DE2253214C3 - Einrichtung zur Messung einer Temperaturstrahlung - Google Patents
Einrichtung zur Messung einer TemperaturstrahlungInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Einrichtung zur Messung einer Temperaturstrahlung mit einem auf
konstanter Temperatur gehaltenen Halbleiter als Meßfühler, dessen Meßeffekt auf einer nichtlinearen Änderung
mindestens einer seiner physikalischen Eigenschaften innerhalb eines stoffspezifischen Temperaturbereichs
beruht.
Es sind Strahlungspyrometer bekannt, in denen Halbleiter als Meßfühler verwendet sind, beispielsweise
Germanium- oder Silizium-Fotoelemente. Ihre Empfindlichkeit ist jedoch im allgemeinen für die Messung
niedrig-energetischer Strahlung nicht ausreichend, bzw. es müssen aufwendige Schaltanordnungen verwendet
werden.
Es sind auch Einrichtungen zur Messung einer Temperaturstrahlung bekannt, bei denen als Meßfühler pyroelektrische
Detektoren zum Einsatz gelangen (s. DT-OS 20 00 388). Diese Meßeinrichtungen arbeiten
nach einem Vergleichsverfahren, bei welchem die Signale eines Meß- und eines Bezugselements miteinander
verglichen werden. Der Meßeffekt, der auf der spontanen Polarisation im Bereich einer Übergangslemperatur
beruht, ist jedoch sehr gering, die auf den Detektor folgenden Auswerteschaltungen sind dementsprechend
aufwendig, da verschiedene Parameter mit hoher Genauigkeit konstant gehalten werden müssen.
Es besteht demnach eii< Bedürfnis nach einer einfach
aufgebauten Meßeinrichtung für Temperaturstrahlung, die es gestattet, kleine Strahlungsenergien ohne großen
Schaltungsaufwand in ein proportionales elektrisches Meßsignal umzuwandeln.
Eine Einrichtung zur Messung einer Temperatur-Strahlung der eingangs genannten Art, die der genannten
Forderung entspricht, ist gekennzeichnet durch einen seinen Widerstand im Bereich seiner Curie-Temperatur
sprunghaft ändernden stäbchenförmigen Halbleiter, dessen konstante Temperatur in der Nähe der
Curie-Temperatur gehalten ist, dessen Stirnfläche der zu messenden Strahlung ausgesetzt und dessen Gesamtwiderstand
ein Maß für die Temperatur der Strahlung ist.
Halbleiter mit den obengenannten Eigensciiaften
sind bekannt, sie bestehen beispielsweise aus Oxyden der sogenannten Übergangsmetalle Natrium, Titan,
Chrom. Sie finden Verwendung als kontaktlose Schalter oder als Temperaturnormal für Thermoelemente (s.
beispielsweise »Siemens-Zeitschrift«. 4/72. S. 242 bis
244). Dabei hat sich Vanadiumdioxyd VO: als besonders geeignet erwiesen, da die Steilheit seiner Widerstandskennlinie
im Curie-Punkt sehr groß ist und die Curie-Temperatur mit 338,65° K entsprechend 65,5 C
in einem für technische Zwecke günstigen Bereich liegt.
Eine bevorzugte Ausführungsform der Erfindung ist demgemäß dadurch gekennzeichnet, daß der Strahlungsfühler
ein nadeiförmiger Einkristall aus Vanadiurndioxyd ist.
Zur Erläuterung des Funktionsprinzips der Erfindung ist in der Figur ein Ausführungsbeispiel schematisch
dargestellt und im folgenden beschrieben.
In einem Gehäuse 1, dessen Gehäusewandung und Innenraum auf einer konstanten Temperatur gehalten
werden kann, ist ein stäbchenförmiger Halbleiter 2, beispielsweise
eine VOz-Kristallnadel, derart angeordnet,
daß das eine Ende an der Wand des Gehäuses 1 befestigt ist und sein anderes Ende bzw. dessen Stirnfläche
der durch ein Fenster 3 im Gehäuse 1 fallenden Temperaturstrahlung ausgesetzt ist. Bei den sehr kleinen
Stirnflächenabmessungen einer VO2-Einkristallnadel ist es zweckmäßig, zur Verbesserung der Wirkung mit der
Stirnfläche eine größere, strahlungsabsorbierendc Fläche 4, z. B. ein auf der Vorderseite geschwärztes Silberplältchen,
zu verbinden.
Besteht der Halbleiter 2, wie bereits gesagt, aus Vanadiumdioxyd,
dessen Curie-Temperatur bei 65,5°C liegt, und beträgt die thermostatisiertc Gehäusetemperatur
etwa 65°C, so ist der Gesamtwiderstand R des Halbleiters 2 hoch, er liegt bei etwa 50 kOhm. Wird ein
Temperaturstrahler angemessen, dessen Temperatur höher als die Curie-Temperatur ist, so wird die durch
das Fenster 3 einfallende Strahlung in der strahlungsabsorbierenden Fläche 4 in Wärme umgewandelt und auf
die Stirnfläche des Halbleiters 2 übertragen. Wird die Curie-Temperatur des Halbleiters an seiner Stirnfläche
überschritten, so ändert sich der Widerstand sprunghaft um vier bis fünf Zehnerpotenzen. Die Phasengrenze
zwischen niederohmiger und hochohmiger Leitung verschiebt sich proportional zur absorbierten Strahlungsenergie
von der Stirnseite her entlang der Achse des Halbleiters 2, so daß der Gesamtwiderstand R sich entsprechend
ändert und ein Maß für die Temperatur der gemessenen Strahlung ist.
Liegt die Temperatur der zu messenden Strahlung in einem Bereich unterhalb der Curie-Temperatur von
65,50C, so wird das Gehäuse 1 und mit ihm der stäbchcnförmige
Halbleiter 2 auf eine konstante Temperatur von etwa 660C thermostatisiert. Der Halbleiter 2 ist
bei dieser Temperatur niederohmig. Beim Anmessen des kälteren Strahlers kühlt die Stirnfläche des Halbleiters
2 ab, er wird von der Stirnfläche her hochohmig, so daß auch hier der Gesamtwiderstand R ein Maß für die
Temperatur der gemessenen Strahlung ist.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (3)
1. Einrichtung zur Messung einer Temperaturstrahlung
mit einem auf konstanter Temperatur gehaltenen Halbleiter als Meßfühler, dessen Meßeffekt
auf einer nichtlinearen Änderung mindestens einer seiner physikalischen Eigenschaften innerhalb
eines stoffspezifischen Temperaturbereichs beruht, gekennzeichnet durch einen, seinen Widerstand
im Bereich seiner Curie-Temperatur sprunghaft ändernden, stäbchenfcrmigen Halbleiter (2).
dessen konstante Temperatur in der Nähe der Curie-Temperatur gehalten ist, dessen Stirnfläche der
zu messenden Temperaturstrahlung ausgesetzt und dessen Gesamtwiderstand ein Maß für die Temperatur
dieser Strahlung ist.
2. Einrichtung nach Anspruch 1. dadurch gekennzeichnet,
daß der Strahlungsfühler ein nadeJförmiger
Einkristall aus Vanadiumdioxyd (VO2) ist.
3. Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2. dadurch gekennzeichnet, daß auf der der Strahlung ausgesetzten
Stirnfläche des Halbleiters (2) eine größere Strahlungsabsorbierende Fläche (4), vorzugsweise
ein geschwärztes Silberplättchen, angebracht ist.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE19722253214 DE2253214C3 (de) | 1972-10-30 | Einrichtung zur Messung einer Temperaturstrahlung | |
JP12216373A JPS49117085A (de) | 1972-10-30 | 1973-10-30 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE19722253214 DE2253214C3 (de) | 1972-10-30 | Einrichtung zur Messung einer Temperaturstrahlung |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2253214A1 DE2253214A1 (de) | 1974-05-22 |
DE2253214B2 DE2253214B2 (de) | 1975-10-02 |
DE2253214C3 true DE2253214C3 (de) | 1976-05-06 |
Family
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