DE2425363A1 - Halbleiterinjektionslaser - Google Patents
HalbleiterinjektionslaserInfo
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 59
- 238000002347 injection Methods 0.000 title claims description 45
- 239000007924 injection Substances 0.000 title claims description 45
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 28
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 11
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- MDPILPRLPQYEEN-UHFFFAOYSA-N aluminium arsenide Chemical compound [As]#[Al] MDPILPRLPQYEEN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 3
- 125000005842 heteroatom Chemical group 0.000 claims 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 6
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 5
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 5
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 4
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 4
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 3
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000000407 epitaxy Methods 0.000 description 1
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 description 1
- PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N tellurium atom Chemical compound [Te] PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/30—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
- H01S5/32—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures
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- H01S2301/00—Functional characteristics
- H01S2301/18—Semiconductor lasers with special structural design for influencing the near- or far-field
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/30—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
- H01S5/32—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures
- H01S5/321—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures having intermediate bandgap layers
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/30—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
- H01S5/32—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures
- H01S5/323—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser
- H01S5/32308—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser emitting light at a wavelength less than 900 nm
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Description
Dipl.-lng. H. Sauerland · Dr.-lng. R. König · Dipl.-lng. K. Bergen
Patentanwälte · 4odo Düsseldorf 30 · Cecilienallee 7B · Telefon 433732
24o Mai 1974 29 373 B
RCA Corporation, 30 Rockefeiler Plaza, New York, N.Y. 10020 (V.St.A.)
"Hal"bleiterin.jektionslaser"
Die Erfindung betrifft einen Halbleiterinjektionslaser mit einem Körper aus einkristallinem Halbleitermaterial,
der eine erste Zone eines ersten·Leitungstyps, eine zweite Zone eines dem ersten entgegengesetzten Leitungstyps und eine zwischen der ersten und der zweiten Zone
gelegene dritte Zone aufweist, wobei wenigstens ein Teil der dritten Zone einen bei Anliegen einer Spannung
am Körper zur Lichterzeugung geeigneten Leitungstyp
besitzt.
Halbleiterinjektionslaser weisen allgemein Körper aus
einkistallinem Halbleitermaterial auf, die bei Anliegen einer Vorspannung Licht entweder im sichtbaren oder
infraroten Bereich aufgrund der Rekombination von Paaren von entgegengesetzt geladenen Ladungsträgern emittieren.
Solche Bauelemente weisen generell Zonen entgegengesetzten Leitungstyps auf, zwischen denen ein PN-Übergang
gebildet ist. Wenn der Übergang unter geeigneter Vorspannung steht, werden Ladungsträger des einen Typs
aus einer der Zonen in die andere injiziert, wo sich vorherrschend die Ladungsträger des entgegengesetzten Typs
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befinden, so daß Licht durch Rekombination erzeugt wird.
Zur Emission angeregter Strahlung bei Zimmertemperatur wurden verschiedene Ausführungen von Halbleiterinjektionslasern
angegeben, die einen optisch beschränkenden Hohlraum-Resonator zwischen Zonen entgegengesetzten Leitungstyps
aufweisen, in welchen die Strahlung durch Rekombination der Ladungsträger auftritt. Als Resonator
dient generell ein schmales Gebiet, das sich über den Halbleiterkörper zwischen den Enden und den Seitenrändern
des Körpers erstreckt. Eine optische Begrenzung wird gewöhnlich dadurch erreicht, daß die Körperzonen
auf jeder Seite des Resonators aus einem Material hergestellt werden, das einen niedrigeren Brechungsindex als
das Material des Resonators hat. Wenigstens eine Endfläche des Körpers ist teildurchlässig und bildet einen
Fabry-Perot-Resonator. Die in dem optisch begrenzenden Resonator erzeugte Strahlung wird daher durch die teil—
durchlässige Endfläche des Körpers in Form eines kohärenten Strahlenbündels emittiert.
Ein Problem bei solchen, einen optisch begrenzenden Resonator verwendenden Halbleiterinjektionslaser liegt in
der Divergenz des aus den Lasern emittierten Strahlungsbündels. Unter "Divergenz" des Strahlenbündels wird verstanden,
daß das Strahlenbündel nach seinem Austritt und mit zunehmender Entfernung von der Emissionsfläche des
Lasers in zunehmendem Maße streut. Generell emittieren diese Halbleiterinjektionslaser zwei Lichtkeulen, welche
voneinander divergieren. Daher nimmt die gesamte Querschnittsfläche des Strahlenbündels in einer Ebene rechtwinklig
zum PN-Übergang des Lasers längs der Strahlenachse mit zunehmendem Abstand vom Laser zu.
Bei Verwendung von Halbleiterlasern wird das emittierte
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Lichtstrahlenbündel auf ein Target gerichtet, und es ist erwünscht, daß -das Strahlenbündel als Punkt mit steuerbarer
Querschnittsfläche auf das Target trifft. Es ist daher auch erwünscht, daß das emittierte Strahlenbündel
eine Zylinderform, d.h. eine gleichmäßige Querschnittsfläche längs der Strahlenachse hat oder wenigstens nur
in minimalem. Umfang divergiert, so daß bei dem im optischen System zwischen dem Halbleiterlaser und dem Target
vorzusehenden Linsensystem zur Erzielung des gewünschten Lichtpunkts auf dem Target kein großer Aufwand getrieben
werden muß.
Ausgehend von einem Halbleiterinjektionslaser der eingangs angegebenen Art, schlägt die Erfindung zur Lösung
dieser Aufgabe vor, daß die zwischen der dritten Zone und jeder der ersten und zweiten Zonen liegenden Übergänge
HeteroÜbergänge sind, die sich bis zum Rand des Körpers erstrecken, und daß die dritte Zone eine geringere
Bandabstandsenergie als jede der ersten und zweiten Zonen hat, wobei die Abstandsenergiedifferenz zwischen
der dritten Zone und der ersten Zone geringer als diejenige zwischen der dritten Zone und der zweiten Zone ist.
Im folgenden wird die Erfindung anhand von in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispielen näher erläutert.1
Es zeigen:
Jl eine Schnittansicht auf ein Ausführungsbeispiel
des erfindungsgemäßen Halbleiterinjektionslasers;
_2 eine graphische Darstellung der Bandabstandsenergien
der Zonen des Halbleiterinjektionslasers gemäß Fig. 1;
Fig. 3 eine Schnittansicht auf ein anderes Ausführungsbeispiel
des erfindungsgemäßen Halbleiterinjektionslasers; und
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Fig. 4 eine graphische Darstellung der Bandabstandsenergie der Zonen des in Fig. 3 dargestellten
Halbleiterinjektionslasers.
In Figo 1 ist ein Ausführungsbeispiel des neuen Halbleiterinjektionslasers
insgesamt mit 10 bezeichnet. Der Halbleiterinjektionslaser 10 weist ein flaches Substrat 12
aus einem einkristallinen, hochleitenden N-Typ-Halbleitermaterial,
z.B. aus Galliumarsenid auf. Auf einer Oberfläche des Substrats 12 ist eine erste Zone 14 aus einkristallinem
N-leitendem Halbleitermaterial angeordnet. Eine zweite Zone 16 aus einkristallinem, hochleitendem
P-Halbleitermaterial ist über der ersten Zone 14 angeordnet,
und eine dritte Zone 18 aus einkristallinem Halbleitermaterial liegt zwischen der ersten Zone 14 und der
zweiten Zone 16. Die dritte Zone 18 hat einen Leitungstyp, der zur Erzeugung von Licht entweder im sichtbaren
oder infraroten Bereich geeignet ist, wenn der Injektionslaser 10 mit einer geeigneten Spannung vorgespannt wird.
Vorzugsweise ist die dritte Zone 18 P-leitend, da durch Elektroneninjektion eine wirksamere Lichterzeugung erreicht
werden kann. Jedoch kann die dritte Zone 18 auch N-leitend sein, um die Lichterzeugung durch Löcherinjektion
hervorzurufen. Es gibt daher einen PN-Übergang zwischen der dritten Zone 18 und entweder der zweiten Zone
16 oder der ersten Zone 14, wobei die Lage des PN-Übergangs von dem Leitungstyp der dritten Zone 18 abhängig
ist.
Die Übergänge 20 und 22 zwischen der dritten Zone 18 und jeder der ersten und zweiten Zonen 14 und 16 sind HeteroÜbergänge
und erstrecken sich im wesentlichen parallel zueinander bis zu wenigstens einem Rand des Halbleiterinjektionslasers
10. Es ist besonders wichtig, daß die dritte Zone 18 aus einem Halbleitermaterial besteht, das
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gemäß Pig. 2 eine niedrigere Bandabstandsenergie. als diejenige
des Halbleitermaterials jeder der ersten und zweiten Zonen 14 und 16 hat. Die Bandabstandsenergiedifferenz
zwischen der dritten Zone 18 und der ersten Zone 14 muß auch geringer als die Bandabstandsenergiedifferenz
zwischen der dritten Zone 18 und der zweiten Zone 16 sein. Die Bandabstandsenergiedifferenz zwischen der
dritten Zone 18 und jeder der ersten und zweiten Zonen 14 und 16 führt zu einem Unterschied im Brechungsindex
dsr Zonen. Vorzugsweise sollten die Bandabstandsenergiedifferenzen
eine solche Größe haben, daß das Verhältnis des Brechungsindexunterschiedes der dritten Zone 18 und
der zweiten Zone 16 zum Brechungsindexunterschied der dritten Zone 18 und der ersten Zone 14 in der Größenordnung
von 5 zu 1 liegt.
Es gibt verschiedene Halbleitermaterialien, insbesondere in der Gruppe III-V der Halbleiterverbindungen und deren
Legierungen, welche unterschiedliche Bandabstandsenergien haben und als Materialien für die Zonen des Lasers 10
brauchbar sind. So kann die dritte Zone 18 beispielsweise aus Galliumarsenid bestehen, und jede der ersten und zweiten
Zonen 14 und 16 kann aus Galliumaluminiumarsenid hergestellt
werden, das eine höhere Bandabstandsenergie als
Galliumarsenid besitzt. Die Bandabstandsenergie von GaI-liumaluminiumarsenid
kann durch Änderungdes Aluminiumanteils in der Verbindung variiert werden. In alternativer
Ausführung kann die dritte Zone 18 ebenso wie die ersten und zweiten Zonen 14 und 16 aus Galliumaluminiumarsenid
bestehen, wobei der Aluminiumanteil im Material der dritten Zone 18 entsprechend niedriger gewählt ist als der
Aluminiumanteil im Material jeder der ersten und zweiten Zonen, so daß die gewünschte Differenz in den Bandabstands
energien dieser Zonen erreicht wird. Bei einem Halbleiterinjektionslaser 10 $us Galliumarsenid und Galliumaluminium-
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arsenid oder vollständig aus Galliumaluminiumarsenid
kann das bevorzugte Verhältnis der Brechungsindexunterschiede dadurch eingestellt werden, daß die Bandabstandsdifferenz
zwischen der dritten Zone 18 und der ersten Zone 14 nicht größer als etwa 0,025 eV und die Bandabstandsenergiedifferenz
zwischen der dritten Zone 18 und der zweiten Zone 16 größer als etwa 0,1 eV gehalten werden.
Indem die erste Zone 14 aus Galliumaluminiumarsenid mit einem geringen Anteil an Aluminium in der Verbindung,
d.h.. Ga^_xAlxAs mit χ kleiner als etwa 0,03, gemacht
wird, kann die gewünschte Bandabstandsenergiedifferenz bei Werten von nicht mehr als 0,025 eV zwischen der
dritten Zone und der ersten Zone 14 eingestellt werden. Indem die zweite Zone 16 aus Galliumaluminiumarsenid
mit einem größeren Anteil von Aluminium in der Verbindung, d.h. Ga1 Al As mit y größer als 0,1, gemacht wird,
kann die gewünschte Bandabstandsenergiedifferenz auf mehr als 0,1 eV zwischen der dritten Zone 18 und der zw.eiten
Zone 16 eingestellt werden.
Die dritte Zone 18 kann vorzugsweise eine Dicke von etwa 2 Mikrometer haben, um eine hohe Spitzenleistung des
Lasers 10 zu gewährleisten. Je nach der gewünschten Spitzenleistung kann die dritte Zone 18 auch dünner oder
dicker gemacht werden. Der Halbleiterinjektionslaser 10
hat generell die Form eines rechtwinkligen Parallelepipeds. Er wird dadurch in die Form eines Fabry-Perot-Resonators
gebracht, daß zwei einander gegenüberliegende Seitenflächen und eine Endfläche reflektierend und die
andere Endfläche teildurchlässig gemacht werden. Zum Anschluß des Lasers 10 an eine geeignete Spannungsquelle
sind an der zweiten Zone 16 und dem Substrat 12 Anschlüsse
vorgesehen.
Es sei angenommen, daß bei dem Halbleiterinjektionslaser
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die dritte Zone 18 P-leitend ist und der PN-Übergang
des Lasers 10 der Übergang 20 zwischen der dritten Zone 18 und der ersten Zone 14 ist. Bei Anliegen einer Spannung
in Vorwärtsrichtung am PN-Übergang 20 werden Elektronen von der N-leitenden ersten Zone 14 in die P-leitende
dritte Zone 18 und Löcher aus der Zone 16 injiziert. Die injizierten Elektronen erfahren eine strahlende
Rekombination in der dritten Zone 18 mit dem Ergebnis, daß Licht in der dritten Zone 18 erzeugt wird.
Das Licht in der dritten Zone 18 breitet sich entlang der dritten Zone aus und wird aus der teildurchlässigen
Endfläche des Lasers 10 emittiert. Wie oben bemerkt, ergeben die Bandabstandsenergiedifferenzen zwischen den
Materialien der dritten Zone 18 und den ersten und zweiten Zonen 14 und 16 einen höheren Brechungsindex der
dritten Zone 18 als die Brechungsindices jeder der ersten und zweiten Zone 14 und 16. Dieser Brechungsindexunterschied
bewirkt, daß ein beträchtlicher Teil des erzeugten Lichts in der dritten Zone 18 begrenzt
wird. Da die Bandabstandsenergiedifferenz zwischen der dritten Zone 18 und der ersten Zone 14 jedoch sehr gering
ist, ist der Brechungsindexunterschied ebenfalls sehr klein, so daß ein Teil des Lichts aus der PN-Heteroübergangssperrschicht
20 in die erste Zone 14 streut. Indem man einen Teil des Lichts aus der dritten Zone
in die erste Zone 14 austreten läßt, wird die Möglichkeit des Betriebs in Transversalmoden höherer Ordnung
reduziert, was zu einer Verringerung der Divergenz der beiden aus dem Laser 10 emittierten Lichtkeulen führt.
So beträgt beispielsweise bei einem Halbleiterinjektionslaser
ähnlich dem Laser 10 aus Galliumarsenid und GaI-liumaluminiumarsenid
bei einer Bandabstandsenergiedifferenz zwischen der dritten Zone 18 und jeder der ersten
und zweiten Zonen 14 und 16 von etwa 0,1 eV die Divergenz
der beiden emittierten Lichtkeulen etwa 40 bis 50°,
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und eine Erhöhung der Bandabstandsenergiedifferenz zwischen
der dritten Zone 18 und jeder der ersten und zweiten Zonen 14 und 16 erhöht diese Divergenz weiter. Bei
dem beschriebenen Halbleiterinjektionslaser 10 wurde dagegen eine Strahlenbündeldivergenz von 14 bis 30° erzielt.
Daher liefert der beschriebene Halbleiterinjektionslaser 10 ein stärker zylinderförmiges Lichtstrahlenbündel,
und er ermöglicht die Verwendung eines einfacheren optischen Systems zwischen dem Laser und einem
Target zum Sammeln des Strahlenbündels in einem kleinen Punkt auf dem Target.
Ein Halbleiterinjektionslaser 10 mit einer N-leitenden
dritten Zone 18 arbeitet in der zuvor beschriebenen Weise, mit der Ausnahme, daß der PN-Übergang der Übergang 22
.zwischen der dritten Zone 18 und der zweiten Zone 16 ist. Das Licht wird durch Injektion von Elektronen und Löchern
aus den ersten und zweiten Zonen 14 bzw. 16 in die dritte Zone 18 erzeugt, in der die Rekombination stattfindet.
In Fig. 3 ist ein anderes Ausführungsbeispiel des neuen
Halbleiterinjektionslasers mit 100 bezeichnet. Der Halbleiterinjektionslaser 100 weist ähnlich dem Laser 10 gemäß
Fig. 1 ein flaches Substrat 112 aus einem hochleitenden, einkristallinen N-Halbleitermaterial, z.B. aus Ga!-*-
liumarsenid, eine auf einer Oberfläche des Substrats 112 aufgebaute erste Zone 114 aus einem einkristallinen, N-leitenden
Halbleitermaterial, eine über der ersten Zone 114 liegende zweite Zone 116 aus einem einkristallinen,
hochleitenden P—Halbleitermaterial und eine zwischen der
ersten Zone 114 und der zweiten Zone 116 liegende dritte
Zone 118 aus einkristallinem Halbleitermaterial auf. Die dritte Zone 118 weist jedoch zwei parallele Schichten
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118a und 118b auf, die entgegengesetzte Leitungstypen haben und daher zwischen sich einen PN-Übergang 121 bilden.
Wie bei dem in Fig. 1 dargestellten Halbleiterinjektionslaser 10 sind die Übergänge 120 und 122 zwischen
der dritten Zone 118 und jeder der ersten und zweiten
Zonen 114 bzw. 116 HeteroÜbergänge. Wie in Fig. 4 dargestellt
ist, besteht die dritte Zone 118 aus einem Material, dessen Bandabstandsenergie niedriger als die Bandabstandsenergie
des Halbleitermaterials jedes der ersten und zweiten Zonen 114 und 116 ist, wobei die Bandabstandsenergiedifferenz
zwischen der dritten Zone 118 und der ersten Zone 114 kleiner als die Bandabstandsenergiedifferenz
zwischen der dritten Zone 118 und der zweiten Zone 116 ist. Vorzugsweise sollte die Bandabstandsenergiedifferenz
eine solche Größe haben, daß das Verhältnis des Unterschieds der Brechungsindices der dritten Zone
118 und der zweiten Zone 116 zum Unterschied der Brechungsindices
der dritten Zone 118 und der ersten Zone 114 in der Größenordnung von 5 zu 1 liegt. Wenn die dritte Zone
118 aus Galliumarsenid hergestellt wird, ist zur Erzielung einer optimalen Betriebsweise vorzugsweise vorgesehen,
daß die P-leitende Schicht der dritten Zone 118 an die hohe Heteroübergangssperrschicht angrenzt. Der
Grund hierfür liegt darin, daß die Elektroneninjektion vom N-leitenden Material zum P-leitendem Material gegenüber
der Löcherinjektion vom P-leitenden Material in N-leitendes Material in Galliumarsenid bevorzugt, ist.
Wenn daher die dritte Zone 118 aus Galliumarsenid besteht,
so sollte die Schicht 118b P-leitßnd und die Schicht 118a N-leitend sein. Wenn der Halbleiterinjektionslaser
100 jedoch aus einem Material besteht, bei der die vorgenannte Bedingung nicht gilt, so kann die Lage
der P-leitenden und N-leitenden Schichten der dritten Zone 118 umgekehrt werden. Der Halbleiterinjektionslaser
100 arbeitet in derselben Weise wie der zuvor beschriebene
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Halbleiterinjektionslaser 10 und emittiert ein Lichtstrahlbündel mit relativ geringer Divergenz.
Die Herstellung des beschriebenen Halbleiterinjektionslasers kann durch epitaktisches Niederschlagen der Zonen
auf dem Substrat erfolgen, wobei die erste Zone zuerst, danach die dritte Zone auf der ersten Zone und schließlich
die zweite Zone auf der dritten Zone niedergeschlagen werden. Bei dem Halbleiterinjektionslaser 100 gemäß
Fig. 3 werden die beiden Schichten der dritten Zone nacheinander epitaktisch niedergeschlagen. Die Zonen werden
vorzugsweise durch Epitaxie aus der Flüssigphase niedergeschlagen. Dabei kann jede der Zonen aus einer erhitzten
Lösung aus dem Halbleitermaterial und einem geeigneten Dotierstoff in einem metallischen Lösungsmittel
epitaktis ch niedergeschlagen werden. So kann beispielsweise Galliumarsenid aus einer Lösung aus Galliumarsenid
in Gallium und Galliumaluminiumarsenid aus einer Lösung aus Galliumarsenid und Aluminium in Gallium niedergeschlagen werden. Tellur kann zu der Lösung als N-Dotierstoff
und Zink zu einer Lösung als P-Dotierstoff zugesetzt werden. Eine epitaktische Schicht kann aus
einer Lösung durch Abkühlen der Lösung niedergeschlagen werden.
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Claims (10)
- - 1t -RCA Corporation, 30 Rockefeller Plaza, New York, N.Y. 10020 (V.St.A.)Patentansprüche:T1.1 Halbleiterinjektionslaser mit einem Körper aus einkristallinem Halbleitermaterial, der eine erste Zone eines ersten Leitungstyps, eine zweite Zone eines dem ersten entgegengesetzten Leitungstyps und eine zwischen der ersten und der zweiten Zone gelegene dritte Zone aufweist, wobei wenigstens ein Teil der dritten Zone einen bei Anliegen einer Spannung am Körper zur Lichterzeugung geeigneten Leitungstyp besitzt, daurch gekennzeichnet , daß die zwischen der dritten Zone (18; 118) und jeder der ersten (14; 114) und zweiten (16;. 116) Zonen liegenden Übergänge (20, 22; 120, 122) HeteroÜbergänge sind, die sich bis zum Rand des Körpers (10, 100) erstrecken, und daß die dritte Zone eine geringere Bandabstandsenergie als jede der ersten und zweiten Zonen hat, wobei die Bandabstandsenergiedifferenz zwischen der dritten Zone (18; 118) und der ersten Zone (14; 114) geringer als diejenige zwischen der dritten Zone (18; 118) und der zweiten Zone (16; 116) ist.
- 2. Halbleiterinjektionslaser nach Anspruch 1, d a d u r ch gekennzeichnet , daß die Bandabstandsenergiedifferenzen zwischen der ersten Zone (18; 118) und der ersten (14; 114) und zweiten (16; 116) Zonen so gewählt sind, daß das Verhältnis des Unterschiedes der Brechungsindices der dritten und zweiten Zonen zum Unterschied der Brechungsindices der dritten und ersten Zonen in der Größenordnung von 5 zu 1 liegt.409881/0824
- 3. Halbleiterinjektionslaser nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die dritte Zone (18) einen PN-Übergang (20 oder 22) mit einer der ersten und zweiten Zonen (14, 16) bildet.
- 4. Halbleiterinjektionslaser nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die erste Zone (14) N-leitend, die zweite Zone (16) P-leitend und die dritte Zone (18) P-leitend sind.
- 5. Halbleiterinjektionslaser nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die dritte Zone (118) Schichten (118a, 118b) entgegengesetzten Leitungstyps aufweist, zwischen denen ein PN-Übergang (121) gebildet ist, wobei die Schichten im wesentlichen parallel zu den HeteroÜbergängen (120, 122) zwischen der dritten Zone (118) und den ersten und zweiten Zonen (114, 116) verlaufen.
- 6. Halbleiterinjektionslaser nach Anspruch 5» dadurch gekennzeichnet, daß die P-leitende Schicht (I18b) der dritten Zone (118) entlang dem HeteroÜbergang (122) zwischen der dritten Zone und der zweiten Zone (116) verläuft.
- 7. Halbleiterinjektionslaser nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die dritte Zone (18; 118) aus Galliumarsenid besteht und jede der ersten (14; 114) und zweiten (16; 116) Zonen aus Galliumaluminiumarsenid besteht, wobei der Aluminiumanteil in der ersten Zone geringer als der Aluminiumanteil in der zweiten Zone ist.409881 /0824
- 8. Halbleiterinjektionslaser nach Anspruch 7» dadurch gekennzeichnet, daß die Bandabstandsenergiedifferenz zwischen der dritten Zone (18; 118) und der ersten Zone (14; 114) nicht größer als etwa 0,o25 eV und die Bandabstandsenergiedifferenz zwischen der dritten Zone (18; 118) und der zweiten Zone (16; 116) größer als etwa 0,1 eV ist.
- 9. Halbleiterinjektionslaser nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß jede der Zonen (14, 16, 18; 114, 116, 118) aus Galliumaluminiumarsenid besteht, wobei der Aluminiumanteil in der dritten Zone (18; 118) kleiner als derjenige in jeder der ersten (14; 114) und zweiten (16; 116) Zonen und der Aluminiumanteil in der ersten Zone kleiner als derjenige in der zweiten Zone ist.
- 10. Halbleiterinjektionslaser nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Bandabstandsenergiedifferenz zwischen der dritten Zone (18; 118) und der ersten Zone (14; 114) nicht grosser als etwa 0,o25 eV und die Bandabstandsenergiedifferenz zwischen der dritten Zone (18; 118) und der zweiten Zone (16; 116) größer als etwa 0,1 eV ist.409881/0824Leerseite
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US00364665A US3855607A (en) | 1973-05-29 | 1973-05-29 | Semiconductor injection laser with reduced divergence of emitted beam |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2425363A1 true DE2425363A1 (de) | 1975-01-02 |
Family
ID=23435523
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19742425363 Withdrawn DE2425363A1 (de) | 1973-05-29 | 1974-05-25 | Halbleiterinjektionslaser |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3855607A (de) |
JP (1) | JPS5022589A (de) |
CA (1) | CA1013456A (de) |
DE (1) | DE2425363A1 (de) |
FR (1) | FR2232108A1 (de) |
GB (1) | GB1458426A (de) |
NL (1) | NL7407116A (de) |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5751276B2 (de) * | 1973-10-23 | 1982-11-01 | ||
US3938172A (en) * | 1974-05-22 | 1976-02-10 | Rca Corporation | Semiconductor injection laser |
JPS5235999B2 (de) * | 1974-08-26 | 1977-09-12 | ||
JPS5734671B2 (de) * | 1974-09-20 | 1982-07-24 | ||
FR2299730A1 (fr) * | 1975-01-31 | 1976-08-27 | Thomson Csf | Diodes electroluminescentes et leur procede de fabrication |
US3990101A (en) * | 1975-10-20 | 1976-11-02 | Rca Corporation | Solar cell device having two heterojunctions |
US4063189A (en) * | 1976-04-08 | 1977-12-13 | Xerox Corporation | Leaky wave diode laser |
US4235507A (en) * | 1977-09-16 | 1980-11-25 | Hitachi, Ltd. | Optical system to condense light from a semiconductor laser into a circular spot |
US4160258A (en) * | 1977-11-18 | 1979-07-03 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Optically coupled linear bilateral transistor |
NL184715C (nl) * | 1978-09-20 | 1989-10-02 | Hitachi Ltd | Halfgeleiderlaserinrichting. |
JPH01280368A (ja) * | 1988-05-06 | 1989-11-10 | Sharp Corp | 化合物半導体発光素子 |
RO102871B1 (en) * | 1990-04-20 | 1993-08-16 | Inst De Fizica Si Tehnologia M | High power laser diode |
US6996150B1 (en) | 1994-09-14 | 2006-02-07 | Rohm Co., Ltd. | Semiconductor light emitting device and manufacturing method therefor |
JPH11163458A (ja) * | 1997-11-26 | 1999-06-18 | Mitsui Chem Inc | 半導体レーザ装置 |
US6304583B1 (en) | 1999-07-26 | 2001-10-16 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Utilization of telluride quaternary nonlinear optic materials |
US6508960B1 (en) | 1999-07-26 | 2003-01-21 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Telluride quaternary nonlinear optic materials |
ES2371557T3 (es) * | 2005-08-11 | 2012-01-05 | Medimop Medical Projects Ltd. | Dispositivos de transferencia de fármacos líquidos para un correcto ajuste a presión a prueba de fallos en viales medicinales. |
US7830938B2 (en) * | 2008-12-15 | 2010-11-09 | Jds Uniphase Corporation | Laser diode |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3758875A (en) * | 1970-05-01 | 1973-09-11 | Bell Telephone Labor Inc | Double heterostructure junction lasers |
JPS502235B1 (de) * | 1970-09-07 | 1975-01-24 | ||
GB1273284A (en) * | 1970-10-13 | 1972-05-03 | Standard Telephones Cables Ltd | Improvements in or relating to injection lasers |
US3733561A (en) * | 1971-07-27 | 1973-05-15 | Bell Telephone Labor Inc | High power, fundamental transverse mode operation in double heterostructure lasers |
US3747016A (en) * | 1971-08-26 | 1973-07-17 | Rca Corp | Semiconductor injection laser |
-
1973
- 1973-05-29 US US00364665A patent/US3855607A/en not_active Expired - Lifetime
-
1974
- 1974-05-14 GB GB2124574A patent/GB1458426A/en not_active Expired
- 1974-05-15 CA CA200,034A patent/CA1013456A/en not_active Expired
- 1974-05-25 DE DE19742425363 patent/DE2425363A1/de not_active Withdrawn
- 1974-05-28 JP JP49060677A patent/JPS5022589A/ja active Pending
- 1974-05-28 NL NL7407116A patent/NL7407116A/xx not_active Application Discontinuation
- 1974-05-29 FR FR7418545A patent/FR2232108A1/fr not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US3855607A (en) | 1974-12-17 |
FR2232108A1 (de) | 1974-12-27 |
JPS5022589A (de) | 1975-03-11 |
CA1013456A (en) | 1977-07-05 |
GB1458426A (en) | 1976-12-15 |
NL7407116A (de) | 1974-12-03 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8130 | Withdrawal |