DE2227324C3 - Verfahren zum Abarbeiten der Einzelelemente einer eine Vielzahl von Halbleiteranordnungen enthaltenden Halbleiterscheibe und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens - Google Patents
Verfahren zum Abarbeiten der Einzelelemente einer eine Vielzahl von Halbleiteranordnungen enthaltenden Halbleiterscheibe und Vorrichtung zur Durchführung des VerfahrensInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Abarbeiten der durch Zerteilen gewonnenen Einzelelemente einer
eine Vielzahl von Halbleiteranordnungen enthaltenden Halbleiterscheibe unter Aufrechterhaltung der vor dem
Zerteilen der Scheibe vorhandenen Ordnung der Einzelelemente, bei dem die Halbleiterscheibe auf eine
dehnbare Selbstklebe-Folie aufgebracht, danach die &o
Scheibe in Einzelelemente zerteilt und dann die Folie allseitig gleichmäßig gedehnt wird, wonach die durch
die Dehnung voneinander abgerückten Einzelelemente nacheinander von der Folie abgehoben werden.
Ein Verfahren dieser Art ist durch die DE-OS 32 371 bekanntgeworden. In dieser Vorveröffentlichung
ist kein Hinweis enthalten, wie die Bauelemente einzeln von der Folie abgearbeitet werden können.
Bei einem einen internen Stand der Technik bildenden Verfahren ist vorgesehen, daß die Halbleiterscheibe
auf eine Folie aufgeklebt und danach durch Ritzen und Brechen zerteilt wird. Da die Scheibe an der
Folie haftet, bleibt die Ordnung der Elemente auch nach dem Zerbrechen der Scheibe erbalten. Bei diesem
Verfahren wird dann der Rand der Folie an einen Zylinderring angeklebt Die einzelnen Elemente werden
mit einer Saugpinzette von der Folie abgehoben, zu einem Gehäusesockel oder Kontaktierungsstreifen
befördert und dort angelötet. Um das Ablösen der Einzelelemente von der Folie zu erleichtern, wird die
Folie von der der Halbleiterscheibe abgewandten Oberflächenseite aus mit einer Ausdrücknadel so
durchstoßen, daß die Spitze der Ausdrücknadel das Element von der Folie ablöst und in das Profil der
Saugpinzette einschiebt.
Dieses Verfahren hat den Nachteil, daß die Einzelelemente auch nach dem Zerteilen der Scheibe einander
berühren und Fehler an den Bruchkanten sowie Querrisse nicht erkannt werden. Ferner sind die
Elemente so untereinander verzahnt, daß beim Abheben der Elemente andere Elemente umgeworfen und somit
die Ordnung zerstört wird. Die Ränder der Elemente werden daher so beschädigt, daß viele Elemente nicht
mehr verwertbar sind.
Bei einem aus der DE-OS 18 13 366 bekannten Verfahren ist vorgesehen, daß nach der Dehnung der
Folie die im Abstand voneinander gehalterten HaIbleiterplättchen mit ihrer Unterseite auf einer Montageplatte
angefroren werden und danach die Unterlagen von den Halbleiterplättchen abgezogen und das
Gefriermittel wieder entfernt wird. Hierbei ist aber nicht vorgesehen, die Elemente einzel.i von der Folie
abzuarbeiten.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren der eingangs genannten Art anzugeben, mit
dem die einzelnen Bauelemente leicht abgearbeitet werden können. Diese Aufgabe wird dadurch gelöst,
daß die Folie zum Abheben der Einzelelemente von der der Halbleiterscheibe abgewandten Oberflächenseite
aus mit einer das Einzelelement abhebenden Ausdrücknadel durchstoßen und das abgelöste Einzelelement von
einer Saugpinzette übernommen wird und daß beim Abheben der Einzelelemente von der Folie die Folie
zumindest im Bereich des abzuhebenden Elementes entgegen der Abheberichtung niedergehalten wird.
Der mit dem Verfahren nach der Erfindung erreichte technische Fortschritt liegt in der Lösung der gestellten
Aufgabe.
Da die Folie bei diesem Verfahren nach dem Ablösen sämtlicher Elemente — je nach Zahl der Elemente —
eine Vielzahl von Löchern aufweist, muß ein sehr haltbares Folienmaterial verwendet werden, das an
keiner Stelle einreißt. Die Folien werden vorzugsweise mit Hilfe geeigneter Dehnkolben über einen Spannring
gezogen und danach an dem Außenrand des Spannringes im gedehnten Zustand gehaltert. Um ein Anheben
und Zurückfedern der Folien beim Ablösen eines jeden Elementes zu verhindern, wird die Folie zumindest im
Bereich des abzuhebenden Elementes entgegen der Abheberichtung so niedergehalten, daß die Folie ihre
Ausgangslage beibehält.
Die Erfindung betrifft ferner eine Vorrichtung zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens, die
dadurch gekennzeichnet ist, daß ein Spannring an seinem seitlichen Außenrand vorzugsweise eine Nut
aufweist, in die zur Halterung der gedehnten Folie ein
die Folie gegen den Spannring pressender Gummiring eingreift Der Niederhalter ist vorzugsweise so ausgebildet,
daß er die Folie beim Abheben eines E-nzelelementes
nur an den von Einzelelementen freien Stellen berührt. Hierdurch ist sichergestellt, daß durch den
Niederhalter die Elemente nicht geschädigt werden.
Die Erfindung wird anhand eines Ausführungsbeispieles näher erläutert
In der Fig.1 ist eine selbstklebende und dehnbare
Folie 1 dargestellt auf die eine Halbleiterscheibe 2 mit der Rückseite aufgeklebt wuide. Die Folie 1 muß aus
einem zähen Materiai bestehen, bei dem die Klebeschicht nicht aufreißt Solche Folien sind im Handel
erhältlich. Die Halbleiterscheibe 2 wird vorzugsweise vor dem Aufkleben entlang der die Elemente 3
begrenzenden Linien mit einem Diamanten oder mit einem Laserstrahl angeritzt Nach dem Aufkleben der
Scheibe wird diese beispielsweise dadurch \,\ Einzelelemente
zerbrochen, daß die Folie mit der Scheibe auf eine Unterlage aufgelegt und mit einer Walze in
senkrecht zueinander verlaufende Richtungen überrollt wird.
Gemäß Fig.2 wird die Folie 1 nunmehr über einen
Spannring 4 gedehnt Dieser Spannring 4 hat die Form eines Hohlzylinders mit einer an der Außenfläche
verlaufenden Nut. Mit Hilfe des in der Figur nicht dargestellten Dehnungskolbens wird die Folie beispielsweise
um 10 bis 25% gedehnt. Dabei rücken die Einzelelemente so voneinander ab, daß zwischen ihn^n
ein Abstand von etwa 100 μιτι entsteht. Die gedehnte
Folie 1 wird mit Hilfe eines in die Nut 11 eingelegten Gummiringes 5 gegen den Spannring gepreßt und damit
in der gedehnten Lage gehaltert. Vorzugsweise wird noch unter die Folie in das Ringinnere ein Papieretikett
6 geklebt daß zur Versteifung der Folie und rar Abbremsung der Ausdrücknadel 7 dient
Beim Abheben eines Elementes durchstößt die Ausdrücknadel 7 von der Folienrückseite her das
Papieretikett und die Folie, hebt das Element 3 von der Folie ab und drückt dieses Element in die als Profilnadel
ausgebildete Saugpinzette 8 ein. Die Saugpinzette befördert das Element 3 dann zu einem Trägerkörper,
der beispielsweise Teil eines Transistorgehäuses ist Um bessere Dehnungseigenschaften zu erzielen, können
manche Folien bei der Dehnung gleichzeitig erwärmt werden.
In der F i g. 3 ist der die Folie in seiner Ausgangslage haltende Niederhalter 9 dargestellt Dieser Niederhalter
berührt die Folie nur an den bereits abgearbeiteten Stellen, so daß keine guten Elemente beschädigt werden
können. Der flach oder bleistiftförmig ausgebildete Niederhalter hat an seinem Ende eine abgestufte Spitze
10, die jeweils das abzuhebende Bauelement 3 an den beiden Seitenflächen umgibt an die keine anderen
Bauelemente mehr angrenzen. Die Spitze ist vorzugsweise rechtwinklig abgestimmt und damit der Form der
Bauelemente angepaßt.
Bei der Abarbeitung der Folien können auf diesen auch unbrauchbare Elemente, die gekennzeichnet sind,
zurückgelassen werden. Eine Berührung dieser Elemente durch den Niederhalter bleibt ohne Nachteil.
Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren können alle Arten von Halbleiterbauelementen verarbeitet werden.
Dies gilt insbesondere für Plananbauelemente, wie Dioden, Transistoren oder integrierte Schaltkreise.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (6)
1. Verfahren zum Abarbeiten der durch Zerteilen gewonnenen Einzelelemente einer eine Vielzahl von
Halbleiteranordnungen enthaltenden Halbleiterscheibe unter Aufrechterhaltung der vor dem
Zerteilen der Scheibe vorhandenen Ordnung der Einzelelemente, bei dem die Halbleiterscheibe auf
eine dehnbare Selbstklebe-Folie aufgebracht, danach
die Scheibe in Einzelelemente zerteilt und dann die Folie allseitig gleichmäßig gedehnt wird, wonach
die durch die Dehnung voneinander abgerückten Einzelelemente nacheinander von der Folie abgehoben
werden, dadurch gekennzeichnet, daß die Folie zum Abheben der Einzelelemente von der
der Halbleiterscheibe abgewandten Oberflächenseite aus mit einer das Einzelelement abhebenden
Ausdrücknadei durchstoßen und das abgelöste Einzelelement von einer Saugpinzette übernommen
wird und daß beim Abheben der Einzelelemente von der Folie die Folie zumindest im Bereich des
abzuhebenden Elementes entgegen der Abheberichtung niedergehalten wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Folie über einen Spannring gedehnt wird und daß nach der Dehnung die Folie
am Außenrand des Spannringes im gedehnten Zustand gehaitert wird.
3. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens ^o
nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Spannring (4) am seitlichen Außenrand mit einer Nut
(11) versehen ist, in die zur Halterung der gedehnten
Folie ein die Folie (1) gegen den Spannring pressender Gummiring (5) eingreift.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß ein Niederhalter (?) vorgesehen ist, der
die Folie (1) beim Abheben eines Einzelelementes nur an den von Einzelelementen (3) bereits freien
Stellen berührt. to
5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Niederhalter (9) an seinem Ende
eine abgestufte Spitze (10) aufweist, die das abzuhebende Bauelement an den beiden Seitenflächen
umgibt, an die keine anderen Bauelemente « mehr angrenzen.
6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Niederhalter (9) an seiner Spitze
rechtwinklig abgestuft ist.
50
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
DE19722227324 DE2227324C3 (de) | 1972-06-05 | 1972-06-05 | Verfahren zum Abarbeiten der Einzelelemente einer eine Vielzahl von Halbleiteranordnungen enthaltenden Halbleiterscheibe und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
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Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2227324A1 DE2227324A1 (de) | 1973-12-20 |
DE2227324B2 DE2227324B2 (de) | 1976-10-07 |
DE2227324C3 true DE2227324C3 (de) | 1980-08-14 |
Family
ID=5846871
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19722227324 Expired DE2227324C3 (de) | 1972-06-05 | 1972-06-05 | Verfahren zum Abarbeiten der Einzelelemente einer eine Vielzahl von Halbleiteranordnungen enthaltenden Halbleiterscheibe und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE2227324C3 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3137301A1 (de) * | 1981-09-18 | 1983-04-14 | Presco Inc., Beverly Hills, Calif. | "verfahren und vorrichtung zur handhabung kleiner teile in der fertigung" |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4845335A (en) * | 1988-01-28 | 1989-07-04 | Microelectronics And Computer Technology Corporation | Laser Bonding apparatus and method |
-
1972
- 1972-06-05 DE DE19722227324 patent/DE2227324C3/de not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3137301A1 (de) * | 1981-09-18 | 1983-04-14 | Presco Inc., Beverly Hills, Calif. | "verfahren und vorrichtung zur handhabung kleiner teile in der fertigung" |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2227324B2 (de) | 1976-10-07 |
DE2227324A1 (de) | 1973-12-20 |
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