DE2213368A1 - Prüfgerät für digitale elektrische Schaltungen - Google Patents

Prüfgerät für digitale elektrische Schaltungen

Info

Publication number
DE2213368A1
DE2213368A1 DE19722213368 DE2213368A DE2213368A1 DE 2213368 A1 DE2213368 A1 DE 2213368A1 DE 19722213368 DE19722213368 DE 19722213368 DE 2213368 A DE2213368 A DE 2213368A DE 2213368 A1 DE2213368 A1 DE 2213368A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
output
terminals
signals
circuit
input
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE19722213368
Other languages
German (de)
English (en)
Inventor
Andrew David Hemel Hempstead Hertfordshire; Woodward Richard David Leighton Buzzard Bedfordshire Swift (Großbritannien)
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Honeywell Ltd Great Britain
Original Assignee
Honeywell Ltd Great Britain
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Honeywell Ltd Great Britain filed Critical Honeywell Ltd Great Britain
Publication of DE2213368A1 publication Critical patent/DE2213368A1/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
DE19722213368 1971-04-21 1972-03-20 Prüfgerät für digitale elektrische Schaltungen Pending DE2213368A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB1051071 1971-04-21

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE2213368A1 true DE2213368A1 (de) 1972-11-02

Family

ID=9969168

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19722213368 Pending DE2213368A1 (de) 1971-04-21 1972-03-20 Prüfgerät für digitale elektrische Schaltungen

Country Status (4)

Country Link
DE (1) DE2213368A1 (enExample)
FR (1) FR2133600A1 (enExample)
IT (1) IT952317B (enExample)
NL (1) NL7203912A (enExample)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2538651A1 (de) * 1974-09-03 1976-03-11 Hewlett Packard Co Verfahren und vorrichtung zum testen digitaler schaltungen
EP0032222A1 (de) * 1979-12-21 1981-07-22 Siemens Aktiengesellschaft Prüfeinrichtung

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2538651A1 (de) * 1974-09-03 1976-03-11 Hewlett Packard Co Verfahren und vorrichtung zum testen digitaler schaltungen
EP0032222A1 (de) * 1979-12-21 1981-07-22 Siemens Aktiengesellschaft Prüfeinrichtung

Also Published As

Publication number Publication date
FR2133600A1 (enExample) 1972-12-01
NL7203912A (enExample) 1972-10-24
IT952317B (it) 1973-07-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2311034C2 (de) Verfahren zum Prüfen eines integrierte logische Verknüpfungs- und Speicherglieder enthaltenden Halbleiterchips
DE2319011C2 (de) Verfahren zum Prüfen eines Leiternetzes auf einem isolierenden Substrat und Anordnung zur Durchführung des Verfahrens
DE3336439A1 (de) Speicherplatten-modulanordnung
DE3013215A1 (de) Adapter fuer ein selbstprogrammierbares leiterplattenpruefgeraet
AT391765B (de) Einrichtung zur signaltechnisch sicheren darstellung eines meldebildes
DE1021602B (de) Anordnung zum Vergleichen von Zahlen
DE2228825A1 (de) Pruefvorrichtung fuer elektronische schaltkreiseinheiten
DE2005884A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Feststellung von Fehlern in elektronischen Datenverarbeitungsanlagen
DE1100694B (de) Bistabile Kippschaltung
DE68915211T2 (de) Standardzelle.
DE102022128550A1 (de) Verfahren zur isolationsprüfung von elektrischen netzwerken eines kabelbaums
DE4431791A1 (de) Signalauswahlvorrichtung
DE4244431C2 (de) Testgerät für Verbindungen mit Bandkabeln und anderen Kabeln
DE2025124C3 (de) Unterbrechungsfreies Stromversorgungssystem
DE2511923C3 (de) Schaltungsanordnung zur Funktionsprüfung und Fehlerlokalisierung von Flachbangruppen
DE3230208C2 (enExample)
DE1148593B (de) Verfahren und Einrichtung zur Wiedergewinnung der Information aus einem mit Pruefzeichen versehenen Codezeichen
DE10259300B4 (de) Halbleiter-Bauelement-Test-Gerät, Halbleiter-Bauelement-Test-System und Halbleiter-Bauelement-Test-Verfahren zum Testen der Kontaktierung bei übereinanderliegenden Halbleiter-Bauelementen
DE2312648B2 (de) Datenverarbeitungsgerät
DE2526410A1 (de) Sammelleitung
EP4686956A1 (de) Verfahren sowie prüfvorrichtung zur prüfung eines kabelsatzes
DE2333046A1 (de) Fehlerpruefschaltung
DE1227146B (de) Anordnung zum Pruefen der Umschaltezeiten von elektronischen Schalteinrichtungen aufHalbleiterbasis
DE2921680A1 (de) Schaltungsanordnung insbesondere zum pruefen von elektrischen schaltungen
DE2823465A1 (de) Leiterplatte mit steckverbindern