DE2706792A1 - Einrichtung zum abtasten eines ziels mit einem strahl von geladenen teilchen - Google Patents
Einrichtung zum abtasten eines ziels mit einem strahl von geladenen teilchenInfo
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Description
C.G.R. MeV 17. Februar 1977
Route de Guyancourt
78530 BUC / Frankreich
Unser Zeichen; C 3123
Einrichtung zum Abtasten eines Ziels mit einem Strahl von geladenen Teilchen
Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zum Abtasten eines Ziels mit einem Strahl von geladenen Teilchen,
die gestattet, in vorbestimmter Weise die Bestrahlungsdosis
zu beeinflussen, die von dem Ziel empfangen wird, das eine bestimmte Position und bestimmte
Abmessungen hat.
Man erhält einen Abtaststrahl, indem ein Strahl von geladenen Teilchen der Wirkung eines elektrischen
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Feldes oder eines magnetischen Feldes mit in Abhängigkeit von der Zeit veränderlicher Amplitude
ausgesetzt wird, wobei diese Änderungen im allgemeinen periodisch sind (zum Beispiel ein sinusförmiges
Wechselfeld oder ein Feld mit sägezahnförmigen Änderungen). Wenn der Teilchenstrahl einem Magnetfeld
ausgesetzt ist, das von einem zweipoligen Elektromagneten erzeugt wird, erfolgt die Abtastung
auf einer Geraden. Wenn dagegen der Elektromagnet ein Quadrupol ist, kann der Strahl eine Fläche abtasten.
Es sei angemerkt, daß die von dem Teilchenstrahl am Eingang des Quadrupole in bezug auf dessen Achse
eingenommene Position die Verteilung des Wertes der von dem Ziel empfangenen Bestrahlungsdosis festlegt.
Eine Dezentrierung des Strahls an dem Eingang des Ablenkquadrupols bewirkt nämlich eine Modulation der
Dosisdichte von einem Rand des Ziels zu dem anderen, wenn dieses Ziel senkrecht zu der Achse des Quadrupole
und in bezug auf denselben mittig angeordnet ist.
Es ist somit möglich, in vorbestimmter Weise die durch ein Ziel empfangene Bestrahlungsdosis zu
modulieren, indem der Strahl an dem Eingang des Ablenkquadrupols dezentriert wird.
Gemäß der Erfindung ist eine Einrichtung zum Abtasten eines Ziels mit einem Strahl von geladenen
Teilchen, der eine mittlere Bahn mit einer Achse
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ZZ an dem Eingang der Einrichtung hat, die ein
mehrpoliges magnetisches Hauptablenksystem mit der Achse ZZ aufweist, dessen Polschuhe Wicklungen
zugeordnet sind, dadurch gekennzeichnet, daß ein sekundäres mehrpoliges Magnetsystem mit der
Achse ZZ dem Hauptablenksystem vorgeschaltet ist und den Strahl vor seinem Eintritt in das Hauptablenksystem
abzulenken gestattet, und daß Schaltungen vorgesehen sind, mittels welchen an jede
der Wicklungen, die den Polschuhen des mehrpoligen Hauptablenksystems und des mehrpoligen sekundären
Ablenksystems zugeordnet sind, elektrische Signale mit vorbestimmten Kenndaten anlegbar sind.
Mehrere Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in den Zeichnungen dargestellt und werden im folgenden
näher beschrieben. Es zeigen:
die Fig. 1 und 2 die Abtastdarstellung eines
zentrierten Strahls und eines in bezug auf die Achse ZZ eines herkömmlichen Ablenksystems dezentrierten
Strahls sowie die Änderung der Bestrahlungsdosis, die mit dem einen und mit dem anderen dieser Strahlen auf einem
Ziel erhalten wird, welches senkrecht zu der Achse des Ablenksystems angeordnet ist,
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Fig. 3 im Schnitt ein Ausführungs-
beispiel einer Abtasteinrichtung nach der Erfindung,
Fig. 4 schematisch Schaltungen zur
Versorgung des Hauptquadrupols und des sekundären Quadrupols
der Abtasteinrichtung nach der Erfindung,
Fig. 5 ein Beispiel von zwei elektri
schen Signalen, die gleichzeitig angelegt werden können, und zwar das eine an die Wicklungen
des Hauptquadrupols und das andere an die Wicklungen des sekundären Quadrupole,
Fig. 6 zeigt die Änderung der Bestrah
lungsdosis, die auf dem Ziel erhalten wird, wenn elektrische Signale der in Fig. 5
dargestellten Art benutzt werden,
die Fig. 7 und 9 zwei weitere Paare von Signalen,
die an den Hauptquadrupol und
den sekundären Quadrupol angelegt werden können, und die
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Fig. 8 und 10 die Bestrahlungsdosismodulationen, die mit den in Fig. 7
und 9 gezeigten Signalen erhalten werden.
Fig. 1 zeigt eine Quelle S geladener Teilchen, die einen Teilchenstrahl F emittiert, der der Wirkung
eines veränderlichen Magnetfeldes ausgesetzt ist, welches zwischen des Polschuhen A und B eines Elektromagneten
erzeugt wird. Diese Polschuhe sind Wicklungen a bzw. b zugeordnet, welche mit einer Spannungsquelle
V verbunden sind, die ein Signal mit vorbestimmter Form liefert.
Wenn der Strahl F in der Achse ZZ der Abtasteinrichtung zentriert ist, kann er ein Ziel K, das senkrecht
zu der Achse ZZ angeordnet ist, auf einer Geraden XX abtasten, wobei die Verteilung der Bestrahlungsdosisdichte im wesentlichen konstant ist. Wenn an dem Eingang
des Abtastsystems der Strahl F in bezug auf die Achse ZZ dezentriert ist, wird die Verteilung der
Dichte auf der Geraden XX moduliert, wobei diese Modulation von der Abweichung des Strahls F von der
Zentrierungslage abhängig ist.
Der Abtaststrahl, der mit einem Strahl F erhalten wird, welcher in der Achse ZZ zentriert ist, ist in Fig. 1
mit ausgezogenen Linien dargestellt, während der Abtaststrahl, der mit einem dezentrierten Strahl erhalten
wird, mit gestrichelten Linien dargestellt ist
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* 40
(Strahlen u bzw. v).
Fig. 2 zeigt die Dichteverteilung d und d , die auf dem Ziel K für jeden der Strahlen u und ν
erhalten wird.
Wenn der Strahl F eine Dezentrierung aufweist, die zu der oben angegebenen symmetrisch ist, wird sich
eine Dichteverteilung d ergeben, die zu der Dichte-
Vr
verteilung d symmetrisch ist.
Die Abtasteinrichtung nach der Erfindung, die in Fig. 3 im Schnitt gezeigt ist, gestattet, eine vorbestimmte
Modulation der durch das Ziel K empfangenen Bestrahlungsdichte vorzunehmen, indem eine im
Wert veränderliche Dezentrierung des Bestrahlungsstrahls verursacht wird, bevor er den eigentlichen
Ablenksignalen ausgesetzt wird. In diesem Ausführungsbeispiel enthält die Abtasteinrichtung nach der Erfindung
ein Hauptablenksystem Q, mit vier Polschuhen A1, B., C1 und D1, die mit Wicklungen a. bzw. b..
bzw. C, bzw. d. versehen sind, welche paarweise (a,,
b- und C,, d1 ) mittels einer Spannungsquelle V gespeist
werden. Diesem Hauptquadrupol Q. ist ein sekundäres Magnetsystem Q« mit vier Polschuhen A_, B2, C2,
D. zugeordnet, welche mit Wicklungen a« bzw. b» bzw.
c« bzw. d2 versehen sind (wobei in Fig. 3 lediglich
die Polschuhe A1, B. und A., B2 mit ihren Wicklungen
a., b. bzw. a., b. sichtbar sind).Ein Beispiel des
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Versorgungssystems dieser Wicklungen a., b1; c. ,
d. und a_, b_; c_, d~ ist schematisch in Fig. 4
dargestellt. Dieses Versorgungssystem enthält eine SteuerSpannungsquelle V , welcher zugeordnet sind:
- ein Generator G1 für den Kanal X1 des Haupt-
Xl
quadrupole Q1, wobei der Kanal X, den Polschuhen
A- und B- entspricht, die auf der Achse X1X1 des
Quadrupole Q1 angeordnet sind,
- ein Generator G-, der den Polschuhen C.und D1
zugeordnet ist (für den Kanal Y1, der auf der Achse
Y-Y1 des Hauptquadrupols Q angeordnet ist),
- zwei Verstärker*A^1 und Αγ.,
- ein Generator G „, der dem Polschuhpaar A-, B_
zugeordnet ist, welches dem Kanal X_ entspricht, der auf der Achse X~X~ des sekundären Quadrupole
Q_ angeordnet ist,
- ein Generator GY?, der dem Polschuhpaar C„, D
zugeordnet ist, das dem Kanal Y2 entspricht, der
auf der Achse Y9Y7 des sekundären Quadrupole Q~
angeordnet ist, und
- zwei Verstärker A^ und
Im Betrieb erzeugen die beiden Generatoren G^1 und
Gy- zwei Signale Sx-. und SY- (beispielsweise Sägezahnsignale),
deren Amplituden proportional zu der Steuerspannung V sind. Die Schwingungsperioden
der Kanäle X. und Y. können unterschiedlich sein und in einem bestimmten Verhältnis stehen. Die Sig-
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nale S„.. und Syl werden an die Wicklungen a.., b^
bzw. C,, d. angelegt, nachdem sie durch die Verstärker
/l.. und Ay1 verstärkt worden sind. Gleichzeitig
erzeugen die Generatoren Gx„ und Gv- zwei
Signale Svo und Sv0 (beispielsweise Rechtecksignale),
die nach Verstärkung in den Verstärkern A^_ und Ay7 an die Wicklungen a_, b_ bzw. c-, rides sekundären Quadrupole O_ angelegt werden.
Fig. 5 zeigt als nicht als Einschränkung zu verstehendes Beispiel Signale Sxl und Sx-, die an
die Wicklungspaare a^ b., bzw. a^, ^2 angelsgfc
werden können. Den Signalen Sx- und Sx2 ähnliche
Signale Svl bzw. Sv_ werden an die anderen Wicklungspaare
c,, d.. bzw. c- , d. angelegt. In Fig.
6 ist die Verteilung der von einem Ziel K empfangenen Bestrahlungsdichte dargestellt, wobei der
Bestrahlungsstrahl F dem Magnetfeld ausgesetzt ist, das von den Signalen SYO, Sv-, die an den
sekundären Quadrupol Q- angelegt sind, geliefert wird, und anschließend dem Ablenkmagnetfeld, das
von den Signalen Syl und Svl geliefert wird.
In einem anderen Ausführungsbeispiel können der Hauptquadrupol und der sekundäre Quadrupol in
Reihe geschaltet und durch eine einzige Versorgung sschaltung gespeist werden. Fig. 7 zeigt die
Signale Sx-. und S „, die an die Quadrupole Q- bzw.
Q2 in diesem Ausführungsbeispiel angelegt werden
können, und Fig. 8 zeigt die entsprechende Dichte-
709833/07U
•η.
modulation (mit ausgezogener Linie dargestellte Kurve). Die mit gestrichelter Linie dargestellte
Kurve von Fig. 8 zeigt die Dichtemodulation, die sich ergibt, wenn die Signale S.._ und Sv_ Null
sind.
Eine Dichtemodulation, die in der Mitte der Verteilungskurve ein Maximum aufweist, wie es Fig. 10
zeigt, kann erhalten werden, indem die Signale SY1
und Sy-, die an den Quadrupolen Q1 bzw. Q« (Fig. 9)
anliegen, um 180 phasenverschoben werden.
Eine solche Abtasteinrichtung kann vorteilhafterweise zum Kompensieren der Homogenitätsfehler bei der
Bestrahlung eines Ziels durch einen Strahl von geladenen Teilchen benutzt werden (Randfehler, die
sich beispielsweise durch Abtaststrahlen mit Elektronen geringer Energie ergeben, oder Fehler, die
von dem Kollimationssystem des Strahls herrühren).
Diese einfach aufgebaute Einrichtung ist hinsichtlich ihrer Einstellung sehr anpassungsfähig und arbeitet
sehr zuverlässig.
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Leerseite
Claims (10)
1.!Einrichtung zur Abtastung eines Ziels mit einem Strahl von geladenen Teilchen, der eine mittlere Bahn
mit einer Achse ZZ an dem Eingang der Einrichtung hat, die ein mehrpoliges magnetisches Hauptablenksystem
mit der Achse ZZ aufweist, von welchem jeder Pol einer Wicklung zugeordnet ist, dadurch gekennzeichnet,
daß ein mehrpoliges sekundäres Magnetsystem (Q2) m^
der Achse ZZ dem Hauptablenksystem (Q,) vorgeschaltet ist und das Ablenken des Strahls vor seinem Eintritt
in das Hauptablenksystem (Q1) gestattet, wobei jeder
Polschuh des sekundären Magnetsystems (Q2) einer
Wicklung zugeordnet ist, und daß Schaltungen das Anlegen von elektrischen Signalen mit vorbestimmten
Kenndaten an jede der Wicklungen gestatten, die den Polschuhen des mehrpoligen Hauptablenksystems und
des mehrpoligen sekundären Ablenksystems zugeordnet sind.
2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Hauptablenksystem (Q,) ein Hauptquadrupol ist
und daß das sekundäre Magnetsystem (Q2) ein sekundärer
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ORIGINAL INSPECTED
Quadrupol ist.
3. Einrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeich net, daß die Wicklungen (a , b-, c,, d. und a , b„,
C2, d2) der Polschuhe (A1, B1, C1, D1 und A2, B3,
C9, D) des Hauptquadrupols (Q,) und des sekundären
Quadrupols (Q~) paarweise in Reihe durch eine Versorgungsschaltung
gespeist werden.
4. Einrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Wicklungen (a,, b.., C1, d. und a„, b_,
C2, d2) der Polschuhe (A1, B1, C1, D1, und A3, B2,
C_, D) des Hauptquadrupols (Q1) und des sekundären
Quadrupols (Q„) durc
gen gespeist werden.
Quadrupols (Q„) durch getrennte Versorgungsschaltun
5.
Einrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Versorgungsschaltung des Hauptquadrupols
(Q1) zwei Spannungsgeneratoren (Gy1, Gyl) mit zwei
nachgeschalteten Verstärkern (Ay1, ^γτ) enthält, welche
die beiden Wicklungspaare (a.., b. bzw. C1, d.. )
der Polschuhe (A1, B1 bzw. C1, D1) speisen, die einander
gegenüber liegen und den beiden Kanälen X1 bzw.
Y1 entsprechen, und daß die Versorgungsschaltung des
sekundären Quadrupols (Q2) zwei weitere Generatoren (Gy2, Gy2) mit zwei nachgeschalteten Verstärkern
(Ay_, Ay2) enthält, welche die beiden Wicklungspaare
(a„, b2 bzw. C2, d2) der Polschuhe (A3, B3 bzw. C2,
D2) speisen, die einander gegenüber liegen und zwei
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Kanälen X0 bzw. Y0 entsprechen.
6. Einrichttmg nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet,
daß die beiden Versorgungsschaltungen Signale S„, und Syl in den Kanälen X. bzw. Y,
und Signale S„o und Sy? in den Kanälen X_ bzw.
Y0 liefern, wobei die Signale Svl und Sv. Säge- L
Xl Y1
zahnsignale und die Signale Sv_ und Svo Rechtecksignale
derselben Periode sind.
7. Einrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Signale Syo und S„o mit den
Signalen S.... bzw. Sy, in Phase sind.
8. Einrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß die Signale Svo und S-.o mit den
Signalen S„. bzw. Sy- in Gegenphase sind.
9. Einrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Versorgungsschaltung Sägezahnsignale
liefert, welche an den Wicklungen der Polschuhe (A1, B1, C1, D1 und A2, B2, C3, D2), die
einander gegenüber liegen und zu dem Hauptquadrupol
(Q1) bzw. zu dem sekundären Quadrupol (Q0) gehören,
anliegen und in Phase sind.
10. Einrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die Versorgungsschaltung Sägezahnsignale liefert, welche an den Wicklungen der Polschuhe
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(A1, B1; C1, D1 und A3, B2; C3 , D2), die einander
gegenüber liegen und zu dem Hauptquadrupol (Q1) bzw. zu dem sekundären Quadrupol (Q9) gehören,
anliegen und in Gegenphase sind.
709833/0744
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