DE2734987C3 - Flip-Flop-Leseverstärker für integrierte Speichereinrichtungen - Google Patents
Flip-Flop-Leseverstärker für integrierte SpeichereinrichtungenInfo
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- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4091—Sense or sense/refresh amplifiers, or associated sense circuitry, e.g. for coupled bit-line precharging, equalising or isolating
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- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/353—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
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Description
Die Erfindung betrifft integrierte Schaltungen mit MOS-Strukturen (Metall-Oxid-Halbleiter-Strukturen),
insbesondere einen für integrierte Speichereinrichtungen bestimmten Flip-Flop-Leseverstärker, der in
Arbeitsspeichern mit wahlfreiem Zugriff, in Festwert- und unprogrammierbaren Speichern sowie in den auf
der Basis von ladungsgekoppelten Elementen (CCD) aufgebauten Speichereinrichtungen benutzt werden
kann.
Es ist ein für integrierte Speichereinrichtungen bestimmter Flip-Flop-Leseverstärker bekannt, bei dem
die Source zweier Verstärkertransistoren an den ersten Steuersignalanschluß angeschlossen sind und jede Drain
dieser Transistoren einzeln an einem von zwei Informationsausgangsanschlüssen liegt, wobei mit jedem
dieser Anschlüsse auch die Source eines von zwei Belastungstransistoren verbunden ist, während die
Drains der letzteren mit dem zweiten Steuersignalanschluß Verbindung haben und der dritte Steuersignalanschluß
mit den Gates der Belastungstransistoren elektrisch verbunden ist (»Electronics«, 1973, Nr. 19,
S. 116-121).
In dem bekannten Leseverstärker wird der stabile Zustand während einer Zeit aufrechterhalten, die zur
Beendigung der Informationsauslese aus der ganzen Speichereinrichtung erforderlich ist.
Hierbei wird die Energie der Speisequelle von einem Verstärkertransistor und einem Belastungstransistor
kontinuierlich verbraucht
Da die Energie, die vom Leseverstärker verbraucht wird, den größeren Teil der Energieaufnahme der
ganzen Speichereinrichtung beträgt, geht ein bedeutender Teil dieser Energie beim Lesevorgang nutzlos
verloren.
Der Potentialunterschied zwischen den Informationsausgangsanschlüssen
kann im stabilen Zustand des Leseverstärkers nicht seinen Maximalwert annehmen,
da an einem Informationsausgangsanschluß infolge der Wirkung eines vom leitenden Belastungstransistor und
ebenfalls offenen Verstärkertransistor gebildeten Spannungsteilers das Nullpotential nicht erreicht wird,
während der Nullwert der Potentialdifferenz zwischen dem anderen Informationsausgangsanschluß und den
Drains der Belastungstransistoren infolge der Schwellwertverluste
nicht erreicht werden kann, die sich in diesen Transistoren beim stabilen Zustand des Leseverstärkers
ergeben.
Dies hat eine wesentliche Begrenzung der Größe des logischen Zustandswechsels (der Differenz zwischen
's den Werten der logischen »Eins« und »Null«) beim
Einschreiben der Information in die Speicherelemente der Speichereinrichtung zur Folge.
Beim Einschwingen des Leseverstärkers in den stabilen Zustand steigt das Sourcepotential eines der
Belastungstransistoren an. An seinem Gate liegt das Potential unter dem Spannungswert der Speisequelle,
da die Gates der Belastungstransistoren mit dem Steuersignalanschluß unmittelbar verbunden sind. Die
Folge davon ist eine Verringerung der Potentialdifferenz zwischen dem Gate und der Source des
Belastungstransistors, wobei der Übergang in den stabilen Zustand langsamer verläuft und die Arbeitsgeschwindigkeit des Leseverstärkers schlechter wird.
Die Erfindung bezweckt die Entwicklung eines Leseverstärkers, der einen effektiven Betrieb in Speichereinrichtungen mit großem und sehr großem Informationsumfang ermöglicht.
Die Erfindung bezweckt die Entwicklung eines Leseverstärkers, der einen effektiven Betrieb in Speichereinrichtungen mit großem und sehr großem Informationsumfang ermöglicht.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Leseverstärker für integrierte Speichereinrichtungen zu
entwickeln, der ein zusätzliches Mittel zur Steuerung der Belastungstransistoren zwecks forcierter Durchschaltung
eines dieser Transistoren und der Sperrung des anderen Belastungstransistors bei Einstellung des
stabilen Zustands im Leseverstärker enthält, wobei ein
■»ο geringer Verbrauch der Energie der Speisequelle beim
stabilen Zustand, eine größere Potentialdifferenz zwischen den Informationsausgangsanschlüssen und
eine bessere Arbeitsgeschwindigkeit des Leseverstärkers erreicht werden sollen.
Diese Aufgabe wird bei einem Flip-Flop-Leseverstärker für integrierte Speichereinrichtungen, in dem die
Sources zweier Verstärkertransistoren an den ersten Steuersignalanschluß angeschlossen sind und jede Drain
dieser Transistoren einzeln an einen der zwei Informationsausgangsanschlüsse
geführt ist, wobei mit jedem dieser Anschlüsse auch die Source eines der zwei Belastungstransistoren separat verbunden ist, während
die Drains der letzteren mit dem zweiten Steuersignalanschluß und der dritte Steuersignalanschluß mit den
Gates der Belastungstransistoren elektrisch verbunden sind, erfindungsgemäß gelöst durch die Einfügung je
eines Kondensators in die jeweilige elektrische Verbindung des dritten Steuersignalanschlusses mit dem Gate
des entsprechenden Belastungstransistors, sowie durch zwei Schalttransistoren, deren Drains je einzeln an das
Gate eines entsprechenden Belastungstransistors angeschlossen sind, wobei am ersten Informationsausgangsanschluß
die Source des ersten und das Gate des zweiten Schalttransistors liegen, während mit dem
zweiten Informationsausgangsanschluß die Source des zweiten und das Gate des ersten Schalttransistors
verbunden sind.
Die Erfindung wird in der nachstehenden Beschrei-
Die Erfindung wird in der nachstehenden Beschrei-
bung eines konkreten Ausführungsbeispiels und an Hand der Zeichnung näher erläutert, in der ein
Funktionsschaltbild des erfindungsgemäß aufgebauten Leseverstärkers für integrierte Speichereinrichtungen
dargestellt ist
Der für integrierte Speichereinrichtungen bestimmte Leseverstärker enthält zwei VerstärkfcFtransistoren 1
und 2, deren Sources an den Steuersignalanschluß 3 angeschlossen sind. Jede Drain dieser Transistoren 1
und 2 liegt einzeln an einem der zwei Informaiionsausgangsanschlüsse
4 bzw. 5.
Der Leseverstärker weist zwei Belastungstransistoren 6 und 7 auf, deren Drains mit dem Steuersignalanschluß
8 verbunden sind und deren Source einzeln an einen der zwei Informationsausgangsanschlüsse 4 bzw. 5
angeschlossen ist
Jeder Kondensator 9 bzw. 10 liegt zwischen dem Gate eines der Transistoren 6 bzw. 7 und dem Steuersignalanschluß
11.
Der Leseverstärker enthält weiter zwei Schalttransistoren 12 und 13, wobei die Drain jedes dieser
Transistoren einzeln an das Gate des entsprechenden Belastungstransistors 6 bzw. 7 angeschlossen ist
Am Informationsausgangsanschluß 4 liegen die Source des Transistors 12 und das Gate des Transistors
13. Mit dem Informationsausgangsanschluß 5 sind die Source des Transistors 13 und das Gate des Transistors
12 verbunden.
Der für integrierte Speichereinrichtungen vorgesehene Leseverstärker funktioniert wie folgt.
Im Ausgangszustand liegt der Steuersignalanschluß 8 an der in der Zeichnung nicht gezeigten Speisequelle.
An die Informationsausgangsanschlüsse 4 und 5 und an den Steuersignalanschluß 3 ist eine Referenzspannung
angelegt, und der Steuersignalanschluß 11 weist ein niedriges Potential auf.
Die aus einer Speicherzelle der Speichereinrichtung ausgelesene informative Potentialdifferenz ruft eine
Änderung des Potentialunterschieds zwischen den Anschlüssen 4 und 5 hervor.
Nach dem Auslesen wird dem Steuersignalanschluß 3 eine negative Potentialdifferenz und dem Anschluß 11
eine positive Potentialdifferenz zugeführt. Hierbei erreicht die Spannung an den Gates der Belastungstransistoren 6 und 7 gegenüber der Speisespannung
einen höheren Wert, wodurch der Betrieb der Belastungstransistoren 6 und 7 im steilen Kennliniengebiet
gewährleistet wird.
Dadurch beginnt der Übergang des Leseverstärkers in einen stabilen Zustand, der vom Vorzeichen der
informativen Potentialdifferenz bestimmt wird. Sobald der sich zwischen den Anschlüssen 4 und 5 ergebende
Potentialdifferenzwert größer als die Schwellwertspannung der Schalttransistoren 12 und 13 wird, zieht einer
von diesen Strom, und zwar der Transistor, dessen Gate mit dem unter höherem Potential liegenden Anschluß 4
oder 5 verbunden ist Wird als erster der Transistor 12 leitend, so entlädt sich der Kondensator 9 über diesen
Schalttransistor 12 auf den Anschluß 4, der unter einem niedrigeren Potential liegt wobei der Belastungstransi-
stör 6 zu diesem Zeitpunkt gesperrt wird. Nachdem der
Leseverstärker in einen stabilen Zustand übergegangen ist, öffnet der Belastungstransistor 7 und wird in den
steilen Kennlinienbereich gesteuert wobei er das Potential des entsprechenden Anschlusses 5 auf einem
hohen Niveau hält Dabei sind die Transistoren 1 und 12 ebenfalls offen und halten das Potential am entsprechenden
Versrärkeranschluß 4 und am Gate des Belastungstransistors 6 auf einem niedrigen Niveau. Die
Transistoren 6, 2 und 13 sind hierbei gesperrt, da ihre Gate-Source-Spannungen kleiner als die Schwellwertspannung
sind. Die Schaltung weist also keinen Stromkreis auf, der Energie von der Speisequelle
verbraucht, und das Ausgangssignal an den Anschlüssen 4 und 5 entspricht größenmäßig der Speisespannung.
Diese Eigenschaft der vorgeschlagenen Schaltung, keine Energie während des stabilen Zustands aufzunehmen,
ist für den Aufbau von integrierten dynamischen Speichereinrichtungen mit großer und sehr großer
Speicherkapazität sehr wichtig. Die Anwendung dieses Leseverstärkers ergibt eine 2- bis 3fache Herabsetzung
der Leistungsaufnahme von Speichereinrichtungen. Die Durchschaltung der Belastungstransistoren 6 und 7
erfolgt in dieser Schaltung mit einer höheren Spannung, wobei eine höhere Arbeitsgeschwindigkeit der Schaltung
bei denselben Abmessungen dieser Transistoren 6 und 7 erreicht wird. Für viele Anwendungsfälle ist auch
die Vergrößerung des Ausgangsdifferenzsignals von großer Bedeutung. Bei einer Speisespannung von 12 V
beträgt z. B. das Ausgangssignal des bekannten Verstärkers 7 V und beim vorgeschlagenen Verstärker
ebenfalls 12 V.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
- Patentanspruch:Flip-Flop-Leseverstärker für integrierte Speichereinrichtungen, in dem die Sources zweier Verstärkertransistoren an den ersten Steuersignalanschluß angeschlossen sind und jede Drain dieser Transistoren einzeln an einen der zwei Informationsausgangsanschlüsse geführt ist, wobei mit jedem dieser Anschlüsse auch die Source eines der zwei Belastungstransistoren separat verbunden ist, während die Drains der letzteren mit dem zweiten Steuersignalanschluß und der dritte Steuersignalanschluß mit den Gates der Belastungstransistoren elektrisch verbunden sind, gekennzeichnet durch die Einfügung je eines Kondensators (9,10) in die jeweilige elektrische Verbindung des dritten Steuersignalanschlusses (11) mit dem Gate des entsprechenden Belastungstransistors (6 bzw. 7), sowie durch zwei Schalttransistoren (12 und 13), deren Drains je einzeln an das Gate eines entsprechenden Belastungstransistors (6 bzw. 7) angeschlossen sind, wobei am ersten Informationsausgangsanschluß (4) die Source des ersten (12) und das Gate des zweiten (13) Schalttransistors liegen, während mit dem zweiten Informationsausgangsanschluß (5) die Source des zweiten (13) und das Gate des ersten (12) Schalttransistors verbunden sind.
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