DE2303205C3 - Halbleiterkondensator - Google Patents
HalbleiterkondensatorInfo
- Publication number
- DE2303205C3 DE2303205C3 DE19732303205 DE2303205A DE2303205C3 DE 2303205 C3 DE2303205 C3 DE 2303205C3 DE 19732303205 DE19732303205 DE 19732303205 DE 2303205 A DE2303205 A DE 2303205A DE 2303205 C3 DE2303205 C3 DE 2303205C3
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- junction
- capacitance
- voltage
- polarized
- zone
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 title claims description 37
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 30
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 3
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 5
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 3
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000036316 preload Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/86—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable only by variation of the electric current supplied, or only the electric potential applied, to one or more of the electrodes carrying the current to be rectified, amplified, oscillated or switched
- H01L29/92—Capacitors having potential barriers
- H01L29/93—Variable capacitance diodes, e.g. varactors
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Description
dl'/ k - Lf1)
= 0,
wobei bedeuten:
integrierten, insgesamt fünfschichtigen Struktur dienen die äußeren η+ -leitenden Schichten lediglich zur
Verringerung der Kontaktwiderstände für die Anschlußelektroden; beide pn-Übergänge der mittleren
dreischichtigen Struktur sind in Sperrichtung vorgespannt. Die mittlere, von einer zusätzlichen Elektrode
kontaktierte Schicht hat einen niedrigen spezifischen Widerstand. Durch Verringerung des Bahnwiderstandes
und somit des Reihenwiderstandes insgesamt der
ίο bekannten Kapazitätsdiode wird ihre Güte, die sich aus
der Reihen- und Parallelgüte zusammensetzt, erhöht.
Die veränderbare Kapazität des in Durchlaßrichtung vorgespannten pn-Überganges (die sogenannte Diffusionskapazität)
wird irr bekannten Fall als steuerbarer
\j Kondensatorparameter natürlich nicht benutzt, da die
Kondensatorgüte bei Polung in Durchlaßrichtung mit Vergrößerung der Spannung stark abfällt
Praktisch interessant ist auch nur die Möglichkeit, die negative Vorspannung am pn-Übergang für die
Steuerung der Kapazitätsgröße zu benutzen, weil bei dieser Lösung eine hohe Güte des Bauelementes, ein
niedriger Pegel des Eigenrauschens und die Unabhängigkeit der Kapazität von der Frequenz bis in den
Millimeterwellenbereich hinein gewährleistet werden.
Mathematisch läßt sich die hier behandelte Sperrschichtkapazität (Q)des pn-Übergangs darstellen als
<pk = Kontaktpotentialdifferenz am in Sperrichtung
betriebenen pn-Übergang (7);
Uo = Spannung am in Durchlaßrichtung vorgespa
nten pn-Übergang (8):
T = Umgebungst^mpera'-ir.
Die Erfindung bezieht sich auf einen Halbleiterkondensator aus einem einkristallinen Halbleiter, der eine
erste, zweite und dritte Zone abwechselnden Leitungstyps, die einen ersten und zweiten pn-Übergang bilden,
und Anschlußelektroden zu den drei Zonen aufweist. Der Halbleiterkondensator kann in einem großen
Frequenzbereich von Funk- und Fernsehanlagen zur elektronischen Abstimmung von Resonanzsystemen
eingesetzt werden.
Ein solcher Halbleiterkondensator wird im technischen Schrifttum auch oft mit »Kapazitäts-Variations-Diode«,
»Abstimmkondensator«, »Varikap« oder »Varaktor« bezeichnet und besteht im einfachsten Fall, wie
allgemein bekannt ist, aus einer Siliziumplatte mit einer p-Ieitenden und einer η-leitenden Schicht. In Sperrichtung
dieser Diode liegt Vorspannung an. Der pn-Übergang ist hierbei mit einer isolierenden Trennschicht
vergleichbar. Mit Erhöhung der in Sperrichtung angelegten Spannung wird die entsprechende Raumladungszone
verbreitert bzw. die Sperrschichtkapazität kleiner. Die Spannungsabhängigkeit der Sperrschichtkapazität
wird zur parametrischen Verstärkung, Frequenzvervielfachung und elektronischen Abstimmung
genutzt (A, Möschwitzer, »Halbleiterelektronik«,
2. Aufl. (1971), VEB Verlag Technik Berlin, S. 44/45).
Ein Halbleiterkondensator der eingangs beschriebenen Gattung mit drei Schichten abwechselnd entgegengesetzten Leitungstyps und unterschiedlicher Leitfähigkeit ist im Zusammenhang einer aus zwei in Gegentakt
geschalteten Kapazitätsdioden bestehenden Halbleitervorrichtung bekannt (DE-OS 17 64 125). Bei der
de,
1,,I1S
mit
Aq = Zunahme der Ladung bei der Spannungserhöhung
um den Betrag du;
au = an den pn-Übergang anzulegende Maximalspannung;
E0 = Dielektrizitätskonstante von Vakuum;
ει = absolute Dielektrizitätskonstante des Mediums;
5 = Fläche des pn-Überganges;
Λ = Dicke der Raumladuiigszonu am pn-Übergang.
ει = absolute Dielektrizitätskonstante des Mediums;
5 = Fläche des pn-Überganges;
Λ = Dicke der Raumladuiigszonu am pn-Übergang.
Charakteristisch für einen Halbleiterkondensator ist
das Bestehen einer Spannungsabhängigkeit für die Dicke der Raumladungszone, die sich je nach der
4r) Verteilung der Dotierungskonzentration in der Raumladungszone
gestaltet.
Bei Herstellung des Halbleiterkondensators nach der üblichen Legierungs- oder Diffusionstechnik weist er
eine praktisch konstante bzw. linear ansteigende
so Dotierungskonzentration in der pn-Grenzschicht und
eine Sperrschichtkapazitätsbeziehung auf, nach der die Sperrschichtkapazität umgekehrt proportional der
Quadrat- bzw. Kubikwurzel aus dem Vorspannungsbetrag ist.
η Eine bessere Vorspannungsempfindlichkeit erhält
man für die Kapazität durch einen umgekehrten bzw. Rückwärts-Dotierungsgradienten, d. h. eine solche Konzentrationsverteilung,
daß die Störstellenkonzentration in Richtung von der pn-Grenzschicht aus abnimmt.
bo Bei Einsatz des Halbleiterkondensators ist neben dem
Kapazitätsyerhältnis, d. h. dem Verhältnis von Größi- m
Kleinstwert der Kapazität in einem bestimmten Bereich der Sperrspannungen, der Kapazitäts-Sperrspannungsbeziehung,
der Güte, d. h. den Widerstandsverlusten, die möglichst niedrig sein müssen, als sehr wesentlich die
Temperaturabhängigkeit zu beachten. Die temperaturabhängige Kapazitätsänderung wird erfaßt durch den
sogenannten Temperaturkoeffizienten der Kapazität
(TKK), der als relative Änderung der Kapazität mit Änderung der Temperatur definiert ist, nämlich
TKK =
I HC
C PT '
C = Kapazitätswert des Kondensators
T = Temptratur[Kl
T = Temptratur[Kl
Physikalisch gesehen ist die Temperaturabhängigkeit der Kapazität auf diejenige der Dielektrizitätskonstante
(ε) und der Kontaktpotentialdifferenz (φ) zurückzuführen.
Insofern das Bestehen eines Temperaturkoeffizienten durch die Temperaturabhängigkeit der Kontaktpotentialdifferenz
bedingt ist, ist er der Vorspannung umgekehrt und dem Nichtlinearitätsfaktor des Kondensators
direkt proportional. Der Nichtlinearitätsfaktor wird hier definiert als Quotient einer relativen
Änderung der Kondensatorkapazitä', verursacht durch eine solche der Vorspannung, und dieser Vorepannungsinderung.
Eine Änderung der Kontaktpotentialdifferenz beeinflußt den Temperaturkoeffizienten der Kapazität am
meisten und ruft deren Vergrößerung mit Erhöhung der Temperatur hervor. Ein Halbleiterkondensator, hergestellt
mit Silizium als Substrat, mit der Kapazitäts-Spannungs- Beziehung
U)
1/2
C(u)= Kapazität des Kondensators.
A = Proportionalitätsfaktor,
U = Vorspannung,
A = Proportionalitätsfaktor,
U = Vorspannung,
besitzt ζ. B. in einem Temperaturbereich von - 60 bis zu + 1200C bei einer Sperrspannung (U) von —4 V einen
Temperaturkoeffizeinten, der 300 · 10"[VC] erreicht. Als noch empfindlicher gegen Temperaturänderungen
erweist sich der Kondensator mit einem Rückwärtsgradienten der Dotierungskonzentration im
pn-Übergang.
Die temperaturbedingte InstabiMtät der Kapazität verschlechtert auch die Stabilität der Funktion funk-
oder nachrichtentechnischer Schaltungen, in denen Halbleiterkondensatoren eingesetzt sind. Dies beeinträchtigt
naturgemäß die Verwendbarkeit der Schaltungen.
Voraussetzung für die Schaffung funktionssicherer nachrichtentechnischer Geräte, die mit Halbleiterkondensatoren
aufgebaut werden, ist die Sicherstellung einer hohen Stab:lität der Kapazität für einen breiten
Temperaturbereich. Es ist bekannt, zum Ausgleich des TKK im Stromkreis nachrichtentechnischer Schaltungen
besondere Kompensationsglieder einzuschalten, die die elektrische Schallung je nach der Änderung der
Betriebstemperaturen bezüglich des Kapazitätswertes korrigieren (»Electronic Industries«, Bd, 18 [1959], Nr,
12, S. 90 bis 96; »Funkschau«, 39. Jg [1967], H. 7, S. 487 bis
490). Im wesentlichen wird jeweils zu einer Kapazitätsdiode eine mittels einer zusätzlichen Spannungsquelle in
Durchlaßrichtung vorgespannte diskrete Diode in Reihe geschaltet. Im erstgenannten Fall kann eine ansonsten
25%ige Kapazitätsänderung zwischen 25 und 1000C auf
eine 2- bis 3%ige Änderung im gleichen Temperaturbereich reduziert werden. Derartige nachrichtentechnische
Schaltungen sind sehr kompliziert und geben nicht nur keine Gewähr für die Stabilität anderer elektrischer
Ausgangsparamter des Halbleiterkondensators, son- > dem führen auch manchmal zwangsläufig zu deren
Änderung.
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist die Entwicklung eines solchen Aufbaus des Halbleiterkondensators,
daß das Bauelement Temperatureinflüsse auf
κι die Kapazität selbsttätig kompensiert. Der nahezu
vollständige Ausgleich des TKK soll für den ganzen Betriebstemperaturbereich unter Beibehaltung der
anderen Hauptparameter erhalten werden, ohne daß man dafür besondere radiotechnische TKK-Ausgleichsschaltungen
anzuwenden braucht
Die Lösung dieser Aufgabe besteht darin, daß erfindungsgemäß die erste und die dritte Zone höher
dotiert sind als die zweite Zone, daß der erste pn-übergang in Sperrichtung und der zweite pn-Über·
gang in Darchlaßrichtung gepolt ist, daß zwischen der
Anschlußelektrode an der zweit.. ; Zone und der Anschlußelektrode an der dritten Zoie eine Gleichstromquelle
angeschlossen ist, wobei eine zusätzliche Spannung an den in Durchlaßrichtung gepolten
pn-Übergang gelegt ist und in Abhängigkeit von Tempf-raturänderungen die Kapazität des in Sperrichtung
gepolten pn-Überganges selbsttätig gesteuert wird, so daß die folgende Ausgleichsbedingung erfüllt
ist:
d(</ A - L11)
d T
d T
wobei bedeuten:
r>
r>
<pk = Kontaktpotentialdifferenz am in Sperrichtung
betriebenen pn-Übergang;
U, = Spannung am in Durchlaßrichtung vorgespannten
pn-übergang:
4Ii T = Umgebungstemperatur.
4Ii T = Umgebungstemperatur.
ein solcher Aufbau des Halbleiterkondensators gestattet es, den TKK nahezu restlos auszugleichen,
indem man die Anordnung so bemißt, daß der Strom
■r> durch den in Durchlaßrichtung gepolten pn-Übergang
einen vorgegebenen Wert nicht überschreitet. Hierdurch wird eine hohe Zuverlässigkeit des Kondensators
und Stabilität seiner Parameter, insbesondere der Kapazitäts-Spannungs·Kennlinie, und zwar sowohl für
V) einen breiten Temperaturbereich als auch für erforderliche
Teilbereiche, gewährleistet.
Der eingangs erwähnte bekannte im wesentlichen dreischichtige Halbleiterkondensator (DE-OS
<7 6' 125) läßt sich auch unter Anwendung der aus den
ji erwähnten Zeitschriften entnehmbaren Lehre temoeraturkompensieren,
,veil wegen der vorgegebenen Dotierung und bei den vorgegebenen Querscnnittsverhältnissen
auch eine Vorspannung in Durchlaßrichtung an einem der beidtn pn-Übergänge nicht zu Ausgleichbe-
M) dingungen führt.
Im folgenden wird die Erfindung anhand eines Ausführungsbeispiels für den HalbleiterkonJensator
und der aus einer einzigen Figur bestehenden Zeichnung näher erläutert, wobei die Zeichnung den
hrj Aufbau des Kondensators im Schnitt zeigt.
Der Halbleiterkondensator ist aus einer einkristallinen η-leitenden Silizitimplatte 1 als Substrat aufgebaut.
Der spezifische Widui stand des Grundmaterials beträgt
3 Ohm · cm. In der Platte I sind beiderseits Aluminiumelektroden
2 und 3 einlegiert, so daß sich in der Platte I mit Aluminium legierte Schichtrn 4 und 5 ausbilden, die
p-leitend sind und einen spezifischen Widerstand von etwa 0,03 Ohm · cm besitzen.
Somit ist der Halbleiterkondensator aus drei aufeinanderfolgenden Schichten vom p-, n- und p-Leitungstyp
aufgebaut, wobei die η-leitende Schicht 6 die Basis ist und einen spezifischen Widerstand etwa lOOmal so groß
wie die p-leitenden Schichten hat. Für den spezifischen Widerstand der Schichten können auch andere Werte
gewählt werden, aber derjenige der Basis muß jedenfalls wesentlich größer sein als die Widerstände der anderen
zwei Schichten.
Die p-leitenden Schichten 4 und 5 ergeben zwei
pn-Übergänge 7 und 8.
Den Halbleiterkondensator schaltet man in den Stromkreis derart ein, daß die Elektrode 2 unter
annimn ctfiht
His
PnIiI
Bei einer Änderung der Temperatur um 10[K] und
einer konstanten Vorspannung von -4 V änderte sich in einem Versuch die Kapazität des in Sperrichtung
gepolten pn-Übergangs um 0,3%, d.h., der TKK für
ι diese Sperrschichtkapazität betrug 300 ■ 10 h [IΓC].
Für den Ausgleich dieser Änderung braucht man bekanntlich die Sperrspannung am pn-Übergang 7 um
hunderstel Volt zu verändern. Bei dem erfindungsgemäßen Bauelement geschieht dies durch Änderung des
hi Arbeitszustandes des in Durchlaßrichtung gepolten Überganges, der mit einer an diesen angelegten
zusätzlichen Durchlaßspannung geregelt wird.
Weiterhin ist bekannt, daß der TKK eines Halbleiterkondensators
sich hauptsächlich nach der Größe
'' '.'.. bzw. im vorliegenden Fall
d U/ k - U,,)
d7
d7
pn-übergang 7 gesperrt. Die Kapazität des in Sperrichtung gepolten pn-Überganges 7 bestimmt den
Kapazitätswert des Kondensators und kann durch Änderung der Sperrspannung (U]) geregelt werden.
Am anderen pn-übergang 8 muß ein positives Potential liegen, d. h. dieser in Durchlaßrichtung
vorgespannt sein. Die Durchlaßspannung führt diesen pn-Übergang in einen offenen Zustand über und läßt
eine Diffusionskapazität entstehen.
Somit liegen die pn-Übergänge 7 und 8 bei der erfindungsgemäßen Anordnung im Stromkreis veränderlicher
Signalgröße in Reihe.
An die Basis 6 ist über einen sperrschichtfreien (ohmschen) Kontakt eine Elektrode 9 angeschlossen, die
beispielsweise an eine Gleichstromquelle 10 geführt ist.
Die Elektrode 9 speist in die Basis einen elektrischen Strom ein,'durch den der in Durchlaßrichtung gepolte
pn-Übergang zusätzlich vorgespannt wird, so daß die Bedingung
du, k - Li,)
df
= 0.
mit
<fk = Kontaktpotentialdiffcrenz am in Sperrichtung
gepolten pn-Übergiing,
j"> Ua - Spannung am in Durchlaßrichtung gepolten
j"> Ua - Spannung am in Durchlaßrichtung gepolten
pn-Übergang,
T = Umgebungstemperatur,
T = Umgebungstemperatur,
richtet.
in Um einen nahezu vollständigen Ausgleich des TKK
zu erhalten, muß die Größe der zusätzlichen Vorspannung in Durchlaßrichtung der Gleichung genügen:
<pk = Kontaktpotentialdifferenz am in Sperrichtung
gepolten pn-Übergang.
Un = Spannung am in Durchlaßrichtung gepolten
Un = Spannung am in Durchlaßrichtung gepolten
pn-Übergang,
T = Umgebungstemperatur,
T = Umgebungstemperatur,
erfüllt ist.
Das Funktionsprinzip des Halbleiterkondensaiors mit
pnp-Anordnung läßt sich wie folgt darstellen:
Beim Einschalten des Halbleiterkondensators in einen Stromkreis, wie es die Figur zeigt, und Anlegen einer
Sperrspannung von z. B. -4 V wird der pn-Übergang 7 in Sperrichtung gepolt, und es entsteht an diesem eine
Sperrschichtkapazität. Da der pn-Übergang 8 und der pn-Übergang 7 im Stromkreis in Reihe liegen, ist der
erstere hierbei in Durchlaßrichtung gepolt, und es entsteht an ihm eine Diffusionskapazität.
d U, k - Li,)
or
= ο.
Darüber hinaus wird durch Regelung des Stromes durch den in Durchlaßrichtung gepolten pn-Übergang 8.
wozu eine dritte zusätzliche Elektrode vorgesehen ist. ein solches Übergewicht der Diffusionskapazität des in
Durchlaßrichtung gepolten Überganges 8 über die Kapazität des in Sperrichtung gepollen Überganges 7.
der als steuerbare Kapazität betrieben wird, gewährleistet, daß die letztere gegenüber der ersteren vernachlässigbar
klein ist. Deshalb bleiben die elektrischen Ausgangsparamter des Halbleiterkondensators unverändert.
Die hier angestellten Betrachtungen gelten auch für den Fall eines Halbleiterkondensators vom npn-Typ
sowie für den Fall einer Temperaturänderung bis in den
Tieftemperaturbereich hinein.
Zusammenfassend kann man sagen, daß bei dem
erfindungsgemäßen Aufbau des Halbleiterkondcnsators der höchstmögliche Ausgleich des TKK sowohl für den
ganzen Betriebstemperaturbereich von -60 bis + 1200C als auch für einen beliebigen Unterbereich,
z. B. von +60 bis 1200C, praktisch ohne Änderung der anderen elektrischen Parameter des Bauelementes
erreicht werden kann, indem man bloß den Strom durch den in Durchlaßrichtung gepolten pn-Übergang 8 je
nach der eingetretenen Temperaturänderung verstellt.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
- Patentanspruch:Halbleiterkondensator aus einem einkristallinen Halbleiter, der eine erste, zweite und dritte Zone abwechselnden Leitungstyps, die einen ersten und zweiten pn-übergang bilden, und Anschlußelektroden zu den drei Zonen aufweist, dadurch gekennzeichnet, daß die erste (4) und die dritte (5) Zone höher dotiert sind als die zweite Zone (6), daß der erste pn-übergang (7) in Sperrichtung und der zweite (8) pn-übergang in Durchlaßrichtung gepolt ist, daß zwischen der Anschlußelektrode (9) und der zweiten Zone (6) und der Anschlußelektrode an der dritten Zone (5) eine Gleichstromquelle (10) angeschlossen ist, wobei eine zusätzliche Spannung an dem in Durchlaßrichtung gepolten pn-Übergang (8) gelegt ist und in Abhängigkeit von Temperaturänderungen die Kapazität des in Sperrichtung gepolten pn-Überganges (7) selbsttätig gesteuert wird, so daß die folgende Ausgleichsbedingung erfüllt ist:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19732303205 DE2303205C3 (de) | 1973-01-23 | 1973-01-23 | Halbleiterkondensator |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19732303205 DE2303205C3 (de) | 1973-01-23 | 1973-01-23 | Halbleiterkondensator |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2303205A1 DE2303205A1 (de) | 1974-07-25 |
DE2303205B2 DE2303205B2 (de) | 1978-07-27 |
DE2303205C3 true DE2303205C3 (de) | 1979-04-05 |
Family
ID=5869728
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19732303205 Expired DE2303205C3 (de) | 1973-01-23 | 1973-01-23 | Halbleiterkondensator |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE2303205C3 (de) |
-
1973
- 1973-01-23 DE DE19732303205 patent/DE2303205C3/de not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2303205A1 (de) | 1974-07-25 |
DE2303205B2 (de) | 1978-07-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2326731C3 (de) | Halbleiteranordnung mit mehreren Hall-Elementen | |
DE2439875C2 (de) | Halbleiterbauelement mit negativer Widerstandscharakteristik | |
DE2505573C3 (de) | Halbleiterschaltungsanordnung mit zwei Isolierschicht-Feldeffekttransistoren | |
DE2238348A1 (de) | Funktionsverstaerker | |
DE3227536A1 (de) | Darlington-transistorschaltung | |
DE2548483A1 (de) | Feldeffekttransistor und verfahren zu seiner herstellung | |
DE2300116B2 (de) | Hochfrequenz-Feldeffekttransistor mit isolierter Gate-Elektrode für Breitbandbetrieb | |
EP0000863B1 (de) | Temperaturkompensierter integrierter Halbleiterwiderstand | |
DE2500057A1 (de) | Schaltungsanordnung zur stabilisierung integrierter schaltungen | |
DE10330490A1 (de) | MIM-Kondensatorstruktur und zugehöriges integriertes Schaltkreisbauelement | |
DE1574651C3 (de) | Monolithisch integrierte Flip-Flop-Speicherzelle | |
DE2303205C3 (de) | Halbleiterkondensator | |
DE1297233B (de) | Feldeffekttransistor | |
DE1489193C3 (de) | Verfahren zum Herstellen einer Halbleiteranordnung | |
DE1639177C3 (de) | Monolithisch integrierte Gleichrichterschaltung | |
DE1439268B1 (de) | Integrierte Halbleiterschaltungsanordnung | |
DE2559361C2 (de) | Halbleiterbauelement mit mehreren, Feldeffekttransistoren definierenden Zonen | |
DE2263075B2 (de) | Elektrische spannungsversorgung fuer eine monolithisch integrierte halbleiteranordnung | |
DE3149257C2 (de) | ||
DE10109172B4 (de) | Strombegrenzungseinrichtung | |
DE3802822A1 (de) | Elektronisches geraet mit schaltmitteln zur daempfung hochfrequenter stoerspannungen | |
DE4207225A1 (de) | Integrierte schaltung mit abgleichbauteilen und abgleichbarer thyristor | |
DE2240500B2 (de) | Halbleiterkondensator mit spannungsabhängiger Kapazität | |
DE2834402C2 (de) | Monolithische, integrierte Halbleiteranordnung mit einer bipolaren Kapazität und Verwendung einer solchen Halbleiteranordnung | |
EP0176771A2 (de) | Bipolarer Leistungstransistor mit veränderbarer Durchbruchspannung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |