DE2206409A1

DE2206409A1 - Verfahren und Vorrichtung zur In spektion dielektrischer Korper

Info

Publication number: DE2206409A1
Application number: DE19722206409
Authority: DE
Inventors: Larry Joe Schepler Kent Leon Toledo Ohio Schmersal (V St A )
Original assignee: Owens Illinois Inc
Current assignee: OI Glass Inc
Priority date: 1971-03-16
Filing date: 1972-02-11
Publication date: 1972-09-21
Also published as: FR2129416A5; DE2206409B2; GB1380349A; DE2206409C3; US3708064A; JPS5146617B1

Description

Verfahren und Vorrichtung zur Inspektion dielektrischer Körper

Die Erfindung ist insbesondere anwendbar bei automatischen Inspektionsvorriehtungen zum Messen der Wanddicke in den verschiedenen Abschnitten von Glasbehältern. Es wird in unmittelbarer Nähe eines begrenzten Oberflächenbereiches des Behälters ein Hochfrequenzfeld errichtet und der durch die Einführung eines dielektrischen Materials in das Feld verursachte Wechsel in der Feldstärke gemessen. Diese Messung wird vorzugsweise durch Anordnung einer Sonde in der Feldebene und in der Mitte des errichteten Feldes durchgeführt, so daß das Feld in die Wand des Behälters oder des zu messenden dielektrischen Körpers hineingeht. Die an der Sonde induzierte Spannung zeigt einen Jechsel in der Feldstärke infolge der Dicke des Dielektrikums an. Mari hat festgestellt, daß das Spannungsausgangssignal von der Sonde über einen erheblichen Teil des Messbereiches linear ist, insbesondere für den Bereich von Glasbehältern, deren Dicke zwischen 0,010 und 0,070 Zoll schwanken kann.

üs ist erwünscht;, Glasbehälter mit 'Janddicken unterhalb einer

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vorgegebenen Abmessung auszuscheiden, da Behälter mit dünnen Bereichen in ihren ..andab schnitten während der Handhabung beim,Füllen und Verschließen mit Kappen häufig reissen oder brechen.

Es gibt bestimmte Grenzen hinsichtlich der Dicke des die V/ände des Gegenstandes "bildenden Glases, die allgemein akzep tiert v/erden. Bei geblasenen Glasbehältern hat man festgestellt, daß bei einem Behälter mit einer dicken Seitenwand im all gemeinen auch ein entsprechend dünnv/andiger abschnitt entsteht. Wenn die Abweichung zwischen dem dicksten und dünnsten Abschnitt der wand des Behälters die zulässigen Toleranzen übersteigt, dann ist der geblasene Glasbehälter nicht annehmbar, da er möglicherweise nicht den Drücken des Inhalts standhält oder keine ausreichende Ifeoci^keit hst, um die Handhabung beim Füllen, Verpacken und Verteilen zu überstehen.

Es sind bereits Versuche mit automatischen Inspektionsverfahren und -vorrichtungen durchgeführt worden, bei denen ein Hochfrequenzfeld zur Anwendung kommt. Beispiele dieser Vorschläge zeigen die US-Patentschrift Nr. 3 379 306 vom 23· April 1968 und die US-Pabentschrift Hr. 3 393 799 vom 23· Juli 1968» Während die in den oben erwähnten Patenten beschriebenen Vorschläge äußerst befriedigend w^reri, hat man doch festgestellt, daß eine gewisse Notwendigkeit besteht, V/echsel in der Stäi'ke des Hochfrequenz-Lgnuls, die durch Verstärkungsschwankungen, Kabeldurchbiegung, auf den Sonden

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angesammelten Schmutz und dergleichen verursacht werden, ausgleichen zu können.

In den Patent 3 379 306 v/urde eine Bezugssonde benutzt, die so angeordnet war, daß sie das gesendete Hochfrequenzsignal ohne Veränderung des Signals durch den zu prüfenden Behälter empfing. Die Bezugssonde war so angeschlossen, daß sie eine Großenkalibrierung ermöglichte und ein Zurückwerfbezugssignal erzeugte, r.iit dem das Dickenmeßsignal verglichen werden konnte. In dem Patent 3 393 799 wurde zur Bildung einer Zurückwerfrignalstärke, mit der dann das gemessene Signal verglichen werden konnte, ein Bezugssignal unmittelbar von dem gesendeten Ilochfrcquenzsignal abgeleitet. VJährend die beiden oben ^v 3schriebenen Verfahren befriedigend arbeiten, sorgen sie jedoch nicht für einen automatischen Ausgleich für Wechsel in der Bochfrequenzcignalstärke.

lis ist daher die Aufgabe der 3rfindung, ein verbessertes Verfahren und eine verbesserte Vorrichtung zur Inspektion dielektrischer körper zu schaffen. Ein besonderes Ilerkmal der Lrfinuuii" besteht in eier Schaffung eines Verfahrens und einer Vorrichtung zun Inspizieren dielektrischer Körper, die einen eutona ti sehen Ausgleich schaff er. für inner-halb einer gegebenen Zeit auftretendξ Schwankungen, die auf Veränderungen an den Komponenten oder Umgecungsverlüiderungen zurückzuführen sind.

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Ein besonderer Vorzug der Erfindung besteht in der Schaffung eines verbesserten Verfahrens und einer verbesserten ' Vorrichtung zur Bildung eines Signals, dessen Größe der Glaswanddicke proportional ist, wobei ilullvolt bedeutet, daß die Glasdicke gleich Null ist.

Bei dem verbesserten Verfahren und der verbesserten Vorrichtung gemäß der Erfindung wird automatisch ein Bezugssignal erzeugt, das mit der Glasdicke von Null vergleichbar ist, selbst wenn innerhalb einer gegebenen Zeit möglicherweise die Komponenten altern und TemperaturSchwankungen auftreten.

Uin v/eiterer Vorzug der Erfindung besteht in der Bestimmung der Glasdicke lediglich durch den Wechsel in der Amplitude eines Hochfrequenzsignals.

Die obigen Merkmale und Vorzüge v/erden in einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung in einer Vorrichtung zum Messen der I/anddicke von Glasbehältern verwlklicht. Es sind Vorrichtungen vorgesehen, um die Behälter in einer Reihe in eine Inspektionsstation hereinzuführen. Vieitere Mittel an der InspektioncstEtion drehen die Behälter um ihre eigene senkrechte Achse. An der Inspektionsstation ist wenigstens ein Inspektionskopf vorgesehen, der Mittel zur Bildung eines elektromagnetischen Feldes beatzt, welches

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sich durch eine Behälterwand hindurcherstreckt, sowie Sondeneinrichtungen zum Messen des elektromagnetischen Feldes. Ein mit der Sonde verbundener Verstärker liefert ein Heßsignal, dessen Amplitude sich in Abhängigkeit von einer Veränderung in dem von der Sonde gemessenen elektromagnetischen Feld ändert. Es sind Einrichtungen vorgesehen, die das Heßsignal empfangen, bevor ein Behälter in die Inspektionsstation hineinbewegt wird, um ein Bezugssignal zu bilden. Nachdem der Behälter in die Inspektionsstation hineinbewegt worden ist, vergleichen Einrichtungen zur Aufnahme des Meßsignals dieses Meßsignal mit dem Bezugssignal, um ein Signal proportional zur Wanddicke des in dem elektromagnetischen Feld befindlichen Behälters abzuleiten. Außerdem sind Mittel vorgesehen, die auf das Bezugssignal ansprechen, um ein ZurückwerfStärkesignal zu bilden. Eine Vergleichseinrichtung vergleicht das Wanddickensignal und das Zurückwerfstärkesignal, um anzuzeigen, ob ein Behälter annehmbar oder nicht annehmbar ist.

Weitere Merkmale, Vorteile und Eigenheiten der Erfindung gehen aus der folgenden Beschreibung in Verbindung mit den beigefügten Zeichnungen hervor. Es zeigeni

Fig. 1· eine Draufsicht auf eine Vorrichtung unter Verkörperung der Lehre dieser Erfindung,

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Fig. 2 einen Schnitt durch die in Fig. 1 gezeigte Vorrichtung nach Linie II-II der Fig. 1,

Fig. 3 ein Blockschaltschema der elektronischen Anlage unter Anwendung der Lehre dieser Erfindung.

Die in Fig. 1 und 2 gezeigte Vorrichtung führt Flaschen einzeln aus einer Reihe von auf einem Förderer angeordneten Flaschen in einen sich drehenden Träger hinein, der die Flaschen zu einer Inspektionsstation führt, in v/elcher die Flaschen gedreht werden. Die Einzelheiten dieser Vorrichtung sind der oben erwähnten US-Patentschrift 3 379 306 zu entnehmen.

Der Träger bringt einen 3ehälter vor einer Inspektionsvorrichtung in Stellung. Während der Behälter so in Stellung gebracht wird, wird er um seine senkrechte Achse gedreht, und die Inspektionsköpfe werden in den entsprechend gewählten senkrechten Stellungen genau in enger Nachbarschaft zu den Seitenwänden der Flaschen gehalten. Es können beliebig viele Sonden- oder Inspektionseinrichtungen zum Messen der Dicke mehrerer Umfangsbereiche einer Behälterwand angeordnet werden.

Abweichungen in der Wanddicke des jeweils inspizierten Behälters rufen ein Signal hervor, welches von dem System verarbeitet

wird, das eine Vorrichtung zum automatischen Auswerfen

beeiner jeden Flasche/dient, deren Dimensionen außerhalb der Dimensionstoleranzen für annehmbare Behälter liegen. In den Figuren 1 und 2 wird die Vorrichtung gemäß der Erfindung in einer zweckmäßigen Lagerung neben einem Eingangskettenförderer 11 gezeigt, der die zu inspizierenden Flaschen B trägt. Die Flaschen sind vorzugsweise mit Längsabstand auf dem Förderer 11 entlang angeordnet, so daß sie in zeitlicher Abstimmung mit den in dem Förderer 12 gebildeten Taschen nacheinander ankommen.

Der Förderer 12 hat die Form von zwei parallel zueinander und mit Abstand voneinander angeordneten Scheiben und 14. Die Scheiben 13 und 14 sind durch einen Block miteinander verbunden und voneinander auf Abstand^ehalten, um eine allgemein bei 12 bezeichnete einstückige Konstruktion zu bilden. In der Mitte der Konstruktion 12 ist eine Welle 16 befestigt und wird von einer Vorrichtung (nicht gezeigt) angetrieben, die eine Schaltbewegung in die Inspektionstation hinein und aus ihr heraus ermöglicht.

Die obere Scheibe 13 ist mit Schlitzen 17 versehen, in die die Hälse der Flaschen B hineinpassen, während die untere Scheibe 14 mit Schlitzen 18 versehen ist, in die die

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untere Seitenwand einer Flasche hineinpaßt. Beim Weiterschalten des Trägers 12 in Richtung des darauf gezeigten Pfeiles 19 werden die Flaschen B nacheinander von dem Eingangsförderer 11 in die Inspektionsstation gegenüber den Inspektionsköpfen 20 geführt.

Die Flaschen werden auf ihrem bogenförmigen Weg von dem Eingangsförderer 11 durch eine Schiene 21 geführt. An der Ausgangsseite der Inspektionsstation ist eine Schiene 22 vorgesehen, um die Flaschen innerhalb der durch die Schlitze 17 und 13 gebildeten Taschen zu halten. Die Schienen 21 und 22 sind von ausreichender Breite, so daß sie die Seiten der Flaschen in einer solchen Weise erfassen können, daß sie die Flaschen wehrend ihrer bogenförmigen Bewegung von dem

und

Eingangsförderer 11 zur Inspektionsstation/durch diese hindurch an einem Umkippen hindern.

Die Eingangsschiene 21 ist mit einem Belag versehen, bestehend aus einem Material, das die Flaschen im Reibungseingriff erfaßt. Die Flaschen werden auf ihren Weg vom Eingangsförderer 11 in die Inspektionsstation aufgrund ihres Reibungseingriffs mit dem Belagmetarial auf der Schiene 21 im Uhrzeigersinne um ihre Achse gedreht. Auf diese Weise wird die Anfangsreibung überwunden, die beim Drehen der Flaschen an der Inspektionsstation auftritt, da sich die Flaschen bei ihrer Ankunft

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an der Inspektionsstation bereits im Uhrzeigersinne drehen,

und/Zusammenwirkung mit der Rolle 25 erteilt ihnen eine zusätzliche Drehbewegung im Uhrzeigersinne bei relativ hohen Ge schwindigkeiten.

hinein

Bei ihrer Bewegung in die Inspektionsstellung/werden die Flaschen durch Zusammenwirkung mit einem Federarm 23, der in mittlerer Höhe der B'lasche gegen ihre Seitenwand drückt, aus den Schlitzen 17 und 18 herausgedrückt. Sowie die Flasche die in fest ausgezogenen Linien in Fig. 2 gezeigte Stellung erreicht, erfaßt der untere Absatzteil der Flasche die Antriebsrolle Die Rolle 25 wird von einer Welle 28 getragen, die wiederum die Antriebsriemenscheibe 27 trägt. Die Riemenscheibe 27 wird durch eirm Riemen 28 vom Motor 29 aus angetrieben. Der Motor 29 treibt die Rolle 25 ununterbrochen, und wenn die Flasche mit der Rolle 25 in Zusammenwirkung gelangt,dann wird die Flasche um ihre senkrechte Achse gedreht. Um ein Aufprallen der Flasche auf die Rolle 25 oder ein zeitweiliges Lösen derselben von dieser Rolle zu verhindern, wird die Flasche durch einen B'ederarm 30 niedergehalten. Wenn es erforderlich ist, zusätzliche Niederhaltemittel anzubringen, dann kann eine Rolle vorgesehen werden, die die Flasche ai ihrem Oberteil erfaßt, etwa wie in der oben erwähnten Patentschrift Nr. 3 379 offenbart.

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Wenn die zu inspizierende Flasche in der Inspektionsstation angeordnet ist, dann wird eine Anzahl von Inspektioncköpfen 20 mit senkrechtem Abstand voneinander gegen die Seitsrwand der Flasche zur Anlage gebracht. Der jeweilige Bankrechte Abstand sowie die Anordnung der Köpfe sind abhängig von der jeweils bevorzugten Ausführungsform und von den Erfahrungen bei der Inspektion von Flaschen. Jede besondere Konstruktion hat im allgemeinen ihre eigenen Bereiche, in denen Schwierigkeiten hauptsächlich auftreten, indem nämlich bei der Herstellung von Flaschen die lieigung besteht, in besonderen bekennten Bereichen Behälter mit dünnen Wandabschnitten zu formen. Die Köpfe v/erden daher im allgemeinen gegenüber denjenigen Wandte ilen des Behälters angeordnet werden, in denen aufgrund von Erfahrungen mit größter Wahrscheinlichkeit dünne Wandabschnitt3 auftreten werden.

Die Einzelheiten der in dieser Erfindung zweckmäßig au verwendenden Inspektionsköpfe 20 sind in dem oben erwähnten US-Patent 3 393 799 offenbart und beschrieben. Eine Lagerplatte 40 trägt die senkrecht voneinander auf Abstand gehaltenen Köpfe 20 in einer Stellung an der Inspektionsstation angrenzend an die Außenfläche des Behälters. Jeder Inspektionskopf trägt ein Abstandsrad 43. Der Umfang des Abstandsrades 43 erstreckt sich über die Vorderseite der Inspektionskopfsonde hinaus und legt somit einen

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Abstand des Inspektionskopfes mit Bezug auf eine Flasche B fest, wenn sich die Flasche in ihrer Eingriffsstellung "befindet.

Es wird nunmehr mit Bezug auf Fig. 3 der elektronische Meßteil der Anlage beschrieben. Es wird von dem Generator 50 ein Hochfrequenzsignal zu einer leitfähigen Hülse 46 in einem Kopf 20 geleitet, die eine Hochfrequenzantenne bildet. Das Hochfrequenzsignal kann in der Größenordnung von 13 56O 000 Perioden je Sekunde liegen, um ein Hochfrequenzfeld zu errichten, das sich von der Vorderseite der Antenne 46 nach außen in den Seitenwandbereich des in Eingriff befindlichen Behälters B erstreckt. Dieses Feld hat in Abhängigkeit von der Dielektrizitätskonstanten des vor dem Kopf 20 angeordneten Materials eine bestimmte Stärke und Form. Wenn der Behälter in die Inspektionsstation hineinbewegt wird, dann v.drd das Feld in einem bestimmten Ausmaß verformt, die Feldstärke wird verändert, und die Amplitude sowie die Phase de? in der Sonde 49 induzierten Hochfrequenzsignals

v.'erd/ in Abhängigkeit von der Dicke des dielektrischen Materials vor der Antenne 46 verändert. Daher verändert sich die Große der in der koaxial in der Antenne 46 des Kopfes 20 angeordneten Sonde 49 induzierten Spannung im wesentlichen linear nit der Veränderung in der Dicke des zu messenden Gla

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Es sei darauf hingewiesen* daß jeder Inspektionskopf innerhalb der Anzahl mit dem in_rFig. 3 schematisch gezeigten identisch sein kann und daß beliebig viele dieser Köpfe zum Hessen der Wanddikencharakteristik eines zu prüfenden Gegenstandes vorgesehen werden können. Während die bevorzugte Ausführungsform der Erfindung anhand einer Vorrichtung erläutert ist, die sich hauptsächlich auf das Hessen der Wanddike von Glasbehältern richtet, liegt es doch auf der Hand, daß die unter Betracht stehende Vorrichtung auch geeignet ist zum Messen der Wanddicke bei anderen geformten Gegenständen aus dielektrischem Material, wie z.B. Glasplatten, Röhren usw. Während ferner die elektronische Anlage insbesondere auf das Feststellen dünner Bereiche von Glasbehälterwänden mit einer nicht annehmbaren Dicke gerichtet ist, sei doch darauf hingewiesen, daß die Erfindung auch in der Form abgewandelt v/erden könnte, daß sie ein Alarmsignal feststellt, wenn eine Wanddicke oberhalb einer bestimmten Dimension festgestellt wird. Es mag unter Umständen nicht nur wünschenswert sein, lediglich eine übermäßige Wanddicke festzustellen; es sei auch daran erinnert, daß im Vorhergehenden gesagt wurde, daß gegenüber einer übermäßigen Wanddicke im allgemeinen in einem anderen Teil der Flasche eine zu geringe Wanddicke vorhanden ist. Daher kann

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unter Umständen eine Flasche mit einer übermäßigen Wanddicke, obwohl kein zu dünner Abschnitt festgestellt wurde, zur Ausführung einer weiteren Inspektion oder einer erneuten Prüfung beiseite gestellt werden, um sicherzustellen, daß nicht entsprechende dünnwandige Abschnitte in der Flasche vorhanden sind.

Es ist ein linearer Hochfrequenzverstärker 51 zur Aufnahme des Signals von der Sonde 49 angeschlossen und bildet ein Gleichspannungssignal, dessen Amplitude mit derjenigen des von der Sonde 49 empfangenen Hochfrequenzeingangssignals in Beziehung steht oder proportional zu dieser ist.

Es ist ein Summierungskreis 60 vorgesehen, bestehend aus einem Rechenverstärker (operational amplifier) OA-1 mit einer ersten Eingangsklemme 61, einer zweiten Eingangsklemme 62 und einer Ausgangsklemme 63. Der Rechenverstärker OA-1 ist ein bekannter Stromkreis, der ein verstärktes Ausgangssignal erzeugt, welches abhängig ist lediglich von den Konstanten des Stromkreises und im wesentlichen unabhängig ist von der Verstärkung des Verstärkers und daher von Eingangsspannungen, der Alterung von Röhren, Röhrenaustausch sowie anderen Veränderungen in den Komponenten etc. Dieses Ergebnis entsteht

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aufgrund der Tatsache, daß bei einer großen Verstärkung jegliche Veränderung in der Verstärkung die äquivalente Wirkung der Stromkreiskonstanten gerade genügend verändert, um die Wirkung des Wechsels in der Verstärkung aufzuheben. Diese Verstärker werden als Rechenverstärker (operational amplifieres) bezeichnet, weil sie zur Durchführung von Rechenvorgängen benutzt werden können.

Der Ausgang des Summierungskreises 60 ist durch einen Schalter SW mit dem Eingang eines Integrationskreiees 80 verbunden. Der Schalter SW ist abhängig von der Stellung der Einrichtung zum Schalten der einteiligen Konstruktion

in
12. Das heißt, daß/dieser Ausführungsform eine mechanische Verbindung zwischen der Schalteinrichtung 70 und dem Schalter SW den Schalter SW öffnet, wenn sich die Taschen in der Konstruktion 12 gegenüber den Inspektionsköpfen 20 befinden. Der Schalter SW wird durch die Schalteinrichtung 70 geschlossen, wenn sich keine Taschen gegenüber den Inspektionsköpfen 20 befinden. Daher ist bei der Zuführung von Behältern nacheinander zum Schaltträger der Schalter SW offen, wenn an der Inspektionsstation ein Behälter inspiziert wird, und ist geschlossen, wenn sich kein Behälter an der Inspektionsstation befindet.

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Der Integratbnskreis 80 besteht aus einem Rechenverstärker OA-2 mit einer ersten Ein^angsklemme 81,einer zweiten Eingangsklemme 82 und einer Ausgangskiemme 83.

Dor Summierungskreis 60 ist, wie sein iJame sagt, ein Kreis, dessen Ausgangsspannung proportional zu einer gewerteten Summe seiner Eingangsspannungen ist. Die Wertungsfaktoren können entweder positive oder negative Konstante sein. Somit kann der Summierungskreis auch zum Subtrahieren von Spannungen benutzt werden.

Der Integrierungskreis 80 ist ein Stromkreis, in welchem sich die Ausgangsspannung in einem von der Ehgangsspannung bestimmten Ausmaß ändert. Genauer gesagt, nimmt die Ausgangsspannung ununterbrahen in einem von der Eingangsspannung bestimmten Ausnaß ab, wenn die Eingangsspannung zum Integrator positiv ist. Je positiver die Eingangsspannung, um so schneller fällt die Ausgangsspannung. Wenn die Eingangsspannung zum Integratorkreis 80 gleich Iiull ist, dann bleibt die Ausgangspannung fest und erfährt keinerlei Veränderung, solange die Eingangs spannung auf dem Viert Null verbleibt. Wenn die Einsangscpannung zum integrator negativ ist, dann nimmt die Ausgangsspannung in einem durch die Eing^angsspannung bestimmten Maße zu. Je negativer die Eingangsspannung ist, um so

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schneller steigt die Ausgangsspannung an.

In der Auslegung des Summierungskreises 60 und des Integratorkreises 80 wird für die Eingangsklemmen 61, 62 und 81 durch
die Anordnung der daran angeschlossenen Komponenten und deren Werte eine Stronkreiskonstante abgeleitet. Zur Erläuterung des Betriebes der verschiedenen hier erörterten Stromkreise sind
die Hetzverbindungen für die Rechenverstärker fortgelassen worden, da deren Anschluß Fachleuten auf diesem Gebiet klar ist. Verbindungen nit der Chassismassc sind angedeutet durch das
3nde der elektrischen Leitungen an der die einzelnen Stromkreise umgebenden punktierten Linie.

Hit Bezug auf die Klemme 61 ist ein Rückkopplungswiderstand R₀ zwischen der Aucgangsklemrae 63 und der Klemme 61 angeschlossen während zwischen dem Verstärker 51 und der Klemme 61 ein Dingangswiderstand R^ angeschlossen ist. Comit ist eine Konstante K. für die Uingangsklemme 61 gleich

Γ«.

R₁

Mit Bezug auf die iHemme 62 ist ein Vidcrctand Rp zwischen der

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Ausgangsklemme 83 des Integrators 80 und der Klemme 62 angeschlossen, während zwischen der Klemme 62 und der Chassismasse ein Widerstand IU angeschlossen ist. 3s ist ersichtlich, daß dann eine Konstante Kp für die Klemme 62 gleich

R-

R,

ist. Mit Bezug auf die Eingangsklemme 81 des Integrierungskreises 80 ist ein Kondensator C zwischen der Ausgangsklemme 83 und der Bingangsklemme 81 angeschlossen, während zwischen der iiingangsklemme 81 und dem Schalter SW ein Widerstand R. angeschlossen ist. Somit ist die Konstante K_Q für den Anschluß 81 gleich

Zum Verständnis des Betriebs und der Zusammenwirkung zwischen dem Sumiaierungskreis 60 und dem Integrationskreis 80 ist es erforderlich, einen Unterschied zu machen zwischen der Zeit,während der der Schalter SW offen ist, und der Zeit, während der er geschlossen ist. Zur Meichterung dieser Unter-

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scheidung bezeichnet ein Stern auf dem Spannungssymbol den Wert dieser Spannung während der Zeit, in der der Schalter S!'/ geschlossen ist. Z.B. wird bei Bezugnahme auf die Spannung e. an der Klemme 64 bei geschlossenem Schalter Z\J das Symbol et benutzt, während das Symbol e^ nur bei offenem
Schalter SW verwendet wird.

In dem durch den Summier-ungskreis 60 und den Integrator 30 gebildeten Kreis wird das iTodukt der Konstanten K~ und
K_? negativ gemacht, wodurch eine automatische Steueranlage erster Ordnung bei geschlossenem Schalter SW gegeben ist.
Wie bereits erwähnt, bleibt der Ausgang des Integrators 80 nur dann unverändert, wenn seine Eingangsspannung gleich
Null ist. Wenn daher die Ausgangsspannung e# von der Klemme 63 positiv gemacht wird, sinkt die Ausgangsspannung e% an
der Klemme 83 ab. Wenn die Spannung eft negativ ist, dann
steigt die Ausgangs spannung ef§ an der Klemme 83 an. Da das Erzeugnis der Konstanten K_Q und K₂ negativ gemacht wird, ist dieser Ansbieg oder Abfall in der Spannung e* derart, daß K. e* + K_?e* die Neigung haben, den Wert Null anzunehmen.

Da der Wert K^eIj- + ^Kp^e2 ^{die Summe der} Eingänge zum Summierungskreis 60 ist, ist dieser Wert gleich der ü.ußgangsspannun£

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eg an der Klemme 63. Wenn die Spannung e£ auf Null gebracht

wird, dann bleibt die Ausgangsspannung ei an der Klemme S3 des Integrators 80 fest, und somit bleibt die Ausgangsspannung et an der Klemme 53 des Summierungskreises 60 auf ITuIl. Das heißt, die Anlage ist gesättigt und es treten keine Veränderungen ein, wenn sich nicht die üüngangsspannung ef zur Klemme 64 ändert.

Wenn somit der Schalter SW geschlossen ist, was nur dann eintritt, wenn sich kein Glas vor oder in der liähe der Sonde 49 befindet, dann wird die Ausgangsspannung et, die gleich der Cumme aus K.e^ + K^e* ist, auf ITuIl gebracht, und zwar bei einer Geschwindigkeit, die durch das Produkt der Konstanten K₀ und K^ bestimmt wird. Wenn der Schalter SVi durch die Schalteinrichtung 70 geöffnet wird und sich dann ein Glas vor der Sonde 49 befindet, dann bleibt die Spannung e₂ an der Klemme 63 unverändert auf ihrem unmittelbar vorhergehenden Wert et, weil der :;ingan^ zu:n Integratorkreis 60 bei geöffnetem Schalter SW Γ.υ-Γ ITuIl ist. Die LiMgnnpsspannun^ c. an der Klemme 64 'inrert Eich in ihrer Amplitude geaäß der Dicke dec Glaces vor ce? Sonde k9. Dieccn verursache einen Anstieg der Größe cir Ausgangs spannung c"-, res Surtnicruiigskreises 60 auf eine üiclit-iiull-Spannun;", OLe :;u der Dicke des Glases vor der Soitb 49 in einer ira vreEcntlicjiCr- monotonen Weise in Beziehung ctaht. Das /;cii;t, v.^renn ciei ^T.ic:'i-vt-n 9p gleich Hull ist, dann is-t die entsprechende ul;-air-:c i|bich ITuIl.

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Die Spannung c« an der Klemme 63 stellt dann ein Dickensignal dar, das nit einer ZurückwerfßtUrkespannung verblieben λ/iru, um festzustellen, ob die Dicke annehmbar ist oder nicht.

Beim betrieb der Anlage ohne ein Glon vor der Sonde 49 vrird eine /.ungangsspannung et ersielt, die das liichtvorhanrlensoin cinec Gegenstanden anzeigt, und die eine uiezugsspnnnung darr teilt, die eino Glr.ndicke von ilull anzeigt. DiQZC !Dczugßnprnnung e* anließt sämtliche Wechsel ein, die möglicherv:ci.<'c in den Komponenten der Anlage oder in den Unpebungsfaktoron aufcetreten sein können, und die unter uiiict-'.'ndcn dir ilühc; der durch die Anlage erzeugten Spannungen beeinträchtigen können, z.B. Umf;ebungGtenperatur, Anh:'u:7un/"* von r,c.jnutz auf den Sonden oder den Abstandcrollen oder dergleichen, \7enn dann die Anlage ein Signal verarbeitet, das bei Vorhandensein eines Glrses vor der Sonde 49 empfangen vmrde, dann kann die automatisch ausgeglichene Spannung e_o als υezugsspannung zum Vergleich mit der Hingangsspannung o^ benutzt v/erden, um die Summierungseinriclitung 60 in die Lage zu versetzen, an der Klemme 63 eine Dickenspannung Gq zu erzeugen, die ein echtes Haß für die Dicke des vor der Sonde befindlichen Glases darstellt. Die

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Spannung e_o verbindet sich mit der Spannung e_A in dem Versuch

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zur Bildung eines Ausgangs der Summierungseinrichtung mit dem Wert Null, wenn sich kein Glas in der Nähe der Sonde befindet.

Die automatisch ausgeglichene Bezugsspannung e« an der Klemme 83 wird auch benutzt zur Erzeugung oder Errichtung einer automatisch ausgeglichenen Zurückwerfbezugsspannung. An die Ausgangsspannung an der Klemme 83 des Integrators 80 ist ein Potentiometer 90 mit einer beweglichen Zapfstelle 91 angeschlossen. Die Bewegung der Zapfstelle 91 ermöglicht die Wahl einer Zurückwexrfstärke entsprechend einer annehmbaren Mindestglasstärke von beispielsweise 0,040 Zoll. Da die dem Potentiometer 90 zugeführte Spannung βρ automatisch ausgeglichen wird, wird auch die bei 91 von der Zapfstelle abgenommene Zurückwerfbezugsspannung automatisch ausgeglichen.

Fig. 3 zeigt Einrichtungen zum Vergleich des Ausgangs von dem Summierungskreis 60 mit einem Zurückwerfbezugssignal, um ein Zurückwerfsignal zu bilden, wenn die Dicke des Gegenstandes unter dem annehmbaren Hindes-twert liegt, der durch die Größe des Zurückwerfbezugssignals gegeben ist.

Zu diesen Vergleichseinrichtungen gehört ein erster Vergleichskreis 100 einschließlich eines Rechenverstärkers OA-3 mit einer

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Eingangsklemme 101, einer Eingangsklemme 102 und einer Ausgangsklemme 103. Ein Widerstand Rg stellt eine Verbindung zwischen der Eingangsklemme 101 und dem von dem Summierungskreic 60 herangeführten Dickensignal her. Ein Widerstand Hr, verbindet die Eingangsklemme 102 mit der einstellbaren Zapfstelle des Potentiometers 90 und somit mit dem Auswerfbezugssignal. Zwischen der Ausgangsklemme 103 und der Chassismasse ist eine Diode D1 angeschlossen. Die Diode D1 an dem Ausgang des Rechenverstärkers OA-3 begrenzt den Ausgang des Vergleichsstromkreises auf eine Spannung zwischen der positiven Zuführung sspannung (Sättigung) und Hull. Infolge eier sehr hohen Verstärkung durch den Verstärker OA-3 ist nur ein leichter rein positiver Eingang erforderlich, um den Ausgang auf den positiven Sättigungspunkt zu bringen,oder ein leicht negativer Eingang, um den Ausgang des Vergleicherkreises 100 auf ilull zu bringen.

Zu den Vergleichsvorrichtungen gehört außerdem ein zweiter Vorgleichsstromkreis 120 einschließlich eines Rechenvorstärkern OA-4 mit einer Eingangsklemme 121, einer Eingang ski emrns 122 und einer Ausgangsklemme 123. Die Eingangskiemme 121 ist über einen Widerstand Rg so angeschlossen, daß sie das Dickensignal von dem Summierung skr eis 60 empfängt. Die Eingangckleüime 121 ist ebenao über einen Widerstand R₈ an den Ausgang des

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Vcrgleichr.kreises 100 angeschlossen. Die Eingangskimnio 121 kann über einen Widerstand Fi.. _Q an eine Vorspannungsquelle angeschlonron werden. Der !^ingang 12Ti ist an die Chassis-"lasne angcjccLlossen. Die Diode D2 verbindet die Ausgangsklenme Ii!3 i-ii v, oxr Chasslsrnassc, urn den Ausgang des Vergleichskroises 120 au:: eine Spannung zwischen der positiven Netzspannung und liull zu begrenzen. Aufgrund der sehr hohen Verstärkung du:."cii den Verstärker OA-^^-- wird wiederum nur ein Ci ringer i'ein positiver Hingang benötigt, um den Auegang auf den positiven Sättigungspunkt zu bringen, und nur ein geringer negativer Eingang, urn don Ausgang auf Null zu bringen.

I-j c ist vränsclicnsvert, die Ge samt anzahl der inspizierten xjehMlter festzustellen, Ds kann Zeiträur-ie geben, während c.oror die Inspe):tionseinrici:tunf; genäß dieser 1-rfindung ununterbrochen betrieben vfird, während derer jedoch keine Behälter f"ir die Innpehtiori verfügbar sind. In diesen Falle kann das Aurgangsci,;ηε\1 πιε einem einfaclicn Vergleich zwischen den Dickensignal und den Zurüc'cwcrfü^ugssigncJ nicht benutzt wc:V.an, in sowohl die Durchführung einer Behälterinspektion anzuzeigen als euch ein Zurückverfsignal zum Zurückwerfen eines fehlerhaften Behälters zu bilden. Dieses ist darauf zurückzuführen, daß sowohl die Tatsache der Abwesenheit eines

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8AD ORIGINAL

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Behälters an der Inspektionsstation als auch ein Behälter mit einer zu dünnen Wand an dem Ausgang des ersten Vergleichskreises 100 eine Anzeige entsprechend einem zurückzuv/e rf enden Behälter hervorrufen. Der Vergleichskreis 120 wird benutzt, um die iibertjgcrung eines Signals entsprechend einer clünnen Wand von dem Vergleichskreis 100 auf die Auswerfsteuerung 130 zu verhindern.

Der erste Vergleichskreis 100 bildet ein positives Ausgangssignal, wenn das Dickensignal von dem Sunmierungskreis 60 über dem Auswerfstärkesignal liegt. Wenn das Dickensignal eine geringere Größe h± als das Auswerfstärkesignal dann ist der Ausgang des Vergleichskreises 100 gleich Null. Da es kaum vorkommen kann, daß der zu inspizierende Behälter nicht irgendwelche Bereiche von einer größeren als der Ilindestdicke aufweist, wenn man bedenkt, daß bei den Behältern die Neigung besteht, gegenüber jedem dünnwandigen Abschnitt einen entsprechenden dickwandigen Abschnitt zu haben, wird der Ausgang des ersten Vergleichskreises 100 benutzt, um einen Zähler 110 für die insgesamt inspizierten Gegenstände auszulösen.

Wie bereits im Vorhergehenden erwähnt, erscheint bei Ilichtvorhandensein eines Behälters an dem Ausgang des ersten Vergleichs-

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kreises 100 ein Signal entsprechend einem dünnwandigen Behälter. Der zweite Vergleichskreis 120 entfernt dann die Information, die das Nichtvorhandensein eines Gegenstandes bedeutet, von dem Ausgang des ersten Vergleichskreises 100. Damit der zweite Vergleichskreis 120 einen Ausgang von einem anderen Wert als Null oder einen positiven Ausgang hat, der ein Zurückwerfen anzeigt, wird das Dickensignal von der Summierungseinrichtung 60 über den Widerstand Rg überwacht und muß einen durch die Beaufschlagung festgelegten Mindestwert überschreiten, um das Vorhandensein eines Gegenstandes anzuzeigen. Außerdem muß der Ausgang des ersten Vergleichskreises 100 gleich Null sein. Der zweite Vergleichskreis 120 bildet dann ein positives Zurückwerfsignal an der Ausgangsklemme 123 zum Betrieb der Zurückwerfsteuerung 130.

Es wird nochmals auf die Fig. 1 Bezug genommen, in der eine Zurückvrerfvorrichtung im Bereiche der Schaltkondruktion 12 gelagert ist und die Form eines solenoid-betätigten Strömungsmittelmotors mit einem hin- und her-beweglichen Abtriebskörper 132 annehmen kann. Bei Lage des Körpers 132 in der gezeigten Stellung werden die auf dem Ausgangs^förderer 48 ankommenden Flaschen daran gehindert, sich aus den in dem Träger 12 gebildeten Taschen herauszubewegen. Beim nächsten Schaltta-kt werden die Flaschen, die auf diese Weise an dor Ausführung

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einer Bewegung auf dem Förderer 58 gehindert sind, in die durch die leere Tasche 59 bezeichnete Stellung weitergeführt, wo die Flasche dann abgegeben und aus der faschine ausgeworfen wird. Wenn die zu messende oder zu inspizierende Flasche eine annehmbare Vanddicke hat, dann veranlaßt die Zurückwerfsteuerung 135 ein Zurückziehen der Körper 61, wodurch es der Flasche gestattet ist, sich auf dem Förderer 58 aus den Taschen heraus und zu den folgenden Packbereichen hin zu bewegen.

Ss ist somit in dieser Beschreibung ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Messen der Dicke eines aus dielektrischem Material gebildeten Gegenstandes beschrieben unc offenbart worden. Ss ist eine Inspektionsstation vorgesehen, die Kittel zur Bildung eines Hochfrequenzfeldes an der Station aufweist,

eines

welches sich durch wenigstens einen Teil/an der Station vorhandenen Gegenstandes hindurcherstreckt. Die Gegenstände v/erden in die Inspektionsstation hinein-und aus ihr herausgeführt. Das an der Station errichtete Hochfrequenzfelcl wird gemessen und es wird ein Ausgangssignal gebildet, dessen Amplitude mit der Amplitude der gemessenen Hochfrequenz in Beziehung steht. Zwischen den Inspektionsvorgängen ist eins Einrichtung vorgesehen, die auf die Stellung do:.· SchalieLnrichtung anspricht, um das I-Ießsignal aufzunehmen und ein Aus-

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gangs signal zur Bezeichnung des Ilichtvorhandenseins eines Gegenstandes zu bilden, dessen Amplitude mit dem empfangenen i-Ießsignal in Beziehung steht. Das "bei Vorhandensein eines Gegenstände an der Station empfangene Meßs%ial wird dann mit einem bei Ilichtvorhandensein eines Gegenstandes gegebenen Ausgangssignal verglichen, um ein Dickensignal abzuleiten, welches der Dicke desjenigen Abschnitts des Gegenstandes proportional ist, durch den das Hochfrequenzfeld hindurchführt. Von dem bei Ilichtvorhandensein eines Gegenstandes gegebenen Signal wird außerdem ein Zurückwerfbezugss^ial abgeleitet, welches einer annehmbaren Dicke proportional ist. Das Dickensignal wird dann mit dem Auswerf bezugo signal verglichen, um die Annehmbarkeit des zu inspizierenden Gegenstandes zu bestimmen.

Abschließend sei darauf hingewiesen, daß, während das erläuterte Beispiel eine praktische Ausführungsform der Erfindung darstellt, die Erfindung keineswegs auf die hier gegebenen Einzelheiten beschränkt ist, sondern Abwandlungen dieser üünselheiten möglich sind, ohne vom Gedanken und Bereich der Erfindung abzuweichen.

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Claims

Patentansprüche :

1. Verfahren zur Inspektion von Glasbehältern, gekennzeichnet durch die Übertragung eines Hochfrequenzsignals auf eine Inspektionsstation, den Empfang des gesendeten Hochfrequenzsignals und die Bildung eines Meßsignals, dessen Amplitude mit der Amplitude des empfangenen Signals in Beziehung steht, sowie die Festlegung des Gleichmeßsignals bei Nichtvorhandensein eines Behälters an der Inspektionsstation, Bewegen einer Behälterwand an einem Inspektionspunkt vorbei zur Veränderung der Amplitude des empfangenen Signals und somit des Heßsignals genäB der Dicke der Wand an dem Inspektionspunkt, und Vergleichen des sich ändernden Ileßsignals mit dem Gleichmeßsignal zur Ableitung eines Dickensignals proportional zu der Dicke der sich bewegenden Wand.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Dickensignal mit einem Auswerfbezugssignal verglichen wird, um einen nicht-annehmbaren Behälter festzustellen, wobei die Größe des Auswerfbezugssignals durch das Gleichmeßsignal überwacht wird, um für bei längerem Gebrauch auftretende Veränderungen in den Plomponenten oder Ujgebungsfaktoren automatisch einen Ausgleich zu schaffen.

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3ΛVorrichtung zum Messen der Dicke eines aus dielektrischem Material gebildeten Gegenstandes, gekennzeichnet durch eine Inspektionsstation mit Mitteln zur Errichtung eines Hochfrequenzfeldes an der Inspektionsstation, welches sich durch wenigstens einen Teil eines an der Inspektionsstation vorhandenen Gegenstandes hindurcherstreckt, Mittel zur Bewegung eines Gegenstandes in die Inspektionsstation hinein und aus ihr heraus, Mittel zum Messen des an der Inspektionsstation errichteten Hochfrequenzfeldes und zur Bildung eines Ausgangssignals, dessen Amplitude mit der Amplitude der gemessenen Hochfrequenz in Beziehung steht, Mittel, die auf die Stellung der Schalt- oder Führungseinrichtung ansprechen, um das Meßsignal aufzunehmen, v/enn sich an der Inspektionsstation kein Gegenstand "befindet, und ein Abwesen-. heitssignal zu geben, dessen Amplitude zu dem empfangenen Meßsignal in Beziehung steht, sowie Mittel zum Vergleich eines bei Vorhandensein eines Gegenstandes an der Inspektionsstation gegebenen Meßsignals mit einem Abwesenheitssignal, um ein Dickensignal proportional zu der Dicke des' Abschnitts des Gegenstandes abzuleiten, durch den das Hochfrequenzfeld hindurchführt.

4. Vorrichtung nach Anspruch 3» gekennzeichnet durch Mittel zum Ableiten eines Zurückwerfbezugssignals von dem Abwesen-

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heitssignal, welches proportional zu einer annehmbaren Dicke ist, und Mittel zum Vergleich des Dickensignals mit dem Zurückwerfbezugssignal, um die Annehmbarkeit eines Gegenstandes zu bestimmen.

5. Vorrichtung nach Anspruch 4, gekennzeichnet durch Ilittel zum relativen Bewegen des Gegenstandes und des Hochfrequenzfeldes zur Erlangung eines Dickensignals für verschiedene Abschnitte des Behälters, wobei die Vergleichseinrichtungen zum Vergleich des Zurückwerfsignals mit dem Dickensignal Mittel einschließen, die bei Feststellung einer annehmbaren Dicke ein Ausgangssignal bilden.

6. Vorrichtung nach Anspruch 5, ferner gekennzeichnet durch Zählvorrichtungen, die auf die Peststellung einer annehmbaren Dicke ansprechen, um damit die Inspektion eines Gegenstandes anzuzeigen.

7. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Vergleichsmittel für das Zurückwerfbozugssignal und das Dickensignal Überwachungseinrichtungen zur Überwachung des Dickensignals einschließen, um festzustellen, ob tatsächlich ein Gegenstand inspiziert wird, und ein Zurückwerfsignal zu bilden, wenn während der Inspektion eines Gegenstandes keine annehmbare Dicke festgestellt wird.

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8. Vorrichtung zum Kessen der Wanddicke von Glasbehältern, gekennzeichnet durch Mittel zur Bewegung einer Reihenfolge von Behältern in eine Inspektionsstation, Mittel an dieser Station zum Drehen der Behälter um ihre eigene senkrechte Achse, wenigstens einen Inspektionskopf an der Inspektionsstation mit Mitteln zur Errichtung eines elektromagnetischen Feldes, das sich durch eine Wand des BebeLters hindurcherstreckt, und Sondeneinrichtungen zum Messen des elektromagnetischen Feldes, Mittel zur Bildung eines Meßsignals, dessen Amplitude in Abhängigkeit von durch die Sonde festgestellten Veränderungen in dem elektromagnetischen Feld schwankt, Mittel zum Empfang dieses Meßsignals, bevor ein Behälter in die Inspektionsstation hineinbewegt wird, und zur Bildung eines Bezugsausgangssignalε, sowie Mittel zum Smpfang des Meßsignals, nr.chdem ein Behälter in die Station hineinbewegt wurde, und zum Vergleichen des Meßsignals mit dem Bezugssignal zur Ableitung eines Signals proportional zu der Dicke der Wand des Behälters in dem elektromagnetischen Feld, wobei automatisch ein Ausgleich für das Maßsignal beeinträchtigende Veishderungen an Komponenten und Umgebungsfaktoren geschaffen wird.

9. Vorrichtung nach Anspruch 8, gekennzeichnet durch Mittel, die auf das Bezugsausgangssignal ansprechen, um ein Auswerfstärkesignal zu bilden und Mittel zum Vergleich des Dicken-

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signals und des Auswerfstärkesignals zur Anzeige des Vorhandenseins eines annehmbaren Behälters.

10. Vorrichtung zum Hessen der Dicke eines aus dielektrischem Material gebildeten Behälters, gekennzeichnet durch Mittel zur Bewegung des Behälters in eine Inspektionsstation hinein und aus ihr heraus, Mittel zur Bildung eines Hochfrequenzfeldes an der Inspektionsstation, welches sich durch einen Teil des an der Inspektionsstation vorhandenen Gegenstandes hindurcherstreckt, Mittel zur Feststellung der Stärke des Feldes an der Inspektionsstation und zur Bildung eines Ausgangssignals, welches ein Maß für die Feldstärke ist, Mittel, die auf die Tätigkeit der den Gegenstand bewegenden Einrichtungen ansprechen, um das Feldmcßsignal zu empfangen und ein oignal zur Bezeichnung des Iiichtvorhandenseins eines Gegenstandes zu geben, welches ein Maß für die Feldstärke ist, wenn kein Gegenstand an der Inspektionsstation vorhanden ist, sowie Mittel zum Vergleich eines Meßsignals bei Vorhandensein eines Gegenstandes an der Inspektionsstation mit dem Signal zur Bezeichnung des Ilichtvorhandensein6 einc-s Gegenstandes, um ein Signal zu bilden, das ein Maß für die Dicke des Abschnitts des Gegenstandes ist, durch den sich das Feld hindurcherstreckt.

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11. Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß' . die Signaleinrichtung zur Bildung des Abwesenheitsignals und die Vergleichseinrichtungen einen Summierungsstromkreis, einen Integrierungsstromkreis und eine Schalteinrichtung umfassen, die sich schließt, wenn sich kein Gegenstand an der Inspektionsstation "befindet, und den Ausgang des Summierungsstromkreises mit dem Eingang des Integrierungsstromkreises verbindet, wobei der Suramierungsstromkreis eine erste Eingangseinrichtung zum Empfang des Meßsignals und eine zweite Eingangseinrichtung zum Empfang eines Ausgangssignals von dem Integrierungskreis aufweist.

12. Vorrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß der Ausgang des Integrationskreises als eine negative Rückkopplung mit Bezug auf das von dem Summierungskreis empfangene Heßsignal an den Eingang des Summierungskreises angeschlossen wird und dadurch die Neigung hat, den Ausgang dieses Summierungskreises auf Null zu bringen, wenn die Schalteinrichtung geschlossen ist.

13. Vorrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß der Integrierungskreis oinen Ausgang bildet, der sich mit einer durch den empfangenen Eingang bestimmten"Geschwin digkeit ändert und bei einem Eingangswert von Null ein festes Ausgangs3.ignal bildet.

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14. Vorrichtung nach Anspruch 11, gekennzeichnet durch Mittel zur Ableitung eines Zurückwerfsignals von dem Ausgang des Integrationskreises und Mittel zum Vergleich des Ausgangs von dem Summierungskreis mit dem Zurückwerfeezugssignal zur Bildung eines Ztlrückwerfsignals, wenn die Dicke des Gegenstandes unterhalb eines annehmbaren Mindestwertes liegt, der durch die Größe des Zurückwerfbezugssignals festgelegt ist.

15. Vorrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtungen zum Vergleich des Zurückwerfbezugssignals und des Sumraierungskreisausgangssignals einen ersten Vergleichskreis einschließen, der einen ersten Eingang zur Aufnahme des Summierungskreisausgangssignals, einen zweiten Eingang zur Aufnahme des Zurückwerfbezugssignals und einen Ausgang zur Bildung eines Ausgangssignals im Falle einer Überschreitung des Zurückwerfbezugssignals durch das Summierungskreisausgangssignal aufweist, sowie einen zweiten Vergleichskrds mit einer Eingangsvorrichtung zur Aufnahme des Summierungskreisausgangssignals und des Ausgangssignals von der ersten Vergleichseinrichtung, einer Ausgangseinrichtung zur Bildung eines Zurückwerfsignals, wenn der Gummierungskreisausgang eine meßbare Dicke eines Behälters anzeigt und der Ausgang des ersten Vergleichskreises eine geringere als die Ilindestdicke für den Gegenstand pnzeigt.

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16. Vorrichtung nach Anspruch 15, gekennzeichnet durch Mittel zur relativen Bewegung des Gegenstandes und des Feldes εη der Inspektionsstation zum Messen der Dicke verschiedener Abschnitte des Gegenstandes und Zähleinrichtungen, die auf den Ausgang des ersten Vergleichskreises ansprechen, um die inspizierten Gegenstände in Abhängigkeit von einer Anzeige zur Bezeichnung einer annehmbaren Dicke in irgendeinem

zu
Teil des Behälters/zählen.

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