DE2443470C3 - Elektrisch steuerbares Halbleiterbauelement - Google Patents
Elektrisch steuerbares HalbleiterbauelementInfo
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
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Description
40
Die Erfindung betrifft ein elektrisch steuerbares Halbleiterbauelement nach dem Oberbegriff des Patentanspruches
1.
Ein derartiges elektrisch steuerbares Halbleiterbauelement ist bekannt (DE-AS 11 79 644).
Halbleitermaterialien, in denen die dielektrische Relaxationszeit groß gegenüber der Lebensdauer der
Minoritätsträger ist, werden als Relaxationshalbleiter bezeichnet (vgl. »Physical Review Letters«, Bd. 30
[1973], Nr. 24 [11. Juni], Seiten 1200 bis 1202). Theoretische Untersuchungen und praktische Versuche
haben ergeben (vgl. »Phys. Rev. Β«, Bd. 5 [1972], Nr. 6 [15. März], Seiten 2154 bis 2175), daß bei entsprechender ■;■>
Wahl einer über eine injizierende Kontaktelektrode am Halbleiterkörper liegenden Spannung ein Punkt innerhalb
des Halbleiterkörpers vorhanden ist, in dem die lokale Leitfähigkeit ihren kleinsten Wert annimmt. Dies
gilt für eine in Sperr- und eine in Durchlaßrichtung &o
anliegende Spannung und folgt aus der charakteristischen
Bedingung np=n? (p, /7 = Ladungsträgerdichte
der Löcher beziehungsweise Elektronen; /j,·= Eigenleitungsdichte),
die in Relaxationshalbleitern in guter Näherung überall erfüllt ist.
Es ist Aufgabe der Erfindung, ein Halbleiterbauelement der eingangs genannten Art anzugeben, das diese
steuerbare lokale Leitfähigkeit zum Verstärken und
Schalten ausnutzt
Diese Aufgabe wird nach der Erfindung durch die Ausbildung nach den im kennzeichnenden Teil des
Patentanspruches 1 angegebenen Merkmalen gelöst
Das einen Vierpol bildende Halbleiterbauelement ermöglicht als Schalter sehr kleine Schaltzeiten. Im
Verstärkerbetrieb eignet es sich zur Verstärkung von Hochfrequenzsignalen. Weiterhin sind sowohl für den
Betrieb im Arbeitspunkt als auch für die Steuerung nur geringe Leistungen erforderlich. Schließlich sind die
elektrischen Eigenschaften (Kennlinien) des Halbleiterbauelements durch weitere Parameter, wie beispielsweise
Umgebungstemperatur und/oder Lichteinstrahlung, beeinflußbar, so daß damit weitere Steuerungsmöglichkeiten
bestehen.
Vorteilhafte Ausgestaltungen des Halbleiterbauelements nach der Erfindung sind in den kennzeichnenden
Teilen der Patentansprüche 2 und 3 angegeben.
Nachfolgend wird das Halbleiterbauelement nach der Erfindung an Hand der Zeichnung näher erläutert Es
zeigt
F i g. 1 ein Beispiel eines Halbleiterbauelements nach
der Erfindung, und
F i g. 2 ein Leitfähigkeits-Orts-Diagramm zur Erläuterung
der Leitfähigkeit in einem Halbleiterbauelement mit einem Relaxationshalbleiterkörper.
Bei dem Halbleiterbauelement nach F i g. 1 ist ein Halbleiterkörper aus einem Relaxationshalbleiter 10 mit
den Elektroden 1,2,3 und 4 versehen. Die Elektroden 1
und 2 sind injizierende Kontakte. Die Elektroden 3 und 4 können ohmsche Kontakte sein. Es genügt aber, wenn
von den Elektroden i und 2 nur eine injizierend ist. Die Elektroden 1 und 2 sind miteinander über eine
Gleichspannungsquelle V0, eine Steuerspannungsquelle Vs und einen Innenwiderstand R1 verbunden. Die
Gleichspannungsquelle Vo und die Steuerspannungsquelle V5 liefern jeweils eine Gleichspannung Uo und
eine Steuer-Wechselspannung Uy Zwischen den Kontakten
1 und 2 liegt eine Spannung Ux und fließt ein
Strom Ix.
Die Elektroden 3 und 4 sind miteinander über einen Lastwiderstand RA und eine Spannungsquelle VA
verbunden. Die Spannungsquelle Va erzeugt eine Gleichspannung Ua, bei der zwischen den Kontakten 3
und 4 ein Strom Iy fließt.
Die Ausdehnung der Elektroden 3 und 4 in x-Richtung (vergleiche das Achsenkreuz) beträgt L]. Der Halbleiterkörper
10 tTPt einem Querschnitt A hat zwischen den Elektroden 1 und 2 eine Länge Li und zwischen den
Elektroden 3 und 4 eine Breite D.
Zunächst wird der Leerlauf im Ausgangskreis, Iy—0,
betrachtet: Bei einem bestimmten Wert der Vorspannung Uxo gibt es im Halbleiterkörper 10 einen Punkt
X=Xc an dem die lokale Leitfähigkeit a = o(x) ihren
minimalen Wert annimmt. In der F i g. 2 ist der Verlauf a = a(x) schematisch dargestellt, wobei die Kurve 11
(Vollinie) für eine Vorspannung {Ux0)1 und die Kurve 12
(Strichlinie) für eine Vorspannung (Ux 0)2
> (Ux 0)1 gilt.
Aus den Grundgleichungen
ö = β(μρρ+μηη)υηά
σο = e (μρρι>+μ/,πο) mit
— Ladungsträgerdichten der Löcher beziehungsweise Elektronen,
Po, no — Ladungsträgerdichten der Löcher beziehungsweise Elektronen im Gleichgewicht,
Beweglichkeit der Löcher beziehungsweise Elektronen,
Po, no — Ladungsträgerdichten der Löcher beziehungsweise Elektronen im Gleichgewicht,
Beweglichkeit der Löcher beziehungsweise Elektronen,
e = Elemtarladung.und
π, = Eigenleitungsdichte
π, = Eigenleitungsdichte
folgt:
2 en, μπ
Der Verlauf von a(x) kann für eine in Durchlaßrich- ι η
tung anliegende Vorspannung durch die sogenannte »rekombinative Raumladungsinjektion« von Minoritätsträgern
erklärt werden. Dies bedeutet, die injizierten
Minoritätsladungsträger rekombinieren rasch mit Majoritätsladungsträgern,
so daß in einem schraffierten Bereich σ < σο ist
Dadurch und wegen des Bestrebens des Halbleiterkörpers ίΟ insgesamt, das heißt nach außen, neutral zu
bleiben, entsteht in einem Bereich M eine Anhäufung von Majoritätsladungsträgern. Dieser Raumladungsbereich
M schirmt einen Bereich G von den geschilderten Einflüssen ab, so daß dort E=IlOo, also das Ohmsche
Gesetz, mit E= Feldstärke und /= Stromdichte, Gültigkeit hat Im Punkt xc herrscht die maximale Feldstärke
Emax = IlOmin-
Bei dem Halbleiterbauelement nach der Erfindung wird nun die durch die angelegte Spannung Ux
steuerbare lokale Leitfähigkeit in der Umgebung von *-
zur Verstärkung eines Signals Us beziehungsweise zum
Schalten des Stromkreises zwischen den Elektroden 3 und 4 ausgenutzt Dies kann durch die Anordnung der
Elektroden 3 und 4 im Bereich B und durch die Wahl von Ua/Uo>\ bei einfacher Geometrie erreicht werden.
Wird nämlich die Spannung Ua ausreichend hoch gewählt, so führen schon relativ kleine Dichteschwankungen
in der p- beziehungsweise η-Leitfähigkeit (das heißt in ο=^ρρ+μηη)) zu erheblichen Spannungsschwankungen am Lastwiderstand Ra· Wie weiter unten
noch näher erläutert wird, sind selbst bei einer vollen Aussteuerung nur kleine Leistungen im Eingangsstromkreis
erforderlich.
Die Schaltung wird selbstverständlich bo ausgelegt,
daß zwischen den Elektroden 3 und 4 eine möglichst starke Änderung der Leitfähigkeit mit der Steuerspannung
auftritt. Das ist im Bereich B zu erwarten.
In der F i g. 2 ist der Leitfähigkeitsverlauf für den stationären Zustand Ux= Ux0 dargestellt. Dieser Zustand
stellt sich jedoch mit einer Zeitkonstante ein, die in der Größenordnung der Lebensdauer der Ladungsträger
liegt Da die Zeitkonstante ν etwa ΙΟ-9 s beträgt,
kann die Leitfähigkeit α auch durch Hochfrequenzsigia-Ie
(/"< 1 Iv = 1 GHz) gesteuert und für solche Signale eine
Verstärkung erzielt werden.
Es werden nun Abschätzungen der im Eingangsstromkreis benötigten kleinen Leistungen für einen
halbisolierenden η-leitenden GaAs-Halbleiterkörper als Relaxationshalbleiterkörper mit den folgenden Daten
gegeben:
JJo = 3 · W cm-3, po = 2,7 - 1(H cm-3,
Jj/= 9 - 105cm-3,
μπ = 4,5-103 cmWs, μρ = 225 cm2/Vs,
μπ = 4,5-103 cmWs, μρ = 225 cm2/Vs,
T= 295° K,
A = 4 · ΙΟ-3 cm2, L2 = 4,5 · 10-2Cm1P1
A = 4 · ΙΟ-3 cm2, L2 = 4,5 · 10-2Cm1P1
(Konzentration der Löcher an der Oberfläche
bei der Elektrode 1)> 102° crr.-3.
a) Polung der Spannung im Emgangsstromkreis
in Durchlaßrichtung
in Durchlaßrichtung
FQr eine wirksame minoritäisiadiinpsträgerinjektion
ist eine Spannung i/*o>13V erforderlich. Die obere
Grenze für ΖΛο ist durch Uxo=8O V gegeben, wobei fast
der ganze GaAs-Halbleiterkörper aus einem Verarmungigebiet
(σ < σο) besteht
Wählt man ίΛο=40 V, so folgt aus der Kennlinie:
Ix0 = 4 . 10-9A und die Verlustleistung
Ix0 = 4 . 10-9A und die Verlustleistung
beträgt:
Pxo = UxOho= 1,6· 10-7W._
Pxo = UxOho= 1,6· 10-7W._
Bei voller Aussteuerung! &l = 30 V beträgt die
Verlustleistung:
Px = γ Re',UJt) = 3· 10 8W,
wobei |Λ I =2 · ΙΟ-^Α.
b) Polung der Spannung im Eingangsstromkreis
in Sperrichtung
in Sperrichtung
Für Uxo ist die untere Grenze durch Ux 0=0,1 V und
die obere Grenze durch Ux0= 10 V gegeben.
Wählt man Ux 0=5 V, so folgt aus der Kennlinie:
Ixo = 3 · 10-'0A und die Verlustleistung
Ixo = 3 · 10-'0A und die Verlustleistung
beträgt:
PxO= 1,5· 10"9W-bei voller Aussteuerung
PxO= 1,5· 10"9W-bei voller Aussteuerung
mit|Üx| = 5Vund[/r| = 2 · 10-'°Asomit
Px = 5 · lO-io W.
Px = 5 · lO-io W.
Die untere Grenze für Ux0 kann durch tiefere
Temperatur und Lichteinstrahlung noch weiter herabgesetzt werden.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (3)
1. Elektrisch steuerbares Halbleiterbauelement mit einem Halbleiterkörper und mit vier den
Haltleiterkörper kontaktierenden Elektroden, von denen wenigstens eine einen injizierenden Kontakt
mit dem Halbleiterkörper bildet, und bei dem der Eingangsstromkreis mit einer Steuerspannungsquel-Ie
zwischen der ersten und der zweiten Elektrode und der Ausgangsstromkreis mit einem Lastwiderstand
zwischen der dritten und der vierten Elektrode angeschlossen sind, dadurch gekennzeichnet,
daß der Halbleiterkörper (10) aus einem Relaxationshalbleitermaterial besteht, daß die erste
Elektrode (1 oder 2) einen injizierenden Kontakt mit dem Halbleiterkörper bildet, und daß die dritte und
die vierte Elektrode (3,4) beiderseits eines Bereichs des Halbleiterkörpers (10) angebracht sind, in dem
der Verlaiir der elektrischen Leitfähigkeit zwischen
der ersten und der zweiten Elektrode (i, 2) im Betrieb auf Grund der zwischen der ersten und der
zweiten Elektrode (1,2) und der zwischen der dritten und der vierten Elektrode (3, 4) angelegten
Gleichspannung ein Minimum aufweist
2. Halbleiterbauelement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Relaxationshalbleitermaterial
aus halbisolierendem η-leitenden Galliumarsenid (GaAs) oder Galliumphosphid (GaP) oder n-leitendem
Zinkselenid (ZnSe) oder SbSJ oder Bii2Ge02o
oder einer., amorphen Halbleiterstoff oder CdSe oder CdTe oder golddotiertrm Silicium oder Selen
oder Germanium bei tiefen Temperaturen besteht.
3. Halbleiterbauelement nac1· Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß zwei oder drei der vier Elektroden (1, 2, 3, 4) ohmsche Kontakte mit dem
Halbleiterkörper (10) bilden.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2443470A DE2443470C3 (de) | 1974-09-11 | 1974-09-11 | Elektrisch steuerbares Halbleiterbauelement |
Applications Claiming Priority (1)
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DE2443470A DE2443470C3 (de) | 1974-09-11 | 1974-09-11 | Elektrisch steuerbares Halbleiterbauelement |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2443470A1 DE2443470A1 (de) | 1976-03-25 |
DE2443470B2 DE2443470B2 (de) | 1979-02-08 |
DE2443470C3 true DE2443470C3 (de) | 1979-10-04 |
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ID=5925439
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2443470A Expired DE2443470C3 (de) | 1974-09-11 | 1974-09-11 | Elektrisch steuerbares Halbleiterbauelement |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE2443470C3 (de) |
-
1974
- 1974-09-11 DE DE2443470A patent/DE2443470C3/de not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2443470B2 (de) | 1979-02-08 |
DE2443470A1 (de) | 1976-03-25 |
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