DE2826195A1 - Fluessigkristall-lichtventil - Google Patents
Fluessigkristall-lichtventilInfo
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Description
Anmelderin; Stuttgart, den 12. Juni 1978
Hughes Aircraft Company P 354-9 S/kg
Centinela Avenue and
Teale Street
Culver City, Calif., V.St.A.
Vertreter:
Kohler - Schwindling - Späth
Patentanwälte
Hohentwielstraße 41
7000 Stuttgart 1
Patentanwälte
Hohentwielstraße 41
7000 Stuttgart 1
Flüssigkristall-Lichtventil
Die Erfindung betrifft ein Flüssigkristall-Lichtventil mit einer durch Wechselstrom angeregten Flüssigkristallschicht,
zugeordneten Zwischenschichten, die einen dielektrischen Spiegel und eine Lichtsperrschicht umfassen, einem
den Zwischenschichten benachbarten Halbleiterkörper und an eine Wechselspannung angeschlossenen Elektroden.
8O9851/1&03
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein solches
Flüssigkristall-Lichtventil anzugeben, das sich durch eine verbesserte Anordnung zum Lesen der Ladungen mit
einem hohen Sammlungs-Y/irkungsgrad und einer guten
räumlichen Auflösung auszeichnete
Diese Aufgabe wird nach der -Erfindung dadurch gelöst,
daß zwischen dem Halbleiterkörper und den Zwischenschichten eine dielektrische Isolierschicht angeordnet
ist, welche aus der den Halbleiterkörper und die Elektroden umfassenden Anordnung einen Kondensator bildet,
so daß während eines Teiles der Periode der Wechselspannung durch das zwischen den Elektroden erzeugte
Feld der ganze Halbleiterkörper von Ladungsträgern entblößt wird und für ein Signal charakteristische
Ladungsträger durch diesen Halbleiterkörper transportiert werden und die Grenzfläche zwischen Halbleiterkörper
und Isolierschicht erreichen, wo sie den Fluß von Ladungsträgern entgegengesetzter Polarität
durch die Flüssigkristallschicht und damit deren Aktivierung veranlassen.
Bei dem erfindungsgemäßen Lichtventil wird also ein elektrisches Feld über einem relativ dicken Halbleiterkörper
mit einem relativ hohen spezifischen Widerstand während eines vorbestimmten Abschnittes der V/echselspannungs-Periode
erzeugt, um den Halbleiterkörper von allen beweglichen Ladungsträgern zu entblößen. Die Verarmung
der Ladungsträger in dem Halbleiterkörper erfolgt durch
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die Anwendung eines Kondensators vom MOS-Typ, der* auf
einer Oberfläche des Halbleiterkörper, welche an die Flüssigkristall-Zwischenschiohten angrenzt, gebildet
wird. Das quer gerichtete und räumlich gleichförmige elektrische Feld des vollständig entblößten MOS-Kondensators
wird dazu benutzt, für das Signal charakteristische Minoritätsträger zu sammeln und mittula
einer Feldfokussierung während der Verarmungsphase
der angelegten Wechselspannung eine räumliche Auflösung zu bewirken.
Obwohl bei einei* ioisführungsform der Erfindung als
Halbleiterkörper eine Siliciumscheibe benutzt wird,
können auch andere Hfilbleiter-V/erkstoffe benutzt
werden.
Die besonderem Vorteile der Erfindung umfassen die Übei-tragung eines Bündels von Ladungsträgern, die
für Informationsnignale charakteristisch sind, gleichzeitig und parallel zueinander von einer Oberfläche
eines Halbleiterkörpers, bei dem es sich um das Substrat des Lichtventiles handelt, zu dessen gegenüberliegender
Seite unter der Wirkung eines VJechselfeldes mit guter
räumlicher Auflösung, doh0 ohne seitliche Ausbreitung
der Ladungsträger infolge von Diffusion. Das Lichtventil ist wechselstroui-betrieben, wodurch die elektrochemische
Stabilität der Flüssigkristall-Ano^'dnung verbessert wird.
Die für das Signal charakteristischen Ladungsträger, bei
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fr
denen es sich um !.Iinoritata träger im Halbleiterkörper
handelt, können durch optische Bilder, Röntgenstrahlen, Elektronen hoher Energie odesr unter Verwendung einer
Anordnung von ladungsgekoppelten Bauelementen eingebracht
werden.
Die räumliche Auflösung, die mittels einer Feldfokussierung
während der Verarniungs- oder iintblößungsphase
der zugeführten Wechselspannung bewirkt wird, kann noch durch eine zusätzliche Fokussieranordnung verbessert
werden, welche die Form einer mikroskopisch feinen Netzstruktur im Halbleiterkörper annimmt. Unter lletzstruktur
soll hier eine Struktur verstanden werden wie beispielsweise ein Mikrokanal-lfetz, also eine Netzstruktur
au3 Halbleiterbereichen höherer Leitfähigkeit, die beim Normalbetrieb während des Verarmungsteiles der
Wechselspannungnperiode von beweglichen Ladungsträgern
ebenso vollständig entblößt ist wie der Kest des einen
höheren spezifischen Widerstand aufweisenden Halbleiterkörper,, Dieses Mikronetz, das auf dem Substrat eine
Vielzahl von Auflöaungszellen bildet, hat im verarmten
Zustand eine höhere Konzentration von unbeweglichen Ladungsträgern als die benachbarten Abschnitte des
Halbleiterkörpers, weil es eine erhöhte Konzentration von Verunreinigungen aufweist, und erfüllt seine fokusaierende
Funktion durch Abstoßen der Signalträger in Richtung auf die Zentren der Auflösungszellen.
809851/1009 ORIGINAL INSPECTED
Die Erfindung wird in folgenden anhand der in der
Zeichnung dargestellten .aus führung« bei spiele erläutert»
Es zeigen
Fig. 1 einen scheiiiatischen Querschnitt durch ein
Flüasigkristall-Lichtventil nach der Εχ· Γ indung,
Figo 2 einen seheu^tiuehen viueruchuitt durch eine
weitere Ausf ührungsf oria eines Flüssigkristall-Liciitventi
l.d nach der Erfindung, das ein liikronetz aufweist,
Fig. 3 und 4 in schematicchen ^uerachnitten weitere
Einzelheiten von Lichtventilen nach der Erfindung,
Fig. 5 eine «chenatische Draufsicht aiif das
Fokussier-Iviikronetz eines nach der Erfindung
ausgebildeten Flüssigkristall-Lichtventils und
Fig. 6a bis 6d Diagramme von spannungen und Streuen, welche
bei einem Flüssigkristall-Lichtventil nach der Erfindung auftreten, das ein IUikronetz
zur Auflüsungsverbesserung aufweist.
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Das in Fig. 1 dargestellte, mit Wechselstrom angeregte
Flüssigkristall-Lichtventil umfaßt ein Silicium-Substrat mit hohem spezifischem Widerstand, das auf einer Seite mit
einer Gate-Isolierschicht 12 aus Si(^ versehen ist, der
eine Lichtsperrschicht 14, ein dielektrischer Spiegel 16,
eine Flüssigkristallschicht 18 und eine durchsichtige Gegenelektrode 20 folgt. Auf der anderen Seite des Substrates
iO befindet sich eine dünne Elektrode 22, eine Passivierungsschicht 24 aus SiOp und eine Kontaktleiste 25 au» Aluminium,
Eine Spannungsquelle 53 ist an die Kontaktleiste 25 der
Elektrode 22 und an die Gegenelektrode 20 angeschlossen. Das Silicium-Substrat 10 des Lichtventils nach Fig. 1
ist.vom p-Typ mit einem typischen spezifischen Widerstand
von mehr als 1 k_0.ocmo Ein p-Halbleiterkörper
wird häufig auch mit dem SymboliT bezeichnet, wogegen
ein η-Material mit hohem spezifischen Widerstand häufig auch mit dem SymbolV bezeichnet wird. Obwohl bei der
Ausführungsform nach Figo 1 ein Ti -Material benutzt
wird, kann die Erfindung ebenso gut auch mit einem \) -Material verwirklicht werden, wobei dann die Spannungsund
Strompolaritäten umgekehrt werden müssen.
Das Halbleitermaterial 10 kann eine Dicke in der Größenordnung von 75 bis 250 /tm aufweisen und sollte auf beiden
Seiten chemisch-mechanisch poliert sein, um zu beiden Seiten optisch ebene und zueinander parallele Flächen
zu erzeugen. Auf der der Isolierschicht 12 zugewandten Seite weist das Substrat isolierende Kanalbegrenzungen
auf, um den aktiven Tf-Bereich von der schädlichen V/irkung
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einer Minoritätsträger-iSrzeugung an den Außenflächen
des Substrates und einer Ladungsxnversxon, wie sie typischerweise an SiOp-Grenzflächen von p-Silicium
vorliegt, zu schützen» Bei diesen Kanalbegrenzungen 26 handelt es sich für ein Substrat vom "It-Typ um p+-Bereiche,
die durch eine starke Dotierung vorbestimiater Bereiche
des Substrates mit Verunreinigungen vom p-Typ gebildet werden, beispielsweise mittels Gasdiffusion oder Ionenimplantation.
Die dünne Elektrode 22 ist in dem Siliciumsubstrat durch starke Dotierung gebildet und wird bei
einem Substrat vom-tf-Typ durch einen p+-Bereich gebildet.
Der Zweck dieser Schicht besteht darin, zur Küclcseite des Substrates einen gleichförmigen ohmschen Kontakt
herzustellen, so daß das elektrische Potential der gesamten Rückseite des Substrates und an Stellen innerhalb
des Substrates gemäß der angelegten Vorspannung erhöht oder gesenkt werden kann» Diese Schicht muß
Jedoch für Licht durchlässig sein, so daß Photonen die Schicht durchdringen können, ohne in nennenswertem
Maße absorbiert zu werden. Um diese Forderung zu erfüllen, ist es erforderlich, die Schicht optisch dünn auszubilden,
was bedeutet, daß die Dicke geringer sein muß als der Kehrwert des Absorptionskoeffizienten für Photonen
der Wellenlängen im Spektralbereich von 0,4- bis 1,OjUm,
Damit diese Schicht einen gleichförmigen elektrischen Kontakt ergibt, ist außerdem eine degenerative Dotierung
erwünscht. Die Passivierungsschicht 24 besteht typischerweise
aus einer dünnen.SiOp-Schicht, die dazu dient, die Oberfläche des Silicium-Substrats zu schützen. Auf der
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4(9
gegenüberliegenden Seite des Substrates 10 befindet sich eine Gate-Iaolierschicht 12, bei der es sich
typischerweise um eine SiO^-Sohicht handelt. Diese SiOg-Schicht ist die dielektrische Schicht eines
MOS-Kondensators, der auf dem Substrat 10 gebildet istβ Dieser Gate-Isolierschicht 12 benachbart ist
eine Cermet-Lichtsperrschicht 14, die bei diesem Lichtventil dazu dient, das Projektionslicht zu
absorbieren, das wegen des begrenzten Reflexionsvermögens des dielektrischen Spiegels 16 vom Spiegel
übertragen werden könnte. Bei GdS-Lichtventilen ist eine CdTe-Schicht vorhanden, welche die gleiche Funktion
hat wie die Germet-Schicht 14- bei dem Lichtventil nach Fig. 1. .Eine CdTe-Schicht ist jedoch für das Lichtventil
nach Pig. 1 ungeeignet, weil es Licht mit einer
Wellenlänge von weniger als 0,85 /tm absorbiert, während
das Silicium-Substrat bis zu einer Wellenlänge von annähernd 1,1 ^m photoempfindlich ist, also bis in den
nahen Infrarotbereich des optischen Spektrums. Die Oermet-Schicht 14- besteht aus einem Stapel von abwechselnden
Metallteilchen, wie beispielsweise Zinn, Indium und Blei, in dielektrischen Schichten, beispielsweise aus
AIpO^. Wenn die Metallteilchen in relativ dünnen Filmen
angeordnet werden, coagulieren sie zu einer dichten Anordnung kleiner Metallinseln, die elektrisch nicht
zusammenhängen, jedoch die optischen Eigenschaften der Metalle im Bereich der Wellenlängen des sichtbaren Lichtes
behalten. Die Verwendung von abwechselnden Schichten dieser
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/IA
von einem Isolator getrennten I-ietalltröpfchen vermindert
noch weiter die elektrische Leitung in der Hbene einer Schicht und erlaubt die kapazitive Kopplung von Ladungen
zwischen den Metallinseln benachbarter Filme. Wenn der Abstand zwischen diesen Ivietallinseln im Verhältnis zur
Dicke der isolierenden Filme relativ groß ist, dann ist die Impedanz sowohl bei Gleichstrom als auch bei Yfechselstrom
für eine Ladungsübertragung in der Übene sehr viel
größer als diejenige zwischen den libenen, so daß ein anisotropisch leitendes Material mit den optischen Eigenschaften
von Metall erzeugt wird. Wenn viele abwechselnde
Filme in eine einzige Schicht eingebracht werden, ist die Undurchsichtigkeit der kombinierten Filme durch die
vielfache Lichtstreuung an den vielen willkürlich verteilten Metallinseln noch weiter verstärkt» Da die Inseln
aus Metall bestehen und durch Anregung freier Elektronen Licht absorbieren, hat diese Cermet-Schicht eine geringe
optische Durchlässigkeit in einem größeren Spektralbereich, als es mit Halbisolatoren wie GdTe erreichbar wäre, weil
die letztgenannten durch die Breite ihres verbotenen Bandes begrenzt ist» Da die in Fig. 1 dargestellte
Anordnung zur Verwendung mit Wechselstrom bestimmt ist, ist es nicht erforderlich, daß die Cermet-Schicht eine
geringe Gleichstrom-Leitfähigkeit senkrecht zur Schichtebene aufweist.,
Bei der Schicht 16 handelt es sich um einen dielektrischen
Spiegel, beispielsweise um einen TiOp/Si00-üpiegel. Die
Schicht 18 ist eine elektro-optische Flüssigkristallschicht,
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deren Dicke durch dielektrische Abstandsstücke 19
bestimmt ist, welche die Flüssigkristallschicht begrenzen und beispielsweise aus UiO2 bestehen können.
Die Gegenelektrode 20 ist für Licht durchlässig und grenzt an die Flüssigkristallschicht 18 ane
Dieses Lichtventil macht von den elektro-optischen Eigenschaften nematischer Flüssigkristalle Gebrauch,
um einen projezierten Ausgangs-Lichtstrahl optisch zu modulieren. Dabei wird entweder mit dem 4-5° verdrillt-nematischen
oder dem doppelbrechend farb-schaltenden Betriebszustand gearbeitete Bei beiden Phänomenen
existiert eine Spannungsschwelle V™, unterhalb welcher
die Moleküle der Schicht ihre ursprüngliche Ausrichtung parallel oder senkrecht zu den Elektroden-Oberflächen
beibehalten. Vienn die Effektivspannung über der Flüssigkristallschicht
die Schwellenspannung V™ überschreitet, dann tritt eine Umorientierung der Moleküle in einem
Ausmaß ein, der von der Größe der dielektrischen Anisotropie des speziellen verwendeten Flüssigkristalle
und der Größe der Überspannung V™ - Vm abhängt. Dieser
Effekt führt zu einer optischen Doppelbrechung, die leicht dazu benutzt werden kann, die Phase eines
polarisierten Lichtstrahles zu verzögern und dabei eine Farb-/Intensitäts-Modulation proportional zu
Vtq - Vj zu erzeugen.
Bei einem speziellen Silicium-MOS-Lichtventil wurde ein
Siliciuin-Substrat vom p-Typ mit einem spezifischen Wider
stand von etwa 40 kJl.cm und einer Dicke von etwa 0,15
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benutzte Auf einer Oberfläche des Substrates wurde durch thermische Oxydation eine SiOp-Schicht mit
einer Dicke von 100 nm als Gate-Isolierschicht gebildet· Auf der anderen Seite wurde als Elektrode
eine p+-Kontaktschicht durch Eindiffundieren von Bor
erzeugt. Da ein He-Ne-Laserstrahl benutzt wurde, um
das Ausgangssignal des Lichtventils zu projizieren, wurde ein auf Hot abgestimmter, siebenpaariger,
dielektrischer üi0o/Ti0p-Üpiegöl dazu benutzt, das
Silicium-Substrat optisch von dem Lesestrahl zu trennen, so daß die Notwendigkeit für eine getrennte
Lichtsperrschicht nicht bestand. Eine Flüssigkristallschicht wurde senkrecht auf eine Elektrodenfläche
ausgerichtet und dann mit dem übrigen Teil de3 Lichtventiles
vereinigt«, Dieses Lichtventil zeigte sowohl eine gute Photoempfindlichkeit als auch eine gute
räumliche Auflösung unter Verwendung von grünem Eingangslicht mit Intensitäten von etwa 5OO /tW/cm
und verschiedenen Formen der Eingangsspannung mit Frequenzen zwischen 100 kHz und 5
Bei der in Fig. 2 schematisch dargestellten Ausführmigsform
handelt es sich um Lichtventil, das durch eine aus ladungsgekoppelten Bauelementen bestehende Anordnung
angesteuert wird« Das Lichtventil empfängt von der ladungsgekoppelten Anordnung ein GleichspannungH-Signal
und setzt es in ein Wechselypannungs-Signal um, dessen
mittlere Ladung Hull beträgt und welches den Flüssigkristall aktivierte Es umfaßt eine durchsichtige Elektrode [.>0,
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eine Flüssigkrib'tall3chi.:h': SO, einen nehrla
dielektrischen spiegel 100, eine .i-icht sperrschicht 120,
eine SiOp-Isolierschieht 1-0, ein oiliciun-oubstrat IGO
mit hohem spezifischen V.iierstand, eine ecitaxiale
oiliciunschicht 1S0, eine oiliciumcioxid-oohioht 200
und einen Satz von COD-^Iektrcaen 22O0 Die ilonbination
aus dem mehrlagigen dielektrischen spiegel 100 uni der
Liühtsperi'schicht 12C biliec eine Anordnung zur optischen
Isolierung des Flüssigkristalis von dem Substrat;
und der ladungsgekoypeltei: anordnung des Lichtventils.
In dem Silicium-oubstraü Ie^ befindet sich eine ein
kikronets 24-0 bildende uuriU:t;ur, die dazu, dient, iie
ijignal-Ladungiitragex· ^u iokuddieren. Dieje .!.-ikrünetzlijtruktur
deiinierr -ellenuoreijhe^ Gbv.ohl diese struktur
in Verbindung uit eineu oilioiuLi-oubatrat von ρ-'Γνρ
beschrieben v:ird, vero-ceht es sicii, dcu: nach der Erfindung
auch Lichtvencile aufgebaut werden können, αie
ein iiiliciuni-ouüstx'at vou. n-I'yp oder Jubstrate auu
anderen Halbleiterm^tericaien aufweisen, die uit
Vux'unreinigunget: dotiert uind, v.elche jeden beliebigen
Ltiitfähigkeitiityp bedtiai.en. Bei einen speziellen
Beispiel v;ux\le ein oiliciuii-oubstrat vom ρ—ΐνρ uit
der kriiitallographijchen Orientierung <
100 > ver\;en-.iet.
Dei' spezifische V/idersfcand des substrates kann in weiter:
Frenzen schwanken, obwohl für eine gute Auflösung ein
speaifiachex* ii/iderstand von meJhr als 1 lc-ft« cm bevorzugt
wird» Da es sich hierbei uii ein Lcitei"ial vom p-1"yp mit
hohem spezifischen widerstand handelt, wird es aucii
manchmal als fT —Typ bezeichnete Zwischen die epita.ciale
Siliciuuschicht 180 und die durchsiciitige Elektrode 50
ist eine Wechselspannungaquelle 260 geschaltet.
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In Betrieb nimmt ein CCD-Hingangsregister serielle
Eingangsdaten auf, speichert und formiert sie für eine nachfolgende Parallelverarbeitung. Dies erfolgt
beispielsweise in der Weise, daß das CCD-Eingangsregister seriell eine Zeile an Informationen aufnimmt
und, nachdem es gefüllt ist, die Information parallel in eine parallele CCD-Gruppe überträgt. Danach wird
das kingangsregister mit einer neuen Zeile an Informationen
gefüllt, während die erste Zeile der Informationen um einen Schritt in der Parallelanordnung verschoben
wird. Dfjnn v;ird die zweite Informations zeile
von dem seriellen Eingangsregister in die erste Stufe der Parallelanordnung übertragen« Der gleiche Vorgang
wird wiederholt, bis die Parallelanordnung ein gesamtes Bild an Informationen enthält. Dann wird das gesamte
Informationsbild gleichzeitig mittels der Leseeinrichtung zur vorübergehenden speicherung auf die Flüssigkristallschicht
übertragen, wo sie dazu benutzt wird, einen Laser-Lesestrahl räumlich zu modulieren. Die
Leseeinrichtung arbeitet mit Wechselspannung unter Verwendung der SiOp-Isolierschicht, die verhindert,
daß eine Gleichstromkomponente die Anordnung durchfließt ο Durch die SiO,-,-Isolierschicht entsteht die
elektrische Funktion eines IvlOS-Kondensators. Die an
diesen Kondensator angelegte Spannung hat eine derart gewählte Form, daß während der größten Zeit die SiOp-Seite
14-0 in bezug auf die geerdete Epitaxialschicht
positiv vorgespannt ist. Für die restliche Zeit der Periode ist die SiOp-Schicht 140 geerdete Die Frequenz der Spannungsquelle
ist so gewählt, daß sie mit der Bildfrequenz
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übereinstimmt. Während des positiven Teils der Periode ist das TT-Substrat 160 und mit ihm das Mikronetz 240
von beweglichen Ladungsträgern vollständig entblößt. Die Verarmungszone erstreckt sich auch in einen kleinen
Teil der Epitaxialschicht 180, und es ist dieses Eindringen im Bereich zwischen den Mikronetz-Bereichen
tiefer. Die Bereiche des Mikronetzes wirken wie Eimer mit unbeweglichen negativen Ladungen, welche die Signal-Elektronen
abstoßen. Infolgedessen wirkt das Mikronetz wie ein Fokussiergitter, das die Elektronen in Kichtung
auf die Mitten der Bereiche zwischen den dotierten Regionen abstößt. Ladungsträger, die aus der Kontrolle
durch die CGD-Elektröden entlassen werden, diffundieren
in einen Teil der Epitaxialschicht und werden dann von dem elektrischen Feld über den verarmten Bereich der
Epitaxialschicht und die gesamte Dicke des Tf-Substrats
geschwemmt und erreichen die Si/SiOp-Grenzfläche an
Stellen zwischen dem Mikronetz,, Die Anwesenheit dieser
Ladungen ändert den Spannungsabfall an dem Flüssigkristall, wodurch dieser aktiviert wird,, Die Ladungsträger werden
an der Si/SiO2-Grenzfläche an den Stellen innerhalb des
Mikronetzes gespeichert, bis die Vorspannung an der SiOp-Schicht verschwindet was zu einem Zusammenbrechen der
verarmten Zone führto Zu dieser Zeit diffundieren die Exzess-Minoritätsträger, bei denen es sich in diesem
Fall um Elektronen handelt, in denT-Bereich, wo es während des restlichen Teiles der Vorspannungs-Periode
zu einer Rekombination kommt»
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Figo 3 zeigt schematisch einen Abschnitt des Lichtventils
nach Fig. 2, der das Substrat 160 des Lichtventils mit einer CCD-Struktur umfaßt, die das aktivierende
Eingangssignal liefert« Es umfaßt eine Siliciumscheibe 160 vom Tf-Typ, also mit hohem spezifischen
Widerstand, die auf einer Seite eine SiO0-Schicht
140 und auf der anderen Seite eine epitaxiale Siliciuiaschicht 180 vom p-Typ auf weis to Zur Epitaxialschicht
180 benachbart befindet sich eine Si0o-Schicht 200, auf der CCD-Elektroden 220 angebracht sind. Eine Spannungsquelle
260 ist einerseits an die Epitaxialsehicht 180 und andererseits an eine transparente Elektrode 50
ange schlossen«
i'ig. 4 zeigt schematisch im i4uerschnitt einen Teil
eines Lichtventils mit Photoaktivierung. Es unfaßt ein
Silicium-Substrat 160 vom ΊΓ-Typ, das auf einer Seite
mit einer SiOp-Sohicht 140 versehen ist. Der Si0o-Schicht
benachbart befindet sich im Substrat ein MiIa?onetζ 240.
Auf der anderen Seite de» Substrats befindet sich eine transparente Elektrode 280, die durch starkes Dotieren
eines relativ dünnen Abschnittes des Substrates mit einer Verunreinigung vom p-Typ gebildet ist. Bei der
Elektrode handelt es sich demnach um einen ρ -Bereich. Anschließend an die Elektrode 280 befindet 3xch eine
dünne, durchsichtige Si0o-Sohicht 300. Eine Spannungsquelle 260 ist an eine transparente Elektrode 50 und
die transparente Elektrode 280 angeschlossen. Das zum
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Einachreiben von Informationen dienende Licht 320 durchdringt die iJiO^-Schieht 300 lind die p+-Sc;hicht 280
und erreicht das Silicium--, abs trat 160 vom -Tf-Typ, das
für die empfangene Strahlung empfindlich ist. In jeglicher anderer Hinsicht iut die Aivbeitsweise des photoaktivierten
Flüssigkristall-Lichtventiles mit dei^ Arbeitsweise des
CCD-gesteuerten Flü.ssigkriütall-Lichtventiles identicch„
Fig. 5 zeigt schematise}! die Di*auf sieht auf eine Scheibe
für ein Flüssigkristall-Lichtventil, welche die üelativstellung
der liikronetz-Bereiche oder !.ükro-Kanalbegrenaungen
aufzeigt, wie sie oben ert;Ülmt worden sind» In der
Siliciumscheibe 160 iat eine mäßig dotierte Ilotantruktur
240 gebildet, um eine AnOrdnung von Auflüsungszellen 420
zu bilden, die aus 1T-Silicium bestehen, i^'ine Kanalbegrenzung
360 vom p+-l';rP ergibt eine Art von Feldisolierung.
Das Mikrokanalnetz 240 vjird entweder durch Ionenimplantation
oder durch Diffusion erzeugt und hat eine ebene Oberfläche, um eine gute Ausrichtung des Flüssigkristall zu gewährleisten,.
Der Dotierungs-rPegel und die Tiefe des iu?tzea
sind so gewählt, daß das lietz während normaler Ai'beitnbedingungen
von Ladungsträgern verarmt oder entblüßt ist. Da das Wetz iOöpfe oder Eimer mit unbeweglichen negativen
Ladungen bildet, welche Elektronen abstoßen, werden die
übertragenen Elektronen auf die lütte der Zellen fokussiert»
In den Fig. 6a bis Gd ist der Vex-lauf von Spannungen und
Strömen sowie ein iLquivulent-üchaltbild dargestellt, um
die Wirkungsweise eines nach der Erfindung ausgebildeten
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2826135
Lichtventils zu erläutern. Fig. 6a zeigt die von der
Spannungsquelle 260 in Fig. 2 gelieferte Vorspannung. Die Spannung hat einen Wert von O V während der Zeit
Tp (Akkumulation3phase) und die Spannung V, welche
einen typischen Wert zwischen 50 und 100 V haben kann,
während der Zeit T,. (Veraruungsphase)o Die Zeit T. ist
sehr viel größer gewählt als die Zeit 1'2· Der Flüssigkristall-Stroia
int der i^bleitung der Spannung proportional
und hat den in Fig. 6b dargestellten Verlauf.
Die Stromimpulse, die zwischen den durch die Spannungsquelle hervorgerufenen Stromimpulsen liegen, sind die
Signalimpulse„.Unter der Annahme, daß die Flüssigkristallschicht
80 durch das Äquivalent-Schaltbild nach Fig. 6c
dargestellt werden kann und eine RC-Zeitkonstante von
etwa 5 ms aufweist, und unter der Annahme, daß T0 eine
Dauer von 5 ms hat, dann hat die an dem Flüssigkristall
anstehende Spannung die in Fig. 6d dargestellte Form.
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-zo-
Leerseife
Claims (2)
- Patentansprüche1„ Fluss igkr is tall-Lichtvt3ntil mit einer durch Wechselstrom angeregten Flüssigkristallschicht, zugeordneten Zwischenschichten, die einen dielektx'ischen Spiegel und eine Lichtsperrschicht umfassen, einem den Zwischenschichten benachbarten Halbleiterkörper *md an eine Wechselspannung angeschlossenen Elektroden, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen dem Halbleiterkörper (1O) und den Zwischenschichten (14-, 16) eine dielektrische Isolierschicht (12) angeordnet int, welche aus der den Halbleiterkörper (1O) und die Elektroden (20, 22) umfassenden Anordnung einen Kondensator bildet, so daß während eines Seiles der Periode der Wechselspannung durch das zwischen den Elektroden (20, 22) erzeugte Feld der ganze Halbleiterkörper (1O) von Ladungsträgern entblößt wird und für ein Signal charakteristische Ladungsträger durch diesen Halbleiterkörper transportiert werden und die Grenzfläche zwischen Halbleiterkörper (1O) und Isolierschicht (12) erreichen, wo sie den Fluß von Ladungsträgern entgegengesetzter Polarität durch die Flüssigkristallschicht (18) und damit deren Aktivierung veranlassen.
- 2. Lichtventil nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Halbleiterkörper (I6O) an die Isolierschicht (140) angrenzende, hochdotierte Stellen aufweist, die809851/1009 OBlQlNAL INSPECTEDeine mikroskopiach feine ITetzstruktur bilden, welche, wenn sie während eines Teiles der Periode der Wechselspannung von ihren mobilen Ladungsträgern entblößt ist, Bereiche mit einer hohen Konzentration unbeweglicher Ladungsträger bildet, die eine fokussierende Wirkung auf die für das Signal charakteristischen Ladungsträger haben, welche den Halbleiterkörper durchqueren.8098 5 1/1009
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US80822477A | 1977-06-20 | 1977-06-20 | |
US83485677A | 1977-09-19 | 1977-09-19 |
Publications (2)
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Citations (2)
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---|---|---|---|---|
DE2046702B2 (de) * | 1969-09-22 | 1974-07-04 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd., Kadoma, Osaka (Japan) | Festkörper-Bildverstärker |
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Patent Citations (2)
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---|---|---|---|---|
DE2046702B2 (de) * | 1969-09-22 | 1974-07-04 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd., Kadoma, Osaka (Japan) | Festkörper-Bildverstärker |
DE2550933A1 (de) * | 1974-11-18 | 1976-05-26 | Hughes Aircraft Co | Photodiode fuer ein mit wechselstrom betriebenes lichtventil |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3434388A1 (de) * | 1984-09-19 | 1986-06-26 | Messerschmitt-Bölkow-Blohm GmbH, 8012 Ottobrunn | Verfahren zur erzeugung der ersten ableitung eines zweidimensionalen bildes und optisches bauelement zur durchfuehrung des verfahrens |
US4812019A (en) * | 1984-09-19 | 1989-03-14 | Messerschmitt-Boelkow-Blohm Gmbh | Method for producing the first differential of a two-dimensional image and optical structural element for performing the method |
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