DE2317440A1 - Musteraufbereitungsanordnung - Google Patents
MusteraufbereitungsanordnungInfo
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Description
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-* -■■ ■ ύ η c h 3 η ί% Clsifisdorfstr, It
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81-20.502P 6. 4. 1973
Mus teraufbereitungsanordnung
Die Erfindung bezieht sich auf eine Musteraufbereitungsanordnung und insbesondere auf eine in einer Mustererkennungslogik
verwendete Musteraufbereitungsanordnung,
um das abgetastete Mustersignal vor seiner Einspeisung in die Mustererkennungslogik zu formen.
um das abgetastete Mustersignal vor seiner Einspeisung in die Mustererkennungslogik zu formen.
Eine Anordnung zur Zeichenerkennung, Randlinienerkennung von dreidimensionalen Körpern, Plan- oder Kartenerkennung
oder Erkennung von Fingerabdrücken oder Porträts kann als Mustererkennungsanordnung bezeichnet werden.
Die Mustererkennungsanordnung verwendet eine Abtasteinrichtung, beispielsweise einen Lichtpunktabtaster, eine
Vidikonröhre oder eine Photoelement-Umwandlungsmatrix,
81-(POS 30240)-Ko-r (8)
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die ein Zeichen auf einem Beleg (Dokument oder Schriftstück)
abtastet und es in ein elektrisches Signal umsetzt, wobei das elektrische Signal quantisiert (digital
dargestellt) ist, wie beispielsweise entsprechend zu den Helligkeitsveränderungen bei schwarzen und weißen Bereichen.
Mit anderen Worten, die durch Abtastung der weißen Untergrundsfläche erzeugten elektrischen Signale werden
in eine binäre "O" umgesetzt, während die durch Abtastung
der Zeichenfläche erzeugten elektrischen Signale in eine
binäre "1" umgesetzt werden. Dieses digital dargestellte Mustersignal wird dann in die Musteraufbereitungsanordnung
eingespeist, wo das Signal verarbeitet wird, um beispielsweise ein Rauschen zu entfernen, so daß es einwandfrei
in der folgenden Erkennungslogik erkannt werden kanns
wenn es in diese eingespeist wird. Die Erkennungslogik führt entsprechend zu der Identität der eingegebenen Zeichen
eine Erkennung durch. Es gibt verschiedene Möglichkeiten für die Mustererkennung in der Erkennungslogik.
Beispielsweise weist die Erkennungslogik einen vorbestimmten Satz von Mustern (Zeichen) auf, so daß das elektrische
Signal des durch den Abtaster abgetasteten Musters einem vorbestimmten Satz von Mustern überlagert wird» Das
Muster, das mit dem Signal am genauesten übereinstimmt, wird als das abgetastete Muster erkannt. Bei einem anderen
Verfahren wird die Erkennung durch Überprüfung des Vorliegens und der Richtung der verschiedenen Striche
des Zeichens durchgeführt.
Das durch die Abtastung erzeugte elektrische Signal des Musters weist ein beträchtliches Rauschen aufgrund
des das Muster tragenden Belegs, einer uneinheitlichen Qualität der gedruckten Zeichen oder dergleichen auf.
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ORIGINAL INSPECTID
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Weiterhin ist der Strich mit einer gewissen Dicke geschrieben,
und so wird das Muster in der Form eines elektrischen Signales dargestellt, das den Strich oder die
Striche mit einer gewissen Dicke wiedergibt. Daher ist es nicht zweckmäßig, das elektrische Signal des durch
Abtastung erhaltenen Musters digital darzustellen und dann in die Erkennungslogik einzuspeisen. Es ist daher
anzustreben, daß das eingegebene Muster in der Musteraufbereitungsanordnung verarbeitet wird, um die im eingegebenen
Muster enthaltenen Rauschanteile zu entfernen und eine Normierung der Dicke des eingegebenen Musters
zu bewirken, d. h. eine Skelettierung (Verdünnungsprozeß), wodurch eine sachgemäße Mustererkennung in der Erkennungslogik gewährleistet wird.
Bisher wurde der größte Teil der Mustererkennung mit Programmen (Software) durchgeführt. Insbesondere wurde
bisher noch nicht diskutiert, die Skelettierung mit speziell ausgelegten Bausteinen (Hardware) durchzuführen.
Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Musteraufbereitungsanordnung
anzugeben, die ein eingegebenes Muster vor seiner Einspeisung in eine Erkennungslogik
zweckmäßig verarbeitet. Die Anordnung soll die Skelettierung (den Verdünnungsprozeß) bei einem eingegebenen Muster
durchführen und im eingegebenen Muster enthaltene Rauschanteile entfernen.
Die vorliegende Erfindung umfaßt eine Musteraufbereitungsanordnung
für Mustererkennungssysteme, die dazu ausgelegt
sind, die digital dargestellte Form eines durch Abtastung erzeugten eingegebenen Musters abzuändern. Die An-
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Ordnung umfaßt mindestens ein Schieberegister, in dem ein
eingegebenes Muster gespeichert und in der Reihenfolge seiner Abtastung verschoben wird, und einen Musterskelettierer,
der auf der Grundlage einer vorbestimmten Bit-Stellung des Schieberegisters' die Bit-Inhalte in Übereinstimmung
mit dem eingegebenen Muster der ausgewählten Bit-Stellungen neben den vorgegebenen Bit-Stellungen empfängt
und den Inhalt der vorgegebenen Bit-Stellung löscht, um
ein Endsignal zu erzeugen, wenn die Inhalte der benachbarten
Bit-Stellungen ein Muster aus dem vorbestimmten Satz von Mustern anzeigen.
Nachfolgend wird die Erfindung anhand der Zeichnung
näher erläutert,, Es zeigens
Fig. 1 ein Blockschaltbild eines Zeichenerkennüngssystems;
Fig. 2 a - 2 c eine Operationsfolge zur Durchführung der Skeiettierung eines Musters mit der erfindungsgemäßen
Musteraufbereitungsanordnung;
Fig. 3 ein Diagramm zur Erläuterung des Prinzips der
Skelettierlogik;
Fig. k einen Satz von Logikeinrichtungen, die bei
einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden , Erfindung verwendet werden;
Fig. 5 a und j> b die bei einem Muster in Übereinstimmung
mit den in der Fig. h dargestellten Logikeinrichtungen durchgeführte Skeiettierung;
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Fig. 6 ein Blockschaltbild eines Ausführungsbeispiels
der vorliegenden Erfindung;
Fig. 7 Zeitgeberimpulse, die bei dem in der Fig. 6 dargestellten Ausführungsbeispiel verwendet
werden;
Fig. 8 eine Schaltung des in der Fig. 6 dargestellten ersten, zweiten und dritten Schieberegisters
;
Fig. 9 die logische Schaltung eines Lückenfüllers
und dessen Steuerschaltung, wie diese in der Fig. 6 dargestellt sind;
Fig. 10 ein Diagramm zur Erläuterung des Lückenfüllers;
Fig» 11 ein Diagramm zur Erläuterung der Beziehungen
zwischen den in der Fig. h dargestellten Logikeinrichtungen
und den Bit-Stellungen des ersten Schieberegisters;
Fig. 12 eine logische Schaltung mit der ersten Skelettiereinheit
und der zugeordneten Betriebsart-Steuerschaltung (Fig. 6);
Fig. 13 eine logische Schaltung der zweiten Skelettiereinheit und der zugeordneten Betriebsart-Steuerschaltung
(Fig. 6);
Fig. lh eine logische Schaltung der dritten Skelettiereinheit,
der zugeordneten Betriebsart-Steuer-
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schaltung des T-Registers und des Gatters (Fig. 6); und
Fig. 15 eine logische Schaltung der in der Fig. 6 dargestellten Mustereinleiteinrichtung (Zeichendetektor).
In der Fig. 1 ist allgemein ein Mustererkennungssystem
dargestellt« Bei diesem System wird ein Zeichen 12 auf einem
Beleg 11 durch einen Abtaster 13 so abgetastet, daß ein fotoelektrischer Umsetzer 14 das Muster mit dem reflektierten
Licht in elektrische Signale umsetzt. Der Abtaster kann eine bekannte Abtasteinrichtung sein, wie beispielsweise
ein Lichtpunktabtaster, eine Vidikonröhre oder eine Fotoelement-Matrix. Die Abtastung wird durch ein herkömmliches
Verfahren durchgeführt, bei dem das eingegebene Muster durch Abtastung von mehreren senkrechten oder
wäagrechten Linien, die das Muster kreuzen, vom einen zum anderen Ende und durch Verschiebung vom anderen Ende von
jeder Linie zum einen Ende der nächsten Linie mit Hilfe von vorgegebenen Synchronisiersignalen durchgeführt wird«
Dieses Signal wird in eine Video-Verarbeitungseinheit 15 eingespeist, wo es einer Pegeleinsteilung usw, unterworfen
wird. Das Signal wird dann in einer Quantisiereinheit 16 in digitale Signale umgesetzt, die entweder ein 11I11-
oder ein "O"-Signal sind» Eine Aufbereitungseinheit 17,
die ein Merkmal der vorliegenden Erfindung bildet, führt bei diesen digitalen Signalen eine Skelettierung durch
und entfernt das Rauschen. Das Ausgangssignal wird in
eine Erkennungslogik 18 eingespeist.
In den Fig. 2a bis 2c ist dargestellt, wie das ein-
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gegebene Muster, das im vorliegenden Fall ein "N" ist,
durch die Aufbereitung abgewandelt wird. Ein Muster 21 bezeichnet ein eingegebenes Muster, das in die Aufbereitungseinheit
17 eingespeist wird. In diesen Figuren bezeichnen die Symbole "*" digitale "1"-Signale. Die Abwesenheit
derartiger Symbole "*" bezeichnen "O"-Signale.
Die TJmrißlinie des eingegebenen Musters 21 ist nicht bestimmt.
Weiterhin sind Lücken oder Leerstellen 21a (eine Art des Rauschens) und ein isolierter Punkt 21b vorgesehen.
Die Aufbereitungseinheit füllt zunächst die Lücken 21a. Mit 22 ist ein Muster bezeichnet, bei dem die Lükken
gefüllt sind. Sodann werden die Skelettierung und das Entfernen des Rauschens beim Muster durchgeführt,
wobei lediglich das Skelett oder Gerippe des Musters zurückbleibt. Mit 23 ist ein Muster bezeichnet, das nach
der Skelettierung erhalten wird.
Bevor ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel der Erfindung näher erläutert wird, soll das Grundprinzip der bei
der Erfindung verwendeten Skelettierung näher erläutert werden« Die 3 x 3-Matrix der Fig. 3 zeigt das Prinzip der
Skettierlogik, und die Anordnung der Bits a bis h und X ist identisch mit der Anordnung von Bits, die ein eingegebenes
Muster darstellen. Diese Logik zeigt an, daß abhängig vom Wert (entweder "1" oder "O" des digitalen Signales),
der von jedem der Bits a bis h und X angenommen wird, das Bit X gelöscht wird, d. h. das Bit X wird in
den "O"-Zustand gebracht. In Fig. 4 ist ein Beispiel der
Skelettierlogik mit speziellen 3 x 3-Matrizen dargestellt,
die in einem bevorzugten Ausführungsbeispiel verwendet werden, was weiter unten näher erläutert wird. Wenn diese
Logikeinrichtungen, die das mittlere Bit umgeben, das
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durch (i) bezeichnet ist, die dargestellte Logik erfüllen,
dann wird das mittlere Bit (i) gelöscnt. Beispielsweise
wird für die lonke Logik L1 in diesem Fall das mittlere
Bit X in den "O"-Zustand gebracht, wenn das Bit b "0" und die Bits d bis h "1" sind. Es ist auch angezeigt,
daß das Bit für den freien Platz entweder "0" oder "1" sein kann. Die Logik L_ verwendet eine 3 x 4-Matrix»
In den Fig. 5a und 5b ist ein spezielles Beispiel
der Skelettierung dargestellt, die in Übereinstimmung mit den in der Fig. k gezeigten Skelettier-Logikeinrichtungen
durchgeführt wird. In der Fig. 5a sind die mit L1
bis Lo bezeichneten Bits durch die in der Fig. k gezeigten
Logikeinrichtungen L1 bis Lq im "O"-Zustand« Das so
dieser Skelettierlogik unterworfene Muster wird "verdünnt" oder skelettiert, wie dies in Fig. 5b dargestellt
ist. Ein Vergleich zwischen den Figo 5a und 5b zeigt,
daß das in der Fig. 5b dargestellte Muster lediglich
das Skelett aus den kennzeichnenden Eigenschaften des
in der Figo 5a gezeigten Musters beibehält» Es kann als
Muster betrachtet werden, das sofort erkannt werden kann»
In der Figo 6 ist ein Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Musteraufbereitungsanordnung dargestellte
Der Abtaster tastet das eingegebene Muster in der Längsrichtung von oben nach unten ab. Er bewegt sich danach
von rechts nach links und tastet so das ganze Muster abe
Deshalb wird das von der Quantisiereinheit in die Musteraufbereitungsanordnung eingespeiste Eingangsmuster-Signal
Bit an Bit übereinstimmend mit der Abtastung des Musters
eingeführt. Die Anzahl der Musterabtastpunkte für eine Abtastung beträgt 36. Jedes der tatsächlichen Muster kann
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ORIGiMAL INSPECTED
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durch 32 Punkte oder weniger dargestellt werden» Jeder
dieser Abtastpunkte wird durch die Quantisiereinheit in ein digitales Signal umgewandelt, das entweder eine "1"
oder eine "0" darstellt. Das sich ergebende Mustersignal wird in die Musteraufbereitungsanordnung 17 eingespeiste
Das Eingangsmustersignal von der Quantisiereinheit
16 wird über eine Leitung 4l in ein erstes Schieberegister
42 eingespeist. Während die Kapazität des ersten Schieberegisters 42 weiter unten näher mit der 3 x 3-Matrix
(der 4 χ 3-Matrix für die Logik L7) näher erläutert
wird, wenn die Ausfüllung der Lücken und die Skelettierung durchgeführt ist, wie dies weiter oben erwähnt wurde,
genügt es, wenn die minimale Kapazität so bemessen ist, daß die durch die drei Abtastungen von jedem eingegebenen
Muster erzeugten Signale gespeichert werden können, Daher kann ein Schieberegister mit einer Kapazität
von 36 x 3 = 108 Bits verwendet werden»
Ein Lückenfüller 45 ist mit dem ersten Schieberegister
42 verbunden» Sein Ausgang ist mit dem ersten Schieberegister 42 über ein Betriebsart-Steuerglied 46
verbunden. Der Lückenfüller 45, der weiter unten näher
erläutert wird, füllt Lücken, wie beispielsweise die Lükke 21a in Figo 2, Eine erste Skelettiereinheit 47 ist
ebenfalls mit dem ersten Schieberegister 42 verbundene Die erste Skelettiereinheit 47 wird weiter unten näher
erläutert. Ihr Ausgang ist über ein Betriebsart-Steuerglied 48 mit einem zweiten Schieberegister 43 verbunden«
Das zweite Schieberegister 43 besteht aus einem
Schieberegister, das zum ersten Schieberegister 42 iden-
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ORIGINAL INSPECTED
■"■17U0
tisch ist, Eine zweite Skelettiereinheit 49 ist mit den?,
zweiten Schieberegister 43 verbunden. Die zweite Skelettiereinheit
k-9 ist ebenfalls mit der ersten Skelettiereinheit
47 identisch. Das Ausgangssignal der zweiten
Skelettiereinheit 49 wird über ein Betriebsart-Steuerglied 50 in ein drittes Schieberegister 44 eingespeist»
Ein Musterdetektor 51 ist mit dem zweiten Schieberegister 43 verbunden» Das Ausgangssignal wird in die Erkennungslogik
18 (Fig. 1) eingespeist, so daß der Erkennungslogik der Beginn und das Ende eines Musters (eines
Zeichens) mitgeteilt wird.
Das dritte Schieberegister 44 ist mit dem ersten
und zweiten Schieberegister identisch. Eine dritte Skelettiereinheit 52, die mit dem dritten Schieberegister
44 verbunden ist, ist ebenfalls mit der ersten'und der zweiten Skelettiereinheit identisch. Das Ausgangssignal
der dritten Skelettiereinheit 52 wird über ein Betriebsart-Steuerglied
53 in ein T-Register 54 eingespeist,, Sodann
wird es über ein Gatter 55 zur Erkennungslogik 18
übertragen. Die Zeit, in der das Ausgangssignal des T-Registers
54 über das Gatter 55 iii die Erkennungs logik
18 eingespeist wird, ist der Zeit zugeordnet, in der das Ausgangssignal des Musterdetektors 51 in die Erkennungslogik 18 eingespeist wird. Mit anderen Worten, synchron
mit der Einspeisung des ersten Teiles des Mustersignals eines gegebenen Musters über das Gatter ^ in die Erkennungslogik
18 wird ein Signal, das den Beginn-des Musters
anzeigt, vom Musterdetektor 51 in die Erkennungslogik 18
eingespeist,. Weiterhin wird synchron mit der Einspeisung des letzten Teils des Mustersignales über das Gatter 50
in die Erkennungslogik 18 ein Signal vom Musterdetektor
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-TI-
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in die Erkennungslogik 18 eingespeist, das das Ende des
Musters anzeigt.
Bei dem in der Fig. 6 dargestellten Ausführungsbeispiel wird der Skelettierprozeß dreimal wiederholt. Der
Skelettierprozeß kann so oft wiederholt werden, wie dies gewünscht ist, wobei die Anzahl von der Betrachtung der
Strichstärke des Musters, der Musterabtastdichte, der
Mustererkennung usw. abhängt. Bei dem in der Fig. 2a dargestellten Muster 21 bewirken drei Skelettierprozesse
ein Muster, das lediglich das Skelett beibehält, wie dies bei dem in Fig. 2c dargestellten Muster 23 der Fall ist.
Weitere Skelettierprozesse am Muster 23 bewirken ein dem Muster 23 ähnliches Muster und sind daher nutzlos. Um
jede gewünschte Anzahl von Skelettierprozessen durchzuführen, kann das Ausgangssignal des Betriebsart-Steuergliedes
48 in einem Magnetkernspeicher gespeichert und dann vom Magnetkernspeicher wieder in das erste Schieberegister
42 eingespeist werden, wodurch das Mustersignal zwischen dem ersten Schieberegister 42 und dem Magnetkernspeicher
übertragen wird, so daß der Skelettierprozeß mit lediglich einem einzigen Schieberegister so oft
durchgeführt werden kann, wie dies gewünscht ist.
In Fig. 6 ist weiterhin ein Taktgenerator 56 dargestellt.
Der Taktgenerator $6 empfängt SS-Signale (Speicherbefehlssignale)
und erzeugt Taktimpulse a, b. bis b„,
d. bis d„, e, f und g. Die Signalformen dieser Taktimpulse
sind in der Fig. 7 dargestellt. Die SS-Signale sind Synchronisiersignale, die von einem nicht dargestellten
Synchronisiersignalgenerator erzeugt werden, um die Verschiebung der Abtastlinien während der Abtastung eines
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ORIGINAL INSPEGTl=D
Musters durch den Abtaster 13 zu leiten. Die Abtastung
der jeweiligen Abtastlinien wird durch die. SS-Signale eingeleitet. Die Einspeisung des SS-Signales bewirkt die
Erzeugung des Grundtaktimpulses a, aus dem die Taktimpulse b bis b„ in drei Phasen erzeugt werden. Aus diesen
Taktimpulsen b1 bis b„mit drei Phasen wird eine
vorbestimmte Anzahl von Impulsen (36 Impulse bei diesem
Ausführungsbeispiel) am Beginn von jeder Abtestlinie erzeugt, wie beispielsweise die Taktimpulse d1 bis d„. Diese
Anzahl (36 Impulse) entspricht den Abtastpunkten einer
Abtastlinie. Die Taktimpulse d., werden in das erste, zweite
und dritte Schieberegister eingespeist, um die Verschiebung zu bewirken. Die Taktimpulse d„ werden in das
Betriebsart-Steuerglied 36 eingespeist und als Synchronisierimpulse zur Ansteuerung des Ausgangssignals: des
Lückenfüllers 45 verwendet. Die Taktimpulse d2 werden
ebenfalls in den Musterdetektor 51 eingespeist,, Die Taktimpulse
d_ werden in die Betriebsart-Steuerglieder 48, 50 und 53 eingespeist und als Synchronisierimpulse für
die Skelettierprozesse verwendet. Die Taktimpulse e werden in das Gatter 55 eingespeist und als Synchronisierimpulse
für das Musterausgangssignal verwendet, das in die Erkennungslogik 18 eingespeist wird. Es liegen 32
Taktimpulse d„ vor. Obwohl für jede senkrechte Abtastung
36 Abtastpunkte vorhanden sind, so kann ein gegebenes
Muster innerhalb von 32 Punkten aller Abtastpunkte gefunden
werden» Weiterhin werden die Taktimpulse f und g in den Musterdetektor 51 eingespeist.
Im folgenden werden die einzelnen Teile des in der Fig. 6 dargestellten Äusführungsbeispiels näher erläutert.
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In der Fig. 8 sind schematisch das erste', zweite und dritte Schieberegister dargestellt. Zusätzlich ist
das T-Schieberegister $K gezeigt. Das erste, zweite und
dritte Schieberegister hat eine Kapazität von 112 Bits
und besteht aus einem 4-Bit-Schieberegister und drei 36-Bit-Schieberegistern,
die parallel angeordnet sind. Die Anzahl von 36 Bits entspricht der Anzahl von 36 Abtastpunkten
für eine Abtastung eines Musters durch den oben beschriebenen Abtaster. Zum leichteren Verständnis sind
die jeweiligen Bit-Stellungen in diesen Schieberegistern, vom ersten Schieberegister 12 bis zum T-Register 5**, mit
A bis T bezeichnet. Die Bit-Stellungen sind durch Bit-Zahlen 1 bis 36 dargest lit. Beispielsweise ist die 35·
Bit-Stellung im Α-Register mit A35 bezeichnet. Das Eihgangsmustersignal
(digitales Signal) von der Quantisiereinheit 16 wird bei der Bit-Stellung A33 des ersten Schieberegisters
hZ über die Leitung 41 eingespeist» Das bei
der Bit-Stellung A33 eingespeiste Signal wird über A32*,
A35» ··· bis D36 durch die Taktimpulse d. verschoben. In
diesem Zustand wird der durch die erste Abtastung abgetastete Teil des eingegebenen Musters im D-Register gespeicherto
Der durch die zweite Abtastung abgetastete Teil wird im C-Register gespeichert. Der durch die dritte
Abtastung abgetastete Teil wird im B-Register gespeichert.
In Fig. 9 sind der Lückenfüller h$ und das Betriebsart-Steuerglied
h6 dargestellt. Ein UND-Glied 57 empfängt
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die "1"-Ausgangssignale der Bit-StellungenA33, B32, B34
und C33» so daß es geöffnet ist, wenn jedes der vier Ausgangssignale
"1" 1st. Das Betriebsart-Steuerglied k6 besteht
aus einem UND-Glied 58", das das Ausgangssignal des UND-Gliedes 57, den Taktimpuls d„ und ein Lockenfüll-Betriebsartsignal
59 empfängt. Um den Lückenfüllprozeß durchzuführen, wird ein "!"-Signal in die Leitung 59 von
einem nicht dargestellten Signalgenerator von Hand ge'-steuert oder entsprechend einem vorbestimmten Programm
eingespeist. Eine Ausgangsleitung 60 des UND-Gliedes 58 ist mit dem Setzeingang der Bit-Stellung B33 verbunden.
Die Bedeutung der in der Fig. 9 dargestellten Einheit wird anhand der Fig. 10 näher erläutert. Mit anderen Worten,
in der Fig. 10 ist ein Beispiel eines Teiles eines eingegebenen Musters dargestellt. Wenn die Bit-Stellungen
A'33, B'32, B'34 und C'33, die auf allen Seiten der
Bit-Stellung B·33 liegen, im "1"-Zustand 'sind, dann wird
die mittlere Bit-Stellung B133 in den "1"-Zustand gesetzt.
Die Bit-Stellung B133 entspricht der Lücke "21a
bei dem in Fig. 2 gezeigten Muster. Alle Bits des eingegebenen Musters durchlaufen die Bit-Stellung B33 des
ersten Schieberegisters k2„ Daher wird der Lückenfüllprozeß
in der Bit-Stellung B33 vor dem Skelettierprozeß durchgeführt. v
Skelettiereinheiten
,
In Fig. 12 sind die Skelettiereinheit 4? und das Betriebsart-Steuerglied
48 der Fig. 6 näher dargestellt..
Die Skelettiereinheit k7 umfaßt alle erforderlichen Schaltungen
zur Durchführung aller in Fig. h gezeigten Logik-Operationen.
Wie in der Fig. 11 dargestellt, entsprechen
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die jeweiligen Bits der Skelettierlogik der Fig. 4 den Bit-Stellungen des ersten Schieberegisters 42. Die Bit-Stellung
C34 entspricht dem mittleren Bit (i). Im folgenden
soll beispielsweise die Logik L- näher erläutert werden. Da die Logik L1 zwei Logikglieder besitzt, sind
zwei UND-Glieder 6i und 62 vorgesehen. Das UND-Glied
empfängt die "1"-Ausgangssignale der Bit-Stellungen B33, B34, C33, D33 und D34 und das "O"-Ausgangssignal der Bit-Stellung
C35 (mit C35 bezeichnet). Mit anderen Worten, das UND-Glied 61 erzeugt ein "1"-Signal, wenn entsprechend
zum eingegebenen Muster die Bit-Inhalte des ersten Schieberegisters 42, die den Bit-Stellungen neben der
Bit-Stellung C34 entsprechen, das vorbestimmte Muster
von L1 anzeigen. Für die Einrichtungen L_ bis Lq sind
ähnliche UND-Glieder vorgesehen. Die Ausgangssignale dieser
UND-Glieder werden in ein ODER-Glied 63 eingespeist.
Wenn eines aus einer großen Anzahl der UND-Glieder die zugehörige Logik erfüllt und so ein "1"-Ausgangssignal
erzeugt, dann speist das ODER-Glied 63 ein "1"-Ausgangssignal in ein NICHT-Glied oder einen Inverter 64, so daß
das Signal umgekehrt und ein "O"-Ausgangssignal in ein
UND-Glied 65 eines Betriebsart-Steuergliedes 48 eingespeist wird. Wenn andererseits keines dieser UND-Glieder
geöffnet ist, dann wird ein "O»-Signal in das NICHT-Glied
64 eingespeist, so daß das UND-Glied 65 ein "1"-Signal
empfängt.
Weiterhin werden das "1"-Ausgangssignal der Bit-Stellung
C34, der Taktimpuls d„ und das Skelettier-Betriebs—
artsignal' in das UND-Glied 65 des Betriebsart-Steuergliedes
48 eingespeist. Das Skelettier-Betriebsartsignal wird vom Signalgenerator von Hand oder entsprechend einem vor-
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bestimmten Programm gesteuert eingespeist, wodurch der
Skelettierprozeß durchgeführt wird. Wenn das JTICHT-Glied
64 ein "T"-Ausgangssignal erzeugt, d. h. wenn keine der
Logiken L1 bis Lq erfüllt ist, dann wird der inhalt der
Bit-Stellung C34 in die Bit-Stellung E33 des zweiten
Schieberegisters 43 eingespeist. Venn andererseits das
NICHT-Glied 64 ein "O"-Ausgangssignal erzeugt, dann wird
das UND-Glied 65 nicht geöffnet, so daß die Bit-Stellung
C34 als rückgesetzt angenommen wird, wodurch ein "O"-Ausgangssignal
in einer Leitung 66 erzeugt wird.. Es soll bemerkt werden, daß die Bit-Stellung C34 selbst nicht rückgesetzt
wird. Mit anderen Worten, wenn eine der Logiken L1 bis Ln erfüllt ist, dann werden das mittlere Bit (1)
gelöscht und ein "O"-Signal in das folgende Schieberegister eingespeist. Wenn keine der Logiken erfüllt ist, dann
wird der Inhalt der Bit-Stellung C34 als solcher in das
folgende Schieberegister eingespeist. Da dadurch alle Bits des Eingangsmustersignals durch die Bit-Stellung C34 des
ersten Schieberegisters 42 laufen, werden der Inhalt der
Bit-Stellung C34 als solcher oder alternativ das umgekehrte
"1"-Signal in das Glied E33 des folgenden Schieberegisters
eingespeist. Das eingegebene Muster, das durch die Bit-Stellung C34 gelaufen ist, wird weiter über C35,
C36, D1, .,. bis zum Glied D36 verschoben, von welchem es
abgegeben wird. Der Grund für diese Verschiebung bis zur Bit-Stellung D36 beruht auf der Tatsache, daß alle Bits
des eingegebenen Musters wie die Inhalte der Bit-Stellungen neben der mittleren Bit-Stellung C34 in die Skelettiereinheit
47 eingespeist werden müssen.
Das Muster, das dem eben beschriebenen ersten Skelettierprozeß
unterworfen wurde, wird in das zweite Schiebe-
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register 43 eingespeist. Die zweite und dritte Skelettiereinheit
49 und 52 ist mit der ersten Skelettiereinheit 47 identisch. Bei der zweiten Skelettiereinheit 49 müssen jedoch
die Namenfelder E bis H anstelle der Register-Namenfelder A bis D (Fig. 12) verwendet werden. Die mittlere
Bit-Stellung für diese Skelettiereinheit ist G34. Ebenso müssen bei der dritten Skelettiereinheit 52 die Register-Namenfelder A bis D (Fig. 12) durch die Namenfelder P bis S ersetzt werden. Die mittlere Bit-Stellung für die dritte Skelettiereinheit 52 ist R34.
Bit-Stellung für diese Skelettiereinheit ist G34. Ebenso müssen bei der dritten Skelettiereinheit 52 die Register-Namenfelder A bis D (Fig. 12) durch die Namenfelder P bis S ersetzt werden. Die mittlere Bit-Stellung für die dritte Skelettiereinheit 52 ist R34.
Im zweiten und dritten Schieberegister sind die Bit-Stellungen E33 und P33 jeweils mit einem Vorsetzeingang
versehen, der jeweils durch die Taktimpulse d» die von
den Betriebsart-Steuergliedern 48 und 50 eingespeisten
Signale empfängt.
versehen, der jeweils durch die Taktimpulse d» die von
den Betriebsart-Steuergliedern 48 und 50 eingespeisten
Signale empfängt.
In Fig. 13 ist das Betriebsart-Steuerglied 50 dargestellt,
das mit der schematisch gezeigten zweiten Skelettiereinheit 49 verbunden ist. Das Betriebsart-Steuerglied
50 besteht aus einem UND-Glied 67, das das Ausgangssignal
eines NICHT-Gliedes oder Inverters 641 der zweiten Skelettiereinheit
49, das "1"-Ausgangssignal der Bit-Stellung
G34, den Taktimpuls d„ und ein Skelettier-Betriebsartsignal
empfängt. Die Ausgangsleitung 68 ist mit der
Bit-Stellung P33 des dritten Schieberegisters 52 verbunden.
Bit-Stellung P33 des dritten Schieberegisters 52 verbunden.
In Fig. i4 sind die Glieder dargestellt, die mit der
schematisch gezeigten dritten Skelettiereinheit 52 verbunden
sind. Das Betriebsart-Steuerglied 53 besteht aus einem UND-Glied 69, in das das Ausgangsignal eines NICBT-
309841/0987
■ ■ - 18 -
Gliedes oder Inverters 64" der dritten Skelettiereinheit
52, das 1M "-Ausgangssignal der Bit-Stellung R34, der
Taktimpuls d„ und ein Skelettier-Betriebsartsignal eingespeist
werden. Die Ausgangsleitung 70 ist mit dem T-Register
54 verbunden. Eine Ausgangsleitung 71 des T-Registers
54 ist mit dem UND-Glied 55 verbunden. Durch die Taktimpulse e überträgt das UND-Glied 55 den Inhalt des
T-Registers über eine Leitung 72 zur Erkennüngslogik 18.
Auf ähnliche Weise wie die Bit-Stellungen E33 und P33 ist
das T-Register 54 mit einem Vorsetzeingang versehen.
Die Lückenfülleinheit 45 und die Skelettiereinheit
47 sind mit dem ersten Schieberegister 42 verbunden. Die
mittleren Bits für diese Prozesse sind jeweils die Bit-Stellungen B33 und C34. Auf diese Weise liegt die Bit-Stellung
B33 für den Lüekenfüllprozeß an erster Stelle in der Verschiebungsrichtung. Dann wird der Skelettierprozeß
so durchgeführt, daß der Prozeß an einem Punkt beginnt, in dem das Muster neben der weißen Untergrundfläche
liegt. Wenn folglich eine Lücke 21a wie in Fig. 2 vorliegt, dann beginnt der Prozeß bei dieser Lücke 21a. Es
ist deshalb unmöglich, das Skelett zu verlassen, das die kennzeichnenden Eigenschaften des Musters bildet. Wenn
deshalb die Lücke 21a vorliegt, dann ist es wichtig, daß der Skelettierprozeß nach der Durchführung des Lückenfüllprozesses
beginnt. Deshalb liegt das mittler'e Bit für den Skelettierprozeß in der Verschiebungsrichtung
hinter dem mittleren Bit für den Lüekenfüllprozeß.
3098 41/0987
In Fig. 15 ist der in Fig. 6 gezeigte Musterdetektor 51 dargestellt. Wie bereits oben erwähnt wurde, teilt
der Musterdetektor 51 der Erkennungslogik 18 den Beginn
und das Ende eines eingegebenen Musters synchron mit der Übertragung des verarbeiteten eingegebenen Musters der
Erkennungslogik 18 über das Gatter 55 (Fig. 6) mit.
Im Musterdetektor 51 empfängt ein ODER-Glied 73 die "1"-Ausgangssignale der Bit-Stellungen H32, G32, G33 und
G34. Das Ausgangssignal wird in ein UND-Glied 74 eingespeist.
Wenn der Taktimpuls d2 in das UND-Glied 74 eingespeist
wird, dann führt er die UND-Operation am Ausgangssignal des ODER-Gliedes 73 und am Ausgangssignal
der Bit-Stellung H33 durch. Das Ausgangssignal des UND-Gliedes
74 stellt ein Vorzeichen-Flipflop (R-S-Flipflop)
75 so ein, daß das Flipflop 75 sein Ausgangssignal über eine Leitung 76 in die Erkennungslogik 18 einspeist und
den Beginn eines eingegebenen Zeichens mitteilt. Das SS-Signal (Fig. 7) wird in den Rücksetzeingang des Flipflops
75 eingespeist, so daß es dieses auf den Beginn der senkrechten Abtastung rücksetzt. Der Zweck der Schaltung aus
dem ODER-Glied 73 und dem UND-Glied 74 liegt in der Anzeige
des Beginns des eingegebenen Musters, wenn ein "ln-Signal
in der Bit-Stellung H33 und ein "1"-Signal mindestens in einer der Bit-Stellungen H32, G32, G33 und G34
vorliegt. Wenn das den Beginn des Musters anzeigende Signal
vom Flipflop 75 eingespeist wird, dann wird das verarbeitete Signal, das während der nächsten senkrechten
Abtastzeit über das Gatter 55 in die Erkennungslogik 18
309841/0987
eingespeist wird, als Mustersignal behandelt. Mit anderen Worten, der erste Teil des Musters wird durch die n-te Abtastung
von der Bit-Stellung G32 zur Bit-Stellung H32 verschoben. Auf ähnliche Welse werden die verarbeiteten ersten
Bits zur Bit-Stellung Q32 verschoben. Die (n+1)-te Abtastung
bewirkt, daß das Signal in der Bit-Stellung H32 zur
Bit-Stellung H33 verläuft. Gleichzeitig wird das Flipflop 75 eingestellt, indem der Beginn des Mustersignals in die
Erkennungslogik 18 eingespeist wird. Ebenso wird das zuvor
verschobene Signal in der Bit-Stellung Q32 gleichzeitig
zur Bit-Stellung R32 verschoben. Danach bewirkt die (n+2)-te Abtastung, daß das Signal in der Bit-Stellung R32 zur Bit-Stellung R34 verläuft, die das mittlere Bit für den
dritten Skelettierprozeß bildet, so daß das Signal als
verarbeitetes Signal in die Erkennungslogik 18 eingespeist wird. Auf diese Weise wird das den Beginn des Musters anzeigende Signal während der (n+1)-ten Abtastung
in die Erkennungslogik 18 eingespeist, während das tatsächliche Mustersignal während der (n+2)-ten Abtastung in die Erkennungslogik 18 eingespeist wird. Nach dem Empfang des Beginns des Mustersignals empfängt die Erkennungslogik 18 das verarbeitete Signal über das. Gatter 55 als Mustersignal während der nächsten Abtastung.
zur Bit-Stellung R32 verschoben. Danach bewirkt die (n+2)-te Abtastung, daß das Signal in der Bit-Stellung R32 zur Bit-Stellung R34 verläuft, die das mittlere Bit für den
dritten Skelettierprozeß bildet, so daß das Signal als
verarbeitetes Signal in die Erkennungslogik 18 eingespeist wird. Auf diese Weise wird das den Beginn des Musters anzeigende Signal während der (n+1)-ten Abtastung
in die Erkennungslogik 18 eingespeist, während das tatsächliche Mustersignal während der (n+2)-ten Abtastung in die Erkennungslogik 18 eingespeist wird. Nach dem Empfang des Beginns des Mustersignals empfängt die Erkennungslogik 18 das verarbeitete Signal über das. Gatter 55 als Mustersignal während der nächsten Abtastung.
In Fig. 15 ist ein Weiß-Flipflop 78 dargestellt,, Das
Weiß-Flipflop 78 wird durch das logische Produkt aus dem
"!"-Signal in der Bit-Stellung E32 und dem Taktimpuls d2, der in ein UND-Glied 79 eingespeist wird, rückgesetzt.
Das Weiß-Flipflop 78 leitet seinen Namen von der Tatsache ab, daß es während der Abtastung einer weißen Untergrundfläche im eingestellten Zustand bleibt, wenn das Muster
in schwarz auf den weißen Untergrund geschrieben ist. Das
"!"-Signal in der Bit-Stellung E32 und dem Taktimpuls d2, der in ein UND-Glied 79 eingespeist wird, rückgesetzt.
Das Weiß-Flipflop 78 leitet seinen Namen von der Tatsache ab, daß es während der Abtastung einer weißen Untergrundfläche im eingestellten Zustand bleibt, wenn das Muster
in schwarz auf den weißen Untergrund geschrieben ist. Das
309841 /0987
ORIGINAL INSPECTED
2 317
Weiß-Flipflop 78 wird durch das SS-Signal dann eingestellt,
wenn die senkrechte Abtastung beginnt. Wenn während dieser Abtastung ein "1"-Signal (ein "1"-Signal zeigt die Anwesenheit
eines Musters an) nicht zur Bit-Stellung G32 des zweiten Schieberegisters 43 verschoben wird, dann wird
das UND-Glied 79 nicht geöffnet. Dadurch wird das Weiß-Flipflop 78 nicht rückgesetzt. Es empfängt das SS-Signal
aufgrund des Beginns der nächsten senkrechten Abtastung. Ein UND-Glied 80 erzeugt das logische Produkt aus dem
Setz-Ausgangssignal des Weiß-Flipflops 78 und dem Taktimpuls
f, der ungefähr am Ende von jeder Abtastung auftritt.
Das Ausgangssignal wird in einen 3-Zähler 81 eingespeist.
Der 3-Zähler 81 erhöht seine Zähleranzeige, wenn er einen Impuls vom UND-Glied 80 empfängt. Er wird durch
den Ausgangsimpuls des UND-Gliedes 79 gelöscht. Wenn "demgemäß
kein "1"-Signal (Schwarz-Signal) in der Bit-Stellung
G32 während drei fortlaufenden senkrechten Abtastzeiten
auftritt, dann zählt der 3-Zähler 81 bis "drei" und speist sein Ausgangssignal zu einem UND-Glied 82o
Das UND-Glied 82 führt die UND-Operation am Ausgang des 3-Zählers 81 und am Taktimpuls g durch, der etwas später
als der Taktimpuls f auftritt, und speist ein Ausgangssignal über eine Leitung 83 zur Erkennungslogik 18. Dieses
Signal wird dazu verwendet, um das Ende des Musters anzuzeigen, Da die Muster (Zeichen) auf dem Beleg in Intervallen
über drei Abtastungen geschrieben sind, zeigt die Abwesenheit aller Muster während drei Abtastungen
das Ende eines Musters an. Wenn das das Ende des Musters anzeigende Signal über die Leitung 83 zur Erkennungslogik
18 gespeist wird, dann umfaßt das Muster, das nach der Durchführung der drei Skelettierprozesse zur Erkennungslogik
übertragen wurde, lediglich die tatsächliche
309841/0987
Musterstruktur und die weiße Untergrundfläche für eine
Abtastung. Mit anderen Worten, wenn die dritte weiße Untergrundfläche
durch die Bit-Stellung G32 läuft, dann läuft die erste weiße Untergrundfläche durch die Bit-Stellung
R3h, die das mittlere Bit für den dritten Skelettierprozeß
bildet. .'
Während des Zeitinteryalles zwischen dem Empfang des Beginns des Mustersignals und dem Empfang des Endes
des Mustersignals nimmt die Erkennungslogik 18 das Muster
an, das drei Skelettxerprozessen unterworfen war, und unterwirft es einem Erkennungsprozeß.
309841/098
ORtQtNAU INSPECTED
Claims (1)
- Pa t en t ansprtiche\/\J Musteraufbereitungsanordnung für Mustererkennungssystem zur Änderung eines durch Abtastung eines Musters erhaltenen quantisierten eingegebenen Musters, gekennzeichnet durchmindestens ein Schieberegister (42, 43» 44) zur Speicherung und Verschiebung des eingegebenen Musters in der Reihenfolge seiner Abtastung, undeinen Musterskelettierer (47, 49, 52), der auf der Grundlage einer ersten vorbestimmten Bit-Stellung des Schieberegisters (42, 43, 44) die Bit-Inhalte in Übereinstimmung mit den eingegebenen Mustern des Schieberegisters (42, 43, 44) entsprechend zu vorgewählten Bit-Stellungen neben der ersten vorbestimmten Bit-Stellung empfängt und den Inhalt der ersten vorbestimmten Bit-Stellung löscht, um ein Endsignal zu erzeugen,wenn die Inhalte der danebenliegenden Bit-Stellungen eine Bedingung aus einer vorbestimmten Folge von Bedingungen anzeigen.2O Vorrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch einen Lückenfüller (45), der auf der Grundlage einer zweiten vorbestimmten Bit-Stellung des Schieberegisters (42, 43, 44) hinter der ersten vorbestimmten Bit-Stellung in der Verschiebungsrichtung die Bit-Inhalte in Übereinstimmung mit dem eingegebenen Muster des Schieberegisters (42, 43, 44) entsprechend zu den vorgewählten Bit-Stellungen neben der zweiten vorbestimmten Bit-Stellung emp-3098 4 1/098?. 2 3 1-7 A 4 0fängt und die zweite vorbestimmte Bit-Stellung einstellt, wenn die gewählten Bit-Stellungen neben der zweiten vorbestimmten Bit-Stellung eine vorbestimmte Bedingung anzeigen.3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet durch eine Detektoreinrichtung (51)» die ein Signal erzeugt, das den Beginn des eingegebenen Musters anzeigt, wenn der Inhalt einer dritten vorbestimmten Bit-Stellung des Schieberegisters (42, 43, 44) und die Bit-Inhalte in Übereinstimmung mit dem eingegebenen Muster des Schieberegisters (42, 43» 44) entsprechend zu den vorgewählten Bit-Stellungen neben der dritten vorbestimmten Bit-Stellung eine vorbestimmte Bedingung anzeigen, wobei die Detektoreinrichtung (51) ein das Ende des eingegebenen Musters anzeigendes Signal erzeugt, wenn das Mustersignal nicht zu einer vierten vorbestimmten Bit-Stellung des Schieberegisters während einer vorbestimmten Anzahl von Abtastungen verschoben wurde.4ο Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Musterskelettierer (47, 49, 52) aufweist mehrere UND-Logiken, von denen jede ein Signal erzeugt, wenn auf der Grundlage der ersten vorbestimmten Bit-Stellung des Schieberegisters (42, 43, 44) die Bit-Inhalte in Übereinstimmung mit dem eingegebenen Muster des Schieberegisters (42, 43, 44) entsprechend zu vorgewählten Bit-Stellungen neben der ersten vorbestimmten Bit-Stellung eine Bedingung aus einer vorbestimmten Folge von Bedingungen anzeigen, und eine Ausgangseinrichtung, wodurch der Inhalt der ersten vorbestimmten Bit-Stel lung309841 /D987gelöscht und ein sich ergebendes Signal erzeugt wird, wenn mindestens eine der UND-Logiken ein Signal erzeugt»5» Musteraufbereitungsanordnung für Mustererkennungssystem zur Änderung eines durch Abtastung eines Musters erhaltenen quantisierten eingegebenen Musters, gekennzeichnet durchein erstes Schieberegister (42) zur Speicherung und Verschiebung des eingegebenen Musters in der Reihenfolge, in der das eingegebene Muster abgetastet wurde,einen Lückenfüller (45)» der auf der Grundlage einer zweiten vorbestimmten Bit-Stellung des ersten Schieberegisters (42) die Bit-Inhalte in Übereinstimmung mit dem eingegebenen Muster des ersten Schieberegisters (42) entsprechend zu vorgewählten Bit-Stellungen neben der zweiten vorbestimmten Bit-Stellung empfängt und die zweite vorbestimmte Bit-Stellung einstellt9 wenn die Inhalte der benachbarten Bit-Stellungen eine vorbestimmte Bedingung anzeigen,eine erste Musterskelettiereinheit (47) s die auf der Grundlage einer ersten vorbestimmten Bit-Stellung des ersten Schieberegisters (42) die Bit-Inhalte in Übereinstimmung mit dem eingegebenen Muster des ersten Schieberegisters (42) entsprechend zu vorgewählten Bit-Stellungen neben der ersten vorbestimmten Bit-Stellung empfängt und den Inhalt der ersten vorbestimmten Bit-Stellung löscht, um ein sich ergebendes Signal zu erzeugen, wenn die Inhalte der Bit-Stellungen neben der309841/098717440\ s ιόersten vorbestimmten Bit-Stellung eine Bedingung aus einer vorbestimmten Folge von Bedingungen anzeigen,ein zweites Schieberegister (43) zum aufeinanderfolgenden Empfang der Ausgangssignale der ersten Musterskelettiereinheit (4-7) für deren Speicherung und Verschiebung,eine Detektoreinrichtung (51 ) zur Erzeugung eines den Beginn des eingegebenen Musters anzeigenden Signaless wenn der Inhalt einer dritten vorbestimmten Bit-Stellung im zweiten Schieberegister (43) und die Bit-Inhalte in Übereinstimmung mit dem eingegebenen Muster des zweiten Schieberegisters (43) entsprechend zu vorgewählten Bit-Stellungen neben der dritten vorbestimmten Bit-Steilung eine Bedingung aus einer vorbestimmten Folge von Bedingungen anzeigen, wobei die Detektoreinrichtung (51 ) ein das Ende des eingegebenen Musters anzeigendes Signal erzeugt;, wenn das Mustersignal während einer vorbestimmten Anzahl von Abtastungen im zweiten Schieberegister (43) nicht in eine vierte Bit-Stellung verschoben wurde,eine zweite Musterskelettiereinheit (49)9 die auf der Grundlage einer fünften vorbestimmten Bit-Stellung im zweiten Schieberegister (43) die Bit-Inhalte in Übereinstimmung mit dem eingegebenen Muster des zweiten Schieberegisters (43) entsprechend zu den vorgewählten Bit-Stellungen neben der fünften vorbestimmten Bit-Stellung empfängt und den Inhalt der fünften vorbestimmten Bit-Stellung löscht, um ein sich ergebendes Signal zu erzeugen, wenn die Inhalte der vorgewählten Bit-Stellungen neben der fünften vorbestimmten Bit-Stellung eine Bedingung aus einer vorbestimmten Folge von Bedingungen anzeigen,309841/098 7ein drittes Schieberegister (44), das nacheinander die Ausgangssignale der zweiten Musterskelettiereinheit (^9) empfängt, diese speichert und verschiebt, undeine dritte Musterskelettiereinheit (52), die auf der Grundlage einer sechsten vorbestimmten Bit-Stellung im dritten Schieberegister (hk) die Bit-Inhalte in Übereinstimmung mit dem eingegebenen Muster des dritten Schieberegisters (hh) entsprechend zu vorgewählten Bit-Stellungen neben der sechsten Bit-Stellung empfängt und den Inhalt der sechsten vorbestimmten Bit-Stellung löscht, wenn die Inhalte der vorgewählten Bit-Stellungen neben der sechsten Bit-Stellung eine Bedingung aus einer vorbestimmten Folge von Bedingungen anzeigen«309841/0987
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---|---|---|---|
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2317440A1 true DE2317440A1 (de) | 1973-10-11 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
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US (1) | US3846754A (de) |
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DE (1) | DE2317440A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4425327A1 (de) * | 1993-10-29 | 1995-05-04 | Fujitsu Ltd | Bildverarbeitungsverfahren und Bildverarbeitungssystem |
Families Citing this family (40)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5637586B2 (de) * | 1973-07-02 | 1981-09-01 | ||
GB1487920A (en) * | 1973-12-21 | 1977-10-05 | Mullard Ltd | Character thinning apparatus |
US4115760A (en) * | 1974-11-18 | 1978-09-19 | Fujitsu Limited | Figure pre-processing device |
US3990044A (en) * | 1975-07-07 | 1976-11-02 | The Singer Company | Symbol recognition enhancing apparatus |
US4003024A (en) * | 1975-10-14 | 1977-01-11 | Rockwell International Corporation | Two-dimensional binary data enhancement system |
US4020463A (en) * | 1976-02-27 | 1977-04-26 | Recognition Equipment Incorporated | Apparatus and a method for storage and retrieval of image patterns |
US4083035A (en) * | 1976-09-10 | 1978-04-04 | Rockwell International Corporation | Binary image minutiae detector |
DE2641835C2 (de) * | 1976-09-17 | 1978-06-29 | Dr.-Ing. Rudolf Hell Gmbh, 2300 Kiel | Verfahren zur elektronischen Retusche |
US4322716A (en) * | 1976-11-15 | 1982-03-30 | Environmental Research Institute Of Michigan | Method and apparatus for pattern recognition and detection |
US4167728A (en) * | 1976-11-15 | 1979-09-11 | Environmental Research Institute Of Michigan | Automatic image processor |
US4174514A (en) * | 1976-11-15 | 1979-11-13 | Environmental Research Institute Of Michigan | Parallel partitioned serial neighborhood processors |
US4162482A (en) * | 1977-12-07 | 1979-07-24 | Burroughs Corporation | Pre-processing and feature extraction system for character recognition |
US4309691A (en) * | 1978-02-17 | 1982-01-05 | California Institute Of Technology | Step-oriented pipeline data processing system |
CA1164086A (en) * | 1979-04-23 | 1984-03-20 | Recognition Equipment Incorporated | Image processing integrated circuit |
US4301443A (en) * | 1979-09-10 | 1981-11-17 | Environmental Research Institute Of Michigan | Bit enable circuitry for an image analyzer system |
US4442543A (en) * | 1979-09-10 | 1984-04-10 | Environmental Research Institute | Bit enable circuitry for an image analyzer system |
US4464788A (en) * | 1979-09-10 | 1984-08-07 | Environmental Research Institute Of Michigan | Dynamic data correction generator for an image analyzer system |
US4290049A (en) * | 1979-09-10 | 1981-09-15 | Environmental Research Institute Of Michigan | Dynamic data correction generator for an image analyzer system |
US4369430A (en) * | 1980-05-19 | 1983-01-18 | Environmental Research Institute Of Michigan | Image analyzer with cyclical neighborhood processing pipeline |
US4466123A (en) * | 1981-07-10 | 1984-08-14 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Apparatus and method for correcting contour line pattern images |
JPS59790A (ja) * | 1982-06-28 | 1984-01-05 | Fuji Electric Co Ltd | パタ−ン識別装置 |
JPS59136875A (ja) * | 1983-01-26 | 1984-08-06 | Fuji Electric Co Ltd | パタ−ン識別装置 |
JPS59136874A (ja) * | 1983-01-26 | 1984-08-06 | Fuji Electric Co Ltd | パタ−ン識別装置 |
US4700401A (en) * | 1983-02-28 | 1987-10-13 | Dest Corporation | Method and apparatus for character recognition employing a dead-band correlator |
JPS607579A (ja) * | 1983-06-24 | 1985-01-16 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 画像処理方法と装置 |
US4665554A (en) * | 1983-07-13 | 1987-05-12 | Machine Vision International Corporation | Apparatus and method for implementing dilation and erosion transformations in digital image processing |
JPS6033675A (ja) * | 1983-08-04 | 1985-02-21 | Fuji Electric Co Ltd | 文字読取装置 |
US4665551A (en) * | 1983-12-08 | 1987-05-12 | Machine Vision International Corporation | Apparatus and method for implementing transformations in digital image processing |
US4574357A (en) | 1984-02-21 | 1986-03-04 | Pitney Bowes Inc. | Real time character thinning system |
US4853967A (en) * | 1984-06-29 | 1989-08-01 | International Business Machines Corporation | Method for automatic optical inspection analysis of integrated circuits |
US4641356A (en) * | 1984-08-24 | 1987-02-03 | Machine Vision International Corporation | Apparatus and method for implementing dilation and erosion transformations in grayscale image processing |
US4776031A (en) * | 1985-03-29 | 1988-10-04 | Canon Kabushiki Kaisha | Image reading apparatus |
JPS63265371A (ja) * | 1986-12-15 | 1988-11-01 | Toshiba Corp | 線図形つなぎ装置 |
US4949390A (en) * | 1987-04-16 | 1990-08-14 | Applied Vision Systems, Inc. | Interconnect verification using serial neighborhood processors |
US5050229A (en) * | 1990-06-05 | 1991-09-17 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for thinning alphanumeric characters for optical character recognition |
JPH0748513B2 (ja) * | 1990-06-22 | 1995-05-24 | 株式会社東芝 | 接合部の検査方法 |
US5250934A (en) * | 1990-12-31 | 1993-10-05 | Xerox Corporation | Method and apparatus for thinning printed images |
DE69231481T2 (de) * | 1991-07-10 | 2001-02-08 | Fujitsu Ltd., Kawasaki | Bilderzeugungsgerät |
US5574803A (en) * | 1991-08-02 | 1996-11-12 | Eastman Kodak Company | Character thinning using emergent behavior of populations of competitive locally independent processes |
US5237626A (en) * | 1991-09-12 | 1993-08-17 | International Business Machines Corporation | Universal image processing module |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL128938C (de) * | 1957-12-23 | |||
US3196398A (en) * | 1962-05-21 | 1965-07-20 | Ibm | Pattern recognition preprocessing techniques |
US3541511A (en) * | 1966-10-31 | 1970-11-17 | Tokyo Shibaura Electric Co | Apparatus for recognising a pattern |
NL7016539A (de) * | 1970-11-12 | 1972-05-16 |
-
1972
- 1972-04-07 JP JP47034375A patent/JPS48102926A/ja active Pending
-
1973
- 1973-04-04 US US00347662A patent/US3846754A/en not_active Expired - Lifetime
- 1973-04-06 DE DE2317440A patent/DE2317440A1/de active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4425327A1 (de) * | 1993-10-29 | 1995-05-04 | Fujitsu Ltd | Bildverarbeitungsverfahren und Bildverarbeitungssystem |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US3846754A (en) | 1974-11-05 |
JPS48102926A (de) | 1973-12-24 |
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---|---|---|
DE2317440A1 (de) | Musteraufbereitungsanordnung | |
DE2503851C2 (de) | Schaltung zur Ansteuerung einer Lichtquellenzeile zur gerasterten Reproduktion eines Bildes | |
DE2944822C2 (de) | ||
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