DE2500057A1 - Schaltungsanordnung zur stabilisierung integrierter schaltungen - Google Patents
Schaltungsanordnung zur stabilisierung integrierter schaltungenInfo
- Publication number
- DE2500057A1 DE2500057A1 DE19752500057 DE2500057A DE2500057A1 DE 2500057 A1 DE2500057 A1 DE 2500057A1 DE 19752500057 DE19752500057 DE 19752500057 DE 2500057 A DE2500057 A DE 2500057A DE 2500057 A1 DE2500057 A1 DE 2500057A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- region
- semiconductor material
- circuit
- capacitor
- transistor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 title claims description 9
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 title claims description 9
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 54
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 32
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims description 31
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 29
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 26
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 17
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 claims description 12
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 claims description 7
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 claims description 7
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 claims 5
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 10
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 230000001965 increasing effect Effects 0.000 description 5
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 238000003491 array Methods 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 241000158147 Sator Species 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010561 standard procedure Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/04—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
- H01L27/08—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including only semiconductor components of a single kind
- H01L27/0805—Capacitors only
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/04—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
- H01L27/06—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a non-repetitive configuration
- H01L27/07—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a non-repetitive configuration the components having an active region in common
- H01L27/0744—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a non-repetitive configuration the components having an active region in common without components of the field effect type
- H01L27/075—Bipolar transistors in combination with diodes, or capacitors, or resistors, e.g. lateral bipolar transistor, and vertical bipolar transistor and resistor
- H01L27/0755—Vertical bipolar transistor in combination with diodes, or capacitors, or resistors
- H01L27/0777—Vertical bipolar transistor in combination with capacitors only
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/04—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
- H01L27/08—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including only semiconductor components of a single kind
- H01L27/082—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including only semiconductor components of a single kind including bipolar components only
- H01L27/0823—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including only semiconductor components of a single kind including bipolar components only including vertical bipolar transistors only
- H01L27/0826—Combination of vertical complementary transistors
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F1/00—Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
- H03F1/08—Modifications of amplifiers to reduce detrimental influences of internal impedances of amplifying elements
- H03F1/083—Modifications of amplifiers to reduce detrimental influences of internal impedances of amplifying elements in transistor amplifiers
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F1/00—Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
- H03F1/30—Modifications of amplifiers to reduce influence of variations of temperature or supply voltage or other physical parameters
- H03F1/302—Modifications of amplifiers to reduce influence of variations of temperature or supply voltage or other physical parameters in bipolar transistor amplifiers
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F1/00—Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
- H03F1/30—Modifications of amplifiers to reduce influence of variations of temperature or supply voltage or other physical parameters
- H03F1/307—Modifications of amplifiers to reduce influence of variations of temperature or supply voltage or other physical parameters in push-pull amplifiers
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/30—Single-ended push-pull [SEPP] amplifiers; Phase-splitters therefor
- H03F3/3069—Single-ended push-pull [SEPP] amplifiers; Phase-splitters therefor the emitters of complementary power transistors being connected to the output
- H03F3/3071—Single-ended push-pull [SEPP] amplifiers; Phase-splitters therefor the emitters of complementary power transistors being connected to the output with asymmetrical driving of the end stage
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/30—Single-ended push-pull [SEPP] amplifiers; Phase-splitters therefor
- H03F3/3069—Single-ended push-pull [SEPP] amplifiers; Phase-splitters therefor the emitters of complementary power transistors being connected to the output
- H03F3/3071—Single-ended push-pull [SEPP] amplifiers; Phase-splitters therefor the emitters of complementary power transistors being connected to the output with asymmetrical driving of the end stage
- H03F3/3072—Single-ended push-pull [SEPP] amplifiers; Phase-splitters therefor the emitters of complementary power transistors being connected to the output with asymmetrical driving of the end stage using Darlington transistors
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Bipolar Integrated Circuits (AREA)
- Amplifiers (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)
- Inductance-Capacitance Distribution Constants And Capacitance-Resistance Oscillators (AREA)
Description
Schaltungen
Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung zur Stabilisierung
integrierter Schaltungen.
Monolythische Schaltungen, wie sie in Leistungsverstärkern verwendet
werden, erfordern zuweilen bipolare NPN- und PNP-Transistoren.
Die Transistoren monolithischer integrierter Schaltungen werden üblicherweise in epitaxialem Silicium vom N-Typ hergestellt,
welches auf einem Siliciumsubstrat vom P-Typ angeordnet ist. Vertikale NPN-Transistoren können leicht hergestellt werden, indem
eine Basisdiffusion vom P-Typ in die Epitaxialschicht vom N-TyD
und eine Emitterdiffusion vom N-Typ in die Basis vom P-Tyd verwendet
wird.Die Epitaxialschicht vom N-Typ bildet die Kollektorelektrode eines aolchen NPN-Transistors. Das Substrat wird in NPN-
509827/0730
Transistoranordnungen nur für Isolationsfunktionen verwendet. Eine Isolationsdiffusion vom Typ P+ umgibt im allgemeinen Jeden
NPN-Transistor und bildet eine Isolation.
PNP-Transistoren, welche meist schwierig in der Epitaxialschicht
vom N-Typ herzustellen sind, haben gewöhnlich entweder einen lateralen
oder einen vertikalen Aufbau. Vertikale Substrat-PNP-Transistoren
weisen Kollektorelektroden auf, weiche aus dem Substratmaterial vom P-Typ gebildet sind, und haben Basiselektroden,
welche aus dem Epitaxialmaterial vom N-Typ gebildet sind. Die P-Diffusion, welche die Basiselektroden von NPN-Transistoren
bildet, liefert die Emitterelektroden von Substrat-PNP-Anordnungen.
Somit bildet das Kollektormaterial der NPN-Anordnungen die
Basis von Substrat-PNP-Anordnungen, und die Basisdiffusion für
die NPN-Anordnungen bildet die Emitterelektrode von Substrat-PNP-Anordnungen.
Weil der Kollektor einer Substrat-PNP-Anordnung das Substrat selbst ist, kann der Kollektor nicht belastet werden
bzw. geladen werden und muß an die negative Versorgung angeschlossen werden. Folglich können derartige Transistoren nur
in einer Emitterfolger-Anordnung verwendet werden.
Substrat-Darlington-Anordnungen weisen einen Treibertransistor und einen Ausgangstransistor auf. Der Treibertransistor hat einen
Emitter, welcher an die Basis des Ausgangstransistors angeschlossen
ist, und weist einen Kollektor auf, welcher an den negativen Ehergieversorgungsleiter angeschlossen ist. Die Basis des
Treibertransistors ist mit dem Darlington-Eingang oder der Treiberklemme verbunden. Der Emitter des Ausgangstransistors ist mit
der Ausgangsklemme der Darlington-Anordnung verbunden, und der
Kollektor des Ausgangstransistors ist mit dem negativen Energieversorgungsleiter
verbunden.
Das Emitter-Strom-Verstärkungs-Bandbreiten-Produkt (f^ ) von
als monolithische integrierte Schaltung ausgebildeten Substrat-PNP-Transistoren
ist in typischen Fällen gering und liegt bei spielsweise in der Größenordnung von 3 bis 30 MHz. Folglich tre-
509827/Ό730
ten Probleme auf, wenn Versuche unternommen werden, diese Transistoren
in Darlington-Anordnungen zur Leitung großer Ströme durch Impedanzen zu verwenden, welche kapazitive Reaktanzen aufweisen. Wenn
eine rein kapazitive Last an die Ausgangsklemme einer Substrat-PNP-Darlington-Folgerschaltung
angeschlossen wird, so zeigt die Reaktanz der kapazitiven Last die Tendenz, in einen negativen Widerstand an
der Eingangsklemme der Darlington-Schaltung umgeformt zu werden. Dieser negative Widerstand tendiert offensichtlich dazu, eine Schwingung
zu erzeugen.
Wenn weiterhin ein Lastwiderstand parallel zu der Lastkapazität geschaltet
wird, dann wird die Impedanz, mit welcher die Eingangsklemme von Darlington-Substrat-PNP-Transistoren beaufschlagt wird, von einem
negativen Widerstand in eine induktive Reaktanz umgeformt. Diese Induktivität
in Verbindung mit Streukapazitäten in der Schaltung an der Eingangsklemme der Darlington-Anordnung, welche von den Kollektoren
gebildet würde, erzeugen offensichtlich einen Resonanzkreis. Auch eine positive Rückführung durch den Resonanzkreis führt offen-
sichtlich zu einer unerwünschten Schwingung.
Eine bekannte Lösung zur Oberwindung dieses Instabilitätsproblems
besteht darin, den 'Basiswiderstand oder das Ausgangssubstrat der Darlington-PNP-Anordnung zu erhöhen. Dies kann dadurch geschehen,
daß ein Widerstand verwendet wird, um den Emitter des Treibertransistors mit der Basis des Aus gangs transistors zu verbinden.
Dieser Widerstand muß einen großen Wert haben, der in der Größenordnung von 10 Kiloohm liegt. Der Basisstrom des' Ausgangstransistors
muß durch diesen großen Widerstand hindurchfließen. Da der Wert beta eines PNP-Substrat-Transistors, verhältnismäßig niedrig ist, beispielsweise
20 beträgt, erfordert der PNP-Substrat-Ausgangstransistor hohe
Basisströme, um hohe Lastströme zu fördern. Solche Basisströme erzeugen
jedoch einen großen Spannungsabfall am Basiswiderstand. Folglich kann die Lastspannung nicht in das negative Versorgungspotential getrieben werden, und zwar wegen des Potentialabfalls, der am Basis-
509827/0730
Widerstand auftritt, der mit der Last in Reihe liegt.
Eine andere bekannte Lösung für das Instabilitätsproblem erfordert,
daß ein Kondensator zwischen der Eingangsklemme der Darlington-Anordnung und Erde oder einem Leiter mit geringem Pegel
angeordnet wird. Wenn dieser Kondensator einen großen Wert hat, der in der Größenordnung von 300 Picofarad liegt, so überdeckt
dessen Reaktanz offensichtlich die unerwünschte Impedanz, welche von der Last auf die Eingangsklemme der Darlington-Anordnung reflektiert
wird. Der Nachteil dieser Technik liegt in der Tatsache, daß der Kondensator einen großen Teil des Formbereichs einnimmt,
wenn er auf dem Plättchen bzw. der Scheibe ausgebildet wird. Kondensatoren
einer integrierten Schaltung haben Kapazitäten von etwa 0,1 Picofarad auf einer Fläche von etwa 0,000625 mm (square mil).
Somit erfordert ein Kondensator mit 500 Picofarad eine Fläche von
etwa 1,8 mm (3000 square mils), was eine unerwünscht große Fläche
OZW*
bedeutet. Wenn die Kapazität außerhalb der Scheibe/des Plättchens
gebildet wird, dann sind Leitungen erforderlich, um Anschlüsse herzustellen.
Somit vergrößern externe Kondensatoren entweder die Kosten der integrierten Schaltung, weil sie zusätzliche Leitungsanschlüsse
erfordern, oder begrenzen die elektrische Funktion, die ausgeführt werden kann, da Leitungen für solche Funktionen
erforderlich sind. Weiterhin ist es erwünscht, im Hinblick auf verbesserte Marktchancen die Anzahl der externen Bauelemente zu
vermindern, die für den Einaatz einer integrierten Schaltung erforderlich
sind.
Aufgabe der Erfindung ist es, eine Schaltungsanordnung der eingangs
genannten Art zu schaffen, welche bei außerordentlich großer Leistung
besonders wenig Raum einniamt.
Gegenstand der Erfindung ist eine Stabilisierungsschaltung, weiche
den effektiven Wert eines Kondensators erhöht, sowie der Aufbau
eines solchen Kondensators. Die Stabilisierungsschaltung kann einen
Transistor aufweisen, der eine Basis hat, welche mit dem Konden-
509827/0730
sator verbunden ist, und der einen Emitter aufweist, welcher
mit demjenigen Punkt verbunden ist, an welchen eine erhöhte effektive Kapazität geschaffen werden soll. Gemäß einer bevorzugten
Ausführungsform der Erfindung ist der Transistor ein Teil eines Vorspannungsnetzwerks. Der Punkt oder der Schaltungsknoten, an welchem die erhöhte Kapazität erwünscht ist, kann die
Basiselektrode des Eingangstransistors einer PNP-Substrat-Darlington-Folgerschaltung
sein, welche Eingangs- und Ausgangstransistoren aufweist.
Pur den Kondensatοraufbau ist ein Leiter vorgesehen, der aus
einem ersten Bereich eines Halbleitermaterials eines ersten Leitungstyps gebildet ist, welches einen Isolationsbereich und
einen Teil aufweist, der durch eine Basisdiffusion gebildet ist,
welche bei der Herstellung von NPN-Transistoren verwendet wird.
Ein zweiter Bereich eines Halbleitermaterials eines zweiten Leitfähigkeitstyps
bildet einen integralen Bestandteil des ersten Bereichs und bildet eine Platte des Kondensators. Dieser zweite
Bereich kann durch eine Emitterdiffusion hergestellt werden, welche
bei der Herstellung von NPN-Transistoren verwendet wird. Eine Schicht aus Siliciumdioxid überdeckt den zweiten Bereich und bildet
das Dielektrikum des Kondensators. Eine Metallisierungsschicht
über dem Siliciumdioxid bildet die andere Platte des Kondensators, welche mit der Basiselektrode des ersten Transistors verbunden
sein kann. Der Isolationsbereich verbindet den zweiten Bereich oder die Platte mit dem Substrat, welches eine weitere Verbindung
mit der Erde oder einer negativen Energieversorgungsklemme liefert.
Gemäß der Erfindung wird somit eine Stabilisierungsschaltung geschaffen,
welche den effektiven Wert eines Kondensators erhöht, wobei sich die Erfindung auch auf den Aufbau des monolithischen
Kondensators bezieht. Die Stabilisierungsschaltung weist einen Transistor auf, der eine Basis hat, welche mit dem Kondensator
verbunden ist, und der einen Emitter aufweist, welcher mit einem
509827/0730
Punkt verbunden ist, an welchem eine erhöhte effektive Kapazität geschaffen werden soll. Der Kondensatoraufbau ist dafür geeignet,
in monolithischen integrierten Schaltungen eingesetzt zu werden, welche diffundierte Isolationsbereiche haben. Eine erste Platte
des Kondensators wird durch eine Metallisierungsschicht gebildet, während die zweite Platte des Kondensators durch eine Emitterdiffusion in die Isolationsdiffusion erzeugt werden kann. Eine
Basisdiffusion, welche leitend mit der Emitterdiffusion verbunden ist und mit der Isolationsdiffusion, fördert die Verbindung der
zweiten Platte des Kondensators mit dem Substrat.
Gemäß der Erfindung ist der wesentliche Vorteil erreichbar, daß eine integrierte Schaltungskonfiguration geschaffen wird, durch
welche die effektive Kapazität eines kleinen Kondensators über seinen eigentlichen Kapazitätwert ermöglicht wird.
Weiterhin ist gemäß der Erfindung der Vorteil erreichbar, daß eine Technik zur Erhöhung der effektiven Kapazität eines kleinen
Kondensators zur Stabilisierung einer andernfalls instabilen Schaltung eingesetzt werden kann.
Die Erfindung wird nachfolgend beispielsweise anhand der Zeichnung
beschrieben; in dieser zeigen:
Fig. 1.ein Schaltschema einer Verstärkerschaltung, welche in einer
monolithischen integrierten Schaltung eingesetzt ist, die eine Frequenzstabilisierungsschaltung verwendet, die eine
Kondensatoranordnung gemäß einer Ausführungsform der Erfindung
enthalten kann und
Fig. 2 einen Querschnitt durch eine Halbleiterform, welche eine Ausführungsform der erfindungsgemäßen Kondensatoranordnung
veranschaulicht.
509827/0 730
In der Fig. 1 ist ein Schaltschema einer Verstärkerschaltung dargestellt, welche eine Art veranschaulioht, in welcher die
Erfindung ausgeführt sein kann. Genauer gesagt, die Verstärkerschaltung/gemäß Fig. 1 weist eine positive Energieversorgungsklemme 12 auf, die an einen Leiter 14 angeschlossen ist,
und eine negative Energieversorgungsklemme 16, welche an den
negativen Energieversorgungsleiter 18 angeschlossen ist. Die Bezugsspannungsklemme 20 (V ^) .ist derart ausgebildet, daß
sie ein Potential aufnimmt, welches zwischen denjenigen Potentialen liegt, welche den Energieversorgungsklemmen 12 und 16
zugeführt sind. Die Bezugsspannung kann von einer aus einer Vielzahl von bekannten Schaltungen geliefert werden. Die Eingangsklemme 21 ist derart ausgebildet, daß sie ein Eingangssignal aufnimmt, welches ein sinusförmiges Signal sein kann, welches
eine Tonfrequenz hat.
Der Transistor 22 weist einen Emitter auf, welcher mit dem Energieversorgungsleiter 14 verbunden ist, und eine Basis, welche mit
der Bezugsspannungsklemme 20 verbunden ist. Der zur Diode geschaltete Transistor 24 weist einen Emitter auf, welcher an den Leiter
18 angeschlossen ist, sowie eine Basis und einen Kollektor, die in bekannter Weise derart miteinander verbunden sind, daß eine
Diode gebildet wird. Der Kollektor und die Basis des Transistors 24 sind mit dem Kollektor des Transistors 22 verbunden. Der
Transistor 26 weist einen Emitterauf, welcher an den Leiter
angeschlossen ist, und hat eine Basis, welche Bit dem Transistor 24 verbunden ist. . ■
Das Vorspannungsnetzwerk 28 weist einen Transistor 30, einen
Widerstand 33 und einen Widerstand 35 auf. Der Widerstand 33 ist von dem Kollektor an die Basis des Transistors 30 geführt,
und der Widerstand 35 ist von der Basis an den Beitter des Transistors 30 geführt. Der Kollektor des Transistors 30 ist
mit dem Emitter des Signalverstärker-Transistors 32 verbunden, dessen Kollektor mit dem Leiter 14 verbunden ist. Die Basis des
50 9827/07 30
Transistors 32 ist mit der Eingangsklemme 21 und mit der Basis des NPN-Ausgangstransistors 34 verbunden. Der Emitter des
Transistors 34 ist mit der Ausgangsklemme 41 verbunden.
Die Klemme 37 der PNP-Darlington-Schaltung 36, welche die PNP-Substrat-Transistoren
38 und 40 enthält, ist ebenfalls an die Ausgangsklemme 41 angeschlossen. Die Basis des Eingangstransistors
38 ist über die Klemme 39 mit dem Kollektor 27 des Transistors verbunden. Die Kollektoren der Transistoren 38 und 40 sind mit dem
Energieversorgungsleiter 18 verbunden, und der Emitter des Transistors
38 ist mit der Basis des Transistors 40 verbunden. Der Emitter des Transistors 40 ist mit der Klemme 37 verbunden.
Im Betrieb liefert der Transistor 22 einen Strom über die Diode 24, welcher den Stromquellen-Transistor 26 in den leitenden Zustand
versetzt. Die Basis des Transistors 32 ist durch die Signaltreiberschaltung
(nicht dargestellt) derart vorgespannt, daß der Transistor 32 als Verstärker der Klasse A arbeitet. Somit
fließt ein konstanter Strom durch das "N/"-Vorspannungsnetzwerk 28. Die Basis-Emitter-Spannung des Transistors 32 und die Spannung
am "Nv"-Netzwerk 28 liefern eine Vorspannung an den NPN-Treibertransistor
3**· und das PNP-Darlington-Paar 36.
Die positiven Amplituden eines Wechselstrom-Eingangssignals zeigen
die Tendenz, sich zu der positiven Vorspannung zu addieren, welche durch das "NV'-Netzwerk 28 an den Vorspannungstransistor 34 geliefert
wird, so daß mehr Strom an den Energieversorgungsleiter 14
über die Ausgangsklemme 36 und an eine Last geführt wird, welche eine Widerstandskomponente bzw. ohmsche Komponente 43 und eine kapazitive
Komponente 42 aufweisen kann. In alternativer Weise versetzen die negativen Amplituden des Wechselstrom-Eingangssignals die Darlington-Schaltung
36 in einen stärker leitenden Zustand und versetzen den Transistor 34 in einen schwächer leitenden Zustand, so
daß die Spannung an der Ausgangsklemme 41 die Tendenz zeigt, in ihrer Größe bzw. Amplitude abzunehmen, so daß dadurch eine Abnahme
der momentanen Größe bzw. Amplitude der Spannung an der und des Stromes durch die elektrische Last verursacht werden.
509827/0730
Nachfolgend wird auf das Problem der Frequenzinstabilität eingegangen.
Ohne den Kondensator 44 arbeitet die Schaltung unter einer rein ohmschen bzw. Widerstandslast ordnungsgemäß. Unter
einer rein kapazitiven Last jedoch, wobei der mupfter Kondensator
42 von der Klemme 41 an den negativen Energieversorgungsleiter
geführt ist, treten Frequenzinstabilitätsprobleme auf. Genauer gesagt, wenn sich der Verstärkereingangssignalstrom an der Klemme
21 ändert, nimmt der Strom in den PHP-Substrat-Elementen der Darlington-Schaltung 36 zu und ab, wodurch f-. der PNP-Elemente
verändert wird. Wenn eine bestimmte Vorspannung vorhanden ist, wird die Impedanz, mit welcher die Basis des PNP-Transistors
beaufschlagt wird, offensichtlich zu einem negativen Widerstand.
Diese Bedingung im Zusammenwirken mit anderen Impedanzen an der Klemme oder dem Verbindungspunkt 39 erzeugt offensichtlich ein
unerwünschtes Ausgangsschwingungssignal an der elektrischen Last.
Die Schaltung 10 arbeitet dann als. Oszillator, anstatt als Verstärker.
Wenn die elektrische Last sowohl den Kondensator 42 als auch den Widerstand 43 aufweist, so kann auch dann eine Schwingung
auftreten, wenn das Verstärkereingangssignal den Verstärker
dazu bringt, daß sich der Laststrom ändert, wobei sich f^-
der PNP-Darlington-Transistoren wiederum ändert. Dies führt zu
dem Ergebnis, daß die Impedanz, mit welcher die Basis 39 des PNP-Substrat-Elementes 38 beaufschlagt wird, welche von der
aus Ohmschen und kapazitiven Komponenten kombinierten Last reflektiert wird, als induktive Reaktanz zu erscheinen beginnt. Die
Kapazität am Verbindungspunkt 39» welche durch die Kollektorkapazität
des Transistors 26 und andere kapazitive Effekte erzeugt wird, kombiniert sich offensichtlich mit der Induktivität, so
daß ein Resonanzkreis 'entsteht. Die Schleife, welche die Transistoren 26, 30, 32, 34 und die Darlington-Anordnung 36 enthält, schwingt
offensichtlich, und zwar aufgrund der Rückführung durch den Resonanzkreis.
Ein bekanntes Verfahren zur Beseitigung dieses Schwingungsproblems
besieht darin, eine große Kapazität zwischen dem Verbindungspunkt
509827/0730
und der Wechselstromerde anzuordnen, welche die Impedanz überdecken
würde oder die Impedanz, welche durch die Darlington-Anordnung 36 reflektiert wird, derart beeinflussen würde, daß
sie nicht mehr in der Lage ist, eine Schwingung zu erzeugen. Die hierzu erforderliche Kapazität kann in der Größenordnung
von 300 Picofarad .liegen, was bei den heutigen monolithischen Verfahren einen großen Bereich in der Größenordnung von etwa
1,8 mm (3OOO square mils) erfordern würde, wenn eine entsprechende
Anordnung auf demselben integrierten Schaltungsauf bau vorgesehen würde wie der Verstärker 10.
Die Schaltung 10 erfordert nicht, daß ein großer Kondensator an die Klemme 39 angeschlossen wird. Genauer gesagt, der Kondensator
44 hat eine Klemme 4-6, welche an die Basis des NPN-Transistors
30 angeschlossen ist, und hat eine weitere Klemme 48, welche an einen Punkt geringer Wechselstromimpedanz angeschlossen
ist, welcher der negative Energieversorgungsleiter 18 sein kann· Die Klemme 48 konnte ebenfalls an den positiven
Energieversorgungsleiter 14 angeschlossen sein. Der Transistor
30 multipliziert nämlich in der Tat die eigentliche Kapazität des Kondensators 44 in der Weise, daß eine erhöhte effektive
Kapazität an der Klemme 39 entsteht, welche gleich dem Wert beta des Transistors 3O ist, multipliziert mit der Kapazität
des Kondensators 44· Wenn somit eine Kapazität von 3ÖO Picofarad
an der Klemme 39 erforderlich ist, um die Schaltung 1o
zu stabilisieren, dann ist ein Kondensator geeignet, welcher an die Basis des Transistors 3O angeschlossen ist und eine
Kapazität von 3OO Picofarad aufweist, geteilt durch den Wert
beta des Transistors 30· Da nach Standardverfahren der Transistor
30 einen Wert beta von etwa 1OO bekommt, liefert ein Kondensator
mit drei Picofarad zwischen der Basis des Transistors 30 und, dem
Energieversorgungsleiter 18 3OO Picofarad zwischen der Klemme
und dem Leiter 18» Somit erfordert der Kondensator 44· anstatt
einer Pläche von etwa 1t8 mm (3OOO square mils) nur noch eine
Fläche von etwa 0,018 s®
<3O square mils).
509827/0730
fch > ■*-.··■-
Nachfolgend wird der Aufbau des Kondensators erläutert. Wie aus dem Querschnitt der Fig. 2 hervorgeht, weist der Aufbau
ein P-Substrat 50 auf, welches eine Schicht eines Epitaxial-Halbleitermaterials 52 vom N-Typ darauf enthält. Auf der nach
außen weis-enden Oberfläche des Epitaxialmaterials 52 ist eine
Schicht von Siliciumdioxid 62 gewachsen. Eine photolithographische
Technik wird dazu angewandtn, um in der Siliciumdioxidschicht selektiv Fenster zu öffnen, durch welche eine Diffusion P+ Isolationsbereiche
54a, 54b und 54c erzeugt, welche sich von der
Oberfläche des Epitaxialmaterials 52 in das Substratmaterial 50
erstrecken. Die Epitaxialinseln von N-Typ 56 und 57 sind von
Isolationsdiffusionsberexchen 54 vom Typ P+ und von einem Substrat
50 vom P-Typ umgeben. Dann ist Siliciumdioxid in den öffnungen
gewachsen, durch welche die Isolationsdiffusionsbereiche 54a, 54b und 54c erzeugt wurden. Die Siliciun&ioxidschicht wird
erneut selektiv durch photolithographische Verfahren maskiert
und geätzt, um öffnungen zu erzeugen, durch welche eine Basisdiffusion den Bereich 58a erzeugt, welcher die Basiselektrode
des NPN-Transistors 30 bildet, weiterhin den Bereich 58b, welcher
einen integralen Bestandteil des Isolationsbereiches 54b darstellt, und schließlich den Bereich 58c, welcher den Emitterbereich
für den PNP-Substrat-Transistor 38 darstellt. Eine weitere
Diffusion bildet den Bereich 60a, der den Emitter des NPN-Transistors
30 bildet, weiterhin den Bereich 60b und die Kollektorkontakte
innerhalb des (nicht dargestellten) Halbleitermaterüs·
Danach wächst eine Oxidschicht 62 über die Oberfläche des sich
auf diese Weise ergebenden Halbleiteraufbaus, und darin werden
wiederum selektiv öffnungen vorgesehen. Dann wird eine Metallisierungsschicht
aufgebracht und selektiv zu einem Kaster ausgebildet, um den Kollektorkontakt 64, die Emitterkontakte 66 und
72, weiterhin die Basiskontakte 68 und 74 und den Kurzschlußkontakt
70 zu erzeugen. Der Basiskontakt 68 erstreckt sich auch über die Siliciumdioxidschicht 62 und überlappt den Bereich 60b
vom Typ N+, um die Platte des Kondensators 44 zu bilden, welche
509827/07^0
mit der Basis des Transistors 30 verbunden ist. Die Metallisierung
70 schließt den Bereich 60b vom Typ N+ an den Bereich
58b vom Typ P in der Weise kurz, daß die Gleichrichterwirkung beseitigt wird, welche andernfalls dazwischen vorhanden wäre,
und daß der Reihenwiderstand des Kondensators 44 vermindert wird. Die Metallisierung 72 liefert eine elektrische Verbindung
zu dem Emitter des PNP-Transistors 38, und die Metallisierung
74 liefert einen Kontakt zur Basis des Transistors 38.
Isolationsdiffusionsschichten 54-a, 54b und 54-c können durch
die Diffusinnsfenster in der Siliciumdioxidschicht ausgebildet
werden, welche eine Breite in der Größenordnung von etwa 0,01 mm (four-tenths of a mil) aufweisen. Gemäß Pig. 2 besteht
bei der Isolationsdiffusion P+ die Tendenz, in einer seitlichen Richtung mit etwa derselben Rate zu diffundieren, wie eine Diffusion
in der vertikalen Richtung stattfindet. Wenn somit die Epitaxialsohicht
52 eine Tiefe in der Größenordnung von 16 Mikron aufweist, dann beträgt die Auswärtsdiffusion des Isolationsbereiches P+ in der Größenordnung von 16 Mikron. Somit nehmen
die Isolationsdiffusionen einen großen Teil des Oberflächenbereiches der Halbleiterform ein. Der Aufbau des Kondensators 44,
welcher die Isolationsdiffusion 54-b überdeckt, erhöht die erforderliche
Oberfläche nicht nennenswert, weil er einen Oberflächenbereich einnimmt, der andernfalls durch die Isolationsdiffusion
54-b eingenommen würde, welche zwei aktive Einrichtungen voneinander trennt, beispielsweise den Transistor 30 und den
Transistor 38. Die Isolationsdiffusion bildet im allgemeinen die Anode der entgegengesetzt bzw. rückwärts vorgespannten Diodenanordnung,
welche die Einrichtungen der integrierten Schaltung gegeneinander isoliert.
Ss wurde somit oben eine Anordnung beschrieben, welche eine verbesserte
monolithische integrierte Verstärkerschaltung darstellt, die ein PNP-Darlington-Paar aufweist. Die integrierte Schaltung
509827/0730
weist weiterhin eine Kondensatoranordnung auf, die einen minimalen
Raum beansprucht und eine Kapazität aufweist, welche gleich dem Wert beta ist, und zwar in der Weise multipliziert, daß ein
effektiver Wert erreicht wird, der dazu in der Lage ist, ein. Paar von PNP-Substrat-Darlington-Transistoren zu stabilisieren·
Da die Kondensatoranordnung eine andernfalls erforderliche Isolationsdiffusion vom Typ P+ überdeckt, nimmt die Kondensatoranordnung
effektiv keinen zusätzlichen Oberflächenbereich auf der integrierten Schaltungsscheibe in Anspruch. Deshalb können pro
Scheibe bzw. Plättchen mehr integrierte Schaltungen untergebracht werden, als wenn andere Kondensatoranordnungen verwendet würden.
Somit dient die beschriebene erfindungsgemäße Kondensatoranordnung dazu, die Ausbeute zu erhöhen und die Kosten der integrierten
Schaltungen zu senken. Somit zeigen der verbesserte Kondensatoraufbau und die Technik des Multiplizierens des Wertes beta die
Tendenz, PNP-Substrat-Darlington-Anordnungen in Schaltungen verwendbar
werden zu lassen, wo dies bisher praktisch undurchführbar war, und zwar wegen der beachtlichen Größe, welche von dem erforderlichen
Frequenzstabilisierungskondensator eingenommen wurde.
Obwohl die erfindungsgemäße Anordnung des Kondensators in bezug auf eine spezielle monolithische Verstärkerkonfiguration erläutert
wurde, ist eine Anwendung auch in anderen monolithischen Anordnungen möglich. Obwohl weiterhin die Beta-Multiplikation des
effektiven Kapazitätswertes des Kondensators anhand eines speziellen Kondensatoraufbaus beschrieben wurde, kann der Effekt der Multiplikation
des effektiven Kapazitätswertes auoh bei anderen Anwendungsfällen
eingesetzt werden, bei welohen die oben beschriebene
Kondensatoranordnung nicht vorliegt·
- Patentansprüche -
509827/0730
Claims (10)
1.) Schaltungsanordnung mit einem in einer monolithischen integrierten
Schaltung angeordneten Kondensator zur Anwendung in einer integrierten Schaltung, welche ein leitendes Substrat
mit einer darauf angeordneten Schicht aus Halbleitermaterial aufweist, wobei eine Platte des Kondensators mit dem
Substrat verbunden ist, dadurch gekennzeichnet , daß eine Metallisierungsschicht (68) vorgesehen ist, welche eine
erste Platte des Kondensators bildet und eine erste und eine zweite Oberfläche aufweist, daß weiterhin eine Schicht aus
einem dielektrischen Material vorhanden ist, welche eine erste Oberfläche aufweist, die benachbart zu der zweiten
Oberfläche der Metallisierungsschicht angeordnet ist, und weiterhin eine zweite Oberfläche hat, daß weiterhin ein
erster Bereich (60B) der Schicht aus Halbleitermaterial eines ersten Leitfähigkeitstyps eine erste Oberfläche aufweist,
welche benachbart zu der zweiten Oberfläche des dielektrischen Materials angeordnet ist, und eine zweite Oberfläche
hat, wobei der erste Bereich eine zweite Platte des Kondensators bildet, daß weiterhin ein zweiter Bereich (58B) der
Schicht aus Halbleitermaterial einen zweiten Leitfähigkeitstyp
aufweist und eine erste Oberfläche benachbart zu der zweiten Oberfläche des ersten Bereichs des Halbleitermaterials,
wobei der zweite Bereich des Halbleitermaterials sich von dem ersten Bereich des Halbleitermaterialszu dem Substrat erstreckt,
und daß eine zweite Metallisierungsschicht (70) vorgesehen ist, welche den ersten Bereich des Halbleitermaterials leitend mit
dem zweiten Bereich des Halbleitermaterials verbindet.
2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Schicht aus dielektrischem Material Siliciumdioxid enthält.
509827/0730
3. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der erste Bereich aus Halbleitermaterial mit . einem ersten Leitfähigkeitstyp durch eine Emitterdiffusion
gebildet ist.
4. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der zweite Bereich aus Halbleitermaterial einen ersten Teil (54B) aufweist, welcher durch eine Isolationsdiffusion
gebildet ist, und weiterhin einen zweiten Teil (58B) hat, der mit dem ersten Teil und mit dem ersten Bereich
einen integralen Bestandteil bildet, wobei der zweite Teil durch eine Basisdiffusion gebildet ist·
5. Monolithische integrierte Schaltungsanordnung, welche einen Schaltungsteil aufweist, der an einem Schaltungsverbindungspunkt
eine Impedanz hat, welche zu Schwingungen neigt, wobei eine Frequenzstabilisierungsschaltung vorhanden ist, dadurch
gekennzeichnet, daß eine kapazitive Einrichtung (44) vorgesehen ist, welche eine erste (6OB) und eine zweite
Platte (68) und eine vorgegebene Kapazität aufweist, und welche leitend mit einem Wechselstrom-Erdungspunkt (50) verbunden
ist, und daß eine erste elektronische Steuereinrichtung (28) vorhanden ist, welche eine Steuerklemme (46) aufweist,
welche mit der zweiten Platte (68) der kapazitiven ELnrich- ;
tung (44) verbunden ist, welche weiterhin eine erste Klemme hat, die mit dem SohaltungsVerbindungspunkt (27) verbunden
ist, und welche weiterhin eine zweite Klemme aufweist, die mit einer Energieversorgungsklemme (14) gekoppelt ist, und
daß die erste elektronische Steuereinrichtung den vorgegebe- I
nen Kapazitätswert der kapazitiven Einrichtung derart multi- j pliziert, daß an dem Schaltungsverbindungspunkt (27) eine ■
effektive Kapazität gebildet wird, welche größer iet als
der vorgegebene Kapazitätswert, so daß die effektive Kapazität
die integrierte Schaltung stabilisiert· '
509827/0730
6. Anordnung nach Anspruch 5» wobei das kapazitive Element einen integralen Bestandteil einer monolithischen integrierten
Schaltung bildet, die ein Substrat aufweist, dadurch gekennzeichnet , daß das kapazitive Element
eine Metallisierungsschicht (68) aufweist, welche die zweite Platte des Kondensators bildet, und eine erste und eine
zweite Oberfläche hat,daß das kapazitive Element weiterhin eine Schicht aus dielektrischem Material aufweist, welche
eine erste Oberfläche benachbart zu der zweiten Oberfläche der Metallisierungsschichthat, und weiterhin eine zweite
Oberfläche aufweist, daß das kapazitive Element weiterhin einen ersten Bereich (60B) aus Halbleitermaterial eines
ersten Leitfähigkeitstyps aufweist, welcher eine erste
Oberfläche hat, die benachbart zu der zweiten Oberfläche des dielektrischen Materials angeordnet ist, wobei der
erste Bereich die erste Platte des Kondensators bildet, und daß das kapazitive Element weiterhin einen zweiten
Bereich (58B) aus Halbleitermaterial mit einem zweiten Leitfähigkeitstyp aufweist und eine erste Oberfläche hat,
welche benachbart zu der zweiten Oberfläche des ersten Bereichs
aus Halbleitermaterial angeordnet ist, wobei der zweite Bereich aus Halbleitermaterial sich vom ersten Bereich
aus Halbleitermaterial zu dem Substrat erstreckt.
7. Anordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß eine zweite Metallisierungsschicht (70) eine Verbindung zwischen dem ersten Bereich aus Halbleitermaterial
und dem zweiten Bereich aus Halbleitermaterial bildet.
8. Anordnung nach Anspruch 7» dadurch gekennzeichnet,
daß der zweite Bereich aus Halbleitermaterial einen ersten Teil (54-B) aufweist, der durch eine Isolationsdiffusion
gebildet ist, und daß der zweite Bereich aus Halbleitermaterial weiterhin einen zweiten Teil (58B) aufweist, der einen integralen
Bestandteil des ersten Teils und des ersten Bereichs darstellt, wobei der zweite Teil durch eine Basisdiffusion
gebildet ist.
509827/0730
9. Anordnung nach Anspruch 5» dadurch gekennzeichnet, daß die erste Schaltung (28) einen Transistor (30)
aufweist, der eine Basis hat, welche mit der Steuerklemme
(46) verbunden ist, der einen Emitter hat, welcher mit der
ersten Klemme verbunden ist, und einen Kollektor aufweist, der mit der zweiten Klemme verbunden ist, daß die erste
Schaltung (28) weiterhin ein erstes Widerstandselement (33)
aufweist, welches zwischen der Basis und dem Kollektor des Transistors angeordnet ist, und daß die erste Schaltung (28)
weiterhin ein zweites Widerstandselement (35) aufweist, welches
zwischen der Basis und dem Emitter des Transistors angeordnet ist.
10. Anordnung nach Anspruch 5» dadurch gekennzeichnet, daß eine zweite Schaltung (22, 24, 26) vorgesehen
ist, welche eine erste Elektrode (12) aufweist, die an einen Spannungsversorgungsleiter angeschlossen ist, weiterhin
eine Steuerelektrode (20) aufweist, welche derart ausgebildet ist, daß sie eine Vorspannung mit einer konstanten Amplitude
aufnimmt, und weiterhin eine zweite Elektrode hat, welche mit dem SchaltungsVerbindungspunkt (27) verbunden ist.
5 0 9827/0730
Leerseite
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US05/430,267 US3953875A (en) | 1974-01-02 | 1974-01-02 | Capacitor structure and circuit facilitating increased frequency stability of integrated circuits |
US05/629,728 US4027271A (en) | 1974-01-02 | 1975-11-06 | Capacitor structure and circuit facilitating increased frequency stability of integrated circuits |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2500057A1 true DE2500057A1 (de) | 1975-07-03 |
DE2500057C2 DE2500057C2 (de) | 1982-12-02 |
Family
ID=27028525
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2500057A Expired DE2500057C2 (de) | 1974-01-02 | 1975-01-02 | Schaltungsanordnung zur Frequenzstabilisierung einer integrierten Schaltung |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US3953875A (de) |
JP (1) | JPS5346674B2 (de) |
DE (1) | DE2500057C2 (de) |
FR (1) | FR2264396A1 (de) |
GB (1) | GB1468641A (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4639686A (en) * | 1983-07-27 | 1987-01-27 | Telefunken Electronic Gmbh | High frequency amplifier circuit |
WO1990001216A1 (en) * | 1988-07-27 | 1990-02-08 | Unisys Corporation | Speed-up circuit for npn bipolar transistors |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5855685B2 (ja) * | 1975-09-03 | 1983-12-10 | 株式会社日立製作所 | ゾウフクカイロ |
US4190778A (en) * | 1976-01-09 | 1980-02-26 | Siemens Aktiengesellschaft | A.C. supplied integrated semi-conductor logic circuit |
JPS52102690A (en) * | 1976-02-25 | 1977-08-29 | Hitachi Ltd | Semiconductor capacitance device |
US4214252A (en) * | 1977-08-06 | 1980-07-22 | U.S. Philips Corporation | Semiconductor device having a MOS-capacitor |
US4228450A (en) * | 1977-10-25 | 1980-10-14 | International Business Machines Corporation | Buried high sheet resistance structure for high density integrated circuits with reach through contacts |
US4245231A (en) * | 1978-12-26 | 1981-01-13 | Motorola Inc. | Combination capacitor and transistor structure for use in monolithic circuits |
US4387346A (en) * | 1979-08-30 | 1983-06-07 | Fackler John D | Bias circuit for a microwave transistor power amplifier |
US4464630A (en) * | 1980-03-07 | 1984-08-07 | Harris Corporation | Transimpedance pre-amplifier |
US4399417A (en) * | 1980-06-06 | 1983-08-16 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Integrated CRC filter circuit |
US4553044A (en) * | 1983-05-11 | 1985-11-12 | National Semiconductor Corporation | Integrated circuit output driver stage |
DE3326958C2 (de) * | 1983-07-27 | 1986-07-10 | Telefunken electronic GmbH, 7100 Heilbronn | Integrierte Schaltung zum Verstärken |
US5136357A (en) * | 1989-06-26 | 1992-08-04 | Micron Technology, Inc. | Low-noise, area-efficient, high-frequency clock signal distribution line structure |
JP3922773B2 (ja) * | 1997-11-27 | 2007-05-30 | 三菱電機株式会社 | 電力増幅器 |
US5880517A (en) * | 1998-02-04 | 1999-03-09 | Northrop Grumman Corporation | Microwave power transistor having matched impedance with integrated DC blocking capacitor and manufacturing method therefor |
JP5595751B2 (ja) * | 2009-03-11 | 2014-09-24 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | Esd保護素子 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3233125A (en) * | 1963-01-08 | 1966-02-01 | Trw Semiconductors Inc | Transistor technology |
DE1537633B2 (de) * | 1966-10-24 | 1972-02-10 | Motorola, Inc., Franklin Park, 111. (V.St.A.) | Monolithischer leistungsverstaerker |
DE2134987A1 (de) * | 1970-07-13 | 1972-02-17 | Hitachi Ltd | Transistorisierter Leistungsverstärker |
DE2116373A1 (de) * | 1971-04-03 | 1972-10-19 | Ferranti Ltd | Integrierte Halbleiterschaltungen |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3320484A (en) * | 1963-11-12 | 1967-05-16 | Texas Instruments Inc | Dielectric devices |
GB1203961A (en) * | 1967-04-21 | 1970-09-03 | Cambridge Consultants | An active capacitance reactance network |
US3560278A (en) * | 1968-11-29 | 1971-02-02 | Motorola Inc | Alignment process for fabricating semiconductor devices |
US3702405A (en) * | 1971-11-17 | 1972-11-07 | Us Air Force | Electronically variable capacitance |
-
1974
- 1974-01-02 US US05/430,267 patent/US3953875A/en not_active Expired - Lifetime
- 1974-12-27 JP JP14909474A patent/JPS5346674B2/ja not_active Expired
-
1975
- 1975-01-02 FR FR7500054A patent/FR2264396A1/fr not_active Withdrawn
- 1975-01-02 GB GB6975A patent/GB1468641A/en not_active Expired
- 1975-01-02 DE DE2500057A patent/DE2500057C2/de not_active Expired
- 1975-11-06 US US05/629,728 patent/US4027271A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3233125A (en) * | 1963-01-08 | 1966-02-01 | Trw Semiconductors Inc | Transistor technology |
DE1537633B2 (de) * | 1966-10-24 | 1972-02-10 | Motorola, Inc., Franklin Park, 111. (V.St.A.) | Monolithischer leistungsverstaerker |
DE2134987A1 (de) * | 1970-07-13 | 1972-02-17 | Hitachi Ltd | Transistorisierter Leistungsverstärker |
DE2116373A1 (de) * | 1971-04-03 | 1972-10-19 | Ferranti Ltd | Integrierte Halbleiterschaltungen |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4639686A (en) * | 1983-07-27 | 1987-01-27 | Telefunken Electronic Gmbh | High frequency amplifier circuit |
WO1990001216A1 (en) * | 1988-07-27 | 1990-02-08 | Unisys Corporation | Speed-up circuit for npn bipolar transistors |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2500057C2 (de) | 1982-12-02 |
FR2264396A1 (de) | 1975-10-10 |
JPS5346674B2 (de) | 1978-12-15 |
US4027271A (en) | 1977-05-31 |
GB1468641A (en) | 1977-03-30 |
JPS50102277A (de) | 1975-08-13 |
US3953875A (en) | 1976-04-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2500057A1 (de) | Schaltungsanordnung zur stabilisierung integrierter schaltungen | |
DE69020316T2 (de) | MOS-Schaltkreis mit einem Gate-optimierten lateralen bipolaren Transistor. | |
DE1589707A1 (de) | Temperaturkompensierte Z-Diode | |
DE1154834B (de) | Verstaerkende, auf einem Kristall aufgebaute Halbleiterschaltungsanordnung | |
DE2349986A1 (de) | Kapazitaetsschaltung | |
EP0279404A2 (de) | Lasersenderanordnung | |
DE2210599A1 (de) | HF-Leistungstransistor und Verfahren zu seiner Herstellung | |
DE2629468A1 (de) | Temperaturkompensierter oszillator | |
DE966849C (de) | Transistorelement und Transistorschaltung | |
DE2236897A1 (de) | Verfahren zur herstellung von halbleiterbauteilen | |
DE1541488A1 (de) | Halbleiterkaskodenverstaerker in integrierter Schaltung | |
DE3331631C2 (de) | ||
DE1439268B1 (de) | Integrierte Halbleiterschaltungsanordnung | |
DE68912415T2 (de) | Integrierte Stromspiegelschaltung mit vertikalen Transistoren. | |
EP0029538A1 (de) | Integrierbare Schaltung zur Verhinderung des Sättigungszustandes eines Transistors | |
EP0413054B1 (de) | Eingangsschutzstruktur für integrierte Schaltungen | |
DE2263075A1 (de) | Monolithische integrierte halbleiteranordnung | |
DE2452107B2 (de) | Temperaturkompensierte Z-Diodenanordnung | |
DE3446001A1 (de) | Integrierte halbleiterschaltung | |
DE2231932B2 (de) | Transistorverbundschal tungsanordnung | |
DE69637117T2 (de) | Elektronische anordnung mit mitteln zum kompensieren von parasitären kapazitäten | |
DE1948178A1 (de) | Temperaturstabile monolithische Schaltung einer Referenzspannungsquelle,insbesondere fuer monolithische logische Halbleiterschaltungen | |
DE4040070C2 (de) | PNP-Transistor mit einem Schutzelement zum Schutz vor statischer Elektrizität | |
DE2520825A1 (de) | Oszillator | |
EP0338316B1 (de) | Bandpassverstärker |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8125 | Change of the main classification | ||
8126 | Change of the secondary classification | ||
D2 | Grant after examination | ||
8363 | Opposition against the patent | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |