DE2252247A1 - Optischer modulator - Google Patents
Optischer modulatorInfo
- Publication number
- DE2252247A1 DE2252247A1 DE2252247A DE2252247A DE2252247A1 DE 2252247 A1 DE2252247 A1 DE 2252247A1 DE 2252247 A DE2252247 A DE 2252247A DE 2252247 A DE2252247 A DE 2252247A DE 2252247 A1 DE2252247 A1 DE 2252247A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- layer
- layers
- radiation
- zone
- semiconductor body
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 18
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 31
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 25
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims description 16
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 6
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 5
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 claims description 4
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 4
- 239000000969 carrier Substances 0.000 claims description 3
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims description 3
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims description 3
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims 1
- 239000000344 soap Substances 0.000 claims 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 8
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 229910000980 Aluminium gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 4
- 230000005697 Pockels effect Effects 0.000 description 3
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 3
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 3
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 239000006104 solid solution Substances 0.000 description 2
- 229910013641 LiNbO 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 1
- 239000006117 anti-reflective coating Substances 0.000 description 1
- 230000008033 biological extinction Effects 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000000407 epitaxy Methods 0.000 description 1
- 239000002223 garnet Substances 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- MTRJKZUDDJZTLA-UHFFFAOYSA-N iron yttrium Chemical compound [Fe].[Y] MTRJKZUDDJZTLA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 1
- 229940125730 polarisation modulator Drugs 0.000 description 1
- 230000001850 reproductive effect Effects 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 238000012549 training Methods 0.000 description 1
- 230000005472 transition radiation Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/015—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on semiconductor elements having potential barriers, e.g. having a PN or PIN junction
- G02F1/025—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on semiconductor elements having potential barriers, e.g. having a PN or PIN junction in an optical waveguide structure
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/20—Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/015—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on semiconductor elements having potential barriers, e.g. having a PN or PIN junction
- G02F1/0151—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on semiconductor elements having potential barriers, e.g. having a PN or PIN junction modulating the refractive index
- G02F1/0154—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on semiconductor elements having potential barriers, e.g. having a PN or PIN junction modulating the refractive index using electro-optic effects, e.g. linear electro optic [LEO], Pockels, quadratic electro optical [QEO] or Kerr effect
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/015—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on semiconductor elements having potential barriers, e.g. having a PN or PIN junction
- G02F1/0155—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on semiconductor elements having potential barriers, e.g. having a PN or PIN junction modulating the optical absorption
- G02F1/0157—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on semiconductor elements having potential barriers, e.g. having a PN or PIN junction modulating the optical absorption using electro-absorption effects, e.g. Franz-Keldysh [FK] effect or quantum confined stark effect [QCSE]
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F2203/00—Function characteristic
- G02F2203/07—Polarisation dependent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/20—Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers
- H01S5/2054—Methods of obtaining the confinement
- H01S5/2059—Methods of obtaining the confinement by means of particular conductivity zones, e.g. obtained by particle bombardment or diffusion
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S148/00—Metal treatment
- Y10S148/065—Gp III-V generic compounds-processing
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S148/00—Metal treatment
- Y10S148/067—Graded energy gap
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S148/00—Metal treatment
- Y10S148/107—Melt
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Geometry (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
- Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)
- Electrochromic Elements, Electrophoresis, Or Variable Reflection Or Absorption Elements (AREA)
- Optical Integrated Circuits (AREA)
- Lasers (AREA)
- Led Devices (AREA)
Description
Western Electric Company, Inc. Reinhart 2
New York
Optischer Modulator
Die Erfindung bezieht sich auf eine Einrichtung zum Modulieren optischer Strahlung in Abhängigkeit von einem elektrischen
Feld, mit einem mehrschichtigen Halbleiterkörper.
Die Forschung und Entwicklung auf dem Gebiet der Laser-Technologie
führte zu verschiedenen Einrichtungen, einschließlich einem Halbleiter-Injektionslaser, der zum Dauerstrichbetrieb bei
Zimmertemperatur geeignet ist und als Doppel-Heterostruktur bekannt'
ist. Das Auffinden dieser Einrichtung gab zu weiterer Entwicklung wirksamer Einrichtungen zum Modulieren der Laser-Ausgangsstrahlung
Anlaß, um dieser Strahlung eine in einem optischen Nachrichtenübertragungssystem
zu übertragende Information zu überlagern.
Verschiedene Modulationsmethoden, einschließlich beispielsweise der Phasen-, Polarisations- und Intensitäts- bzw. Amplitudenmodulation
können verwendet werden, wenn eine Einrichtung zur Verfügung steht, welche diese Modulationsfunktion bei ausreichend
niedrigen Leistungspegeln und so hohen Frequenzen erfüllt, daß ein kommerziell praktikables Nachrichtenübertragungssystem reali-
»ierbar ist.
ORiGINAL INSPECTED
309818/0821
Bekannte Phasenmodulatoren basierten entweder auf einem elektrooptischen
Effekt in Materialien wie LiNbO3 oder auf Einrichtungen,
wie in Sperrichtung vorgespannten GaP pn-Übergangen· Beide Mo-•idiatoren
benötigen in typischer Ausführung 1 bis 1,5 mW/MHz/Rad
zur Phasenmodulation der 6.328 Α-Linie eines He-Ne-Lasers. Bei
größeren Wellenlängen im infraroten Bereich, z.B.bei der 1,15 pm-Linie
des He-Ne-Lasers liegt die erforderliche Leistung angenähert um eine Größenordnung für (z.B. 10 mW) und bei noch größeren Wellenlängen,
z.B. bei 10,6 um liegt die erforderliche Leistung um mehr als drei Größenordnungen höher (z.B. 2000 bis 3000 mW).
Bekannte Intensitätsmodulatoren verwenden andererseits in typischer
Ausgestaltung Faraday-Rotation («Drehung der Polarisationsebene
von linearpolarisiertem Licht als Folge eines angelegten Magnetfeldes) in Materialien wie yttriumeisengranat und liefern eine
70 %ige Modulation für einen Radianten der Polarisationsrotation. Solche Materialien sind jedoch für die Zwecke der Praxis bei
größeren Wellenlängen (z.B. 10,6 ^im) aufgrund ihrer hohen Absorptionsverluste
nicht brauchbar.
Diese Schwierigkeiten werden erfindungsgemäß bei einer Einrichtung
zum Modulieren optischer Strahlung in Abhängigkeit von einem elektrischen Felde, mit einen mehrschichtigen Halbleiterkörper,
dadurch ausgeräumt, daß zwischen einer ersten und einer dritten Halbleiterschicht eine zweite Halbleiterschicht hohen spezifischen
Widerstandes angeordnet ist, deren Bandabstand und Konzentration freier Ladungsträger geringer sind als diejenigen der ersten und
zweiten Schichten, wobei die zweite Schicht zur Übertragung der
309818/0821
Strahlung geeignet ausgebildet und von dem an den Häbleiterkörper
angelegten elektrischen Feld zum Modulieren der Strahlung derart abhängig gesteuert ist, daß das Feld im wesentlichen
in der zweiten Schicht konzentriert ist» Bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel' der Erfindung besteht die
zweite Halbleiterschicht entweder aus einem im wesentlichen
intrinsischen bzw. eigenleitenden Halbleiter oder einem Halbleiter, bei dem die Dotierung kompensiert ist (weniger als
17 3
etwa 10 /cm für GaAs). Unter intrinsis:h wird verstanden daß die Dotier stoff konzentration kleiner als n.. , die i£ermodynamische Gleichgewichts-Trägerkonzentration eines undotierten, idealen Halbleiters ist« Unter kompensiert wird verstanden, daß die Trägerkonzentration größer als n. ist?und daß die Konzentrationen der Löcher und Elektronen im wesentlichen einander/ gleich sind.
etwa 10 /cm für GaAs). Unter intrinsis:h wird verstanden daß die Dotier stoff konzentration kleiner als n.. , die i£ermodynamische Gleichgewichts-Trägerkonzentration eines undotierten, idealen Halbleiters ist« Unter kompensiert wird verstanden, daß die Trägerkonzentration größer als n. ist?und daß die Konzentrationen der Löcher und Elektronen im wesentlichen einander/ gleich sind.
Aufgrund des oben erwähnten Unterschiedes im Bandabstand werden Brechungsindexdiskontinuitäten an den Grenzflächen zwischen der
zweiten Schicht und den ersten und dritten Schichten hervorgerufen.
Diese Diskontinuitäten begrenzen die zu modulierende Strahlung wirksam auf die zweite Schicht. Ein an den Körper angelegtes
elektrisches Feld steuert die Breite einer Verarmungszone, die zur Modulation der durch die zweite Schicht zu übertragenden
Strahlung genutzt wird. Die Modulation tritt als Ergebnis entweder
eines elektrooptischen Effektes oder eines Franz-Keldysh-Effekts
auf. ■
309818/08 21
Um den Modulationswirkungsgrad zu vergrößern und die erforderliche
Leistung zu verringern, wird das Wechselwirkungsintegral zwischen dem angelegten Feld und dem optischen Feld
so weit als möglich durch eine gegenseitige Anpassung der folgenden Bedingungen vergrößert: (1) Verwendung von Schichten
unterschiedlicher Brechungsindexe zur Begrenzung der zu modulierenden
Strahlung auf die zweite Schicht, (2) Verwendung eines Halbleiters mit niedriger Konzentration an freien Trägern
in der zweiten Schicht zwecks Konzentration des angelegten Feldes in der zweiten Schicht und, was von erheblicher Bedeutung
ist, (3) Zusammenlegung der Verarmungsschicht mit der
zweiten Schicht.
In dieser Weise aufgebaute Modulatoren erzeugen beträchtliche Modulationsgrößen bei Leistungspegeln, die erheblich unter
den bisher möglichen liegen. Bei einem Ausführungsbeispiel des erfindungsgemä-ßen Phasenmodulators enthalten die ersten,
zweiten bzw. dritten Schichten AlGaAs, GaAs bzw»AlGaAs. Eine
so aufgebaute Eindchtung benötigte nur 0,1 mW/MHz/rad , also weniger als 1/100 dessen, was bei bekannten Phasenmodulatoren
bei 1,15 ^im erforderlich ist.
Wie nachfolgend noch genauer erläutert werden wird, werden die optischen Modulatoren vorzugsweise in einer Mesa-artigen
Struktur und/oder mit einer Streifenkontaktgeometrie sowie aus Materialien hergestellt, die eine Gitteranpassung zwischen
allen Zusammensetzungen in deren fester Lösung aufweisen.
309818/0821
— 5 —
Die Erfindung arbeitet außerdem bei Einbeziehung geeigneter Polarisatoren und Analisatoren als Intensitätsmodulator, dessen
Punktionsweise auf Polarisations-Rotationseffekten beruht. Überdies kann auch eine Intensitätsmodulation aufgrund der
Strahlungsabsorption nahe der Bandkante der zweiten Schicht wirksam hervorgerufen werden.
Im folgenden wird die Erfindung anhand von in der Zeichnung
dargestellten Ausführungsbeispielen näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 eine schematische Seitenansicht einer Ausführungsform eines Halbleiterkörpers, der bei der Erfindung
Verwendung finden kann;
Fig. 2 beispielhafte Brechungsindex- und optische Feldprofile des in Fig. 1 dargestellten Halbleiterkörpers,
bei dem die Verarmungsschicht mit der zweiten Schicht zusammenfällt;
Fig. 3 ähnliche Profile wie in Fig. 2, jedoch für den Fall, daß die Verarmungsschicht mit der zweiten
Schicht nicht zusammenfällt;
Fig. 4 eine ähnliche Darstellung wie in Fig. 2, jedoch für einen Fall, bei dem die zweite.Schicht V und TT-zonen
aufweist;
Fig. 5 eine schematische Darstellung eines erfindungsgemäß aufgebauten Phasenmodulators;
Fig. 6 eine schematische Darstellung eines anderen Ausführungsbeispiels
der Erfindung;
309818/0 821
Fig. 7 eine graphische Darstellung der Phasendifferenz
über der angelegten Vorspannung bei dem Modulator gemäß Fig. 6;
Fig. 8 eine schematische Darstellung eines erfindungsgemäß aufgebauten Intensitätsmodulators; und
Fig. 9 eine schematische Darstellung einer zusammengesetzten Struktur mit einem Doppel-Heterostruktur-Laser und
einem erfindungsgemäß aufgebauten Modulator.
In Fig. 1 ist eine Schaltungsanordnung mit einem mehrschichtigen Halbleiterkörper 100 dargestellt, die zur Verwendung in einem
optischen Modulator des Phasen-, Polarisations- oder Intensitätstyps geeignet ist. Der Körper 100, der bei dem dargestellten
Ausfühfungsbeispiel auf einem metallischen oder metallisierten
Kühlkörper 102 angebracht ist, weist ein Substrat 104 auf, auf dem die folgenden epitaktischen Schichten aufeinanderfolgend
aufgebaut sind: eine erste Schicht 106 mit großem Bandabstand, eine zweite Schicht 108 mit relativ schmalem Bandabstand, eine
dritte Schicht HO mit großem Bandabstand und eine Kontaktierungszwecken dienende vierte Schicht 112. Kontakte 114 und 116 sind
auf der Schicht 112 und dem auf dem Kühlkörper 102 angebrachten Substrat 104 niedergeschlagen oder mittels anderer bekannter
Methoden aufgebaut. In alternativer oder zusätzlicher Ausgestaltung
kann ein Kühlkörper mit dem Kontakt 116 verbunden werden. Zu Modulationszwecken sind eine Vorspannungsquelle 118 und eine
Informationsquelle 120 zwischen dem Kontakt 116 und dem Kühlkörper 102 eingeschaltet. Diese Quellen rufen in Körper 100 ein
309818/0821
elektrisches Feld hervor, das die Breite einer Verarmungsschicht in der zweiten Schicht 108 in der nachfolgend erörterten
Weise steuert.
Der Unterschied im Bandabstand zwischen der zweiten Schicht
108 und den ersten und dritten Schichten 106 und 110 ruft eine Brechungsindexunstetigkeit Δ an jeder der Grenzflächen 107 und
109 (Fig. 9) hervor. Das elektrische Feld der Quelle 120-ändert
die Höhe der Brechungsindexstufe £j um einen Betrag f>, wodurch
eine Phasenmodulation (d.h. der Pockelseffekt) des in der z-Richtung
durch die Schicht 108 übertragenen Lichts hervorgerufen wird» Zusätzlich definieren die Brechungsindex-Diskontinuitäten
einen Wellenleiter in derx-Richtung, der zur Begrenzung
des zu modulierenden Lichts dient«, Um solche Grenzflächen,
die relativ fehlerfrei sind, hervorzurufen, ist es erwünscht,
daß die Materialien der Schichten 106, 108 und 110 Gitter angepät sind. Zu diesem Zweck enthalten die Schichten
106, 108 bzw. 110 vorzugsweise Al Ga,, As, Al Ga1- As'und Al2Ga1
As, da AlGaAs für alle Verhältnisse von AlGa in deren fester Lösung Gitter angepaßt ist. Alternativ können geeignete Zusammensetzungen
von Al Ga^ P, Al Ga^ P und Al Ga,- P verwendet
χ ι—χ ' y χ—y ζ χ—ζ
werden, da diese Verbindung ebenfalls eine Gitteranpassu-ng
erwarten läßt. In jedem Falle ist es zur Erfüllung der zuvor erwähnten Bandabstandsbeziehung erforderlich, daß ·■ 0 -Sy^ x
und ζ ist. Für einen symmetrischen VJeIlenleiter gilt χ = z.
Unter dem Gesichtspunkt der Strahlungswellenlänge ist zu beachten,
daß bei y = 0 in Al-Ga1- As die zweite Schicht GaAs
y ■** γ
309818/0821
enthält, das einen Bandabstand von etwa 1,43 eV (0,87 ^im) aufweist,
und daß aus Gründen nachfolgend erörterter Einfügungsdämpfungen die zu modulierende Strahlungswellenlänge vorzugsweise größer als etwa 0,9 pn ist. Zur Modulation sichtbarer
Strahlung kann jedoch die Al-Konzentration in der zweiten Schicht ungleich Null gemacht werden, wobei Licht bei Wellenlängen von
etwa 0,7 jam in AlGaAs moduliert werden kann. In AlGaP können
Wellenlängen von etwa 0,6jum moduliert werden.
Einige Merkmale der zuvor erläuterten Struktur sind an einander
angepaßt, um die Modulationegröße pro Modulatipnsleistungseinhelt
zu erhöhen. Insbesondere wird die zweite Schicht 109 mit einer
Konzentration an freien Ladungsträgern hergestellt die niedriger als diejeniger jeder der Schichten 106 oder 110 und vorzugsweise
so niedrig als möglich ist· Om diese Eigenschaft zu erreichen,
wird die zweite Schicht vorzugsweise entweder als intrinsischer Halbleiter oder als kompensierter Halbleiter hergestellt. Das
Fehlen freier Ladungsträger bewirkt einen hohen spezifischen
Widerstand, welcher den größten Teil des elektrischen Feldes (von den Quellen 118 und 120) wirksam auf die zweite Schicht
konzentriert und dadurch die Störung ihrer optischen Parameter (z.B. der Brechungsindex in einem Phasenmodulator) verstärkt.
Zum zweiten Wird die Wechselwirkung zwischen dem angelegten elektrischen Feld und dem optischen Feld des zu modulierenden Lichts
dadurch vergrößert, daß die Verarmungsschicht mit der zweiten Schicht 108 in der in Flg. 2. dargestelltenWeise zusammengelegt
wird, d.h., daß die Breite w, der Verarmungsschicht 22 (Fig. 2)
im wesentlichen gleich der Dicke d? der zweiten Schicht 108
309818/082 1
. AT
gemacht wird. In diesem FaXIe ist das Wechselwirkungsintegral
groß, wobei in einem vereinfachten Sinne dieses Integral auf
das Flächenverhältnis A/(A + B) in der unteren Hälfte der Fig. 2 bezogen ist· Demgegenüber ist die Struktur gemäß Fig. 3
so ausgestaltet, daß die Verarmungsschicht 122' die Grenzfläche 107» überlappt und mit der zweiten Schicht 108 nicht
zusammenfällt. Eine solche Situation kann bei einem n-p-p oder p-n-n Bauelement erwachsen, bei dem der pn-übergang mit der
Grenzfläche 107' zusammenfällt. In dem zuletzt genannten Falle ist das Wechselwirkurgjintegral, bezogen auf das Verhältnis A1/
(A1 + B1) der Fig. 3 beträchtlich kleiner als A/(A + B) der
Fig, 2.
An dieser Stelle sollte beachtet werden, daß ein pn-übergang für den Betrieb des Modulators nicht wesentlich ist. Tatsächlich
sind die Leitungstypen der Schichten 106, 108 und 110 beispielsweise
p-i-p, n-i-n, p-i-n oder n-i-p. Wenn jedoch ein Übergang erwünscht ist, so wird der Übergang 124 in der in Fig.
4 dargestellten Weise vorzugsweise in die zweite Schicht zwischen der Grenzfläche 107" und 109lr gelegt, so daß das angelegte
Feld die Verarmungsschicht 122' so weit verlaufen läßt, bis sie mit der zweiten Schicht zusammenfällt. In diesem Falle
,weist die zweite SchichtV undTT -Zonen 126 und 128 auf, welche
den Übergang 124 an der zwischen ihnen gelegenen Grenzfläche definieren, wobei V und TT auf die kompensierten n- und p-leitenden
Zonen mit Ladungsträgerkonzentrationen von weniger als
17 3
' etwa 10 /cm bezogen sind.
' etwa 10 /cm bezogen sind.
309818/08Ϊ1
- ίο -
Um die Größe der benötigten Modulationsleistung weiter zu
verringern, kann die Kapazität der Struktur dadurch reduziert
werden, daß der Körper 100 in der in Flg. 1 dargestellten Laserform hergestellt werden· Die Laserform kann dadurch hergestellt werden, daß die Bereiche 130 und 132 weggeätzt werden,
oder daß diese Bereiche mit Hochenergieteilchen, z.B. Protonen, beschossen werden.
Bei Betrieb als Phasenmodulator basiert die Erfindung auf einem
beträchtlich verstärkten linearen elektrooptischen Effekt, der allgemein als Pockels-Effekt bekannt ist. Wie in Fig. 5 gezeigt
1st, wird die Ausgangsstrahlung 151 eines Lasers 150, der
als Ladungsträgerquelle in einem optischen Nachrichtenübertragungssystem liegen kann, durch ein Linsensystem 152 indie
zweite Schicht 108 des Körpers 100 fokussiert. Das Linsensystem 152 umfaßt in typischer Ausführung eine Kombination aus einer
sphärischen Linse und einer zylindrischen Linse, welche die Form des Strahlenbündels so astigmatisch machen, daß es mit der
langgestreckten rechteckigen Form der Schicht 108 (Fig. 2) übereinstimmt.
Informationsquelle 120 ändert die Amplitude des an den Körper 100 angelegten elektrischen Feldes entsprechend der
zu übertragenden Information, wodurch der Brechungsindex der zweiten Schicht 108 durch Änderung der Beträge $ (Fig. 2A) ver-
en
ändert wird. Die Änderung des BrechungsIndexes rufen Phasenverschiebungen
in der optischen Ausgangsstrahlung 153 hervor, welche von einem Linsensystem 154 auf einen geeigneten Phasendetektor 156 fokussiert wird.
309818/0821
Bei einem illustrativen Ausführungsbeispiel eines Phasenmodulators,
das in Fig. 6 dargestellt ist, wurde/die Aus—
bei
gangsstrahlung eines einer Wellenlänge von 1,15 um, betriebenen Hg-Ne-Lasers 160 durch ein Linsensystem 162 in die zweite Schicht 108 des Modulatorkörpers 100 fokussiert, der in einen ölgefüllten Behälter 163 eingetaucht war. Das Öl (n=l,5) wurde zur Erleichterung der Fokussierung der Strahlung in die zweite Schicht durch Erhöhung des Brechungsindexes in der Zone.zwischen der Linse 162 und dem Modulatorkörper 100 verwendet. Die Reflexionsverluste konnten durch bekannte Antireflexiohsiiberzüge (nicht dargestellt) verringert werden, welche auf den Eintrittsund Austrittsflächen des Körpers 100 ausgebildet %/aren·
gangsstrahlung eines einer Wellenlänge von 1,15 um, betriebenen Hg-Ne-Lasers 160 durch ein Linsensystem 162 in die zweite Schicht 108 des Modulatorkörpers 100 fokussiert, der in einen ölgefüllten Behälter 163 eingetaucht war. Das Öl (n=l,5) wurde zur Erleichterung der Fokussierung der Strahlung in die zweite Schicht durch Erhöhung des Brechungsindexes in der Zone.zwischen der Linse 162 und dem Modulatorkörper 100 verwendet. Die Reflexionsverluste konnten durch bekannte Antireflexiohsiiberzüge (nicht dargestellt) verringert werden, welche auf den Eintrittsund Austrittsflächen des Körpers 100 ausgebildet %/aren·
Der Körper 100, der bei einem realisierten Ausführungsbeispiel
eine iiEnge von 1* mm ti in Fig* 6) und eine Breite Cd in Pig. I)
* ■■■".. ■
von etwa 200 jmm hatte, wies ein n-ieitendes GaAs-Substrat. 104
"18 3 ;
auf, das mit Si in einer Konzentration von 10 /cm dotiert =
war tind auf dem die Schichten 1041 106, 108, 110 und Il2 auf-t
einander folgert durch eine Epitaxiemethode aus der Flüssigkeits- !
phase aufgewachsen waren» Die Zusammensetzung der epitaktischen
Schichten war wie folgti erste Schicht 106 (etwa. 8 pm dick)
- η-Al Ga^ vAs (χβΟ,Β ? 0,05) dotiert mit Sn in einer Konzen-
17 3
tration von etwa 5 χ 10 /cm ,zweite Schicht 108 (etwa 0,5 wm dick) - kompensiertes GaAs mit einer Konzentration an freien t
tration von etwa 5 χ 10 /cm ,zweite Schicht 108 (etwa 0,5 wm dick) - kompensiertes GaAs mit einer Konzentration an freien t
' Iß 3 '
Ladungsträgern von etwa 3 χ 10 /cm und in der in Fig. 4 dargestellten
Weise inV- und****- Zonen gebildet; dritte Schicht '
110 (etwa 0,5 um dick) p-Al Ga. As (x=0,3 + 0,05) dotiert mit
309818/0821
17 3 Zn in einer Konzentration von etwa 5 χ 10 / era ; und
Kontaktschicht 112 - pGaAs (etwa 1,0 lira dick) dotiert mit Ge. Eine p+-Schicht (nicht dargestellt) wurde in der Schicht
112 durch eine Skin-Diffussion von Zn gebildet, um Kontakt-Probleme
zu erleichtern· Bei diesem Ausführungsbeispiel fand
kein Kühlkörper Verwendung, da die Modulationsfrequenz genügend
niedrig lag, so daß sich keine Übtthifcaungsprobleme
ergaben. In ähnlichen Strukturen wurden Verarmungsschicht- " dicken (W.) bis zu 0,6 Jim beobachtet »je nach Größe der
angelegten Vorspannung, Dicke der zweiten Schicht und relativeiTrägerkonzentrationen
in den ersten, zweiten und dritten Schichten·
Bei Betrieb rief die modulierende Quelle 120 (Fig. 6) ein
Wechselstromsignal mit einem Scheitelwert von 3,5V bei 10MHz
hervor, welches einer -5 V Vorspannung der Quelle 118 überlagert
wurde· Die elektrische Feldstärke beträgt etwa" 10 V/cm und das Wechselfeld hat eine Feldstärke in derselben Größenordnung.
Die Ausgangsstrahlung eines He-Ne Lasers 160 bei lf15 um, welche unter 45° zum elektrischen Feld linear polarisiert
war, wurde durch die Linse 162 auf die Eintrittsfläche des Körpers 100 fokussiert, d.h· in die Schicht 108.
Elliptisch polarisiertes Licht, das durch eine Phasendifferenz
Δ ψ charakterisiert ist,' trat aus der Austrittstlache des Modulatorkörpers
100 aus, wurde von einer zweiten Linse 164
309818/0821
kollJjniert und durch eine Ehringhaus oder Senarmont-Kompensator-
und Polarisationsfilteranordnung (nicht dargestellt)
geleitet. Die Polarisationsmodulation wurde von einem Detektor 166 entweder visuell mit Hilfe eines
Infrarotkonverters oder durch einen am realen Bild der Austrittsfläche gelegenen Schlitz mit Hilfe einer photoelektronen-Vervielfacherröhre
gemessen. In dem zuletzt genannten Fall war ein Schlitz erwünscht, um gegenüber dem Dauermöden- intergrund zu unterscheiden. Der Hintergrund
kann auch, wie bekannt ist, durch geeignete Anregung der
Wellenleitermoden verringert werden. Mit Hilfe des Öltaucherts wurde bis zu 90 % des vom Laser 160 übertragenen Lichts
als diskrete Wellenleitermoden in der zweiten Schicht 108 des Körpers 100 angeregt· Um einen derart hohen Moden- bzw.
Eigenschwingungs-Anregungswirkungsgrad zu erreichen, ist es
erwünscht, das einlaufende fokussierte Strahlenbündel sorgfältig bezüglich der Wellenleiterschicht 108 anzupassen und
auszurichten. ·
In Fig. 7 sind Messungen der Phasendifferenz (<6 Φ) für die
zuvor beschriebene Struktur gezeigt, bei der 1 = 1,04 mm, das angelegte Feld E. parallel zur kristallographischen
tjlOOj Richtung und das Licht (% = 1,153 pm) entlang der Tpil)
ftichtung lief. Phasendifferenzen von etwa 1000° für Vorspannungen
im Bereich von Null bis -10 V wurden beobachtet. Darüber hinaus wurden Änderungen in A ψ von etwa 180 in demselben
Vorspannungsbereich beobachtet.. Der großem φ —Wert
303813/0821
bei E. Ca O geht auf die unterschiedlichen Fortpflanzungs-
der
konstanten TE und TM Moden bzw. Eigenschwingungen im Wellenleiter
neben den Effekten dar Doppelbrechung zurück.
Unter dem Gesichtspunkt der Modulationsleistung benötigt diese
2
Einrichtung nur etwa 0,1 mW/MHz/rad für den transversalen Grundmoden bei 1,15 um. Außerdem kann in dem Falle, bei dem die Wellenleitung nur in der x-Richtung - wie in Fig. 1 - erfolgt gezeigt werden, daß die charakteristische Modulationsleistung Po ac OT proportional 1 x/ d ist, mit C cc 1 ' c und V cc 1 · Wenn jedoch eine Wellenleitung sowohl in der κ- als auch der y-Richtung vorgesehen ist, sind geringere Leistungen möglich, da t*Q ac 1" , d.h. C cc 1 und V oc 1™ und die Breite in der y-Richtung (d, Fig. 1) auf wenige Mikrometer herabgesetzt werden kann. Demgemäß ist die Lichtbegrenzung der Übergangsebene (y-Richtung) sehr erwünscht.
Einrichtung nur etwa 0,1 mW/MHz/rad für den transversalen Grundmoden bei 1,15 um. Außerdem kann in dem Falle, bei dem die Wellenleitung nur in der x-Richtung - wie in Fig. 1 - erfolgt gezeigt werden, daß die charakteristische Modulationsleistung Po ac OT proportional 1 x/ d ist, mit C cc 1 ' c und V cc 1 · Wenn jedoch eine Wellenleitung sowohl in der κ- als auch der y-Richtung vorgesehen ist, sind geringere Leistungen möglich, da t*Q ac 1" , d.h. C cc 1 und V oc 1™ und die Breite in der y-Richtung (d, Fig. 1) auf wenige Mikrometer herabgesetzt werden kann. Demgemäß ist die Lichtbegrenzung der Übergangsebene (y-Richtung) sehr erwünscht.
Ein möglicher Weg zur Begrenzung in der y-Richtung besteht in der Verwendung eines Streifen- bzw. Bandgeometriekontaktes, so
daß die Zone unmittelbar unter dem Kontakt auf einer höheren Temperatur als die seitlich entfernten Zonen liegt. Da der
Brechungsindex temperaturabhängig und der Temperaturkoeffizient positiv ist, ist der Brechungsindex in der Zone unter dem Kontakt
höher als derjenige in den umgebenden Bereichen, wodurch eine Wellenleitung in der y-Richtung hervorgerufen wird. Der
Abstand des Kontaktes von der Grenzfläche 109 sollte relativ klein (z.B. wenige Mikrometer) sein, damit sich keine übermäßige
Stromstreuung ergibt. Letzteres würde eine unerv/ünschte
309818/0821
- 15 - ■ ■ '
zusätzliche Kapazität einführen und damit Pl vergrößern.
Andere Methoden zur Realisierung eines Wellenleiters in der y-Richtung sind ebenfalls möglich.
Wie in Fig.'8 gezeigt ist, kann der. Modulatorkörper.100
in geeigneter Weise in einem Intensitätsmodulator unter Ausnutzimg,
des Pockels-Effekts verwendet werden. Nimmt man im
besonderen an, daß die x, y und z-Achsen mit den Hauptachsen
des Brechungsindexellipsoids der zweiten Schicht 108 zusammenfällt,
so breitet sich das Ausgangsstrahlenbündel des Lasers 170 in der z-Richtung durch den Polarisator 172 -aus, welcher
das Strahlenbündel in der Xry-Ebene und längs der Achse A unter
45° zu den x-y-Achsen, wie bei 175 gezeigt, linear polarisiert.'
Zur BinSrmodulation werden die Länge des Körpers -100 uxiü die
angelegte Spannung auf einander abgestimmt, um eiae ßalbwellenlängem-Phasenverzögerung
hervorssurufsno Demgemäß ψ&&ά «Sie
Polarisation des durch sdie Schicht 108 durchtrestenfen Singangsstrahlenbündels
171 in der bei 177 gezeigten Weise um 90° gedreht· Ein Analysator 174 überträgt senkrecht zu der A-Ächse ·.
polarisiertes Licht, sperrt jedoch Licht in Richtung der A-Achse, woraus sich ein Binärintensitätsmodulation .ergibt, die
am Detektor 176 beobachtet wird. Bei dieser Anordnung entspricht ein Radiant der Polarisationsmodulation einer linearisierten
Intensitätsmodulation von 88 %« Bei einem realisierten. Intensitätsmodulator,
der unter Verwendung des zuvor besch;d£benen
Körpers mit 1 = 1,04 mm aufgebaut wars rief eine Halbwellenspannung
von nur 10 Volt ein Löschungsverhältnis von angenähert
20 db hervor. Wenn dieser Modulator ih einer bekannten
309818/0821
Doppelpaß-Weise verwendet wurde, konnte ebe zusätzliche■Me- ■■
duktion der Leistung um den Faktor 2 erreicht werden· Wo es
überdies erwünscht ist, die relativ hohen Werte der von dem
Modulator hervorgerufenen Phasendifferenz,(z·B, 1000° in Flg.
7) zu verringern, ohne den Hub in der Phasendifferenz (z.B.
180 in Fig. 7) zu verringern, so kann ein Kompensator 173 am Ausgang des Körpers 100 angeordnet werden, ma eine geeignete
Größe der Phasendifferenz (z.B. 720°, so daß die geseilte
hervorgerufene Phasendifferenz kleiner als'360° ist).zu unterdrücken.
Der Kompensator 173 ist beispielsweise ein' bekannter .
Erhlngtais-Kompensator. Ohne den Analysator 174 arbeitet die
zuvor beschriebene Ausführungsform als Polarisationsmodulator
anstatt als Intensitätsmodulator.
Bei einer alternativen Ausführungsform' des Intensitätsmodulators beruht die Betriebsweise nicht' auf dem. zuvor erwähnten Pockels-Effekt,
sondern auf dem Franz-Keldysh ,-Effekt. Das heißt,'wenn
die Wellenlänge der zu modulierenden Strahlung' nahe oder oberhalb
der Bandkante der zweiten Schicht liegt, so ergibt sich, wie zuvor, eine Absorptionsmodulation unter dem Einfluß eines
elektrischen Feldes. Änderungen der optischen Absorption rufen natürlich Intensitätsmodulationen hervor. Beispielsweise wurde
mehr als 90 % Intensitätsmodulation mit nur 6 Volt Vorspannung
bei einer Strahlungswellenlänge von etwa 0,92 um In einem Modulatorkörper
erzielt, bei dem die zweite Schicht aus GaAs (Bandkante bei etwa 0,87 um) bestand. Ähnliche Effekte wurden
im Bereich von 0,87 bis 1,0 um beobachtet. Zusätzlich kann
309818/0821
durch Zugabe von Al zur zweiten Schicht die Bandkante geändert · werden , wodurch die Modulation anderer Wellenlängen,
z.B. derjenigen im sichtbaren Bereich des Spektrums möglich werden.
In jedem Falle besteht jedoch eine ungünstige Wechselbeziehung
zwischen dem gewünschten Modulationsgrad, der bestimmt, daß die Wellenlänge so nahe als möglich an der Bandkante liegen
sollte, und dem Grad der tolerierbaren optischen Einfügungsdämpfung, welche vorschreibt, daß die Wellenlänge oberhalb
und so weit als möglich entfernt von der Bandkante liegen sollte.
Es wird beispielsweise geschätzt, daß der Absorptionskoeffizient
—1 —1
kleiner als etwa 20 cm bei 0,90 um und kleiner als etwa 5 cm
bei 0,02 um ist, wobei beide Bedingungen für eine GaAs-Schicht 108 des Körpers 100 gelten. Bei einer Vorspannung von 6 Volt
waren die entsprechenden Intensitätsmodulationen für beide Wellenlängen
größer als etwa 90 %. Wenn die Wellenlänge unterhalb der Bandkante liegen würde, so könnte die Einfügungsdämpfung
—1
zu hoch (etwa 100 cm ) für praktische Anwendungszwecke sein.
zu hoch (etwa 100 cm ) für praktische Anwendungszwecke sein.
Es ist zu beachten, daß die zuvor beschriebenen Anordnungen nur Ausführungsbeispiele vieler möglicher besondererAusführungsformen
sind, welche nach den Prinzipien der Erfindung aufgebaut sind. Zahlreiche und verschiedene andere Anordnungen können
unter Zuhilfenahme dieser Prinzipien von Fachleuten konzipiert und realisiert werden. Im besonderen kann auch der Modulatorkörper
100, der zuvor als dynamischer Phasenmodulator beschrieben wurde, einfach als statische Phasenplatte verwendet werden.
309818/0821
ZZÖZZ47
AZ
Überdies ist es in geeigneter Weise möglich, die zuvor beschriebenen
Modulatoren mit einem Halbleiterlaser in einer Baueinheit in der in Fig. 9 gezeigten Weise zu vereinigen.
In dieser Figur sind schematisch ein GaAs-AlGaAs-Doppelheterostruktur
(DH) Injektionslaser 180 und ein erfindungsgemäß aufgebauter Modulator 182 gezeigt, die durch eine teildurchlässige
und elektrisch isolierende Schicht 184 voneinander getrennt sind. Die aktive Zone des DH-Lasers verläuft koplanar mit der
zweiten Schicht 188 des Modulators, so daß die Ausgangsstrahlung des Lasers, die beispielsweise eine Wellenlänge von 0,91 um hat,
direkt lh die zweite Schicht 188 eingekoppelt wird, um dort
in der gewünschten V/eise phasen-, polarisations- oder intensitätsmoduliert zu werden. Die modulierte Strahlung,die aus der
Austrittsfläche 190 des Modulators 182 austritt, wird in eine Lichtleitung oder optische Faser 192 zur Übertragung zu einem
Verbraucher 194 eingekoppelt, wobei letzterer in typischer Ausführung ein Detektor oder ein Verstärker bei einer Relaisstelle
ist.
309818/0821
Claims (1)
- - 19 -P a t e η t. anspriiche1. Einrichtung zum Modulieren optischer Strahlung in Abhängigkeit von einem elektrischen Feld, mit einem: mehrschichtigen Halbleiterkörper,dadurch gekennzeichnet, daß Zwischen einer ersten (106) und einer dritten (IiO) Halbleiterschicht eine zweite Halbleiterschicht (108) hohen spezifischen Widerstands angeordnet ist» deren Bandabstand und Konzentration freier Ladungsträger geringer sind als diejeni— " gen der ersten und zweiten Schichten, wobei die zweite Schicht zur tibertragung der Strahlung geeignet ausgebildet und von dem an deft Halbleiterkörper (1Ö0) angelegten elektrischen Feld zum Modulieren der Strahlung abhängig gesteuert ist, so daß das Feld im wesentlichen in der zweiten Schicht konzentriert ist. · . ·2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die ersten und dritten Schichten den gleichen Leitungstyp haben und die zweite Schicht intrinsich bzw. eigenleitend ist.3* Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die ersten und dritten Schichten entgegengesetzte Leitungstypen haben und die zweite Schicht intrinsisch ist.309818/082122522*74. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die ersten und dritten Schichten den gleichen Leitungstyp haben und die zweite Schicht kompensiert ist«5. Einrichtung nach Anspruch I1 dadurch gekennzeichnet, daß die', ersten und dritten Schichten entgegengesetzte Leitungstypen haben und die zweite Schicht kompensiert ist·6. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die ersten und dritten Schichten entgegengesetzte Leitungβ-typen haben und die zweite Schicht aneinander angrenzende S - und 1Γ -Typ-Zonen aufweist, zwischen denen «In übergang gebildet ist, wpbei das elektrische Feld an dl« sweite Schicht in Sperrichtung angelegt ist·7· Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dafl die ersten, zweiten bzw. dritten Schichten Al„Ga~ Jfcf Al Ga- R bzw. AlnGa. R enthalten, wobei - 0. K y ^ x und z, und RZ A—Z _ ■ *·ein Element aus der aus As und P bestehenden Gruppe 1st·β. Einrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Konzentration an freien Trägern an der zweiten Schicht ·■17 3
kleiner oder gleich etwa 10 /cm ist.9. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das elektrische Feld ein Gleichstrom-Vorspannungsfeld enthält, das in der zweiten Schicht eine Verarmung»zone aufbaut, und dass die Amplitude des Vorspannungsfeldes und die relativen309818/0821■■Trägerkonzentrationen in den Schichten aufeinander so abgestimmt' sind, daß die Verarmungszone im wesentlichen mit der zweiten Schicht zusammenfällt.10. Einrichtung, nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Teil jeder der Schichten zur Bildung einer mesaförmigen Konfiguration der restlichen Teile der Schichten weggeätzt ist,11. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Teil jeder der Schichten mit Protonen beschossen ist, um eine mesaförmige Struktur der restlichen Teile der Schichten, auszubilden.12. Einrichtung nach Anspruch 1, daß zum Anschließen des elektrischen Feldes ein Paar von elektrischen Kontakten vorgesehen ist, von denen wenigstens einer eine Band- bzw. Streifengeometrie hat, so daß die Temperatur einer unmittelbar unterhalb" des Streifenkontakts liegenden ersten Zone der zweiten Schicht höher als diejenige von an die erste Zone seitlich angrenzenden anderen Zonen der zweiten Schicht ist, wodurch in der ersten Zone ein höherer Brechungsindex als in den anderen Zonen hervorgerufen wird.13. Einrichtun-g nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,daß optische Strahlung längs einer Übertra'gungsbahn geführt ist, daß ein Polarisator und ein Analysator in gegenseitigem Abstand in der Übertragungsbahn angeordnet sind, daß der Halbleiterkörper in der Übertragungsbahn zwischen dem Analysator und den Polarisator derart angeordnet ist, daß die zweite Schicht dia309818/0821■- Jf-Jl '·Strahlung zur Übertragung aufnehmen kann, wobei der Polarisator so orientiert ist, daß er die Strahlung unter angenähert 45° in Bezug auf zwei Hauptachsen des Brechungsindexellipsoids der zweiten Schicht linear polarisiert, und daß der Halbleiterkörper zur Erzeugung von Halbwellen-Phasenverzögerung der polarisierten Strahlung geeignet ist*14. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die zweite Schicht eine Bandkante bei einer charakteristischen Energie aufweist und die Wellenlänge der Strahlung einer Energie unterhalb "und nahe der Bandkante entspricht, wobei das elektrische Feld eine Verschiebung der Bandkante entsprechend seiner Amplitude bewirkt und dadurch die optische Absorption in der zweiten Schicht ändert und die Strahlungsintensität moduliert.15· Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eire Doppelheteroetruktur-Injektionslaser mit zwei einen breiten Bandabstand aufweisenden Schichten entgegengesetzten Leitungstyps, einer zwischen den beiden Schichten angeordneten aktiven Zone und wenigstens einer teildurchlässigen, normal zur aktiven Zone verlaufenden Oberfläche vorgesehen ist,und daß der Halbleiterkörper wenigstens eine normal zur zweiten Schicht verlaufende, an wenigstens eine der teildurchlässigen Obeflächen des Lasers angrenzende und von dieser elektrisch isolierte Oberfläche aufweist, wobei die zweite Schicht des Halbleiterkörpers mit der aktiven Zone des Lasers koplanar und optisch gekoppelt ist.309818/0821teerseife
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US19328671A | 1971-10-28 | 1971-10-28 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2252247A1 true DE2252247A1 (de) | 1973-05-03 |
DE2252247C2 DE2252247C2 (de) | 1982-04-22 |
Family
ID=22712989
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2252247A Expired DE2252247C2 (de) | 1971-10-28 | 1972-10-25 | Einrichtung zum Modulieren optischer Strahlung mit einem Halbleiterkörper |
Country Status (11)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3748597A (de) |
JP (1) | JPS5618925B2 (de) |
AU (1) | AU467120B2 (de) |
BE (1) | BE790590A (de) |
CA (1) | CA968880A (de) |
DE (1) | DE2252247C2 (de) |
FR (1) | FR2158328B1 (de) |
GB (1) | GB1406496A (de) |
IT (1) | IT975403B (de) |
NL (1) | NL180884C (de) |
SE (1) | SE379101B (de) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2527179A1 (de) * | 1974-06-20 | 1976-01-08 | Western Electric Co | Halbleiterbauelement mit heterostruktur sowie herstellungsverfahren hierfuer |
DE3210980A1 (de) * | 1981-04-01 | 1982-11-04 | Nippon Telegraph & Telephone Public Corp., Tokyo | Optisches schaltelement und optische schaltmatrix |
EP0143070A1 (de) * | 1983-10-13 | 1985-05-29 | Heinrich-Hertz-Institut für Nachrichtentechnik Berlin GmbH | Elektro-optisches Halbleiter-Bauelement mit einer Lichtwellen führenden Schicht und seine Verwendung als elektro-optischer Modulator |
US5528413A (en) * | 1993-02-12 | 1996-06-18 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor light intensity modulator |
Families Citing this family (38)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3865646A (en) * | 1972-09-25 | 1975-02-11 | Bell Telephone Labor Inc | Dielectric optical waveguides and technique for fabricating same |
US3959036A (en) * | 1973-12-03 | 1976-05-25 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Method for the production of a germanium doped gas contact layer |
DE2403501C3 (de) * | 1974-01-25 | 1979-02-22 | Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim | Verfahren zur Regelung der Phasenanpassung einer kohärenten Sekundärstrahlung in einem nichtlinearen Kristall |
US3970364A (en) * | 1974-08-20 | 1976-07-20 | The Curators Of The University Of Missouri | Depletion layer laser beam modulator and deflector |
CA1005556A (en) * | 1974-09-17 | 1977-02-15 | Northern Electric Company Limited | Monolithic light-emitting diode and modulator |
CA1007737A (en) * | 1974-09-17 | 1977-03-29 | Northern Electric Company | Semiconductor optical modulator |
US3940289A (en) * | 1975-02-03 | 1976-02-24 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Flash melting method for producing new impurity distributions in solids |
US3995155A (en) * | 1975-06-06 | 1976-11-30 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Integrated optical data bus coupler |
JPS5941167B2 (ja) * | 1975-08-09 | 1984-10-05 | 日本電信電話株式会社 | 光変調器 |
US4093345A (en) * | 1976-05-27 | 1978-06-06 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Semiconductor rib waveguide optical modulator with heterojunction control electrode cladding |
JPS561013A (en) * | 1979-06-18 | 1981-01-08 | Furukawa Electric Co Ltd:The | Filter of controllable transmission characteristic |
US4865427A (en) * | 1981-01-12 | 1989-09-12 | Massachusetts Institute Of Technology | Spatial light modulator |
US4558449A (en) * | 1983-07-08 | 1985-12-10 | At&T Bell Laboratories | Semiconductor laser with coupled loss modulator for optical telecommunications |
GB8331298D0 (en) * | 1983-11-23 | 1983-12-29 | British Telecomm | Optical devices |
FR2558271A1 (fr) * | 1983-12-02 | 1985-07-19 | Carenco Alain | Coupleur directif electro-optique a double heterostructure et a rubans |
GB2182158A (en) * | 1985-10-02 | 1987-05-07 | Plessey Co Plc | Electro-optical waveguide |
GB8525593D0 (en) * | 1985-10-17 | 1985-11-20 | British Telecomm | Electro-optic devices |
JPS62260120A (ja) * | 1986-05-07 | 1987-11-12 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | 半導体外部光変調器 |
US4794351A (en) * | 1986-09-29 | 1988-12-27 | American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories | Optical mixer for upconverting or downconverting an optical signal |
US4789843A (en) * | 1987-07-28 | 1988-12-06 | Hicks John W | Laser diode optical modulating devices |
GB8821863D0 (en) * | 1988-09-03 | 1989-05-17 | Emi Plc Thorn | Infra-red radiation modifier |
JPH0340252A (ja) * | 1989-04-19 | 1991-02-21 | Olympus Optical Co Ltd | 光磁気記録媒体の位相差測定装置 |
US5287212A (en) * | 1989-09-07 | 1994-02-15 | Cox Charles H | Optical link |
FR2707766B1 (fr) * | 1993-07-02 | 1995-12-08 | Fabrice Devaux | Modulateur électroabsorbant et générateur d'impulsions optiques le comportant. |
EP1233298A1 (de) * | 2001-02-16 | 2002-08-21 | Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) | Lichtmodulationsvorrichtung |
US6917426B2 (en) * | 2002-01-29 | 2005-07-12 | The Boeing Company | Real-time wavefront sensor system |
US9208308B2 (en) | 2007-11-27 | 2015-12-08 | The Boeing Company | Alternate parts signature list file |
US8490074B2 (en) * | 2007-11-27 | 2013-07-16 | The Boeing Company | Aircraft software part library |
US8442751B2 (en) * | 2007-11-27 | 2013-05-14 | The Boeing Company | Onboard electronic distribution system |
US8185609B2 (en) * | 2007-11-27 | 2012-05-22 | The Boeing Company | Method and apparatus for processing commands in an aircraft network |
US20090138873A1 (en) * | 2007-11-27 | 2009-05-28 | The Boeing Company | Method and Apparatus for Loadable Aircraft Software Parts Distribution |
US8930310B2 (en) * | 2007-11-27 | 2015-01-06 | The Boeing Company | Proxy server for distributing aircraft software parts |
US7764850B2 (en) * | 2008-01-25 | 2010-07-27 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Optical modulator including electrically controlled ring resonator |
US8321083B2 (en) * | 2008-01-30 | 2012-11-27 | The Boeing Company | Aircraft maintenance laptop |
KR101252747B1 (ko) * | 2009-09-01 | 2013-04-11 | 한국전자통신연구원 | 광전 소자 |
US10102687B1 (en) | 2010-08-17 | 2018-10-16 | The Boeing Company | Information management system for ground vehicles |
US9160543B2 (en) | 2013-05-07 | 2015-10-13 | The Boeing Company | Verification of aircraft information in response to compromised digital certificate |
US9237022B2 (en) | 2013-05-07 | 2016-01-12 | The Boeing Company | Use of multiple digital signatures and quorum rules to verify aircraft information |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL269289A (de) * | 1961-09-15 | |||
US3299106A (en) * | 1964-06-01 | 1967-01-17 | Syntex Corp | Process for the preparation of uncontaminated 17alpha-ethynyl-19-nor-delta4-androsten-17beta-ol-3-one |
US3462211A (en) * | 1965-09-22 | 1969-08-19 | Bell Telephone Labor Inc | Semiconductor junction electro-optic light modulator |
US3611207A (en) * | 1970-01-05 | 1971-10-05 | Carl N Klahr | Wide aperture electrooptic modulator |
-
0
- BE BE790590D patent/BE790590A/xx not_active IP Right Cessation
-
1971
- 1971-10-28 US US00193286A patent/US3748597A/en not_active Expired - Lifetime
-
1972
- 1972-06-08 CA CA144,225A patent/CA968880A/en not_active Expired
- 1972-10-24 AU AU48098/72A patent/AU467120B2/en not_active Expired
- 1972-10-25 GB GB4918472A patent/GB1406496A/en not_active Expired
- 1972-10-25 SE SE7213774A patent/SE379101B/xx unknown
- 1972-10-25 DE DE2252247A patent/DE2252247C2/de not_active Expired
- 1972-10-26 JP JP10675472A patent/JPS5618925B2/ja not_active Expired
- 1972-10-27 FR FR7238297A patent/FR2158328B1/fr not_active Expired
- 1972-10-27 NL NLAANVRAGE7214587,A patent/NL180884C/xx not_active IP Right Cessation
- 1972-10-27 IT IT70403/72A patent/IT975403B/it active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
"IEEE J. of Quantum Electronics", QE 3, 1967, S. 278-286 * |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2527179A1 (de) * | 1974-06-20 | 1976-01-08 | Western Electric Co | Halbleiterbauelement mit heterostruktur sowie herstellungsverfahren hierfuer |
DE3210980A1 (de) * | 1981-04-01 | 1982-11-04 | Nippon Telegraph & Telephone Public Corp., Tokyo | Optisches schaltelement und optische schaltmatrix |
EP0143070A1 (de) * | 1983-10-13 | 1985-05-29 | Heinrich-Hertz-Institut für Nachrichtentechnik Berlin GmbH | Elektro-optisches Halbleiter-Bauelement mit einer Lichtwellen führenden Schicht und seine Verwendung als elektro-optischer Modulator |
US5528413A (en) * | 1993-02-12 | 1996-06-18 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor light intensity modulator |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CA968880A (en) | 1975-06-03 |
SE379101B (de) | 1975-09-22 |
FR2158328B1 (de) | 1975-10-24 |
BE790590A (fr) | 1973-02-15 |
AU467120B2 (en) | 1975-11-20 |
FR2158328A1 (de) | 1973-06-15 |
US3748597A (en) | 1973-07-24 |
NL7214587A (de) | 1973-05-02 |
GB1406496A (en) | 1975-09-17 |
IT975403B (it) | 1974-07-20 |
JPS5618925B2 (de) | 1981-05-02 |
NL180884C (nl) | 1987-05-04 |
AU4809872A (en) | 1974-04-26 |
DE2252247C2 (de) | 1982-04-22 |
JPS4852250A (de) | 1973-07-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2252247A1 (de) | Optischer modulator | |
DE2304026C2 (de) | Optische Wellenleitervorrichtung in Dünnschichtausführung | |
DE2723414C2 (de) | Optisches Halbleiter-Wellenleiterbauelement | |
DE2843763C2 (de) | Optischer Schalter und/oder -Modulator | |
DE3007809C2 (de) | Halbleiterlichtausstrahlungselement und Verfahren zu seiner Herstellung | |
WO1986004999A1 (en) | Integrated resonator matrix for selective wavelength separation or joining of channels in the frequency range of optical communications technology | |
DE3300986A1 (de) | Mehrschichtige optische integrierte schaltung | |
DE2840254C2 (de) | ||
EP0409074A2 (de) | Optoelektronische Anordnung | |
DE2747371A1 (de) | Halbleiterlaser | |
EP2633286A1 (de) | Effizienz-verbessertes fasergekoppeltes terahertzsystem | |
DE112014001188T5 (de) | Laservorrichtung | |
EP0259933B1 (de) | Optischer Polarisationsregler mit einer Wellenleiterstruktur | |
CH616754A5 (de) | ||
EP1055141B1 (de) | Optische struktur und verfahren zu deren herstellung | |
DE2607120A1 (de) | Optische hohlleiter-koppler | |
DE4103071A1 (de) | Lichtgesteuerter halbleiterlichtkoppler und -modulator | |
EP0257531B1 (de) | Optische Resonatormatrix | |
DE2933149A1 (de) | Wellenleitendes halbleiterbauteil | |
DE2205728A1 (de) | Optisches bauelement und verfahren zur herstellung eines solchen bauelementes | |
DE2002490A1 (de) | Lichtwellen-Kopplungsanordnung | |
DE3346058A1 (de) | Optische frequenzumsetzvorrichtung, und damit ausgestattetes gyrometer | |
DE3335318A1 (de) | Optische einrichtung | |
DE4010823A1 (de) | Modensynchronisierter halbleiterlaser | |
EP0382682B1 (de) | Integrierte optische Schaltung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OD | Request for examination | ||
8125 | Change of the main classification |
Ipc: G02F 1/015 |
|
D2 | Grant after examination |