DE2625183B2 - Datenverarbeitungseinrichtung - Google Patents

Datenverarbeitungseinrichtung

Info

Publication number
DE2625183B2
DE2625183B2 DE2625183A DE2625183A DE2625183B2 DE 2625183 B2 DE2625183 B2 DE 2625183B2 DE 2625183 A DE2625183 A DE 2625183A DE 2625183 A DE2625183 A DE 2625183A DE 2625183 B2 DE2625183 B2 DE 2625183B2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
register
loop
test
registers
data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE2625183A
Other languages
English (en)
Other versions
DE2625183A1 (de
DE2625183C3 (de
Inventor
Joan Henlow Bedfordshire Lennon
Brian John Welwyn Procter
David John Baldock Warner
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Services Ltd
Original Assignee
Fujitsu Services Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Services Ltd filed Critical Fujitsu Services Ltd
Publication of DE2625183A1 publication Critical patent/DE2625183A1/de
Publication of DE2625183B2 publication Critical patent/DE2625183B2/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2625183C3 publication Critical patent/DE2625183C3/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3185Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
    • G01R31/318533Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
    • G01R31/318558Addressing or selecting of subparts of the device under test

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)

Description

25
Die Erfindung bezieht sich auf eine Datenverarbeitungseinrichtung mit Verarbeitungsschaltungen und einer Vielzahl von internen Registern, die aus Schieberegisterkomponenten aufgebaut und nicht nur mit den Verarbeitungsschaltungen, sondern auch miteinander zur Bildung einer Schleife geschaltet sind, wobei die Dateninhalte der Register in der Schleife nacheinander in Umlauf gesetzt werden und eine Prüfeinrichtung durchlaufen, in der sie betrachtet oder geändert werden können.
Datenverarbeitungseinrichtungen enthalten üblicherweise viele interne Register, die verschiedene Funktionen ausführen. Beispielsweise können solche Register arithmetische Register sein, um Operanden oder die Resultate von Berechnungen zu speichern, oder sie können Steuerregister sein, um bestimmte Steuer- oder Zustandsinformationen zu halten, die beim Betreiben der Einrichtung erforderlich sind. Es ist häufig notwendig, Tests an derartigen Einrichtungen durchzuführen, beispielsweise, um die einwandfreie Arbeitsweise der Einrichtung zu prüfen, oder um Fehlerdiagnosen zu stellen. Derartige Tests erfordern die Möglichkeit, Zugang zu wenigstens einigen der internen Register zu haben, um ihren Inhalt zu prüfen oder Testbilder in sie einzuschreiben. Zu diesem Zweck ist es bereits bekannt (DT-AS 21 11 493), die internen Register als Schieberegister auszubilden und sie miteinander in Reihe zu schalten, damit eine Schleife entsteht. Die Dateninhalte der Register können deshalb in der Schleife nacheinander in Umlauf gesetzt werden und eine Prüfeinrichtung durchlaufen, in der sie betrachtet oder geändert werden können.
Eine bei dieser bekannten Einrichtung auftretende «> Schwierigkeit besteht darin, daß diese Einrichtung verhältnismäßig langsam arbeitet, d. h., daß verhältnismäßig viel Zeit erforderlich ist, um den Inhalt eines gewünschten Registers in die Prüfposition in Umlauf zu setzen, um den Inhalt zu betrachten, und dann die Schleife zurück in die ursprüngliche Position zu bringen. Aufgabe vorliegender Erfindung ist es somit, diese Schwierigkeit zu umgehen.
Gemäß der Erfindung wird dies durch einen Nebenpfad zum selektiven Nebenschließen der Prüfeinrichtung erreicht, wodurch Daten in der Schleife durch den Nebenpfad in Umlauf gesetzt werden, während der Inhalt der Prüfeinrichtung betrachtet wird. Dadurch wird die Flexibilität der Datenverarbeitungseinrichtung wesentlich erhöht Beispielsweise kann die Schleife in Umlauf gesetzt werden, bis der Inhalt des gewünschten Registers in der Prüfposition ist Das Inumlaufsetzen der Schleife kann dann unter Verwendung des Nebenpfades fortgesetzt werden, so daß der Inhalt des Registers in die ursprüngliche Position zurückgeführt wird, während gleichzeitig der Inhalt der Prüfposition betrachtet wird. Auf diese Weise wird erheblich an Zeit eingespart und die Arbeitsgeschwindigkeit der Prüfanordnung erhöht . Eine Weiterbildung der Erfindung ist im Unteranspruch gekennzeichnet
Nachstehend wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung in Verbindung mit der Zeichnung erläutert Es zeigt
F i g. 1 ein Blockschaltbild einer Datenverarbeitungseinrichtung,
F i g. 2 ein logisches Schaltbild, bei dem dargestellt ist, wie der Zugang zum Inhalt der internen Register der Einrichtung erfolgt und
F i g. 3 eine schematische Darstellung einer Möglichkeit für die Verteilung der Inhalte eines bestimmten Registers.
Nach F i g. 1 weist die Verarbeitungseinrichtung eine zentrale Verarbeitungseinheit 1 mit einer Anzahl von internen Registern 2 auf, die mit den verschiedenen Verarbeitungsschaltungen 3 der zentralen Verarbeitungseinheit 1 verbunden sind. Einige der Register 2 können beispielsweise Steuerregister sein, während andere arithmetische Register sein können. Der detaillierte Aufbau der Verarbeitungsschaliungen 3 und die speziellen Funktionen der Register 2 werden nicht im einzelnen beschrieben, da sie nicht Gegenstand vorliegender Erfindung sind. Die erfindungsgemäße Einrichtung weist ferner einen Hilfsprocessor 4 auf, der als der Ingenieursteuerprocessor (ECP) bezeichnet wird, welcher zur Durchführung von diagnostischen Tests an der zentralen Verarbeitungseinheit 1 verwen-" det werden kann. Der ECP kann ein konventioneller kleiner Processor sein, er wird hier nicht im einzelnen beschrieben.
Jedes der internen Register besteht aus einer oder mehreren herkömmlichen Schieberegisterkomponenten mit integrierter Schaltung, wobei jede Komponente vier Bits hält. Somit wird ein internes Register mit 32 Bits aus acht dieser Komponenten gebildet Normalerweise wird die Verschiebeaktion jeder Komponente unterdrückt, so daß sie einfach als eine Nicht-Schieberegisterkomponente wirkt; die Verschiebeaktion kann jedoch durch entsprechende, aufgegebene Steuersignale wirksam gemacht werden.
Diese Schieberegisterkomponenten sind miteinander in Serie geschaltet und bilden eine Vielzahl von Schleifen. Im Falle vorliegender Erfindung sind 32 solcher Schleifen mit bis zu 128 Bits (d. h. bis zu 32 Komponenten) in jeder Schleife vorhanden. Es ist nicht erfoi derlich, daß die Bits eines bestimmten Registers vollständig in einer einzigen Schleife vorhanden sind, oder daß diese Bits eine fortlaufende Folge von Positionen innerhalb einer Schleife einnehmen. Beispielsweise kann, wie nachstehend noch ausgeführt wird, ein bestimmtes 32-Bit-Register in vier Abschnitte zu acht Bits unterteilt sein, die in unterschiedlichen
Positionen in verschiedenen Schleifen angeordnet sein können.
Fig.2 zeigt eine der Schleifen, die eine Folge von ichieberegisterkomponenten SRO-SR 31 enthalten. Wie der Zeichnung zu entnehmen ist, sind diese Komponenten individuell mit den Verarbeitungsschaltungen 3 (Fig. 1) verbunden, damit die Verarbeitungsschaltungen parallel Zugriff zu den Registern erhalten können, wie dies während des normalen Betriebs der Einrichtung erforderlich ist Die Schleife wird durch einen Multiplexer 5, ein Testregister mit 32 Bits, und einen weiteren Multiplexer 7, der entweder den Ausgang des Registers 6 oder eines Nebenschlußpfades 8 auswählt, um eine Rückführung zum Anfang der Schleife zu erzielen, vervollständigt Die anderen Schleifen der Schieberegisterkomponenten (nicht dargestellt) sind in ähnlicher Weise mit anderen Eingängen des Mutliplexers 5 und mit dem Ausgang des Multiplexers 7 verbunden. Auf diese Weise sind die Multiplexer 5 und 7 und das Register 6 aller Schleifen gemeinsam.
Während der diagnostischen Aktion füllt der ECP ein Register 9 mit einer fünf-Bit-Adresse. Der Inhalt dieses Registers steuert den Multiplexer 5 und bewirkt daß eine der Schleifen ausgewählt wird. Der Inhalt des Registers 9 wird ebenfalls einer DecodiereinrichtunglO aufgegeben, die eine der Ausgangsleitungen 11 entsprechend der ausgewählten Schleife aktiviert Diese Ausgangsleitung 11 ist mit den Steuereingängen der Komponenten in der ausgewählten Schleife verbunden und macht die Verschiebeaktion dieser Komponenten wirksam.
Der ECP kann Verschiebeimpulse einer Eingangsleitung 12 aufgeben, die mit den Verschiebesteuereingängen aller Verschieberegisterkomponenten verbunden ist Dies bewirkt daß der Inhalt der Komponenten in der ausgewählten Schleife nach links (in der Zeichnung) um eine ein-Bit-Position für jeden Verschiebeimpuls verschoben wird. In ähnlicher Weise können Verschiebeimpulse aus dem ECP dem Testregister 6 über die Leitung 13 aufgegeben werden, damit sein Inhalt nach rechts verschoben wird. Der ECP steuert auch die Arbeitsweise des Multiplexers 7 und kann den Inhalt des Testregisters zu jedem beliebigen Zeitpunkt ein- und auslesen.
Die Anordnung nach F i g. 2 besitzt vier Betriebsarten. In der ersten Betriebsart wird der Multiplexer 7 so eingestellt daß er das Register 6 in Nebenschluß legt und Verschiebeimpulse werden nur der Leitung 12 aufgegeben. Dies bewirkt, daß der Inhalt der ausgewählten Schleife über den Nebenschlußpfad 8 in der Schleife in Umlauf gesetzt wird. Bei der zweiten Betriebsart wird der Multiplexer 7 so eingestellt daß er den Ausgang des Registers 6 auswählt, und Verschiebeimpulse werden beiden Leitern 12 und 13 aufgegeben. Dies bewirkt einen Umlauf der ausgewählten Schleife, wobei Bits der Schleife durch Bits des Registers 6 ersetzt werden. Bei der dritten Betriebsart wird der Multiplexer 7 so eingestellt daß er das Register 6 in Nebenschluß legt und es werden Verschiebeimpulse beiden Leitern 12 und 13 aufgegeben. Dies bewirkt daß der Inhalt der ausgewählten Schleife über den Nebenschlußpfad 8 in der Schleife in Umlauf gesetzt wird und gleichzeitig in das Register 6 eingeführt wird. Bei der vierten Betriebsart werden Verschiebeimpulse nur dem Leiter 13 aufgegeben, wodurch der Inhalt im Testregister 6 verschoben wird.
Um die Arbeitsweise der Einrichtung noch anschaulicher zu machen, sei angenommen, daß es erwünscht sei, den Inhalt eines bestimmten internen Registers mit 32 Bits in der Einrichtung durchzuprüfen. Eine Instruktion, die einen LESE-Befehl und die Identität des gewünschten Registers enthält wird dem ECP aufgegeben. Die erste Aktion des ECP bei Empfang dieser Instruktion besteht darin, eine gespeicherte Tabelle abzufragen, die
ίο zeigt wo der Inhalt aller internen Register in bezug auf die Schleifen positioniert ist Beispielsweise kann festgestellt werden, daß das in Frage kommende Register vier Teile mit acht Bits (Bits 0—7, 8—15, 16—23 und 24—31) aufweist die an Positionen innerhalb der Schleifen 1 und 2 angeordnet sind, wie schematisch in F i g. 3 angedeutet ist
Der ECP wählt nun die Schleife 1, indem die Adresse dieser Schleife in das Register 9 eingeführt wird, und der Inhalt dieser Schleife wird dann in Umlauf gesetzt (in der durch Pfeil in F i g. 3 angedeuteten Richtung), wobei die erste der oben angegebenen Betriebsarten verwendet wird, bis das Bit 0 des gewünschten Registers gerade am Eingang des Testregisters 6 erscheint Dann wird der Umlauf fortgesetzt wobei die dritte Betriebsart angewandt wird, bis die Bits 0—7 in das Testregister eingeschrieben worden sind.
Bei einer Rückkehr in die erste Betriebsart wird der Umlauf fortgesetzt bis Bit 8 gerade in das Testregister eingeführt wird. Dann wird die dritte Betriebsart wieder angewandt so daß Bits 8—15 in das Testregister eingeführt werden (wobei zur gleichen Zeit die vorher eingeführten Bits 0—7 verschoben werden). Daraufhin wird die erste Betriebsart angewandt und die Schleife zurück in die ursprüngliche Position in Umlauf gebracht.
Schließlich wird der Inhalt des Testregisters an das Ende dieses Registers verschoben, wobei die vierte Betriebsart angewandt wird, so daß er in rechtsbündiger Form vorliegt Der Inhalt des Testregisters kann nun durch den ECP ausgelesen werden.
Dann wird ein ähnlicher Vorgang durchgeführt, um die Bits 16—31 des Registers aus der Schleife 2 auszulesen.
Es sei nun angenommen, daß es erwünscht ist, ein vorbestimmtes Testbild in dieses Register einzuschreiben. Das Testbild wird zuerst in das Testregister (in rechtsbündiger Form) eingeführt Der gleiche Vorgang, wie vorstehend für das Auslesen des Registers beschrieben, schließt sich dann an, mit der Ausnahme, daß in diesem Fall die zweite Betriebsart anstelle der dritten Betriebsart angewandt wird. Diese Methode hat zur Folge, daß der Inhalt des Testregisters in das interne Register eingeführt wird, und daß gleichzeitig der ursprüngliche Inhalt des internen Registers in das Testregister eingeschrieben ist, wo er von dem ECP durchgeprüft werden kann.
Hieraus ergibt sich, daß die vorbeschriebene Einrichtung eine wirksame Methode zur Erzielung eines Zugriffes zu den Registern der Verarbeitungseinrichtung ergibt ohne daß ein getrennter Adressierpfad für jedes Register erforderlich wird. Da die Daten in Serie zwischen den Registern und dem Testregister übertragen werden, und da mehrere Register in jeder Schleife vorhanden sind, wird ferner die Anzahl von speziellen Dateiileitungen, die zur Übertragung dieser Daten erforderlich sind, auf einem Minimum gehalten.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (2)

Patentansprüche:
1. Datenverarbeitungseinrichtung mit Verarbeitungsschaltungen und einer Vielzahl von internen Registern, die aus Schieberegisterkomponenten aufgebaut und nicht nur mit den Verarbeitungsschaltungen, sondern auch miteinander zur Bildung einer Schleife geschaltet sind, wobei die Dateninhalte der Register in der Schleife nacheinander in Umlauf gesetzt werden und eine Prüfeinrichtung durchlau- ι ο fen, in der sie betrachtet oder geändert werden können, gekennzeichnet durch einen Nebenpfad (8) zum selektiven Nebenschließen der Prüfeinrichtung (6), wodurch Daten in der Schleife durch den Nebenpfad (8) in Umlauf gesetzt werden, während der Inhalt der Prüfeinrichtung (6) betrachtet wird.
2. Datenverarbeitungseinrichturg nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Diagnostikprozessor (4) vorgesehen ist, der Schiebesignale an die Schieberegisterkomponenten (SR) legt und Daten auf die Testposition (6) und von der Testposition (6) überträgt
DE2625183A 1975-07-02 1976-06-04 Datenverarbeitungseinrichtung Expired DE2625183C3 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB27875/75A GB1536147A (en) 1975-07-02 1975-07-02 Data processing systems

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE2625183A1 DE2625183A1 (de) 1977-01-13
DE2625183B2 true DE2625183B2 (de) 1978-11-16
DE2625183C3 DE2625183C3 (de) 1979-07-19

Family

ID=10266707

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE2625183A Expired DE2625183C3 (de) 1975-07-02 1976-06-04 Datenverarbeitungseinrichtung

Country Status (5)

Country Link
CH (1) CH612279A5 (de)
DE (1) DE2625183C3 (de)
GB (1) GB1536147A (de)
IN (1) IN146000B (de)
ZA (1) ZA763850B (de)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4312066A (en) * 1979-12-28 1982-01-19 International Business Machines Corporation Diagnostic/debug machine architecture
GB2121997B (en) * 1982-06-11 1985-10-09 Int Computers Ltd Testing modular data processing systems
EP0109770B1 (de) * 1982-11-20 1986-12-30 International Computers Limited Prüfen von digitalen elektronischen Schaltungen
DE3373729D1 (en) * 1983-12-08 1987-10-22 Ibm Deutschland Testing and diagnostic device for a digital calculator
EP0151653B1 (de) * 1983-12-15 1987-09-16 International Business Machines Corporation Vorrichtung zur Parallel-Serien/Serien-Parallelwandlung von aus variabler Länge bestehenden Bitkonfigurationen
US4692897A (en) * 1984-09-04 1987-09-08 Gte Communication Systems Corporation Arrangement for dynamic range checking or matching for digital values in a software system
DE68926265T2 (de) * 1988-06-22 1996-10-02 Toshiba Kawasaki Kk Selbstdiagnoseschaltung für einen logischen Schaltungsblock
TW200708750A (en) 2005-07-22 2007-03-01 Koninkl Philips Electronics Nv Testable integrated circuit, system in package and test instruction set

Also Published As

Publication number Publication date
IN146000B (de) 1979-02-03
AU1484776A (en) 1977-12-15
DE2625183A1 (de) 1977-01-13
GB1536147A (en) 1978-12-20
CH612279A5 (en) 1979-07-13
ZA763850B (en) 1977-05-25
DE2625183C3 (de) 1979-07-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2614000C2 (de) Diagnoseeinrichtung zur Prüfung von Funktionseinheiten
DE2328058C2 (de) Fehlerdiagnoseeinrichtung in einer digitalen Datenverarbeitungsanordnung
DE2550342C2 (de) Schaltungsanordnung zur Prüfung von Matrixanordnungen
DE2312707A1 (de) Pruefanordnung fuer einen computer
EP0010186B1 (de) Vorrichtung zum Bearbeiten bezeichneter Hinweise
DE4031136C2 (de)
DE2952631C2 (de) Schaltungsanordnung zur Diagnose einer Datenverarbeitungsanlage
DE2625183C3 (de) Datenverarbeitungseinrichtung
DE1935944B2 (de) Steuereinrichtung in einer elektronischen Datenverarbeitungsanlage
DE2054941C2 (de) Anordnung zur Auswahl von Datensätzen
DE1260532B (de) Speicher mit Kenn-Wert-Aufruf
DE2333749C3 (de) Anordnung zur Abfühlung datendarstellender magnetischer zylindrischer Einzelwanddomänen
DE2657118A1 (de) Anordnung zur verarbeitung von daten
DE2723706A1 (de) Einrichtung zum adressenvergleich
DE2403669A1 (de) Spezialcomputer
DE2235883C3 (de) Datenverarbeitungseinrichtung
DE2233164A1 (de) Schaltungsanordnung zur ausblendung eines beliebig waehlbaren bereichs einer bitfolge bei deren uebertragung zwischen zwei registern
DE3016738C2 (de) Verfahren zur Übertragung eines Bitmusterfeldes in einen Speicher und Schaltungsanordnung zur Ausübung des Verfahrens
DE2527236C3 (de) Anordnung zum Einsetzen von Daten in ein Register
DE1424756B2 (de) Schaltungsanordnung zum fehlergesicherten Einführen oder Wiedereinführer, von Programmen in den Hauptspeicher einer datenverarbeitenden Anlage
DE3016269C2 (de)
DE1195972B (de) Anordnung zum Durchfuehren einer Verzweigung bei einer programmgesteuerten Rechenmaschine
DE3237208C2 (de)
DE2258734B2 (de) Schaltungsanordnung zur ueberwachung der funktion einer aus elektronischen schaltelementen zusammengesetzten fahrzeug-steuervorrichtung
DE3917275C2 (de) Schnittstellenvorrichtung für eine Bedienungs-Prozessoreinheit in einem elektronischen Rechner

Legal Events

Date Code Title Description
C3 Grant after two publication steps (3rd publication)