DE1177850B - Verfahren und Einrichtung zum Trennen elektrisch geladener Teilchen mit Hilfe von Massenspektrometern - Google Patents
Verfahren und Einrichtung zum Trennen elektrisch geladener Teilchen mit Hilfe von MassenspektrometernInfo
- Publication number
- DE1177850B DE1177850B DEO6196A DEO0006196A DE1177850B DE 1177850 B DE1177850 B DE 1177850B DE O6196 A DEO6196 A DE O6196A DE O0006196 A DEO0006196 A DE O0006196A DE 1177850 B DE1177850 B DE 1177850B
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- particles
- fields
- modulators
- plates
- electrostatic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Description
DEUTSCHES
PATENTAMT
AUSLEGESCHRIFT
Internat. KJ.: GOIn
Deutsche Kl.: 421-3/09
Nummer: 1177 850
Aktenzeichen: O 6196 IX b / 421
Anmeldetag: 2. Juni 1958
Auslegetag: 10. September 1964
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Trennen elektrisch geladener Teilchen, insbesondere von Isotopen,
unter Verwendung elektrischer Felder, wobei die Teilchen in Wechselfeldern eine Beschleunigung
oder Verzögerung und in elektrostatischen Feldern eine Ablenkung erfahren, das dadurch gekennzeichnet
ist, daß die Einwirkung von Wechselfeldern und elektrostatischen Feldern abwechselnd mehrmals nacheinander
erfolgt.
Eine möglichst genaue Kernmassenbestimmung ist im Hinblick auf die Kernbindungsenergieberechnung
von grundlegendem kernphysikalischem Interesse. Zur Zeit geben vier voneinander unabhängige Methoden
die Möglichkeit einer Nukliden-Massenbestimmung. Es sind dies die Massenspektroskopie, die
Methode der Kernreaktionen, Beta- und Gammastrahlenspektroskopie und die Mikrowellenspektroskopie.
Bei der Trennung elektrisch geladener Teilchen mit Hilfe von Massenspektrographen sind üblicherweise
kombinierte statische und magnetische Felder notwendig. Magnetische Felder verursachen aber systematische
Fehler, deren Eliminierung vorliegende Erfindung zum Ziele hat. Eine Massenauflösung von
geladenen Teilchen in elektrischen Feldern ist nur in elektrischen Wechselfeldern möglich. Instrumente solcher
Art sind hinlänglich bekannt, haben aber den großen Nachteil, praktisch kaum einsetzbar zu sein,
weil in den üblichen Gitteranordnungen auch harmonische Vielfache das Auflösungs- und Trennvermögen 3U
solcher Geräte empfindlich beeinträchtigen.
Es sind auch bereits Verfahren zur Trennung von Ionen bekanntgeworden, bei denen diese mittels eines
Wechselfeldes gegen die Kraft eines elektrostatischen Feldes beschleunigt werden. Dabei führen Ionen mit
einem zur Frequenz des Wechselfeldes geeignetem Wert des e/m-Verhältnisses harmonische Schwingungen
in Phase mit dem Wechselfeld aus, wodurch sie von Ionen mit einem anderen e/m-Verhältnis getrennt
werden. Auch die mehrmalige Ablenkung der Ionen durch statische Felder ist bekannt.
Bei einem anderen Verfahren werden die elektrisch geladenen Teilchen von einem an Wechselspannung
liegenden Gitter angezogen, ein Teil der elektrischen Teilchen tritt durch das Gitter hindurch, wird von
einer Platte abgelenkt und wieder dem Gitter zugeführt. Dadurch wird erreicht, daß elektrisch geladene
Teilchen mit einem bestimmten Verhältnis von Ladung zu Masse den Kollektor erreichen, wenn dieses Verhältnis
in Einklang steht mit dem Wechselfeld am Gitter und dem überlagerten statischen Feld. Diese
Verfahren haben den Nachteil, daß elektrisch geladene Verfahren und Einrichtung zum Trennen
elektrisch geladener Teilchen mit Hilfe von
Massenspektrometer!!
elektrisch geladener Teilchen mit Hilfe von
Massenspektrometer!!
Anmelder:
österreichische Studiengesellschaft für
Atomenergie Ges. m. b. H., Wien
Vertreter:
Dipl.-Ing. W. Meissner, Berlin 33, Herbertstr. 22,
und Dipl.-Ing. H. Tischer, München 2,
Patentanwälte
Als Erfinder benannt:
Dr. Michael J. Higatsfeerger, Wien
Beanspruchte Priorität:
Österreich vom 6. Juni 1957 (A 3755/57)
Teilchen, die harmonische Vielfache der Frequenz oder des Verhältnisses Ladung zu Masse bzw. der
kinetischen Energie der elektrischen Teilchen aufweisen, ebenfalls den Kollektor erreichen.
Die vorliegende Erfindung stellt sich nunmehr die Aufgabe, eine einfache und eindeutige Anordnung zu
schaffen, die hinsichtlich der Trennreinheit die üblichen Geräte überragt, wobei jedoch die Registrierungsempfindlichkeit den anderen Apparaten zumindestens
gleichkommt. Durch die Wahl von kombiniertem elektrostatischem und elektrischem Wechselfeld und
durch die Wahl fixer Geometrie und weiter durch die Bedingung, daß nur jene Partikeln für den weiteren
Sortierungsprozeß zugelassen sind, die in den Modulatoren maximale Energie gewinnen, soll eine derartige
Anordnung geschaffen werden.
Im folgenden wird gemäß der Erfindung ein Massenspektrometer vorgeschlagen, das frei von magnetischen
Feldern ist und daher keine systematischen Fehler besitzt, die dem Magnetfeld zugeschrieben werden
müßten. Durch das mehrmalige Durchlaufen von Wechselfeld und elektrostatischem Feld wird eine Auflösung
in hohem Maße gegeben. Außerdem ergibt sich bei gleicher Empfindlichkeit eine wesentlich höhere
Trennreinheit. In F i g. 1 ist das Prinzip der Anordnung skizziert. F i g. 2 gibt die Phasenbedingungen
wieder. F i g. 3 ist ein anderes Ausführungsbeispiel.
409 660/335
Ein paralleler Ionenstrahl 1 tritt mit konstanter kinetischer Energie unter dem Einschußwinkel & in
einen Plattenkondensator ein. Der Kondensator besteht aus drei parallelen Platten, wobei die äußeren
Platten 2 positiv aufgeladen sind, während die mittlere Platte — tatsächlich bestehend aus zwei mehrere
Millimeter voneinander entfernten Platten 3 und 4 — geerdet ist (bei 5). In einem solchen System wird ein
Strahl 1 positiver Ionen in einer Parabel zur geerdeten Platte 3, 4 hin abgelenkt und trifft diese Platte an einer
Stelle, die von der kinetischen Energie der Ionen, dem Einschußwinkel und dem positiven Ablenkpotential
abhängt.
In den geerdeten Platten 3, 4 sind an den Auftreffstellen Schlitze 6 vorgesehen, durch die der Ionenstrahl
in das andere Feldsystem übertreten kann, wo er spiegelbildlich abgelenkt wird. Zwischen den beiden
geerdeten Platten 3, 4 im Raumbereich der Schlitze 6 befinden sich weitere Dreiplattensysteme (Modulatoren
A/l, A/2, A/3), deren mittlere Platten 7 an einem
geeigneten Hochfrequenzpotential liegen, während die beiden äußeren Platten 8, 9 jeweils geerdet sind. Ionen,
die durch das Hochfrequenzfeld Energie gewinnen, werden nach der zweiten Ablenkung die geerdete
Platte 3 bzw. 4 an einer anderen Stelle treffen als die Ionen, die keinen Energiegewinn aufzuweisen haben.
Die folgenden Schlitze 6 werden so angeordnet, daß nur Ionen mit maximalem Energiegewinn passieren
können. Nach F i g. 1 ergibt sich aus der Bewegungsgleichung
m χ = 0,
my = —e E,
χ = 4 α sin ■ χ cos · χ
y = α sin2 · \ —,
VA
Vn
35
(D nach dem «-ten Modulator
4 α sin · \ cos · ν
Vb (I +η β)
und
wobei Vb Beschleunigungsspannung, VA Ablenkungsspannung, beide in Volt, χ den Einschußwinkel und
α den Plattenabstand in Zentimetern bedeutet.
Wenn angenommen wird, daß eine Gruppe von Ionen in jedem Modulator den Bruchteil der Energie
β Vb zusätzlich gewinnt, dann lauten die Koordinaten
a sin- ■ \
J« = ■ v ■ V,i(\ -τ-η β).
J« = ■ v ■ V,i(\ -τ-η β).
n = 0, 1,2,
Als Flugzeit zwischen den einzelnen Modulatoren findet man
2 «sin · χ (2 m Vn)1 2 · (1 ~ η β)1 2
ei/2 yA
mit m, e, Masse und Ladung im elektrostatischen Maßsystem.
Aus F i g. 1 ersieht man auch, daß bei Beschränkung auf drei Modulatoren auf den Strecken .Y1 und x2
gleiche Flugzeiten erreicht werden, wenn man das Ablenkpotential oder die Distanz a an einer Ablenkplatte
gemäß Gleichung(3) mit dem Faktor (1 + nß)v%
korrigiert. Natürlich müssen die dadurch neu bedingten x-Koordinaten und damit die verschiedene Geometrie
der Schlitzanordnung berücksichtigt werden. Für die Strecke x3 ist nur die Geometrie des Schlitzes beim
Kollektor C wesentlich, nicht jedoch die Flugzeit.
Phasenbedingung im Modulator
In F i g. 2 ist das Dreiplattensystem dargestellt; wie man sieht, liegt die mittlere Platte 7 an Wechselspannung,
wogegen die Platten 8 und 9 jeweils geerdet sind. Der Abstand der Platte 7 von der Platte 8 beträgt
d, von der Platte 9 ist der Abstand d'.
Für dieses System gelten die Bedingungen:
£rf = £osin (\vt + Φ),
Ea· = E0 sin («7 + Φ),
daraus ergibt sich
Ea· = E0 sin («7 + Φ),
daraus ergibt sich
Fd = eE0 sin (ir/ + Φ),
Fa/ = e£osin(it7 + Φ).
Fa/ = e£osin(it7 + Φ).
Man sieht, daß der Energiegewinn Δ W zwischen den Modulatorplatten ein prinzipielles Maximum besitzt,
denn es ist
AW■ = z] "y" ) = vA (m v) = ν
at
und weiter
mit der Lösung
AW
= ν if e £„ sin ■ (m7 + Φ)άί — f e E0 sin · (u7 + Φ)άί
AW = ----- ° [cos · Φ — 2 cos · (h7 + Φ) cos · (2 «7 + Φ)].
Man sieht sofort, daß Δ W ein Maximum für Kt + Φ
= zi und Φ ~ π besitzt. Damit ergibt sich aber aus
ω d 3ji . r „ 3 ν .....
Hi= ; ~ eine Frequenz von/= ; fur Vb
= 1000 Volt und d = 5 mm erhält man für die Masse M = 1 8,2 MHz und für M = 300 475 kHz.
Auflösungsvermögen
Das Auflösungsvermögen des Instrumentes ist durch ■j M = -.7 gegeben; η = — ,, und Af ist der Bruchteil
einer Schwingung zwischen zwei Maxima bei halber Höhe. Af hängt vorwiegend von der Schlitzbreite
ab. Das Auflösungsvermögen sollte für drei Modulatoren durchaus mit dem Auflösungsvermögen
an sich bekannter Instrumente vergleichbar sein.
1S0 Wesentliche Vorteile des vorliegenden Instrumentes
gegenüber den bekannten Geräten können in der Vermeidung des Magnetfeldes erblickt werden bzw. in der
Möglichkeit, die Abstände der folgenden Modulatorplatten untereinander so einstellen zu können, daß der
zusätzliche Energiegewinn und die dadurch bedingten verschiedenen Flugzeiten zwischen den Modulatorplatten laufend Berücksichtigung finden. Falls Beschleunigungsspannung
und Ablenkspannung dersel-
ben Hochspannungsquelle entnommen werden, wird das Auflösungsvermögen durch langsame Spannungsschwankungen nicht beeinträchtigt. Wollte man mit
mehr als drei Modulatoren arbeiten, so wäre unter anderem eine Dazwischenschaltung von Verzögerungsgliedern
zwischen den einzelnen Modulatoren zu erwägen.
In F i g. 3 ist die Erfindung bei Verwendung eines gekrümmten Kondensators, z. B. eines Zylinderkondensators,
dargestellt. Mit Ml, Ml, M3 sind auch υ
hier wiederum die Modulatoren bezeichnet. Es sind hier drei Zylinderkondensatoren hintereinander angeordnet.
Die Platten 11 besitzen positives Potential, die Platten 12 negatives Potential. Zur Auflösung können
entweder diese Spannungen an den einander folgenden Zylinderkondensatoren verschieden sein, und/oder es
variieren die Krümmungsradien 13 bis 17. Nach den obenstehenden Erklärungen ist der Vorgang bei der
Einrichtung nach F i g. 3 von selbst verständlich. In vorteilhafter Weise liegt hier die Bahn der aufzulösenden
Teilchen im wesentlichen parallel zu den gekrümmten Platten, was eine leichte Einstellung ermöglicht.
Das beschriebene Verfahren und die Einrichtungen dazu eignen sich nicht nur für eine Präzisionsmassenbestimmung,
sondern gleichzeitig auch zur Bestimmung der relativen Häufigkeit der zu untersuchenden Teilchen,
insbesondere Isotopen.
Claims (10)
1. Verfahren zum Trennen elektrisch geladener Teilchen, insbesondere von Isotopen, unter Verwendung
elektrischer Felder, wobei die Teilchen in Wechselfeldern eine Beschleunigung oder Verzögerung
und in elektrostatischen Feldern eine Ablenkung erfahren, dadurchgekennzeichn e t, daß die Einwirkung von Wechselfeldern und
elektrostatischen Feldern abwechselnd mehrmals nacheinander erfolgt.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Teilchen hochfrequenten elektrischen
Wechselfeldern ausgesetzt und dann in krummer Bahn durch das elektrostatische Feld
geführt werden.
3. Verfahren nach den Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß die elektrisch geladenen
Teilchen zur Beeinflussung durch die Wechselfelder durch geschlitzte Plattensysteme (Modulatoren)
hindurchgeführt werden, wobei eine Beschleunigung bzw. Verzögerung dieser Teilchen
erfolgt, so daß dann im nachgeschalteten elektrostatischen Feld je nach der kinetischen Energie
dieser Teilchen eine verschieden starke Ablenkung eintritt.
4. Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß homogene elektrostatische
Felder Anwendung finden.
5. Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß inhomogene elektrostatische
Felder Anwendung finden.
6. Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach den Ansprüchen 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet,
daß zwei Plattenkondensatoren nebeneinander vorgesehen sind, wobei die beiden einander
benachbarten Platten dieser Kondensatoren gleiches Potential, z. B. Erdpotential, besitzen, und
daß in dem Raum zwischen diesen beiden Platten die Modulatoren vorgesehen sind.
7. Einrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Modulatoren mit Bezug zur
Feldrichtung der Plattenkondensatoren schräg liegen, so daß die durch die Modulatoren hindurchgehenden
Teilchen unter einem Winkel in das jeweilige elektrostatische Feld eintreten.
8. Einrichtung nach den Ansprüchen 6 und 7, dadurch gekennzeichnet, daß die einander benachbarten
Platten der Kondensatoren an den Durchtrittsstellen für die Teilchen geschlitzt sind, wobei
durch die Breite und die Lage dieser Schlitze zueinander die Auflösung gegeben ist.
9. Einrichtung nach den Ansprüchen 1 bis 3 und 5, dadurch gekennzeichnet, daß zur Erzeugung des
elektrostatischen Feldes ein gekrümmter Kondensator Verwendung findet und die Modulatoren
zwischen den beiden Platten dieses Kondensators vorgesehen sind.
10. Einrichtung nach den Ansprüchen 6 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß Modulatoren verwendet
werden, deren Mittelplatte von den beiden Außenplatten verschieden weit entfernt liegt, so
daß beim Durchgang der Teilchen der Energiezuwachs oder Energieverlust die jeweils günstigste
Flugzeit bei maximalem Energiegewinn oder Energieverlust berücksichtigt wird.
In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Patentschriften Nr. 882 769, 944 900;
USA.-Patentschrift Nr. 2 615 135.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
409 660/335 9. 64
Bundesdruckerei Berlin
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
AT878042X | 1957-06-06 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1177850B true DE1177850B (de) | 1964-09-10 |
Family
ID=3682622
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEO6196A Pending DE1177850B (de) | 1957-06-06 | 1958-06-02 | Verfahren und Einrichtung zum Trennen elektrisch geladener Teilchen mit Hilfe von Massenspektrometern |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3040173A (de) |
DE (1) | DE1177850B (de) |
GB (1) | GB878042A (de) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
BE620891A (de) * | 1961-09-27 | |||
US3678321A (en) * | 1964-08-26 | 1972-07-18 | Us Army | Signal and noise separation utilizing zero crossing electron tube and circuit |
US3532880A (en) * | 1968-01-30 | 1970-10-06 | Nasa | Electrostatic charged particle analyzer having deflection members shaped according to the periodic voltage applied thereto |
US8431887B2 (en) * | 2009-03-31 | 2013-04-30 | Agilent Technologies, Inc. | Central lens for cylindrical geometry time-of-flight mass spectrometer |
US8330099B2 (en) * | 2011-01-31 | 2012-12-11 | Agilent Technologies, Inc. | Mass spectrometer and mass analyzer comprising pulser |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2615135A (en) * | 1950-06-20 | 1952-10-21 | Jr William E Glenn | Mass analyzing apparatus |
DE882769C (de) * | 1950-12-02 | 1953-07-13 | Gen Electric | Verfahren und Einrichtung zur Trennung geladener Teilchen von verschiedenem e/m-Verhaeltnis |
DE944900C (de) * | 1953-12-24 | 1956-06-28 | Wolfgang Paul Dr Ing | Verfahren zur Trennung bzw. zum getrennten Nachweis von Ionen verschiedener spezifischer Ladung |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2769093A (en) * | 1953-09-08 | 1956-10-30 | Beckman Instruments Inc | Radio frequency mass spectrometer |
US2721271A (en) * | 1954-09-20 | 1955-10-18 | Willard H Bennett | Radio frequency mass spectrometer |
US2836759A (en) * | 1955-07-22 | 1958-05-27 | Stirling A Colgate | Linear accelerator |
US2957985A (en) * | 1958-06-05 | 1960-10-25 | Cons Electrodynamics Corp | Mass spectrometers |
-
1958
- 1958-06-02 DE DEO6196A patent/DE1177850B/de active Pending
- 1958-06-05 US US740014A patent/US3040173A/en not_active Expired - Lifetime
- 1958-06-06 GB GB18161/58A patent/GB878042A/en not_active Expired
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2615135A (en) * | 1950-06-20 | 1952-10-21 | Jr William E Glenn | Mass analyzing apparatus |
DE882769C (de) * | 1950-12-02 | 1953-07-13 | Gen Electric | Verfahren und Einrichtung zur Trennung geladener Teilchen von verschiedenem e/m-Verhaeltnis |
DE944900C (de) * | 1953-12-24 | 1956-06-28 | Wolfgang Paul Dr Ing | Verfahren zur Trennung bzw. zum getrennten Nachweis von Ionen verschiedener spezifischer Ladung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB878042A (en) | 1961-09-20 |
US3040173A (en) | 1962-06-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE944900C (de) | Verfahren zur Trennung bzw. zum getrennten Nachweis von Ionen verschiedener spezifischer Ladung | |
DE69634125T2 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Erzeugung von überlagerten statischen und zeitlich-veränderlichen Magnetfeldern | |
DE1539659B2 (de) | Stigmatisches abbildungssystem fuer ein doppelfokussierendes massenspektrometer | |
DE2644688A1 (de) | Anordnung zur strahlstrommessung von ladungstraegern | |
DE2730985A1 (de) | Bestrahlungsvorrichtung | |
DE1937482A1 (de) | Mikrostrahlsonde | |
DE19635645C2 (de) | Verfahren für die hochauflösende Spektrenaufnahme von Analytionen in einem linearen Flugzeitmassenspektrometer | |
DE1177850B (de) | Verfahren und Einrichtung zum Trennen elektrisch geladener Teilchen mit Hilfe von Massenspektrometern | |
EP0613171A1 (de) | Massenspektrometer zur flugzeitabhängigen Massentrennung | |
DE2458025A1 (de) | Vorrichtung fuer massenanalyse und strukturanalyse einer oberflaechenschicht durch ionenstreuung | |
DE2646394A1 (de) | Vorrichtung zur messung des spinpolarisationsgrades eines elektronenstrahls | |
DE2706792A1 (de) | Einrichtung zum abtasten eines ziels mit einem strahl von geladenen teilchen | |
DE1498983A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Trennung von Ionen verschiedener spezifischer elektrischer Ladung | |
DE1034884B (de) | Vorrichtung zum Trennen von Ionen verschiedenen Ladungs-Masse-Verhaeltnisses | |
AT205778B (de) | Verfahren zum Trennen elektrisch geladener Teilchen | |
DE1225897B (de) | Hochfrequenz-Massenspektrometer | |
DE2752933A1 (de) | Elektronenmikroskop | |
DE956450C (de) | Massenspektrometer | |
DE2759116A1 (de) | Massenspektrometer | |
DE2632725A1 (de) | Einrichtung zur messung von ionenstroemen in der massenspektroskopie | |
DE2322203C2 (de) | Massenspektrometer | |
DE1498971C (de) | Massenspektrometer | |
DE1498971B2 (de) | ||
DE1573998C3 (de) | ||
DE2119143A1 (de) | Vorrichtung zur energiemäßigen Auswahl von Ladungsträgern |