DE2641181C2 - Prüfautomat fUr Flachbaugruppen verschiedenen Typs - Google Patents
Prüfautomat fUr Flachbaugruppen verschiedenen TypsInfo
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06705—Apparatus for holding or moving single probes
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
Sogenannte Flachbaugruppen sind Karten aus einem Isoliermaterial, die ein- oder beidseitig mit Bauelemen
ten bestückt sind. Die gegenseitige elektrische Verbin
dung der Bauelemente übernimmt dabei eine gedruckte oder geätzte Schaltung. Die Zuführung vom Betriebsspannung und Signalspannungen geschieht dabei oft
über eine Kontaktleiste an einer Kante der Karte.
Elektronische Geräte und Anlagen enthalten oft eine
große Anzahl verschiedenartiger Flachbaugruppen, die beim Zusammenbau oder einem eventuell notwendigen
Austausch nicht verwechselt werden dürfen. Aus diesem Grunde tragen die Kontaktleisten und die ihnen
j5 zugeordneten Stecker mechanische Verriegelungskennungen. Diese verhindern, daß Flachbaugruppen in
nicht dafür vorgesehene Stecker eingesteckt werden können. Die Verriegelungskennungen bestehen normalerweise aus Schlitzen im Bereich der Kontaktleisten
und in diese Schlitze einrastende Zapfen im Stecker.
Im Interesse einer Rationalisierung bei der Prüfung
von Flachbaugruppen werden diese von sogenannten Prüfautomaten geprüft Das jeweilige Prüfprogramm
richtet sich natürlich nach dem Typ der Flachbaugruppe,
d. h. nach ihrer zweckentsprechenden Bestückung mit Bauelementen. Dies macht die Erkennung des Flachbaugruppentyps durch den Prüfautomaten notwendig,
wenn nicht für jeden zu prüfenden Flachbaugruppentyp ein eigener Stecker am Automaten vorgesehen wird.
Der Erfindung lag die Aufgabe zugrunde, für einen
Prüfautomaten eine Lösung zu Finden, die mit weniger Steckern auskommt als zu prüfende Flachbaugruppentypen vorliegen, optimal mit einem einzigen Stecker.
Zur Lösung der vorstehend genannten Aulfgabe wird
ein Prüfautomat für Flachbaugruppen verschiedenen
Typs und entsprechend verschiedenen mechanischen Verriegelungskennungen im Bereich von Kontaktleisten der Flachbaugruppen vorgeschlagen, der gemäß
der Erfindung dadurch gekennzeichnet ist, daß der
Prüfautomat mindestens einen, keine Gegenverriegelungen enthaltenden Stecker aufweist und mil: optoelektronischen Sendern und Empfängern zum optischen
Abtasten der Verriegelungskennungen der Fkichbaugruppen und einer Auswerteeinrichtung für die
(,5 Empfängersignale zum Erkennen des jeweils zu
prüfenden Flachbaugruppentyps ausgestattet ist. Der Prüfautomat erkennt also jeden Typ einer Flachbaugruppe an ihren mechanischen Verriegelungskennun-
gen, ohne daß für jeden Typ ein besonderer Stecker
notwendig ist
Zweckmäßig sind die optoelektronischen Sender und Empfänger am Stecker selbst angeordnet
Zwecks Vereinfachung der Kennungsdatenüberprüfung
wird die erkannte Kennungskombination codiert.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung sind den optoelektronischen Empfängern Komparaioren
nachgeschaltet, deren Signalausgänge an Eingängen von Codewandlern zur Codierung der
Kennungskombination der Rachbaugruppen liegen. Die Ausgänge der Codewandler sind an Biteingänge eines
Registers angeschlossen, dem die vollständige Information über den Typ der jeweiligen Flachbaugruppe
entnommen werden kann. Diese Information steuert dann die Prüfprogrammauswahl.
Eine Weiterbildung der Erfindung sieht eine zusätzliche
Gruppe von optoelektronischen Sendern und Empfängern vor, die beim Einstecken bzw. Ziehen der
Flachbaugruppe gegenseitig ent- bzw. gekoppelt sind. d.h. abwechselnd wirksam werden. Dabei sind die
Ausgänge der zusätzlichen Emfpänger über logische Schaltungen mit einem Schalter verbunden, der die dem
Erkennen des Flachbaugnippentyps dienenden Sender zum Zweck des Abtastens der Kennungen bzw. zum
Testen der Empfänger und der nachgeschalteten Auswerteeinrichtung kurzzeitig einschaltet
Im einzelnen sind dabei an beiden Enden der Kontaktleiste des Steckers in Steckrichtung hinter einanderliegende
Sender- und Empfängerkombinationen angeordnet, von denen jeweils zwei an verschiedenen
Enden der Kontaktleiste angebrachte, bezüglich der Steckrichtung in gleicher Höhe liegende Empfänger
ausgangsseitig parallel an einen Komparator angeschlossen sind. Der Ausgang des den in Steckrichtung
vorn liegenden Empfängern zugeordneten (Comparators ist über einen Inverter mit einem Setzeingang eines
aus zwei kreuzweise gekoppelten NAND-Gattern bestehenden R-S-Flip-Flops verbunden. Der Ausgang
des den in Steckriciitung hinten liegenden Empfängern
zugeordneten !Comparators ist unmittelbar mit einem Rücksetzeingang des R-S-Flip-Flops verbunden. Zwei
zueinander inverse Ausgänge des Flip-Flops sind — jeder für sich — mit dem Triggereingang je eines
Mono-Flops verbunden. Die Ausgänge der Mono-Flops sind mit zwei Eingängen eines ODER-Gatters verbunden,
dessen Ausgang an die Steuerelektrode des obenerwähnten Schalters angeschlossen ist
Zweckmäßig werden als Sender Fotodioden und als Empfänger Fototransistoren verwendet. Mit Vorteil
werden solche optoelektronischen Elemente benutzt, die mit Infrarotlicht arbeiten.
Die Erfindung wird anhand einer Zeichnung mit zwei Figuren näher erläutert
F i g. 1 stellt die Kontaktleisten einer Flachbaugruppe und den ihr zugeordneten Stecker schematisch dar.
In Fig.2 ist die für das Erkennen des jeweiligen
Flachbaugruppentyps vorgesehene Schaltung dargestellt.
In F i g. 1 ist an einer Flachbaugruppe Fbg eine Kontaktleiste KtI zu erkennen, die insgesamt aus
zweiundzwanzig Kontaktzungen besteht. Als Verriegelungskennungen sind bei der dargestellten Flachbaugruppe
zwischen dem fünften und sechsten Kontakt von links und dem drittletzten und zweitletzten Kontakt
Schlitze 5/1 bzw. 5/2 angeordnet. In den für den Betrieb der Flachbaugruppen vorgesehenen Steckern sind an
der gleichen Stelle Zapfen oder Nasen vorgesehen, die in diese Schlitze eingreifen. Es passen nur Flachbaugruppen
und Stecker zusammen, bei denen Schlitze und Zapfen übereinstimmen. Unterhalb der Kontaktleiste
KtI sind zwanzig in einer Reihe Öse angeordnete
5 optoelektronische Sender bzw. Empfänger I... 21 gezeichnet die in einem der Einfachheit halber nicht
dargestellten Stecker des Prüfautomaten für die Flachbaugruppen angebracht sind. Vier weitere Sender
bzw. Empfänger 22,23 und 24,23 sind in Steckrichlung
ίο vor der Reihe Öse liegend angeordnet Die Kontur der
Flachbaugruppe Fbg in eingesteckter Lage ist gestrichelt dargestellt Es ist zu erkennen, daß in dieser Lage
bis auf die in den Schlitzen 5/1 und 5/2 einander gegenüberliegende Sender und Empfänger S bzw. 20
is alle übbrigen Sender und Empfänger voneinander entkoppelt sind. Es ist vielleicht noch zum besseren
Verständnis anzuführen, daß die Sender und Empfänger senkrecht zur Zeichnungsebene hintereinanderliegen.
Die vier Sender- und Empfangskombinationen 22, 23 und 24, 25 dienen dabei dem Einschalten der
Erkennungsfunktion und beim Abziehen der zu prüfenden Flachbaugruppe Fbg dem Testen der
Erkennungsschaltung.
In der F i g. 2 ist im oberen Teil des Blockdiagramms
die Erkennungsschaltung und im unteren Teil die dem Einschalten und Ausschalten sowie der Prüfung der
Erkennungsschaltung dienende Schaltung dargestellt. Insgesamt zwanzig Fotodioden 1... 21 liegen in Reihe
über einen Widerstand ft I an einem positiven Potential gegenüber Masse. Der Siromfluß durch die Reihenschaltung
ist durch einen Schalttransistor Tr, der vor dem Masseanschluß liegt zu unterbrechen. Von den
Fotodioden 1... 21 ausgehende Lichtstrahlen können, wie angedeutet auf die Sperrschicht von gegenüber den
Fotodioden angeordneten Fototransistoren Γ...2Γ
gelangen. Ausgangsseitig sind die Fototransistoren an Komparatoren Kp i... Kp 21 angeschlossen. Die Ausgänge
der Komparatoren Kp 1... Kp 16 sind mit entsprechenden Eingängen eines Codewandlers Kw 1
verbunden. Ausgänge der Komparatoren Kp 18... Kp21 sind an entsprechende Eingänge eines
zweiten Codewandlers Kw 2 angeschlossen. In den Codewandlern Kw 1 und Kw 2 werden die eingangsseitigen
1 aus 16- bzw. 1 aus 4-Codes in ausgangsseitige
v, Dualcoden überführt Bitausgänge der Codewandler
Kw \ und Kw 2 sind an entsprechende Eingänge eines 6-Bit-Registers Reg angeschlossen. An Bitausgängen
des 6-Bit-Registers Reg steht der Inhalt des Registers
zur Steuerung des für die verschiedenen Prüflingstypen festgelegten Prüfprogramms zur Verfügung.
Vier weitere Fotodioden 22... 25 sind in Reihe über einen Widerstand R 2 ebenfalls an ein gegen Masse
positives Potential angeschlossen. Das von ihnen ausgehende Licht trifft auf Fototransistoren 22'... 25'.
von denen jeweils zwei ausgangsseitig parallel verbunden am Eingang von zwei weiteren Komparatoren
Kp 22' bzw. Kp 24' liegen. Der Ausgang des Komparators Kp 24' liegt über einen Inverter In an einem
Eingang eines ersten NAND-Gatters NANDi. Der
bo Ausgang des Komparators Kp 22' liegt unmittelbar an
einem Eingang eines zweiten NAND-Gatters NAND 2. Die Ausgänge der NAND-Gatter sind kreuzweise mit
zweiten Eingängen des jeweils anderen NAND-Gatters verbunden. Außerdem lieggen die Ausgänge der
tv, NAND Gatter NANDi und NAND2 an Triggereingängen
zweier Mono-Flops MFi und MF2. Ausgänge der Mono-Flops sind mit Eingängen eines ODER-Gatters
ODER verbunden. Der Ausgang des ODER-Gat-
ters liegt an einem Steuereingang des 6-Bit-Registers Reg und an der Steuerelektrode des Schalttransistors
Tr.
Bei der Betirachtung der Fig. 1 zusammen mit dem
unteren Teil der Fig.2 wird ersichtlich, daß beim Einstecken des Prüflings in den Stecker des Prüfautomaten
über die Dioden 22 und 23 das Mono-Flop MF2 gekippt wird und das Ausgangssignal des Mono-Flops
den Schalttransistor Tr betätigt, worauf die Fotodioden 1... 21 mit einem kurzen Impuls durchgeschaltet
werden. Das von den Fototransistoren I'... 21' empfangene Licht spricht über die Komparatoren
Kp 1... Kp 21 und die Codewandler Kw 1 und Kw 2 das
Register Reg an. In diesem Register wird die Kennung
des Prüflings gespeichert und für die Steuerung des Prüfprogramms bereitgehalten. Beim Herausziehen der
Flachbaugruppe Fbg aus dem Stecker wird über die
■> Dioden 24 und 25 und die ihnen entsprechenden
Fototransistoren 24' und 25' das Mono-Flop MFi betätigt. Es entsteht ein zweiter Einschaltimpuls für den
Transistor Tr. Weil der Prüfling inzwischen aus dem Stecker entfernt ist und deshalb das Licht zwischen allen
Dioden I...2I und Fototransistoren Γ...2Γ nichl
mehr abgedeckt ist, werden alle Empfänger aktivieri und alle Bits des Registers Reg gesetzt. Dies dient zur
Überprüfung der gesamten Erkennungsfunktion.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (8)
1. Prüfautomat für Flachbaugruppen verschiedenen Typs und entsprechend verschiedenen mechanischen Verriegelungskennungen im Bereich von
Kontaktleisten der Rachbaugruppen, dadurch gekennzeichnet, daß der Prüfautomat mindestens einen, keine Gegenverriegelungen enthaltenden Stecker aufweist und mit optoelektronischen
Sendern (1... 21) und Empfängern (I'... 21') zum optischen Abtasten der Verriegelungskennungen
(SIi, S/2) der Flachbaugruppen (Fbg) und einer
Aiiswerteeinrichtung (KpI...Kp22, KwX, Kw2,
Reg) für die Empfängersignale zum Erkennen des jeweils zu prüfenden Flachbaugruppentyps ausgestattet ist.
2. Prüfautomat nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die optoelektronischen Sender
(1...21) und Empfänger {V...2V) am Stecker angeordnet sind.
3. Prüfautomat nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die abgetastete Kennungskombination codiert ist
4. Prüfautomat nach Anspruch 1 oder einem der vorausgehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß den optoelektronischen Empfängern
(I'....21') Komparatoren (Kp 1...Kp21) nachgeschaltet sind, deren Signalausgänge an Eingängen
von Codewandlern (Kw 1, Kw 2) zur Codierung der Kennungskombination der Flachbaugruppen (Fbg)
liegen und die Ausgänge der Codewandler (Kw 1, Kw 2) an Biteingänge eines Registers (Reg) angeschlossen sind.
.5. Prüfautomat nach Anspruch 1 oder einem der vorausgehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß eine zusätzliche Gruppe von optoelektronischen Sendern (22... 25) und Empfängern
(ZS ... 25') vorgesehen ist, die beim Einstecken bzw.
Ziehen der Flachbaugruppen (Fbg) gegenseitig ent- bzw. gekoppelt sind und db Ausgänge der
zusätzlichen Empfänger (22'... 25') über logische Schaltungen (NANDi, NAND 2) mit einem Schalter (Tr) verbunden sind, der die dem Erkennen des
Flachbaugruppentyps dienender Sender (1... 21) zum Zwecke des Abtastens der Kennung (SIi, SI2)
bzw. zum Testen der Empfänger (I'... 21') und der nachgeschalteten Auswerteeinrichtung kurzzeitig
einschaltet
6. Prüfautomat nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß an beiden Enden einer Kontaktreihe
(Öse) des Steckers angeordnete, in Steckrichtung hintereinander liegende Sender- und Empfängerkombinationen (22... 25 bzw. 22'... 25'), von denen
jeweils zwei (22", 23' bzw. 24', 25') an verschiedenen Enden der Kontaktreihe (Öse) angebrachte, bezüglich der Steckrichtung in gleicher Höhe liegende
Empfänger ausgangsseitig parallel an einem Komparator (Kp 22' bzw. Kp 24') liegen und der Ausgang
des den in Steckrichtung vom liegenden Empfängern (24', 25') zugeordneten Komparator (Kp 24')
über einen Inverter (In) mit einem Setzeingang eines aus zwei kreuzweise gekoppelten NAND-Gattern
(NANDi, NAND2) bestehenden R-S-Flip-Flops, der Ausgang des den in Steckrichtung hinten
liegenden Empfängern (22', 23') zugeordneten Komparators (Kp22') unmittelbar mit einem Rücksetzeingang eines R-S-Flip-Flops verbunden sind
und zwei zueinander inverse Ausgänge des R-S-Flip-
Flops — jeder für sich — an den Triggereingang je
eines Mono-Flops (MFi, MF2) angeschlossen sind und die Ausgänge der Mono-Flops CAiFl, MF2) an
zwei Eingängen eines ODER-Gatters; (ODER) liegen, dessen Ausgang an der Steuerelektrode des
Schalters (Tr) liegt
7. Prüfautomat nach Anspruch 1 oder einem der vorausgehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die optoelektronischen Sender (1... 25)
ίο Fotodioden sind.
8. Prüfautomat nach Anspruch 1 oder einem der vorausgehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die optoelektronischen Empfänger
(V... 25') Fototransistoren sind.
is 9. Prüfautomat nach Anspruch 1 oder einem der
vorausgehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die optoelektronischen Sender und Empfänger (1... 25, Γ... 25') mit Infrarotlicht arbeilen.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19762641181 DE2641181C2 (de) | 1976-09-13 | 1976-09-13 | Prüfautomat fUr Flachbaugruppen verschiedenen Typs |
JP11040277A JPS5335961A (en) | 1976-09-13 | 1977-09-13 | Device for automatically testing plane module |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19762641181 DE2641181C2 (de) | 1976-09-13 | 1976-09-13 | Prüfautomat fUr Flachbaugruppen verschiedenen Typs |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2641181B1 DE2641181B1 (de) | 1978-01-05 |
DE2641181C2 true DE2641181C2 (de) | 1978-09-07 |
Family
ID=5987804
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19762641181 Expired DE2641181C2 (de) | 1976-09-13 | 1976-09-13 | Prüfautomat fUr Flachbaugruppen verschiedenen Typs |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5335961A (de) |
DE (1) | DE2641181C2 (de) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5647770A (en) * | 1979-09-26 | 1981-04-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Checking apparatus for printed board |
JPS61128956A (ja) * | 1984-11-28 | 1986-06-17 | オリンパス光学工業株式会社 | 焼灼止血装置 |
DE4413910A1 (de) * | 1994-04-21 | 1995-10-26 | Telefunken Microelectron | Verfahren zur Codierung von Leiterplatten |
DE202006020943U1 (de) | 2006-06-23 | 2011-02-17 | Reichhardt, Andreas, Dipl.-Ing. agr. | Elektromechanische Tastvorrichtung zur Abstandserfassung |
CN102288841B (zh) * | 2011-04-27 | 2014-04-16 | 株洲南车时代电气股份有限公司 | 一种通用测试接口的插件识别系统和方法 |
-
1976
- 1976-09-13 DE DE19762641181 patent/DE2641181C2/de not_active Expired
-
1977
- 1977-09-13 JP JP11040277A patent/JPS5335961A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5335961A (en) | 1978-04-03 |
DE2641181B1 (de) | 1978-01-05 |
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