DE2829772A1 - Verfahren und vorrichtung zur durchfuehrung eines schmelzvorganges in einer fliessenden zone bei halbleitermaterialien - Google Patents
Verfahren und vorrichtung zur durchfuehrung eines schmelzvorganges in einer fliessenden zone bei halbleitermaterialienInfo
- Publication number
- DE2829772A1 DE2829772A1 DE19782829772 DE2829772A DE2829772A1 DE 2829772 A1 DE2829772 A1 DE 2829772A1 DE 19782829772 DE19782829772 DE 19782829772 DE 2829772 A DE2829772 A DE 2829772A DE 2829772 A1 DE2829772 A1 DE 2829772A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- energy source
- heating coil
- semiconductor material
- induction heating
- energy
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B13/00—Single-crystal growth by zone-melting; Refining by zone-melting
- C30B13/28—Controlling or regulating
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T117/00—Single-crystal, oriented-crystal, and epitaxy growth processes; non-coating apparatus therefor
- Y10T117/10—Apparatus
- Y10T117/1024—Apparatus for crystallization from liquid or supercritical state
- Y10T117/1076—Apparatus for crystallization from liquid or supercritical state having means for producing a moving solid-liquid-solid zone
- Y10T117/1088—Apparatus for crystallization from liquid or supercritical state having means for producing a moving solid-liquid-solid zone including heating or cooling details
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
- General Induction Heating (AREA)
Description
Patentanwalt Hofbrunnstraße 47
V Telefon: (089)7915050
Telegramm: monopolweber manchen
W 853
Topsil A/S
Linderupvej 4
Linderupvej 4
3600 Frederikssund
Dänemark
Dänemark
Verfahren und Vorrichtung zur Durchführung eines Schmelzvorganges
in einer fließenden Zone bei Halbleitermaterialien
809884/0908
Die Erfindung betrifft allgemein eine Veredelung oder Meinung
eines Halbleitermaterials und bezieht sich insbesondere auf die Auslösung und die Durchführung eines Induktionsheizvorganges,
der bei einem derartigen Veredelungsverfahren durchgeführt wird.
Bei allgemein bekannten Verfahren treten erhebliche Schwierigkeiten
auf, die sich durch Wärmeschocks ergeben, welche dadurch auftreten, daß aufgrund einer plötzlichen Abnahme
des spezifischen Widerstandes des Halbleitermaterials starke Temperaturerhöhungen vorkommen. Ein solcher Wärmeschock kann
erhebliche Probleme dadurch hervorrufen, daß ein polykristalliner Stab zerstört wird.
Der Erfindung liegt die Aufgab e zugrunde, ein Verfahren
und eine Vorrichtung der eingangs näher genannten Art zu schaffen, welche bei gutem Wirkungsgrad dennoch das Auftreten
eines Wärmeschocks mit seinen nachteiligen Folgen verhindert.
Zur Lösung dieser Aufgabe dienen insbesondere die im Patentbegehren
niedergelegten Merkmale.
Gemäß der Erfindung ist der wesentliche Vorteil erreichbar, daß zwar in einer Anfangsphase dem Halbleitermaterial mit
gutem Wirkungsgrad Energie zugeführt werden kann und nach Überwindung einer kritischen Phase wiederum eine weitere
starke Aufheizung mit entsprechendem Wirkungsgrad erreicht werden kann, ohne daß die bisher unvermeidbaren Wärmeschocks
auftreten.
Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform des Erfindungsgegenstandes
ist vorgesehen, daß die Energiequelle derart ausgebildet ist, daß sie in einer ersten Betriebsart mit konstantem
Strom arbeitet, um dem Halbleiterstab Energie zuzuführen,
809804/0908
damit die Temperatur des Halbleiterstabes auf eine Temperatur unterhalt des Schmelzpunktes erhöht wird, und daß weiterhin
eine zweite Betriebsart vorgesehen ist, in welcher die Anordnung mit konstanter Spannung arbeitet, um die Temperatur
des Halbleiterstabes weiter anzuheben.
Die Erfindung wird nachfolgend beispielsweise anhand der Zeichnung beschrieben; in dieser zeigen:
3fig. 1 ein vereinfachtes Schaltschema, welches die Oszillatorversorgungsanordnung
gemäß der Erfindung veranschaulicht,
i'ig. 2 eine grafische Darstellung, welche die Veränderung
im spezifischen Widerstand des Siliziums als !Funktion der Temperatur veranschaulicht, und
U1Xg. 3 vergleichende grafische Darstellungen, welche die
Temperaturzunähme für alternative Methoden bei der
induktiven Aufheizung des Siliziums zeigen.
Die !'ig. 1 veranschaulicht eine bevorzugte Ausführungsform
gemäß der Erfindung, welche dazu dient, die induktive Heizung eines Halbleiters bei einem Fließzonen-Feinungsprozeß gemäß
der Erfindung zu veranschaulichen. Bei der in der S1Xg. 1 dargestellten
Vorrichtung 10 stellt die Triode 12 das Schwingungselement für die Schaltung dar. Die Kathode der Triode 12 ist
mit der Leitung 14- verbunden, welche auf Nassepotential liegt.
Das Gitter der Triode 12 ist mit einer ersten Klemme 16 der Gxttervorspannungsschaltung 18 verbunden. Eine zweite Klemme
der Gxttervorspannungsschaltung 18 ist mit der Masseleitung 14· verbunden. Die Anode der Triode 12 ist mit der Leitung 20
verbunden, welche mit einer ersten Klemme des Kondensators 24-
809884/0908
verbunden ist und die einen ersten Ausgang der Energieversorgung
38 darstellt. Eine zweite Ausgangsklemme der Energieversorgung
38 ist mit der Leitung 21 verbunden, welche mit einer ersten Klemme des Widerstandes 22 verbunden ist und
ebenfalls mit einer ersten Klemme der Steuerschaltung 26. Eine zweite Klemme des Widerstandes 22 ist mit der Ilasseleitung
14 verbunden, welche auch mit einer zweiten Klemme der Steuerschaltung 26 verbunden ist. Die zweite Klemme des
Kondensators 24 ist mit der Leitung 28 verbunden, welche eine erste Eingangsklemme des Oszillatorschwingkreises 30 darstellt.
Eine zweite Eingangsklemme des Oszillatorschwingkreises 30 ist mit der Masseleitung 14 verbunden. Der Ausgang des Oszillatorschwingkreises
30 ist eine Induktionsheizspule 32, welche in ihren physikalischen Abmessungen derart ausgebildet ist,
daß sie einen Teil des Halbleitermaterials 3^ umgibt, welches
induktiv aufgeheizt werden soll. Der Ausgang der Steuerschaltung 26 ist mit der Energieversorgung 38 über die Leitung 40
verbunden. Um die Vorrichtung und das Verfahren gemäß der Erfindung zu verstehen, sind zunächst diejenigen Eigenschaften
zu betrachten, welche entsprechende Halbleitermaterialien aufweisen. Die Pig. 2 veranschaulicht solche Eigenschaften für
den Pail des Siliziums. Die Pig. 2 zeigt die Beziehung zwischen dem spezifischen Widerstand des Siliziums und seiner
Temperatur in Porm einer schematischen grafischen Darstellung, in welcher der natürliche Logarithmus des spezifischen Widerstandes
über dem Reziprokwert der Temperatur aufgetragen ist. Wie aus der Pig. 2 ersichtlich ist, ist bei Temperaturen
unterhalb des Schmelzpunktes (bei etwa T = 1100 0C) der
spezifische Widerstand des Siliziums eine klare logarithmische Punktion. Beim Schmelzpunkt (T = 1420 0C) ändert sich der
spezifische Widerstand des Siliziums rasch von einem Anfangswert p. « 17OO x 10 0hm χ Zentimeter auf einen Endwert
von P2 = 81 χ 10 0hm x Zentimeter. Dieser scharfe Abfall
im spezifischen Widerstand hat eine erhebliche Bedeutung,
809884/090S
wenn eine Induktionsheizeinrichtung, wie sie in der Fig.
dargestellt ist, bei einem Fließzonen-Schmelzvorgang des Siliziums verwendet wird. Dieser Effekt tritt auf, weil die
Menge an HF-Energie, welche aus der Induktionsheizspule in das Halbleitermaterial 34- eingekoppelt wird, umgekelirt
proportional ist zu dem spezifischen Widerstand des Halbleitermaterials 34-. Wenn daher verschiedene Bereiche oder
Schichten des Halbleitermaterials den Schmelzpunkt erreichen, bewirkt die Sprungfunktion eine Abnahme im spezifischen Widerstand,
wodurch eine entsprechende Zunahme der effektiven Menge an Energie bewirkt wird, welche in das Material eingekoppelt
wird, so daß der Schmelzvorgang dadurch erleichtert
wird. Wenn die zur Einkopplung zur Verfugung stehende Energie nicht begrenzt ist, führt der Beschleunigungseffekt,
welcher durch eine lokalisierte Schmelzung auftritt, zu einem
sehr raschen Schmelzen der "Zone", welche von dem Induktionsheizelement 32 umgeben wird.
Die Fig. 3 veranschaulicht den beschleunigten Effekt in der
Temperaturcharakteristik 100, welche zeigt, in welcher Weise bei der Vorrichtung gemäß Fig. 1 die Heizwirkung erreicht
wird, wenn die Energieversorgung 38 in einer Betriebsart
arbeitet, bei welcher eine konstante Spannung beibehalten wird. Bei dieser Betriebsart mit konstanter Spannung wird
der einzige Begrenzungseffekt bei der Energie, welche durch
die Schwingung der Lexstungsoszxllatortrxode 12 hervorgerufen wird, welche mit der Induktionsheizspule 32 über den Oszillatorschwingkreis
30 gekoppelt ist, durch die schließlich erreichte Impedanz des Systems gegeben, und zwar in Abhängigkeit
vom spezifischen Widerstand des Halbleitermaterials 34-· Somit
wird gemäß Fig. 3 der Beschleunigungseffekt, welcher beim Einsetzen des Schmelzens beim Silizium auftritt, zur Bildung
einer geschmolzenen Zone in sehr kurzer Zeit führen (etwa 3 Sekunden für die Temperaturcharakteristik 100).
809884/0908
Wie oben "bereits diskutiert wurde, erzeugt diese sehr rasche
Aufheizung ernsthafte Warmeschocks, welche Probleme in der
empfindlichen physikalischen Anordnung hervorrufen können,
die bei solchen Vorgängen oft verwendet werden, die als Fließzonen-Veredelungsvorgang
- oder Feinungsvorgang - bezeichnet werden können. Als Beispiel kann die Anordnung dienen, durch
welche Keimkristalle mit geschmolzenen polykristallinen Siliziumstäben vereinigt werden, um einen Prozeß in Gang zu setzen,
durch den ein monokristallines Werkstück mit größerem Durchmesser aus dem Keimkristall wachsen kann. Die Wärmeschocks, die
durch die Auslösung der Induktionsheizung auftreten können, welche eine Energiequelle mit konstanter Spannung verwendet,
wie es durch die Temperaturcharakteristik iOO gemäß Fig. 3 veranschaulicht ist, können schwerwiegende Probleme hervorrufen,
beispielsweise eine Zerstörung eines verhältnismäßig leicht zerbrechbaren Zuführungsstabes.
Die H1Xg. 3 veranschaulicht auch eine zweite Temperaturcharakteiistik
102, welche ein wesentlich allmählicheres Ansteigen der Temperatur über der Zeit darstellt. Diese Charakteristik
ergibt sich bei einem Betrieb der Vorrichtung gemäß Fig. 1 , bei welchem der Strom begrenzt ist oder konstant gehalten
wird. Bei einer derartigen Arbeitsweise wird beim Einsetzen des Schmelzens im Halbleitermaterial 34 der spezifische Widerstand
vermindert, und es wird die "Kopplung" erhöht, d. h. die Menge der HF-Energie, welche übertragen wird, wird dadurch
gesteuert, daß der Strom begrenzt wird, welcher der Anode der Lexstungsoszxllatortriode 12 mit konstantem Wert zugeführt
wird. Die Vorrichtung gemäß Fig. 1 veranschaulicht eine spezielle Art, diese Strombegrenzung durch die Verwendung eines Fühlerwider
Standes 22 durchzuführen, welcher zwischen der zweiten
Ausgangsleitung 21 der Energieversorgung 38 und der Masseleitung
14 angeordnet ist. Die Leitung 21. und die Masseleitung 14 stellen eine Verbindung mit einer Steuerschaltung 26 her,
so daß dann, wenn der der Triode 12 zugeführte Anodenstrom den
809884/Q'90S
vorgeschriebenen Grenzwert erreicht, die Spannung, welche an dem Fühlerwiderstand 22 abfällt und der Steuerschaltung 26 zugeführt
wird, ein Steuersignal erzeugt wird, welches der Energieversorgung 38 über die Leitung 40 zugeführt wird. Das Steuersignal
auf der Leitung 40 regelt bzw. steuert die innere Betriebsweise der Energieversorgung 38 in an sich bekannter
Weise, um die ordnungsgemäße Spannung an die Ausgangsleitung
36 zu liefern, wie es erforderlich ist, um den konstanten Stromwert für die Anode der Leistungstriode 12 aufrechtzuerhalten.
Die in der Fig. 3 dargestellte Charakteristik veranschaulicht eine spezielle Arbeitsweise der Vorrichtung gemäß
Fig. 1, bei welcher der an die Anode der Triode 12 gelieferte
Strom beispielsweise auf den Bereich zwischen 1 und 1,5 Ampere begrenzt ist. Mit dieser Strombegrenzung wird nur eine begrenzte
Energie auf die Induktionsheizspule 32 übertragen, so daß der
Temperaturanstieg des Halbleitermaterials 34 langsam und regelmäßig
vonstatten geht und vorzugsweise etwa eine Minute oder mehr benötigt, um von 500 C auf ein Temperaturniveau von etwa
1100 C anzusteigen, wie es durch die Charakteristik/der Fig. dargestellt ist. Diese Art der induktiven Heizung eliminiert
die Wärmeschockprobleme, die oben diskutiert wurden und ist somit eine wesentlich zweckmäßigere Arbeitsweise. Sobald ein
stabiles Temperaturniveau erreicht ist, kann die Arbeitsweise der in der Fig. 1 dargestellten Vorrichtung derart verändert
werden, daß die Energieversorgung 38 mit konstanter Spannung arbeitet, wie es an sich für das Fließzonen-Veredelungsverfahren
oder -Feinungsverfahren bei Halbleitern üblich ist. Dieser Wechsel in der Arbeitsweise kann entweder manuell
oder durch die Steuerschaltung 26 erfolgen.
809884/D90«
Claims (9)
1. Vorrichtung zur Durchführung des Eließzoneiischmelzens
bei Halbleiterstäben, wobei der Stab in vertikaler Sichtung an beiden Enden eingeklemmt ist und eine
geschmolzene Zone in dem Stab durch eine den Stab umgebende Induktionsheizspule erzeugt wird, wobei
die Spule mit dem Resonanzkreis eines Oszillators verbunden ist, der seinerseits mit einer elektronischen
Steuereinrichtung zur Steuerung der Energiezufuhr für den Resonanzkreis verbunden ist, und wobei
die elektronische Steuereinrichtung mit einer Energieversorgungseinrichtung verbunden ist, dadurch
gekennz eichnet, daß die Energiequelle derart ausgebildet ist, daß sie in einer ersten
Betriebsart mit konstantem Strom arbeitet, um dem
Halbleiterstab Energie zuzuführen, damit die Temperatur des Halbleiterstabes auf eine Temperatur unterhalb
des Schmelzpunktes erhöht wird, und daß weiterhin eine zweite Betriebsart vorgesehen ist, in welcher die Anordnung
mit konstanter Spannung arbeitet, um die Temperatur des Halbleiterstabes weiter anzuheben.
2. Vorrichtung nach Anspruch Ί, dadurch gekennzeichnet, daß
eine Steuerschaltung vorgesehen ist, welche die Arbeitsweise der Energiequelle aus der ersten Betriebsart, in
welcher mit konstantem Strom gearbeitet wird, in die zweite Betriebsart umschaltet, in welcher mit konstanter
Spannung gearbeitet wird.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Energiequelle einen ersten Ausgang aufweist, welcher
mit der elektronischen Steuereinrichtung verbunden ist,
ΙΝΘΡΕΟΤΒΟ
und einen, zweiten Ausgang hat, der über einen Fühlerwiderstand
mit einer Bezugsspannung verbunden ist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß
die an dem Fühlerwiderstand gebildete Spannung der Steuerschaltung zugeführt wird, um eine Veränderung von der
ersten in die zweite Betriebsart vorzunehmen.
5· Vorrichtung, bei welcher Halbleitermaterial in einer fließenden oder schwimmenden Zone zum Schmelzen gebracht
wird, wobei eine mit dem Resonanzkreis eines Oszillators verbundene Induktionsheizspule verwendet wird, dadurch
gekennzeichnet, daß die Energiequelle, welche den Oszillator erregt, mit begrenztem Strom während der anfänglichen
Phase der induktiven Heizung betrieben wird, um die Menge der auf die Induktionsheizspule übertragenen Energie zu
steuern, so daß dadurch das Maß des Temperaturanstieges des Halbleitermaterials gesteuert wird.
6. Vorrichtung, bei welcher das Maß des Temperaturanstiegs in der fließenden Zone des geschmolzenen Halbleitermaterials
dadurch gesteuert wird, daß eine induktive Heizspule mit dem Resonanzkreis einer Oszillatorschaltung verbunden ist,
wobei weiterhin eine elektronische Steuereinrichtung mit einer Energiequelle verbunden ist, dadurch gekennzeichnet,
daß die Energiequelle mit einem begrenzten Strom betrieben wird, wenn die induktive Heizung in der Anfangsphase wirksam
wird.
7· Vorrichtung zum Durchführen eines Schmelzvorganges bei einem Halbleitermaterial in einer fließenden Zone, wobei
eine Induktionsheizspule vorhanden ist, die mit dem Resonanzkreis eines Oszillators verbunden ist, der seinerseits
mit einer Energiequelle verbunden ist, dadurch gekennzeichnet,
$03894/0906
daß der Schmelz vor gang in der fließenden Zone dadurch,
ausgelöst wird, daß die Energiequelle in einer Betriebsart arbeitet, bei welcher der Strom begrenzt ist, so daß
dadurch die Menge der auf die Induktionsheizspule übertragenen Energie begrenzt wird und demgemäß auch das Maß
bzw. die Geschwindigkeit, mit welcher die Temperatur ansteigt.
8. Verfahren zur Auslösung der Meinung eines Halbleitermaterials
in einer fließenden Zone, wobei eine Vorrichtung verwendet wird, welche eine Induktionsheizspule zur Aufheizung des
Halbleitermaterials verwendet, wobei die Induktionsheizspule das Material umgibt und die Induktionsheizspule durch
einen Oszillator betrieben wird,der eine umschaltbare Energiequelle
aufweist, dadurch gekennzeichnet, daß die Umschaltbare Energiequelle mit konstantem Strom betrieben wird, um
das Halbleitermaterial auf eine Temperatur unterhalb seines Schmelzpunktes zu bringen, und daß die umschaltbare Energiequelle
mit konstanter Spannung betrieben wird, um das Halbleitermaterial anschließend auf höhere Temperaturen zu bringen.
9. Verfahren nach Anspruch 8, wobei die Vorrichtung weiterhin
eine Steuerschaltung zur Steuerung der Arbeitsweise der umschaltbaren
Energiequelle zu beeinflussen, und wobei ein Fühlerwiderstand in Reihe mit einem Ausgang der umschaltbaren
Energiequelle angeordnet ist, dadurch gekennzeichnet, daß weiterhin ein Eingangssignal von dem Eeihenwiderstand
erzeugt wird, welches der Steuerschaltung zugeführt wird,
um die Arbeitsweise der umschaltbaren Energiequelle aus dem Konstantstrommodus in den KonstantSpannungsmodus auszulösen.
809884/0906
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DK306377AA DK142586B (da) | 1977-07-07 | 1977-07-07 | Apparat til zonesmeltning af en halvlederstav. |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2829772A1 true DE2829772A1 (de) | 1979-01-25 |
Family
ID=8118662
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19782829772 Withdrawn DE2829772A1 (de) | 1977-07-07 | 1978-07-06 | Verfahren und vorrichtung zur durchfuehrung eines schmelzvorganges in einer fliessenden zone bei halbleitermaterialien |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4292487A (de) |
JP (1) | JPS6054917B2 (de) |
DE (1) | DE2829772A1 (de) |
DK (1) | DK142586B (de) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL8600672A (nl) * | 1986-03-17 | 1987-10-16 | Philips Nv | Generator voor hoogfrequent verhitten met een impedantie-orgaan parallel aan het stuurelement in de kathodeketen van de elektronenbuis van het oscillatorcircuit. |
JPH0696478B2 (ja) * | 1989-01-26 | 1994-11-30 | 科学技術庁無機材質研究所長 | 単結晶自動育成法 |
US6943330B2 (en) * | 2003-09-25 | 2005-09-13 | 3M Innovative Properties Company | Induction heating system with resonance detection |
US7696458B2 (en) * | 2005-06-03 | 2010-04-13 | Illinois Tool Works Inc. | Induction heating system and method of output power control |
US7572334B2 (en) | 2006-01-03 | 2009-08-11 | Applied Materials, Inc. | Apparatus for fabricating large-surface area polycrystalline silicon sheets for solar cell application |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1277813B (de) * | 1959-08-17 | 1968-09-19 | Siemens Ag | Verfahren zum tiegelfreien Zonenschmelzen von Halbleitermaterial |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2916593A (en) * | 1958-07-25 | 1959-12-08 | Gen Electric | Induction heating apparatus and its use in silicon production |
US3064109A (en) * | 1959-01-15 | 1962-11-13 | Ohio Crankshaft Co | Automatic control of induction heating circuits having a magnetic load |
GB904100A (en) * | 1959-09-11 | 1962-08-22 | Siemens Ag | A process for zone-by-zone melting of a rod of semi-conductor material using an induction coil as the heating means and an automatic arrangement for controlling the current through the coil |
NL258961A (de) * | 1959-12-23 | |||
DE1209551B (de) * | 1961-12-07 | 1966-01-27 | Siemens Ag | Verfahren zum tiegelfreien Zonenschmelzen eines stabfoermigen Halbleiterkoerpers miteiner Steuerung seines Durchmessers- bzw. Querschnittsverlaufs und Vorrichtung zur Durchfuehrung dieses Verfahrens |
NL6508506A (de) * | 1965-07-02 | 1967-01-03 | ||
US3567895A (en) * | 1969-08-11 | 1971-03-02 | Ibm | Temperature control system |
DE2220519C3 (de) * | 1972-04-26 | 1982-03-11 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren zum tiegelfreien Zonenschmelzen von Halbleiterstäben |
US4032740A (en) * | 1975-04-07 | 1977-06-28 | Illinois Tool Works Inc. | Two-level temperature control for induction heating |
US4093839A (en) * | 1976-04-02 | 1978-06-06 | Ajax Magnethermic Corporation | Apparatus and method for inductively heating metallic tubing having an upset portion |
US4078168A (en) * | 1976-09-17 | 1978-03-07 | Flinn & Dreffein Engineering Company | Power control circuit |
-
1977
- 1977-07-07 DK DK306377AA patent/DK142586B/da unknown
-
1978
- 1978-07-04 JP JP53081412A patent/JPS6054917B2/ja not_active Expired
- 1978-07-06 DE DE19782829772 patent/DE2829772A1/de not_active Withdrawn
-
1980
- 1980-03-10 US US06/128,997 patent/US4292487A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1277813B (de) * | 1959-08-17 | 1968-09-19 | Siemens Ag | Verfahren zum tiegelfreien Zonenschmelzen von Halbleitermaterial |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DK142586C (de) | 1981-07-27 |
JPS5418477A (en) | 1979-02-10 |
DK306377A (de) | 1979-01-08 |
JPS6054917B2 (ja) | 1985-12-02 |
DK142586B (da) | 1980-11-24 |
US4292487A (en) | 1981-09-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE1061921B (de) | Verfahren zur Steuerung eines Widerstandsschweissvorganges | |
DE2837102A1 (de) | Messzelle zum messen und ueberwachen der elektrischen leitfaehigkeit einer fluessigkeit | |
DE2401978A1 (de) | Temperaturempfindlicher steuerschalter | |
DE4025698A1 (de) | Spannungsversorgungsschaltung fuer elektroerosive bearbeitung | |
DE2829772A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur durchfuehrung eines schmelzvorganges in einer fliessenden zone bei halbleitermaterialien | |
DE1300642B (de) | Elektrisch beheizte Zufuehrungsvorrichtung in Einrichtungen zur Herstellung von Glasfaeden oder -fasern mit Regelung durch Thermostroeme | |
DE2513924A1 (de) | Automatische regeleinrichtung fuer die kristallherstellung | |
EP0285747B1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Aufrechterhaltung eines kathodischen Korrosionsschutzes für metallische Flächen | |
DE1275298B (de) | Anordnung zum Messen und Regeln einer die induktive Kopplung zwischen Induktionsspulen beeinflussenden Groesse eines elektrisch leitenden Gegenstandes | |
DE2731250C2 (de) | Verfahren zur Regelung des Stabquerschnittes beim tiegellosen Zonenschmelzen eines Halbleiterstabes | |
DE1273604B (de) | Kryotron-Oszillator | |
DE2050766C3 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum tiegelfreien Zonenschmelzen | |
DE2140241B2 (de) | Verfahren zur Regelung des Betriebszustandes einer Anlage zur Plasmalichtbogenbearbeitung von Werkstücken und Plasmalichtbogenbearbeitungsanlage | |
DE967930C (de) | Halbleiter mit P-N-Schicht und Verfahren zu seiner Herstellung | |
DE69202047T2 (de) | Verfahren zum messen der temperatur der krimp- oder schweisszone waehrend der durchfuehrung eines warmkrimp- oder eines punktschweissvorganges. | |
DE3732250C2 (de) | Verfahren zum Ziehen von Einkristallen | |
DE3685995T2 (de) | Interface fuer rampenspannungsprogrammgeraet. | |
DE2835750C2 (de) | Verfahren zum elektrischen Widerstands-Schweißen oder - Löten mit Messung der Elektrodentemperatur | |
DE969358C (de) | Schwingungserzeuger zur Erzeugung von im wesentlichen saegezahnfoermigen elektrischen Schwingungen | |
DE1275996B (de) | Vorrichtung zum tiegelfreien Zonenschmelzen | |
DE738988C (de) | Verfahren zur Erzielung eines grossen Regelbereiches von Heissleitern | |
DE1917854A1 (de) | Reihennebenschluss-Halbleiterzerhacker | |
DE658456C (de) | Verfahren zum Formieren von Gluehkathoden in Entladungsroehren | |
DE2624406A1 (de) | Verfahren zur herstellung eines monokristalls aus einem ferroelektrischen material | |
DE2220519B2 (de) | Verfahren zum tiegelfreien Zonenschmelzen von Halbleiterstäben |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |