DE2647547A1 - Mehrschichtkondensator und verfahren zum einstellen seiner kapazitaet auf einen gewuenschten sollwert - Google Patents

Mehrschichtkondensator und verfahren zum einstellen seiner kapazitaet auf einen gewuenschten sollwert

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DE2647547A1
DE2647547A1 DE19762647547 DE2647547A DE2647547A1 DE 2647547 A1 DE2647547 A1 DE 2647547A1 DE 19762647547 DE19762647547 DE 19762647547 DE 2647547 A DE2647547 A DE 2647547A DE 2647547 A1 DE2647547 A1 DE 2647547A1
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002Details
    • H01G4/255Means for correcting the capacitance value

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Description

  • Mehrschichtkondensator und Verfahren
  • zum Einstellen seiner Kapazität auf einen gewünschten Sollwert.
  • Die Erfindung betrifft einen mehrschichtigen Kondensator, bestehend aus übereinander mestaselten Schichten aus dielektrischem Material und zwischen diesen befinalichen Metallschichten, die jeweils durch einen metallfreien Streifen in in einer Ebene nebeneinander liegende Metallschichten aufgeteilt sind.
  • die an gegenüberliegenden Seiten des Stapels herausgeführt sind, und bestehend aus auf zwei gegenüberliegenden Stellen des Stapels aufgebrachten Metallauflagen, welche die dort herausreffihrten Metallschichten der aufeinander gestapelten Schichten zu einem Kondensatorbelag miteinander elektrisch verbinden, nach Patent , ( deutsche Patentanmeldung P 25 09 669.9-33 ).
  • Ein derartiger Kondensator ist beispielsweise aus der US-PS 3 721 871 bekannt, bei dem die aufeinander gestapelten Dielektrikumschichten abwechselnd am Rand oder in der Mitte einen metallfreien Streifen besitzen. Durch diese Ausbildung der Metallschichten ergibt sich ein monolithischer Kondensator für hohe Spannungens dessen Kapazitätswert jedoch klein ist.
  • Eine andere Ausführungsform eines Kondensators mit sehr kleinem eng toleriertem Kapazitätswert ist aus der OE-PS 150 465 bekannt. Bei diesem Kondensator sind metallfreie Streifen auf einer Hauptfläche des elnschichtigen Kondensators vorhanden, welche die Metallschicht in ewei oder mehrere gleiche Flächenbereiche teilt. Auf der gegenüberliegenden Hauptfläche sind Blindbeläge vorhanden, welche der Hintereinanderschaltung der Kondensatorbeläge dienen. Bei dieser Ausführungsform ist nicht vorgesehen, mehrere solcher Schichten übereinander zu stapeln.
  • er der DT-PS 1 614 4? sind beispielsweise Mehrschichtkondenstoren bekannt. bei welchen auf wenigstens einer der beiden Grundelächen des Stapels zur Ausfüllung mit leitfähigem Material freie Felder bildende gitterartig einander zugeordnete Leiterbahnen aufgebracht sind die miteinander elektrisch leitens verbunden una zu einer Metallauflage geführt sind.
  • Da diese Verbindung des Hasterzitters mit der Metallauflage nur auf einer der beiden möglichen Seiten dazu geeignet ist, die herstellungsbedingten Toleranzen der Kapazität des Kondensators auszugleichen, ist auf die Orientierung dieser Verbindung besondere Sorgfalt zu verwenden.
  • Eine andere Ausführungsform eines auf einen gewünschten Sollwert seiner Kapazität abgleichbaren mehrschichtigen, insbesondere keramischen Kondensators ist in der DT-AS 1 614 591 offenbart, wobei innerhalb des Kondensatorblockes zwischen dielektrischen Schichten wenigstens ein Abgleichbelag in Form wenigstens einer zusätzlichen Metallschicht vorgesehen ist, der mittels weiterer Metallauflagen mit der zur Verschaltung der Kondensatorhauptbeläge dienenden Metallauflage elektrisch leitend verbunden ist. Bei dieser bekannten Ausführungsform ist die Zuschaltung dieser zusätzlichen Metallschichten nur mit sehr genau arbeitenden Hilfavorrichtungen und;auch nur in einer von zwei möglichen Richtungen sinnvoll, da nur in einer Richtung dieser Abgleichbelag auf dem die Kapazität erhöhendem Potential zu liegen kommt.
  • Aus der DT-OS 2 179 040 ist ein mehrschichtiger Kondensator bekannt, bei dem sich mindestens ein Endteil einer Metallschicht des Kondensatorbelages dem Rand des Kondensatorblockes nähert ohne ihn zu erreichen und die Einstellung des Kapazitätswertes durch Entfernen dielektrischen Materials von diesem Rand erreicht wird um den ausgesparten Endteil des entsprechenden Belagbereiches freizulegen und anschließend mit einem leitenden Überzug zu versehen. Hierbei ist außer dem Abtrag, des dielektrischen insbesondere keramischen Materials auch erforderlich, diesen Abtrag an genau definierten Stellen durchzuführen, was bei der Kleinheit derartiger Kondensatoren nur unter sehr großem Aufwand möglich ist.
  • Bei den zuletzt genannten Bauformen elektrischer Mehrschichtkondensatoren befindet sich stets nur ein Belag auf einer Hauptfläche, so daß derartige Kondensatoren gegen den sie umgebenden Raum unsymmetrisch sind. Diese Unsymmetrie beziltht sich sowohl auf mögliche kapazitive Kopplungen, als auch auf die Möglichkeit des kapazitiven Abgleiches. Dieses Verhalten bezüglich möglicher kapazitiver Kopplungen kann dazu führen, daß Schaltungen mit derartigen Kondensatoren eine ungewollte Schwingneigung besitzen.
  • Aus der DT-OS 1 464 417 ist ein Keramikkondensator bekannt, bei dem auf der Oberseite der ungeradzahligen Dielektrikumschichten und auf der Unterseite der geradzahligen Dielektrikumschichten drei parallele Elektroden aufgebracht sind, die an die Oberfläche des Kondensators herausreichen, wobei diese parallelen Elektroden und die vollen Elektrodenflächen auf aufeinanderstoßende aber verschiedene Seiten herausreichen.
  • Ein keramischer Mehrschichtkondensator mit einer ersten Gruppe voller Elektrodenflächen. die abwechselnd um 180 Winkelgrade versetzt sind und einer zweiten Gruppe von Elektrodenflächen, die aus mehreren Teilflachen bestehen können, die auf die beiden anderen gegenü.berlieenren Seitenflächen herausragen, ist AUS der US-PS 3 898 541 bekannt.
  • Bei @llen diesen bekannten Kondensatoren ist ein Abgleich des Kapazitätswertes entweder nur unter erheblichem Aufwand möglich oder der Abgleich kann nur bei Beriicksichtigung einer bestimmten OrientIerung des Kondensators durchgeführt werden. Außerdem ist bei dicsen bekannten Kondensatoren der Abgleich des Kapazitätswerte: nur in festen Schritte möglich.
  • )er Erfindung liegt deshalb 0 e rabe zugrunde, einen Mehrschichtkondensator zur Verfügung zu stellen, der stufenlos, .. kontinuierlich auf einen bestimmten Kapazitätswert innerhalb engster Toleranzen eingestellt werden kann.
  • Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die Metallschicht in gleich- oder ungleichgroße Flächen geteilt ist, d sich die Flächen auf aufeinandergest@pelten Dielektrikumschich ten überdecken, daß die Endabschnitte der Flachen in einer Ebene abwechselnd an ge@enüberliegenden Seitenflächen des Stapels münden und diese Seitenflächen mit Metallauflagen versehen sind, welche diese Seitenflächen und ihnen nahe Bereiche der Nantelfläche des Stapels bedecken, wobei die Größe dieser Bereiche vom gewünschten Kapazitätswert des Kondensators abhängig sind.
  • Bevorzugte Ausführungsformen und Verfahren zum Einstellen der Kapazität eines erfindungsgemäßen Kondensators sind in den Unteransprüchen beschrieben.
  • Der erfindungsgemäße Mehrschichtkondensator besitzt den Vorteil, eine höhere Symtretrie ::a besitzen, als bekannte, auf einen gewünschten Sollwert einstellbare Mehrschichtkondensatoren. Dadurch brauchen an ene bestimmte Orientierung des Kondensators während des Abgleiches keine besonderen Anforderunten gestellt zu werden. Ein besonderer Vorteil liegt auch darin, daß der Kapazitätswert beispielsweise durch defin@ertes Tnuchen des Kondensators in ein Metallisierungsbad zur Aufbringung der Metallauflagen auf einen bestimmten Kapazitätswert stufenlos eingestellt werden kann und daß außer diesem Abgleich auch noch ein feinerer Abgleich dadurch möglich ist, daß auf die Grund- und/oder deckelachse eine Metallfläche aufgebracht wird, die von den Metallauflagen der Seitenflächen allseitig beabstandet ist. Durch diese zuletzgenannte Metallfläche werden Teilkapazitäten parallel und/oder in Serie geschaltet. Damit ist es möglich. nach einem sogenannten Grobabgleich einen Feinabgleich durchzuführen.
  • Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in der Zeichnung dargestellt und werden im folgenden näher beschrieben. Es zeigen Fig. 1 eine Explosionsdarstellung eines Stapels, Fig. 2 eine mit Metallflächen bedruckte Dielektrikumschicht, Fig. 3 einen Querschnitt durch einen Stapel.
  • Fig. 4 eine räumliche Darstellung eines Mehrschichtkondensators, Fig. 5 eine Draufsicht auf einen, auf einen gewijnschten Sollwert seiner Kapazität eingestellten Mehrschichtkondensator, Fig. 6 einen Schnitt durch einen Mehrschichtkondensator und Fig. 7 eine mit mehreren Teilflächen versehene Dielektrikumschicht.
  • Fig. 1 zeit einen Stapel. bestehend aus einer Anzahl mit nebeneinander parallel verlaufenden Metallflächen 2a und 2b bedeckten Dielektrikumschichten 11 die durch metallfreie Streifen 7 voneinander uni von an beabstandet sind. Die Metallflächen 2a und 2b einer Dielektrikumschicht 11 reichen mit ihren Endabschnitten 5a und 5b abwechselnd an gegeniiberliegende Seitenflächen 3 heraus. Vorzugsweise ist die Wandstärke der Grundschicht 8 und/oder der Deckschicht 9 geringer als die Wandstärke der übrigen Dielektrikumschichten 11 und/ oder die Grundschicht 8 und/oder die Deckschicht 9 sind aus einem Material größerer Dielektrizitätskonstante als die übrigen Dielektrikumschichten 11. durch können die Grundschicht 8 und/oder die Deckschicht 9 beim Abgleich, welcher das Dielektrikum dieser beiden letztgenannten Schichten nutzt, in verstärktem Maße zur Wirkung kommen.
  • Fig. 2 zeigt eine Dielektrikumschicht 11, auf der die Metallschicht durch einen metallfreien Streifen 7 in zwei gleichgroße Flächen 2a und 2b geteilt ist, wobei die Endabschnitte 5a und 5b der Flächen 2a und 2b abwechselnd an gegenüberliegenden Seitenflächen 3 enden.
  • Fio. 3 zeigt, daß sich die Flächen 2a und 2b auf aufeinandergestapelten Dielektrikumschichten 11 überdecken. Außerdem ist bei der Ausführung nach dieser Figur die Grundschicht 8 und die Deckschicht 9 von geringerer Wandstärke als die Dielektrikumschichten11, so daß eine auf die Grundflächen 13 und/oder auf die Deckfläche 14 aufgebrachte Metallfläche eine der Einstellung eines gewtinschten Sollwertes der Kapazität dienende, zusätzliche Kapazität ergibt. Durch die metallfreien Streifen 7 sind die Flächen 2a und 2b voneinander und von der Mantelfläche 6 des Stapels 10 beabstandet.
  • Fig. 4 zeigt einen auf einen gewünschten Kapazitätswert abgeglichenen Kondensptcr bei der zuerst die die Metallflächen 2a und 2b zu den Kondensatorbelägen zusammenschaltenden Metallauflagen 4 auf die Seitenflächen 3 aufgebracht werden.
  • Nach der Messung des Kapazitätswertes, der gezielt unter dem Sollwert gefertigt wird. werden die den Seitenflächen 3 nahen @ereiche @5 der Mantelfläche 6 auf der Grundfläche 13 oder auf der Deckfläche 14 oder rund um die Mantelfläche 6 mit einer Metallschicht derart bedeckt. daß die Größe x(C) einen Kapazitätswert ergibt, der dem gewünschten Sollwert möglichst nahe kommt. Zum Feinabrleich des Kapazitätswertes wird auf die Grundfläche 13 und/oder auf die Deckfläche 14 eine Netallfläche 12 aufgebracht, deren Größe F(C) von der noch abzugleichenden Kapazitätsdifferenz zwischen gegebener und gewünschter Kapazität abhängig ist.
  • Fig. 5 zeigt einen Mehrschichtkondensator, bei dem zwei Metallflächen 2a und 2b nebeneinander parallel verlaufen und durch einen schmalen. metallfreien Streifen 7 voneinander beabstandet sind. Netallauflagen 4 auf den gegenüberliegenden Seitenflächen 3 bedecken diese und ihnen nahe Bereiche 15 der Mantelfläche 6 des Stapels 10. Eine schraffiert dargestellte Metallfläche 12, die von den Metallauflagen 4 beabstandet ist, bedeckt die Metallflächen Pa und 2b mit den Flächen F1 und F2 und ergibt durch das Dielektrikum der Deckschicht die in Serie geschalteten Teilkapazitäten #C1 und AC2, welche den Gesamtwert der Kapazität um den Betrag #C1##C2 #C1+#C2 erhöhen.
  • Fig.6 zeigt einen Mehrschichtkondensator mit ungleich breiten Metallflächen 2a und 2b. durch ist es möglich. mit einer Metallfläche 12 auf der Grundfläche 13 oder auf der Deckfläche 14 des Kondensstors den gewünschten Kapazitätswert noch feiner einzustellen, da die zusätzliche, durch die Teilkapazitäten #C1 und #C2 gegebene Kapazität #C1 #C = #C1 1+ # # #C2 AC1 von AC1 und vom Quo<iienten abhängig ist.
  • AC2 Fig. 7 zeigt eine in mehrere Teilflächen 2a und 2b unterteilte Dielektrikumschicht 11, bei der die Teilflächen 2a.2b und die metallfreien Streifen 7 von gleicher Größenordnung sind. Die Teilflächen 2a und 5 reichen abwechselnd an zwei gegenüberliegende Seitenflächen 3 heraus und sind dort mit einer Metallauflage 4 zu den beiden Kondensatorbelägen zusammengeschaltet. Eine Netallrläche 12 auf der Deckfläche des Mehrschichtkonsensators, projiziert auf die Metallflächen 2a und 2b die schraffiert dargestellten Teilflächen #F1, #F2, aX3 und und damit die rechts schaltungsmäßig dargestellten Abgleichkapazitäten #C1, #C2, #C3 und #C4. Aus dieser Schaltung ist ersichtlich, daß die Kapazität in engsten Schritten abgeglichen werden kann, wobei der Abgleich selbstverständlich auch zwischen den Schritten kontinuierlich eingestellt werden kann.
  • Der metall freie Streifen 7 kann auch eine andere Gestalt besitzen; beispielsweise auch die in der deutschen Patentanmeldung P 25 09 669.9-33 oder jede beliebige andere.
  • pa tentanspriiche Zeichnung L e e r s e i t e

Claims (15)

  1. P A T E N T A N S P R Ü C H E : 1. Mehrschichtiger Kondencator, bestehend aus übereinander gestapelten Schichten aus dielektrischem Material und zwischen diesen befindlichen Metallschichten, die jeweils durch einen metallfreien Streifen in in es er Szene nebeneinander liegende Metallschichten aufgeteilt sind, die an den gegenüberliegenden Seiten des Stapals herausgeführt sind, und bestehend aus auf zwei gegenüberlierenden Stellen des Stapels aufgebrachten Metallauflagen, die die dort herausgeführten Metallschichten der aufeinander gestapelten Schichten zu einem Kondensatorbelag miteinander elektrisch verbinden, nach Paten .........( deutsche Patentanmeldung P 25 09 669.9-33 ), d a d u r c h g e k e n n z e i c n n e t, daß die Metallschicht durch metallfreie Streifen (7) in gleich- oder ungleichgroße Flächen (2a,2b) geteilt ist, daß sich die Flächen (2a,2b) auf aufeinandergestapelten Dielektrikumschichten (11) überdecken, daß die Endabschnitte ( 5a,5b) in einer Ebene abwechselnd an gegenüberliegenden Seitenflächen (3) des Stapels (10) münden und diese Seitenflächen (3) mit Metallaufla@en (4) versehen sind, welche diese Seitenflächen (3) unc ihnen nahe Bereiche (15) der Mantelfläche (6) des Stapels (10) bedecken wobei die Größe dieser Bereiche (15) vom gewünschten Kapazitätswert des Kondensators abhängig ist.
  2. 2. Kondensator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die metallfreien Streifen (7) nebeneinander parallel verlaufen,
  3. 3. Kondensator nach einem der Ansprüche 1 bis 2. dadurch ge-Kennzeichnet, daß die metallfreien streifen (7) wesentlich schmäler als die Flächen (2a,2b) sind.
  4. 4. Kondensator nch eie der Anspriiche 1 bis 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Breite der metallfreien Streifen (7) von gleicher Größenordnung ist wie die Breite der Metallflächen (2a 2b).
  5. 5. Kondensator nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß nur die an die Deckschicht (9) angrenzengen Metallflächen (2a.?b) von reicher Größenordnung sind wie die zwischen ihnen befindlichen metallfreien Streifen (7), w;ihrend die übrigen Metallflächen (2a*2b) breiter sind als die zwischen ihnen befindlichen metallfreien Streifen (7).
  6. 6. Kondensator nach Anspruch 1 dadurch gekennzeichnet, daß die metallfreien Streifen (?) spitze Winkel einschließen.
  7. 7. Kondensator nach Anspruch 1, durch Cekennzeichnet, daß die Metallschicht durch einen schmalen metallfreien Streifen (7) in zwei Flächen (2a,Xb) geteilt ist.
  8. 8. Kondensator nach Anspruch 7. dadurch gekennzeichnet, daß die Flächen (2a,2b) gleich groß sind.
  9. 9. Kondensator nach Anspruch 7* dadurch gekennzeichnet, daß die flächen (2a.2b) ungleich groß sind.
  10. 10. Kondensator nach einem der vorhergenannten Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß de Grundschicht (8) und/oder die Deckschicht (9) eine geringere Wandstärke besitzt, als die übrigen Dielektrikumschichten (11) und/oder aus einem Material mit größerer Dielektrizitätskonstanten bestehen, als die übrigen Dielektrikumschichten (11).
  11. 11. Verfahren zum Einstellen der Kapazität eines Kondensators nach einem der vorhergenannten Ansprüche auf einen gewiinschten Sollwert, dadurch gekennzeichnet, daß der Stapel (10) mit Metallauflagen (4) versehen wir, welche zwei gegenüberliegende Seitenflächen (3) und ihnen rande Bereiche (5) der Mantelflache (6) bedecken. wobei die Größe (x(C)) dieser Bereiche vom gewünschten Kapazitätawert des Kondensators abhängig sind, und diese Bereiche (5) durch Tauchen, Spritzen, Streichen oder Stempeln hergestellt werden.
  12. 12. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Größe (x(C)) der Bereiche (5) während der Messung des Kapazitätswertes bestimmt und eingestellt wird.
  13. 13. Verfahren nach einem der Ansprüche 11 bis 12 dadurch gekennzeichnet daß auf die Grundfläche (13) und/oder auf die Deckfläche (14) des Stapels (10) eine Metallfläche (12) aufgebracht wird, die von den Metallauflagen (4) der Seiten flächen (3) allseitig beabstandet ist und die Große dieser Metallfläche (12) vom gewünschten Kapazitätswert abhängig ist.
  14. 14. Verfahren nach einem der Ansprüche 11 bis 13. dadurch gekennzeichnet, daß zuerst die Seitenflächen (3) mit einer Metallauflage (4) versehen werden, welche die Metallflüchen (2a.2b) zu den beiden Kondensatorbelägen zusammenschalten, daß der Kapazitätawert gemessen und anschließend durch Vergrößern der den Seitenflächen (3) nahen Bereiche (15) der Metallauflagen (4) der Kapazitätswert dem Sollwert angenähert und anschließend durch eine Netallauflage (12) auf der Grundfläche (13) und/ oder auf der Deckfläche (14) des Stapels (10) der Kapazität wert auf den gewünschten Sollwert innerhalb engster Toleranzen eingestellt wird.
  15. 15. Verfahren nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Metallauflagen (4) durch Tauchen und die Metallfläche (12) mittels eines Pinsels aufgebracht wird.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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DE3340251A1 (de) * 1983-11-08 1985-05-23 Kurt Dr.-Ing. 7802 Merzhausen Heber Abgleichkondensator fuer sensoren
EP0604569A1 (de) * 1991-09-19 1994-07-06 Johanson Dielectrics, Inc. Monolitiseher kondensator mit veränderlicher kapazität

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3340251A1 (de) * 1983-11-08 1985-05-23 Kurt Dr.-Ing. 7802 Merzhausen Heber Abgleichkondensator fuer sensoren
EP0604569A1 (de) * 1991-09-19 1994-07-06 Johanson Dielectrics, Inc. Monolitiseher kondensator mit veränderlicher kapazität
EP0604569A4 (en) * 1991-09-19 1995-09-20 Johanson Dielectrics Inc Monolithic capacitor with variable capacitance.

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