DE2914838C2 - Elektronenstrahlerzeugungssystem - Google Patents
ElektronenstrahlerzeugungssystemInfo
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- DE2914838C2 DE2914838C2 DE2914838A DE2914838A DE2914838C2 DE 2914838 C2 DE2914838 C2 DE 2914838C2 DE 2914838 A DE2914838 A DE 2914838A DE 2914838 A DE2914838 A DE 2914838A DE 2914838 C2 DE2914838 C2 DE 2914838C2
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- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J29/00—Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
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- Electrodes For Cathode-Ray Tubes (AREA)
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- Cathode-Ray Tubes And Fluorescent Screens For Display (AREA)
- Cold Cathode And The Manufacture (AREA)
Description
Abstand fo/zwischen Kathode und
Steuergitter (Gi) 0,076
Steuergitter (Gi) 0,076
Dicke φ) der SteuergüterelektrodefGl)
0,127
Durchmesser (c)der öffnung des
Steuergitters (G 1) 0,635
Steuergitters (G 1) 0,635
Abstand (dazwischen Steuer- und
Schi: ,!!gitterelektrode (Gi-G 2) 0,279
Schi: ,!!gitterelektrode (Gi-G 2) 0,279
Dicke fender Schirmg**terelektrode(G2)
0,508
Durchmesser (f)aer öffr-yng der
Schirmgitterelektrode (G 2) 0,635
Schirmgitterelektrode (G 2) 0,635
Abstand (g,1 zwischen Schirmgitter
und erster Linsenelektrode (G 2— G 3) 0,838 Durchmesser (h) der öffnung der
ersten Linsenelektrode (G 3) 1,524
und erster Linsenelektrode (G 2— G 3) 0,838 Durchmesser (h) der öffnung der
ersten Linsenelektrode (G 3) 1,524
Länge (i)der ersten Linsenelektrode (G 3) 23,495
Durchmesser Q) der ersten
Linsenelektrode (G 3) 5,436 Durchmesser (k)der zweiten
Linsenelektrode (G 4) 5,766 Abstand ft) zwischen der ersten
und der zweiten Linsenelektrode
(G 3- G 4) 1,270.
Linsenelektrode (G 3) 5,436 Durchmesser (k)der zweiten
Linsenelektrode (G 4) 5,766 Abstand ft) zwischen der ersten
und der zweiten Linsenelektrode
(G 3- G 4) 1,270.
3. Elektronenstrahlerzeugungssystem nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß es für die
folgenden elektrischen Betriebspotentiale ausgelegt ist:
Potential G1 | OV |
Potential G 2 | 625 V |
Potential G 3 | 8 500V |
Potential G 4 | 30 000V |
4, Elektronenstrahlerzeugungssystem nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß es für
ein elektrisches Feld einer Feldstärke (Egi-gi, 82)
von 3900 bis 15 800 V/mm, insbesondere 3937 bis 15 748 V/mm, zwischen der Schirmgitterelektrode
(G 2) und der ersten Linsenelektrode (G 3) ausgelegt ist.
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Elektronenstrahlerzeugungssystem,
wie es im Oberbegriff des Patentanspruchs 1 im Hinblick auf die US-PS 37 72 554 als
bekannt vorausgesetzt wird. Ein solches Elektronenstrahjerzeugungssystem
arbeitet mit hoher Spannung sowie kleiner Vergrößerung und eignet sich insbesondere
für Farbfernsehbildröhren, wie sie in Heimempfängern verwendet werden.
Aus der DE-OS 14 89 160 ist eine Kathodenstrahlröhre
bekannt, deren StraJilerzeugungssystem mit niedriger
G2-Spannung und Kathodenmodulation arbeitet Bei einer solchen Röhre soll die Abhängigkeit des Durchmessers
des auf dem Leuchtschirm abgebildeten ersten Strahlüberkreuzungspunktes von der Strahlstromdichte
durch eine spezielle Bemessung der Dicken und Öffnungsdurchmesser der Gl- und der G2-Elektrode verringert
werden. Bei der G2-Elektrode ist das Verhältnis
von Dicke zu Öffnungsdurchmesser gleich ϊ.
Aus der US-PS 32 95 001 ist ein Elektronenstrahlerzeugungssystem
bekannt, bei dem eine hohe Steilheit und eine kleine Leuchtfieckgröße mitteis einer Schinngitterelektrode
erreicht werden soll, die zwei ringscheibenförmige Bauteile enthält und deren effektive Dicke
größer als das O^fache des Durchmessers der öffnung in der kathodenseitigen Ringscheibe sein soll.
Schließlich ist aus der eingangs erwähnten US-PS 37 72 554 ein Inline- Strahlerzeugungssystem bekannt,
bei dem das Verhältnis der Länge zum Durchmesser der ersten Linsenelektrode gleich 2,56 ist Die erste Anode
(G 3) wird mit -siner Spannung zwischen 4,25 und 5,0 kV
betrieben, die zweite Anode (G 4) mit einer Spannung von 25 kV.
Der vorliegenden Erfindung liegt ausgehend von einem
Strahlerzeugungssystem gemäß der US-PS 37 72 554 die Aufgabe zugrunde, das Strahlfleckverhalten
zu verbessern, insbesondere die Abhängigkeit der Abmessungen des Strahlflecks von der Strahlablenkung
so klein wie möglich zu halten.
Diese Aufgabe wird bei einem Elektronenstrahlerzeugungssystem
gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 durch die kennzeichnenden Merkmale des
Patentanspruchs 1 gelöst
Weiterbildungen und vorteilhafte Ausgestaltungen des erfindungsgemäßen Strahlerzeugungssystems sind
Gegenstand von Unteransprüchen.
Im folgenden werden das Erfindungsprinzip und Ausführungsbeispiele
der Erfindung unter Bezug auf die Zeichnung näher erläutert. Es zeigt
F i g. 1 eine schematische Darstellung eines typischen so Elektronenstrahlerzeugungssystems und dessen Elektronenstrahlbündelformungs-
und Fokussierungsfunktionen;
Fig.2 ein schematischer Aufriß einer Kathodenstrahlröhre
mit einem Elektronenstrahlerzeugungssystern gemäß einer Ausführungsform der Erfindung;
F i g. 3 ein teilweise geschnittener Aufriß einer Ausführungsform des Elektronenstrahlerzeugungssystems
für die Kathodenstrahlröhre gemäß F i g. 2;
Fig.4 eine vergrößerte Schnittansicht des Elektronenstrahlbündelformungsbereiches
des Elektronenstrahlerzeugungssystems gemäß F i g. 3;
Fig.5 eine Fig.4 ähnliche vergrößerte Schnittansicht,
die zum Vergleich den Elektronenstrah'bündelformungsbereich eines typischen bekannten Strahlerzeugungssystems
zeigt;
F i g. 6 eine F i g. 5 entsprechende Ansicht eines anderen bekannten Elektronenstrahlerzeugungssystems;
Fi g. 7 eine graphische Darstellung der Abhängigkeit
der Bündclabmessung am Überkreuzungsbereich von
der elektrischen Feldstärke zwischen G 2 und C 3;
Fig.8 eine graphische Darstellung des Zusammenhanges
zwischen der Dicke der Schirmgitterelektrode G 2 und der Länge einer anschließenden Linsenelektrode
G 3 in Strahlerzeugungssystemen gemäß Ausführungsformen der Erfindung;
F i g. 9a bis 9d schematisehe Darstellungen zum Vergleich der Bündelformungswirkung und der Fokussierungswirkung
von Strahlerzeugungssystemen gemäß Ausführungsform der vorliegenden Erfindung und bekannten
Strahlerzeugungssystemen;
Fig. 10 und 11 Schnittansichten von weiteren Ausführungsformen
dicker Schirmgitterelektroden, die in Strahlerzeugungssystemen gemäß F i g. 3 Verwendung
finden können.
Elektronenstrahlerzeugungssysteme, wie sie typischerwejöe
in Farbfernsehbildröhren verwendet werden, enthalten, wie es schematisch in F i g. 1 dargestellt
ist, eine Anzahl von ausgerichteter Elektroden, insbesondere eine Kathode 2, ein Steuergitter 3, ein Schirmgitter
4 und zwei oder mehr Fokussierungselektrodtn 5
und 6. Der Teil des Strahlerzeugungssystems bis zum Schirmgitter bildet einen Bündelformungsbereich 7,
während der sich hinter dem Schirmgitter befindenden Bereich einen Fokussierungsbereich 8 darstellt Im Betrieb
eines solchen Elektronenstrahlerzeugungssystems emittiert die Kathode Elektronen 9, die zu einem Überkreuzungsbereich
10 (Bereich kleinsten Strahlquerschnitts) in der Nähe des Schirmgitters konvergieren.
Dieser Überkreuzungsbereich wird dann durch eine Hauptfokussierungslinse zwischen den Elektroden 5
und 6 im Fokussierungsbereich der Röhre in eine Bildebene auf einem Bildschirm 11 als kleiner Fleck abgebildet
Der Konvergenzwinkel a, unter dem die Elektronen in den Überkreuzungsbereich eintreten, soll hier als
Überkreuzungsbereich-Eintrittswinkel bezeichnet werden, und der Divergenzwinkel ß, in dem die Elektronen
den Überkreuzungsbereich verlassen, soll als Überkreuzungsbereich-Austrittswinkel
bezeichnet werden. Die Winkel α und β sind im wesentlichen gleich, solange
beim Überkreuzungsbereich kein ablenkendes Feld vorhanden ist. In der Praxis sind in diesem Bereiche
doch elektrische Felder vorhanden, die eine fortlaufende Biegung der Elektronenbahnen bewirken, während
die Elektroden in dun Überkreuzungjbereich eintreten
und aus ihm austreten, so daß sich im Überkreuzungsbereich ziemlich komplexe Verhältnisse ergeben und die
Winkel λ und^verschieden sind.
Man hat bisher im allgemeinen angenommen, daß zwischen dem Bündelformungsbereich 7 und dem Fokussierbereich
8 des Strahlcrzeugungssystems kaum eine Wechselwirkung besteht und wenn man sich auf einen
dieser beiden Bereiche konzentriert hat, um das Strahlerzeugungssystem zu verbessern, hat man gewöhnlich
dem anderen Bereich wenig Beachtung geschenkt Es wurde nun aber festgestellt, daß der erste
Überkreuzungsbereich, der durch das Fokussierungssystem des Strahlerzeugungssystems auf den Bildschirm
abgebildet wird, sich viel weiter vorne im Strahlerzeugungssystem befindet, als man bisher annahm. Dies wiederum
führte zu der Erkenntnis, daß eine Wechselwirkung zwischen der Bündelformungsfunktion des Strahlerzeugungssystems
und der anschließenden Fokussierungsfunktion des Strahlerzeugungssystems besteht
Weitere Forschungen haben dann ergeben, daß man durch kluge Wahl und KcvMbination der Konstruktionsparameter des Strahlerzeugungssystems eine unerwar
tete Verbesserung des Strahlfleckverhaltens des Strahlerzeugungssystems erreichen kann.
Wesentliche Merkmale, in denen sich ein Elektrone.istrahlerzeugungssystem
gemäß einer Ausführungsform der Erfindung von einem bekannten Elektronenstrahlerzeugungssystein
der gleichen Klasse unterscheiden, sind eine dicke Schirmgitter- oder G 2-EIektrode, ein
starkes elektrisches Feld zwischen G 2 und G 3, also zwischen der Schirmgitterelektrode und der folgenden
ίο Linsene'ektrode, und/oder eine vergrößerte Objektweite
(Objektabstand) des Hauptfokussierungssystems. Um mit diesem Konstruktionskonzept die optimalen Resultate
zu erreichen, wird eine Vorfokussierung des Elektronenstrahls anschließend an den Überkreuzungsbereich
vermieden oder zumindest wesentlich verringert
F i g. 2 zeigt eine Farbfernsehbildröhre 10 mit einem Glaskolben, welcher einen im wesentlichen rechteckigen
Kolbenvorderteil 12 sowie einen rohrförmigen Hals 14 hat die durch einen im Querschnitt etwa rechteckigen
trichterförmigen Teil 16 miteinander verbunden sind. Der Kolbenvorderteil 12 beste«? aus einer Frontplatte
18 und. einer an deren Umfang ansetzenden Seitenwand 20, die durch eine Glasfritte-Verschmelzung
mit dem trichterförmigen Teil 16 verbunden ist Auf der Innenseite der Frontplatte 18 befindet sich ein Dreifarbenleucutstoffmosaik-Bildschirm
22. Der Bildschirm ist vorzugsweise ein Streifenrasterschirm, dessen Leuchtstoffstreifen
senkrecht zur Richtung der hochfrequenten Abtastung verlaufen. In einem bestimmten Abstand
vom Bildschirm 22 ist zur Farbauswahl eine Schattenoder Lochmaske 24, die eine Vielzahl von Löchern aufweist,
in bekannter Weise lösbar montiert Im Hals 14 ist zentrisch ein Inline-Elektronenstrahlerzeugungssystem
26 gemäß einer Ausführungsform der Erfindung montiert das nur schematisch durch ein gestricheltes Rechteck
angedeutet ist Das Elektronenstrahlerzeugungssystem 26 liefert drei Elektronenstrahlbündel 28, die längs
konvergierender Wege in einer Reihe nebeneinander (koplanar) durch die Lochmaske 24 auf den Bildschirm
22 fallen.
D'e in F i g. 2 dargestellte Bildröhre ist für einen Betrieb
mit einer externen magnetischen Ablenkeinheit 30 bestimmt, die den Hals 14 sowie den trichterförmigen
Kolbenteil 16 in der Nähe ihrer Verbindung umgibt, und die drei Elektronenstrahlen 28 horizontal und vertikal in
einem rechteckigen Raster über den Bildschirm 22 abzulenken gestattet.
Mit Ausnahme der Merkmale und Abänderungen, die im folgenden beschrieben werden, ist das Elektronen-Strahlerzeugungssystem
26 ein Dreistrahl-Inlinesystem, ähnlich wie es in der US-PS 37 72 554 beschrieben ist.
Fig.3 ist eine Aufsicht des Dreistrahl-Bipotentiai-Strahlerzeugungssystems
26, das zum Teil längs einer longitudinalen Mittelebene aufgeschnitten gezeichnet
ist, welche senkrecht zu der die drei Elektrcnenstraiiien
28 enthaltenden Ebene verläuft.
In der Zeichnung ist nur die Struktur für einen der drei Elektronenstrahlen dargestellt Das Strahlerzeugungssystem
26 ei.!hält zwei Halterungsstäbe 32 aus
Glas, an denen die verschiedenen Elektroden befestigt sind. Zu diesen Elektroden gehören drei mit gleichen
Abständen in einer Ebene angeordnete Kathoden 34, (eine für jeden Strahl, wobei jedoch nur eine einzige
dargestellt ist), eine Steuergitter- oder G 1-Elektrode
36, eine Schirmgitter- oder G 2- Elektrode 38, eine erste Linsen- oder Fokussierelektrode oder G3-Elektrode 40
und eine zweite Linsen- oder Fokussierelektrode oder G4-Elektrode 42. Die G4-Elektrode enthält eine elek-
trische Abschirmkappe 44. Alle diese Elektroden sind
längs einer mittleren Strahlachse A-A ausgerichtet und in der aufgeführten Reihenfolge mit gegenseitigen Abständen
an den Glasstäben 32 befestigt. Die Fokussierelektroden C3 und C 4 dienen in dem Bipotential-Elektronenstrahlerzeugungssystem
26 außerdem als Beschleunigungselektroden.
Wie dargestellt, enthält das Elektronenstrahlerzeugungssystem 26 außerdem mehrere Bauteile 46 aus magnetisierbarem
Material, die am Boden der Abschirmkappe 44 montiert sind und zur Korrektur der Koma
der von den Elektronenstrahlen bei der Ablenkung über den Bildschirm 22 erzeugten Raster dienen. Die für die
Komakorrektur vorgesehenen magnetisierbaren Bauteile 46 können zum Beispiel so ausgebildet und angeordnet
sein, wie es in der bereits erwähnten US-PS 37 72 554 beschrieben ist.
Die Kathode des Elektronenstrahlerzeugungssystems 26 ist rohrförmig und enthalt eine Stirnwand mit einer
ebenen emittierenden Oberfläche 48. Die Gl- und G 2-EIektrode enthalten jeweils quer verlaufende platten-
oder blendenförmige Teile 50 bzw. 52 mit fluchtenden Mittelöffnungen 54 bzw. 56. Die G3-Elektrode enthält
ein längliches rohrförmiges Bauteil mit einer der G2-Elektrode benachbarten Querwand, welche eine
Mittelöffnung 60 aufweist. Die G4-Elektrode enthält wie die G3-Elektrode ein rohrförmiges Bauteil. Beide
Elektroden haben an ihren gegenüberliegenden Enden nach innen umgebördelte rohrförmige Kragen oder
Lippen 62 bzw. 64, zwischen denen die Hauptfokussierungslinse, das heißt das Hauptfokussierungslinsenfeld
des Elektronenstrahlerzeugungssystems erzeugt wird.
!n der oben beschriebenen bipolaren Form kann das
Elektronenstrahlerzeugungssystem 26 durch folgende Merkmale charakterisiert werden:
!. Ein starkes elektrisches Feld (Arbeitsfeld) zwischen
der G 2- und der G 3-Elektrode, das eine Feldstärke im Bereich von etwa 3900 bis 15 800 V/mm, insbesondere
3937 bis 15 748 V/mm hat; besonders vorteilhaft sind Werte zwischen etwa 5900 und
9850 V/mm (insbesondere 5906 bis 9843 V/mm). Dieses starke Feld dient dazu, ein Elektronenstrahlbündel
minimalen Durchmessers aus dem Überkreuzungsbereich abzusaugen.
2. Eine G 2-Elektrode mit einem dicken, plattenförmigen
Teil 52, dessen Dicke das 0,4- bis l,0fache des Durchmessers der Mittelöffnung 56 der G2-Elektrode
beträgt, um die Winkel des Elektronenstrahlbündels beim Überkreuzungsbereich zu verringern.
3. Eine außergewöhnlich lange G 3-Elektrode, deren
Länge das 2J5- bis 5,0fache des Durchmessers der G3-Hauptfokussierungslinse beträgt, um die Objektweite
(Objektabstand) möglichst groß zu machen und die Vergrößerung im Elektronenstrahlerzeugungssystems
zu verringern. In den meisten Fällen wird dies etwa das 40- bis 60fache der Dicke der
G 2-Elektrode betragen.
4. Eine G 2-EIektrode, deren Öffnung von einem ebenen Teil umgeben ist, dessen Durchmesser gleich
oder größer als etwa das Doppelte des Abstandes zwischen der G 2- und der G3-EIektrode ist, um
eine Vorfokussierung des Elektronenstrahlbündels zu verhindern.
F i g. 4 ist ein stark vergrößerter Querschnitt des Bündelformungsbereiches
des neuen Elektronenstrahlerzeugungssystems 26. Diese Figur zeigt die Äquipotentiallinien
der Felder, die im Betrieb des Strahlerzeugungssystems zwischen der Kathode, G 1, G 2 und G 3 entste- '
hen, und außerdem die Wege der Elektronen, die die Kathode verlassen, in einen Überkreuzungsbereich (Bc- '
reich geringsten Strahlquerschnitts) konvergieren und dann von dort auf ihrem Weg zur Hauptfokussierungslinse
divergieren. ;
Typisch für Elektronenstrahlerzeugungssysteme die mit einem Überkreuzungsbereich des Elektronenstrahlbündels
arbeiten, ist das stark konvergierende Feld in der Nachbarschaft der Kathode und der G 1-Elektrode,
wie es durch die Äquipotentiallinien 66 dargestellt ist. , Dieses Feld konvergiert die Elektronenstrahlen 68 beim
Verlassen der Kathode 34 stark und fokussieren sie in .; einen Überkreuzungsbereich 70, von dem aus sie dann
auf dem weiteren Wege zur Hauptfokussierungslinse ' wieder divergieren. j
Das Kiektronenstrahlerzeugungssystem 26 ist für ei- ",
nen relativ kleinen Abstand zwischen der G 2- und der ,;.;
G3-Elektrode und/oder einen Betrieb mit einer relativ
hohen G3-Spannung konstruiert, so daß ein starkes Feld zwischen G 2 und G 3 entsteht. Ein solches Hochspannungsfeld
von G 3 taucht oder wölbt sich in die öffnung 56 oder G2-Elektrode hinein, wie durch die
Äquipotentiallinien 72 dargestellt ist. Im Gegensatz zu den bekannten Strahlerzeugungssystemen, in denen die
G2-iilektrode im wesentlichen die gleiche Dicke wie
die G 1-Elektrode hat und das Hochspannungsfeld von
der G 3-Elektrode vollständig durch die öffnung der t
G2-Elektrode hindurchreicht, ist die dicke G2-Elektro- '·
de des vorliegenden Strahlerzeugungssystems im Vergleich zum Durchmesser der Öffnung 56 dieser Elektrode
so groß, daß das Feld 72 nur ein Stück in die öffnung
hineinreicht und nicht vollständig durchgreift. Hierdurch wird es dem durch die G 1-Spannung erzeugten
Feld möglich, von der Gi-Seite der G2-Eickirodc in
die G 2-öffnung 56 einzutauchen bzw. sich in diese öffnung hineinzuwölben, wie durch die Linien 74 dargestellt
ist, und eine divergierende Kraft auf die Elektronenstrahlen 68 auszuüben. Hierdurch wird der Überkreuzungsbereich-Eintrittswinkel
α (siehe Fig. 1) gegenüber dem sich sonst einstellenden Wert verringert
und der Überkreuzungsbereich 70 wird im Vergleich zu entsprechenden bekannten Konstruktionen weiter nach
vorne in Richtung auf den Bildschirm verschoben. Hierdurch ergibt sich wiederum ein kleinerer Überkreuzungsbereich-Austrittswinkel
β und damit ein dichteres oder kompakteres Eiektronenstrahlbündel, wenn die
Elektronenstrahlen 76 nach dem Überkreuzun^Aereich wieder divergieren und zur Hauptfokussierungslinse
weiterlaufen. In einem willkürlich festgelegten Abstand von der Kathode 34 sind die Elektronenstrahlen 76 als
relativ kleines oder dünnes Bündel 78 dargestellt.
Charakteristisch für das vorliegende Elektronen- ■
Strahlerzeugungssystem 26 ist auch der relativ ebene, quer verlaufende plattenförmige Teil 52 der G 2-Elek- :
trode. Eine solche ebene Elektrodenstruktur ergibt ■,,'■
Feldlinien 82 zwischen G 2 und G 3, welche ihrerseits ."·: ebenfalls relativ eben sind und keine nennenswerte Vorfokussierungswirkung
ausüben. Dadurch, daß in diesem ■ Bereich des Elektronenstrahferzeugungssystems eine
Vorfokussierungswirkung vermieden wird, ergibt sich eine geringere Vergrößerung, wie im folgenden noch O;
genauer eriäuten werden wird. ι
F i g. 5 ist ein F i g. 4 entsprechender, stark vergrößer- ':
ter Querschnitt eines bekannten Strahlerzeugungssy- ■
stems 84, das im Gegensatz zu der dicken G 2-Elektrode r
des Elekironenstrahlerzeugungssystems 26 gemäß
F i g. 4 eine konventionelle, dünnwandige G 2-Elektrode
aufweist. Das Elektronenstrahlerzeugungssystem 84 gemäß F i g. 5 enthält eine Kathode 86, eine G 1-Elektrode
88, eine C2-Elektrode 90 und tine G3-Elektrode 92.
Das bekannte Elektronenstrahlerzeugungssystem 84 hat die gleichen Elektrodenabstände und Abmessungen
wie das Elektronenstrahlerzeugungssystem 26 mit der Ausnahme, daß seine G2-Elektrode 90 aus einer dünnen
Platte konventionellen Typs besteht im Gegensatz zu der dicken Platte der G2-Elektrode 38 des Elektronenstrahlerzeugungssystems
26.
Das Elektronenstrahlerzeugungssystem 84 weist wie das System 26 gemäß Fig.4 ein durch Äquipotentiallinien
94 dargestelltes, stark konvergierendes Feld in der öffnung der G 1 - Elektrode bei der Kathode auf. Wie bei
dem System 26 sammelt oder konvergiert dieses Feld die aus der Kathode austretenden Elektronenstrahlen
98 in einen Überkreuzungsbereich 96. Beim System 84 dringen jedoch die Äquipotentiallinien von der hohen
G3-Spannung wegen der geringeren Dicke der G 2-Elektrode vollständig durch die öffnung der
G2-Elektrode hindurch und erzeugen im Bereich zwischen
G I und G 2 eine zusätzliche Sammel- oder Konvergierungswirkung, wie durch die Linien 100 dargestellt
ist. Dies steht im Gegensatz zu dem im neuen System 26 erzeugten Feld 74. Die Folge der bei dem
bekannten System vorhandenen zusätzlichen Sammelwirkung besteht darin, daß der Überkreuzungsbereich-Eintrittswinkel
(siehe F i g. 1) größer wird und der Überkrcu7'ingsbereich
% näher an der Kathode liegt als bei dem System 26. Dadurch wird auch der Überkreuzungsbereich-Austrittswinkel
/?der aus dem Überkreuzungsbereich 96 austretenden Elektronenstrahlen 102 größer
und das Elektronenstrahlbündel 104 ist in dem gleichen vorgegebenen Abstand von der Kathode weniger kompakt
als das Elektronenstrahlbündel 78 des Systems 26. Die Form der Aquipotentiaiiinien iö6 zwischen G 2 und
G 3 ist bei dem System 84 gleichwertig der der Linien 82 des Systems 26. Die Feldstärke wird jedoch wesentlich
geringer sein als bei dem System 26.
Fig. 6 zeigt ein bekanntes Elektronenstrahlerzeugungssystem 108, das mit Ausnahme der G2-Elektrode
mit dem bekannten System 84 gemäß Fig.5 übereinstimmt.
Das System 108 enthält eine Kathode 110, eine
G 1-Elektrode 111, eine G2-Elektrode 112 und eine G3-Elektrode 113. Die G2-Elektrode sit becherförmig
und hat eine vorstehende Umfangswand 114. Die Umfangswand 114 formt die Äquipotentiallinien 115 im Bereich
zwischen G 2 und G 3 derart, daß eine sammelnde Vorfokussierungswirkung auf die den Überkreuzungsbereich
118 des Elektronenstrahlbündels verlassenden Elektronenstrahlen 116 ausgeübt wird. Das Ergebnis besteht
darin, daß die Elektronenstrahlen 16 nach dem Verlassen des Überkreuzungsbereiches konvergierend
gebogen werden, so daß ein dichteres Elektronenstrahlbündel 120 entsteht, dessen Form bis zu einem gewissen
Grade ähnlich der des Elektronenstrahlbündels 78 des Systems 26 ist Das Erzielen eines dichteren oder kompakteren
Elektronenstrahlbündels 120 im System 108 ermöglicht jedoch nicht, außerdem auch eine Verringerung
der Vergrößerung wie wie bei dem neuen System 26 zu erreichen, wie noch erläutert v/erden wird.
Es ist die Vorfokussierungswirkung, die die konvergierenden oder sammelnden Linien 115 im Bereich zwischen
G 2 und G 3 bewirken, die durch die Konstruktion des Systems 26 vermieden werden solL Dies wird bei
dem System 26 dadurch erreicht, aa& man alle Strukturen
vermeidet, wie die nach oben gebogene Lippe 114 der G2-Elektrode, welche die Linien 115 in der Nähe
der Elektronenstrahlen 116 gegenüber dem sonst relativ
ebenen Verlauf krümmen.
In F i g. 7 ist der Zusammenhang zwischen der Strahlfleckgröße
und der Stärke des elektrischen Feldes zwischen der G2-Elektrode und der G3-Elektrode eines
Strahlerzeugung5systems der hier diskutierten allgemeinen Klasse dargestellt. In Fig. 7 isi das Verhältnis
der tatsächlichen Strahlfleckgröße Scr am Überkreuzungsbereich
zur theoretischen Strahlfleckgröße S,h am Überkreuzungsbereich über der Feldstärke aufgetragen.
Die theoretische minimale Strahlfleckgröße S,h am Überkreuzungsbereich ist diejenige, die durch den Beitrag
der thermischen Emission zur Größe des Strahls im Überkreuzungsbereich gegeben ist. Wie dargestellt,
fällt das Fleckgrößenverhältnis ziemlich scharf ab, wenn die Feldstärke £c2-ci von etwa 150 bis 250 Volt/25,4
Mikrometer, also etwa 5900 bis 9850 V/mm erhöh! wird und geht an beiden Enden dieses Bereiches jeweils in
einen mehr oder weniger gleichbleibenden Wert über.
Bei einem typischen Bipotential-Elektronenstrahlerzeugungssystem
mit nur einer einzigen, einfachen Hauptfokussierungslinse, wie es in der erwähnten
US-PS 37 72 554 beschrieben ist, kann der Abstand G 2— G 3 etwa 1,4 mm, die G3-Spannung etwa 6000
Volt und die G2-Spannung etwa 600 Volt betragen. Diese Konstruktions- und Betriebsparameter ergeben
im Betrieb des Systems ein £c2_cj-Feld von etwa 3860
Volt/mm. Typische Systeme 26 weisen dagegen im Vergleich hierzu G2-G3-Abstände von etwa 0.C3 bis
1,23 mm, eine G3-Spannung von etwa 8500 Volt und eine G2-Spannung von etwa 625 Volt auf, so daß
£c2-G3-Felder von etwa 9400 bis 6500 V/mm resultieren.
Wie aus F i g. 7 ersichtlich ist, beträgt das aufgetragene Fleckgrößenverhältnis (das ein Qualitätsmaß für
die Fleck- oder Querschnittsgröße ist, wobei 1 das Optimum darsteiit) etwa 2,5 für das bekannte System im
Vergleich zu etwa 1,6 für das System 26, wenn dieses mit einem £c2-C3-Feld von etwa 9400 V/mm betrieben
wird.
Aus der Verbesserung des Fleckgrößenverhältnisses von 2,5 auf 1,6 könnte geschlossen werden, daß höhere
£c2-G3-Felder wünschenswert sind. Ohne kompensierende
Änderungen im Elektronenstrahlerzeugungssystem hat eine einfache Erhöhung des £c2-C3-Feldes
jedoch eine entsprechende Vergrößerung des Überkreuzungsbereich-Austrittswinkels
β des Elektronenstrahls zur Folge, da in der G 2-Öffnung vor dem Überkreuzungsbereich
ein wesentlich stärkeres konvergierendes Feld und in der G 3-öffnung hinter dem Überkrtuzungsbereich
ein wesentlich stärkeres divergierendes Feld entstehen. Eine übliche Maßnahme zur Kompensation
der Vergrößerung des Überkreuzungsbereich-Austrittswinkels ist die Erzeugung eines Vorfokussierungslinsenfeldes
zwischen G 2 und G 3. Wie im folgenden noch genauer erläutert werden wird, kann ein
solches Vorfokussierungsfeld keine generell optimale Kompensation für die Vergrößerung des Überkreuzungsbereich-Austrittswinkels
darstellen.
Eine andere bekannte Maßnahme gegen die Vergrößerung des Überkreuzungsbereich-Autrittswinkels, die
aus der US-PS 39 95 194 bekannt ist, besteht darin, anstelle eines einfachen einlinsigen Fokussierungssystems
ein kompliziertes dreilinsiges Hauptfokussierungssystem zu verwenden. Solche komplexen Fokussierungssysteme
sind jedoch sowohl hinsichtlich der Konstruktion des Strahlerzeugungssystems als auch hinsichtlich
der zusätzlich benötigten Betriebspotentiale aufwendig.
F i g. 8 zeigt in einem Diagramm den Überkreuzungsbereich-Austrittswinkel
β und optimierte Längen der G3-Elektrode in Abhängigkeit von der Dicke der
G2-Elektrode für eine Ausführungsform des Strahlerzeugungssysiems
26, bei der der Durchmesser der öffnung der G 2-Elektrode 0,635 mm und der Durchmesser
der G3-Linscnelektrode5,436 mm betrugen. Die Kurve
in Fig.8 zeigt, daß bei einer Änderung der Dicke der
G2-Elektrode von 0,254 mm oder dem 0,4fachen des
Durchmessers der G 2-öffnung auf 0,635 mm oder das !fache der G2-öffnung der Überkreuzungsbereich-Austrittswinkel
β von 0,0675 Radiant auf 0,042 Radiant absinkt. Wenn der Überkreuzungsbereich-Austrittswinkel
β absinkt, nimmt der Durchmesser des Elektronenstrahlbündels
ab und man kann zunehmend längere C 3- Elektroden verwenden, ohne daß eine Überfüllung
der Linse mit dem Strahl eintritt, so daß man eine größere Objektweite des Fokussierungssystems und damit eine
entsprechende Verringerung der Vergrößerung erhält. Die Kurve zeigt ferner, daß für eine Dicke der
G 2-Elektrode von 0,254 mm eine optimale Länge der G 3-Elektrode von 13,970 mm erforderlich ist und daß
für eine Dicke der G2-Elektrode von 0,635 mm eine optimale Länge von G 3 von 26,924 mm erforderlich ist.
Die Dicke von G 2 kann daher durch das Verhältnis der Lange von G 3 zum Durchmesser der G3-Linse angegeben
werden. Man sieht, daß dieses Verhältnis sich von 2,57 bis 4,95 ändert, wenn die Dicke von G 2 von 0,254
bis 0,635 mm geändert wird. Die geeignete Länge von G 3 ändert sich also im Bereich von etwa 2,5 bis 5,0,
wenn sich die Dicke von G 2 entsprechend vom 0,4- bis l.Ofachen des Durchmessers der Öffnung der G 2-Elektrode
geändert wird. Aus den Diagrammen ist ferner ersichtlich, daß sich bei dieser speziellen Ausführungsform des Systems 26 die optimierte Länge von G 3 von
eiwä dem 40- bis oOiachen der Dicke von G 2 im bevorzugten
Arbeitsbereich der erwähnten Dimensionsvariationen ändert.
In den F i g. 9a bis 9d sind schematisch die Auswirkungen
von bekannten Systemkonstruktionen im Vergleich mit deren des vorliegenden Systems 26 hinsichtlich der
Erzielung einer verringerten Vergrößerung dargestellt. Die Vergrößerung eines Elektronenstrahlerzeugungssystems
wird bekanntlich durch die Formel
Hierbei bedeuten:
M die Vergrößerung des Strahlflecks;
Q die Bildweite, das heißt den Abstand zwischen der Hauptfokussierungslinse und der Bildebene, in die
der Strahlfleck abzubilden ist;
P die Objektweite, das heißt der Abstand zwischen dem Strahlüberkreuzungsbereich und der Hauptfokussierungslinse;
Vc die Spannung im Überkreuzungsbereich und
V3 die Spannung an der Anode oder Bildebene.
F i g. 9a zeigt die Art der Elektronenstrahlbündelbildung
bei dem vorliegenden System 26, bei dem Elektronen von der Kathode 34 mit einem verhältnismäßig kleinen
Überkreuzungsbereich-Eintrittswinkel a in einen ersten Überkreuzungsbereich 70 konvergiert oder gesammelt
werden, der einen verhältnismäßig großen Abstand von dt·* Kathode hat. Die Elektronen divergieren
dann vom Überkreuzungsbereich zu einer Hauptfokussierungslinse MF, durch die sie in ein Bild des Überkreuzungsbereiches
auf einer Anode A (Bildschirm) fokussiert werden. Wegen des verhältnismäßig kleinen Überkreuzungsbereich-Austrittswinkels
β ist die Ausdehnung des Strahlbündels beim Erreichen der Hauptfokussierungslinse
immer noch verhältnismäßig klein, so daß diese in ihrem Mittelbereich, in dem die sphärische
ίο Aberration klein ist, arbeiten kann und einen verhältnismäßig
aberrationsfreien Strahlfleck auf dem Bildschirm erzeugt. Wegen des verhältnismäßig kleinen Überkreuzungsbereich-Austrittswinkels
β des Strahlbündels ist außerdem die Objektweite P\ verhältnismäßig groß. Im
Vergleich zu bekannten Systemen erhält man daher wegen der Verringerung des Verhältnisses Qi/Pi eine günstige,
kleine Vergrößerung.
F i g. 9b zeigt die Wirkung des Versuches, die gleiche
Vergrößerung mit dem bekannten System 84 dadurch zu erreichen, daß man Pi = P\ macht. Da das System 84
jedoch mit einem größeren Überkreuzungsbereich-Austrittswinkel β arbeitet, divergieren die Elektronenstrahlen
nach dem Überkreuzungsbereich 96 stark und das Bündel hat sich beim Erreichen der Hauptfokussie·
rungslinse MF zu einer solchen Größe erweitert, daß beim Durchlaufen der Linsenapertur eine starke sphärische
Aberration auftritt.
Fig.9c zeigt für das System 84 den Versuch einer
Lösung des unter Bezugnahme auf F i g. 9b erläuterten Problems. Hier ist die Kathode 86 des Systems näher an
der Hauptfokussierungslinse AiFangeordnet, so daß die
Objektweite Pi kleiner ist und das Bündel sich nicht
übermäßig erweitert hat, wenn es die Hauptfokussierungslinse erreicht. Hierdurch werden zwar übermäßige
sphärische Aberrationen vermieden, es ergibt sich jedoch eine stärkere Vergrößerung infolge der verringerten
Objektweite und des dementsprechend größeren Verhältnisses QiIPy
F i g. 9d zeigt die Auswirkungen des Versuches, die unter Bezugnahme auf die F i g. 9b und Oc beschriebenen Probleme beim System 108 durch Verwendung einer Vorfokussierungslinse zu beheben. Da die Elektronen den Überkreuzungsbereich 118 mit einem verhältnismäßig großen Überkreuzungsbereich-Austrittswinkel/f verlassen, werden sie im Bereich zwischen G 2 und G 3 durch eine Vorfokussierungslinse PF vorfokussiert, wie in Verbindung mit F i g. 6 erläutert worden ist. Die Elektronen verlassen dann die Vorfokussierungslinse PF mit kleinerer Divergenz, so daß sie beim Erreichen der Hauptfokussierungslinse MF ein relativ kompaktes Strahlbündel bilden, dessen Abmessungen ähnlich sind, wie sie bei dem System 26 (F i g. 9a) erreicht werden. Dies sollte eine entsprechende Vergrößerung ergeben, da QdPt = QiIPt ist Diese Annahme ist jedoch irrig, da die Fokussierung bei dem System 108 gemäß F i g. 9d durch zwei Linsen bewirkt wird, nämlich die Vorfokussierungslinse PF und die Hauptfokussierungslinse MF. Die Wirkung dieser beiden Linsen entspricht der Wirkung einer äquivalenten Fokussierungslinse EF, die sich zwischen der Vorfokussierungslinse und der Hauptfokussierungslinse befindet, so daß eine effektive Objektweite F5 und eine effektive Biidweite Q5 ergeben. Im Ergebnis ist die Vergrößerung proportional zu Qs/Ps und damit größer als sie mit dem System 26 erreicht wird, dessen Vergrößerung proportional zu Qt/Pi ist, wie F i g. 9a zeigt
F i g. 9d zeigt die Auswirkungen des Versuches, die unter Bezugnahme auf die F i g. 9b und Oc beschriebenen Probleme beim System 108 durch Verwendung einer Vorfokussierungslinse zu beheben. Da die Elektronen den Überkreuzungsbereich 118 mit einem verhältnismäßig großen Überkreuzungsbereich-Austrittswinkel/f verlassen, werden sie im Bereich zwischen G 2 und G 3 durch eine Vorfokussierungslinse PF vorfokussiert, wie in Verbindung mit F i g. 6 erläutert worden ist. Die Elektronen verlassen dann die Vorfokussierungslinse PF mit kleinerer Divergenz, so daß sie beim Erreichen der Hauptfokussierungslinse MF ein relativ kompaktes Strahlbündel bilden, dessen Abmessungen ähnlich sind, wie sie bei dem System 26 (F i g. 9a) erreicht werden. Dies sollte eine entsprechende Vergrößerung ergeben, da QdPt = QiIPt ist Diese Annahme ist jedoch irrig, da die Fokussierung bei dem System 108 gemäß F i g. 9d durch zwei Linsen bewirkt wird, nämlich die Vorfokussierungslinse PF und die Hauptfokussierungslinse MF. Die Wirkung dieser beiden Linsen entspricht der Wirkung einer äquivalenten Fokussierungslinse EF, die sich zwischen der Vorfokussierungslinse und der Hauptfokussierungslinse befindet, so daß eine effektive Objektweite F5 und eine effektive Biidweite Q5 ergeben. Im Ergebnis ist die Vergrößerung proportional zu Qs/Ps und damit größer als sie mit dem System 26 erreicht wird, dessen Vergrößerung proportional zu Qt/Pi ist, wie F i g. 9a zeigt
Die oben unter Bezugnahme auf die F i g. 9a bis 9d · angestellten Vergleiche zeigen den Vorteil, dem man
erhält, wenn man ein kompaktes, schlankes Elektronenstrahlbündel
nicht durch die Fokussierungswirkung einer auf Cl folgenden Vorfokussierungslinse, sondern
durch Strahlformung im Bereich von Gl und G 2 erzeugt. Dieser Vorteil wird durch die Verwendung eines
hohen Ec 2- er Feldes und eine relativ zur öffnung der
G 2-Elektrode relativ große Dicke dieser Elektrode erreicht.
Bei einem bevorzugten Bipotential-System gemäß einer Ausführungsform der Erfindung entsprechend dem
System 26 werden die folgenden Abmessungen, Abstände und Betriebspotentiale verwendet:
mm | |
Abstand a zwischen Kathode und G 1 | 0,076 |
Dicke b von G 1 | 0,127 |
Durchmesser cder G 1-öffnung | 0,635 |
Abstand dzwischen G 1 und G 2 | 0,279 |
Dicke e von G 2 | 0,508 |
Durchmesser /der G 2-öifnung | 0,635 |
Abstand ? zwischen G 2 und G 3 | 0,838 |
Durchmesser Λ der G 3-öffnung | 1,524 |
Länge/von G3 | 23,495 |
Durchmesser./ der G 3-Linse | 5,436 |
Durchmesser k der G 4-Linse | 5,766 |
Abstand /zwischen G3 und G 4 | 1,270 |
Volt | |
Kathodensperrpotential | 150 |
G 1-Potential | 0 |
G 2-Potential | 625 |
G 3-Potential | 8 500 |
G4-Potential | 30 000 |
Bei der obigen Beschreibung war erwähnt worden, daß die dicke G2-Elektrode des neuen Systems 26 eine
einzige dicke gelochte Platte 52 enthält Die gelochte Platte der dicken G 2-Elektrode kann jedoch auch
durch einen Stapel oder eine Schichtstruktur aus mehreren dünneren gelochten Platten, deren Löcher fluchten,
gebildet werden.
Beispielsweise zeigt Fig. 10 eine andere Ausführungsform
einer dicken G 2-Elektrode 130, die zwei relativ dünne, gelochte Platten 132 enthält, welche durch
einen zum Beispiel ringförmigen Abstandshalter 134 getrennt sind. Die effektive Dicke der G2-Elektrode 130
ist der Abstand zwischen der nach außen weisenden Oberfläche der einen gelochten Platte 32 zu der entgegengesetzten,
nach außen weisenden Oberfläche der anderen Platte 132.
In Fig. 11 ist eine weitere Möglichkeit für die Konstruktion
einer dicken blendenartigen G2-Elektrode 140 dargestellt Die G 2-Elektrode 140 enthält zwei gelochte
Platten 142 mittlerer Dicke, die statt aneinander anliegen und mit ihren Löchern fluchten. Die effektive
Dicke der dicken G2-Elektrode 140 ist der Abstand zwischen der nach außen weisenden Oberfläche der einen
Platte 142 und der entgegengesetzten, nach außen weisenden Oberfläche der anderen Platte 142.
Allgemein gesprochen, sind die elektronenoptischen Eigenschaften des Elektronenstrahlerzeugungssystems
für eine gegebene G 3-Spannung umso besser, je kleiner der Abstand zwischen G 2 und G 3 ist Wenn das
G2-G3-Feld auf etwa 15 700 V/mm gesteigert wird,
nimmt die Größe des auf dem Bildschirm erzeugten Fleckes bei sonst unveränderten Faktoren laufend ab.
Zum Beispiel lieferte eine Ausführungsform des Systems 26. bei dem der Abstand G 2—G 3 0.838 mm betrug
und das mit einer Feldstärke Ea-ci vor
9409 V/mm betrieben wurde, bei einem vorgegebenen Strahlstrom einen Fleck von 2,75 mm Größe, während
das gleiche System bei einem Abstand G 2— G 3 von 1,219 mm und der gleichen Feldstärke £g2-gj und dem
gleichen Strahlstrom einen Fleck mit einer Größe von 2,95 mm liefert. Wenn der Abstand G 2-G 3 so klein
gemacht wird, daß Eci-a größer als e:wa
15 750 V/mm wird, treten im allgemeinen Probleme
ίο durch Spannungsinstabilitäten wie Überschläge zwischen
den Elektroden G 2 und G 3 auf. Für Eci-ct hat
sich der Arbeitsbereich von etwa 5900 bis 9850 V/mm als besonders vorteilhaft erwiesen. Dieser Bereich
schließt den steilsten Teil der Kurve ein, in dem sich für e:ne vorgegebene Feldstärkeänderung die größte Veränderung
der Strahleigenschaften ergibt. Das untere Ende dieses vorteilhaften und bevorzugten Bereiches
stellt eine beträchtliche Verbesserung gegenüber bekannten Systemen dar, die mit einem £c2-C3 von etwa
3940 V/iiitii arbeiten, und das obere Enue des bevorzugten
Bereiches ist genügend weit von der Durchschlagsfeldstärke entfernt.
Die Durchmesser der öffnungen der Gl- und der
G2-Elektrode werden auf der Basis konventionelle." Konstruktionsregeln für Elektronenstrahlerzeugungssystem-^
bemessen. Hier sind der gewünschte maximale Strahlstrom, die gewünschte Fleckgröße und die Steuerempfindlichkeit
zu berücksichtigen. Die Dicke der G2-Elektrode wird dann aufgrund der hier gegebenen
Konstruktionslehren bestimmt. Eine Dicke der G2-Elektrode, die gleich dem 0,4- bis l.Ofachen des
Durchmessers der Öffnung der G 2-Elektrode ist, hat sich als geeignet erweisen, die gewünschte divergierende
Wirkung an der Strahleintrittsseite der G 2-Elektrode zu erzeugen. Wenn man die Dicke von G 2 kleiner als
das 0,4fache des Durchmessers der öffnung von G 2 macht, erhält man eine zu geringe oder gar keine Diver-
naniiuiptiino
r»;«u« ..,χ« η t
öffnung von G 2 überschreitet, beginnen Aberrationseffekte
ausgeprägter in Erscheinung zu treten und die äußeren Strahlen des Elektronenstrahlbündels fangen
an, nach innen auf einen Vorüberkreuzungsbereich gerichtet zu werden, was einen unscharfen Strahlfleck
oder Strahlquerschnitt zur Folge hat, der einen >"chten
Kern mit einem diesen umgebenden Hof zu haben scheint. Wenn das Verhältnis der Dicke von G 2 zum
Durchmesser ihrer öffnung den Wert 1 zu überschreiten beginnt, entsteht außerdem in G 2 eine nutzlose
Driftzone und es wird zunehmend schwieriger, die Elektrodenteile durch konventionelle Stanzverfahren herzustellen.
Der Bereich von 0,4 bis 1,0 stellt also nicht nur in eiektronenoptischer Hinsicht sondern auch im Hinblick
auf die mechanische Herstellung einen praktisch zweckmäßigen Bereich dar.
Die Länge der G3-Elektrode wird so gewählt, daß der Elektronenstrahl in der Hauptfokussierungslinse am
hinteren Ende von G 3 einen Durchmesser von etwa der Hälfte oder etwas weniger als der Hälfte des Durchmessers
der linsenbildenden öffnung in der G3-EIektrode hat, wenn das Strahlerzeugungssystem mit einem willkürlich
gewähuen, normierten Weißwertsteuerstrom von 34 mA betrieben wird. Bei einem System mit den
oben angegebenen bevorzugten Betriebsspannungen und Konstruktionsparametern betrug der Durchmesser
des Elektronenstrahlbündels in der Hauptfokussierungslinse bei Aussteuerung des Elektronenstrahls auf
einen Strahlstrom von 3,5 mA etwa 2,229 mm oder das 0.4!fache des Durchmessers von G3 bei der Linse.
Wenn man G 3 langer macht, nimmt d'"e Objektweite zu
und die Vergrößerung wird dadurch weiter verringert. Dabei wird jedoch der Durchmesser des Elektronenstrahlbündeb in der Linse größer und die sphärische
Aberration der Linse wird problematischer. Macht man G 3 kürzer, so wird die sphärische Aberration kleiner,
dies jedoch auf Kosten einer Erhöhung der Vergrößerung. Eine Auslegung des Elektronenstrahlerzeugungssystems ,Or den maximal tragbaren Durchmesser des
Elektronenstrahlbündels in der Hauptfokussierungslinse hat auch den Vorteil einer geringeren StrahUichte, so
daß er weniger durch Raumladungseffekte beeinträchtigt wird. Eine Änderung der Dicke von G 2 von etwa
dem 0,4fachen auf das 1,Ofache des Durchmessers der
Öffnung von G 2 ändert den Oberkreuzungsbereich-Austrittswinkel ^des Elektronenstrahlbündels von etwa
0,0675 bis 0,042 Radiant, so daß die Länge von G 3 von
etwa dem ^fa^hen bis zum 5,0fachen des Durchmessers der Linsenöffnung der G3-Elektrode optimiert
wird.
Versuche haben gezeigt, daß das Verhältnis von 2^5
bis 5 zwischen der Länge von G 3 und dem Linsendurchmesser von G 3 nicht nur für einen Öffnungsdurchmesser von 0,635 mm der G2-Elektrode gilt,
(F i g. 7) sondern auch für andere geeignete Öffnungsabmessungen.
Der maximal zulässige Durchmesser des Elektronenstrahlbündeis wird nicht nur durch die sphärische Aberration begrenzt, sondern auch durch Verzerrungen des
Bündelquerschnitts, die das Ablenkfeld verursacht, wenn der Bündeldurchmesser im Ablenkfeld zu groß ist.
Dies gilt insbesondere für die in jüngerer Zeit entwikkelten selbstkonvergierenden Präzisions-Inlineröhren-Ablenkeinheiten.
Die bei den vorliegenden Systemen verringerten Winke! am Öberkreüzungsbercich erfordern eine
schwächere Hauptfokussierungslinse für die Abbildung des Oberkreuzungsbereiches auf den Bildschirm. Da die
Hauptfokussierungslinse zwischen G 3 und G 4 erzeugt wird, und da an G 4 die Bildröhrenhochspannung (Endanodenspannung) liegt, muß die Spannung an G 3 höher
sein als bei einem konventionellen System, damit sich
die gewünschte schwächere Linse ergibt. Dies hat zur Folge, daß die G3-Spannung stärker in die öffnung G 2
durchgreift, was theoretisch dem Wunsch widerspricht, einen vollständigen Durchgriff zu vermeiden, damit die
gewünschte divergierende Feldwirkung an der Strahleintrittsseite der öffnung von G 2 erzeugt werden kann.
Dieser scheinbare Konflikt kann jedoch einfach dadurch vermieden werden, daß man das Verhältnis der
Dicke von G 2 zum Durchmesser von G 2 über dasjenige hinaus erhöht, was sonst erforderlich wäre. Ein Vorteil der schwächeren Hauptlinse ist die naturgemäß geringere sphärische Anerration.
Versuche haben gezeigt, daß Abstände zwischen G1
und G 2 zwischen etwa 0,23 und etwa 038 mm einen optimal brauchbaren Bereich darstellen. Wenn man den
Abstand größer als etwa 038 mm macht, verschiebt sich das divergierende Feld an der Eintrittsseite der
G 2· Elektrode in den Überkreuzungsbereich oder über
diesen hinaus, so daß die gewünschte Wirkung, den Überkreuzungsbereich-Eintrittswinkel α herabzusetzen, verlorengeht. Macht man diesen Abstand kleiner
als etwa 0,23 mm, so beginnen Probleme hinsichtlich der mechanischen Toleranzen aufzutreten, die zu Kurzschlüssen zwischen G 1 und G 2 führen können. Wenn
man den Abstand wesentlich kleiner als 0,23 mm macht, kann außerdem das an der Eintrittsseite der G2-Elck
trode resultierende divergierende Feld so stark werden,
daß der Elektronenstrahl in einem derartigen Ausmaß zusammengedrückt wird, daß starke Raumladungseffekte auftreten und die Vorteile des gewünschten klei-
nen Oberkreuzungsbereich-Winkels zunichte machen.
Ahnliche Folgen eines zu starken divergierenden oder zerstreuenden Feldes an der Eintrittsseite der G 2-Elektrode ergeben sich, wenn die Spannungsdifferenz zwischen G1 und G 2 zu groß wird.
ίο Änderungen der Stärke des divergierenden oder zerstreuenden Feldes an der Eintrittsseite der öffnung der
G 2-Elektrode beeinflussen nicht nur die Größe des Oberkreuzungsbereich-Eintrittswinkels a, sondern verschieben auch den Oberkreuzungsbereich nach vorne
oder hinten. Diese Bewegungen des Oberkreuzungsbereiches sind jedoch verhältnismäßig klein und sind daher
für die Konstruktion nicht besonders wesentlich.
Die in F i g. 8 dargestellte Kurve fordert zwar für eine G2-Öffnung von etwa 03 mm eine Länge von etwas
weniger als 223 mm für die G3-Elektrode, bei dem System 26, für das oben speziell? Konstruktionsparameter
angegeben sind, beträgt die Länge der G 3-Elektrode
jedoch 23,5 nun. Die G3-Elektrode wurde hier zusätzlich verlängert, um eine Struktur als ganzes zu schaffen,
die mit einer G3-Spannung von 8500 Volt und 30 000
VcJt an G 4 ordnungsgemäß arbeitet Die Abweichung von der optimalen Länge für G 3 ist hinsichtlich des
Kompromisses zwischen der sphärischen Aberration und der Vergrößerung unwesentlich.
Das vorliegende Elektronenstrahlerzeugungssystem wurde am Beispiel eines Dreistrahl-Inline-Systems beschrieben. Die Erfindung läßt sich jedoch auch bei einem Dreistrahl-Delta-System oder einem Einstrahlsystem verwirklichen.
Claims (2)
1. Elektronenstrahlerzeugungssystem mit — in
Strahlrichtung im Abstand hintereinander angeordnet — einer Kathode, einer blendenförmigen Steuerelektrode,
einer blendenförmigen Schirmgitterelektrode sowie mit einer rohrförmigen ersten Linsenelektrode,
deren Länge mindestens etwa das 2,5fache des Durchmessers beträgt, und einer rohrförmigen
zweiten Linsenelektrode, die eine Bipotentiallinse bilden, dadurch gekennzeichnet,
daß in dem Maße, wie die Dicke der Schirmgitterelektrode (G 2,38) vom 0,4- bis l.Ofachen des Durchmessers
f/Jder Öffnung (56) der Schirmgitterelektrode
geändert wird, die Länge (i) der ersten Linsenelektrode (G 3,40) vom 24- bis 5,0fachen des Durchmessers
(J) der ersten Linsenelektrode geändert wird.
2. Be&tronenstrahlerzeugungssystem nach Anspruch
i, gekennzeichnet durch die folgenden Abmessungen und Abstände in mm:
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---|---|---|---|
US89558878A | 1978-04-12 | 1978-04-12 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
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DE2914838C2 true DE2914838C2 (de) | 1986-11-06 |
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Family Applications (1)
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---|---|---|---|
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SU (1) | SU1722254A3 (de) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4234814A (en) * | 1978-09-25 | 1980-11-18 | Rca Corporation | Electron gun with astigmatic flare-reducing beam forming region |
US4498028A (en) * | 1981-09-28 | 1985-02-05 | Zenith Electronics Corporation | Ultra-short LoBi electron gun for very short cathode ray tubes |
US4529910A (en) * | 1982-03-31 | 1985-07-16 | Zenith Electronics Corporation | High-performance electron gun |
NL8204185A (nl) * | 1982-10-29 | 1984-05-16 | Philips Nv | Kathodestraalbuis. |
JPS59148242A (ja) * | 1983-02-14 | 1984-08-24 | Matsushita Electronics Corp | 受像管装置 |
EP0237005A3 (de) * | 1986-03-11 | 1988-10-12 | Matsushita Electronics Corporation | Farbbildröhre |
FR2724048B1 (fr) * | 1994-08-26 | 1997-01-10 | Thomson Tubes & Displays | Canon a electrons coplanaire a zone de formation de faisceau amelioree |
JP2000243218A (ja) | 1999-02-17 | 2000-09-08 | Nec Corp | 電子放出装置及びその駆動方法 |
Family Cites Families (7)
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US3090882A (en) * | 1960-04-13 | 1963-05-21 | Rca Corp | Electron gun |
US3295001A (en) * | 1963-06-04 | 1966-12-27 | Sylvania Electric Prod | Cathode ray tube gun having a second grid with an effective thickness |
US3374379A (en) * | 1964-03-02 | 1968-03-19 | Nippon Columbia | Low second grid voltage electron gun |
BE793992A (fr) * | 1972-01-14 | 1973-05-02 | Rca Corp | Tube a rayons cathodiques |
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US3995194A (en) * | 1974-08-02 | 1976-11-30 | Zenith Radio Corporation | Electron gun having an extended field electrostatic focus lens |
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