DE2303205B2 - Halbleiterkondensator - Google Patents
HalbleiterkondensatorInfo
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- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
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Description
ύΤ
= 0,
wobei bedeuten:
q>k = Kontaktpotentialdifferenz am in Sperrichtung
betriebenen pn-Übergang (7);
LO = Spannung am in Durchlaßrichtung vorgespannten
pn-Übergang (8);
T — Umgebungstemperatur.
Die Erfindung bezieht sich auf einen Halbleiterkondensator aus einem einkristallinen Halbleiter, der eine
erste, zweite und dritte Zone abwechselnden Leitungstyps, die einen ersten und zweiten pn-Übergang bilden,
und Anschlußelektroden zu den drei Zonen aufweist. Der Halbleiterkondensator kann in einem großen
Frequenzbereich von Funk- und Fernsehanlagen zur elektronischen Abstimmung von Resonanzsystemen
eingesetzt werden.
Ein solcher Halbleiterkondensator wird im technischen Schrifttum auch oft mit »Kapazitäts-Variations-Diode«,
»Abstimmkondensator«, »Varikap« oder »Varaktor« bezeichnet und besteht im einfachsten Fall, wie
allgemein bekannt ist, aus einer Siliziumplatte mit einer p-leitenden und einer η-leitenden Schicht. In Sperrichtung
dieser Diode liegt Vorspannung an. Der pn-Übergang ist hierbei mit einer isolierenden Trennschicht
vergleichbar. Mit Erhöhung der in Sperrichtung angelegten Spannung wird die entsprechende Raumladungszone
verbreitert bzw. die Sperrschichtkapazität kleinen Die Spannungsabhängigkeit der Sperrschichtkapazität
wird zur parametrischen Verstärkung, Frequenzvervielfachung und elektronischen Abstimmung
genutzt (A. Möschwitzer, »Halbleiterelektronik«, 2. Aufl. (1971), VEB Verlag Technik Berlin, S. 44/45).
Ein Halbleiterkondensator der eingangs beschriebenen Gattung mit drei Schichten abwechselnd entgegengesetzten
Leitungstyps und unterschiedlicher Leitfähigkeit ist im Zusammenhang einer aus zwei in Gegentakt
geschalteten Kapazitätsdioden bes.tehenden Halbleitervorrichtung bekannt (DE-OS 17 64 125). Bei der
integrierten, insgesamt fünfschichtigen Struktur dienen die äußeren n+-leitenden Schichten lediglich zur
Verringerung der Kontaktwiderstände für die Anschlußelektroden; beide pn-Übergänge der mittleren
-) dreischichtigen Struktur sind in Sperrichtung vorgespannt.
Die mittlere, von einer zusätzlichen Elektrode kontaktierte Schicht hat einen niedrigen spezifischen
Widerstand. Durch Verringerung des Bahnwiderstandes und somit des Reihenwiderstandes insgesamt der
bekannten Kapazitätsdiode wird ihre Güte, die sich aus der Reihen- und Parallelgüte zusammensetzt, erhöht.
Die veränderbare Kapazität des in Durchlaßrichtung vorgespannten pn-Überganges (die sogenannte Diffusionskapazität)
wird im bekannten Fall als steuerbarer Kondensatorparameter natürlich nicht benutzt, da die
Kondensatorgüte bei Polung in Durchlaßrichtung mit Vergrößerung der Spannung stark abfällt.
Praktisch interessant ist auch nur die Möglichkeit, die negative Vorspannung am pn-Übergang für die
Steuerung der Kapazitätsgröße zu benutzen, weil bei dieser Lösung eine hohe Güte des Bauelementes, ein
niedriger Pegel des Eigenrauschens und die Unabhängigkeit der Kapazität von der Frequenz bis in den
Millimeterwellenbereich hinein gewährleistet werden.
>5 Mathematisch läßt sich die hier behandelte Sperrschichtkapazität
(Q)des pn-Übergangs darstellen als
d</ _ ,„„S
Li ~ .ΓΙ..Γ ~ '"■"/."
mit
aq = Zunahme der Ladung bei der Spannungserhöhung
um den Betrag du;
j-) u = an den pn-Übergang anzulegende Maximalspannung;
E0 = Dielektrizitätskonstante von Vakuum;
ei = absolute Dielektrizitätskonstante des Mediums; 5 = Fläche des pn-Überganges;
h = Dickeder Raumladungszone am pn-Übergang.
ei = absolute Dielektrizitätskonstante des Mediums; 5 = Fläche des pn-Überganges;
h = Dickeder Raumladungszone am pn-Übergang.
Charakteristisch für einen Halbleiterkondensator ist das Bestehen einer Spannungsabhängigkeit für die
Dicke der Raumladungszone, die sich je nach der
v> Verteilung der Dotierungskonzentration in der Raumladungszone
gestaltet.
Bei Herstellung des Halbleiterkondensaiors nach der üblichen Legierungs- oder Diffusionstechnik weist er
eine praktisch konstante bzw. linear ansteigende
so Dotierungskonzentration in der pn-Grenzschicht und eine Sperrschichtkapazitätsbeziehung auf, nach der die
Sperrschichtkapazität umgekehrt proportional der Quadrat- bzw. Kubikwurzel aus dem Vorspannungsbetrag
ist.
Eine bessere Vorspannungsempfindlichkeit erhält man für die Kapazität durch einen umgekehrten bzw.
Rückwärts-Dotierungsgradienten, d. h. eine solche Konzentrationsverteilung, daß die Störstellenkonzentration
in Richtung von der pn-Grenzschicht aus abnimmt.
bo Bei Einsatz des Halbleiterkondensators ist neben dem Kapazitätsverhältnis, d. h. dem Verhältnis von Größt- zu
Kleinstwert der Kapazität in einem bestimmten Bereich der Sperrspannungen, der Kapazitäts-Sperrspannungsbeziehung,
der Güte, d. h. den Widerstandsverlusten, die möglichst niedrig sein müssen, als sehr wesentlich die
Temperaturabhängigkeit zu beachten. Die temperaturabhängige Kapazitätsänderung wird erfaßt durch den
sogenannten Temperaturkoeffizienten der Kapazität
[TKK), der als relative Änderung der Kapazität mit Änderung der Temperatur definiert ist, nämlich
TKK =
1 PC
C PT
= Kapazitälswert des Kondensators
= Temperatur [K].
= Temperatur [K].
Physikalisch gesehen ist die Temperaturabhängigkeit der Kapazität auf diejenige der Dielektrizitätskonstante
(ε) und der Kontaktpotentialdifferenz (φ) zurückzuführen.
Insofern das Bestehen eines Temperaturkoeffizienten durch die Temperaturabhängigkeit der Kontaktpotentialdifferenz
bedingt ist, ist er der Vorspannung umgekehrt und dem Nichtlinearitätsfaktor des Kondensators
direkt proportional. Der Nichtlinearitätsfaktor wird hier definiert als Quotient einer relativen
Änderung der Kondensatorkapazität, verursacht durch eine solche der Vorspannung, und dieser Vorspannungsänderung.
Eine Änderung der Kontaktpotentialdifferenz beeinflußt den Temperaturkoeffizienten der Kapazität am
meisten und ruft deren Vergrößerung mit Erhöhung der Temperatur hervor. Ein Halbleiterkondensator, hergestellt
mit Silizium als Substrat, mit der Kapazitäts-Spannungs-Beziehung
U)
-1/2
C(u)= Kapazität des Kondensators,
A = Proportionalitätsfaktor,
U = Vorspannung,
A = Proportionalitätsfaktor,
U = Vorspannung,
besitzt z. B. in einem Temperaturbereich von — 60 bis zu + 12O0C bei einer Sperrspannung (U) von —4 V einen
Temperaturkoeffizeinten, der 300 · 10"6[l/°C] erreicht.
Als noch empfindlicher gegen Temperaturänderungen erweist sich der Kondensator mit einem
Rückwärtsgradienten der Dotierungskonzentration im pn-Übergang.
Die temperaturbedingte Instabilität der Kapazität verschlechtert auch die Stabilität der Funktion funk-
oder nachrichtentechnischer Schaltungen, in denen Halbleiterkondensatoren eingesetzt sind. Dies beeinträchtigt
naturgemäß die Verwendbarkeit der Schaltungen.
Voraussetzung für die Schaffung funktionssicherer nachrichtentechnischer Geräte, die mit Halbleiterkondensatoren
aufgebaut werden, ist die Sichersiellung einer hohen Stabilität der Kapazität für einen breiten
Temperaturbereich. Es ist bekannt, zum Ausgleich des TKK im Stromkreis nachrichtentechnischer Schaltungen
besondere Kompensationsglieder einzuschalten, die die elektrische Schaltung je nach der Änderung der
Betriebstemperaturen bezüglich des Kapazitätswertes korrigieren (»Electronic Industries«, Bd. 18 [1959], Nr.
12, S. 90 bis 96; »Funkschau«, 39. Jg [1967], H. 7, S. 487 bis
490). Im wesentlichen wird jeweils zu einer Kapazitätsdiode eine mittels einer zusätzlichen Spannungsquelle in
Durchlaßrichtung vorgespannte diskrete Diode in Reihe geschaltet. Im erstgenannten Fall kann eine ansonsten
25%ige Kapazitätsänderung zwischen 25 und 1000C auf
eine 2- bis 3%ige Änderung im gleichen Temperaturbereich reduziert werden. Derartige nachrichtentechnische
Schaltungen sind sehr kompliziert und geben nicht nur keine Gewähr für die Stabilität anderer elektrischer
Ausgangsparamter des Halbleiterkondensators, son- ·) dem führen auch manchmal zwangsläufig zu deren
Änderung.
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist die Entwicklung eines solchen Aufbaus des Halbleiterkondensators,
daß das Bauelement Temperatui einflüsse auf
ίο die Kapazität selbsttätig kompensiert. Der nahezu
vollständige Ausgleich des TKK soll für den ganzen Betriebstemperaturbereich unter Beibehaltung der
anderen Hauptparameter erhalten werden, ohne daß man dafür besondere radiotechnische TKK-Ausgleichs-
-, Schaltungen anzuwenden braucht.
Die Lösung dieser Aufgabe besteht darin, daß erfindungsgemäß die erste und die dritte Zone höher
dotiert sind als die zweite Zone, daß der erste pn-Übergang in Sperrichtung und der zweite pn-Übergang
in Durchlaßrichtung gepolt ist, daß zwischen der Anschlußelektrode an der zweiten Zone und der
Anschlußelektrode an der dritten Zone eine Gleichstromquelle angeschlossen ist, wobei eine zusätzliche
Spannung an den in Durchlaßrichtung gepolten pn-Übergang gelegt ist und in Abhängigkeit von
Temperaturänderungen die Kapazität des in Sperrichtung gepolten pn-Überganges selbsttätig gesteuert
wird, so daß die folgende Ausgleichsbedingung erfüllt ist:
AkJi-zJIaL - η
wobei bedeuten:
j)
j)
cpk = Kontaktpotentialdifferenz am in Sperrichtung
betriebenen pn-Übergang;
Uo = Spannung am in Durchlaßrichtung vorgespannten
pn-Übergang;
4» T = Umgebungstemperatur.
4» T = Umgebungstemperatur.
Ein solcher Aufbau des Halbleiterkondensators gestattet es, den TKK nahezu restlos auszugleichen,
indem man die Anordnung so bemißt, daß der Strom durch den in Durchlaßrichtung gepolten pn-Übergang
einen vorgegebenen Wert nicht überschreitet. Hierdurch wird eine hohe Zuverlässigkeit des Kondensators
und Stabilität seiner Parameter, insbesondere der Kapazitäts-Spannungs-Kennlinie, und zwar sowohl für
■50 einen breiten Temperaturbereich als auch für erforderliche Teilbereiche, gewährleistet.
Der eingangs erwähnte bekannte im wesentlichen dreischichtige Halbleiterkondensator (DE-OS
17 64 125) läßt sich auch unter Anwendung der aus den
v> erwähnten Zeitschriften entnehmbaren Lehre temperaturkompensieren,
weil wegen der vorgegebenen Dotierung und bei den vorgegebenen Querschnittsverhältnissen
auch eine Vorspannung in Durchlaßrichtung an einem der beiden pn-Übergänge nicht zu Ausgleichbedingungen
führt.
Im folgenden wird die Erfindung anhand eines
Ausführungsbeispiels für den Halbleiterkondensator und Her aus einer einzigen Figur bestehenden
Zeichnung näher erläutert, wobei die Zeichnung den Aufbau des Kondensators im Schnitt zeigt.
Der Halbleiterkondensator ist aus einer einkristallinen η-leitenden Siliziumplatte 1 als Substrat aufgebaut.
Der spezifische Widerstand des Grundmaterials beträgt
3 Ohm · cm. In der Platte 1 sind beiderseits Aluminiumelektroden 2 und 3 cinlegiert, so daß sich in der Platte 1
mit Aluminium legierte Schichten 4 und 5 ausbilden, die p-leitend sind und einen spezifischen Widerstand von
etwa 0,03 Ohm · cm besitzen.
Somit ist der Halbleiterkondensator aus drei aufeinanderfolgenden
Schichten von>p-, n- und p-Leitungstyp aufgebaut, wobei die η-leitende Schicht 6 die Basis ist
und einen spezifischen Widerstand etwa lOOmal so groß wie die p-leitenden Schichten hat. Für den spezifischen
Widerstand der Schichten können auch andere Werte gewählt werden, aber derjenige der Basis muß jedenfalls
wesentlich größer sein als die Widerstände der anderen zwei Schichten.
Die p-leilenden Schichten 4 und 5 ergeben zwei
pn-Übergänge 7 und 8.
Den Halbleiterkondensator schaltet man in den Stromkreis derart ein, daß die Elektrode 2 unter
negativer Spannung steht. Bei dieser Polung ist der pn-Übergang 7 gesperrt. Die Kapazität des in
Sperrichtung gepolten pn-Überganges 7 bestimmt den Kapazitätswert des Kondensators und kann durch
Änderung der Sperrspannung (U\) geregelt werden.
Am anderen pn-Übergang 8 muß ein positives Potential liegen, d. h. dieser in Durchlaßrichtung
vorgespannt sein. Die Durchlaßspannung führt diesen pn-Übergang in einen offenen Zustand über und läßt
eine Diffusionskapazität entstehen.
Somit liegen die pn-Übergänge 7 und 8 bei der erfindungsgemäßen Anordnung im Stromkreis veränderlicher
Signalgröße in Reihe.
An die Basis 6 ist über einen sperrschichtfreien (ohmschen) Kontakt eine Elektrode 9 angeschlossen, die
beispielsweise an eine Gleichstromquelle 10 geführt ist.
Die Elektrode 9 speist in die Basis einen elektrischen Strom ein, durch den der in Durchlaßrichtung gepolte
pn-Übergang zusätzlich vorgespannt wird, so daß die Bedingung
ti (</ A- -' ' df
= 0.
mit
ψ k U0 T
ψ k U0 T
Kontaktpotentialdifferenz am in Sperrichtung gepolten pn-Übergang,
Spannung am in Durchlaßrichtung gepollen pn-Übergang,
Umgebungstemperatur,
erfüllt ist.
Das Funktionsprinzip des Halblciterkondensators mit pnp-Anordnung läßt sich wie folgt darstellen:
Beim Einschalten des Halbleiterkondensators in einen Stromkreis, wie es die Figur zeigt, und Anlegen einer
Sperrspannung von z. B. -4 V wird der pn-Übergang 7 in Sperrichtung gcpolt, und es entsteht an diesem eine
Sperrschichtkapazität. Da der pn-Übergang 8 und der pn-Übergang 7 im Stromkreis in Reihe liegen, ist der
crstcrc hierbei in Durchlaßrichtung gcpolt, und es entsteht im ihm eine Diffusionskapazität.
Bei einer Änderung der Temperatur um 10[K] un
einer konstanten Vorspannung von —4 V änderte sich in einem Versuch die Kapazität des in Sperrichtung
gcpolten pn-Übergangs um 0,3%, d.h., der TKK fü diese Sperrschichtkapazität betrug 300 · 10-b[1/°C].
Für den Ausgleich dieser Änderung braucht man bekanntlich die Sperrspannung am pn-Übergang 7 um
hunderstel Volt zu verändern. Bei dem crfindungsgemä Ben Bauelement geschieht dies durch Änderung de
Arbeitszustandes des in Durchlaßrichtung gepolten Überganges, der mit einer an diesen angelegten
zusätzlichen Durchlaßspannung geregelt wird.
Weiterhin ist bekannt, daß der TKK eines Halbleiter kondensators sich hauptsächlich nach der Größi
JY bzw. im vorliegenden Fall
ii(</ k - U1)
d7
mit
r> U0
T
Kontaktpctentialdifferenz am in Sperrichtung
gepolten pn-Übergang,
Spannung am in Durchlaßrichtung gepolten
pn-Übergang,
Umgebungstemperatur,
richtet.
so Um einen nahezu vollständigen Ausgleich des TKK zu erhalten, muß die Größe der zusätzlichen Vorspan
nung in Durchlaßrichtung der Gleichung genügen:
d (-/ k -df
= 0.
Darüber hinaus wird durch Regelung des Stromes durch den in Durchlaßrichtung gepolten pn-Übergang 8,
wozu eine dritte zusätzliche Elektrode vorgesehen ist, ein solches Übergewicht der Diffusionskapazität des in
Durchlaßrichtung gepolten Überganges 8 über die Kapazität des in Sperrichtung gepolten Überganges 7
der als steuerbare Kapazität betrieben wird, gewährlei stet, daß die letztere gegenüber der ersteren vernachläs
sigbar klein ist. Deshalb bleiben die elektrischen Ausgangsparamter des Halbleiterkondensators unverändert.
Die hier angestellten Betrachtungen gelten auch füi den Fall eines Halbleiterkondensators vom npn-Typ
sowie für den Fall einer Temperaturänderung bis in den Tieftemperaturbercich hinein.
Zusammenfassend kann man sagen, daß bei den erfindungsgemäßen Aufbau des Halbleiterkondensator!
der höchstmögliche Ausgleich des TKK sowohl für der ganzen Betriebstemperaturbereich von -60 bi<
+ 1200C als auch für einen beliebigen Unterbereich
/.. B. von +60 bis 1200C, praktisch ohne Änderung det
anderen elektrischen Parameter des Bauelementes erreicht werden kann, indem man bloß den Strom durcl
den in Durchlaßrichtung gepoltcn pn-Übergang 8 je nach der eingetretenen Tempcrattirändcrung verstellt.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
- Patentanspruch:Halbleiterkondensator aus einem einkristallinen Halbleiter, der eine erste, zweite und dritte Zone abwechselnden Leitungstyps, die einen ersten und zweiten pn-übergang bilden, und Anschlußelektroden zu den drei Zonen aufweist, dadurch gekennzeichnet, daß die erste (4) und die dritte (5) Zone höher dotiert sind als die zweite Zone (6), daß der erste pn-Übergang (7) in Sperrichtung und der zweite (8) pn-Übergang in Durchlaßrichtung gepolt ist, daß zwischen der Anschlußelektrode (9) und der zweiten Zone (6) und der Anschlußelektrode an der dritten Zone (5) eine Gleichstromquelle (10) angeschlossen ist, wobei eine zusätzliche Spannung an dem in Durchlaßrichtung gepoken pn-Übergang (8) gelegt ist und in Abhängigkeit von Temperaturänderungen die Kapazität des in Sperrichtung gepolten pn-Überganges (7) selbsttätig gesteuert wird, so daß die folgende Ausgleichsbedingung erfüllt ist:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19732303205 DE2303205C3 (de) | 1973-01-23 | 1973-01-23 | Halbleiterkondensator |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19732303205 DE2303205C3 (de) | 1973-01-23 | 1973-01-23 | Halbleiterkondensator |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2303205A1 DE2303205A1 (de) | 1974-07-25 |
DE2303205B2 true DE2303205B2 (de) | 1978-07-27 |
DE2303205C3 DE2303205C3 (de) | 1979-04-05 |
Family
ID=5869728
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19732303205 Expired DE2303205C3 (de) | 1973-01-23 | 1973-01-23 | Halbleiterkondensator |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE2303205C3 (de) |
-
1973
- 1973-01-23 DE DE19732303205 patent/DE2303205C3/de not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2303205C3 (de) | 1979-04-05 |
DE2303205A1 (de) | 1974-07-25 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |