DE2547938A1 - Verfahren und schaltungsanordnung zur pruefung von leitungen in geraeten der nachrichtentechnik - Google Patents

Verfahren und schaltungsanordnung zur pruefung von leitungen in geraeten der nachrichtentechnik

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    • G01R31/58Testing of lines, cables or conductors
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Description

  • Verfahren und Schaltungsanordnung zur Prüfung von Leitungen
  • in Geräten der Nachrichtentechnik Die vorliegende Erfindung behandelt ein Verfahren und eine Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens zur Prüfung und Messung von an Verdrahtungspunkte geführten Leitungen in Geräten oder Baugruppen der Nachrichtentechnik mit Hilfe zweier getrennt ansteuerbarer und in einem Koppelpunkt verschalteter Bauelemente unterschiedlicher Funktion, wobei jedem Verdrahtungspunkt des Prüflings ein Koppelpunkt der Prüfanordnung zugeordnet ist. Die in Nachrichtengeräten in immer stärkerem Masse angestrebte Miniaturisierung der einzelnen Baugruppen bedingt ein immer stärkeres Anwachsen der Leitungsverbindungen auf ihrer kleinerem Raum. Das klassische Durchklingeln der einzelnen Leitungsverbindungen ist längst überholt, da eine Übersicht über die Leitungsführungen in den meisten Fällen sehr schwierig ist.
  • Man ist zur Automatisierung der Leitungsprüfung übergegangen und hat Automaten geschaffen, die unter denkbar kürzestem Zeitaufwand ganze Anlagen überprüfen und zwar nicht nur auf Durchgang, sondern gleichzeitig auch den Isolationswiderstand der Leitungen untereinander mit messen. So sind auf dem Markt die verschiedensten Geräte erhältlich, die mit Programmsteuerung arbeiten und Verdrahtungsfehler in kürzester Zeit anzeigen. Dabei ist im Prüfgerät grundsätzlich jedem Verdrahtungspunkt des zu prüfenden Gerätes, kurz Prüfling genannt, eine Schaltungsanordnung zugeordnet, die eine Anzahl von Schaltungselementen, Relais, Transistoren, Dioden und ähnliche enthält. Diese Schaltungsanordnung soll im weiteren mit Koppelpunkt bezeichnet werden.
  • Bei diesen handelsüblichen Verfahren werden zur Überprüfung von Leitungsverbindungen mehrere solcher Koppelpunkte angewählt. Je mehr Leitungsverbindungen vorhanden sind, desto mehr Koppelpunkte müssen angesteuert werden. Hierbei wird zwar nacheinander geschehen, aber für den Messvorgang selbst müssen alle angewählten Koppelpunkte im Arbeitszustand sein.
  • Dies wird durch Zwischenspeicherung erreicht. So müssten beispielsweise in der Schaltungsanordnung nach der Fig. 1, in der der Prüfling P die Verdrahtungspunkte 1 mit 3 und mit n über die Leitungsverbindungen a und c verbunden hat, alle drei Verdrahtungspunkte gleichzeitig erfasst werden, nachdem die Koppelpunkte vorher der Reihe nach angesteuert und gespeichert wurden.
  • Dieses Verfahren ist zwar elektrisch einfach und schnell zu bewältigen, aber der Aufwand für dieses Verfahren, gegeben durch das Speicherverfahren und die Vielzahl der Ansteuerleitungen einschliesslich der Steuerverstärker, ist erheblich.
  • Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren zu finden, das einen wesentlich geringeren Aufwand erfordert und damit billiger in der Herstellung ist. Erfifldungsgemäss wird diese Aufgabe dadurch gelöst, dass die von 1 bis n geordneten Verdrahtungspunkte von der niederen zur höheren Ordnungszahl abgefragt, gemessen und dabei jeweils die Verdrahtungspunkte niederer Ordnung abgetrennt werden und dass die ansteuerbaren Bauelemente gleicher Funktion eines jedes Koppelpunktes zu je einer Matrix mit horizontalen und vertikalen Steuerleitungen verschaltet sind, wobei die ansteuerbaren Bauelemente sowohl von gleicher als auch von ungleicher Art sein können.
  • Dies Schaltungsanordnung stellt eine ganz wesentliche Vereinfachung der Mess- und Prüfanordnung dar. So wird die Zahl der erforderlichen Ansteuerleitungen wesentlich reduziert.
  • Der Aufwand nach dem erfindungsgemässenVerfahren beträgt nur noch 4tn Steuerleitungen für n Verdrahtungspunkte.
  • Anhand eines Ausführungsbeispieles, das in der Zeichnung dargestellt ist, wird die Erfindung im einzelnen erläutert.
  • Es zeigen die Fig. 1 das Prinzipschaltbild der gesamten Prüfanordnung mit einem Prüfling1 die Fig. 2 die Relaismatrix zu der Prüfanordnung und die Fig. 3 die Transistormatrix zu der Prüfanordnung.
  • In der Fig. 1 ist die Messanordnung mit ihrem Messystem M und den einzelnen KoppelpunktenK1 bis Kn dargestellt. ein Prüfling P ist zur näheren Erläuterung an die Messanordnung angeschlossen. Der Prüfling P hat n Verdrahtungspunkte mit den Ordnungszahlen 1, 2, 3, (n-1) und n. Davon sind die Verdrahtungspunkte 1 mit 3 durch die Leitungsverbindung a, und 3 mit n durch die Leitungsverbindung c, verbunden. Ferner sind die Verdrahtungspunkte 2 mit (n-1) über die Leitungsverbindung b mit einander verbunden.
  • Entsprechend hat die Messanordnung eine den Verdrahtungspunkten zugeordnete Anzahl Koppelpunkte K und zwar in diesem vorliegenden Beispiel gi, K2, E3, K (n-1) und Kn. Das Messystem M enthält einen Gleichspannungsgenerator G, ein Messinstrument DU zur Anzeige von Durchgang und Unterbrechung und ein weiteres Instrument IS, das den Isolationswiderstand an einem hochohmigen Widerstand RM misst.
  • In einem Koppelpunkt Kl sind ein Transistor Tsl, ein Relais Rsl mit einem Arbeitskontakt rsll und einem Ruhekontakt rsl2 und zwei Entkopplungsdioden Dii und D12 miteinander verdrahtet.
  • Diese Bauelemente sind in der folgenden Weise zusammengeschaltet: Die eine Kontaktfeder des Arbeitskontaktes rs liegt an einer Sammelschiene S, der sogenannten Speiseleitung, an die die gleichen Kontaktfedern aller Koppelpunkte von Kl bis Ku, angeklemmt und über die Speiseleitung S mit dem Pluspol des Generators G des Messystems M verbunden sind. Die zweite Kontaktfeder des Arbeitskontaktes rsii ist 1. direkt mit dem Verdrahtungspunkt 1, 2. über die Entkopplungsdiode D11 mit dem Kollektor des Transistors Tsi und 3. über die weitere Entkopplungsdiode D12 mit der ersten Kontaktfeder des Ruhekontaktes rs12 verbunden. Die zweite Kontaktfeder des Ruhekontakt es rsi2 ist mit der eritenKontaktfeder des Ruhekontaktes rs22, also dem Relais Rs2 der nächst höheren Ordnung verbunden. Die Entkopplungsdioden Dii und D12 sind in Stromflussrichtung geschaltet. Alle Ruhekontakte rsi2 bis rsn2 sind in Serie ihrer Ordnungszahl nach entsprechend geschaltet. Der letzte Ruhekontakt rsn2 ist mit der Abfrageleitung an den Punkt A angeschlossen.
  • Die Relais bzw. Transistoren der Koppelpunkte Kl bis Kn sind in Matrixanordnung (vgl. Fig. 2 und Fig. 3) mit Steuerleitungen verbunden. Diese Steuerleitungen sowohl in senkrechter als auch in waagerechter Richtung der Matrixanordnungen, wie sie in den Figuren 2 und 3 dargestellt sind, werden aus getrennten Steuerverstärkern, die jeder Zeile und Spalte zugeordnet sind, gesteuert und aus getrennten Stromversorgern gespeist, deren Minuspol mit dem Minuspol des Generator G der Messanordnung verbunden ist. Die eine Steuerleitung ist einmal an das eine Ende der Erregerwicklung beispielsweise von Relais Rsl, die mit einer weiteren Entkopplungsdiode DR1 in Reihe geschaltet ist, verbunden. Das andere Ende der Erregerwicklung ist direkt mit der zweiten Steuerleitung verbunden. In einer Matrix Mxl gemäss der Fig. 2 sind die Relais Rost bis Rsn verschaltet.
  • Die horizontale Steuerleitung HR1 bis HR (yn) ist an alle in Stromflussrichtung gepolte Entkopplungsdiode DRi bis DR (tun) und die vertikalen Steuerleitungen VR1 und VR (n) an das andere Wicklungsende der Relais Rsi bis Rsn angeschlossen.
  • Weitere Steuerleitungen sind in entsprechender Weise für die Transistoren Tsl bis Tsn vorgesehen. Diese Transistoren sind in gleicher Weise wie die Relaiswicklungen Rsl bis Rsn ebenfalls zu einer Matrix Mx2 gemäss der Fig. 3 zusammengefasst. Von den Transistoren Tsi bis Tsn sind die Emitter an die Horizontalen und ihre Basen an die vertikalen Steuerleitungen angeschlossen.
  • Die Funktion dieser Schaltungsanordnung nach Fig. 1 ist folgendermassen: Diese Schaltungsanordnung enthält zwei voneinander getrennte Stromzweige, und zwar einen hochohmigen und einen niederohmigen Stromzweig.
  • 1. Der hochohmige Stromzweig verläuft ausgehend von der Speiseleitung S, über beispielsweise den Arbeitskontakt rsii, den Verdrahtungspunkt 1 des Prüflings P, die Leitungsverbindung a in dem Prüfling P, Verdrahtungspunkt 3, die Diode D32, den Ruhekontakt rs32, über alle Ruhekontakte höherer Ordnung (rs32 bis rsn2) zur Abfrageleitung A, über den Vorwiderstand RV, den hochohmigen Messzweig, bestehend aus der Parallelschaltung des Messinstrumenres IS, den hochohmigen Widerstand RM und der Zenerdiode Dz, zur Masse, den Minuspol des Generators G.
  • 2. Der niederohmige Zweig verläuft ebenfalls ausgehend von der Speiseleitung S, über beispielsweise den Arbeitskontakt rsll, die Leitungsverbindung a, die Entkopplungsdiode D311 den angesteuerten Transistor Ts3, über Kollektor und Emitter über die Matrix Mx2 (Fig. 3) gegen Masse, dem Minuspol des Generators G.
  • Der Innenwiderstand des Generators G ist so ausgelegt, dass bei der Ansteuerung eines Transistors, beispielsweise Tsl, der Stromfluss in dem hochohmigen Zweig fast vqllig zusammenbricht.
  • A) Messung auf Durchgang: An dem Verdrahtungspunkt 1 des Prüflings P wird die erste Messung vorgenommen. In der Matrix Mxt der Fig. 2 wird an die Klemmen HR1 positives und VR1 negatives Potential gelegt. Das Relais RSi zieht an und der Arbeitskontakt rsii wird geschlossen und der Ruhekontakt rsi2 geöffnet. Es herrscht nun positives Potential an dem Verdrahtungspunkt 1 des Prüflings P und ebenfalls an den Verdrahtungspunkten 3 und n durch die Leitungsverbindungen a bzw. c. Nun fliesst ein Strom von dem Pluspol des Generators G über die Speiseleitung S, den Arbeitskontakt rsli, den Verdrahtungspunkt 1 des Prüflings P, die Leitungsverbindung a, den Verdrahtungspunkt 3 des Prüflings P, die Diode D32, die Ruhekontakte rs32 bis rsn, an den Punkt A der Abfrageleitung, den Widerstand RV und das Messinstrument IS zur Masse bzw. den Minuspol des Generators G.
  • Gleichzeitig fliesst ein Strom in dem Parallelzweig über den Verdrahtungspunkt n, der über die Leitungsverbindung c mit dem Verdrahtungspunkt 3 verbunden ist, die Diode Dn2 und den Ruhekontakt rsn dem Punkt A der Abfrageleitung, den Widerstand RV und das Messinstrument IS zu Masse bzw. den Minuspol des Generators G.
  • Im folgenden wird der Transistor Ts des nächsten Koppelpunktes K seiner Ordnung nach angesteuert, der zu dem Verdrahtungspunkt gehört, mit dem der erste Verdrahtungspunkt 1 verbunden ist. Dies trifft zu für den Verdrahtungspunkt 3 verbunden mit dem Verdrahtungspunkt 1 über die Verbindungsleitung a. Ist diese Leitungsverbindung a in Ordnung, so fliesst ein Strom durch die Diode D31, den Transistor Ts3 über die Matrix Mx2 der Fig. 3 mit den Punkten HTl und VT3 zur Masse gleich dem Minuspol des Generators G. Ist die Verbindung vom Verdrahtungspunkt 1 zum Verdrahtungspunkt 3 des Prüfling P in Ordnung, so wird das Instrument DU keinen Ausschlag mehr zeigen, da die Spannung am Generator G zusammengebrochen ist. Weist die Leitungsverbindung a einen Widerstand auf, so wird das Instrument DU eine diesem Widerstand proportionale Spannung anzeigen, einschliesslich der Schwellspannung der Diode D32.
  • Mit dieser Messung an dem Verdrahtungspunkt 1 ist die Prüfung hier abgeschlossen, Das Relais RSl wird abfallen lassen.
  • Nun wird das Relais RS2 angesteuert. der Kontakt rs2l wird geschlossen und rs22 geöffnet. An dem Verdrahtungspunkt 2 steht ein positives Potential. Dieser Verdrahtungspunkt 2 ist mit dem Verdrahtungspunkt (n-1) verbunden. Zur Prüfung der Leitungsverbindung b wird der Transistor Ts (n-l) angesteuert. Ist die Leitungsverbindung b in Ordnung, so zeigt das Instrument DU lediglich die Flusspannung der Diode D (n-1)2 an. Ist in der Verbindungsleitung b ein Widerstand, so zeigt das Instrument DU eine diesem Widerstand proportionale Spannung an, einschliesslich der Schwellspannung der Diode-D(n-1)2.
  • Die nächste Messung erfolgt am Verdrahtungspunkt 3. Hierzu wird das Relais RS3 angesteuert, zieht an. der Kontakt rs31 wird geschlossen und rs32 wird geöffnet. Es erfolgt die Prüfung der Verbindungsleitung c, die zum Verdrahtungspunkt n führt. Hierzu wird der Transistor Tsn angesteuert. Geht das Instrument DU auf Null zurück, ist die Verbindungsleitung c in Ordnung, wenn nicht, so hat sie einen hohen Widerstand oder gar keinen Durchgang.
  • Es werden somit alle Relais Rsi bis Rsn der Reihe nach, d.h.
  • ihrer Ordnung nach, angesteuert und jeweils die von dem zugehörigen Verdrahtungapunkt aus in Richtung der Verdrahtungspunkte höherer Ordnung hin gemessen, die die nächste Leitungsverbindung haben sollen. Damit wird jede Leitungsverbindung gesondert gemessen. Hierzu wird der zu dem Endpunkt der Leitungsverbindung gehörige Transistor angesteuert und die Leitungsverbindung überprüft.
  • B) Messung der Isolation: Die Messung der Isolation geschieht von einem Verdrahtungspunkt nach allen Verdrahtungspunkten höherer Ordnung hin. also beispielsweise wird der Verdrahtungspunkt (n-1) mit dem Relais Rs(n-1) angesteuert. Der Arbeitskontakt rs(n-1)1 wird geschlossen und der Ruhekontakt rs(n-1)2 wird geöffnet. Es herrscht ein positives Potential von dem Speiseleitungspunkt S her an den Verdrahtungspunkt (n-1). Über die Verbindungsleitung b herrscht das gleiche Potential an dem Verdrahtungspunkt 2 und auch über die Diols D22 an dem Ruhekontakt rs22 und allen Ruhekontakten nie derer Ordnung als der Ruhekontakt rs(n-t)2, da dieser geöffnet ist. Es kann kein Strom mehr gegen Masse fliessen, Kann aber ein Strom zu einer anderen Verbindungsleitung oder einem Verdrahtungspunkt höherer Ordnung fliessen, beispielsweise von der Verbindungsleitung b nach der Verbindungsleitung a, so kann dieser Strom nur über den Verdrahtungspunkt n nach Masse abfliessen ond zwar über die Diode Dn2, den Ruhekontakt rsn, Abfrageleitungspunkt A, Vorwiderstand RV und Messwiderstand RM zur Masse. Der Spannungsabfall an dem Messwiderstand RM wird dann durch das Instrument IS angezeigt.
  • Einen Sonderfall stellt ein Kontakt fehler an dem Steckkontakt beispelsweise des Verdrahtungspunktes 3 dar. Angenommen die Steckverbindung am Verdrahtungspunkt 3 sei unterbrochen, während die beiden Teilverbindungen der Verbindungsleitung a und c noch miteinander verbunden sind. Bei der Ansteuerung des Transistors Ts3, wie es für die Prüfung der Verdrahtungsleitung a gefordert ist, würde das Instrument DU ohne den Vorwiderstand RV den Ausschlag zeigen, der von dem Schwellwert der Diode Dn2 herrührt, Der Messtrom kann in diesem Fall nicht über den niederohmigen Zweig, der Verdrahtungspunkt 3, die Diode D31, den Kollektor-Emitterzweig des Transistors Ts3, die Matrix MxZ zur Masse abfliessen, sondern muss seinen Weg über den hochohmigen Zweig der Leitungsverbindung c, den Verdrahtungspunkt n, die Diode Dn2, den Ruhekontakt rsn2, die Abfrageleitung (Punkt A), den Vorwiderstand RV und die Messchaltung, bestehend aus dem hochohmigen Messwiderstand RM, dem Messinstrument IS und der parallelgeschalteten Zenerdiode Dz zur Masse gleich Minuspol des Generators G. Durch diesen Stromfluss wird die Zenerdiode Dz niederohmig und der am Vorwiderstand RV jetzt entstehende Spannungsabfall wird vom Instrument DU aufgezeigt und als Fehler bewertet, In dem Kollektorkreis des Transistors Tsl ist eine Diode D1i geschaltet. Diese Diode Dii und alle weiteren Dioden bis Dni haben die Aufgabe, einen Stromfluss, herrührend von einer positiven Ansteuerung der Basis dieses Transistors Tsi und aller weiteren Transistoren bis Tsn über die Einspeisung von der Matrix Mx2 und dem Punkt Hut1, zu vermeiden. Es könnte sonst eine positive Spannung über den Kollektor des Transistors Tsi in das Messystem gelangen.
  • Die Dioden D12, D22 bis Dn2 haben die Aufgabe, eine positive Spannung über die Ruhekontakte rsi2, rs22 und alle weiteren zu vermeiden, herrührend von einer Messung, wenn positives Potential von der Speiseleitung S über die gleichen Dioden höherer Ordnung in die hintereinander geschalteten Ruhekontakte gelangt.
  • In Serie zu den Erregerwicklungen der Relais in der Matrix Mxl der Fig. 2 sind die Dioden Drl bis DRn geschaltet. Diese Dioden haben die Aufgabe, zu verhindern, dass das positive Potential, das an einer waagerechten Einspeisungsschiene liegt, über andere Relais an Schaltpunkte gelangt, wodurch unerwünschte Relais zum Anziehen gebracht werden. beispielsweise das Relais Rsl soll anziehen. Die Schiene HRi bekommt positives und die Schiene VR1 negatives Potential. Uber die Erregerwicklung des Relais RS2 wird dieses positive Potential weiter geleitet über die Erregerwicklung des Relais Rs Nun+2) und würde somit an die Schiene HR2 gelangen. Es würden hier somit ebenfalls die Relais Rs (n+1) und Rs (tun+2) anziehen, da die senkrechte Schiene VR1 negatives Potential führt. Diese Dioden verhindern also, dass die Relaiswicklungen in der falschen Stromrichtung durchflossen werden.
  • Die Dioden D11 bis Dnl, D12 bis Dn2 und DR1 bis DRn haben lediglich die Aufgabe, dass in ihren Leitungen, in die sie eingeschaltet sind, die Stromrichtung nicht umgekehrt wird.
  • Es sind reine Entkopplungsdioden.
  • Leerseite

Claims (3)

  1. Patentansprüche Verfahrenund Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens zur Prüfung und Messung von an Verdrahtungspunkte geführten Leitungen in Geräten oder Baugruppen der Nachrichtentechnik mit Hilfe zweier getrennt ansteuerbarer und in einem Koppelpunkt verschaltet er Bauelemente unterschiedlicher Funktion, wobei jedem Verdrahtungspunkt des Prüflings ein Koppelpunkt der Prüfanordnung zugeordnet ist, dadurch gekennzeichnet, dass die von 1 bis n geordneten Verdrahtungspunkte von der niederen zur höheren Ordnungszahl (1 bis n) abgefragt, gemessen und dabei jeweils die Verdrahtungspunkte niederer Ordnung (1 bis n-1) abgetrennt werden und dass die ansteuerbaren Bauelemente gleicher Funktion (Rsl bis Rsn bzw. TB1 bis Tsn) eines jeden Koppelpunktes (Ki bis Kn) zu je einer Matrix (vgl.
    Fig. 2 und Fig. 3) mit horizontalen (HRi bis HR (#n) bzw.
    HT1 bis HT (leu) und vertikalen (VR1 bis VR (Yn) bzw. VT1 bis VT (>n) Steuerleitungen verschaltet sind.
  2. 2. Verfahren und Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens zur Prüfung von Leitungen nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die ansteuerbaren Bauelemente von gleicher Art sind.
  3. 3. Verfahren und Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens zur Prüfung von Leitungen nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die ansteuerbaren Bauelemente von ungleicher Art sind.
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