleiterschaltung nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß vier Schutzschaltungsinseln (134, 13Λ', 13Ä, i3B') vorgesehen sind, von denen
zwei einen Bereich (D) zum Verringern parasitärer Kapazitäten zwischen Schalterinseln (UA, WB)
bilden.
3. Halbleiterschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Ansteuerschaltungsinsel(n)
(12) einen Bereich (D) zum Verringern parasitärer Kapazitäten zwischen Schalterinseln (IM, UB)
bildet (bilden).
4. Halbleiterschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, gekennzeichnet durch eine Verbindungseinrichtung (53) als elektrische Verbindung zwischen
Schalterinseln (ItA UB; 111, 112, 113, 114),
Ansteuerschaltungsinseln (12,12·' 122,123,124) und
Schutzschaltungsinseln (134, 134', 13ß, 13ß'; 131, 132,134).
5. Halbleiterschaltung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Verbindungseinrichtung
(53) aus Aluminium besteht
6. Halbleiterschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die
Schutzschaltungsinseln (134, 134', 13B, 13Ä', 131,
132,134) Transistoren (294,294'; und Widerstände
(274,274 ^enthalten.
7. Halbleiterschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß der
dielektrische Film (51) aus SiO2 besteht
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP52154509A JPS5846860B2 (ja) | 1977-12-23 | 1977-12-23 | 半導体クロスポイントスイツチ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2855692A1 DE2855692A1 (de) | 1979-06-28 |
DE2855692C2 true DE2855692C2 (de) | 1983-02-17 |
Family
ID=15585793
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2855692A Expired DE2855692C2 (de) | 1977-12-23 | 1978-12-22 | Halbleiterschaltung |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4257060A (de) |
JP (1) | JPS5846860B2 (de) |
DE (1) | DE2855692C2 (de) |
FR (1) | FR2412945A1 (de) |
GB (1) | GB2011174B (de) |
NL (1) | NL185184C (de) |
SE (1) | SE437448B (de) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CA1309781C (en) * | 1988-06-21 | 1992-11-03 | Colin Harris | Compact cmos analog crosspoint switch matrix |
US4918505A (en) * | 1988-07-19 | 1990-04-17 | Tektronix, Inc. | Method of treating an integrated circuit to provide a temperature sensor that is integral therewith |
US5027183A (en) * | 1990-04-20 | 1991-06-25 | International Business Machines | Isolated semiconductor macro circuit |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3819867A (en) * | 1971-10-12 | 1974-06-25 | Gte Laboratories Inc | Matrix employing semiconductor switching circuit |
DE2451861A1 (de) * | 1973-11-02 | 1975-05-15 | Hitachi Ltd | Integrierte halbleiterschaltungsbauelemente |
US4015143A (en) * | 1974-03-11 | 1977-03-29 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor switch |
-
1977
- 1977-12-23 JP JP52154509A patent/JPS5846860B2/ja not_active Expired
-
1978
- 1978-11-21 SE SE7811972A patent/SE437448B/sv not_active IP Right Cessation
- 1978-12-15 GB GB7848760A patent/GB2011174B/en not_active Expired
- 1978-12-21 NL NLAANVRAGE7812441,A patent/NL185184C/xx not_active IP Right Cessation
- 1978-12-21 FR FR7835887A patent/FR2412945A1/fr active Granted
- 1978-12-22 DE DE2855692A patent/DE2855692C2/de not_active Expired
- 1978-12-26 US US05/972,872 patent/US4257060A/en not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
NICHTS-ERMITTELT |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4257060A (en) | 1981-03-17 |
DE2855692A1 (de) | 1979-06-28 |
NL185184C (nl) | 1990-02-01 |
JPS5487196A (en) | 1979-07-11 |
NL7812441A (nl) | 1979-06-26 |
GB2011174A (en) | 1979-07-04 |
JPS5846860B2 (ja) | 1983-10-19 |
SE7811972L (sv) | 1979-06-24 |
FR2412945A1 (fr) | 1979-07-20 |
SE437448B (sv) | 1985-02-25 |
NL185184B (nl) | 1989-09-01 |
GB2011174B (en) | 1982-05-12 |
FR2412945B1 (de) | 1983-11-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3834841C2 (de) | Integrierte Anordnung in einem Substrat zur Vermeidung parasitärer Substrateffekte | |
DE2542518B2 (de) | Stromversorgungssystem fuer hochintegrierte halbleiterschaltungen | |
DE4124757C2 (de) | Halbleiter-Leistungsmodul | |
EP0738008B1 (de) | Leistungshalbleitermodul | |
DE1219978B (de) | Elektronisches Durchschaltenetzwerk in Matrixform mit Vierschichtdioden | |
DE2030423A1 (de) | Integrierte Metall Oxid Halbleiter schaltung mit einer Schutzschaltung gegen Spannungsstoßc | |
DE2855692C2 (de) | Halbleiterschaltung | |
EP2413354B1 (de) | Submodul und Leistungshalbleitermodul | |
DE3927307A1 (de) | Halbleitervorrichtung | |
EP1128442B1 (de) | Laterale Thyristorstruktur zum Schutz vor elektrostatischer Entladung | |
DE2852200A1 (de) | Integrierte logische schaltung | |
DE1772668A1 (de) | Schalteranordnung fuer elektronische Musikinstrumente | |
DE3017750A1 (de) | Halbleiterbauelement mit mindestens einem bipolaren leistungstransistor | |
CH626488A5 (de) | ||
DE3439366C2 (de) | ||
EP0089527A2 (de) | Monolithisch integrierte Darlingtonschaltung | |
DE2431523C3 (de) | Halbleiter-Sprechweg-Schaltanordnung | |
DE3021565A1 (de) | Flip-flop | |
DE4207225A1 (de) | Integrierte schaltung mit abgleichbauteilen und abgleichbarer thyristor | |
DE3615049C2 (de) | Integrierte Widerstandsanordnung mit Schutzelement gegen Verpolung und Über- bzw. Unterspannung | |
DE2706031C2 (de) | ||
DE2607177C2 (de) | ||
DE2363669B2 (de) | Elektronischer koppelpunkt und koppelpunktanordnung | |
DE19825608C1 (de) | Integrierte Halbleiterschaltung mit einer Anschlußfläche, die eine fein abgestufte RC-Charakteristik aufweist | |
DE2518893C3 (de) | Monolithisch integrierte Halbleiteranordnung mit einem oder mehreren MOS-Transistoren und mehreren lateralen Bipolar-Transistoren |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OAP | Request for examination filed | ||
OD | Request for examination | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |