DE246502C - - Google Patents

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DE246502C
DE246502C DENDAT246502D DE246502DA DE246502C DE 246502 C DE246502 C DE 246502C DE NDAT246502 D DENDAT246502 D DE NDAT246502D DE 246502D A DE246502D A DE 246502DA DE 246502 C DE246502 C DE 246502C
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/20—Modifications of basic electric elements for use in electric measuring instruments; Structural combinations of such elements with such instruments
    • G01R1/203—Resistors used for electric measuring, e.g. decade resistors standards, resistors for comparators, series resistors, shunts

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5618227A (en) * 1992-09-18 1997-04-08 Mitsubushi Materials Corporation Apparatus for polishing wafer

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US5618227A (en) * 1992-09-18 1997-04-08 Mitsubushi Materials Corporation Apparatus for polishing wafer

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