DE2215467C2 - Elektrisch steuerbares Halbleiterbauelement und Schaltung mit einem solchen Halbleiterbauelement - Google Patents
Elektrisch steuerbares Halbleiterbauelement und Schaltung mit einem solchen HalbleiterbauelementInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein elektrisch steuerbares Halbleiterbauelement der im Oberbegriff
des Patentanspruches 1 genannten Gattung.
Ein derartiges Halbleiterbauelement ist bereits bekannt (DE-OS 15 89 739, DE-AS 14 64 874). Im
Gegensatz zu sogenannten »klassischen« elektronischen Halbleiterbauelementen, wie Transistoren und
Dioden, die vornehmlich aus kristallinen Halbleitermaterialien, wie Germanium, Silizium u. dgl., bestehen,
zeichnen sich Halbleiterbauelemente unter Verwendung von im wesentlichen amorphem Halbleitermaterial
der gattungsmäßig bekannten Art durch eine Reihe von Vorteilen aus. So ist beispielsweise die Herstellung
weniger kritisch, da nicht aus hochreinem Ausgangsmaterial ausgegangen werden muß, das — wie bei den
genannten klassischen Halbleiterbauelementen — auf ganz spezielle Weise dotiert werden muß. Solche
Dotierungen mit Verunreinigungen sollen die Gesamtheit der freien Ladungsträger im Halbleitermaterial
vergrößern, um mehr freie Elektronen oder — alternativ — sogenannte »Löcher«, d.h. Mängel von
Valenz-Elektronen, zu produzieren.
Bei obengenannten bekannten Halbleiterbauelementen steht eine Steuerelektrode in engen Kontakt,
insbesondere auch flächigen Kontakt, mit dem amorphen Halbleiterkörper. Dabei befindet sich die als
Steuerorgan dienende Steuerelektrode elektrisch im Stromkreis mit dem im Halbleiterkörper sich ausbildenden
Hauptstrompfad.
Darüber hinaus ist es bekannt (DE-AS 14 64 880), eine Matrix unter Verwendung von in einer Richtung
verlaufenden parallelen Elektrodenstreifen und in einer quer unter 90° dazu verlaufenden Reihe weiterer
Elektrodenstreifen und unter Zwischenschalten eines Halbleiterkörpers aus amorphem Halbleitermaterial,
das, wie bei den obengenannten bekannten Halbleiterbauelementen; zwischen zwei Zuständen hoher und
niedriger Leitfähigkeit schaltbar ist, zwischen beiden Streifenschichten herzustellen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Halbleiterbauelement der eingangs genannten Gattung
dahingehend zu verbessern, daß es eine größere Vielfalt von Anwendungsmöglichkeiten bietet; es soll einfach
und schnell viele Steuerfunktionen ermöglichen.
Die Aufgabe wird durch die im Patentanspruch 1 gekennzeichneten Merkmale gelöst In den Unteransprüchen
sind weitere Ausbildungen und Verbesserungen beansprucht
Unter »heißen« Elektronen werden Elektronen verstanden, die sich in einem energetischen Zustand
befinden, der sich außerhalb des Eaergiegleichgewichts im amorphen Halbleiterkörper befindet Solche heißen
Elektronen sind mit verhältnismäßig geringem Leistungsaufwand steuerbar in den Halbleiterkörper
injizierbar, wodurch die elektrische Leitfähigkeit des Halbleitermaterials steuerbar ist Demgemäß wird ein
drei- oder mehrpoliges elektrisch steuerbares Halbleiterbauelement geschaffen, das in der Lage ist, einfach
und schnell viele Steuerfunktionen durchzuführen, wie im folgenden noch beschrieben wird.
Der Halbleiterkörper kann aus verschiedenen amorphen Halbleitermaterialien hergestellt werden, wie sie
z.B. in der DE-AS 14 64 574 beschrieben sind. Unter diesen Materialien sind solche nachfolgend als Schwellwertmaterialien
bezeichnete, bei denen ein rascher Wechsel der Leitfähigkeit bei einem speziellen Wert der
angelegten Spannung, des angelegten Feldes, der angelegten Temperatur, des angelegten Strahlungsniveaus
oder dergl. auftritt. Solche Materialien weisen Zusammensetzungen aus
a) 25 Atomprozent Arsen und 75% einer Mischung aus 90% Tellur und 10% Germanium
b) 40% Tellur, 35% Arsen, 18% Silicium, 6,/5% Germanium und 0,25% Indium und
c) 28% Tellur, 34,5% Arsen, 15,5Yo Germaniuni und 22% Schwefel
auf. Unter diesen Materialien sind auch solche, die eine Speicherwirkung haben. Bei ihnen tritt eine rasche
Änderung der Leitfähigkeit bei einem Schwellwert der angelegten Spannung — wie oben beschrieben — auf
und die Änderung der Leitfähigkeit wird von einem inneren Übergang aus dem amorphen Zustand in den
stärker geordneten inneren Zustand begleitet; der letztgenannte Zustand bleibt nach der Wegnahme der
ungelegten Spannung bestehen. Solche Speichermaterialien können reversibel durch einen Stromimpuls in
den Originalzustand geschaltet werden. Die Schwellwertmaterialien erfordern einen »Haltestrom« eines
gewissen Minimalwertes, nach dem der Übergang in den Zustand guter Leitfähigkeit stattgefunden hat, um in
diesem Zustand zu verbleiben, wogegen dies bei den Speichermaterialien nicht erforderlich ist. Beispiele für
Speichermaterialzusammensetzungen sind
a) 15 Atomprozent Germanium, 81% Tellur, 2% Antimon und 2% Schwefel und
b) 83% Tellur und 17% Germanium.
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Es können auch amorphe Halbleitermaterialien, die weder Schwellenwert- noch Speichereigenschaften
aufweisen, verwendet werden. Beispiele solcher Materialien sind Arsentrisulfid und Arsentrisolenid. Darüber
hinaus können Materialien, die die Schwellenwert- oder Speichereigenschaften aufweisen, ncihtsdestoweniger
innerhalb Bereichen betrieben werden, in denen jene Eigenschaften nicht auftreten.
Der Halbleiterkörper kann auch aus dem in der US-PS 34 61 296 bzw. DE-OS 14 88 834 beschriebenen
amorphen Halbleitermaterialien bestehen, die durch elektromagnetische Strahlung verschiedener Wellenlängen
bzw. Wärme schaltbar sind.
Die Halbleiterbauelemente nach der Erfindung können auf eine Fülle von Wegen und eine Vielzahl von
Anwendungen betrieben werden, um auf eine, zwei oder mehrere verschiedene Energie-, oder Nachrichtenquellen
anzusprechen und dadurch logische Verknüpfungen zu bilden.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden anhand der Zeichnung erläutert Darin zeigt
F i g. 1 einen Teilschnitt ein Bauelement nach einem Ausführungsbeispiel der Erfindung;
Fig.2 eine Darstellung des Kollektorstroms in Abhängigkeit von der Kollektorspannung des Bauelements
von F i g. 1;
F i g. 3 ein schematisches Schaltbild eines Verstärkerkreises, der das Bauelement von F i g. 1 verwendet;
F i g. 4 eine Kurve der Verstärkungseigenschaften des Verstärkerkreises von F i g. 3;
F i g. 5 einen Teilschnitt eines Bauelements, das eine strukturelle Modifikation in Bezug zum Bauelement von
F i g. 1 verkörpert;
F i g. 6 eine perspektivische Ansicht eines repräsentativen Teils eines zweidimensionalen Feldes von
Bauelementen;
F i g. 7 ein Schaltbild eines bidirektionalen Stromkreises;
Fig.8 ein Schaltbild mit einem impulsgesteuerten
Bauelement und
Fig.9 eine Kennlinie des Bauelements in der
Schaltung von F i g. 8.
In F i g. 1 ist ein elektronisch steuerbares Halbleiterbauelement 10 dargestellt, das einen Film 12 aus
amorphem Halbleitermaterial aufweist, das eine Leitfähigkeits-Schwellwert-Charakteristik
besitzt — wie noch im folgenden beschrieben wird —, der zwischen die
niedergeschlagenen Elektroden 14 und 16 eingefügt ist. Die Elektroden 14 und 16 sind im wesentlichen parallel
zueinander und schließen zwischen sich im wesentlichen die Gesamtmasse des amorphen Films 12 ein. Obwohl
Aluminium ein bevorzugtes Material sein kann, aus dem die Elektroden 14 und 16 hergestellt werden können,
sind auch andere Materialien, die eine gute Leitfähigkeit und eine relativ große mittlere freie Weglänge
gegenüber heißen Elektronen aufweisen, wie Molybdän, ebenfalls verwendbar; die Forderung großer mittlerer
freier Weglänge bezieht sich nur auf die Elektrode 16. Die Dicke der Elektrode 16 beträgt etwa 7,5 bis 20 nm,
wogegen die Dicke des amorphen Films 12 sich in der Größenordnung vom Hundertfachen dieser Abmessung
befinden kann.
Die Elektroden 14 und 16 bilden einen Hauptstrompfade durch den amorphen Film 12; dieser Pfad kann
zwischen einem Zustand hohen Widerstands und einem Zustand hoher Leitfähigkeit umgeschaltet werden. An
der Elektrode 14 ist ein Anschluß 18 befestigt, der zum Zwecke der Veranschaulichung des Betriebs des
Bauelements 10 an eine positive Spannungsquelle angeschlossen ist und als Kollektor des Bauelements 10
bezeichnet wird. Die Elektrode 16 ist derart hergestellt, daß sie sich seitlich bis über die Grenzen des Films 12
erstreckt, um die Verbindung mit einem Anschluß 20 zu ermöglichen, der im folgenden als Emitter bezeichnet
wird. Dieser Anschluß 20 und die Elektrode 16 sind daher an einen Punkt 22 eines Bezugspotentials
angeschlossen, so daß der Stromfluß durch den Film 12 von der Kollektorelektrode zur Emitterelektrode
verläuft.
Das Bauelement 10 weist ferner eine Einrichtung zum
Injizieren heißer Elektronen in den amorphen Film 12 auf. In Fig. 1 ist diese elektroneninjizierende Einrichtung
in der Form einer Kaltkathodendiode ausgebildet, die einen Film 24 aus Aluminium aufweist, der auf einer
isolierenden Unterlage 26 niedergeschlagen ist. Zwisehen dem Aluminiumfilm 24 und der Hauptelektrode
16 befindet sich ein dünner Film 28 aus isolierendem Material, wie Aluminiumoxyd. Der Aluminiumfilm 24 ist
mit Hilfe eines Anschlusses 30 an eine negative Spannungsquelle angeschlossen und wird im folgenden
als Steuerelektrode des Bauelements 10 bezeichnet. Der Ausdruck »Film« ist im übrigen auch im Sinne von
»Schicht« zu verstehen.
Bei Anschluß des Kollektors 14, Emitters 16 und der Steuerelektrode 24 des Bauelements 10 an die in F i g. 1
gezeigten Potentiale wird an die Kaltkathodendiode, die den AluminiüiTifi'rn 24 und den Isolierfilm 28 aufweist,
ein Feld angelegt, um die Beschleunigung von Elektroden aus dem Aluminiumfilm 24 zu bewirken, der
als Elektronenquellenmaterial in Richtung zur Emitterelektrode 16 wirkt. Da die isolierende Schicht 28 dünn
ist und in der Größenordnung von 7,5 bis 20 nm dick ist, durchquert ein gewisser Prozentanteil der Elektronen,
die von der Aluminiumschicht 24 emittiert sind, die isolierende Schicht 28 und tritt durch die dünne
Elektrode 16 hindurch in den Film 12 aus amorphem Material ein. Die Elektronen, die in den amorphen Film
12 eintreten, sind heiße Elektronen; das bedeutet, daß sie in einem energetischen Zustand vorhanden sind, der
sich außerhalb des Energiegleichgewichts des amorphen Films 12 befindet. Die Injektion dieser heißen
Elektronen in den amorphen Film 12 vergrößert die Gesamtheit der Ladungsträger bedeutend und führt zu
einer markanten Vergrößerung der Leitfähigkeit des amorphen Films 12 zwischen den Hauptelektrode 14
und 16. Dieser Effekt klingt ab, wenn das negative S'.euerpotential abgeschaltet wird; die Geschwindigkeit
des Abklingens ist temperaturabhängig. Im Rahmen der hier gegebenen Erläuterung kann das Bauelement 10
von Fig. 1 eine ANALOG-Einrichtung, eine Schwellenwerteinnchtung.
eine Speichereinrichtung oder eine Einrichtung sein, die eine Kombination solcher Charakteristika
aufweist, und zwar abhängig von der Materialauswahl für den Film 12.
F i g 2 zeigt die typische Strom-Spannungs-Kennlinie des Bauelements 10 von Fig. 1. bei dem der amorphe
Fiim !2 aus einem Schwellenwertmaterial, wie oben
beschrieben, hergestellt ist. Zu F i g. 2 sei bemerkt, daß bei Anlegen eines Potentials an bzw. über den
amorphen Film 12 sich der Strom längs der Kurve 32 vergrößert, bis eine Schwellenspannung überschritten
is;; zu dieser Zeit findet das Umschalten statt, und iaPidCu ΓπΓΓιϊΤΐί uef jirOrTi läflgS uep i^iPiiC 34 ZU. l-mC
Kurve von F i g. 2 zeigt die symmetrische Beschaffenp.eit
der Strom-Spannungs-Kennlinie des amorphen .-ilms 12 mit Steuervorspannung null. Der auf der
Ordinate von F i g. 2 dargestellte Strom ist der Strom zwischen den Elektroden 14 und 16 des Bauelements 10.
Wenn das Bauelement 10 von Fig. 1 als dreipoliges Bauelement durch Anschließen der Steuerelektrode 24
an eine negative Spannungsquelle betrieben wird, um dadurch heiße Elektronen in das amorphe Material 12
zu injizieren, wird die Strom-Spannungs-Kennlinie von F i g. 2 asymmetrisch, d. h. abhängig von der Größe der
Steuervorspannung; der Schwellenwertspunkt zwischen den Kurventeilen 32 und 34 tritt bei einem in einer
Richtung geringeren Wert der Kollektorspannung als in der anderen auf. Durch die Steuervorspannung wird
auch die die in Fig. 2 gezeigte Kennlinie geändert. Wenn die Vorspannung stärker negativ gemacht wird,
nimmt der Kollektorstrom infolge der zunehmenden Injektion von heißen Elektronen zu. Der Strom Ic für
eine positive Spannung Vc nimmt daher zu, und die Schaltschwelle für positive Spannung Vc nimmt ab,
wohingegen die Größe von /csich vermindert und der Schwellenpegel für negative Spannung Vc zunimmt. Im
Schwellenwertmaterial verbleibt der Zustand guter Leitfähigkeit durch einen Haltestrom, der ausreicht, um
einen Übergang in den Zustand geringer Leitfähigkeit zu verhindern. Der Elektroneninjektionsprozeß neigt
dazu, den Strom Ic zu vermindern, der erforderlich ist, um den Halteeffekt für positive Kollektorspannungen
herzustellen. Umgekehrt vergrößert die Elektroneninjektion den Haltestrom für negative Kollektorspannungcn.
Eine positive S'.euervorspannung Vg injiziert keine
Elektronen und ist elektronisch äquivalent dem Wert VB = 0.
Bei der Herstellung des Bauelements 10 von Fig. 1 wurde gefunden, daß es vorteilhaft ist, Ladungsträger
sperren oder, genauer, Sperrkontakteffekte zwischen den amorphen Film 112 und die benachbarten Elektroden
14 und 16 einzuführen. Die »Sperre« zwischen der Elektrode 16 und dem Film 12 wirkt für Elektroden
geringer Energie, die die Elektrode 16 durchqueren und einen anderen Stromfluß im Film 12 herstellen könnten,
als der der durch die Ladungsträgerinjektion, wie vorher beschrieben, erzeugt wird. Die Sperre zwischen
der Elektrode 14 und dem Film 12 hemmt den Fluß von Löchern über die Elektroden 14, was zu einem Strom
führt, der nicht durch den Injektionsvorgang bewirkt wird.
Die Sperren neigen dazu, den effektiven Widerstand des Films 12 zu vergrößern und den Stromfluß-Steuereffekt
der Ladungsträgerinjektion von dem Aluminiumfilm 24 zu steigern. Die Einführung der Sperre kann den
Widerstand des Films 12 beispielsweise von WOhm
auf 5 ■ 106Ohm ohne Strominjektion und bei Zimmertemperatur
vergrößern.
Solche Sperren können u. a. lediglich durch Luftaltern der Elektrode 16 vor dem Niederschlagen des Films 12
und entsprechenden Luftaiterns des Films 12 vor dem Niederschlagen der Elektrode 14 verwirklicht werden.
Die Sperren können alternativ auch durch Zugabe von Luft, Wasserdampf, Stickstoff oder anderem Gas in eine
evakuierte Zerstäubungskammer während des Niederschlags der Schichten des Bauelements 10 erzeugt
werden. Genauer gesagt, findet der Eintritt der Fremdsubstanz während der letzten paar Sekunden des
Niederschiagens der Elektrode 16 statt, um die Elektronensperre zu bilden, und wiederum während der
letzten "Sür Sekunder, des Niederschl^^ens des Films
12, um die Löchersperre zu bilden.
Das schematische Diagramm von F i g. 3 veranschaulicht die Wirkung des Bauelements 10 als Verstärker,
der entweder im Steuerbereich oder im Schaltbereich arbeiten kann; der Steuerbereich ist der Kurventeil der
Ic- Vc-Charakteristik innerhalb des Schwellenwerts
eines Schaltmaterials. Gemäß Fig.3 ist die Kollektorelektrode 14 des Bauelements 10 über einen Lastwiderstand
36 an eine positive Speisung und die Elektrode 16 an einen Punkt des als Masse 22 gezeigten Bezugspotentials
gelegt. Die Steuerelektrode 24 ist über eine Wechselspannungsquelle 38 und eine negativ vorgespannte
Steuerspannungsquelle 40, wie dargestellt, an den Massepunkt 22 gelegt Demgemäß spannt die
Steuervorspannung — Vg die Kaltkathodendiode in
solcher Weise vor, daß eine Injektion heißer Elektronen in den amorphen Film 12 stattfindet, jedoch mit einem
solchen Pegel, daß der amorphe Film 12 in dem durch die Kurve in F i g. 4 veranschaulichten Bereich verbleibt.
Die Wechselspannungsquelle 38 kann dadurch einen Stromverslärkungseffekt erzeugen, der in F i g. 4 dargestellt
ist, in der die Amplitude der Spannung an der Steuerelektrode mit dem Logarithmus der Amplitude
des Kollektorstroms bei einer konstanten Kollektorspannung verglichen ist. Bei diesem Betriebsmodus
überschreitet der Schaltschwellenwert des Bauelements 10 den Teil 42 der dargestellten Kurve nicht. Wenn der
injizierte Strom wirksam ist, um den Schaltschwellenwert auf einen Wert von Vc unter den im Stromkreis
von F i g. 3 realisierten zu vermindern, wird der Betrieb des Bauelements rasch auf den Teil 44 der dargestellten
Kurve umgeschaltet, der die plötzliche Zunahme des Kollektorstroms zeigt. Wie nunmehr ersichtlich ist,
können alle Schwellwert- und Speichermaterialien, die unter dem Schwellenwert arbeiten, sowie nicht-schaltende
Materialien, wie jene oben als Beispiele genannten, verwendet werden, um die durch den Teil 42
der Kurve von Fig.4 angegebene Charakteristik zu erzeugen.
Fig. 5 zeigt einen alternativen Aufbau des Bauelements
10', bei der die Hauptelektrode 16 mit einer zentralen Öffnung ausgebildet ist, um einen kleinen
Bereich des amorphen Films 12 mit der Aluminiumoxyd-Isolierschicht
28 in Verbindung zu bringen. Im Bereich der Öffnung ist die Dichte der injizierten Ladungsträger
sehr groß. Dies bewirkt, daß der Schaltübergang von nicht-leitendem zu leitendem Zustand beschleunigt
wird. Das Bauelement 10' von Fig. 5 ist sonst gleich dem Bauelement 10 von Fig. 1 und gleiche Komponenten
sind mit gleichen Bezugszeichen versehen.
Fig. 6 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel, bei
dem ein Gitter zweidimensionalen Charakters dadurch gebildet ist, daß die Aluminiumsteuerelektrodenschicht
46 in der Form eines langgestreckten Streifens sich in A"-Richtung hinzieht und sich die Emitter-Elektrode 48
in Form eines langgestreckten Streifens in Y- Richtung erstreckt. Die Aluminiumoxyd-Schicht 50 ist zwischen
die Streifen 46 und 48 eingefügt und ein amorpher Film 52 ist oberhalb des Aluminiumoxydfilms 50 jedoch an
der Oberseite des Streifens 48 angeordnet. Das Bauelement ist durch Anordnung einer oberen Elektrode
54 vervollständigt, die als Kollektor dient, wie in Fig. 6 angegeben, !n Fig.6 ist eine Vielzahl von
Streifen 46,46' und 48,48' in Abständen voneinander in
zweidimensionaler Anordnung aufgebaut, d. h. daß eine
Mehrzahl von Streifen 48 parallel zueinander in einer Ebene und eine Mehrzahl von Streifen 46 parallel
zueinander in einer anderen Ebene angeordnet sind. Jede Schichtenfolge 50, 52 und 54 hat die oben
beschriebenen Schalteigenschaften. Auf diese Weise kann ein Auswahlverfahren nach dem Koinzidenzverfahren
erzielt werden.
Gemäß F i g. 7 dient der gezeigte Stromkreis zum symmetrischen, bidirektionalen Stromsteuern zwischen
den Anschlüssen 60 und 62. Beim Stromkreis von F i g. 7 μ
sind Bauelemente 64 und 66 des in F i g. 1 gezeigten Types derart in Gegentakt geschaltet, daß der
Stromfluß vom Anschluß 60 zum Anschluß 62 durch das Bauelement 64 fließt, während der Stromfluß in
entgegengesetzter Richtung durch das Bauelement 66 fließt Das Bauelement 64 wird bezüglich seiner
Leitfähigkeit durch einen Schalter 68 gesteuert, der zwischen der Steuerelektrode 69 und die in Reihe
geschaltete negative Spannungsquelle 70 angeschlossen ist. Wenn der Schalter 68 geschlossen ist, erfährt daher
das Bauelement 64 einen Übergang aus dem Zustand geringer Leitfähigkeit in den Zustand großer Leitfähigkeit.
Bei dem Bauelement 66 ist die Steuerelektrode 72 entsprechend über den Schalter 76 an eine negative
Quelle 74 angeschlossen. Wenn der Schalter 76 geschlossen ist, schaltet das Bauelement 66 in den
Zustand großer Leitfähigkeit um.
Es versteht sich, daß die Schalter 68 und 76 lediglich repräsentativ für die verschiedenen Festkörper-Elektroniken
sind, die zu Steuerzwecken verwendet werden können. So kann z. B. ein regelbarer astabiler Multivibrator
zur Steuerung der Schaltzeiten der Bauelemente 64 und 66 entweder in Phase oder außer Phase mit einer
an die Anschlüsse 60 und 62 angelegten Wechselspannung sein, um dadurch eine Phasenmodulation ähnlich
derjenigen zu erzielen, die üblicherweise bei Benutzung von Thyratrons erreicht wird. Die Wirkung kann - falls
erwünscht — mit einem geeigneten Glättungsfilter bzw. einer geeigneten Siebschaltung vergrößert werden.
Schließlich können die Schalter 68 und 76 repräsentativ für Fotozellen,Thermistoren und andere zustandsabhängige
Einrichtungen sein. Bei dieser und anderen Anwendungen können Gleichspannungen benutzt werden,
indem nur eines der Bauelemente 64 oder 66 zur Anwendung gelangt.
Anhand der Fig.8 und 9 wird das lmpulseingangs-Ansprechen
des Bauelements 10 von F i g. 1 beschrieben.
Bei der vorhergehenden Erläuterung wurde angenommen, daß die Kollektorspannung, die an das
Bauelement 10 angelegt ist, konstant ist, daß die Leitfähigkeit des Bauelements 10 durch den Hauptweg
zwischen den Elektroden 14 und 16 durch Ändern der an die Steuerelektrode 24 angelegten Spannung verändert
wird. Die F i g. 8 und 9 veranschaulichen eine Variable, die sich durch Anlegen von Koüektorspannungsimpulsen
an das Bauelement 10 von einer Impulsquelle 78 ergibt, die über den Lastwiderstand 77 an die
Kollektorelektrode 14 angeschlossen ist. Der Betrieb wird veranschaulicht und beschrieben unter verschiedenen
Steuerspannungen, die durch den Schalter 79 gesteuert werden. Als Material für das Bauelement 10
wird ein Schwellenwertmaterial angenommen.
In F i g. 9 entspricht die Abszisse der Zeit ι während die Ordinate der Spannung Vce am Kollektor 14 in
bezug zur Masse, d. h. den Spannungsabfall zwischen den Elektroden 14 und 16 angibt. Wenn die Steuervorspannung
null ist, tritt bei Anlegen eines positiven Spannungsimpulses an den Kollektor 14, der einen
durch den Teil 80 der positven Kurve von F i g. 9 veranschaulichten steilen Anstieg hat, eine Verzögerung
D\ auf, ehe der Übergang in den Zustand geringer Leitfähigkeit in dem Bauelement 10 stattfindet. Der
Übergang führt dazu, daß die Kollektorspannung schnell dem Teil 82 der Kurve folgt; der Zustand großer
Leitfähigkeit wird durch den unteren Kurventeil 84 veranschaulicht Das Ende der Spannungskurve am
Punkt 86 tritt bei Abschalten der Kollektorspannung auf.
Mit einer an die Steuerelektrode 24 angelegten negativen Spannung bewirkt das Injizieren von
Elektronen in den Körper 12, daß der Übergang in kürzerer Zeit — wie durch die Verzögerungszeit Lh
angegeben — erfolgt Bei dem dargestellten Vergleich werden gleiche Kollektorspannungen in beiden Fällen
von Vb — 0 und negativen Vb angenommen. Infolgedes-
sen erlaubt die impulsabhängige Zeitmodulation, die sich in das Bauelement 10 bei Änderung der
Steuervorspannung ergibt, eine Pulsbreitenmodulation. Die negative Kurve 88 von Fig.9 wird bei Anlegen
eines negativen Kollektorspannungsimpulses erzielt und veranschaulicht die Übergangszeit Ch, die in
10
Verbindung mit der Steuervorspannung null (oder positiv) auftritt, im Vergleich mit der Übergangszeit Da,
die in Verbindung mit einer negativen Steuervorspannung zustande kommt. Der Unterschied zwischen D\
und Di wird als etwas größer als der Unterschied
zwischen Dj und Di, angenommen.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (14)
1. Elektrisch steuerbares Halbleiterbauelement mit einem Halbleiterkörper aus im wesentlichen
amorphem Halbleitermaterial und mit mit dem Halbleiterkörper flächig in Verbindung stehenden
Steuerorganen zum Steuern der Leitfähigkeit eines im Halbleiterkörper verlaufenden Hauptleitungspfads, dadurch gekennzeichnet, daß die
Steuerorgane Einrichtungen (24, 28; 46, 50; 69, 72) zum Injizieren heißer Elektronen in den Halbleiterkörper
(12; 52) sind.
2. Halbleiterbauelement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die als Steuerorgan
dienende Einrichtung eine Kaltkathodendiode ist, die eine elektrisch leitfähige Schicht (24,46; 69, 72)
und eine nicht-leitfähige Schicht (28; 50) aufweist, die in Kontakt aneinander liegen, und daß eine
Einrichtung (30; 68, 76) zum Anlegen eines elektronenbeschleunigenden Feldes an die elektrisch
leitfähige Schicht (24; 46; 69,72) vorhanden ist
3. Halbleiterbauelement nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß mit dem Halbleiterkörper
(12; 52) ein Paar im Abstand voneinander befindlicher Hauptelektroden (14, 16; 48, 54)
verbunden sind und daß die als Steuerorgan dienende Einrichtung über eine Hauptelektrode (16;
48) mit dem Halbleiterkörper (12; 52) in Verbindung steht.
4. Halbleiterbauelement nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens eine der
Grenzflächen zwischen dem Halbleiterkörper (12; 52) und den Hauptelektroden (14, 16; 48, 54>derart
ausgebildet ist, daß sie eint Sperre für niederenergetische Ladungsträger bildet.
5. Halbleiterbauelement nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß für
den Halbleiterkörper (12; 52) ein amorphes Material verwendet ist, das Zustände guter und schlechter
Leitfähigkeit aufweist, zwischen denen das Material 4"
abrupt schaltbar ist.
6. Halbleiterbauelement nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Zustände guter und
schlechter Leitfähigkeit des amorphen Materials entsprechenden relativ geordneten und relativ
amorphen inneren Zuständen entsprechen, die auf Dauer im Material verbleiben können.
7. Halbleiterbauelement nach einem der Ansprüche 2 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die
elektrisch leitfähige Schicht (24; 46) eine metallische ist und sich die nicht-leitfähige Schicht (28; 50) in
Kontakt mit einer Hauptelektrode (16; 48) befindet.
8. Halbleiterbauelement nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die nicht-leitfähige
Schicht (28) aus Aluminiumoxyd besteht.
9. Halbleiterbauelement nach einem der Ansprüche 2 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die
Schichtdicke der nicht-leitenden Schicht (28; 50) zwischen 7,5 und 25 nm beträgt.
10. Halbleiterbauelement nach einem der Ansprüehe
7 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß die zwischen dem Halbleiterkörper (12; 52) und der
nicht-leitfähigen Schicht (28; 50) angeordnete Hauptelektrode (16; 48) aus Molybdän besteht.
11. Halbleiterbauelement nach einem der Ansprüehe
7 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß diejenige Hauptelektrode (16; 48), die sich zwischen dem
Halbleiterkörper (12; 52) und der nicht-leitfähigen Schicht (28; 50) befindet eine Schichtdicke zwischen
7,5 und 20 nm aufweist
12. Halbleiterbauelement nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß
eine Hauptelektrode (1β() mindestens eine darin ausgeformte Öffnung aufweist (F i g. 5).
13. Schaltung mit einem Halbleiterbauelement nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet daß in Reihe mit den Hauptelektroden (i4, 16) eine elektrische Last (77)
geschaltet ist und eine Einrichtung (68, 76; 79) zum Anschließen einer Steuersignalquelle (70, 74; 40)
zum selektiven Betätigen der elektroneninjizierenden Einrichtung (69,72; 24) vorgesehen ist
14. Schaltung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet,
daß zwei Halbleiterbauelemente (64, 66) über ihre Hauptelektroden im Gegentakt verbunden
sind und daß bei beiden Halbleiterbauelementen (64, 66) Einrichtungen zum Anschließen einer Steuersignalquelle
(70, 74) an die elektroneninjizierende Einrichtung (69,72) vorgesehen sind (F i g. 9).
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