DE3335318A1 - Optische einrichtung - Google Patents

Optische einrichtung

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DE3335318A1
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Anis 55113 Roseville Minn. Husain
Saukwan 55432 Fridley Minn. Lo
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Description

  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf optische Ein-
  • richtungen, welche Halbleitermaterialien verwenden, die eine große optische Nichtlinearität dritter Ordnung aufweisen. Sie bezieht sich ferner auf ein Verfahren zur Auswahl solcher Materialien.
  • Ein nicht-lineares optisches Material ist ein solches Material, bei welchem die Polarisierung 9 eine nichtlineare Funktion des gesamten elektrischen Feldes E der auf dem Material auftreffenden elektromagnetischen Wellen ist. Bei nicht-linearen Materialien kann die i.te Polarisationskomponente in folgender Form ausgedrückt werden: In dieser Gleichung bedeuten: Die Indizes verschiedene elektrische Eingangsfelder, X (n) Tensoren der Ordnung n+1 und ESuszeptibilitätskoeffizienten der n.ten Ordnung.
  • Der Klammerausdruck in Gleichung (1) kann abgekürzt als X TOT angeschrieben werden.
  • Da der optische Brechungsindex n eines Materials folgendermaßen definiert ist: ist erkennbar, daß n eine nicht-lineare Funktion der Intensität der auftreffenden elektromagnetischen Welle ist. Ferner ist der Ausdruck X (2) in Gleichung (1) nur von Bedeutung, wenn alle Eingangsfelder sich in der gleichen Richtung oder nahezu der gleichen Richtung, was als Bedingung der Phasenübereinstimmung bezeichnet sei, fortpflanzen, wenn alle Felder nicht die gleiche Frequenz aufweisen und das Material keine Inversionssymetrie besitzt. Im letzeren Fall ist X (2) selbst gleich Null. Somit bleibt X (3) als dominierender Faktor in vielen Anwendungsfällen von nicht-linearen optischen Materialien.
  • In Halbleitermaterialien tragen viele nicht-lineare optische Mechanismen zu dem Faktor V (3) bei. Die wichtigsten bekannten Mechanismen sind das nicht-harmonische Verhalten der Grenzschichtelektronen, die nicht-lineare Bewegung der Ladungsträger und Nicht-Linearitäten, die den Ladungsträger-Einschwingvorgängen zugeordnet sind.
  • Diese Mechanismen können ferner in Nichtresonanz- und Resonanz-Phänomene unterteilt werden. Nicht-Resonanz-Phänomene umfassen das nicht-harmonische Verhalten der Grenzschichtelektronen und die nicht-lineare Bewegung der Ladungsträger. Die meisten Einschwingphänomene sind Resonanzphänomene. Resonanzphänomene umfassen die Neuverteilung der Ladungsträgerbesetzung und diese sind demzufolge durch geringe Ansprechzeiten (10-6 - 10~9sec.) gegenüber Nichtresonanz-Ansprechzeiten (10-10-10-15 sec..) charakterisiert.
  • Ferner tragen Resonanz-Phänomene nur für sehr enge Frequenzbereiche beträchtlich zu dem Faktor X1 (3) bei. Demzufolge sind nicht-lineare Materialien, bei denen der Beitrag des Faktors (3) aufgrund von Nichtresonanz-Mechanismen groß ist, solche Materialien, die benutzt werden können, um nicht-lineare optische Einrichtungen mit ultraschnellem Ansprechverhalten aufzubauen, die einen relativ großen Spektralbereich besitzen. Bezüglich des nicht-harmonischen Verhaltens der Grenzschichtelektronen und der nicht-linearen Bewegung der Ladungsträger, tragen insbesondere die letzten sehr viel wesentlicher zu dem Faktor X (3) bei. Demzufolge sind von besonders hohem Wert nichtlineare optische Materialien, bei denen der Beitrag zu dem Faktor X (3) aufgrund der nicht-linearen Bewegung der Ladungsträger ein Maximum beträgt.
  • Die Anderung des Brechungsindex eines nicht-linearen Materials aufgrund der Intensität ist verwendet worden, um bistabile optische Einrichtungen anzugeben, die nützlich sind in Speicherzellen, optischen Schaltern und bei der Differentialverstärkung von optischer Energie. Beispiele solcher Einrichtungen sind in dem Artikel "Bistable Optical Devices Promise Subpicosecond Switching" von P.W.Smith und W.J.Tomlinson, in Advanced Technology, IEEE Spectrum, Juni 1981 beschrieben. Die in solchen Einrichtungen verwendeten nicht-linearen Materialien sind dort durch einen Dampf von Natriumatomen, durch eine Flüssigkeit wie beispielsweise Schwefelkohlenstoff und Nitrobenzen oder durch Halbleiter wie beispielsweise GaAs oder InSb vorgegeben.
  • Nachteile bestehen bei all diesen bekannten Materialien.
  • Die wünschenswerten optischen Eigenschaften von Natriumdampf treten über einen engen Wellenlängenbereich auf und zudem ist Natriumdampf schwierig zu handhaben. Die optischen Nicht-Linearitäten der bislang verwendeten Flüssigkeiten haben sich als zu gering herausgestellt und dies hat die Verwendung von mit hoher Leistung gepulster Laser erforderlich gemacht, um die Bistabilität beobachten zu können, wobei eine lange optische Weglänge erforderlich ist, wodurch wiederum die Ansprechzeit begrenzt wird.
  • Halbleiter stellen attraktive Materialien dar, da sie leicht zu handhaben sind, integriert werden können und kleine Abmessungen besitzen. Versuche mit Halbleiterlegierungen bezogen sich in erster Linie auf die Sättigung der Anregungsabsorption,um Änderungen in dem Brechungsindex zu erzeugen. Da die Anregungs-Bindungsenergien gering sind, hat dies eine Kühlung des Halbleitermaterials auf 1200K oder geringer erforderlich gemacht, um durch die thermische Energie nicht die Anregungswelle zu zerstören. Die Autoren Gibbs und andere berichteten über die Resultate ihrer Experimente mit GaAs in einem Aufsatz "Optical Bistability in Semiconductors", der in Applied Physics Letters, 35 (6), am 15.SeDtember 1979 erschienen ist. Die Autoren nahmen an, daß Uberstrukturgitter (superlattices) den Betrieb eines Fabry-Perot Interferometers bei Raumtemperatur ermöglichen, da Uberstrukturgitter im allgemeinen größere Bindungsenergien für die Anregungswellen als GaAs besitzen. Uberstrukturgitter sind im allgemeinen Halbleiterstrukturen, die durch eine Vielzahl von Heterogrenzschichten zwischen abwechselnden Schichten zweier unterschiedlicher Halbleitermaterialen gebildet werden, wenn die Schichten dünner als die mittlere freie Weglänge der Ladungsträger in dem Material ist.
  • Die Absorption der Anregungswelle ist einer der nicht-linearen Resonanz-Mechanismen, die zuvor erläutert wurden. Daher bleiben auch dann,wenn ein größeres nicht-lineares Ansprechverhalten durch Auswertung dieses Mechanismus erzielt wird, weiterhin Beschränkungen hinsichtlich der Geschwindigkeit und des Spektralbereiches bei Einrichtungen, die die Absorption der Anregungswelle als nicht-linearen Hauptmechanismus benutzen. Eine Analyse und die Verwendung des nicht-linearen Nicht-Resonnanzmechanismus in optischen Einrichtungen, welche Uberstrukturgitter verwenden, wurde bislang nicht gemacht und vorgeschlagen.
  • Zwei optische Einrichtungen, die Halbleitermaterialien als nicht-lineares Medium verwenden sind bereits bekannt geworden. Aus der US-PS 4 163 238 ist eine elektro-optische Einrichtung bekannt geworden, bei der eine Besetzungsumkehr in einem Uberstrukturgitterelement geschaffen wird, wenn ein elektrisches Feld quer an die Schnittstellen zwischen den Schichten des Uberstrukturgitters angelegt wird. Während dieser Umkehr wird Infrarotlicht durch die auftretenden Elektronen-Anregungswellen emittiert. Infrarotlicht, welches in das Überstrukturgitterelement eintritt, kann somit verstärkt werden,und es kann ein Injektions-Laseroszillator gebildet werden. Die Emission von Infrarotlicht ist in dieser Einrichtung möglich ohne eine Besetzungsumkehr,aber in diesem Fall tritt die Verstärkung bzw. Laseroszillation durch das Eingangslicht nicht auf.
  • Aus der US-PS 4 208 667 ist ein Halbleiterelement bekannt, welches eine Vielzahl von Hetero-Grenzschichten in einer optischen Einrichtung verwendet. Licht mit einer ausreichenden Energie wird dem Halbleiterelement zugeführt, um Elektronen aus dem Valenz-Band eines Halbleitermaterials in das Valenz-Band einer benachbarten Schicht des anderen Halbleitermaterials zu pumpen, wo es beispielsweise absorbiert wird. Sodann wird die Lichtemission des Halbleiterelements durch ein elektrisches Feld gesteuert, welches senkrecht zu den Hetero-Sperrschichtschnittstellen angelegt wird. Dieses angelegte elektrische Feld bewegt die Elektronen-Lochpaare in die Schnittstellen und erzeugt eine Strahlung durch eine Locher/Elektronen-Vernichtung. Die erzeugte Strahlung ist von geringerer Energie als die Pumpenergie des auftreffenden Lichtstrahles.
  • In den beiden US-Patentschriften werden zwar Halbleitermaterialien als nicht-lineare Elemente in optischen Einrichtungen verwendet; dort finden jedoch keine Halbleitermaterialien Anwendung, bei denen der Beitrag des Faktors X (3) aufgrund der nicht-linearen Bewegung der Ladungsträger in dem Material groß ist.
  • Nicht-lineare optische Materialien sind ferner mit Vorteil verwendet worden, um eine phasenkonjugierte elektromagnetische Welle d.h. eine elektromagnetische Welle, deren Amplitude zu einer elektromagnetischen Eingangswelle komplex konjugiert ist, zu erzeugen. Zu diesem Zweck fließ man das nicht-lineare Medium auf die Eingangswelle und eine Pumpwelle reagieren,um periodisch die Polarisierung zu modulieren. Auf diese Weise erzeugt man ein Gitter in dem nicht-linearen Medium, welches sodann die Pumpwelle zerstreut,um die konjugierte Welle zu bilden.
  • Die Phasenkonjugierung und phasenkonjugierte Spiegel sind bekannt. Die allgemeine Theorie und der Aufbau können dem Aufsatz Phase Conjugate Optics and Real -Time Holography" von A.Yariv in IEEE Journal of Qntum Electronics, Band QE-14 vom 9.September 1978 auf den Seiten 650-660 und dem Artikel "Applications of Optical Phase Conjugation" von C.R.Giuliano in Physics Today vom April 1981 auf den Seiten 27-35 entnommen werden.
  • Das nützlichste Verfahren zur Phasenkonjugierung ist durch die Vier-Wellen-Mischung gegeben. Dieses Verfahren macht direkt von der Größe der nicht-linearen optischen Suszeptibilität dritter ordnung X (3) Gebrauch. Medien mit großem Faktor X (3) erzeugen stark konjugierte Wellen. Wenn Halbleitermaterialien als nicht-lineare optische Medien verwendet werden, so werden Einrichtungen mit schnellem Ansprechverhalten und breitem Frequenzbereich erneut unter jenen Materialien gefunden, bei denen der Faktor X groß ist aufgrund des Beitrags der nicht-linearen Bewegung der Ladungsträger.
  • Es ist daher die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, optische Einrichtungen der eingangs genannten Art anzugeben, bei denen das Uberstrukturgitter ein schnelles Ansprechverhalten und einen breiten Frequenzbereich aufweist. Ferner ist es eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung,ein Verfahren anzugeben, mit dem geeignete Materialien für das Überstrukturgitter ausgewählt werden können. Die Lösung dieser Aufgabe gelingt gemäß den kennzeichnenden Merkmalen der unabhängigen Patentansprüche. Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind den abhängigen Unteransprüchen entnehmbar.
  • Die vorliegende Erfindung ermöglicht es, Halbleitermaterialien auszuwäheln, bei denen die optische Nicht-Linearität dritter Ordnung aufgrund der nicht-linearen Bewegung der Ladungsträger besonders groß ist. Bei dieser Auswahl wird der Teil der Leitungsbandenergie eines Materials an der Stelle im Wellenvektorraum geprüft, wo die Elektronendichte besonders groß ist. Je größer die Abweichung von der Parabelform hinsichtlich der Leitungsbandenergie an einer solchen Stelle ist, um so größer ist das nicht-lineare optische Ansprechverhalten dritter Ordnung aufgrund der nicht-linearen Bewegung der Ladungsträger.
  • Eine erste Einrichtung macht mit Vorteil von einem auf diese Weise ausgewählten nicht-linearen Medium Gebrauch. Diese Einrichtung stellt einen optischen Schalter dar, bei dem die Schnittstelle zwischen dem nicht-linearen Material und einem optisch linearen Material in der Lage ist, einen auf die Schnittstelle auftreffenden Lichtstrahl bei einem anfänglichen Wert der Intensität total zu reflektieren. Die Intensität des Eingangs-Lichtstrahles wird erhöht, bis der Brechungsindex des nicht-linearen Materials sich ausreichend geändert hat, so daß der kritische Winkel der inneren Totalreflektion an der Schnittstelle den Auftreffwinkel des Eingangs-Lichtstrahles überschreitet, wodurch die Schnittstellevon einerReflektorfläche auf eine im wesentlichen durchlässige Fläche umschaltet.
  • Eine zweite Einrichtungrbei der das erfindungsgemäße ausgewählte Material verwendet werden kann, stellt ein Fabry-Perot-Interferometer dar. Das nicht-lineare Medium ist zwischen teilweise reflektierenden Materialien angeordnet. Da der optische Brechungsindex des Interferometers eine Funktion der Intensität des in das nicht-lineare Medium einfallenden Lichtes ist, führt die Erhöhung der Intensität eines Eingangs-Lichtstrahles zu einem Ubergang von einem Nicht-Resonanz -zu einem Resonanz-Zustand. Diese Umschaltung bei einem bestimmten Wert der Intensität des Eingangs-Lichtstrahles führt zu einem sprunghaften Anstieg des Ausgangssignales des Interferometers. Das Interferometer kann ferner als eine bistabile optische Einrichtung arbeiten, da für bestimmte Intensitäten des einfallenden Lichts die Ausgangsintensität einen hohen oder niedrigen Wert aufweisen kann.
  • Eine dritte Einrichtung befaßt sich mit einem phasenkonjugierten Spiegel. Hierbei treffen erste und zweite gegenläufige Pumpstrahlen auf ein Uberstrukturgitter auf. Ein Teststrahl wird sodann auf das Uberstrukturgitter unter einem Winkel in Bezug auf die gegenläufigen Strahlen gerichtet. Hierdurch wird eine konjugierte Welle mit einer Amplitude gebildet, die proportional zu dem Suszeptibilitätskoeffizienten dritter Ordnung ist und ferner proportional zu dem Produkt der Größen der elektrischen Felder der Pumpstrahlen und des Teststrahles ist. Wenn eine konjugierende Einrichtung mit Durchlassverhalten gewünscht ist, so ist unter bestimmten Bedingungen nur ein Pumpstrahl erforderlich.
  • Anhand der Figuren der beiliegenden Zeichnung sei im folggenden die Erfindung näher beschrieben. Es zeigen: Fig.1 eine Darstellung der Leitungsbandenergie im K-Vektorraum der ersten Brillouin-Zone für ein ideales Überstrukturgitter; Fig.2 eine Vergrößerung jenes Teiles aus Fig.1,der die erste Minizone überspannt und lediglich das niedrigste Energieband des Leitungsbandes umfaßt; Fig.3 eine schematische Darstellung einer Schalteinrichtung mit einem erfindungsgemäßen Überstrukturgitter; Fig.4 die Schalteinrichtung gemäß Fig.3 im durchgeschalteten Zustand, wobei die Verwendung eines Steuerstrahles angedeutet ist; Fig.5 die Einrichtung gemäß Fig.3 in einem Grenzbetriebszustand; Fig.6 eine qualitative Darstellung der Ausgangs-Lichtintensität über der Eingangs-Lichtintensität für die Einrichtung gemäß fig.4; Fig.7 die Einrichtung gemäß Fig.3 in einem weiteren Grenz-Betriebszustand; Fig.8 ein Fabry-Perot-Interferometer mit dem erfindungsgemäßen Uberstrukturgitter; Fig.9 eine Darstellung der Ausgangsleistung über der optischen Weglänge für das Interferometer gemäß Fig.8; Fig.10 eine Darstellung der Ausgangs-Lichtintensität über der Eingangs-Lichtintensität für die Einrichtung gemäß Figur 8 zur Veranschaulichung ihrer Verwendung als bistabile,optische Einrichtung; und Fig.11 eine schematische Darstellung eines phasenkonjugierenden Spiegels unter Verwendung des erfindungsgemäßen Uberstrukturgitters Überstrukturgitter, wie sie in der US-PS 3 626 257 definiert sind, werden durch mehrere aufeinanderfolgende Schichten aus Halbleitermaterial mit unterschiedlichen Energiebandcharakteristiken aufgebaut. Eine erste Schicht und abwechselnd folgende Schichten besitzen gegenüber einer zweiten Schicht und abwechselnd folgenden Schichten unterschiedliche Leitungsbandenergien mit dem Ergebnis, daß sich eine eindimensionale periodische und räumliche Veränderung der Leitungs- und Valenzbandenergie für die gesamte Halbleiterstruktur ergibt. Genauer gesagt, ergibt sich eine eindimensionale räumliche Veränderung des effektiven Potentials, welches bei der Bildung der Dynamik der Ladungsträger in dem Überstrukturgitter vorherrscht. Die Ladungsträger müssen mit diesem veränderlichen Energiepotential zusammen wirken so daß die Periode der räumlichen Veränderung geringer als die mittlere freie Weglänge der Ladungsträger in dem Halbleiter ist. Typischerweise werden zwei Halbleiterlegierungen (z.B. GaAs und GaAlAs) verwendet, um die erste Schicht und die abwechselnd folgenden Schichten sowie die zweite Schicht und die abwechselnd folgenden Schichten zu bilden.
  • Die Veränderung in dem effektiven Potential wird mit einer Periode a gewählt, die größer als der normale Gitterabstand d der Atome der Halbleitermaterialien ist. Aufgrund dieser Beziehung, d.h. a>d ergibt sich, daß die erste Brillouin-Zone in Minizonen mit einer Breite im Wellenvektorraum unterteilt wird, die nSU/a entspricht, wobei n=1,2... a/d. In dem Wellenvektorraum beträgt das Moment p=nxk. Wenn beispielsweise a das Vierfache des Wertes von d beträgt, so treten vier Minizonen in der ersten Brillouin-Zone eines Kristallgittersauf, d.h.
  • n=4. Figur 1 zeigt diese vier Minizonen zum Zwecke der Erläuterung. Dort überspannt die erste Brillouin-Zone eines hypothetischen Überstrukturgitters im k Wellenvektorraum i # /d. Die Bildung eines Überstrukturgitters in diesem Kristall mit einer effektiven Potentialperiode von a=4d führt dazu, daß die erste Brillouin-Zone in vier Minizonen unterteilt wird, die durch # T/a, + 2/a, #3#/a und # 4 T/a eingegrenzt sind.
  • In Figur 1 ist ferner eine klassische parabolische Beziehung zwischen der Leitungsbandenergie eines Halbleiterkristalls und dem Wellenvektorraum durch dick gestrichelte Kurven 10 dargestellt. Ferner ist die Beziehung der Leitungsbandenergie zu dem Wellenvektorraum k für ein Überstrukturgitter mit vier Minizonen durch eine Reihe von ausgezogenen Kurven 12,14,16 und 18 dargestellt, die der Kurve 10 überlagert sind. Es sei vermerkt, daß Energielücken 20 an den Kanten der Minizonen auf der k-Achse auftreten. Die Energielücken 20 sind einzig und allein das Ergebnis des Überstrukturgitters.
  • Eine reduzierte Zonendarstellung wird ebenfalls in Fig.1 durch Faltung der Kurven 14,16 und 18 in die erste Minizone gegeben, wodurch die Kurven 14A,16A und 18A entsprechend gebildet werden. Die Breiten der Energielücken 20 stehen in Beziehung zu der Veränderungsamplitude der Leitungsbandenergie aufgrund des Aufbaues des Oberstrukturgitters.
  • Figur 2 zeigt den Teil aus Figur 1, der die kurven 12 und 14A unfaßt. Dort wird die reduzierte Zonendarstellung der Kurve 10 durch die gestrichelten Kurven 22 veranschaulicht Die Kurven 10 und 22 stellen in Figur 2 die reine parabolische klassische Beziehung der Energie zu dem Vektor K dar Die schraffierten Bereiche 24 in Figur 2 heben das Maß der Abweichung der Kurven 12 und 1 4A von der Parabelform hervor Diese Abweichung sei als nichtparabelförmig bezeichnet Die Beziehung zwischen dem Kristallmoment und der Energie der Ladungsträger in einem Kristall geht allgemein aus dem Hamilton-Faktor H der Ladungsträger in dem Kristall hervor. Der Hamilton-Faktor kann ausgedrückt werden als eine Serienerweiterung des Exponenten der Momentengröße p Ungerade Exponenten 9n p werden unterdrückt, da sie Bedingungen entsprechen, bei denen die Energie des Systems sich mit einer Richtungsumkehr der Ladungsträger in dem System verändert Solche Zustände sind physikalisch unrealistisch und laufen dem Prinzip der Zeitumkehr-Invarianz zuwider. Der Hamilton-Faktor für Überstrukturgitter nimmt daher folgende Form ein: In dieser Gleichung bezeichnet m# die effektive Masse der Elektronen in dem Überstrukturgitter und # eine Konstante.
  • Die klassische Situation führt nur zu dem ersten Ausdruck in der Gleichung (3). Dies führt natürlich nur zu einer reinen parabolischen Beziehung zwischen der Energie und dem Moment Die Hinzufügung von anderen geraden Exponenten von p berücksichtigt die Abweichungen von der Parabelform.
  • Berücksichtigt man, daß: dp -= eE (4) dt und daß wobei p das Moment,e die Ladung eines Elektrons,E das elektrische Feld und V die Geschwindigkeit darstellt und nimmt man harmonische Variationen des Moments mit der Zeit an, d.h. den allgemeinen ebenen Wellenzustand einer auftreffenden elektromagnetischen Welle mit der Frequenz «o , so läßt sich die Geschwindigkeit unter Berücksichtigung der Gleichungen (3),(4) und (5) folgendermaßen anschreiben: Betrachtet man die Koeffizienten der Exponenten von E in Gleichung (6) als diejenigen, die zu den Suszeptibilitätskoeffizienten t (n) in Gleichung (1) beitragen, so ist ersichtlich, daß nur der Suszeptibilitätskoeffizient dritter Ordnung zu der Nichtlinearität in der Geschwindigkeit in Abhängigkeit von dem angelegten elektrischen Feld bei Außerachtlassung der Effekte höherer Ordnung beiträgt.
  • Die Identifizierung der Exponentenkoeffizienten von E als Beitrag zu den Suszeptibilitätskoeffizienten kann direkt abgeleitet werden aus: J=eN V (7) und wobei J die Stromdichte, N die Anzahl der Elektronen, e die Ladung eines Elektrons und P die Polarisierung des Mediums darstellt. Unter Verwendung der Gleichungen (6) (7) und (8) ergibt sich somit: Ein Vergleich der Gleichungen (1) und (9) bestätigt, daß die Koeffizienten der Exponenten von E in Gleichung (6) den Suszeptibilitätskoeffizienten # (n) direkt entsprechen und zu diesen beitragen.
  • Die Ausdrücke in dem Hamilton - Faktor eines Überstrukturgitterssystems, deren Exponenten von |p| größer als |p|² ist, werden daher als die einzige Quelle für die Ladungsträgerenergie identifiziert, welche zu der Nnchtlinearität zwischen der Polarisierung p und dem elektrischen Feld E beitragen.
  • Insbesondere bildet X (39 den dominierenden Faktor, der zu dem Grad der Abweichung von der Parabelform bei der Beziehung zwischen Energie und Moment beiträgt. # (3) bildet ferner den dominierenden Faktor bei der Abhängigkeit des Brechungsindex von der intensität.
  • Andere nicht-lineare optische Mechanismen, z.B. das nichtharmonische Verhalten der Grenzschichtelektronen oder Nichtlinearitäten, die dem Übergang zwischen Valenz- und Leitungsband oder der Anregungswelle zugeordnet sind, tragen ebenfalls zu dem Faktor # (3) bei. Die nicht-lineare Bewegung der freien Ladungsträger als auch die nicht-harmonische Bewegung der Grenzschichtelektronen bilden jedoch im großen und ganzen Nichtresonanz-Phänomene. Die meisten durch die Übergangswelle hervorgerufenen Phänomene sind Resonanz-Phänomene und werden durch die Neuverteilung der Elektronenbesetzung hervorgerufen. Resonanz-Phänomene sind um Größen- ordnungen kleiner als Nichtresonanz-Phänomene und liegen speziell im Sekundärbereich von 1010 bis 10-15, so daß die Beiträge der optischen nicht-linearen Nichtresonanz-Phänomene zu dem Faktor X (3) dominieren.
  • Ferner liegen die Werte, die aufgrund der nicht-harmonischen Grenzschichtelektronen zu dem Faktor X (3) beitragen,in der Größenordnung von 10-11 esu (Elektrostatische Einheiten). Der Beitrag zu dem Faktor X (3) aufgrund des nicht-parabelförmigen Leitungsbandes in den weiter unten näher spezifizierten Überstrukturgittern liegt in der Größenordnung von 10-6 bis 10-7 esu. Somit sollte in Überstrukturgittern das nicht-parabolische Leitungsband gegenüber den nicht-harmonischen Grenzschichtelektronen dominieren. Es sei vermerkt, daß der größte bekannte Beitrag zu dem FaktorX(3) durch das nicht-parabolische Leitungsband in einem Halbleitermaterial,das kein Überstrukturgitter bildet,(z.B.HgCdTe) nur in der Größenordnung von 10-7 bis 10-8 esu liegt.
  • Der Fachmann wird natürlich erkennen, daß das idealisierte Leitungsbanddiagramm gemäß den Figuren 1 und 2 weitaus einfacher gegenüber der Form von Leitungsbändern in wirklichen Halbleitermaterialien ist. Nichtsdesdoweniger bildet der Grad der Abweichung von der Parabelform den Schlüssel bei der Prüfung der Form der Leitungsbänder in irgendeinem Halbleitermaterial. Der Ort in dem k-Vektorraum, an dem die Überprüfung durchgeführt werden sollte, liegt jedoch in oder nahe dem Teil des k-Vektorraums, wo die Elektronendichte hoch ist, da der Hauptbeitrag zu dem Faktor X(3) durch die nicht-lineare Bewegung solcher Träger erfolgt.Die Elektronendichte wird natürlich durch das Produkt der Dichte bzw. des Zustandes und der Verteilungsfunktion der Ladungsträger in dem interessierenden Material festgelegt. Im allgemeinen führt dies dazu, daß die höchste Elektronendichte in der Nähe der geringsten Energie des Leitungsbandes auftritt Überstrukturgitter weisen einen größeren Beitrag zu dem Faktor # (3) aufgrund der nicht-linearen Bewegung der Ladungsträger gegenüber Halbleitermaterialien auf die keine Überstrukturgitter bilden, da die Bildung von Minizonen in der ersten Brillouin-Zone eines Halbleitermaterials zu einer größeren Abweichung von der Parabelform des Halbleiter-Leitungsbandes in diesem Teil des k-Vektorraumes,an dem die Elektronendichte hoch ist ,führt , wenn ein solches Material in ein Überstrukturgitter übergeführt wird. Wenn aus dem Halbleitermaterial kein Überstrukturgitter gebildet wird, so ist dieser Bffekt geringer. Insbesondere zeigen Überstrukturgitter, , bei denen die Schichten aus Halbleitermaterialien zusammengesetzt sind, die den Gruppen IV,II-IV,III-V und V-VI der periodischen Elemententabelle entnommen sinne eine große abweichung von der Parabelform in dem interessierenden Bereich des k-Velctorraumes.
  • Normalerweise weisen Überstrukturgitter, die aus den Halbleitermaterialien der zuvor aufgezeigten Legierungsgruppen aufgebaut sind abwechselnde Schichten von Halbleiterma-Materialien auf, die aus der gleichen Legierungsgruppe ausgewählt sind. Beispielsweise wird GaAs (ein III-V Material) normalerweise mit GaAlAs (ein weiteres iIi-V Material) kombiniert oder es wird HgTe (ein II-VI Material) mit CdTe oder HgCdTe ( beides II-IV Materialien) kombiniert.
  • Im allgemeinen geschieht diesem sicherzustellen, daß die Überstruktur-Gitterkonstanten für benachbarte Schichten sehr ähnlich sind, um Spannungen zu vermindern und gleiche chemische Verhältnisse vorzugeben. Es sei vermerkt, daß die Materialien der Gruppe IV eine Ausnahme von der vorstehend angegebenen allgemeinen Regel darstellen. In der Entwicklungsgeschichte hat sich die Anpassung von Gitterkonstanten zweier unterschiedlicher Gruppen von 1V-Materialien als sehr schwierig erwiesen und GaAs-Ge bildet eine Materialkombination für eines der wenigen gegenwärtig bekannten Uberstrukturgitter, welches Material aus der Gruppe IV verwendet.
  • In Einrichtungen, bei denen der Durchtritt oder die Reflektion des auftreffenden Lichts während des Betriebs der Einrichtung von Bedeutung ist, wird im allgemeinen der Faktor Y (3) oder das nicht-lineare Verhalten des Materials dort optimiert, wo die Energie des auftreffenden Lichtes gerade unterhalb der Bandlückenenergie des Uberstrukturgitters liegt. Bei solchen Energien liefert das auftreffende Licht das größtmögliche elektrische Feld an das Überstrukturgitter, ohne daß das auftreffende Licht in starkem Maße absorbiert wird.
  • Die Anwendung von Überstrukturgittern, welche große Suszeptibilitätskoeffizienten dritter Ordnung besitzen, in optischen Einrichtungen, führt zu überlegenen Leistungen gegenüber bekannten nicht-linearen optischen Einrichtungen.
  • Beispielsweise umfaßt die optische Schalteinrichtung 26 in Figur 3 eine Schnittstelle 28 zwischen einem linearen optischen Bereich 30 (Brechungsindex nl) und einem nichtlinearen optischen Bereich 32 ( Brechungsindex n2,ni>n2).
  • Der Bereich 32 stellt ein Uberstrukturgitter aus abwechselnden Schichten 34 und 36 dar. Diese Schrhten sind aus unterschiedlichen Halbleitermaterialien ausgewählt, um die geforderte Veränderung der Energiebandstruktur zu erzeugen und ein Uberstrukturgitter zu bilden. Die Dicke der Schichten ist so gewählt, daß eine Periode a vorgegeben wird, die geringer als die mittlere freie Weglänge der Ladungsträger ist. Wenn die Weglänge des auf die Schnittstelle 28 auftreffenden Lichtes, d.h. des Eingangsstrahles I groß im Vergleich zur Periode a ist, so stellt sich der Bereich 32 als ein Bereich mit einem komplexen Brechungsindex n2 dar. Nor- malerweise liegt die Periode a zwischen 20 und 500 Å , so daß für Licht im infrarotbereich bis zum sichtbaren Bereich nur die kürzesten Wellenlängen eine Kompensation der Differenz zwischen dem Brechungsindex der Schichten 34 und 36 erfordern Die Einrichtung 26 arbeitet als optisches System, indem sie zunächst den Lichtstrahl 1 durch den Bereich 30 hindurchläßt bevor er auf die Schnittstelle 28 unter einem Auftreffwinkel # fällt, der größer als der kritische Winkel für die Totalreflektion #c an der Schnittstelle 28 ist.
  • c c wird natürlich durch das Snellsche Gesetz vorgegeben, wobei der Brechungswinkel mit 900 gleichgesetzt wird: Der Eingangs lichtstrahl 1 wird total in den Bereich 30 zurückreflektiert , was durch den Lichtstrahl RL in Figur 3 dargestellt ist Wenn Teile des Bereiches 30 optisch an einen optischen Bus oder eine photosensitive Einrichtung angeschlossen sind , so dient aufgrund der inneren Totalreflektion des Lichtstrahles 1 an der Schnittstelle 28 die Einrichtung 26 als ein optischer Schalter, der sich im ausgeschalteten Zustand befindet Da der Brechungsindex n2 eine Funktion der Intensität des Lichtstrahles 1 ista wird gemäß Figur 4 bei einer Erhöhung der Intensität für den Lichtstrahl X der kritische Winkel für die innere Totalreflektion #c anwachsen bis bei einer bestimmten Intensität der kritische Winkel # C den Wert von 3 überschreitet t . Sodann tritt im wesentlichen ein Durchtritt des Lichtstrahles I auf, was durch den gebrochenen Strahl T in Figur 4 veranschaulicht ist Etwas von dem Lichtstrahl 1 wird weiterhin reflektiert, was durch den Lichtstrahl RL veranschaulicht ist Es liegt auf der Hand, daß die Umschaltung auf Durchlaßbetrieb eine Funktion der Einrichtung 26 als optischer Schalter ermöglicht, wobei dieser nunmehr im Einschaltzustand betrieben wird.
  • Nimmt man an, daß die Intensität des Eingangs-Lichtstrahles nur begrenzt gesteigert werden kann. So kann der Brechungsindex n2 auch nur um einen festen Betrag verändert werden. e c kann somit nur um einen begrenzten Betrag auf z.B. ct anwachsen, so daß in dem Fall, wo der Winkel8 größer als der Winkel b,L wird,die Einrichtung 26 nicht mehr von dem Aus- in den Ein-Zustand umschalten kann. Dieser Grenzfall ist in Figur 5 dargestellt.
  • In Figur 6 ist qualitativ die Intensität des Lichtstrahles T, d.h. IT über der Intensität I des Eingangs-Lichtstrahles aufgetragen. Die Kurve 38 besitzt drei interessierende Bereiche, d.h. die Bereiche 40,42 und 44. Der Bereich 40 repräsentiert den Aus-Zustand der Einrichtung 26, der Bereich 42 stellt einen Umschaltbereich dar und der Bereich 44 repräsentiert den Ein-Zustand. Der Bereich 42 besitzt eine steile Neigung aufgrund der steilen Veränderung der Durchlässigkeit bei einer Überschreitung des Winkels e Der Wert I3, der auf der Achse I in Figur 6 eingezeichnet ist, veranschaulicht die Intensität eines Steuer- bzw.
  • Pumpstrahles CB/PB in Figur 4. Ein solcher Steuerstrahl kann verwendet werden, um die Intensität des Lichtes in dem Bereich 30 auf die Kante des Ubergangsbereiches 42 z.B.
  • vorzuspannen, so daß ein geringer Zuwachs der Intensität des Lichtstrahles I die Einrichtung von dem Aus-in den Ein-Zustand umschaltet. In gleicher Weise führt eine geringe Änderung der Intensität des Lichtstrahles I zu einer großen Veränderung des Lichtstrahles IT r wenn der Strom I3 auf den Ubergangsbereich 42 in Figur 6 eingestellt wird, wodurch sich ein optischer Verstärker ergibt.
  • Figur 7 zeigt einen weiteren Grenzfall für den Betrieb der Einrichtung 26 Dort ist der Poynting'sche Vektor für I durch eine Reihe von verschachtelten Kurven 46 dargestellt.
  • Der Poynting'sche Vektor zeigt, daß unter den Bedingungen der inneren Totalreflektion die gesamte Energie des Lichtstrahles 1 in das dichtere Medium, d.h in den Bereich 30 zurückgekoppelt wird obgleich das abklingende Feld des Lichtstrahles B in das dünnere Medium, d.h. den Bereich 32 eindringen kann Wenn der Bereich 32 zu dünn ist, so kann das Feld, welches exponentiell mit der Eindringtiefe in den Bereich 32 abklingt, bis hinter die Abgrenzung des Bereiches 32 durchdringen, so daß Licht durch die Einrichtung 26 hindurchgelassen wird, 0$ obgleich diese sich in dem ausgeschalteten Zustand befindet Vorzugsweise weist der Bereich 32 wenigstens eine Dicke auf, die drei Wellenlängen des auftreffenden Lichtstrahles B entspricht, um eine hinreichende Dämpfung des abklingenden Feldes an der Grenze des Bereiches 32 sicherzustellen und einen normalen Betrieb des optischen Systems zu gewährleisten Natürlich sollte die Dicke des Bereiches 32 so gewählt werden, daß die geforderte Dämpfung des Lichtstrahles 1 bei einer speziellen Anwendung der Einrichtung 26 gewährleistet ist.
  • Figur 8 zeigt die Anwendung des erfindungsgemäßen Überstrukturgitters in einem FabryPerot-Interferometer 48.
  • Das Interferometer 48 umfaßt einen Überstrukturgitterbereich 50 und teilweise reflektierende Vorrichtungen 52 und 54 Der einfallende Lichtstrahl Ii trifft auf die erste Schicht 56 des Überstrukturgitterbereiches 50 unter einem annähernd senkrechten Winkel auf In bekannter Weise tritt eine Resonanz auf, wenn die optische Weglänge, d.h. der Brechungsindex mal der physikalischen Länge L des Resonators ein ganzzahliges Vielfaches der halben Wellenlänge des einfallenden Lichtes ist und der Betrag des zu der teilweise reflektierenden Vorrichtung 24 übertragenen Lichtes ändert'sich in einem solchen Fall wesentlich, was zu einem höheren Ausgangs-Lichtstrahl Io gegenüber dem Nicht-Resonanzzustand führt.
  • Figur 9 zeigt zwei Resonanzamplituden in Abhängigkeit von der optischen Weglänge der Vorrichtung 48 Da der Brechungsindex des Bereiches 50 eine Funktion der Intensität des einfallenden Lichtes Ii für bestimmte Eingangs-Intensitäten des Lichtes Ii ist, erfüllen zwei unterschiedliche Übertragungsintensitäten gleichzeitig die Gleichungen für die Ausgangsleistung in Abhängigkeit von der optischen Weglänge. Nimmt man an, daß diese beiden Intensitäten stabile Lösungen vorgeben, so ergibt sich eine Bistabilität.
  • Ferner kann eine Hysterese bei einer solchen Einrichtung festgestellt werden, wie dies in Figur 10 veranschaulicht ist. Bei einer Intensität 14 hängt der Wert der Ausgangsintensität von dem vorhergehenden Zustand der Vorrichtung 48 ab. In Figur 9 stellen die geneigten Linien 58,60,62,64 und 66, die sichin einem gemeinsamen Punkt 68 auf der Abszisse schneiden, unterschiedliche Eingangsintensitäten dar. Die Neigungen der Linien 58,60,62,64 und 66 sind zu der Intensität umgekehrt proportional. Die Punkte 70,72,74,76,78 und 80 in den Figuren 9 und 10 stellen in jeder Figur den gleichen Intensitätszustand bezüglich der Vorrichtung 48 dar. Eingangsintensitäten gemäß der Linie 62 in Figur 9 führen zu zwei möglichen Ausgangsintensitäten des Systems in den Punkten 72 und 78. Ob der Punkt 72 oder 78 den Arbeitspunkt der Vorrichtung 48 darstellt, hängt davon ab, ob die Vorrichtung 48 im Punkt 76 in den Zustand hoher Durchlässigkeit geschaltet war, so daß die Intensität 14 durch Verminderung der In tensität des Eingangs-Lichtstrahles erreicht wurde, oder ob die Intensität 14 durch Erhöhung der Intensität des Eingangs-Lichtstrahles erreicht wurde Eine solche bistabile Einrichtung kann selbstverständlich als optischer Speicher verwendet werden.
  • Ein optischer Differentialverstärker oder eine abstimmbare optische Einrichtung kann durch die Vorrichtung 48 vorgegeben werden, indem ein Steuer- bzw . Pumpstrahl verwendet wird Figur 8 zeigt die alternative Verwendung eines solahe Steuer- bzw.Pumpstrahles CB/PB. Die Intensität eines solchen Steuerstrahles kann beispielsweise auf den Wert I5 gemäß Figur 10 eingestellt werden, so daß geringe Anderungen bezüglich der Intensität des Eingangs-Lichtstrahles zu einer wesentlichen Änderung der Ausgangsintensität führen Figur 11 zeigt den typischen Aufbau eines phasenkonjugierten Spiegels mit der Ausnahme, daß nunmehr das Überstrukturgitter 82 als nicht-lineares optisches Medium verwendet wird In bekannter Weise wird die konjugierte Welle in einem degenerierten Vierwellen-Mischsystem durch einem nicht-linearen Polarisationsausdruck folgender Form erzeugt: P(NL)=1/2#(3)E1 E2 E*expi(#t+Kz)+c.c. (11) In dieser Gleichung entspricht E1 der Größe des elektrischen Feldes des ersten Pumpstrahles 84, E2 der Größe des elektrischen Feldes des zweiten Pumpstrahles 86, Ep* der Größe des elektrischen Feldes des komplex-konjugierten Teststrahles 88, ao der Frequenz der Pumpstrahlen und des Teststrahles, t der Zeit, Z der Richtung des Teststrahles, k dem Wellenvektor des Teststrahls und cc dem komplex-konjugierten Wert des ersten Ausdrucks Somit erzeugen nicht-lineare Medien mit großen Werten für den Faktor X(3) große konjugierte Wellen.
  • Wie zuvor erläutert, weisen Überstrukturgitter im allgemeinen einen großen Faktor X (3) aufgrund der nicht-linearen Bewegung der Ladungsträger in einem Material gegenüber einem nicht-linearen Medium auf, das aus einer Halbleiterlegierung alleine oder aus einem Halbleitermaterial mit Mehrfach-Grenzschichten besteht, welches kein Überstrukturgitter bildet.
  • Gemäß Figur 11 wird das Überstrukturgitter 82 von gegenläufigen Pumpstrahlen 84 und 86 und von einem Teststrahl 88 durchstrahlt. Wenn die Strahlen 84, 86 und 88 alle die gleiche Frequenz aufweisen, so findet eine degenerierte Vierwellen-Mischung statt,durch die derphasenkonjugierte Strahl 90 erzeugt wird. Überstrukturgitter können verwendet werden, um die Erzeugung der konjugierten Welle in einer Vierwellen-Vorwärtsmischung zu verbessern. Die gleichen Materialien für ein Oberstrukturgitter,wie sie zuvor für die Einrichtungen 26 und 48 angegeben wurden und die einen großen FaktorX (3) aufweisen, bilden auch die bevorzugten Materialien für die Bildung des Überstrukturgitters 82.
  • Durch Veränderung der Dicke der Schichten aus Halbleitermaterial für die Bereiche 32, 50 oder 80 oder durch Schalten des Überstrukturgitters kann die wirksame Leitungsband/Valenzband-Lücke des Überstrukturgitters verändert werden. Hierdurch kann eine Abstimmung der Betriebswellenlänge der Einrichtungen vorgenommen werden, die solche Überstrukturgitter aufweisen. Bei dickeren Schichten bestimmt die Bandlücke der Schicht mit der kleinsten Bandlücke die minimale Betriebswellenlänge. In einem Überstrukturgitter mit sehr dünnen Schichten nähert sich die Bandlücke des Uberstrukturgitters der Bandlücke einer Legierung,aus der die Elemente in dem Überstrukturgitter zusammengesetzt sind und diese mittlere Bandlücke begrenzt die minimale Betriebswellenlänge.
  • Ein wesentlicher Vorteil der erfindungsgemäßen Einrichtungen liegt in der Verbesserung der nicht-linearen optischen Eigenschaften der Einrichtungen,durch die man die gleiche Ausgangs intensität bei bedeutend geringerer Eingangsintensität gegenüber nicht-linearen Medien mit kleineren Suszeptibilitätskoeffizienten dritter Ordnung erhält.
  • In integrieten Schaltkreisen gestattet eine geringere Eingangsleistung mehr Funktionen auf einem Chip fester Größe bei vorgegebenem Leistungspegel unterzubringen. Durch eine geringere Eingangs leistung wird im allgemeinen die Verzögerungszeit zwischen den Komponenten bzw. den Funktionen in einem integrierten Schaltkreis vermindert, da die aktiven Bereiche mit geringeren Trennabständen untergebracht werden können.
  • weitere Vorteile gegenüber anderen nicht-linearen optischen Einrichtungen, bei denen der Faktor #(3) groß ist, aber nicht aufgrund der nicht-linearen Bewegung der Ladungsträger in dem nicht-linearen Material,sind durch die bedeutende Abnahme der dep Ansprechzeit und durch den erweiterten Spektralbereich gegeben. Ferner kann ein großer Faktor #(3) unabhängig davon vorgegeben werden, ob der nicht-lineare Mechanismus auf Resonanz- oder Nichtresonanz-Phänomenen beruht, indem die optische Einrichtung durch die Veränderung der Leitungsband/Valenzband-Lücke in der zuvor beschriebenen Weise abgestimmt wird. Im allgemeinen werden die größten Werte für #(3) erhalten, wenn die Bandlücke sehr dicht an der interessierenden Wellenlänge liegt. Sie muß jedoch größer als die interessierende Wellenlänge sein, so daß eine Transmission möglich ist. Diese Flexibilität bei der Abstimmung der optischen Einrichtungen gestattet eine Erweiterung des Betriebsbereiches von 0,5m bis ungefähr 10µm.

Claims (16)

  1. Optische Einrichtung Patentansprüche: 1. Optische Einrichtung, g e k e n n z e i c h n e t d u r c h einen Überstrukturgitterbereich (50), der in der Lage ist, ein Anwachsen der Intensität des optischen Ausgangssignales der Einrichtung bei einer Anderung des Brechungsindexes dieses Bereichs aufgrund eines Intensitätszuwachses von einem ersten auf einen zweiten Wert des auf den Bereich auftreffenden Lichts (Ii) vorzugeben (Fig.8-10).
  2. 2. Einrichtung nach Anspruch 1, d a d u r c h g e -k e n n z e i c h n e t, daß der Uberstrukturgitterbereich (50) aus Halbleitermaterial besteht, das aus den Elementgruppen IV,II-VI,III-V und IV-VI der Periodentabelle ausgewählt ist.
  3. 3. Einrichtung nach Anspruch 1, g e k e n n z e i c h -net durch eine Vorrichtung zur Beleuchtung wenigstens eines Teiles dieses Uberstrukturgitterbereiches mit einem Eingangs-Lichtstrahl (Ii), wobei die Intensität des Eingangs-Lichtstrahles verändert werden kann; und eine Vorrichtung (54) zum teilweise Reflektieren und teilweise Hindurchlasen des Lichtes, welche in der Lage ist, Licht von wenigstens einer Intensität in den Uberstrukturgitterbereich zu reflektieren.
  4. 4. Einrichtung nach Anspruch 3, g e k e n n z e i c h -n e t d u r c h eine Vorrichtung zur Beleuchtung wenigstens eines Teiles des Uberstrukturgitterbereiches mit einem Steuer lichtstrahl (CB/PB) vorgegebener Intensität.
  5. 5. Einrichtung nach Anspruch 3, d a d u r c h g e -k e n n z e i c h n e t, daß der Uberstrukturgitterbereich (50) erste und zweite gegenüberliegend angeordnete im wesentlichen optisch flache Oberflächen aufweist; daß der Eingangs-Lichtstrahl auf die erste optisch flache Oberfläche im wesentlichen senkrecht auftrifft; und daß die teilweise reflektierende und teilweise durchlässige Vorrichtung (54) wenigstens etwas von dem Eingangs-Lichtstrahl,der aus der zweiten optisch flachen Oberfläche austritt, in den Uberstrukturgitterbereich(50) reflektiert.
  6. 6. Einrichtung nach Anspruch 1, d a d u r c h g e -k e n n z e i c h ne t, daß der Suszeptibilitätskoeffizient dritter Ordnung des Uberstrukturgitterbereiches (50) wenigstens 10-7 esu für wenigstens eine Wellenlänge des Lichts entspricht.
  7. 7. Optische Einrichtung, g e k e n n z e i c h n e t durch einen optisch linearen Bereich (30) mit einem ersten Brechungsindex (n1); einen Uberstrukturgitterbereich (32) mit einer Schnittstelle(28)zu dem optisch linearen Bereich und mit einem zweiten Brechungsindex (n2), welcher zumindest bei einigen Beleuchtungszuständen des Uberstrukturgitterbereiches (32) kleiner als der erste Brechungsindex (n1) ist; und eine Vorrichtung zur Beleuchtung der Schnittstelle (28) mit Licht (I), welches zunächst den optisch linearen Bereich (30) durchläuft und wobei das Licht wenigstens für einen Intensitätswert auf die Schnittstelle (28) unter einem Winkel so auftreffen kann, daß das Licht an der Schnittstelle total reflektiert wird (Fig.3-7).
  8. 8. Einrichtung nach Anspruch 7, d a d u r c h g e -k e n n z e i c h n e t, daß wenigstens ein Teil der Begrenzung des Uberstrukturgitterbereiches (32) hinter der Schnittstelle (28) der optischen Kopplung von dort hin übertragenem Licht auf andere optische Einrichtungen dient; und daß der Überstrukturgitterbereich (32) zwischen der Schnittstelle und dem betreffenden Teil der Begrenzung wenigstens dreimal dicker als die maximale Wellenlänge des Lichtes ist, das die Schnittstelle während des Betriebs der Einrichtung beleuchtet.
  9. 9. Einrichtung nach Anspruch 7, d a d u r c h g e -k e n n z e i c h n e t, daß die ersten und zweiten Brechungsindizes (n1 und n2) Funktionen der Lichtintensität sind, so daß für wenigstens einen anfänglichen Auftreffwinkel (e) des Lichtes auf die Schnittstelle das abklingende Feld des Lichtes ausreichend ist, den zweiten Brechungsindex genügend zu ändern, so daß der kritische Winkel für die innere Totalreflektion an der Schnittstelle eine Anderung erfährt, die von einem Wert,der geringer als der Auftreffwinkel ist, bis zu einem Wert reicht, der wenigstens dem Auftreffwinkel entspricht.
  10. 10.Optische Einrichtung, g e k e n n z e i c h n e t durch ein Uberstrukturgitter (82); eine Vorrichtung zur Beleuchtung wenigstens eines Teils dieses Überstrukturgitters mit einem ersten Lichtstrahl (84); und eine Vorrichtung zur Beleuchtung wenigstens eines Teils dieses Uberstrukturgitters mit einem zweiten Lichtstrahl (86) (Fig.11).
  11. 11. Einrichtung nach Anspruch 10, g e k e n n z e i c h -n e t d u r c h eine Vorrichtung zur Beleuchtung wenigstens eines Teils des Uberstrukturgitters mit einem dritten Lichtstrahl (88).
  12. 12. Einrichtung nach Anspruch 10, d a d u r c h g e -k e n n z e i c h n e t, daß der erste Lichtstrahl (84) eine erste Frequenz aufweist und die Frequenz des zweiten Lichtstrahles (86) der Hälfte der ersten Frequenz entspricht und daß die Größe des Wellenvektors des ersten Lichtstrahles (84) der zweifachen Größe des Wellenvektors des zweiten Lichtstrahls (86) entspricht.
  13. 13. Einrichtung nach Anspruch 11, d a d u r c h g e -k e n n z e i c h n e t, daß die ersten, zweiten und dritten Lichtstrahlen (84,86,88) die gleiche Frequenz aufweisen, daß der erste und zweite Lichtstrahl (84,86) einander entgegengesetzt verlaufen und daß der dritte Lichtstrahl (88) auf das Uberstrukturgitter (82) unter einem Winkel in Bezug auf die Linie auftrifft, die durch die gegenläufigen Strahlen definiert ist.
  14. 14. Einrichtung nach Anspruch 13, d a d u r c h g e -k e n n z e i c h n e t, daß das Uberstrukturgitter (82) umfaßt: erste und abwechselnd folgende'Schichten aus einem ersten Halbleitermaterial; zweite und abwechselnd folgende Schichten aus einem zweiten Halbleitermaterial, wodurch mehrere Schnittstellen zwischen Schichten des ersten und zweiten Halbleitermaterials gebildet werden und die ersten und zweiten gegenüberliegend angeordneten Oberflächen des Überstrukturgitters parallel zu den Schnittstellen sind; und wobei erste und dritte Lichtstrahlen (84,88) auf die erste Oberfläche auftreffen und der zweite Lichtstrahl t86) auf die zweite Oberfläche auftrifft.
  15. 15.Einrichtung nach Anspruch 10, d a d u r c h g e -k e n n z e i c h n e t, daß das Uberstrukturgitter (82) Halbleitermaterialien umfaßt, die aus den Elementgruppen IV,III-V, II-VI und IV-VI der periodischen Tabelle ausgewählt sind.
  16. 16.Verfahren zur Auswahl eines nicht linearen optischen Materials mit großem Suszeptibilitätskoeffizienten dritter Ordnung aufgrund der nicht-linearen Bewegung der Ladungsträger in diesem Material, welches Material zuln Aufbau der Uberstrukturgitter in den Einrichtungen gemäß den Ansprüchen 1,7 und 10 geeignet ist, g e -kennzeichnet durch eine Prüfung der Form (12,14A,16A,18A) des Energieleitungsbandes im K-Raum des Uberstrukturmaterials bei Energien,bei denen die Elektronendichte hoch ist, und durch eine Auswahl des nicht linearen optischen Materials, bei dem die erwähnte Form wesentlich von einer Parabel abweicht.
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