DE2055606A1 - Dünnschicht Einkristall Bauelement mit Tunneleffekt - Google Patents
Dünnschicht Einkristall Bauelement mit TunneleffektInfo
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Description
11. November 1970 Dr.Schie/E
Docket YO 969 039
U.S. Serial ITo. 875 615
Anmelderin: International Business Machines Corporation, Armonk, New Xork 10504 (7.St.A.)
Vertreter: Patentanwalt Dr.-Ing. Rudolf Schiering, 703 Böblingen/Württ., Westerwaldweg 4
Dünnschicht-Einkristall-Bauelement mit Tunneleffekt
Die Erfindung bezieht sich auf tunnelnde Vorrichtungen und insbesondere auf tunnelnde Vorrichtungen, bei denen
Einzelkristallelektroden durch eine tunnelnde Sperrschicht getrennt sind.
Es sind bereits tunnelnde Dünnschichtbauelemente bekanntgeworden und eingehend, zum Beispiel von J. Matisoo in der
Zeitschrift Proceedings of IEEE, Bd 55, Heft 2 (Februar 1967) auf den Seiten 172-180 unter dem Titel "The Tunneling
Cryotron - A Superconductive Logic Element Based On Electron Tunneling", beschrieben worden.
In dieser Veröffentlichung ist auch eine Josephson-Stromvorrichtung
beschrieben, die nach dem von B. D. Josephson in den Phys. Letters, Band 1 (Juli 1962), Seiten 251-253
unter der Bezeichnung "Possible New Effects In Superconducting Tunneling" erörterten Prinzip arbeitet.
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Den konventionellen tunnelnden Dünnschichtbauelementen
hängen zahlreiche Probleme an. Eines der störendsten Probleme rührt vom thermischen Umlauf zwischen einem niedrigen
Temperaturzustand und der Raumtemperatur her» Dieser Umlauf bewirkt eine durch Spannung eingeleitete Rekristallisation
und Kornwachstum des Elektrodenmaterials, was zur Whiskerbildung quer zum Tunneljunction und damit
zum Kurzschluß führt. Dieses Problem ist besonders akut bei Materialien wie Blei, Zinn und Indium.
Im allgemeinen zeigen alle bei niedrigen Temperaturen schmelzenden Metalle eine Rekristallisation, wenn sich
der thermische Umlauf zwischen einer supraleitenden Temperatur und Zimmertemperatur erstreckt. Ein solcher Temperaturumlauf
geschieht, wenn Blei auf Vorrichtungen niederzuschlagen ist oder wenn es ein Leck im Kühlungssystem,
das zur Schaffung einer Betriebsumgebung für die Vorrichtungen dient, gibt. Der Umlauf tritt auch auf wenn die
Vorrichtungen zwischen dem Gebrauch zu lagern sind oder bei dem Instandsetzen.
Bei Bauelementen vom Josephson-Typ» wo die Tunnelsperrschicht
besonders schmal ist und zum Beispiel 2 bis 20 S. beträgt, wird das Rekristallisationsproblem äußerst empfindungsfähig,
da ganze Reihen dieser Bauelemente zerstört werden, schon wenn es eine kleine Rekristallisation, zum
Beispiel in diskreten Bauelementen der Reihe, gibt. Infolge der Dünne der Sperrschicht, entwickeln kurzgeschlossene
Junctions leicht fast jeden Grad des Whisker-WachstumSo
Ein anderes Problem, das bei bekannten neueren tunnelnden Vorrichtungen auftritt, besteht im Zusammenhang mit den
Eigenschaften der Vorrichtungen selbst. So werden zum Beispiel für Josephson-Vorrichtungen ein hoher Maximalstrom
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und quadratische Kennlinienschleife (I-V) für ein gutes
Schalten gefordert. Bei den derzeit "bekannten Josephson-Tunnelbauelementen
sind diese Charakteristiken stark begrenzt infolge des Vorhandenseins einer Verteilung von
supraleitenden Energielücken, mit denen die Materialien behaftet sind, aus denen die Vorrichtungen fabriziert
werden. Zusätzlich kommt noch hinzu, daß diese Verteilung eine Verbreiterung in der Übertragungstemperabir verursacht.
Ein weiteres Problem ist der begrenzte Betrag des Tunnelstrommaximums
und das Fehlen mechanischer Stbilität bei f den derzeit bekanntgewordenen Tunnelsystemen. Generell beeinflußt
eine Ungleichförmigkeit der tunnelnden Sperrschicht stark den Maximalwert des Tunnelstromes, während
die mechanische Stabilität unmittelbar beeinflußt wird von der Stärke der Verbindung zwischen der Tunnelsperrschicht
und den umgebenden Elektroden. Bei den zur Zeit bekannten Tunnelbauelementen und insbesondere bei den bekannten
Josephson-Tunnelelementen sind die Tunnelsperrschichten in ihrer Dicke nicht gleichförmig, und die erwähnten
bekannten Systeme sind mechanisch unstabil.
Auch das Vorhandensein von Verunreinigungen ist den Vor- *
richtungskennlinien nachteilig. Es ist durchaus bekannt,
daß Verunreinigungen zur Ausscheidung längs der Korngrenzen tendieren und daß solche Verunreinigungen stark die
Schalteigenschaften der Tunnelvorrichtung beeinflussen.
Hinzu kommt, daß das Anwachsen guter Isolatoren über Bereichen hoher Verunreinigungskonzentration schwierig sein
kann. Deshalb liefern Tunneljunctions, welche Korngrenzen
enthalte^ generell keine guten Schalteigenschaften.
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Bei Elektroden mit Korngrenzen in einer Tunnelsperrschicht gibt es eine größere Möglichkeit verschlechterter Schalteigenschaften,als
wenn Korngrenzen in der Tunnelsperrschicht der Grenzschicht nicht vorhanden sind.
Die supraleitenden Eigenschaften der Korngrenzen sind oft verschieden von jenen des Korns. Wenn eine Korngrenze Teil
der Vorrichtung ist, können die Torrichtungseigenschaften infolgedessen unbefriedigend werden.
Wenn die Materialien für ein Tunnelbauelement einmal gewählt sind, dann liegen generell die tunnelnden Eigenschaften des Bauelements fest. Die tunnelnden Charakteristiken
werden nur durch eine Änderung der Dicke der Tunnelsperrschicht geändert. Eine Justierung dieser Bauelemente
im Sinne optimaler Schaltcharakteristiken ist nicht möglich, ausgenommen durch eine Änderung der Sperrschichtdicke.
Es ist somit eine Hauptaufgabe der Erfindung;tvmnelnde
Bauelemente zu schaffen, welche thermisch einen großen Temperaturbereich durchlaufen können, ohne daß dabei die
Bauelemsntschaltqualität nachteilig beeinträchtigt wird·
Ein anderes Ziel der Erfindung besteht in der Schaffung von tunnelnden Bauelementen mit höherem Maximalstrom und
besseren SchaltCharakteristiken.
Ein weiteres Ziel der Erfindung ist die Schaffung tunnelnder
Bauelemente, die leicht zu fabrizieren sind und
welche eine erhöhte mechanische Stabilität und Eeproduzierbarkeit aufweisen.
Außerdem besteht eine der Erfindung zugrunde liegende Auf-
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gäbe darin, tunnelnde Bauelemente für höhere und reproduzierbare
Übergangstemperaturen und mit kontrollierbaren Schaltungseigenschaften zu schaffen.
Hoch ein anderes Ziel der Erfindung ist, ein tunnelndes Dünnschichtbauelement zu schaffen, das eine integrierende
Struktur ohne innere Korngrenzen aufweist.
Die Erfinder haben erkannt, daß Whisker- und Hillock-Wachstum durch einen Rekristallisationsprozeß, welcher
Korngrenzendiffusion und Gleiten enthält, bewirkt sein ä kann. In metallischen Schichten können Druckspannungen erzeugt
werden, wenn solche Schichten verschiedene Temperaturbereiche durchlaufen. Da Atome sich längs Korngrenzen
leichter bewegen können als jene im Gitter, können sich
diese Atome bewegen,um die obenerwähnte Spannung zu entlasten.
Diese Bewegung liefert die Bildung von Whiskern und Hillocks. Beim Korngrenzengleiten verschiebt sich die
gesamte Korngrenze, d. h. ein Korn bewegt sich zu einem anderen, um die Spannungen zu entlasten. Auch dies kann
zu Whisker- und Hillock-Wachstum führen.
Bei der Erkennung dieser Mechanismen haben die Erfinder danach getrachtet, die bestehenden Probleme, die zu einer '
stark begrenzten Produktion führten, zu lösen. Die Erfindung besteht danach darin, daß die tunnelnden Vorrichtungen
stromführende Einkristallelemente und Tunnelsperrschichten enthalten, womit die vorerwähnten Schwierigkeiten
beseitigt und zahlreiche Vorteile gewonnen werden.
Es ist auch gefunden worden, daß das Verteilungsphänomen der Energielücken supraleitender Elektroden erleichtert wird,
wenn Einkristallelektroden verwendet werden. Die Schalteigenschaften
der Vorrichtung nach der Erfindung sind daher einschneidend und wesentlich verbessert. Zusätzlich
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gibt es keine Verbreiterung in der supraleitenden Übergangstemperatur
bei diesen Vorrichtungen.
Wo Einkristalle für Elektroden in Tunnelvorrichtungen verwendet werden, werden die mit den Korngrenzen im turm einden
Bereich zusammenhängenden Probleme verringert. Da zum Beispiel Verunreinigungen dazu neigen, sich an den Korngrenzen
abzuscheiden, besteht eine entsprechende kleinere Möglichkeit einer Anhäufung von Verunreinigungen im Tunnelbereich.
Dies reduziert wiederum den Leckstrom an der tunnelnden Sperrschicht.
Wie bereits erwähnt wurde, sind die I-V Schaltkennlinien
einer Tunnelvorrichtung, zum Beispiel einer Josephson-Vorrichtung, eine Funktion des diskreten Zustandes der
Energielücke der Elektroden. Hinzu kommt, daß diese Schalteigenschaf ten von der Gleichförmigkeit und der Reinheit
der tunnelnden Sperrschicht abhängig sind. Wenn Einkristallelektroden verwendet werden, ist die Spannungsänderung
beim Schalten größer als wenn polykristalline Elektroden benutzt werden. Demzufolge wird die Zustandsänderung
bei Einkristall-Tunnelvorrichtungen leichter entdeckt als die Zustandsänderung bei polykristallinen Tunnelvorrichtungen.
Es ist entdeckt worden, daß die Schalteigenschaften bei Tunnelvorrichtungen auch von der kristallographischen
Orientierung abhängig sind. So ist zum Beispiel beobachtet worden, daß der Betrag der Energielücke einer supraleitenden
Elektrode von der kristallographischen Orientierung abhängt· Im lalle des Niobiums zeigt eine Schicht
mit einer £ll3 Achse einen Wert von E » 5meV, während
eine [lioj Schicht einen Wert von E - 2,7meV ergibt. Das
Schaltsignal aus einer Tunnelvorrichtung wird daher durch Wahl der Kristallorientierung optimiert.
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Die Verwendung von Kristallelektroden erlaubt das Niederschlagen epitaktischer Sperrschicht-Schichten. Diese
Schichten sind viel gleichförmiger in der Dicke und im Reinheitsgehalt und deshalb sind bei der Erfindung die
tunnelnden Charakteristiken wesentlich verbessert.
Außerdem können die Vorrichtungskennlinien selbst durch Indern der Orientierung der Einkristallschichten geändert
werden. Durch passende Verwendung des Substrats kann die Kristallorientierung der Elektroden auf eine solche Orientierung
eingestellt werden, welche die besten tunnelnden Charakteristiken gibt. Dies ist ein entschiedener Vorteil, "
der aus der Verwendung von Einkristallmaterial für die Elektroden der Tunnelvorrichtung resultiert.
Die Verwendung von Einkristallelektroden ermöglicht die Herstellung von korngrenzenfreien tunnelnden Bauelementen,
was bisher bei den bekannten tunnelnden supraleitenden Dünnschichtbauelementen nicht gewährleistet war. Wenn man
die Sperrschicht-Schichten epitaktisch aufwachsen läßt, dann können alle Elektroden Einkristalle sein, so daß eine Vorrichtung
geschaffen werden kann, die insgesamt korngrenzenfrei ist. Hinzu kommt noch, daß die Haftung zwischen
den Elektroden und den Sperrschichten bei der Erfindung M verstärkt und die Struktur mechanisch stabiler wird.
Diese tunnelnden Bauelemente haben bei der Erfindung durch tunnelnde Sperrschichten getrennte Einkristallelektroden«
Nach einer besonders vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung sind alle Elektroden aus Einkristallen und die
Sperrschichten sind Epitaxial-Schichten. Die Elektroden einer Tunnelvorrichtung brauchen nicht aus dem gleichen
Material zu bestehen; jede Elektrode der Vorrichtung nach der Erfindung könnte aus einem anderen Material bestehen.
Dies trifft auch zu für die verschiedenen tunnelnden
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Sperrschichten, welche in einer Vorrichtung vorhanden sein können.
Außerdem könnten die Elektroden aus verschiedenen Materialien oder dem gleichen Material und die kristallographischen
Strukturen und/oder Orientierungen können gleich oder verschieden sein. Die Struktur eines Materials ist
seine Symmetrie, zum Beispiel kubisch, hexagonal, etc.
Ein Einkristall ist wie folgt definiert: ein Material über dem tunnelnden Bereich, bei dem eine einzelne kristallographische
Richtung im wesentlichen normal zur Gesamtheit des tunnelnden Bereiches existiert. Diese Definition
schließt solche Eichtungen ein, welche bis zu - 5 Grad von
der Normalen zur tunnelnden lläche abweichen.
Die Erfindung schließt jene Bauelemente ein, wo nur ein Teil des zwischen den Elektroden fließenden Gesamtstromes
durch dae Tunneln verursacht wird. Dies könnte zum Beispiel vorkommen, wenn die Trennung der Elektroden sehr groß
ist und das Tunrein der Mechanismus zur Einführung von Ladungsträgern in die Zone zwischen den Elektroden ist.
Um kurz zusammenzufassen, gehört zur Erfindung folgende Ausführungsform einer Tunnelvorrichtung: Bei der tunnelnden
Vorrichtung oder in einem Bereich einer solchen Vorrichtung ist mindestens eine Elektrode ein Einkristall.
Es werden Tunnelvorrichtungen gezeigt, bei denen zwei oder mehr als zwei Elektroden wie beim Josephson-Bauelement in
Dünnschichtbauweise, darüber hinaus aber noch aus Einkristall bestehen. Die Elektroden jeder Vorrichtung können
aus demselben oder aus verschiedenem Material bestehen, und die kristallographischen Orientierungen dieser Elektroden
können gleich oder verschieden sein. Obgleich die
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Tunnelsperrsciiicht gewönlich ein Isolator ist, kann sie
auch aus anderem Material bestehen oder sogar ein Vakuum enthalten. In einer besonderen Ausführungsform ist die
Sperrschicht eine epitaktische Schicht. Es können sowohl dwarsgestreifte oder kreuzgestreifte Geometrien Anwendung
finden.
Die Erfindung sei nachstehend an Hand der schematischen Zeichnungen für besonders vorteilhafte, beispielsweise
Ausführungsformen näher erläutert.
Fig. IA ist eine Darstellung einer tunnelnden Vorrichtung
nach der Erfindung in Dwars-Geometrie.
Fig. IB ist eine Darstellung einer tunnelnden Vorrichtung
nach der Erfindung in Kreuzstreifen-Geometrieβ
Fig. 2 enthält eine Querschnittsdarstellung der tunnelnden Vorrichtung nach den Figuren IA und IB.
Fig. 3 zeigt ein Diagramm für die Abhängigkeit zwischen
Strom und Spannung, wobei der Kurvenverlauf bei einer Vorrichtung nach der Erfindung dem der bekannten
Josephson-Tunnelvorrichtung gegenübergestellt
ist.
Fig. 4 zeigt die Abhängigkeit zwischen Strom und Spannung
bei einer tunnelnden Dünnsxchtvorrichtung nach der Erfindung und bei einer tunnelnden Dünnschichtvorrichtung
nach dem Stande der Technik.
Fig. 5 zeigt im Diagramm die Abhängigkeit zwischen der
Dicke und der Zeit für das Aufwachsen von Tunnelsperrschichten auf Substraten verschiedener Orientierungen.
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Fig. 6 zeigt ein tunnelndes Bauelement nach der Erfindung
in Dwars-Geometrie, bei der mehr als zwei Elektroden
vorgesehen sind.
Fig. 7 zeigt eine Querschnittsdarstellung der tunnelnden Vorrichtung nach Fig. 6·
Fig. 8 zeigt eine Reihe tunnelnder Bauelemente, die gemeinsame Einkristallelektroden besitzen.
Fig. IA zeigt eine Dünnschicht-Tunnelvorrichtung nach der
Erfindung in der Dwars-Geometrie. Die maßgebenden Elemente der Vorrichtung sind nur in der Längsrichtung gruppiert
("in-line"-Geometrie). Die Vorrichtung selbst enthält die
beiden stromführenden Schichten 10 und 12, welche durch eine tunnelnde Sperrschicht 13 voneinander getrennt sind·
An den Elektroden 10 und 12 sind Anschlüsse 14- und 16 aus Blei festgemacht. Die gesamte tunnelnde Vorrichtung ist auf
dem Substrat 18 montiert.
Über diesen Elektroden 10 und 12 ist ein Kontrollelement 22 angeordnet, das durch die Schicht 20 gegen die Elektroden
10 und 12 isoliert ist. Obgleich das Steuerelement 22 nicht gefordert ist, ist es in Fig. IA als ein Mittel gezeigt,
mit dem der tunnelnde Übergang in seinen schaltenden Eigenschaften gesteuert werden kann.
Der mit In bezeichnete Strom fließt durch das Steuerelement
22 und löst ein magnetisches Feld aus. Diesen beeinflußt die Schaltcharakteristiken des Tunnelübergangs. Eis
können Vorapannungsmittel, zum Beispiel eine äußere Stromquelle,
vorgesehen sein, um einen Tunnelstrom durch den Tunnelübergang zu liefern. Es kann ferner ein Meßgerät,
zum Beispiel ein Voltmeter 24 benutzt werden, um die Span-
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nungsänderungen am tunnelnden Übergang festzustellen·
Dieses Meßgerät 24 ist mit der Elektrode 10 durch den Kontakt 26 und mit der Elektrode 12 durch den Kontakt 28
verbunden.
Im Bedarfsfalle kann das Tunnelbauelement nach Fig· IA
ein Josephson-Gate sein, wenn die Tunnelsperrschicht sehr dünn, zum Beispiel in der Größenordnung von 2 bis 50 £,
gemacht ist. Unter "Sperrschicht" ist hier das zu verstehen, was man sich unter einer Potentialsperre vorstellt, durch
welche Ladungsträger tunneln. Beim Übergang zu einem benachbarten Atomrumpf hat das Elektron einen hohen Potentialberg
zu "durchtunneln". Beim Tunneleffekt freier Elektronen
kann ein Potentialberg U der Breite d von einem Elektron mit der Energie E mit einer gewissen Wahrscheinlichkeit
durchkreuzt werden, auch wenn seine Energie E kleiner als U ist, also im klassischen Sinne zum Überfliegen des
Berges nicht ausreicht.
Die Sperrschicht entspricht nicht notwendigerweise der physikalischen Dicke der Schicht 13. Bei guten Charakteristiken
von Josephson-Bauelementen wird vorzugsweise die Sperrschichtdicke nicht mehr als 20 £ betragen. Die Elektroden
sind gewöhnlich 2000 bis 20 000 £ dick, sie können aber auch etwa 500 A dünn sein. Wenn die Elektrodenschichten
zu dünn sind, dann werden die supraleitenden Eigenschaften, zum Beispiel die kritische Temperatur T0, beeinflußt
und es ist dann schwierig, reproduzierbare, gute Bauelemente zu erhalten.
Bei einer Josephson-Vorrichtung sind beide Elektroden 10,
12 Supraleiter, und die Elektroden bleiben beim Schalten im supraleitendem Zustand.
Das Steuerelement 22 kann irgend ein Supraleiter, zum Bei-
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spiel Blei, sein. Wie später noch erklärt wird, können die Elektroden 10, 12 aus irgendeinem supraleitendem Material
bestehen, einschließlich Verbindungen und Legierungen· Bei den bekannten Josephson-Tunnelbauelementen werden generell
Metalle, wie Blei, Zinn oder Indium, für die Elektroden benutzt, sowie thermisch gewachsene Oüqrdschichten
als Sperrschichten verwendet.
Andere Materialien als Oxyde können hier bei der Erfindung als Zwischenschichten (Tunnel-Sperrschichten) vorgesehen
sein. Diese umfassen Nitride, Sulfide, Carbide, etc.
Obgleich jedes Material verwendbar ist, ist es wichtig,
daß die Tunnelsperrschicht von gleichmäßiger Dicke und frei von Defekten (zum Beispiel Stiftlöchern) ist. Für
das Substrat können verschiedenartige Materialien zur Anwendung kommen. Hierzu gehören Quarz, Glimmer, Saphir,
Metalle und andere geeignete Materialien. Zum Beispiel kann eine Grundebene auf dem Substrat vor der Aufbringung der
übrigen Teile gezogen werden.
Was beschrieben worden ist, ist auch auf konventionelle tunnelnde Dünnschichtbauelemente anwendbar. Was durch die
Erfindung als neu. herausgestellt ist, beruht in der Tatsache, daß die Elektroden der Tunnelvorrichtung aus Einkristallmaterial
bestehen und daß die Tunnelsperrschichten, bei einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung epitaktisch
aufgewachsen sind, um einen insgesamt korngrenzenfreien tunnelnden Übergang zu schaffen.
Wie oben erwähnt, bringt die Tatsache, daß Einkristallmaterial verwendet wird, viele Vorteile. Durch die Verwendung
von Einkristallen wird das Problem der Rekristallisation eliminiert, welches gegenwärtig beim Bekannten ein
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erfolgreiches Arbeiten der Tunnelbauelemente verhindert, wenn diese extreme Temperaturbereiche durchlaufen·
Außerdem liefert der Gebrauch von Einkristallen und die Verwendung epitaktisch gezüchteter Sperrschichten eine
tunnelnde Vorrichtung mit ausgezeichneter mechanischer Stabilität.
Gleichförmigkeit der Sperrschicht bezüglich Dicke und Reinheit ist jetzt leicht zu erreichen. Dies ist eine Hilfe für
die Erzielung eines erhöhten Tunnelstromes bei guter mecha- ä
nischer Stabilität. Während die bekannten tunnelnden Bauelemente Strom-Spannungs-Kennlinien aufweisen, welche verwischt
sind, liefert der Gebrauch von Einkristallelektroden gute Schaltkennlinien, da nur eine einzige supraleitende
Energielücke in Einkristallmaterialien (derselben Orientierung) vorhanden ist«.
Zur Bildung der Einkristallelektroden kann jede geeignete Methode herangezogen werden. Einige dieser Verfahren enthalten
das EF-Sputtern und das DO-Sputtern, die thermische Aufdampfung und den chemischen Dampftransport. Ein solches
Verfahren ist zum Beispiel in der amerikanischen IBM-Patent- -anmeldung
vom 30. Juni 1969 mit der U.S. Serial No. 837 738 ' beschrieben;'^ In dieser Patentanmeldung ist eine Mfthode zum
Sputtern von -Einkristall-Supraleitern angegeben. In gleicher Weise läßt sich auch jede passende Mfchode zum epitaktischen
Züchten der Sperrschicht-Schichten verwenden. Diese Verfahren umfassen auch die thermische Oxydation, die
anodische Oxydation, die elektrolytische Behandlung, die Ionen-Implantation, das Sputtern und die Verdampfung.
/ist
Fig. IB ein tunneIndes Dünnschichtbauelement nach der Erfindung
und zwar in Kreuzstreifengeometrie. Die hier mit
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den Bezugszeichen in Fig. 1 übereinstimmenden Bezugszeichen bezeichnen gleiche Teilee In dieser Geometrie ist
die obere Elektrode 12 quer zur Richtung der unteren Elektrode
10 angeordnet.
Die Elektroden 10 und 12 sind, wie im Falle der Vorrichtung nach Fig. IA1 durch eine dünne Sperrschicht-Schicht
voneinander getrennt. Zum Anschluß der beiden Außenleiter an das tunnelnde Bauelement sind Bleiverbindungsteile 30
vorgesehen. Der Strom I wird von einer nicht besonders dargestellten Stromquelle geliefert, wobei jede konventionelle
Stromquelle geeignet ist. Das vorgesehene Meßinstrument, zum Beispiel Voltmeter 24, dient zur Ermittlung der
Spannungsänderungen am Junction, die durch eine Änderung im Tunnelstrom verursacht sind. Das tunnelnde Gesamtgate
wird von einem Substrat 18 getragen.
Wie im Falle der Fig. IA so sind auch hier die gleichen
Niederschlagsmethoden anwendbar. Es liegen auch, wie bei der Anordnung nach ^ig. IA bei der Ausführungsform nach
Fig. IB, dieselben relativen Abmessungen vor. Obgleich in Fig. IB kein Steuerelement eingezeichnet ist, ist es klar,
daß man ein solches ebenso leicht einführen könnte wie im Falle der Fig. IA.
Fig. 2 zeigt den tunnelnden Übergang der Vorrichtung nach Fig. IA und Fig. IB im Querschnitt. Das tunnelnde Jmstion
umfaßt die beiden stromführenden Elektroden 10 und 12, die durch eine Tunnelsperrschicht 15 getrennt sind. Die Unterlage
ist durch das Substrat geschaffen. Der Tunnelstrom durchquert die Sperrschicht zwischen den beiden Elektroden.
Wenn die Sperrschicht sehr dünn ist, d. h. etwa 2 bis 20 Si dünn ist, und wenn die Elektroden Supraleiter sind,
kann ein Josephson-Strom fließen. Bei dickeren Sperrschich-
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- 15 ten tritt das herkömmliche Tunneln auf.
Es ist einleuchtend, daß jede Anzahl tunnelnder Junctions in einer Laminat-Struktur vorgesehen sein kann, wie später
noch an Hand der Fig. 6 erörtert wird. An dieser Stelle hier genügt es, festzustellen, daß es eine Serie von Elektroden
geben kann, die durch Tunnelsperrschichten getrennt sind, wenn mehr als ein tunnelndes Junction gewünscht wird·
Bei der Darstellung nach Fig. 2 ist wenigstens eine stromführende Elektrode ein Einkristall. Vorzugsweise sind beide
metallischen Elektroden Einkristalle und die isolierende Schicht ist eine epitaktisch gewachsene Schicht bei spiegelbildlicher
Anordnung der Kristallart der darunterliegenden Elektroden.
Die kristallographische Orientierung hängt von dem darunterliegenden
Substrat ab. Es sind verschiedene Orientierungen möglich, die von der Wahl des Substrats abhängig sind. Dies
gestattet einen Grad von Freiheit, die man bei konventionellen Tunnelvorrichtungen nicht hat. Durch Indern der kristallographisehen
Orientierung des Substrats kann man die Bauelemente so herstellen, daß sie optimale Tunnelcharakteristiken
geben.
Fig. 3 zeigt das Strom/Spannungs-Diagramm für die in den
Figuren IA, IB und 2 gezeigten tunnelnden Vorrichtungen.
Insbesondere sind in Fig. 3 sowohl der Josephson-Strom (Paartunneln) als auch das konventionelle Tunnel (Einzelpartikel)
gezeigt. Dieses Diagramm illustriert die bedeutsam verbesserten Charakteristiken, welche davon herrühren,
daß Einkristallmaterialien anstelle von polykristallinen Materialien verwendet werden.
Zum Verstehen der durch die Erfindung erzielten verbesser-
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ten Eigenschaften eines Josephson-Bauelements mit Einkristall
elektroden sei nachstehend eine kurze Erläuterung der
Betriebeken.nlinien einer Josephson-Tunnelvorrichtung gegeben.
Das Josephson-Gate enthält zwei supraleitende Elektroden, die durch eine tunnelnde Sperrschicht getrennt sind. Das
Josephson-G-ate hat im Betrieb zwei tunnelnde Zustände, in welche die Vorrichtung geschaltet werden kann· Der eine
dieser Zustände ist ein tunnelndes Zustandspaar, bei dem
der Strom durch den Sperrschichtbereich (Josephson-Junction) fließt ohne einen Spannungsabfall. Der andere Zustand
ist ein einzelner1 feilzustand, bei welchem der Strom mit einem Spannungsabfall EVe fließt, wenn beide Supraleiter
übereinstimmen. In dieser Formel ist E die Energielücke der Supraleiter und e ist die Elementarladung·
Der Übergang vom einen Zustand und in den anderen kann durch
Überschreiten des kritischen Stromes für den Josephson-Sperrschichtübergang
bewerkstelligt werden. Dies kann wiederum über ein Gate oder einen Steuerimpuls geeigneter
Größe herbeigeführt werden.
Zu keiner Zeit gibt es einen Phasenübergang von supraleitend auf normal in den Elektroden eines Josephson-Bauelements·
Es gibt einen Phasenübergang im Josephson-Bauelement, aber dieser ist von eigener Art und findet in einem sehr
kleinen Volumen, d. h. in der Sperrschicht statt.
Weil der Phasenübergang von supraleitend zu normal nicht die relativ großen Elektroden, welche supraleitend bleiben,
einschließt und weil der aktive Bereich der Vorrichtung sehr klein ist, 1st die Übergangszeit auf die volle Spannung
sehr kurz.
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Die Tunnel Sperrschicht kann bei einem Josephson-Bauelement
aus Metall oder einem Isolator oder sogar aus einem Vakuum "bestehen. Zwei Supraleiter in dichter Nähe können dem Josphson-Strom
zwischen diesen einen Anstieg geben. Sogar der Einschnürungstyp des Josephson-Bauelements (schwach
supraleitendes Glied), bei dem ein einzelnes supraleitendes Blatt einen verengten Teil hat, kann verwendet werden, um
den Josephson-Tunnelstrom zu erzeugen.
In Fig. 3 ist die gestrichelt gezeichnete Kurve die übliche
StromJSpannungs-Kennlinie eines bekannten supraleitenden Tunnelübergangs. Bei fehlendem Josephson-Strom (Null-Spannung/Strom)
, ist die I-V Kurve die durch eine gestrichel te Linie dargestellte Kunre, welche am Ursprungspunkt beginnt
und bis zu einer Spannung V^ verläuft. Darauf folgt die feste Kurve vom Spannungspunkt 7«. Wenn es Josephson-Strom
gibt, dann sind die Kurven, welche einen Null-Spannungs-Strom
enthalten, anwendbar.
Wenn die Sperrschicht-Schicht sehr dünn ist, dann kann ein Josephson-Strom durch die Grenzschicht (Junction) existieren.
Dieser StromfluB liefert keinen Spannungsabfall über der Grenzfläche. Das heißt, es gibt einen Anfangsstrom
der von Null an zunimmt, aber es gibt keine Zunahme für die
Grenzschicht(Junction)-Spannung. Die Grenzschicht kann nur einen begrenzten Überstrom (I1J)11Qx führen. Oberhalb dieses
kritischen Stromes schaltet die Grenzschicht abrupt auf die gewöhnliche Strom-Spannungs-Kennlinie mit einer entsprechenden
abrupten Zunahme der Spannung an der Grenzschicht auf annähernd V^·
Der Übergang von einer Spannung von annähernd V1 auf die
Spannung null bei abnehmendem Strom findet bei einer Stromstürke statt, die etwas kleiner ist als (1-)-.-,^ und einen
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Hystereaiseffekt produziert. Dieser niedere Strom ist
mit (Xn)11Hn bezeichnet. Die Richtung der Pfeile zeigt in
Pig. 3 das Verhalten der Grenzschicht (Junction) an, wenn
es einen Josephson-Strom gibt, d. h. bei der Null-Spannung gibt es einen Strom (I-n)max ^1"*. dann wächst die Spannung
bis etwa auf V1, wenn der kritische Strom überschritten
wird. Die gestrichelte Kurve verläuft dann bis zu einem gewissen Punkt, bei dem die Grenzschicht (Junction) auf
Josephson-Tunneln schaltet, und der Strom (X0)-^ fließt
über die Grenzschicht.
Fig. 3 illustriert die bedeutsame Verbesserung, welche
sich ergibt, wenn man Einkristallelektroden an Stelle von Elektroden aus polykristallinem Material verwendet.
In diesem Diagramm repräsentiert die nichtgestrichelte Linie (ß) die Kurve, welche der Arbeitsweise einer tunnelnden
Josephson-Vorrichtung mit Einkristallelektroden folgt·
Die gestrich#elte Linie (P) gehört zu einer tunnelnden
Josephson-Vorrichtung mit polykristallinen Elektroden· Wie zu ersehen ist, ist der kritische Maximumstrom (Ί.α)-Ο—
beim Josephson-Tunneln in einer Vorrichtung mit Einkristallelektroden
größer als in dem Falle (Xn)Bax wo eine Josephson-Vorrichtung
mit polykristallinen Elektroden ausgestattet ist·
Außerdem ist die Hysteresisschleife bei der Einkristallelektrodenstruktur
quadratischer als bei der polykristallinen Elektrodenstruktur. Außerdem kommt die Vorrichtung
mit Einkristallelektrode auf einen kleineren Nullspannungs-Strom
zurück als dies bei der Vorrichtung mit der -polykristallinen Elektrodenstruktur der Fall ist. Bei Verwendung
von polykristallinem Elektrodenmaterial kommt es xu einer Rückkehr auf den Stromwert (X0)^in" 1^* einkristallelektroden
werden daher viel höhere Xmax/Xmin">we:rbe er~
halten. - 19 -
109821/1454
Die Hauptbedeutung der erfindungsgemäßen Verwendung von
Einkristallelektroden besteht darin, daß es eine einzige Energielücke mit Einkristallmaterial gibt. Demzufolge gibt
es kein Verwischen der I-V Schaltcharakteristik durch Vielenergielücken.
Weil es kein Verwischen gibt, werden quadratischere Schleifen-Schaltcharakteristiken mit größerem
(I)m und Schaltspannung V^ erzielt.
Der Maximalwert des Josephson-Stromes (I)max: bezieht sich
auf Oxyd-Gleichförmigkeit, Leck, Korngrenzen und den Bereich
durch welchen die Paare tunneln. Wie oben erwähnt wurde, tritt um die Whisker ein eingeschlossener Fluß auf,
der durch die Sperrschicht wächst. Dieser eingeschlossene Fluß begrenzt (Ι)__ν· Diese Faktoren führen zu geringwertigen
I-V Kennlinien.
Die schaltende Spannung V„ ist eine Funktion der Quadrat igkeit
der schaltenden Schleife. Sie hängt von der Diskretheit der Energielücke, den Leckpfaden und der Orientierung
der Kristalle ab. Wenn die schaltende Charakteristik sehr rechteckig ist, dann ist der Unterschied in der Spannung
von einem Zustand in den anderen größer, und die Vorrichtung ist besser geeignet für viele Anwendungen.
Im Gebrauch werden zwei Spannungszustände festgestellt, d. h. der Nullspannungszustand (bei dem ein Josephson-Strom
existiert) und die Spannung Vy (bei welcher einzelnes
Partikeltunneln auftritt).
Fig. 4 illustriert die Bedeutung der Verwendung von Einkristallen in einer tunnelnden Vorrichtung, die keinen
Josephson-Strom hat. Hier ist die Dicke der Sperrschicht
größer als jene, die in einer Josephson-Vorrichtung vorhanden ist, so daß das tunnelnde Charakteristikrpaar des
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Josephson-Stromes nicht vorhanden ist. In ähnlicher Weise
wie bei Fig. 3 ist es leicht erkennbar, daß der Gebrauch von Einkristallen als Elektrodenmaterial schärfere Schaltcharakteristiken
liefert und daß das konventionellere Ver«- schmieren
der Kurven wie man es beim polykristallinen Material hat, eliminiert wird.
In Fig. 4 ist die obere Kurve mit P bezeichnet. Diese Kurve ist Normalkennlinie einer tunnelnden Vorrichtung, in der
polykristallines Material verwendet ist. Die Kurve S ist die Kennlinie für eine tunnelnde Vorrichtung, deren Elektroden
aus Einkristall bestehen. Weil das polykristalline Material zu Vorrichtungen mit geringwertigen tunnelnden
Kennlinien führt, sind Anwendungen bei Vorrichtungen nach
der Erfindung viel besser durchzuführen.
Fig. 5 zeigt im Diagramm das Wachstum der Sperrschichtdicke
mit der Zeit des Mederschlagens. Die gezeigten Kurven
entsprechen einer ersten kristallographischen Orientierung und einer zweiten kristallographischen Orientierung
des Substrats. Wie aus diesem Diagramm zu ersehen, ist die Wachstumsgeschwindigkeit einer Sperrschicht in der Orientierung
1 größer als die Wachstumsgeschwindigkeit einer ähnlichen Sperrschicht in der Orientierung 2. Wenn polykristalline
Sperrschichten gezüchtet werden, gibt es deshalb Sperrschichtzonen der Orientierung 1, welche dicker
sind als Sperrschichtzonen der Orientierung 2. Obgleich
nur zwei Kurven gezeigt sind, kann man ersehen, daß die Wachstumsgeschwindigkeit variiert in Abhängigkeit von der
Substratorientierung und daß eine auf einem polykristallinen! Substrat gewachsene Sperrschicht viele ungleichförmig
dicke Bereiche aufweisen wird.
Polykristalline Substrate werden natürlich einen Anstieg zu Isolatoren geben mit anderen Ungleichförmigkeiten. Mit
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der Dicke ändert sich exponentiell auch der Tunnelstrom.
Deshalb ist die Dicke der Sperrschicht kritisch. Dies trifft besonders zu, wenn Josephson-Tunnelvorrichtungen
hergestellt werden, weil dort die Sperrschicht sehr dünn sein muß. Das Züchten von Sperrschichten mit nur einer einzelnen
Orientierung führt demzufolge zu gleichmäßig dicken Sperrschichten, die eine stärker kontrollierbare Tunnelcharakteristik
aufweisen.
Fig. 6 zeigt eine tunnelnde Vorrichtung nach der Erfindung,
die in einer Längsrichtung ausgerichtet ist und welche mehr als zwei Elektroden aufweist· Diese Elektroden "
sind mit 40, 42 und 44 bezeichnet. Es könnten natürlich im Bedarfsfalle auch noch mehr als drei Elektroden vorgesehen
sein.
Diese Elektroden sind durch die gurmelsperrschichten 46,
getrennt. Das Gesamtpaket wird durch da» Substrat 50 getragen.
Wie im Falle der Fig. 1 können zwischen zwei Elektroden (z. B. einer Triode) Vorspannungen angelegt werden,
!fach Fig. 6 liefert eine äußere Stromquelle den Strom I, welcher die Grenzschichten durchtunnelt. Das Voltmeter V1
dient zur Messung der Spannung an der Junction-Sperrschicht 46, während das Voltmeter Vo dazu dient, die Spannung an ä
der Sperrschicht 48 zu messen. Die Dwars-Geometrie nach Fig. 6 kann bei Mehrschichtausführungen auch in Verbindung
mit der Kreuz-Streifen-Geometrie nach Fig. IB oder Fig. 8
hergestellt sein.
Bei der Ausführungsform nach Fig. 6 sind die Elektroden vorzugsweise sämtlich aus Einkristall hergestellt, und die
Sperrschichten bestehen vorzugsweise aus epitaktischen Materialablagerungen, wobei Spiegelbildlichkeit der kristallographischen
Orientierung des darunterliegenden Materials gewahrt ist. Die gewählte besondere kristallo-
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205BS06
graphische Orientierung ist wiederum eine Funktion des Substratmaterials. Verschiedene Substrate können verwendet
werden, um die besten Tunnelkennlinien zu gewinnen.
Die Elektroden brauchen im Falle der Fig. 6 nicht aus dem
gleichen Material zu bestehen und brauchen auch nicht die gleiche kristallographische Orientierung zu haben.
Ebenso brauchen die Sperrschichten nicht aus dem gleichen Material zu bestehen und brauchen auch nicht die gleiche
Orientierung zu haben. Die Sperrschichten können sogar aus amorphem Material bestehen.
Obgleich in Fig. 6 kein Steuerelement eingezeichnet ist, ist es klar, daß die Vorrichtung nach Fig. 6 in der in
Fig. IA gezeigten Weise leicht mit einem Steuerungselement versehen werden kann.
Fig. 7 ist eine Querschnittsdarstellung der tunnelnden
Grenzflächen (Junction) der in Fig. 6 gezeigten Torrichtung nach der Erfindung. Zum besseren Verständnis sind
hier Bezugszeichen aus der Fig. 6 übernommen worden. Nach Fig. 7 sind die verschiedenen Einkristallelektroden 40,
42 und 44 durch dünne !Punnelsperrschichten 46, 48 getrennte
Wenn der Jsephson-Typ bevorzugt werden soll, dann haben
die Sperrschichten gewöhnlich eine Dicke von 2 bis 50 S.
Wenn eine konventionelle Vorrichtung bevorzugt werden soll, kann die Sperrschicht größer als etwa 50 £ sein
oder sie kann irgendeine geeignete Stärke aufweisen.
Fig. 8 zeigt eine Reihenanordnung tunnelnder Bauelemente,
wobei jedes Tunnelbauelement mit Einkristallelektroden ausgestattet ist. Im Rahmen der Erfindung sind auch dreidimensionale
Anordnungen der tunnelnden Bauelemente möglich.
- 23 -
109821/U64
Die Reihen 60 und 61 aus dargestellten tunnelnden Bauelementen werden vom Substrat 64 getragen. In der Eeihe 60
sind die oberen Elektroden 66 Tand 68 über der tunnelnden Sperrschicht 70, die wiederum über der Elektrode 72
liegt, angeordnet. Zwischen den Elektroden 66 und 72 und
zwischen den Elektroden 68 und 72 sind im Überlappungsbereich tunnelnde Grenzflächen gebildete
In ähnlicher Weise sind die Elektroden 74, 76 und 78 durch
die Sperrschicht 80 getrennt. Tunnelnde Junctions bestehen an der Sperrschicht 80 im Überlappungsbereich der Elek- λ
troden. In jeder Eeihe kann, wenn die Sperrschichten 70, 80 sehr dünn sind, etwa 2 bis 50 X, durch die Junctions
ein Josephson-Strom fließen. Wie bei den oben erwähnten Vorrichtungen, so können auch hier die Sperrschichten aus
Isolatoren, Metallen und sogar aus Vakuum bestehen.
In der Reihe 60 ist die Elektrode 72 allen Tunnelbauelementen
dieser Reihe gemeinsam. In der Reihe 61 ist die Elektrode 78 allen Tunnelbauelementen dieser Reihe 61 gemeinsam.
Jede Elektrode in jeder Reihe kann aus Einkristall bestehen, und die Tunnel-Sperrschicht kann auch aus
Einkristallmaterial hergestellt sein.
Wenn auch die Tunnelbauelemente der Anordnung nach Fig. nicht nach einer besonderen Weise angeschlossen sind, so
könnten diese ohne weiteres so verbunden werden, daß sich eine Logik, ein Schaltkreis oder ein Speicher ergibt. Obgleich
in Fig. 8 nur zwei Bauelemente in jeder Richtung bzw. Zeile dargestellt sind, so können doch im Bedarfsfalle
beliebig viele Bauelemente beispielsweise in der in der amerikanischen IBlä-Patentanmeldung mit der U.S. Serial
No. 744 949 vom 5. Juli 1968 gezeigten Weise vorgesehen
sein.
109821 /U54
Die Erfindung erfaßt in der Anwendung des neuen tunnelnden Bauelements jede Art der Anordnung der Bauelemente
mit gemeinsamen Elektroden aus Einkristallen. Im Bedarfsfalle können die kristallographischen Orientierungen der
Bauelemente in der Anordnung variiert sein, um Bauelemente zu kombinieren, die verschiedene ühinnelkennlinien haben.
Bei der Ausführungsform nach Fig. 8 besteht wenigstens
eine der Elektroden jeder Vorrichtung aus Einkristall» Vorzugsweise sind beide Elektroden einer Vorrichtung aus
Einkristall. Wenn nur eine Elektrode aus Einkristall besteht, ist es wünschenswert, daß diese Elektrode die untere
Elektrode ist. Am wichtigsten ist es, daß die Elektrode auf welcher die Sperrschicht angewachsen ist, die Einkristallelektrode
ist und zwar aus Gründen der Gleichförmigkeit beim Kristallwachsen etc.
Die Orientierung der oberen Elektrode wird dazu neigen, ;
näher zu liegen als die untere Elektrode, selbst wenn die Sperrschicht-Schicht eine amorphe Schicht ist. Obgleich
dieses Phänomen noch nicht vollkommen zu verstehen ist, ist es doch experimentell beobachtet worden. Dies ist der Tatsache
zuzuschreiben, daß die Sperrschicht so dünn ist, daß sie etwas an der Symmetrie der unteren Elektrode reflektiert,
d. h. sie reflektiert die Richtungseigenschaft des Bindungswinkels zwischen unterer Elektrode und Sperrschicht
selbst. Dies beeinflußt wiederum die Symmetrie der Bindungswinkel der oberen Elektrode auf der Sperrschicht.
Die schaltenden Eigenschaften der Tunnelvorrichtung werden
verbessert, wenn nur die untere Elektrode aus Einkristall ist. Sie werden aber in größerem Umfange verbessert,
wenn beide Elektroden aus Einkristall bestehen. Es sollte natürlich erkannt werden, daß es wichtiger ist,
wenn die untere Elektrode in all den beschriebenen Bau-
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109821 / U54
2Ö55606
elementen aus Einkristall besteht«
Bei jedem der vorstehend beschriebenen Bauelemente können
für die Elektroden, Sperrschichten und Substrat verschiedene Materialien verwendet werden. Hinzu kommt,
daß diese Vorrichtungsbauelemente in irgendeiner Weise ohne Beschränkung auf Sputtern, Verdampfen, elektrolytische
Behandlung und thermische Oxydation fabriziert werden können.
In der nachstehenden Tabelle ist eine Liste geeigneter Materialien zusammengestellt, die zur Herstellung von.
Josephson-Tunnelbauelementen und anderen tunnelnden Dünnschicht-Bauelementen
nach der Erfindung verwendbar sind· Die dort aufgeführten Materialien können beliebig kombiniert
werden, um geeignete Bauelemente zu erhalten. Sie Tabelle ist nicht vollständig, es können leicht andere
geeignete Materialien hinzukommen.
Wenn zum Beispiel eine supraleitende tunelnde Grenzschicht herzustellen ist, kann fast jedes supraleitende Material
für die Elektroden verwendet werden. Die Wahl der Sperrschicht ist gleichermaßen breit. Beim Josephson-Typ können
die Sperrschichten Isolatoren, Metalle, Halbleiter, Halbmetalle, etc. ja sogar Vakuum sein.
Materialien
Elektroden | Sperrschichten | Substrate | - 26 - |
Blei Zinn |
Oxyde Nitride |
Saphir-AlgO, MgO |
|
Niobium | Sulfide | Quarz (SiO2) | |
Niobiumnitrid | Garbide | Glimmer | |
Niobium-Titan- Legierung |
Selenide | Alkalihalogen] | |
Indium | Kohlenstoff | Metalle | |
109821/U54
Elektroden
Aluminium
Aluminium
Vanadium
Halbleiter
Halbleiter
Nichtsupraleitende Metalle
Andere Metalle und Halbmetalle
Anorganische und organische Materialien
Arsenide Halbleiter
Metalle (z.B.Gold, Kupfer, Silber etc) Substrate
Die Erfindung ist auf alle derzeit bekanntgewordenen tunnelnden Bauelemente anwendbar.
109821/1454
Claims (14)
- Patentansprüche1 J) Supraleitendes Dünnschicht-Bauelement mit Tunneleffekt und mit stromführenden Elementen, dadurch gekennzeichnet, daß wenigstens eines der stromführenden Elemente (10, 12) eine einzelne kristallographische Struktur aufweist, wobei eine tunnelnde Sperrschicht (13) stromführende Elemente (10, 12) koppelt.
- 2.) Bauelement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Tunnelsp errs chi cht (13) von einem der stromführen- Λ den Elemente getragen wird·
- 3.) Bauelement nach den Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß stromführende Elemente (10, 12) Einkristallstruktur aufweisen.
- 4.) Bauelement nach den Ansprüchen 1 bis 3» dadurch gekennzeichnet, daß die Tunnelsperrschicht (13) Einkristallstruktur aufweist.
- 5.) Bauelement nach den Ansprüchen 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß mehrere stromführende Elemente (10, 12) in ihrer kristallographischen Orientierung übereinstimmen. f
- 6.) Bauelement nach den Ansprüchen 1 bis 5» dadurch gekennzeichnet, daß mehrere stromführende Elemente (10, 12) Supraleiter sind und daß die sie koppelnde tunnelnde Sperrschicht (13) eine Dicke von etwa 2 bis 50 Angstrom besitzt.- 28 -109821 /U54
- 7.) Bauelement nach den Ansprüchen 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß mehrere stromführende Elemente (10, 12) aus dem gleichen Material hergestellt sind.
- 8.) Bauelement nach den Ansprüchen 1 bis 7» dadurch gekennzeichnet, daß die Tunnelsperrschicht (13) eine epitaktisch aufgewachsene Schicht ist.
- 9·) Bauelement nach den Ansprüchen 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß alle Elektroden (10, 12, 40, 42, 44) aus einkristallinem Material bestehen und daß sämtliche Tunnelsperrschichten (13, 46,48) Epitaxialschichten sind.
- 10.)Bauelement nach den Ansprüchen 1 bis 9» dadurch gekennzeichnet, daß die Elektroden (10, 12, 40, 42, 44) eine Dicke von etwa 2000 2. bis 20 000 S haben.
- 11.) Bauelement nach den Ansprüchen 1 bis 10, gekennzeichnet durch eine Dwars-Anordnung der stromführenden Elemente samt Tunnelsperrschicht (13)·
- 12.) Bauelement nach den Ansprüchen 1 bis 10, gekennzeichnet durch Kreuzstreifengeometrie bei der Anordnung stromführender Elemente (10, 12) samt Tunnelsperrschicht (Fig. IB).
- 13·) Die ebene Anordnung mehrerer Bauelemente nach den Ansprüchen 1 bis 12 in einer oder mehreren parallelen Längsrichtungen·
- 14.) Die laminatartige räumliche Anordnung mehrerer Anordnungen nach Anspruch 13·109821 / 1454Leerseite
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US87561569A | 1969-11-12 | 1969-11-12 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2055606A1 true DE2055606A1 (de) | 1971-05-19 |
Family
ID=25366083
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19702055606 Pending DE2055606A1 (de) | 1969-11-12 | 1970-11-12 | Dünnschicht Einkristall Bauelement mit Tunneleffekt |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3816845A (de) |
JP (1) | JPS502237B1 (de) |
DE (1) | DE2055606A1 (de) |
FR (1) | FR2071706A5 (de) |
GB (1) | GB1283690A (de) |
Families Citing this family (10)
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---|---|---|---|---|
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---|---|---|---|---|
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-
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- 1970-10-22 JP JP45092441A patent/JPS502237B1/ja active Pending
- 1970-11-02 GB GB51956/70A patent/GB1283690A/en not_active Expired
- 1970-11-12 DE DE19702055606 patent/DE2055606A1/de active Pending
-
1971
- 1971-09-23 US US00183225A patent/US3816845A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS502237B1 (de) | 1975-01-24 |
US3816845A (en) | 1974-06-11 |
GB1283690A (en) | 1972-08-02 |
FR2071706A5 (de) | 1971-09-17 |
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