DE2648508C3 - Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Inversionstemperatur eines piezoelektrischen Schwingquarzes - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Inversionstemperatur eines piezoelektrischen SchwingquarzesInfo
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- 239000010453 quartz Substances 0.000 title claims description 35
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims description 35
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 11
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 32
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 7
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 6
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 5
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 210000000056 organ Anatomy 0.000 description 2
- 241001122767 Theaceae Species 0.000 description 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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-
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
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Description
/o
während der Temperaturänderung von Th in
Richtung auf Ti mißt, daß man das Maximum der relativen Frequenzdrift erfaßt und die diesem
zugeordnete Temperatur mißt.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Anzeigegerät (23) mit elektrischen
Werten beaufschlagt wird, die proportional zu der Frequenzdrift sind.
3. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zwei
Temperaturquellen (1, 2) für den Quartz (8), die auf Temperaturen Th, Tf diesseits und jenseits der
Inversionstemperatur 7o gebracht werden können, eine Einheit (11), welche den Quartz (8) in
Resonanzschwingungen versetzt und eine Schwingung f angibt, eine Einheit (13), welche eine
vorzugsweise einstellbare Referenzfrequenz /Ό abgibt,
und eine Einheit (12, 14) vorgesehen sind, welche die beiden Frequenzen /'und /Ό erfaßt und das
Maximum der relativen Frequenzdrift anzeigt.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß ein auf einer Schiene (5) verfahrbarer
Schlitten (6) vorgesehen ist, mit dem der Quartz (8) von der einen Temperaturquelle (1) zu der anderen
(2) gebracht werden kann.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Schlitten (6) mit elektrischen
Kontakten (9) und einem Kabel (10) versehen ist, über welche Elemente der Quartz mit der elektrischen
Einheit (11) verbindbar ist.
6. Vorrichtung nach einem oder mehreren der Ansprüche 3 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die
Temperaturquellen (1, 2) vorzugsweise ebene Platten (3, 4) aufweisen, mit denen der Quartz (8) in
innigen Kontakt gebracht werden kann.
7. Vorrichtung nach einem oder mehreren der Ansprüche 3 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die
eine Temperaturquelle (2) eine flüssigkeits-, insbesondere wassergekühlte Platte ist.
8. Vorrichtung nach einem oder mehreren der Ansprüche 3 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß ein
Frequenzkomparator (12), der eine Spannung abgibt, die repräsentativ für die Differenz zwischen
der Qiiart/frcquenz /'und der Referenzfrequcn/. A1
ist, eine Diode (18). über die die Spannung an eine Kapazität (19) legbar ist, ein Schaller (21), über den
die Kapazität (19) entladen werden kann, ein Verstärker (22), der die Spannung ebenfalls erhalt.
und ein Anzeigeinstrument (23), insbesondere ein Drehspulinstrument, vorgesehen sind, das die Spannung
zur Anzeige bringt.
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Bestimmung der Inversionstemperatur von piezoelektrischen
Schwingquartzen.
Die Frequenz eines Schwingquartzes hängt von der Temperatur nach folgendem Gesetz ab:
a\T+ aj
wobei /die Frequenz, /ö eine Referenzfrequenz, Γ die
Temperatur und ao, a\....?, Koeffizienten sind.
Bei einem Quartz, der präzise dimensioniert und nach den Kristallachsen orientiert ist, und der nach einem
bestimmten Gesetz schwingt, sind gewisse Koeffizienten sehr klein. Die Ausdrücke mit diesen Koeffizienten
können insofern für einen begrenzten Temperaturbereich vernachlässigt werden, was obigen Ausdruck
vereinfacht.
Beispielsweise können für die Mehrzahl aller Schwingquartze für Frequenzen unter 1 MHz die
Ausdrücke η größer als 2 für den Bereich um die Umgebungstemperatur vernachlässigt werden. Man
erhält dann als relative Frequenzdrift:
J- .,1^ = ~Jr~ ^ K0+ K1T
K2T2.
Diese Formel, graphisch dargestellt, ergibt eine Parabel, für die die Symmetrieachse parallel zur
Ordinate liegt. Ko entspricht der relativen Frequenzdrift bei T=O. K\ hängt für einen speziellen Schwingquartz
von der Orientierung des aktiven Elements auf dem Schwingquartz relativ zur Kristallachse des Quartzes
und von dessen Dimensionen ab. K2 hängt vor allem von
der Art der Schwingung und zu einem geringeren Teil von der Orientierung und den Dimensionen ab. K2
entspricht der Breite der öffnung der Parabel, und sein Vorzeichen, normalerweise negativ, gibt an, daß die
Parabel nach unten offen ist.
Die Krümmung der Parabel wird Null bei T0 der
Inversionstemperatur. In der Umgebung dieser Temperatur besitzt der Quartz hinsichtlich seiner Frequenz die
größte Temperaturunempfindlichkeit. Es besteht insofern ein Interesse, diese Temperatur zu bestimmen.
Die Bestimmung von To mittels Messungen direkt an
einem bestimmten Quartz fordert die Koordinaten
für drei Punkte, die drei Gleichungen mit drei Unbekannten bilden, welche, wenn sie gelöst sind, die
Werte Klu K1 und K2 ergeben. Die Gleichung der
Parabel, welche die Funktion annähernd wiedergibt, ist dann bekannt. Um 7» zu bestimmen, ist die Ableitung
nach 7"zu bilden.
Will man dieses Verfahren in die Praxis umsetzen, braucht man entweder drei Räume mit unterschicdli-
chen Temperaturen oder einen Raum, der auf drei bestimmte Temperaturen gebracht werden kann.
Man kann die Zahl bestimmter Punkte
Man kann die Zahl bestimmter Punkte
zwischen zwei gegebenen Grenzen beliebig vervielfachen. Auf diese Weise können Anomalien in dem
Frequenz-Teaiperaturgang festgestellt werden. Eine
solche kann beispielsweise entstehen, wenn unerwünschte Schwingungsarten oktroyiert werden oder
wenn die Aufhängung fehlerhaft ist Wenn man die Zahl der Messungen gegen unendlich gehen läßt, erhält man
eine kontinuierliche Kurve, die die Abhängigkeit zwischen Frequenz und Temperatur wiederspiegelt.
Wenn 7ö zwischen einer niedrigen und einer hohen Temperatur liegt, findet man Ti dann auf den ersten
Blick.
Will man die Inversionstemperatur Tö durch die Punktmethode erhalten, so bedarf das einer langen Zeit,
weil sich die Temperatur in dem Meßraum nur langsam ändert bzw. weil der Quartz von einem Raum in einen
anderen gebracht werden muß. Hinzukommt, daß, abgesehen von den kontinuierlichen graphischen
Darstellungen, die Daten, die man auf diese Weise erhält, anschließend mittels Rechenmelhoden behandelt
werden müssen, um das gewünschte Ergebnis zu erhalten. All das ist ungünstig, wenn es gilt, schnelle
Ergebnisse zu erhalten, was der Fall ist bei d-.ir Oberprüfung von Quartzen, die in großen Stückzahlen
hergestellt werden.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zu entwickeln, welches die schnelle Bestimmung
der Inversionstemperatur ermöglicht.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß, wie im Kennzeichen des Anspruchs 1 angegeben, gelöst.
Weitere Einzelheiten der Erfindung ergeben sich aus der Zeichnung. Darin zeigt
F i g. 1 eine graphische Darstellung der Abhängigkeit
zwischen der relativen Frequenzdrift und der
Temperatur,
F i g. 2 eine graphische Darstellung der Kurve
F ig. 3 schematisch eine Vorrichtung zur Durchführung
des erfindungsgemäßen Verfahrens in zwei Stellungen,
F i g. 4 schematisch einen Schaltkreis zur Bestimmung der Inversionstemperatur,
F i g. 5 ein Beispiel für eine Eichkurve und
Fig. 6 die Einteilung des Anzeigefeldes eines Meßinstrumentes, welches in einer Vorrichtung zur
Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens zur Anwendung kommt.
Die Zahl der Punkte
die notwendig ist für die Bestimmung der Kurve, kann auf zwei reduziert werden, wenn einer von ihnen mit der
Inversionstemperatur 7"o zusammenfällt u"d wenn der
Koeffizient des Ausdrucks zweiten Grades der Gleichung der Parabel bekannt ist (s. Fig. 1).
Für die Temperatur To wird die Ableitung nach der Temperatur Null:
= (K, ι 2K2T)1
- K.2
so daß K1 +2 K2T0 = O und damit K] = -2 K2T0 ist.
Dieser Ausdruck für K], eingeführt in die Gleichung
Dieser Ausdruck für K], eingeführt in die Gleichung
führt zu
K0 - 2 K2T0T + K2Tl
wobei für T= TO gilt:
wobei für T= TO gilt:
( '/) = Kn- K1Tj.
\ Vu //■ 7„
Die Differenz der relativen Frequenzdrift Δ τ, die zwischen der Temperatur T und der Temperatur T0
herrscht, ist
Vo
Diese Funktion ist in F i g. 2 dargestellt.
Wenn die relative Frequenzdrift Ai = A zwischen
einer bekannten Temperatur T = Tn und einer unbekannten Temperatur To ist, wird die Gleichung:
1 =
was ergibt
Zusammenlassend ergibt sich somit, daß für einen Quartz, für den die Konstante K2 bekannt ist, die
Bestimmung von T0 zu der Messung einer festen Temperatur 7/, und der Frequenzdrift relativ dazu
zwischen 7/, und TO führt. Ist Ti, größer als To, ist das
Zeichen vor der Wurzel Minus. Ist Th kleiner als T0, ist
das Zeichen positiv.
Die Erfindung basiert auf folgenden Annahmen:
a) Für identische Quartze, die sorgfältig hergestellt worden sind, verändert sich die Frequenz mit der
Temperatur nach dem Gesetz
Δτ= K2(T-T0Y,
ein Ausdruck, in dem K2 bekannt, konstant und
reproduzierbar ist.
b) Wenn die Temperatur 7"eine r-unkti^"■ ■'. ί Zeit ψ(ι)
ist, verändert sich die Frequenz nach rl?m Gesetz
A1= Κ2(Ψ(ι)-T0Y-unter
der Bedingung, daß die Gescnwindigkeit der
Änderung
Her fernperalur hinreichend klein isi, so dall man
die Wirkung der thermischen Zeitkonstanten des Quartzes vernachlässigen kann.
Fig. 3 zeigt eine Anordnung gemäß der Erfindung,
mit der das oben dargelegte in die Praxis umgesetzt werden kann. Auf einer Grundplatte befinden sich zwei
Heizquellen 1 und 2, die auf verschiedene Temperaturen gebracht werden können. Sie sind mit ebenen
thermischen Kontaktflächen 3 und 4 ausgerüstet, die
sich in der gleichen Ebene befinden und mechanisch über eine Gleitschiene 5 miteinander verbunden sind,
auf der ein Schlitten 6 hin- und herbewegt werden kann. Letzterer ist mit einer öffnung 7 für einen zu prüfenden
Quartz 8 ausgerüstet. Der Quartz wird in innigen Kontakt mit der einen oder anderen Kontaktfläche 3
bzw. 4 gebracht. Der Schlitten 6 ist mit elektrischen Zuführungen 9 für den Quartz 8 versehen. Ferner ist ein
Anschlußkabel 10 vorhanden, über das der Quartz mit einer Meßapparatur verbunden ist, wobei das Kabel die
Verschiebung des Schlittens zuläßt.
Der Meßkreis der Anordnung ist in F i g. 4 dargestellt.
Er weist einen elektronischen Kreis 11, der einen Quartz 8 in Resonanzschwingungen hält, einen Frequenzkomparator
12, der die Frequenzdrift /des Resonators 8 in bezug auf die Referenzfrequenz k mißt, welche von
einem Generator 13 stammt, und eine Anzeigeeinheit 14 auf. Der Generator 13 führt an seinem Ausgang 15 ein
Signal, dessen Frequenz ίο innerhalb eines bestimmten
Bereiches mittels eines Organs 16 geändert werden kann. Der Komparator 12 liefert an seinem Ausgang 17
ein Signal in Form einer kontinuierlichen Gleichspannung, die proportional zu der Frequenzdrift
Af=f-k
I./
und damit zu der relativen Frequenzdrift . ist, wobei
die Größe der Frequenz ίο als Eichkonstante aufgefaßt
werden kann.
Die Anzeigeeinheit 14 weist eine Diode 18, deren Vorwärtsspannungsabfall vernachlässigt werden kann,
und die mit dem Ausgang des Komparator 12 verbunden ist, und einen Kondensator 19 auf, der als
Speicher dient und mit der Diode verbunden ist.
Der Kondensator 19 kann über einen Widerstand 20 entladen werden, welcher mittels eines Schalters 21
eingeschaltet werden kann. Ein Verstärker 22 mit hoher Eingangsimpedanz verbindet den Kondensator 19 mit
einem Drehspulinstrument 23, das mittels eines Widerstandes 24 eingestellt werden kann. Das Instrument
23 zeigt Werte an, die proportional zu der Spannung sind, welche an den Kontakten des Kondensators
13 anliegt Der Strom ist dabei vernachlässigbar klein.
Die Bestimmung der Inversionstemperatur To des
Quartzes kann in folgender Weise erfolgen: Die eine Heizquelle, z. B. 1 (F i g. 3), wird auf die Temperatur Th
gebracht, die größer als die vermutete Inversionstemperatur ist, und auf dieser Temperatur gehalten. Die
andere Heizquelle, z. B. 2, wird auf die Temperatur T> gebracht, die kleiner als To ist. To liegt dann zwischen T),
und Tf.
Der Quartz 8 wird in die Öffnung 7 des Schlittens 6 gelegt und in Resonanzschwingungen versetzt. ILr wnd
dann in Kontakt mit der Heizquelle mit der Temperatur
Th gebracht. Seine Frequenz wird und bleibt dann fh (s.
F ig. 2).
Dann wird der Schalter 21 (Fig.4) geschlossen, die
Refcrenzfreoiienz /j» des Generators 13 wird mittels des
Organs 16 so eingestellt, daß f0 = 4 ist. Der Komparator
12 gibt NuM Volt an seinem Ausgang 17 ab. Das zeigt auch das Instrument 23 an. Wenn der Quartz seine
Gleiehgev.'ichtstemperatur Tj, erreicht hat, bleibt die
Anzeige Null. Die Voijustierung des Gerätes ist nun beendet.
Dann wird der Schalter 21 geöffnet, der Quartz 8 wird in thermischen Kontakt mit der zweiten Heizquelle mit
der Temperatur Ti gebracht, indem der Schlitten 6 längs
der Schiene 5 bewegt wird. Die Frequenz /des Quartzes wandert nun auf den neuen Wert />
(s. F i g. 2). Der Komparator 12 liefert über seinen Ausgang 17 eine
Spannung proportional zu und mit einer Polarität
derart, daß diese über die Diode 18 an dem Kondensator
19 und dem Eingang des Verstärkers 22 anliegt. Das Instrument 23 zeigt den Spannungsverlauf an.
Sobald die Inversionstemperatur To erreicht ist, läuft
die relative Frequenzdrift durch den Maximalwert von Δ. Die Ausgangsspannung des Komparator 12 wird in
dem Kondensator 19 gespeichert, und das Instrument 23 zeigt abermals die entsprechende Bewegung an.
Die Temperaturänderung in Richtung auf 7}hält nach
dem Durchlaufen des Wertes TO an. Die Frequenzvariation fällt ab, ebenso die Ausgangsspannung des
Komparator 12.
Der Kondensator 19 kann sich jedoch nicht entladen, so daß die Maximalspannung gespeichert wird, welche
der relativen Frequenzdrift Δ entspricht. Das Instrument 23 zeigt diesen Wert fortgesetzt an. Es ist sinnvoll,
die Skaia des Instrumentes 23 so einzuteilen, daß sie eine Funktion der Spannung an den Kontakten der
Kapazität 19 darstellt, gemäß der Beziehung
T0 =Th-
Es kann unterstellt werden, daß die Konstante K2
gleich dem Durchschnittswert für alle zu messende Quartze gleicher Art ist.
F i g. 5 zeigt die Eichkurve für die Anordnung für /G
= 4- 10-8/"C2, die typisch für einen Quartz ist, der in der
Grundbiegungsart in der kristallographischen Ebene XYbei einer Temperatur Tj, = 55°C schwingt.
F i g. 6 zeigt die Einteilung der Skala des Instrumentes 23. Die untere Reihe stellt die T0-Werte dar. Ganz links
liegt der Punkt T0 = T*. Diesem ist der Wert zl = 0
zugeordnet, was gleichbedeutend mit /=/& ist Die
Angabe 100% ganz rechts bedeutet 4 = 100%, was gleichbedeutend mit {= 2 f0 ist Wenn die Temperatur Th
mit ±1°C konstantgehalten wird und K2 mit ±10%
Genauigkeit bekannt ist ist die Genauigkeit der Messung von T0 ±2°C im Bereich von 25°C, eine
Genauigkeit die in den meisten Fällen ausreicht
Für Quartze, die ein Volumen von 0,1 cm3 haben, dauert die Bestimmung der Inversionstemperatur
größenordnungsmäßig 1 Minute. Bei der Punkt-für-Punkt-Bestimmung gemäß dem Stromverfahren ist
größenordnungsmäßig 1 Stunde erforderlich.
Es ist klar, daß die Heizquelle mit der niederen
iciiiperatur
Bestimmung Bestimmung
ebenso als ;nen kann.
T0 =
Referenzpunkt für Man würdi; rlann
verwenden.
Da grundsätzlich die Präzision der Referenztcmperatur
bestimmend ist, und da es ausreicht, daü die andere
TVi κ pi; ret ur auf der anderen Seite von 7o liegt, ohne daß
die präzise Kenntnis derselben von Wichtigkeit wäre, ist es vorteilhaft, die höhere Temperaturquelle als Referenzpunkt
zu nehmen. Diese Quelle kann dann eine erhitzte Platte mit der Temperatur 7/, sein, die konstant
und leicht zu reproduzieren ist. Die andere Quelle ist eine kalte Platte, von der nur bekannt ist, daß ihre
Temperatur niedriger als die Inversionstemperatur ist. Diese Platte kann beispielsweise eine durch kaltes
Wasser gekühlte Platte sein.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
1. Verfahren zur Bestimmung der Inversionstemperatur eines piezoelektrischen Schwingquartzes,
dadurch gekennzeichnet, daß man einen Quartz mit Resonanzfrequenz schwingen läßt, daß
man ihn auf eine konstante Temperatur 7i bringt, die über oder unter, vorzugsweise über der Inversionstemperatur T0 liegt, daß man die der Temperatur Th
zugeordnete Resonanzfrequenz /0 einstellt, daß man den Quartz auf eine Temperatur Tf bringt, die unter
oder über, vorzugsweise unter der Inversionstemperatur Tq liegt, und die relative Frequenzdrift
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CH1386375A CH591765A5 (de) | 1975-10-27 | 1975-10-27 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2648508A1 DE2648508A1 (de) | 1977-04-28 |
DE2648508B2 DE2648508B2 (de) | 1978-12-14 |
DE2648508C3 true DE2648508C3 (de) | 1979-08-16 |
Family
ID=4395984
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2648508A Expired DE2648508C3 (de) | 1975-10-27 | 1976-10-22 | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Inversionstemperatur eines piezoelektrischen Schwingquarzes |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4084131A (de) |
JP (1) | JPS5254393A (de) |
CH (1) | CH591765A5 (de) |
DE (1) | DE2648508C3 (de) |
FR (1) | FR2334115A1 (de) |
GB (1) | GB1518868A (de) |
Families Citing this family (6)
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JP2925158B2 (ja) * | 1988-07-29 | 1999-07-28 | 株式会社東芝 | 変調器および送信器 |
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- 1975-11-24 FR FR7535792A patent/FR2334115A1/fr active Granted
-
1976
- 1976-10-01 GB GB40737/76A patent/GB1518868A/en not_active Expired
- 1976-10-05 US US05/729,636 patent/US4084131A/en not_active Expired - Lifetime
- 1976-10-19 JP JP51125994A patent/JPS5254393A/ja active Granted
- 1976-10-22 DE DE2648508A patent/DE2648508C3/de not_active Expired
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Publication number | Publication date |
---|---|
FR2334115A1 (fr) | 1977-07-01 |
JPS6118354B2 (de) | 1986-05-12 |
CH591765A5 (de) | 1977-09-30 |
DE2648508A1 (de) | 1977-04-28 |
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FR2334115B1 (de) | 1978-05-19 |
JPS5254393A (en) | 1977-05-02 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |