DE2625183B2 - Datenverarbeitungseinrichtung - Google Patents
DatenverarbeitungseinrichtungInfo
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3185—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
- G01R31/318533—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
- G01R31/318558—Addressing or selecting of subparts of the device under test
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Description
25
Die Erfindung bezieht sich auf eine Datenverarbeitungseinrichtung mit Verarbeitungsschaltungen und
einer Vielzahl von internen Registern, die aus Schieberegisterkomponenten aufgebaut und nicht nur
mit den Verarbeitungsschaltungen, sondern auch miteinander zur Bildung einer Schleife geschaltet sind,
wobei die Dateninhalte der Register in der Schleife nacheinander in Umlauf gesetzt werden und eine
Prüfeinrichtung durchlaufen, in der sie betrachtet oder geändert werden können.
Datenverarbeitungseinrichtungen enthalten üblicherweise viele interne Register, die verschiedene Funktionen
ausführen. Beispielsweise können solche Register arithmetische Register sein, um Operanden oder die
Resultate von Berechnungen zu speichern, oder sie können Steuerregister sein, um bestimmte Steuer- oder
Zustandsinformationen zu halten, die beim Betreiben der Einrichtung erforderlich sind. Es ist häufig
notwendig, Tests an derartigen Einrichtungen durchzuführen, beispielsweise, um die einwandfreie Arbeitsweise
der Einrichtung zu prüfen, oder um Fehlerdiagnosen zu stellen. Derartige Tests erfordern die Möglichkeit,
Zugang zu wenigstens einigen der internen Register zu haben, um ihren Inhalt zu prüfen oder Testbilder in sie
einzuschreiben. Zu diesem Zweck ist es bereits bekannt (DT-AS 21 11 493), die internen Register als Schieberegister
auszubilden und sie miteinander in Reihe zu schalten, damit eine Schleife entsteht. Die Dateninhalte
der Register können deshalb in der Schleife nacheinander in Umlauf gesetzt werden und eine Prüfeinrichtung
durchlaufen, in der sie betrachtet oder geändert werden können.
Eine bei dieser bekannten Einrichtung auftretende «>
Schwierigkeit besteht darin, daß diese Einrichtung verhältnismäßig langsam arbeitet, d. h., daß verhältnismäßig
viel Zeit erforderlich ist, um den Inhalt eines gewünschten Registers in die Prüfposition in Umlauf zu
setzen, um den Inhalt zu betrachten, und dann die Schleife zurück in die ursprüngliche Position zu bringen.
Aufgabe vorliegender Erfindung ist es somit, diese Schwierigkeit zu umgehen.
Gemäß der Erfindung wird dies durch einen Nebenpfad zum selektiven Nebenschließen der Prüfeinrichtung
erreicht, wodurch Daten in der Schleife durch den Nebenpfad in Umlauf gesetzt werden, während der
Inhalt der Prüfeinrichtung betrachtet wird. Dadurch wird die Flexibilität der Datenverarbeitungseinrichtung
wesentlich erhöht Beispielsweise kann die Schleife in Umlauf gesetzt werden, bis der Inhalt des gewünschten
Registers in der Prüfposition ist Das Inumlaufsetzen der Schleife kann dann unter Verwendung des Nebenpfades
fortgesetzt werden, so daß der Inhalt des Registers in die ursprüngliche Position zurückgeführt wird, während
gleichzeitig der Inhalt der Prüfposition betrachtet wird. Auf diese Weise wird erheblich an Zeit eingespart und
die Arbeitsgeschwindigkeit der Prüfanordnung erhöht . Eine Weiterbildung der Erfindung ist im Unteranspruch
gekennzeichnet
Nachstehend wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung in Verbindung mit der Zeichnung erläutert Es
zeigt
F i g. 1 ein Blockschaltbild einer Datenverarbeitungseinrichtung,
F i g. 2 ein logisches Schaltbild, bei dem dargestellt ist,
wie der Zugang zum Inhalt der internen Register der Einrichtung erfolgt und
F i g. 3 eine schematische Darstellung einer Möglichkeit für die Verteilung der Inhalte eines bestimmten
Registers.
Nach F i g. 1 weist die Verarbeitungseinrichtung eine zentrale Verarbeitungseinheit 1 mit einer Anzahl von
internen Registern 2 auf, die mit den verschiedenen Verarbeitungsschaltungen 3 der zentralen Verarbeitungseinheit
1 verbunden sind. Einige der Register 2 können beispielsweise Steuerregister sein, während
andere arithmetische Register sein können. Der detaillierte Aufbau der Verarbeitungsschaliungen 3 und
die speziellen Funktionen der Register 2 werden nicht im einzelnen beschrieben, da sie nicht Gegenstand
vorliegender Erfindung sind. Die erfindungsgemäße Einrichtung weist ferner einen Hilfsprocessor 4 auf, der
als der Ingenieursteuerprocessor (ECP) bezeichnet wird, welcher zur Durchführung von diagnostischen
Tests an der zentralen Verarbeitungseinheit 1 verwen-" det werden kann. Der ECP kann ein konventioneller
kleiner Processor sein, er wird hier nicht im einzelnen beschrieben.
Jedes der internen Register besteht aus einer oder mehreren herkömmlichen Schieberegisterkomponenten
mit integrierter Schaltung, wobei jede Komponente vier Bits hält. Somit wird ein internes Register mit 32
Bits aus acht dieser Komponenten gebildet Normalerweise wird die Verschiebeaktion jeder Komponente
unterdrückt, so daß sie einfach als eine Nicht-Schieberegisterkomponente wirkt; die Verschiebeaktion kann
jedoch durch entsprechende, aufgegebene Steuersignale wirksam gemacht werden.
Diese Schieberegisterkomponenten sind miteinander in Serie geschaltet und bilden eine Vielzahl von
Schleifen. Im Falle vorliegender Erfindung sind 32 solcher Schleifen mit bis zu 128 Bits (d. h. bis zu 32
Komponenten) in jeder Schleife vorhanden. Es ist nicht erfoi derlich, daß die Bits eines bestimmten Registers
vollständig in einer einzigen Schleife vorhanden sind, oder daß diese Bits eine fortlaufende Folge von
Positionen innerhalb einer Schleife einnehmen. Beispielsweise kann, wie nachstehend noch ausgeführt
wird, ein bestimmtes 32-Bit-Register in vier Abschnitte zu acht Bits unterteilt sein, die in unterschiedlichen
Positionen in verschiedenen Schleifen angeordnet sein können.
Fig.2 zeigt eine der Schleifen, die eine Folge von
ichieberegisterkomponenten SRO-SR 31 enthalten.
Wie der Zeichnung zu entnehmen ist, sind diese Komponenten individuell mit den Verarbeitungsschaltungen
3 (Fig. 1) verbunden, damit die Verarbeitungsschaltungen parallel Zugriff zu den Registern erhalten
können, wie dies während des normalen Betriebs der Einrichtung erforderlich ist Die Schleife wird durch
einen Multiplexer 5, ein Testregister mit 32 Bits, und einen weiteren Multiplexer 7, der entweder den
Ausgang des Registers 6 oder eines Nebenschlußpfades 8 auswählt, um eine Rückführung zum Anfang der
Schleife zu erzielen, vervollständigt Die anderen Schleifen der Schieberegisterkomponenten (nicht dargestellt)
sind in ähnlicher Weise mit anderen Eingängen des Mutliplexers 5 und mit dem Ausgang des
Multiplexers 7 verbunden. Auf diese Weise sind die Multiplexer 5 und 7 und das Register 6 aller Schleifen
gemeinsam.
Während der diagnostischen Aktion füllt der ECP ein Register 9 mit einer fünf-Bit-Adresse. Der Inhalt dieses
Registers steuert den Multiplexer 5 und bewirkt daß eine der Schleifen ausgewählt wird. Der Inhalt des
Registers 9 wird ebenfalls einer DecodiereinrichtunglO aufgegeben, die eine der Ausgangsleitungen 11 entsprechend
der ausgewählten Schleife aktiviert Diese Ausgangsleitung 11 ist mit den Steuereingängen der
Komponenten in der ausgewählten Schleife verbunden und macht die Verschiebeaktion dieser Komponenten
wirksam.
Der ECP kann Verschiebeimpulse einer Eingangsleitung 12 aufgeben, die mit den Verschiebesteuereingängen
aller Verschieberegisterkomponenten verbunden ist Dies bewirkt daß der Inhalt der Komponenten
in der ausgewählten Schleife nach links (in der Zeichnung) um eine ein-Bit-Position für jeden Verschiebeimpuls
verschoben wird. In ähnlicher Weise können Verschiebeimpulse aus dem ECP dem Testregister 6
über die Leitung 13 aufgegeben werden, damit sein Inhalt nach rechts verschoben wird. Der ECP steuert
auch die Arbeitsweise des Multiplexers 7 und kann den Inhalt des Testregisters zu jedem beliebigen Zeitpunkt
ein- und auslesen.
Die Anordnung nach F i g. 2 besitzt vier Betriebsarten.
In der ersten Betriebsart wird der Multiplexer 7 so eingestellt daß er das Register 6 in Nebenschluß legt
und Verschiebeimpulse werden nur der Leitung 12 aufgegeben. Dies bewirkt, daß der Inhalt der ausgewählten
Schleife über den Nebenschlußpfad 8 in der Schleife in Umlauf gesetzt wird. Bei der zweiten Betriebsart wird
der Multiplexer 7 so eingestellt daß er den Ausgang des Registers 6 auswählt, und Verschiebeimpulse werden
beiden Leitern 12 und 13 aufgegeben. Dies bewirkt einen Umlauf der ausgewählten Schleife, wobei Bits der
Schleife durch Bits des Registers 6 ersetzt werden. Bei der dritten Betriebsart wird der Multiplexer 7 so
eingestellt daß er das Register 6 in Nebenschluß legt und es werden Verschiebeimpulse beiden Leitern 12 und
13 aufgegeben. Dies bewirkt daß der Inhalt der ausgewählten Schleife über den Nebenschlußpfad 8 in
der Schleife in Umlauf gesetzt wird und gleichzeitig in das Register 6 eingeführt wird. Bei der vierten
Betriebsart werden Verschiebeimpulse nur dem Leiter 13 aufgegeben, wodurch der Inhalt im Testregister 6
verschoben wird.
Um die Arbeitsweise der Einrichtung noch anschaulicher zu machen, sei angenommen, daß es erwünscht sei,
den Inhalt eines bestimmten internen Registers mit 32 Bits in der Einrichtung durchzuprüfen. Eine Instruktion,
die einen LESE-Befehl und die Identität des gewünschten Registers enthält wird dem ECP aufgegeben. Die
erste Aktion des ECP bei Empfang dieser Instruktion besteht darin, eine gespeicherte Tabelle abzufragen, die
ίο zeigt wo der Inhalt aller internen Register in bezug auf
die Schleifen positioniert ist Beispielsweise kann festgestellt werden, daß das in Frage kommende
Register vier Teile mit acht Bits (Bits 0—7, 8—15, 16—23 und 24—31) aufweist die an Positionen
innerhalb der Schleifen 1 und 2 angeordnet sind, wie schematisch in F i g. 3 angedeutet ist
Der ECP wählt nun die Schleife 1, indem die Adresse dieser Schleife in das Register 9 eingeführt wird, und der
Inhalt dieser Schleife wird dann in Umlauf gesetzt (in der durch Pfeil in F i g. 3 angedeuteten Richtung), wobei
die erste der oben angegebenen Betriebsarten verwendet wird, bis das Bit 0 des gewünschten Registers gerade
am Eingang des Testregisters 6 erscheint Dann wird der Umlauf fortgesetzt wobei die dritte Betriebsart
angewandt wird, bis die Bits 0—7 in das Testregister eingeschrieben worden sind.
Bei einer Rückkehr in die erste Betriebsart wird der Umlauf fortgesetzt bis Bit 8 gerade in das Testregister
eingeführt wird. Dann wird die dritte Betriebsart wieder
angewandt so daß Bits 8—15 in das Testregister eingeführt werden (wobei zur gleichen Zeit die vorher
eingeführten Bits 0—7 verschoben werden). Daraufhin wird die erste Betriebsart angewandt und die Schleife
zurück in die ursprüngliche Position in Umlauf gebracht.
Schließlich wird der Inhalt des Testregisters an das Ende
dieses Registers verschoben, wobei die vierte Betriebsart angewandt wird, so daß er in rechtsbündiger Form
vorliegt Der Inhalt des Testregisters kann nun durch den ECP ausgelesen werden.
Dann wird ein ähnlicher Vorgang durchgeführt, um die Bits 16—31 des Registers aus der Schleife 2
auszulesen.
Es sei nun angenommen, daß es erwünscht ist, ein vorbestimmtes Testbild in dieses Register einzuschreiben.
Das Testbild wird zuerst in das Testregister (in rechtsbündiger Form) eingeführt Der gleiche Vorgang,
wie vorstehend für das Auslesen des Registers beschrieben, schließt sich dann an, mit der Ausnahme,
daß in diesem Fall die zweite Betriebsart anstelle der dritten Betriebsart angewandt wird. Diese Methode hat
zur Folge, daß der Inhalt des Testregisters in das interne Register eingeführt wird, und daß gleichzeitig der
ursprüngliche Inhalt des internen Registers in das Testregister eingeschrieben ist, wo er von dem ECP
durchgeprüft werden kann.
Hieraus ergibt sich, daß die vorbeschriebene Einrichtung eine wirksame Methode zur Erzielung eines
Zugriffes zu den Registern der Verarbeitungseinrichtung ergibt ohne daß ein getrennter Adressierpfad für
jedes Register erforderlich wird. Da die Daten in Serie zwischen den Registern und dem Testregister übertragen
werden, und da mehrere Register in jeder Schleife vorhanden sind, wird ferner die Anzahl von speziellen
Dateiileitungen, die zur Übertragung dieser Daten
erforderlich sind, auf einem Minimum gehalten.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (2)
1. Datenverarbeitungseinrichtung mit Verarbeitungsschaltungen und einer Vielzahl von internen
Registern, die aus Schieberegisterkomponenten aufgebaut und nicht nur mit den Verarbeitungsschaltungen,
sondern auch miteinander zur Bildung einer Schleife geschaltet sind, wobei die Dateninhalte der
Register in der Schleife nacheinander in Umlauf gesetzt werden und eine Prüfeinrichtung durchlau- ι ο
fen, in der sie betrachtet oder geändert werden können, gekennzeichnet durch einen Nebenpfad
(8) zum selektiven Nebenschließen der Prüfeinrichtung (6), wodurch Daten in der Schleife
durch den Nebenpfad (8) in Umlauf gesetzt werden, während der Inhalt der Prüfeinrichtung (6) betrachtet
wird.
2. Datenverarbeitungseinrichturg nach Anspruch
1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Diagnostikprozessor (4) vorgesehen ist, der Schiebesignale an die
Schieberegisterkomponenten (SR) legt und Daten auf die Testposition (6) und von der Testposition (6)
überträgt
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Legal Events
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