DE2811265A1 - Magnetisches fokussierungs-/ablenksystem fuer elektronenstrahlroehren, insbesondere bildaufnahmeroehren - Google Patents
Magnetisches fokussierungs-/ablenksystem fuer elektronenstrahlroehren, insbesondere bildaufnahmeroehrenInfo
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Description
2611265
.3·
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT Unser Zeichen Berlin und München VPA
P 7 O 1 8 BRD
Magnetisches Fokussierungs-/At)lenksystem für Elektronenstrahlröhren, insbesondere Bildaufnahmeröhren,
Die Erfindung bezieht sich auf ein magnetisches Fokussierungs-/Ablenksystem
für Elektronenstrahlröhren, insbesondere Bildaufnahmeröhren, nach dem Oberbegriff des
Patentanspruchs 1.
Durch die Fokussierungseigenschaften der Elektronenoptiken bekannter Elektronenstrahlröhren, insbesondere
der nach dem Vidikonprinzip arbeitenden Bildaufnahmeröhren, können Unterschiede in der Schärfe eines zu
schreibenden bzw. abzutastenden Bildes zwischen Schirmmitte und Schirmrand auftreten.
In Schirmmitte wirkt sich die Optik der magnetischen Hauptlinse im allgemeinen nicht begrenzend auf das Auflösungsvermögen
aus, da andere Einflüsse überwiegen. Die erreichbare Grenzauflösung in Schirmmitte ist bei
Bildaufnahmeröhren im wesentlichen durch die Rauschgrenze des nachfolgenden Verstärkers bestimmt, die eine untere
Pap 1 PIr / 27.2.1978
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2611265
.4.
^ VPA 78 P7 O 1 8 BRO
Grenze für den durch den Elektronenstrahl transportierten Strom pro Bildelement setzt und damit bei gegebener
Strahlstromdichte die Größe des aufzulösenden Bildelementes festlegt. Die erreichbare Strahlstromdichte
unterliegt bekanntlich thermodynamischen Gesetzen und kann bei einem auf Kathodenpotential liegenden Auffangschirm
nicht über der Emissionsdichte der Kathode liegen. Die für die üblichen Oxidkathoden erreichbare Auflösung
liegt etwa bei einem Radius von 10 ,van. für ein BiIdelement
und bestimmt das Auflösungsvermögen in Schirmmitte. Bei der Ablenkung des Elektronenstrahls ergeben
sich zusätzlich elektronenoptisch bedingte Auflösungsfehler, deren Vermeidung bisher bei Systemen mit kompaktem
Aufbau nicht in befriedigender Weise gelungen ist.
Für die mögliche Fokussierung eines Strahls gegebener Stärke ist ein thermodynamisch bedingter Mindestquerschnitt
vorgegeben, der sich nicht unterschreiten läßt, ohne daß ein Teil der Elektronen reversiert.
Optische Bildfehler des abbildenden elektronenoptischen Systems wirken sich nur dann begrenzend auf das Auflösungsvermögen
aus, wenn sie den thermodynamisch vorgegebenen Mindestquerschnitt des Strahls überschreiten. In
Schirmmitte sind optische Bildfehler bei Wahrung der Rotationssymmetrie des Systems ohne Einfluß. Das Auflösungsvermögen
ist jedoch in hohem Maße von Abweichungen von der Rotationssymmetrie, die fertigungsmäßig bedingt
sind, abhängig. Am Schirmrand verstärken sich die Abbildungsfehler als Folge der Präzessionsbewegung des
Elektronenstrahls im überlagerten Fokus- und Ablenkfeld.
Versuche zur Dämpfung der Präzessionsbewegung wurden bereits am Anfang der Vidikonentwicklung unternommen, siehe
z. B.: Proc. IRE 28, 1940, S. 30, Proc. IRE 35, 1947, S. 1273. Dabei wurde der Einfluß des Feldverlaufs in
Längsrichtung theoretisch untersucht und gefunden, daß
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2611265 78P70 18BRD
bei Verteilung des Anstiegs und des Abklingens des Ablenkfeldes über je eine volle Umlaufperiode im Hauptfeld
die Präzessionsamplitude sehr klein wird. Diese Erkenntnis wurde bei der Konstruktion eines Return-Beam-Vidikons mit
erhöhter Auflösung benutzt, vergl. RCA Review, March 1970, S. 60 ff. Dieses bekannte Vidikon ist relativ aufwendig,
da zwischen Apertur und Schirm vier volle Umlaufbewegungen der Fokussierung im Feld der Hauptlinse liegen, was eine
Länge dieses Weges von 28 cm erforderlich macht.
Das bestehende Problem konnte also bisher nur durch eine räumliche Trennung des fokussierenden und des ablenkenden
Feldes gelöst werden, was in Bildwiedergaberöhren in aller Regel möglich ist, dagegen nicht in Bildaufnahmeröhren
in kompakter Bauweise, vergl. z. B. auch "LEHRBUCH DER DRAHTLOSEN NACHRICHTENTECHNIK FÜNFTER BAND FERNSEHTECHNIK,
ERSTER TEIL GRUNDLAGEN DES ELEKTRONISCHEN FERNSEHENS", SPRINGER-VERLAG BERLIN-GÖTTINGEN-HEIDELBERG
1956, S. 582 - 612, insbesondere S. 583 - 584: »Das Orthikon".
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, den Abfall des elektronenoptischen Auflösungsvermögens
von der Schirmmitte zum Schirmrand hin bei Elektronenstrahlröhren,
insbesondere bei nach dem Vidikonprinzip arbeitenden, also kompakt aufgebauten Bildaufnahmeröhren,
weitgehend aufzuheben.
Der Erfindung liegt der Gedanke zugrunde, das magnetische Ablenkfeld derart zu bemessen, daß der Mittelstrahl des
von der Aperturöffnung ausgehenden Strahlenbündels keine Präzessionsbewegung bei der Ablenkung durchführt, sondern
auf einem möglichst kurzen Weg von der Aperturöffnung zum Rand des Bildschirms geführt wird.
35
Es wird ein neuer Weg zur Dämpfung der Präzessions-
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* VPA 78 P 7 O 1 8 BRD
amplitude vorgeschlagen, bei dem die Kompaktheit der Anordnung gewahrt bleibt und insgesamt keine zusätzlichen
Amperewindungen gegenüber bekannten Spulenanordnungen erforderlich sind. Das erfindungsgemäße System arbeitet
mit Feldern in beiden Querrichtungen, wenn der Strahl in einer Querrichtung abgelenkt werden soll.
Die genannte Aufgabe wird durch ein wie eingangs erwähntes magnetisches Fokussierungs-/Ablenksystem gelost, das
durch die im kennzeichnenden Teil des Patentanspruchs angegebenen Merkmale gekennzeichnet ist.
Ein Vorteil der Erfindung besteht darin, daß ein ausreichend gleichmäßiges Auflösungsvermögen bei kompaktem
Aufbau des Systems ermöglicht ist. Eine gemäß der Erfindung realisierte, kompakt aufgebaute Bildaufnahmeröhre
mit praktisch gleichmäßigem Auflösungsvermögen eignet sich zum Einbau in eine leicht manipulierbare
Fernsehkamera. Eine derartige Fernsehkamera kann, beispielsweise aufgrund der genannten Eigenschaften vorteilhafterweise
zusammen mit geeigneten Bildwiedergabegeräten zur Diskussion an sich kontrastarmer und/oder unscharfer
Röntgenbilder benutzt werden.
Die vorliegende Erfindung wird im folgenden anhand mehrerer ein bekanntes Vidikon und ein Ausführungsbeispiel
für die Erfindung betreffender Figuren erläutert.
Fig. 1 zeigt im Längsschnitt den prinzipiellen Aufbau eines bekannten Vidikons.
Fig. 2 zeigt im Längsschnitt den prinzipiellen Aufbau eines Ausführungsbeispiels für ein Vidikon mit
dem erfindungsgemäßen Fokussierungs-/Ablenksystem. 35
Fig. 3 zeigt prinzipiell die erfindungsgemäße Anordnung
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£ VPA 78 P 7 O 1 8 BRD
eines ersten und eines zweiten Ablenkspulenpaares, die beispielsweise für die Ablenkung in x-Richtung
vorgesehen ist.
Fig. 4 zeigt qualitativ die Ablenkung des Elektronenstrahls in Projektion seiner Bahn auf die Längsschnittebene
xz bzw. yz (links) und auf die Querschnittebene xy (rechts) bei einem bekannten Vidikon.
10
10
Fig. 5 zeigt qualitativ den gewünschten Verlauf der abgelenkten Bahn und das erfindungsgemäß der Bahn
angepaßte Magnetfeld.
Fig. 6 zeigt qualitativ die idealisierte stufenförmige Feldverteilung By bzw. Bx und das homogene Feld Bz
über der z-Achse gemäß dem in Fig. 5 gezeigten1 gewünschten Bahnverlauf.
Fig. 7 zeigt quantitativ die Ablenkung des Elektronenstrahls in Projektion seiner Bahn auf die Längsschnittebene
xz bzw. yz (links) und auf die Querschnittebene xy (rechts), die erfindungsgemäß
durch Rechnersimulation ermittelt wurde.
Fig. 8 zeigt quantitativ die für die in Fig. 7 gezeigte Ablenkung erforderliche Feldverteilung Bx, By, Bz
über der z-Achse.
Fig. 9 zeigt qualitativ den Verlauf der Umlenkung eines Strahlenbündels in der x-Ebene, die durch ein
bei z=0 beginnendes homogenes Feld By hervorgerufen wird.
Wie bereits erläutert, zeigt Fig. 1 im Längsschnitt den prinzipiellen Aufbau eines bekannten Vidikons. Dabei
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2S11265
e VPA 78 Ρ7 O 1 8 BRD
sind die Elektronenstrahlröhre mit 1, die Strahlquelle
mit 2, der Schirm mit 3, die Fokussierspule mit 4, die Justierspule mit 5, die Ablenkspulen mit 6 und der
Strahl mit 7 bezeichnet.
5
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In Fig. 2 ist, wie ebenfalls bereits erläutert, der Längsschnitt durch die bei einem Ausführungsbeispiel gewählte
Anordnung des erfindungsgemäßen Fokussierungs-/ Ablenksystems gezeigt. Gemäß der Erfindung besteht ein
Spulensatz für Fokussierung und Ablenkung des Elektronenstrahls in beiden Richtungen aus insgesamt einer Fokussierspule
41 und vier Ablenkspulenpaaren, wovon zwei zu einem ersten Satz von Ablenkspulen 51/52 und zwei zu einem zweiten
Satz von Ablenkspulen 61/62 zusammengefaßt sind. Die näher an der Aperturblende gelegenen Ablenkspulen dienen
der Umbiegung des Strahls in die Ablenkrichtung, während die hinteren Ablenkspulen der Anpassung des fokussierenden
Hauptfeldes an die geänderte Strahlrichtung dienen. Der kompakte Aufbau ist durch die räumliche Überlagerung
des zweiten Satzes von Ablenkspulen 61/62 mit der Fokussierspule 41 gewährleistet.
Fig. 3 zeigt, wie bereits erläutert, prinzipiell die erfindungsgemäße
Anordnung eines ersten Ablenkspulenpaares 51/52 und eines zweiten Ablenkspulenpaares 61/62. Die beiden
Ablenkspulenpaare sind um einen Winkel £ gegeneinander verdreht auf dem Kolben der Elektronenstrahlröhre 1
angeordnet, wodurch ihre Feldebenen entsprechend verdreht liegen. Dadurch wird die Richtung des Ablenkfeldes für
die durchlaufenden Elektronen auf dem Wege von der Aperturöffnung
zum Schirm 3 um die Längsachse ζ der Elektronenstrahlröhre 1 gedreht. Die gleiche Wirkung läßt sich
durch ein einziges Spulenpaar mit wendelartiger Wicklungsführung erzielen.
Die Vermeidung ablenkungsbedingter Fokussierungsfehler
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y VPA 78 P 7 O 1 8 BRD
gemäß der Erfindung benäht auf einer Vermeidung der
Präzessionsbewegung des Mittelstrahls bei der Ablenkung. Die Fokussierspule 41 erzeugt ein rotationssymmetrisches
magnetisches Feld, das die Ebene der Aperturöffnung auf den Empfangsschirm abbildet, vergl. Fig. 4.
Der in Fig. 5 gezeigte optimale Strahlverlauf besteht aus einem kurzen gekrümmten Teilstück direkt hinter der Aperturöffnung
und einem anschließenden längerem geraden Teilstück. Die Defokussierung bei der Ablenkung rührt
allein von dem gekrümmten Teilstück her. An das gerade Teilstück schließt sich schirmseitig ein durch Einfluß
einer Landekorrekturlinse entstehendes zweites gekrümmtes Teilstück an, das hier nicht gezeigt ist.
Fig. 4 zeigt qualitativ den Verlauf des abgelenkten Elektronenstrahls in Projektion auf die Ebenen xz, yz
und xy bei einem bekannten Vidikon. Besonders deutlich ist die Präzessionsamplitude in der xy-Projektion zu erkennen.
Zum Vergleich zeigt Fig. 5 einen gewünschten Strahlverlauf ohne Präzession. Im Prinzip läßt sich leicht.
ein Feldverlauf angeben, der den Strahl gemäß Fig. 5 ablenkt. Wenn man stufenförmige Felder Bx, By zuläßt, genügt
bei homogenem Feld Bz in z-Richtung im vorderen Abschnitt ein Feld By, das den Strahl in die x-Richtung
krümmt und darauf folgend ein stufenförmiges Feld Bx, das zusammen mit dem Feld Bz ein homogenes Feld in Strahlrichtung
erzeugt, vergl. Fig. 6.
Der durch die Präzessionsbewegung verursachte Fokussierungsfehler läßt sich bei homogenem Fokusfeld und homogenem
Ablenkfeld exakt berechnen. Es gilt
Ar = 21 62<x (1).
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2 θ 1 1265
78 P 7 O 1 S BRD
Dabei sind: Ar der Radius des Bildes eines Punktes
21 der Abstand zwischen Aperturblende und
Schirm
6 der Ablenkwinkel cc der halbe Strahlöffnungswinkel.
Von gleicher Größenordnung ist der durch die Präzession bedingte Fehler in Feldern, die nicht homogen sind. Beim
erfindungsgemäßen Strahlverlauf ohne Präzession läßt sich der erreichbare Fokussierungsfehler anhand von Fig. 9 ermitteln.
In der Figur ist ein ideal auf einen Punkt P hin konvergierendes Strahlenbündel gezeigt. Es wird ermittelt,
wie sich die Strahlenvereinigung darstellt, wenn von der Ebene ζ = 0 an ein homogenes Ablenkfeld By
vorhanden ist, das den Strahl in die x-Richtung krümmt. Da alle Elektronen im Strahl die gleiche Geschwindigkeit
haben, durchlaufen die einzelnen Strahlen von der Ebene ζ = 0 an Kreisbahnen vom Krümmungsradius R mit
1 m ν
—· = ι
R q By
Dabei bedeutet m die Elektronenmasse, £ die Elektronenladung.
Die analytischen Ausdrücke für die Bahnen sind in erster Näherung für den oberen Rand des Bündels:
(3) 2R cosoc
für die Mittelachse des Bündels:
z2
χ = -2 (4)
2R
für den unteren Rand des Bündels:
für den unteren Rand des Bündels:
χ = - xO + ζ tan oc + — —~— (5) .
2R cos α
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I VPA 78 Ρ70 1 8 BRD
2 χΟ ist der Bündeldurchmesser in der Ebene ζ = O.
Ohne Magnetfeld würden sich die Strahlen bei ζ = z1 mit
z1 = 22 (6)
tan cc
schneiden.
Mit Magnetfeld liegt der Schnittpunkt der beiden Randstrahlen
(3) und (5) zeitlich verschoben bei ζ = z1, χ = x1 mit
z1 aus (6) und
x1 = (7).
2R cosoc
Die Ablenkung des Mittelstrahls bei ζ = z1 beträgt z1 /2R, so daß eine Abweichung zwischen Mittelstrahl
und Randstrahlen von
4x = — (—- 1) (8)
2R cos oc
vorhanden ist. Unter Einführung der Richtungsänderung durch
6 = ( äs ) = zl (9)
dz R
wird (9) zu
χ 2
Δ χ = z1 J2£L- do).
Mit4x = 2Ar, z1 =11 erhält man
Δτ = 1 Sol 2 11 (11).
8
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in
' £ vpA 78P70 18BRO
In Fig. 9 ist ein Strahl gezeigt, der zunächst fokussiert und dann abgelenkt wird. Aus der Beschreibung der Erfindung
geht hervor, daß der Strahl zunächst abgelenkt und anschließend fokussiert wird. Die Fokussierungsfehler
sind in beiden Fällen die gleichen, da sich die Eikonalunterschiede aus den beiden Anteilen addieren. Die Reihenfolge
der Vorgänge ist demnach gleichgültig.
Wie bereits weiter oben nachgewiesen beträgt der charakteristische Durchmesser der Abbildung eines Punktes
l1 (11),
wobei 11 die Länge des gekrümmten Stückes ist. Der Winkel
ö bezeichnet die Richtungsänderung des Strahls. Eine Division von (11) durch (1) läßt eine erfindungsgemäße
Herabsetzung des Fokussierungsfehlers um einen Faktor
2 #ü (12)
erkennen. Typische Werte sind Oc= 1°, ο = 5°, 11/KO.5,
so daß
F < 0.006
wird.
Für eine Berechnung des Verlaufs der Ablenkfelder können folgende vereinfachende Annahmen gemacht werden:
1".) Der Verlauf des Fokusfeldes außerhalb der Achse wird
allein aus dem Verlauf der ersten Ableitung des Feldes auf der Achse hergeleitet.
35
2.) Die Ablenkfelder werden als über den Querschnitt
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2Θ11265
. /f3.
/ι vpa 78 P 7 O J 8 BRD
konstant angenommen und hängen damit allein von ζ ab.
Aus dem Fokusfeld auf der Achse
Bz = B (z)
(13)
erhält man mit Annahme 1.) die zugehörige Radialkomponente
10 Br = - - Bf (z) 2
r ist der Abstand von der Achse.
(14).
Br und Bz hängen durch die Bedingung der Quellenfreiheit zusammen. Glieder mit r B'' (z) und höhere Glieder sind
in (14) vernachlässigt. Für eine erste Abschätzung der
Größe der erforderlichen Ablenkfelder werden zweckmäßig stufenförmige Querfelder Bx, By und ein homogenes Längsfeld Bz zugrunde gelegt.
20
Größe der erforderlichen Ablenkfelder werden zweckmäßig stufenförmige Querfelder Bx, By und ein homogenes Längsfeld Bz zugrunde gelegt.
20
Im vorderen Abschnitt der Bahn in Fig. 5 kann näherungsweise eine Kreisbahn im Feld By angenommen werden. Aus
deren Radius (s. (2)) erhält man das Feld By zu
deren Radius (s. (2)) erhält man das Feld By zu
(15).
Im Stufenmodell reicht dieses Feld von ζ = 0 bis ζ = 11.
Die Richtungsänderung ist mit der Neigung der Bahn bei
z=l1 identisch. Das homogene Feld Bz muß von ζ = 11 an um den Winkel ο gedreht werden, damit es von der Bahn zentral durchsetzt wird. Dazu bedarf es eines bei ζ = 11 beginnenden Querfeldes in x-Richtung.
z=l1 identisch. Das homogene Feld Bz muß von ζ = 11 an um den Winkel ο gedreht werden, damit es von der Bahn zentral durchsetzt wird. Dazu bedarf es eines bei ζ = 11 beginnenden Querfeldes in x-Richtung.
Bx = S B (z)
(16)..
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-Ak-
yi VPA 78 P 7 O 1 8 BRD
Bei kontinuierlich variablem Querfeld By ist (15) zu ersetzen durch
S = -S Γ1Λ By dz (17).
mv oJ
Außer der Drehung des Hauptfeldes nach (16) ist eine seitliche Verschiebung erforderlich, um die Lage der
Achse des gedrehten Feldes zu fixieren. Gemäß (14) läßt sich das Fokusfeld durch ein Querfeld
Bx = 22 B'(z) (18)
um eine Strecke xO in x-Richtung verschieben. Die gedrehte Achse in Fig. 5 genügt der Gleichung
χ = ά . (ζ - zO) (19),
wobei ζ = zO der Drehmittelpunkt ist. Das aus Drehung
und Verschiebung bestehende Querfeld in x-Richtung ist nach (16) und (18) unter Einbeziehung von (19)
Bx = S . (B (z) + £=22 Bi (z)) (20).
Diese Gleichung wurde bei einer Rechnersimulation der Bahn benutzt.
Im Ergebnis erweist sich die in Fig. 7 gezeigte Lösung als nahezu ideal. Die zugehörigen Magnetfelder zeigt
Fig. 8. Man beachte die unterschiedlichen Maßstäbe der Skale der linken Seite für Bx, By und der rechten Seite
für Bz.
Die Verwendung eines unsymmetrischen Feldes Bz, das nach links abklingt und nach rechts konstant ist, erweist sich
als eine gravierende Bedingung für die Kompensation.
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15 VPA 78 P7 0T8BRD
Läßt man Bz auch nach rechts hin abklingen, so führt das schnell zu Lösungen mit sehr steilen rechtsseitigen
Flanken von Bx, wobei unter Umständen auch negative Werte auftreten. Solche Feldverläufe lassen sich nicht realisieren.
Das in Fig. 8 gezeigte unsinnmetrische Feld Bz ist realisierbar und bedingt einen linearen Verkleinerungsfaktor M= 0.645 der magnetischen Hauptlinse.
Gemäß Fig. 7 trifft der Strahl schräg auf den Schirm auf. Wegen des'Fehlens einer Azimutalkomponente beim Auftreffen
ist eine Korrektur der radialen Auftreffrichtung durch eine Landekorrekturlinse nach Lubshinsky, vergl.
britische Patentschrift 468.965, vorteilhaft.
Die vorliegende Erfindung ist nicht auf eine Anwendung in zur Bildaufnahme- bzw. Bildwiedergabe bestimmten
Elektronenstrahlröhren beschränkt. In einem anderen, nicht gezeigten Ausftihrungsbeispiel ist das erfindungsgemäße
magnetische Fokussierungs-/Ablenksystem in einem Elektronenstrahl-Rastermikroskop vorgesehen. Der durch
die Erfindung ermöglichte kompakte Aufbau erlaubt es, einen relativ kleinen Vakuumbehälter mit entsprechend
kleiner Hautoberfläche zu verwenden, wodurch eine vorteilhaftere Entgasungsprozedur gegeben ist.
5 Patentansprüche
9 Figuren
9 Figuren
909840/0022
Claims (5)
- 261126578 P 7 O 1 8 BROPatentansprüche.Magnetisches Fokussierungs-/Ablenksystem für Elektronenstrahlröhren, insbesondere Bildaufnahmeröhren, mit elektrisch voneinander unabhängigen Fokussier- und Ablenkspulen, dadurch gekennzeichnet, daß ein zur Strahlablenkung vorgesehenes Ablenkspulensystem derart unterteilt ist, daß ein die Richtungsänderung des aus der Strahlquelle (2) austretenden Strahles (7) bewirkender strahlquellenseitig angeordneter erster Satz von Ablenkspulen (51/52) und ein das Fokussierungsfeld an die geradlinig verlängerte Strahlrichtung des aus dem Feld des ersten Satzes von Ablenkspulen (51/52) austretenden Strahles (7) anpassendes schirmseitig angeordneter zweiter Satz von Ablenkspulen (61/62) vorgesehen sind, und daß eine an sich bekannte Fokussierspule (41) vorgesehen ist, die vollständig oder zum größten Teil den zweiten Satz von Ablenkspulen (61/62) räumlich überlagernd angeordnet ist.
- 2. Magnetisches Fokussierungs-ZAblenksystem nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der erste Satz von Ablenkspulen (51/52) und der zweite Satz von Ablenkspulen (61/62) derart auf dem Kolben der Elektronenstrahlröhre (1) angeordnet sind, daß ihre Feldebenen gegeneinander verdreht liegen, so daß sich die Richtung des Ablenkfeldes für die durchlaufenden Elektronen auf dem Wege von der Aperturöffnung zum Schirm (3) um die Längsachse (z) der Elektronenstrahlröhre (1) dreht.
- 3. Magnetisches Fokussierungs-/Ablenksystem nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Feldebenen des ersten Satzes von Ablenkspulen (51/52) und des zweiten Satzes von Ablenkspulen (61/62) um angenähert 90° gegeneinander verdreht liegen.909840/00222 VPA 78 P 7 O 1 8 BRD
- 4. Magnetisches Fokussierungs-/Ablenksystem nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet , daß der erste Satz von Ablenkspulen (51/52) und der zweite Satz von Ablenkspulen (61/62) zu einem einzigen über die gesamte Einwirklänge verteilten Spulenpaar mit die erforderliche Felddrehung bewirkender wendelartiger Wicklungsführung vereinigt sind.
- 5. Magnetisches Fokussierungs-/Ablenksystem nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet , daß zur Korrektur des Auftreffwinkels zwischen dem Strahl (7) und dem Schirm (1) eine schirmseitig angeordnete, an sich bekannte magnetische Landekorrekturlinse vorgesehen ist.9098 4 0/0022
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19782811265 DE2811265A1 (de) | 1978-03-15 | 1978-03-15 | Magnetisches fokussierungs-/ablenksystem fuer elektronenstrahlroehren, insbesondere bildaufnahmeroehren |
US06/015,462 US4251790A (en) | 1978-03-15 | 1979-02-26 | Magnetic focusing and deflection system for electron beam tubes |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19782811265 DE2811265A1 (de) | 1978-03-15 | 1978-03-15 | Magnetisches fokussierungs-/ablenksystem fuer elektronenstrahlroehren, insbesondere bildaufnahmeroehren |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2811265A1 true DE2811265A1 (de) | 1979-10-04 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19782811265 Withdrawn DE2811265A1 (de) | 1978-03-15 | 1978-03-15 | Magnetisches fokussierungs-/ablenksystem fuer elektronenstrahlroehren, insbesondere bildaufnahmeroehren |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4251790A (de) |
DE (1) | DE2811265A1 (de) |
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- 1978-03-15 DE DE19782811265 patent/DE2811265A1/de not_active Withdrawn
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1979
- 1979-02-26 US US06/015,462 patent/US4251790A/en not_active Expired - Lifetime
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