DE2341030A1 - Verfahren und vorrichtung zur herstellung einer farbbildroehre - Google Patents

Description

Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung einer Farbbildröhre

Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Herstellung einer Farbbildröhre, bei dem zur Ausbildung eines Leuchtschirms das aus einer Belichtungseinrichtung auftretende Belichtungslicht durch eine perforierte Maske auf Leuchtstoffe projiziert wird, die auf der Frontschale aufgebracht sind. Im einzelnen ist die Erfindung auf die Herstellung des Leuchtschirms einer Farbbildröhre vom Schattenmaskentyp gerichtet.

Bei einer derartigen Farbbildröhre werden auf dem Leuchtschirm Tripel von Farbstoffpunkten für die Abstrahlung verschiedener Farben aufgebracht, die den verschiedenen Perforationen zugeordnet sind. Die einzelnen Punkte der Tripel können durch

in Elektronenstrahlen zum Leuchten angeregt werden, die jeweils

zugeordneten Elektronenstrahlkanonen erzeugt werden. Um

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Farbbilder von großer Farbreinheit über der gesamten Fläche des Leuchtschirms erzeugen zu können, ist es aus diesem Grunde notwendig, daß die Perforationen der Schattenmaske genau mit den zugeordneten Tripein von Leuchtstoffpunkten zusammenfallen; mit anderen Wörtern sollten die Elektronenstrahlen genau auf den zugeordneten Leuchtstofftripein auftreffen.

Der Leuchtschirm einer Farbbildröhre des oben genannten Typs wird mit Hilfe einer fotografischen Technik ausgebildet. Fotoempfindliche Schichten werden auf der Innenwandung der Frontschale aufgebracht und dem von einer Punktlichtquelle abgestrahlten und durch die Perforationen der Schattenmaske hindurchtretenden Licht ausgesetzt. Danach werden die nicht dem Licht ausgesetzten Teile der Leuchtstoffilme entwickelt und entfernt.

Die während des normalen Betriebs der Farbbildröhre benutzten Elektronenstrahlen sind der Abtastablenkung und der durch die dynamische Konvergenz hervorgerufenen Ablenkung unterworfen, während das im Herstellungsprozeß des Leuchtschirmes zur Belichtung der fotoempfindlichen Filme benutzte Lichtfeld derartigen Ablenkungen nicht unterworfen ist, so daß der Lichtstrahl und die Elektronenstrahlen unter unterschiedlichen Einfallswinkeln auf die Leuchtstoffpunkte auftreffen. Solange keine geeignete Maßnahme für die Kompensation der Wegunterschiede des Belichtungslichtstrahls und der Elektronenstrahlen

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ergriffen werden, geht aus diesem Grunde die gewünschte Beziehung zwischen den Elektronenstrahlbrennflecken und den zugeordneten Leuchtstoffpunkten verloren. Mit anderen Worten: die Mittelpunkte der Elektronenstrahlen und die Mittelpunkte der Leuchtstoffpunkte fallen nicht miteinander zusammen, wo- ' durch sowohl die Farbreinheit als auch der Farbton verschlech- ₍ tert werden. In einer Farbbildröhre wird der Punkt, der als derjenige Punkt aufgefasst werden kann von dem der abgelenkte i Elektronenstrahl ausgeht, als "Ablenkzentrum¹¹ bezeichnet. Das : Ablenkzentrum bewegt sich auf die Frontschale oder Frontplatte ■ längs der Kolbenachse zu, wenn der Ablenkwinkel zunimmt. Dieses Phänomen wird als Δ p-Charakteristik bezeichnet. In einer

Farbbildröhre vom Schattenmaskentyp, in der drei Elektronenstrahlkanonen an den Ecken eines gleichseitigen Dreiecks angeordnet sind bewegen sich die Ablenkzentren der entsprechenden Elektronenstrahlen von der Kolbenachse fort, da die dynamische ! Konvergenz für den Zweck des Zusammenführen der drei Elektronen-f strahlen für die drei Grundfarben benutzt wird; dieses Ver- j Schiebephänomen wird als Δ s-Charakteristik bezeichnet. Die durch diese Δρ~ und As-Charakteristiken hervorgerufene Farbtonfehlanpassung wird weiter unten anhand eines Tripeis aus Elektronenstrahlbrennflecken diskutiert, wie es in einer Farbbildröhre vom Schattenmaskentyp benutzt wird. Das Tripel besteht aus einem Fleck des Blau-Elektronenstrahls, einem Fleck des Rot-Elektronenstrahls und einem Fleck des Grün-Elektronenstrahls.

Das Tripel der Elektronenstrahlflecken einer Dreifarben-Bildröhre vom Schattenmaskentyp wird beim Fehlen einer Elektronen-

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strahlablenkung als gleichseitiges Dreieck in der Mitte des Leuchtschirms ausgebildet. Wenn aber das Ablenkζentrum eines Elektronenstrahls infolge der Δρ-Charakteristik längs der Kolbenachse auf den Leuchtschirm zu verschoben wird, werden die Brennflecken der Elektronenstrahlen eines Tripeis auch bewegt, und zwar zusammen in Richtung auf den Umfang des Leuchtschirms. Wenn weiterhin das Ablenkzentrum infolge der As-Charakteristik von der Kolbenachse fortbewegt wird, werden die einzelnen Elektronenstrahlbrennflecken eines Trios durch die Wirkung der dynamischen Konvergenz voneinander fortbewegt, wodurch der Abstand zwischen den Strahlflecken vergrößert wird. In dieser Weise wird die Konfiguration des Tripeis aus Elektronenstrahlflecken in einer astigmatischen Weise verzerrt, bei der das horizontale Maß größer ist als das vertikale Maß in Richtung nach oben und unten, während die Links- und Rechtsausrichtung des Tripeis in einer astigmatischen Weise verzerrt wird, in der das vertikale Maß größer ist als das horizontale Maß. Diese astigmatischen Verzerrungen treten bei allen drei Strahlen auf.

Wenn es daher möglich wäre, die durch die As-Charakteristik in der Links-Rechtsrichtung auf dem Leuchtschirm hervorgerufene Färbtonfehlanpassung in perfekter Weise zu korrigieren, könnten die Elektronenstrahlflecken in einer Farbbildröhre vom Schattenmaskentyp zu einem genauen Auftreffen auf die zugeordneten Leuchtstoffpunkte gebracht werden, wodurch die Farbreinheit

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der Röhre in froßem Maße verbessert werden könnte.

Als ein Weg zur Lösung dieses Problems ist das Verfahren der sogenannten _HSekundärbelichtung* vorgeschlagen worden, bei dem eine Lichtquelle für die Belichtung an einem Punkt angeordnet wird, der einen bestimmten Abstand von einem scheinbaren Strahlungspunkt des Elektronenstrahls besitzt, so daß die Belichtung durch das durch eine Perforation der Schatten- j maske hindurchtretende Licht erfolgt, welche Perforation der | Perforation für den Durchtritt des Elektronenstrahls benachbart ist. Da beim Verfahren der Sekundarbelichtung der Krümmungsradius der Schattenmaske beschränkt ist, muß befürchtet werden ! - obwohl die Farbtonfehlanpassung infolge der Z\s-CharakteristilC korrigiert sein kann - daß das zugeordnete Leuchtstofftripel so vergrößert wird, daß es das benachbarte Tripel von Leuchtstoff- i~ punkten überdeckt. Aus diesem Grunde ist eine Vergrößerung der zulässigen Auftreffbreite nicht immer möglich. Darüberhinaus j ist es unmöglich, die Δ s-Charakteristik für jeden Farbleuchtstoffpunkt des betrachteten Tripeis unabhängig zu korrigieren.

Es ist daher die Aufgabe der vorliegenden Erfindung,ein Verfahren der oben genannten Art anzugeben, bei dem die Farbtonfehl- ■ anpassung (colour tone mismatch) vermieden werden kann.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß das Belichtungslicht von einer länglichen Lichtquelle abgestrahlt und durch einen in einer Platte ausgebildeten länglichen Schlitz

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projiziert wird, die längliche Lichtquelle und der längliche Schlitz einander überschneiden und die längliche Lichtquelle und der längliche Schlitz so geformt und relativ zueinander angeordnet werden, daß das von der länglichen Lichtquelle abgestrahlte Licht mit der Bewegung eines Ablenk^jsentrums zusammenfällt, das als derjenige Punkt aufgefasst werden kann, von dem ein Elektronenstrahl ausgeht, wodurch der von einem aus einer Elektronenstrahlkanone der Röhre austretenden und auf den Leuchtschirm projizierten Elektronenstrahl verursachte Elektronenstrahlbrennfleck mit einem zugeordneten Leuchtstoffpunkt auf dem Leuchtschirm zusammenfällt.

Die Erfindung ist auch auf eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens gerichtet. Diese Vorrichtung ist dadurch gekennzeichnet, daß die Belichtungseinrichtung aus einer länglichen Lichtquelle und einer Platte zwischen der Lichtquelle und der Frontplatte besteht, die mit einem die Lichtquelle überschneidenden Schlitz versehen ist.

Die Unteransprüche betreffen weitere Ausgestaltungen des Erfindungsgedankens .

Die Erfindung soll nun anhand der beigefügten Figuren genauer beschrieben werden. Es zeigen:

Fig. 1 eine schematische Darstellung einer Farbbildröhre vom Schattenmaskentyp, bei deren Her-

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stellung die Erfindung ausgenutzt werden kann;

Fig. 2 ein Diagramm zur Erklärung des Korrektur

betrages bei der Belichtungseinrichtung, der bei der Ausbildung des Leuchtschirms der Farbbildröhre gemäß Fig. 1 berücksichtigt werden muß;

Fig. 3 eine Aufsicht auf ein Tripel von Elektronen-

strahlbrennflecken, die bei Betrieb in der Farb-_; bildröhre gemäß Fig. 1 auftreten; !

Fig. 4 einen Graph zur Darstellung des Korrekturbetrages der As-Charakteristik gemäß der Erfindung und dem Ablenkwinkel;

Fign. SA, 5B eine erfindungsgemäße Belichtungseinrichtung ! und 5C {

wie sie bei der Herstellung des Leuchtschirms

der in der Fig. 1 dargestellten Farbbildröhre verwendet wird, wobei Fig. 5A eine Aufsicht auf die Belichtungseinrichtung vom Leuchtschirm her ! ist, Fig. 5B ein Längsschnitt und die Fig. 5C ' einen Querschnitt durch die Belichtungseinrich- ; tung darstellen; i

Fig. 6 einen Graph zur Darstellung der Abmaße und der gekrümmten Konfiguration des in der Fig. 5 gezeigten Schlitzes und

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Fign. 7, 8 andere Ausführungsbeispiele der erfindungsgemäßen und 9

Belichtungseinrichtung, wobei die Fig. 9B einen

Schnitt längs der Linie 9B-9B durch die Anordnung gemäß Fig. 9A darstellt.

Die in der Fig. 1 dargestellte Farbbildröhre vom Schattenmaskentyp besteht aus einem evakuierten Kolben 21, einer Elektronenstrahlkanonen-Baugruppe 22, die aus mehreren Elektronenstrahlkanonen besteht und im Kolbenhals der Röhre angeordnet ist, eine mit einer Vielzahl von Perforationen oder Schlitzen versehenen Schattenmaske 23 und einem Leuchtschirm 24, der aus mosaikartigen Leuchtstoffpunkten aufgebaut ist, die auf der Innenfläche der < Frontschale gegenüber den Perforationen oder Schlitzen der Schattenmaske angeordnet sind. Diese Leuchtstoffpunkte sind zu Farbtripeln für die drei Grundfarben zusammengefasst und die einzelnen Leuchtstoffpunkte werden durch einen der drei aus der Elektronenstrahlkanone-Baugruppe 22 austretenden Elektronenstrahlen zum Leuchten angeregt.

ι Anhand der Fig. 2 soll nun in einem Maße, wie es in der Einleitung nicht möglich war, die Bedeutung der Av~ ^un^ : Δ s-Charakteristiken erklärt werden, die eine Korrektur erfor-

j derlich machen, wenn die beiden möglichen Astigmatismusarten nicht auftreten sollen.

In der Fig. 2 werden die Korrekturbeträge für das Beiichtungslicht dargestellt, die bei der Herstellung des Leuchtschirms 24

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der Farbbildröhre UJUi Schattenmaskentyp im Zusammenhang mit den 4p- und As-Charakteristiken der Röhre berücksichtigt werden sollten. Das Diagramm gemäß Fig. 2 bezieht sich auf den ι Blau-Elektronenstrahl. In Fig. 2 bezeichnet P die Bewegungs- '■ richtung des Elektronenstrahls, die durch die Δρ-Charakteristik hervorgerufen wird, während S die Bewegungsrichtung des Elektro-\ nenstrahls zeigt, die durch die As-Charakteristik verursacht ! wird.

In der Fig. 2 sind die Stufen der /dp- und As-Charakteristiken f für verschiedene Punkte des Leuchtschirms dargestellt; aus dieser Darstellung wird klar, daß die Bewegung des Belichtungslichtes ! mit den Änderungen der Δ ρ- und As-Charakteristiken für die entsprechenden Ablenkwinkel zusammenfallen sollte. Insbesondere kann aus der Fig. 2 abgelesen werden, daß die Elektronenstrahl- ;

brennflecken zu einem korrekten Auftreffen auf zugeordnete Leuchtstoff ρ unk te veranlasst werden können, wenn die Beiich tungs-* lichtquelle für die Ausbildung des Leuchtschirms in Richtung der durchgehend gezogenen Linie A bewegt wird, die die Resultierende der gestrichelt gezeichneten Korrekturkomponente P der Δρ-Charakteristik und der mit dünnem durchgehenden Strich gezeichneten Korrekturkomponente JS der As-Charakteristik ist. \ Die dicke durchgehende Linie zeigt den erforderlichen Korrekturbetrag A, der die für die Erzielung eines korrekten Auftreffens erforderliche Größe und Richtung besitzt.

Obwohl die Korrekturkomponente P der Δρ-Charakteristik leicht

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erreicht werden kann, indem eine Korrekturlinse mit einer stetig gekrümmten Oberfläche von besonderer Formgebung benutzt wird, ist es unmöglich, die Korrekturkomponente S_ der ^s-Charakteristik durch die Benutzung einer solchen Korrekturlinse zu erzielen, da dadurch eine Verzerrung des Tripeis der Elektronenstrahlbrennflecke eingeführt würde, die eine Aberration vom fehlenden Punkt-Typ darstellt (non-point type aberration). Der Auftreffehler des Elektronenstrahltripels auf die zugeordneten Leuchtstoffpunkte, der durch eine nicht ausreichende Korrekturkomponente £3 der Λ s-Charakteristik hervorgerufen wird, stellt das am schwersten zu lösende Problem bei der Verbesserung der Farbreinheit und des Betriebsverhaltens einer Farbbildröhre vom Schattenmaskentyp dar, insbesondere in der Links/Rechts-Richtung des Leuchtschirms.

Obwohl anhand der Fig. 2 nur die Korrekturerfordernisse für den Blau-Elektronenstrahl diskutiert worden sind, tritt natürlich dasselbe Problem bei den anderen Farben auf, d.h. im Falle einer Dreifarb-Bildröhre bei den Rot- und Grün-Elektronenstrahlen. Um die Beschreibung zu vereinfachen, wird die Erfindung im Zusammenhang mit der blauen Farbe einer Farbbildröhre vom Schattenmaskentyp beschrieben; der im Zusammenhang mit Fig. 2 stehende Besehreibungsteil ist auch auf die 4 P" und As-Charakteristiken auf dem Leuchtschirm der Farbbildröhre vom Schattenmaskentyp und auf die Bewegung der Belichtungslichtquelle anwendbar, die bei der Ausbildung des Leuchtschirms herangezogen wird. Die Lagen der S-Achsen der einzelnen Brennflecken der

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Elektronenstrahlen, wie sie von der Seite des Leuchtschirms aus gesehen werden, sind wie in der Fig. 3 gezeigt bestimmt und der im Uhrzeigersinn von einer ausgewählten S-Achse auf den Leuchtschirm aus gemessene Winkel ist mit oL bezeichnet. Wie die Fig. 2 zeigt, wird der im Uhrzeigersinn von dem oberen Ende der Vertikalachse des Leuchtschirms 24 gemessene Winkel mit ψ bezeich- i net. In der Fig. 3 bezeichnet 25B den Brennfleck des Blau- ι Elektronenstrahls, 25R den Brennfleck des Rot-Elektronenstrahls '.

und 25G den Brennfleck des Grün-Elektronenstrahls. '

Wenn der Ablenkwinkel des aus der Elektronenstrahlkanone für Blau austretenden Elektronenstrahls mit 3 bezeichnet wird, folgt J der Korrekturbetrag £ der As-Charakteristik längs einer Richtung (I - 90 (d.h. die Richtung rechter Hand des Leuchtschirms) bei einer 19zölligen Farbbildröhre dem.in der Fig. 4 gezeigten Verlauf.

Der in der Fig. 4 gezeigte Korrekturbetrag für die As-Charakteristik kann erfindungsgemäß dadurch erreicht werden, indem eine Belichtungseinrichtung 55 benutzt wird, die aus einer linearen Lichtquelle 51 und einem oberhalb der Lichtquelle ange-

ordneten Blech 52 besteht, in welchem Blech ein gekrümmter i Schlitz 53 vorgesehen ist (vgl. die Fign. 5A bis 5C). Da die ^:

Erfindung die Korrektur der Färbtonfehlanpassung infolge der i

I As-Charakteristik nach links und rechts auf dem Leuchtschirm !

in Betracht zieht, ist die nun folgende Beschreibung in erster j Linie auf die Aufsicht gemäß Fig. 5C bezogen.

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Die für die Korrektur der 4s-Charakteristik auf dem Leuchtschirm 24 bei einem Ablenkwinkel des Elektronenstrahls bezüglich der Röhrenachse £, des Kolbens 21 von lh erforderliche Bedingung ist die folgende:

j die Lichtquelle 51 sollte gegenüber der Lage versetzt werden, die sie einnimmt, wenn der AblenkwinkeLo beträgt, und zwar um

j den Korrekturbetrag S der Δs-Charakteristik (vgl. Fig. 3), wenn die lineare Lichtquelle 51 durch den gekrümmten Schlitz 5 3 des

; Bleches 5 2 unter einem Winkel/3 bezüglich der Röhrenachse betrachtet wird. Mit anderen Worten: sollte die Konfiguration des gekrümmten Schlitzes 53 und der Abstand h zwischen dem gekrümmten Schlitz und der linearen Lichtquelle 51 so bestimmt werden, daß bei Betrachtung durch den Schlitz 5 3 die durch die Änderung des Ablenkwinkels fZ hervorgerufene Bewegungsweite der Lichtquelle 51 den in der Fig. 4 gezeigten Korrekturbetrag S_ für die As-Charakteristik erfüllt. Bei einer solchen Bestimmung der Konfiguration ist es nicht mehr erforderlich, die Korrektur der As-Charakteristik in Betracht zu ziehen, die bei der Ausbildung des Leuchtschirms unter Benutzung einer Korrekturlinse mit geeignet gekrümmter Oberfläche auftritt, wenigstens in der φ = 90°-Richtung auf dem Leuchtschirm. Bei der Farbe Blau kann die ^s-Charakteristik in derφ = 270° entsprechenden Richtung ebenfalls korrigiert werden, indem ein gekrümmter Schlitz, welcher bezüglich der Röhrenachse ^symmetrisch ist, da der Korrekturbetrag bezüglich derψ = 90°-Richtung symmetrisch ist (vgl. bezüglich der Schlitzausbildung die Fign. 5A bis 5C).

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■is- 23A1030 ;

Da aber die As-Charakteristiken für die Farben Rot und Grün
in einer Farbbildröhre des oben beschriebenen Typs nicht immer
symmetrisch sind, kann ein bezüglich der Röhrenachse t asym- j metrischer gekrümmter Schlitz verwendet werden. Andererseits

kann eine lineare Lichtquelle bezüglich des Schlitzes asymme-

trisch angeordnet werden. Wie durch die S-Achsen der einzelnen ;

nro I

Elektronenstrahlen darstellt ist, ist der Brennfleck 25B des j Blau-Elektronenstrahls eines Tripeis an Elektronenstrahlbrenn- \ flecken einer Lage von ψ = 0°, der Brennfleck des Rot-Elektronenstrahls 25R bei einer Lage von 0= 240° und der Brennfleck j

/ ο ί des Grün-Elektronenstrahls 25G bei einer Lage von φ - 120 ι

ί ausgebildet, so daß die Lichtquelle für die Farbe Blau in der \ Richtung einer Achse mit einem Winkel ψ - 90° j 270° ausgerichtet wird. Für die Farbe Rot wird die Beiichtungslichtquelle
in der Richtung einer Achse unter dem Winkel <p = 150° / 330 ; und für die Farbe Rot unter einem Winkel Q = 30° / 210° aus-

gerichtet, um die entsprechenden Leuchtstofflecken zu belichten.

Wenn bei der Farbe Blau die Δ s-Charakteristik in dieser Weise j auf dem Leuchtschirm längs einer Achse unter dem Winkel |

ψ - 90° / 270° ohne Benutzung einer Korrekturlinse bei der j

Ausbildung der Leuchtstofflecken korrigiert worden ist, kann '

beim Vorhandensein einer verbleibenden As-Charakteristik in j

einem Gebiet ausserhalb des WinkelsjZ;= 90°/270° eine der- , j

artige Restcharakteristik leicht durch die Benutzung einer '

keilförmigen Korrekturlinse (nicht gezeigt) korrigiert werden. ;

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Mit der aus einer linearen Lichtquelle und einem gekrümmten Schlitz bestehenden Belichtungseinrichtung weicht die Belichtungsbedingung in einer Richtung von ©= 0° / 180°, d.h. in der Oben-und Untenrichtung, von der in einer Richtung von φ = 90° / 270° ab, d.h. in der Links-Rechts-Richtung. Im einzelnen können in der Richtung^= 90°/ 270° zusätzliche Korrekturkomponenten (horizontale und vertikale Abweichungskor- ! rekturkomponenten) in den Richtungen φ = 90° und ώ = 270° auftreten, da der Ablenkwinkel des Elektronenstrahls anwächst; ι solche zusätzlichen Korrekturkomponenten können korrigiert j werden, indem eine Korrekturlinse benutzt wird, die nur auf j einer Seite eine gekrümmte Oberfläche besitzt, so daß mögliche

Schwierigkeiten vermieden werden.

Falls es wünschenswert erscheint, kann daher durch Kombination einer geeigneten Korrekturlinse, die sowohl in der Lage ist, die restliche As-Charakteristik als auch die oben beschrie-

ί

!

benen horizontalen und vertikalen Abweichungskorrekturkomponen-

ten zu korrigieren, mit der erwähnten Beleuchtungseinrichtung ; für die Ausbildung der Leuchtstoffpunkte auf dem Leuchtschirm, ; die aus einer linearen Lichtquelle und einem gekrümmten Schlitz besteht, und durch weitere Hinzunahme einer geeigneten Kor- i j rekturlinse, die in der Lage ist, die /Ap-Charakteristik zu j korrigieren, zu dieser Kombination, ein Belichtungslichtfeld j aufgebaut werden, das dem Pfad des Elektronenstrahls angenähert ist und das Oberlappen der Elektronenstrahlbrennflecke ■it den zugeordneten Leuchtstoffpunkten über der gesamten Fläche

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des Leuchtschirms sicherstellt.

Es müssen nicht immer alle drei Korrekturlinsen bei der Herstellung des Leuchtschirms verwendet werden; in Abhängigkeit von der gewünschten Korrektur können auch eine oder zwei dieser Linsen verwendet werden. Wenn nur die restliche As-Charakteristik vorliegt, (residual As characteristic) ist daher nur die Benutzung der keilförmigen Korrekturlinse allein erforderlich, wenn aber alle Charakteristiken korrigiert werden sollen, müssen alle Korrekturlinsen benutzt werden.

Wenn mehr als zwei Korrekturlinsen benutzt werden sollen, können getrennte Korrekturlinsen für die entsprechenden Charakteristiken benutzt werden; es ist aber auch die Verwendung

für

einer einzigen Linse möglich, die/die Korrektur der entsprechenden Charakteristiken ausgelegt ist. Wenn z.B. die restliche Δ s-Charakteristik und die Δρ-Charakteristik korrigiert werden sollen, ist die Benutzung einer Kombination aus einer

! keilförmigen Korrekturlinse und einer Korrekturlinse für die |

Ap-Charakteristik möglich. Andererseits kann auch eine einzige Linse benutzt werden, die für die gleichzeitige Korrektur der '

i verbleibenden As-Charakteristik und der Λρ-Charakteiistik ausgelegt ist. Ein Beispiel für die Konstruktion der neuartigen Belichtungseinrichtung, bei der vom Erfindungsgedanken Gebrauch gemacht wird, soll nun im folgenden beschrieben werden, j

Die Belichtungseinrichtung besteht aus einer Kombination einer I linearen Lichtquelle wie z.B. einer Quecksilberlampe, die bei

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der Belichtung einer üblichen Farbbildröhre vom Schattenmaskentyp benutzt wird, und einem Blech oder einer Platte (sheet), das mit einem gekrümmten Schlitz versehen ist, der eine noch zu beschreibende Formgebung aufweist; der Kreuzungspunkt der linearen Lichtquelle und des Schlitzes wird mit dem Ablenkzentrum des Elektronenstrahls ausgefluchtet, wenn sein Ablenkwinkel klein ist. Eine solche Ausfluchtung kann auf der Oberfläche des geschlitzten Bleches ausgeführt werden, die dem Leuchtschirm zugewandt ist,oder auf der entgegengesetzten Oberfläche des geschlitzten Bleches, und zwar in Abhängigkeit von der Differenz in der Kontur der Korrekturlinse für die Korrektur der horizontalen und vertikalen Abweichungskomponenten.

Die lineare Lichtquelle wird so angeordnet, daß ihre Richtung mit der Richtung der in der Fig. 3 gezeigten S-Achse für die jeweilige Farbe ausgefluchtet ist. Wenn eine lineare Lichtquelle mit einer fektiven Länge von 25 mm in einer Entfernung von 1o mm von dem Schlitz angeordnet ist, weist der gekrümmte Schlitz die in der Fig. 6 gezeigten Abmessungen auf. Natürlich werden die Abmessungen und die Kontur des gekrümmten Schlitzes in Abhängigkeit von der fektiven Länge der linearen Lichtquelle und des Abstandes der Lichtquelle vom Schlitz bestimmt. Wenn der gekrümmte Schlitz auch für die Ermöglichung einer Sekundärkorrektur benutzt wird, kann seine Kontur mehr oder weniger von der in der Fig. 6 gezeigten Kontur abweichen.

Die Fign. 7, 8 und 9A und 9B zeigen andere Beispiele für bei der Ausführung der vorliegenden Erfindung benutzten Belichtungs-

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einrichtungen. Diese Ausführungsformen sind so ausgelegt, daß
die Lage der Lichtquelle in Abhängigkeit von der Betrachtungsrichtung unterschiedlich erscheint, weil der gewünschte Kor- _s rektureffekt erreicht wird, indem das von einer linearen Licht-

! quelle abgestrahlte Licht in der oben beschriebenen Weise durch j

einen gekrümmten Schlitz projiziert wird. Aus diesem Grunde j

f kann die Belichtungseinrichtung auch aus einer gekrümmten Licht- ; quelle 73 und einem linearen Schlitz 72 bestehen, wie es in der ; Fig. 7 dargestellt ist. Weiterhin kann auch gemäß Fig. 8 eine
Kombination aus einer gekrümmten Lichtquelle 83 und einem ge- ί krümmten Schlitz 82 benutzt werden. Die Konstruktion gemäß

Fig. 8 gibt insbesondere weitreichende Möglichkeiten für die j Korrektur in den Fällen, in denen eine komplizierte Korrektur
gewünscht wird. Bei der in den Fign. 9A und 9B gezeigten Ausführungsform ist ein Blech 92 mit einem linearen Schlitz 93 und _; einer Lichtquelle 91 versehen, die konkav bezüglich der einen | Fläche des Bleches 92 gekrümmt ist. Obwohl dies nicht in der
Zeichnung dargestellt ist, kann eine lineare Lichtquelle auch
unter einem vorgegebenen Winkel gegenüber einem linearen Schlitz < geneigt sein. Es ist daher selbstverständlich, daß die Konturen ;

1 der Lichtquelle und des Schlitzes und ihr Abstand voneinander j verändert werden können, um verschiedenen Konstruktionsgegebenheiten Rechnung zu tragen.

Obwohl in der vorstehenden Beschreibung von der Annahme ausgegangen worden ist, daß die Schattenmaske mit einer Vielzahl
von kleinen kreisförmigen Perforationen versehen ist, kann

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die Erfindung auch auf Masken mit schlitzförmigen Perforationen angewendet werden.

Weiterhin wurde als helle Lichtquelle vorgeschlagen, direkt einen Teil einer geraden Quecksilberlampe als Lichtquelle zu benutzen. Eine solche Benutzungsweise unterscheidet sich aber von der vorliegenden Erfindung,'die auf den Korrektureffekt der Lichtquelle gerichtet ist.

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Claims (8)

1. Patentanwalt·

   Dr. Ing. H. Neoendank

   DIpI. Ing. H. Hauck - Dip! i'nys. W.Schmitz

   DIpI. Ing. E. Graelfs - Dipl. Ing. W. Wohnert

   8 München 2, MozertslraSe 23

   Telefon 5380586

   HITACHI LIMITED

   5-1, 1-chome, Marunouchi,

   Chiyoda-ku, Tokyo, Japan München, 9.Aug.1973

   Anwaltsakte M-278O

   Patentansprüche

   \Jl Verfahren zur Herstellung einer Farbbildröhre, bei dem zur Ausbildung eines Leuchtschirms das aus einer Belichtungseinrichtung austretende Beiichtungslicht durch eine perforierte Maske auf Leuchtstoffe projiziert wird, die auf der Frontschale aufgebracht sind, dadurch gekennzeichnet, daß das Belichtungslicht von einer länglichen Lichtquelle abgestrahlt und durch einen in einer Platte (Blech) ausgebildeten länglichen Schlitz projiziert wird, die längliche Lichtquelle und der längliche Schlitz einander überschneiden und die längliche Lichtquelle und der längliche Schlitz so geformt und relativ zueinander angeordnet werden, daß das von der länglichen Lichtquelle abgestrahlte Licht mit der Bewegung eines Ablenkzentrums zusammenfällt, das als derjenige Punkt aufgefasst werden kann, von dem ein Elektronenstrahl ausgeht,

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   wodurch der von einem aus einer Elektronenstrahlkanone der Röhre austretenden und auf den Leuchtschirm projizierten Elektronenstrahl verursachte Elektronenstrahlbrennfleck mit einem zugeordneten Leuchtstoffpunkt auf dem Leuchtschirm zusammenfällt.
2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine für die Korrektur wenigstens einer der folgenden Größen: restliche As-Charakteristik, horizontale und vertikale

   /Ip-Charakteristiken und ,dp-Charakteristik geeignete Korrekturlinse für die unabhängige Belichtung von Leuchtstoffpunkten eines Tripeis für entsprechende Farben benutzt wird, wodurch ein Zusammenfallen der Brennflecke der Elektronenstrahlen mit zugeordneten Leuchtstoffpunkten über der gesamten Fläche des Leuchtschirms erreicht wird.
3. 3. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1 , ; oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Belichtungseinrichtung'

   ;

   j (55)aus einer länglichen Lichtquelle (51; 73; 83; 91) und einer ; Platte (52; 71) zwischen der Lichtquelle und der Frontschale (21a) besteht, die mit einem die Lichtquelle überschneidenden ; Schlitz (53; 72; 82; 93) versehen ist. ;
4. 4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die längliche Lichtquelle (73; 91) gekrümmt ist und der längliche Schlitz (7 2; 93) linear ist.

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5. 5. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der längliche Schlitz (52) gekrümmt und die längliche
   Lichtquelle (51) linear ist.
6. 6. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß sowohl die längliche Lichtquelle (8 3) als auch der längliche Schlitz (8 2) gekrümmt sind und einander überschneiden.
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