DE2356216A1 - Schaltungsanordnung zur messung der ladung von teilentladungen - Google Patents

Schaltungsanordnung zur messung der ladung von teilentladungen

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DE2356216A1
DE2356216A1 DE19732356216 DE2356216A DE2356216A1 DE 2356216 A1 DE2356216 A1 DE 2356216A1 DE 19732356216 DE19732356216 DE 19732356216 DE 2356216 A DE2356216 A DE 2356216A DE 2356216 A1 DE2356216 A1 DE 2356216A1
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voltage
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capacitor
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DE19732356216
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Eberhard Dr Ing Lemke
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Transformatoren und Roentgenwerk GmbH
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Transformatoren und Roentgenwerk GmbH
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/12Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing

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Description

  • Schaltungsanordnung zur Messung der Ladung von Teilentladungen Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung zur Messung der Ladung von Deilentladungen,bei der eine dem Teilentladungsstrom proportionale- Größe zu einem Integrationsglied zum Zwecke der Messung bzw. Auswertung geführt wird.
  • Um das Isoliervermögen von Isolierstoffen und Isolierungen für Hochspannungsgeräte und Bauteile zu beurteilen, ist es notwendig, die Teilentladungsvorgänge zu beurteilen.
  • Die verschiedenen Arten vonTeilentladungen lassen sich in drei grundlegende Entladungsarten an jeweils charakteristischen Anortdnungen aufteilen.
  • Entladungen an Spitzen und dünnen Drähten in Zuluft werden als Korona-Entladungen bezeichnet0 Entladungen, die sich auf der Oberfläche von Isolierstoffen unter der Wirkung einer beträchtlichen Tangential- oder Normalfeldstärke ausbilden, tragen den Namen Gleit-Entladungen. Schließlich werden Entladungen, die in gasförmigen Einschlüssen, in festen oder flSssigen Isolierstoffen entstehen, als Hohlraum-Entladungen bezeichnet. Der Mechanismus dieser genannten Entladungen ist einander sehr ähnliche Nach dem Erreichen der Einsatzfeldstärke setzt eine sprunghafte Ladungsträgerproduktion ein, Die erzeugten Ladungsträger.
  • schwächen in Enorm von Raum- oder Oberflächenladungen das elektrische Feld im Bereich der erhöhten Feldstärke, so daß die Trägererzeugung wieder unterbrechen wird. Erst nach dem Abfluß der gebildeten Ladungen bzw. nach dem Erhöhen der angelegten Spannung können weitere Entladungen auftreten. Diese Teilentladungen verursachen in der Regel im äußeren Stromkreis kurze Stromimpulse. Die zeitliche Dauer und die Form dieser Stromimpulse ist für die bestimmten Grundisolieranordnungen charakteristisch. Die Stromimpulse können auch als Störspannung oder S-törfeldstärke in einem bestimmten Frequenzbereich gemessen werden. Aussagekräftiger als die Messung der Störspannung oder Störfeldstarke von Teilentladungen mit selektiven Verfahren ist die breitbandige Messung der Teilentladungsgrößen, wie z.B. der Ladung von einzelnen Impulsen oder von Impulsfolgen.
  • Es sind nur wendige Verfahren bekannt, mit denen es möglich ist, die Teilentladungsimpulse zu bewerten.
  • Grundsätzlich kann z.B. die Beobachtung uld Registrierung der entladungen mit einem Zweistrabioszilloskop erfolgen, mit dem Strom und Spannung gleichzeitig aufgezeichnet werden0 Bei der Auswertung des vom Oszilloskop gelieferten Bildes kann auch eine Zuordnung der Teilentladungsimpulse- zu der bestimmten Phasenlage der Wechselspannung erfolgen. Die Auswertung des Auftretens der Teilentladungsimpulse unter Berücksichtigung der Phasenlage der Wechselspannung ist von Bedeutung, da dadurch die einzelnen Teilentladungsarten unterschieden werden können. Die Auswertung der Ladung der Teilentladungsimpulse ist jedoch nur mit der Einstel-lung eines bestimmten Schwellwertes der Hellsteweinrichtung möglich und damit nur umständlich oder nicht eakt auswertbar.
  • Es ist eine weitere Lösung dieses Meßproblems bekannt, die von einer Einrichtung zur Summierung von ladungsproportionalen Spannungsimpulsen über einen vorgebbaren Zeitbereich und einer Katodenstrahloszillographenröhre zur Sichtbarmachung der Teilentladungsvorgänge ausgeht. Dazu wird an das iblenksystem des Kitodenstrahloszillographen eine die Teilentladungsimpulse hervorrufende Prüfspannung, also die 50 Hz Wechselspannung gelegt, während das andere ,rblenksystem des Katodenstråhlosz'illographen mit einer Spannung beaufschlagt wird, die durch Summierung von Spannungsimpulsen, die den Ladungen der Teilentladung impulse entsprechen, gewonnen wird. Das erhaltene Oszillogramm enthält zwar alle Informationen über die zu analysierenden Teilentladungsimpulse, wie z.B.
  • diePhasenlage zur Prüfspannung. Die Impulsladung kann aus der jeweiligen Stufenhöhe und die Impulshäufigkeit aus der anzahl der Stufen ermittelt werden0 Die Gesamtladung, d.h. die Intensität des Sntladungsprozesses während eines bestimmten Zeitintervalles, z0B0 einer Periode der lrüfwechselspannung, kann durch die maximale Aus lenkung des Oszillographenstrahles in vertikaler Richtung ermittelt werden. Das bedeutet.
  • jedoch, daß die Auswertung entweder direkt am Oszillographenschirm vorgenommen werden muß oder erst über den Umweg über photochemische Verfahren. Die Auswertung ist damit nicht frei von subjektiven Fehlern.
  • Bei den bisher gebräuchlichen breitbandigen Meßverfahren wird eine aus dem Teilentladungskreis abgeleitete Spannung breitbandig verstärkt und der Spitzenwert dieser Spannung gelangt zur anzeige. Nach,vorausgegangener ,ichXung mit Impulsen bekannter Ladung kann auf'die Impulsladung geschlossen-werden. Die gemessene Spannungsamplitude entspricht jedoch nur dann der Iapulsladung, wenn die Formen der Eichimpulse und Teilentladungsimpulse übereinstimmen Anderenfalls kann es zu erheblichen Meßfehlern kommen. Ein weiterer Nachteil ist, daß bei der Bewertung nach diesem Verfahren Entladungsimpulse mit geringer Häufigkeit und hoher Amplitude stärker bewertet werden können als kleine Impulsamplituden mit großer Häufigkeit. Obwohl im zuletzt genannten Fall die je Zeiteinheit erzeugte Ladungsmenge, also die Intensität, wesentlich größ'er sein kann als im ersten Fall, Es ist daher wichtig, daß neben der Erfassung der maximalen Impulsladung sämtliche auStretender zntladungsimpulse mit erfaßt und entsprechand ihres zeitlichen Verlaufes ausgewertet werden.
  • Es ist Zweck der Erfindung, eine direkte Ludungsmessung zu ermöglichen, wobei das Meßergebnis unabhängig von der Form der Teilentladungsimpulse sein soll.
  • Der erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Schaltungsanordnung zur Messung der Ladung von reilentladungen anzugeben, mit Hilfe derer die Ermittlung der Imjulsladung von einzelnen Impulsen sowie der Summenladung von Impulsen über einen bestimmten Zeitintervall nach einem integrierenden Meßverfahren und somit eine vollstandige Beurteilung ermöglicht ist.
  • Die Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß eine dem Teilentladungsstrom proportionale Spannung an einem steuerbaren elektronischen Bauelement anliegt, das parallel zu einem Integrationsglied liegt, wobei das Integrationsglied aus einem Kondensator besteht, der auf einen konstanten Spannungspegel aufgeladen ist und die der abgeleiteten Ladung des Xondensators proportionale Differenz des Spannungspegels zur Anzeige an eine an sich bekannte Scheitelwertmeßeinrichtung gelangt.
  • Die Steuerung des elektronischen Bauelementes, welches parallel zu dem Integrationsglied liegt, erfolgt durch einen Strom, der dem Teilentladungsstrom direkt proportional ist und der die Bolge eines iSpannungssignales ist, welches in an sich bekannter V"eise über einen Vrid'erstand, der erdseitig im Teilentladungsprüfkreis eingeschaltet- ist, ausgekoppelt wird.
  • Es liegt im Rahmen der üblichen Technik, nach Bedarf Verstärkerbausteine zwischenzuschalten.
  • Der dem ursprünglichen Teilentladungsstrom direkt proportionale Steuerstrom für das elektronische Bauelement bewirkt die Entladung des zuvor auf den definierte-n Spannungspegel aufgeladenen Kondensator, womit die Spannungsänderung über dem Kondensator direkt der Ladung der Teilentladungen entspricht. Damit ist es auch möglich, z.B. die Ladung eines Teilentladungsimpulses zu messen.
  • Wird die pannung über dem Kondensator intermittierend auf einen Konstanten Spannungspegel aufgeladen, so ist es möglich, die Ladung der Teilentladungen kontinuierlich zu messen. Dazu wird im zweckmäßigerweise zwischen dem steuerbaren elektronis-chen Bauelement und den Kondensator ein weiteres Bauelement eingeschaltet, welches eine Schaltfunktion ausübt.
  • Dieses Bauelement wird durch ein Steuerteil, das Rechteckspannungen liefert, angesteuert, wodurch bei den einen Schaltzustand die Entladung des Kondensators ermöglicht ist, und bei dem anderen Schaltzustand die Auf ladung des Kondensators auf den konstanten Spannungspegel erfolgen kann. Die Zuführung dieser Ladespannung erfolgt zweckmäßigerweise über eine Diode.
  • Damit auch eine genaue Beurteilung des Auftretens von Teilentladungen in Bezug auf die jeweilige Phasenlage der Wechselspannung an Prüfling erfolgen kanns sind die vom Steuerteil abgegebenen Rechteckspannungsimpulse zeitlich verschiebbar und/oder in ihre-r Dauer veränderbar und/oder periodisch mit der die Teilentladungen verursachenden Prüfspannung erzeugbar. Bs ist auch vorgesehen, daß das Steuerteil einmalig Impulse erzeugt, also extern triggerbar ist. Die St'euerung des Prozesses, Laden des Kondensators und Entladen durch die Teilentladungsimpulse erfolgt vorteilhaft mit Hilfe des Steuerteils, dadurch daß dieses zwei Rechteckspannungen abgibt, die entgegengesetzte Polaritäten aufweisen, wobei die eine Rechteckspaiinung die Basis eines Transistors steuert, der die Schaltfunktion ausfahrt und die andere Rechteckspannung an der Diode anliegt, über die die intermittierende Aufladung des Kondensators erfolgt. ;t dieser Anordnung ist es auch möglich, impulslose Teilentladungen zu messen. Dazu ist es notwendig, daß die Ankopplung an den im Hochspannungskreis liegenden Widerstand galvanisch erfolgt. Die wirksame Stromverstärkung der Eingangsstufe kann dabei z.3. durch mehrere Transistoren, die in Darlingtonschaltung angeordnet sind, entsprechend der geforderten Meßempfindlichkeit erhöht werden. IIit der Schaltungsanordnung ist es auch möglich, die Ladung von Einzelimpulsen zu messen, indem anstelle der gesteuerten Aufladung des Meßkondensators über die Diode eine Auf ladung über einen Widerstand erfolgt, der zweckmäßigerweise mit der 3etriebsspannungsquelle für die Schaltungsanordnung verbunden ist.
  • Die Erfinduig soll nachstehend anhand eines Ausführungsbeispieles und einer Zeichnung näher erläutert werden. In der Zeichnung zeigen: Fig. 1 Grundschaltung zur Entladung eines Kondensators mit Hilfe eines steuerbaren elettronischen Bauelementes, Big, 2 Prinzipschaltung der Teilentladungsmeßeinrichtung, Fig. 3 Schaltungsanordnung zur gesteuerten Auf- und Entladung des Meßkondensators, Fig. 4 Spannungszeitverläufe an markanten Punkten der Schaltung nach Fig. 30 In der Fig. 1 ist eine Schaltungsanordnung dargestellt, die einen Meßkondensator Cm enthalt, der über einen Schalter S an eine Betriebsspannungsquelle Ub anschaltbar ist. Der Meßkondensator Cm wird bei geschlossenem Schalter S somit auf den Betrag der Spannung der Betriebsspannungsquelle Ub aufgeladen. Parallel zu dem Ließ kondensator Cm liegt die Kollektor-Emitter-Strecke eines Transistors T1. Die Basis des Transistors T1 ist über einen vliderstand RV an eine Spannung ue anschaltbar, die einen Basisstrom iB hervorruft. Betragt die Spannung ue= O, so ist die Emitter-Kolektorstrecke des Transistors T1 nichtleitend, somit kann keine Ladung von dem Meßkondensator Cnl entnommen werden, der damit auf der Spannung der Betriebsspannungsquelle Ub aufgeladen bleibt. Ist die Spannung ue 0, fließt durch den Vorvjiderstand RV ein Basisstrom iBs der der Spannung ue und dainit auch dem Teilentladungsstrom direkt proportional ist, da sich die Basis-Emitter-Spannung des Transistors T1 bei der Ansteuerung nur unwesentlich ändert. IlSolge der Stromverstärkung des Transistors T1 ruft der Basisstrom iB einen ihm proportionalen Kollektorstrom. i0 hervor, der einen Spannungsabfall Uc entsprechend dem Stromintegral am Meßkondensator Cm bewirkt. Dieser Spannungsabfall wird der weiteren Auswertung zugeführt. Durch Einschaltung eines Widerstandes RE in den Emitterkreis des Transistors T1 kann die Schaltung entsprechend den Anforderungenweiter linearisiert werden0 In der Fig. 2 ist die prinzipielle Verarbeitung der aus einem Hochspannungsprüfkreis 1 ausgekoppelten Teilentladungsimpulsein Blockschatbildern gezeigt. Der Hochspannungsprüfkreis 1 besteht aus der Hochspannungsprüfanlage HA, dem Erafling Pr, einer Koppelkapazität Ck, einer Meßimpedanz Ra. Die Ließimpedanz Ra liegt gt im erdseitigen Ende des Prüflinge Pr und über ihr wird eine Spannung uT abgenommen, die gemäß uT=RaxiT dem Teilentladungsstrom iT direkt proportional ist.
  • Nach der Verstärkung dieser Spannung mittels eines Breitbandverstärkers 2 auf V x uT und der ev. erforderlichen Polaritätsumkehr in einer Polaritätswahlstufe 3 erfolgt in einem Integrator 4 die Umwandlung der Spannung in einen ihr proportionalen Strom. Dieser Strom entlädt den.in dieser Figur nicht dargestellten Meßkondensator C0 Dieser Meßkondensator wird in den Meßpausen durch ein Steuerteil 5 stets wieder auf den gleichen Ausgangspegel aufgeladen. Die Spannungsänderung am Meßkondensator Cm wird mittels einer Bewertungsstufe 6 bewertet und danach zu einer Anzeigeeinrichtung 7 geführt, an der die Ladung abgelesen werden kann.
  • In der Fig. 3 ist eine mögliche Ausfahrung des Integrators dargestellt. Im Hinblick auf eine hohe Strom verstärkung können im Eingangskreis auch mehrere Transistoren T'1, T1 in Darlingtonschaltung eingesetzt werden.
  • Nach der Entladung des Meßkondensators Cm muß wieder seine Aufladung auf- einen bestimmten Spannungspegel erfolgen. Das geschieht durch das Steuerteil 5, das entweder periodisch mit der Frequenz der Prüfspannung (z.B. 50 Hz) oder auch einmalig (z.B. extern) getriggert wird. Die Auf ladung des Meßkondensators Cm erfolgt während der Meßpause mit einer positiven Steuerspannung.
  • In der Fig. 4a ist die Eingangsspa£nung ue, die an dem Vorwiderstand Rv anliegt, dargestellt. Dabei sind die Teilent ladungsimpulse als nadelförmige Spitzen dargestellt.' In der Fig. 4b ist der Verlauf der Rechteckspannungsiinpulse dargestellt, die den Meßkondensator Cm während der Meßpausen periodisch auf den konstanten Wert aufladen. In diesen Aufladezeiten wird gleichzeitig die Entladung des Meßkondensators Cm infolge des Fließens eines Kollektorstromes im Transistor T1 bei eventuell auftretendem Teilladungsstrom verhindert, indem ein als Schalter wirkender Transistor T2 durch eine negative Steuerspannung c in der Fig. 4 dargestellt, gesperrt wird. Während des Meßintervalls wird die in der Kurve b dargestellte Steuerspannung negativ und der Meßkondensator Cm wird über eine Diode D, die einen extrem hohen Sperrwiderstand besitzt, von der Steuerspannung aus dem Steuerteil 5 eptkoppelt. Gleichzeitig wird die in der Fig. 4 c dargestellt3 an der Basis des Transistors T2 anliegende Rechteckspannung positiv, so daß seine Kollektor-Emitter-Streckeleitend wirdg Beim Auftreten von Teilentladungen wird somit der Meßkondensator Cm allmählich entladen. Durch eine entsprechende Wahl des Meßkondensators Cm kann die Entladegeschwindigkeit und damit die Empfindlichkeit den jeweiligen Meßaufgaben angepaßt werden. In der Kurve in Fig0 4d list die Summenladung der Teilentladungsimpulse und in Fig. e ist die Ladung der einzelnen Impulse dargestellt. Zur Vermeidung von unerwünschten Entladungen infolge des Auftretens von Leckströmen erfolgt die Messung der Spannungsänderung u0 über den Meßkondensator Cm mit Hilfe eines Impedanzwandlers IW' der einen hohen Eingangswiderstand besitzt. Zur Einstellung der Arbeitspunkte der Transistoren T1 und T2 ist ein gewisser Ruhestrom erforderlich. Durch Einsatz eines Kompensationsnetzwerkes, bestehend aus einem Hilfswiderstand Rh wird die dabei auftretende Spannungsabsenkung am Meßkondensator Cm kompensiert.
  • Soll nicht das Stromintegral während eines längeren Meßintervallles, also die Summenladung z.B. während einer Periode der 50 Hz Prüfspannung gemessen werden, sondern das Strómintegral während der Dauer nur eines Teilentladungsimpulses, also in der Größenordnung von kleiner 1 s, also die Ladung eines Impulses, so ist die in der Fig. 3 gezeigte Schaltungsanordnung in der Weise abz4 andern, daß ein Widerstand Rms in der Fig.3 gestrichelt dargestellt, eingeschaltet und die Verbindung des Meßkondensators Cm über die Diode D zum Steuerteil getrennt wird. Dabei ist zu beachten, daß die durch den ';Jiderst-and E und den Meßkondensator Cm gebildete Zeitkonstante wesentlich größer sein muß als die Dauer eines Teilentladungsstromimpilses. In diesem Fall erfolgt beim Auftreten des Impulses eine Absenkung der Spannung über den Meßkondensator entsprechend der Ladung dieses Teilentladungsimpulses.
  • Danach wird wieder eine ruf ladung auf den Ausgangspegel mit der Zeitkonstante Cm X X erfolgen.
  • Die in der Fig. 3 dargestellte Schaltung ist ohne Abänderung auch zur Messung der Ladung von nicht impulsförmigen Teilentladungen geeignet. Voraussetzung ist eine Gleichspannungskopplung sämtlicher Übertragungsglieder. Auf einen Meßverstärker kann verzichtet werden, wenn in'der Eingangsstufe Transistoren mit hoher Stromverstärkung eingesetzt werden.

Claims (6)

Patentansprüche
1. Schaltungsanordnung zur Messung der Ladung von Teilentladungen, bei der eine dem Teilentladungsstrom proportionale Größe eine Integration erfährt, dadurch gekennzeichnet, daß' eine dem Teilentladungsstrom proportionale Spannung an einem steuerbaren elektronischen Bauelement (T1) anliegt, welches parallel zu dem Integrationsglied angeordnet ist, das aus einem auf einen konstanten-Spannungspegel geladenen Koninsator (Cm) besteht und die der abgeleiteten Ladung des Kondensators proportionale Differenz des Spannungspegels zur Anzeige an eine Scheitelwertmeßeinrichtung (7) gelangt.
2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,daß zwischen dem steuerbaren elektronischen Bauelement (T1) und dem Kondensator (Cm) ein weiteres steuerbares, eine Schaltfunktion ausübendes Bau element (T2) liegt, das mit einemSteuerteil (5), welches Rechteckspannungen liefert, in Verbindung steht, wodurch es bei dem einen Schalt zustand ermöglicht ist, die iAltladung des Kondensators entsprechend der ladung der Teilentladungen über das steuerbare Bauelement (T1) und es bei dem anderen Schalt zustand möglich ist, die ladung des Kondensators (Cin )über eine Diode vorzunehmen.
3o Schaltungsanordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die vom Steuerteil (5) abgegebenen Rechteckspannungsimpulse zeitlich verschiebbar und/oder in ihrer Dauer veränderbar sind und/oder periodisch mit der die Teilentladungen verursachenden Prüfspannung oder auch einmalig (extern triggerbar) erzeugbar sind.
4. Schaltungsanordnung nach Anspruch 3, dadurch aekennzeichnet, daß das Steuerteil (5) zwei Rechteckspannungen abgibt, die entgegengesetzte Polaritäten aufweisen und die eine Rechteckspannung an die Basis eines Transistors (T2), der die Schaltfunktion ausfahrt und die andere Rechteckspannung an die Diode (D) zur Aufladung des Meßkondensators (Cm) gelegt ist.
5. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zur Messung impulsloser Teilentladungen eine Gleichspannungsverstärkerstufe in Darlingtonschaltung die Eingangsstufe für die dem Teilentladungsstrom proportionale Spannung bildet und die Auskopplung die ser Spannung von einer im Hochspannungs-Prüflingskreis liegenden Meßimpedanz (Ra) galvanisch erfolgt.
6. Schaltungsanordnung nach aspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zur Messung der Ladung von Einzelimpulsen der Meßkondensator (Cm) über einen Widerstand ( X ) zur Aufladung auf einen konstanten Spannungspegel mit einer Gleichspannungsquelle verbunden ist.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016055515A1 (de) * 2014-10-07 2016-04-14 Thomas Betz Verfahren zum ermitteln von kenngroessen eines teilentladungsvorgangs

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2016055515A1 (de) * 2014-10-07 2016-04-14 Thomas Betz Verfahren zum ermitteln von kenngroessen eines teilentladungsvorgangs

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