DE2206409B2 - Verfahren und Vorrichtung zur Dickenmessung von dielektrischen Körpern - Google Patents

Verfahren und Vorrichtung zur Dickenmessung von dielektrischen Körpern

Info

Publication number
DE2206409B2
DE2206409B2 DE2206409A DE2206409A DE2206409B2 DE 2206409 B2 DE2206409 B2 DE 2206409B2 DE 2206409 A DE2206409 A DE 2206409A DE 2206409 A DE2206409 A DE 2206409A DE 2206409 B2 DE2206409 B2 DE 2206409B2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
signal
circuit
thickness
output
input
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE2206409A
Other languages
English (en)
Other versions
DE2206409A1 (de
DE2206409C3 (de
Inventor
Kent Leon Schepler
Larry Joe Schmersal
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
OI Glass Inc
Original Assignee
Owens Illinois Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Owens Illinois Inc filed Critical Owens Illinois Inc
Publication of DE2206409A1 publication Critical patent/DE2206409A1/de
Publication of DE2206409B2 publication Critical patent/DE2206409B2/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2206409C3 publication Critical patent/DE2206409C3/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/02—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B7/06—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
    • G01B7/08—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using capacitive means
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/04—Sorting according to size
    • B07C5/12—Sorting according to size characterised by the application to particular articles, not otherwise provided for
    • B07C5/122—Sorting according to size characterised by the application to particular articles, not otherwise provided for for bottles, ampoules, jars and other glassware
    • B07C5/128—Sorting according to size characterised by the application to particular articles, not otherwise provided for for bottles, ampoules, jars and other glassware by means of electric, for example electronic measurement
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/02—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahrer zur Dickenmessung von dielektrischen Körpern, insbesondere Glasbehältern, bei dem der untersuchte Körper in ein Hochfrequenzfeld gebracht wird, dieses beeinflußt und dadurch in einer Sonde eine Veränderung der induzierten Spannung hervorruft die mit der Dicke des untersuchten Körpers in Beziehung steht sowie eine Vorrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens, mit einer Untersuchungsstation, in der ein Hochfrequenzfeld erzeugt werden kann und in die der zu untersuchende Körper zumindest zum Teil eingebracht werden kann, mit meiner Sonde, die das jeweils an der Untersuchungsstation herrschende Feld ermittelt und ein Meßsignal liefert das eine Funktion der Dicke des jeweils vorhandenen Körpers ist
Derartige Verfahren bzw. Vorrichtungen sind aus den US-Patentschriften 33 79 306 sowie 33 93 799 bekannt. Bei letzterer wird ein Referenzsignal einfach dadurch erhalten, daß die Hochfrequenz in einer Stufe etwas abgeschwächt wird. Dieses abgeschwächte Signal wird dann in einer als Komparator arbeitenden Mischstufe mit dem von der Sonde kommenden Meßsignal verglichen. Hier steht das Refernezsignal mit keiner tatsächlich gemessenen Größe in Relation.
Bei der Schaltungsanordnung, die in der US-Patentschrift 33 79306 beschrieben ist ist zur Erzeugung des Referenzsignals eine zweite Sonde vorgesehen. Diese Sonde ist außerhalb des eigentlichen Meßweges angeordnet und gibt deshalb kein Signal, das ein Maß für die Schichtdicke Null ist
Mit beiden bekannten Schaltungsanordnungen wird
letztlich ein Referenzsignal erzeugt, das ein konstanter, bestimmter Bruchteil des gesendeten Hochfrequenzsignals sain soll Sie haben folgende Nachteile: Die diversen verwendeten Bauteile, d.h., die Schwächer, Phasenschieber und Mischstufen, haben naturgemäß s eine Langzeitdrift, die das Referenzsignal beeinflußt. Die »Schaltschwelle« der Vorrichtung bleibt damit zeitlich nicht konstant. Da ferner diese Schaltungen, auch wenn sie sonst ideal arbeiten, nur erkennen, wenn eine bestimmte, durch das Referenzsignal vorgegebene ι ο Materialdicke unterschritten wird, nicht aber, wenn wirklich die Dicke »Null« vorliegt, wird die Auswerfvorrichtung auch dann immer betätigt, wenn gar kein Behälter in der Untersnchungsstation ist
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es somit, ein Verfahren bzw. eine Vorrichtung zu schaffen, bei denen keine Zehtfrift auftritt, und: zwischen »echten« Abmessungsfeblern und dem vollständigen Fehlen eines zu vermessenden Körpers unterschieden werden kann.
Das srRndungsgeinäBe Verfahren, mit dem diese Aufgabe gelöst wird, ist dadurch gekennzeichne:,daß in den Perioden des Arbeitstaktes, in denen sich kein Körper im Hochfrequenzfeld befindet, ein Nullsignal abgeglichen und gespeichert wird, und daß in den Perioden des Arbeitstaktes, in denen sich ein Körper im Hochfrequenzfeld befindet, das Meßsignal ermittelt und mit dem Null-Signal verglichen wird, woraus ein Dickensignal ermittelt wird.
Eine vorteilhafte Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens ist in Anspruch 2 angegeben.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung ist dadurch gekennzeichnet, daß ein Schalter vorgesehen ist, der geschlossen ist, wenn sich kein Körper in der Meßstation befindet, und in dieser Schließstellung eine Kompensationsschaltung gebildet wird, die ein NuIl-Signal erzeugt und speichert, das für die Dicke »Null« des untersuchten Körpers repräsentativ ist, daß der Schalter offen ist, wenn sich ein Körper in der Meßstation befindet, und daß in dieser Offenstellung an eine Komparatorschaltung das Meßsignal sowie das gespeicherte Null-Signal angelegt sind und hieraus ein Dickenmeßsignal am Ausgang der Komparatorschaltung ermittelt wird
Vorteilhafte Weiterbildungen der erfindungsgemäßen Vorrichtung sind in den Ansprüchen 4 bis 9 angegeben.
Bei der Erfindung wird laufend und wiederholt ein Signal ermittelt, das für die Körperdicke »Null« steht Dieses Signal stellt eintn physikalisch sinnnvollen Bezugspunkt für den Vergleich mit dem eigentlichen Meßsignal urn für die Referenzspannung dar. Dieser Bezugspunkt ist unabhängig von Langzeitdrift, Temperaturschwankungen oder auf sonstige Weise entstandene Spannungsveränderungen im System.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nachfolgend anhand der Zeichnung näher erläutert; es zeigt
F i g. 1 eine Draufsicht auf eine erfindungsgemäße Vorrichtung,
F i g. 2 einen Schnitt durch die in F i g. 1 gezeigte Vorrichtung nach Linie H-Il der F i g. 1, eo
Fig.3 ein Blockschaltschema der elektronischen Anlage unter Anwendung der Lehre dieser Erfindung.
Die in Fig.) und 2 gezeigte Vorrichtung führt Flaschen einzeln aus einer auf einem Förderer angeordneten Flaschenreihe in einen sich drehenden Träger 12 hinein, der die Waschen zu einer Untersuchungsstation führt In dieser werden die Flaschen gedreht.
Der Träger 12 bringt die Flasche vor dar Untersuchungsvorrichturag in Stellung. Die Rasche wird um ihre senkrechte Achse gedreht; die Meßköpfe werden in entsprechend gewählten senkrechten Stellungen in enger Nachbarschaft an den Seitenwänden der Rasche gehalten. Es können beliebig viele Meßköpfe verwendet werden.
Abweichungen in der Wanddicke der jeweils untersuchten Rasche rufen ein Signal hervor, welches eine Vorrichtung zum automatischen Auswerfen der Rasche bedient, deren Dimensionen außerhalb der Dimensionstoteranzen liegen.
Der jeweilige senkrechte Abstand sowie die Anordnung der Köpfe sind abhängig von den Erfahrungen bei der Untersuchung der betreffenden Raschen. Jede besondere Raschenausbfldung im allgemeinen ihre besonderen Bereiche, in denen Schwierigkeiten hauptsächlich auftreten. Bei der Herstellung von Raschen besteht nämlich die Neigung, daß b besonderen, bekannten Bereichen Himm» Wonrfabsehnitte gehfldet werden. Die Köpfe werden daher im allgemeinen gegenüber denjenigen Wandteilen der Rasche angeordnet, in denen aufgrund von Erfahrungen mit gröiker Wahrscheinlichkeit dünne Wandabschnitte auftreten.
Es wird nunmehr mit Bezug auf Fig.3 der elektronische Meßteii der Anlage beschrieben. Von dem Generator 50 wird ein Hochfrequenzsignal zu einer leilfähigen Hülse 46 in einem Kopf 20 geleitet, die eine Hochfrequenzantenne bildet Die Frequenz des Hochfrequenzsignal kann in der Größenordnung von 13 560 000Hz liegen. Das Hochfrequenzfeld erstreckt sich von der Vorderseite der Antenne 46 nach außen in den Seitenwandbereich der Rasche Ä Dieses Feld hat in Abhängigkeit von der Dielektrizitätskonstanten des vor dem Kopf 20 angeordneten Materials eine bestimmte Stärke und Form. Wenn die Rasche in die Untersuchungsstation hineinbewegt wird, dann wird das FeW in einem bestimmten Ausmaß verformt; die Feldstärke wird verändert, und die Amplitude sowie die Phase des in der Sonde 49 induzierten Hochfrequenzsignals werden in Abhängigkeit von der Dicke des dielektrischen Materials vor der Antenne 46 verändert Daher verändert sich die Größe der in der koaxial in der Antenne 46 des Kopfes 20 angeordnete.1 Sondi 49 induzierten Spannung im wesentlichen linear mit der Dicke des zu messenden Glases.
Ein linearer Hochfrequenzverstärker 51 ist zur Aufnahme des Signals von der Sonde 49 angeschlossen und erzeugt ein Gleichspannungssignal, dessen Amplitude mit derjenigen des von der Sonde 49 empfangenen Hochfrequenzsignals in Beziehung steht oder proportional zu dieser ist
Ein Summierungskreis 60 ist vorgesehen, bestehend aus einem Rechenverstärker OA-X mit ein^r ersttn Eingangsklemme 61, einer zweiten Eingangsklemme 62 und einer Ausgangsklemme 63.
Der Ausgang des Summierungskreises 60 ist durch einen Schalter 5VKm-* dem Eingang eines Integrationskreises 80 verbunden. Der Schalter S Wist abhängig von der Stellung des Trägers 12 Das heißt, daß in dieser Ausführungsform eine mechanische Verbirsdung zwischen der Schalteinrichtung 70 und dem Schalter SW den Schalter 5W öffnet, wenn sich die Taschen in dem Träger 12 gegenüber d.-n MeBköpfen 20 befinden. Der Schalter SW wird durch die Schalteinrichtung 70 geschlossen, wenn sich keine Taschen gegenüber den Meßköpfen 20 befinden. Daher ist der Schalter SW offen, wenn an der Untersuchunesstation eine Flasche
geprüft wird, und ist geschlossen, wenn sich keine Flasche an der Untersuchungsstation befindet.
Der Integrationskreis 80 besteht aus einem Rechenverstärker OA-2 mit einer ersten Eingangsklemme 81. einer zweiten Eingangsklemme 82 und einer Ausgangskletnme 83.
Der Summierungskreis 60 ist, wie sein Name sagt, ein Kreis, dessen Ausgangsspannung proportional zu einer gewerteten Summe seiner Eingangsspannungen ist. Die Wertungsfaktoren können entweder positive oder negative Konstante sein. Somit kann der Summierungskreis auch zum Subtrahieren von Spannungen benutzt werden.
Der Integrierungskreis 80 ist ein Stromkreis, in welchem sich die Ausgangsspannung in einem von der Eingangsspannung bestimmten Ausmaß ändert. Genauer gesagt, nimmt die Ausgangsspannung ununterhrnrhpn in pinpm von rfpr Finoanoccnanmino hpciimm.
Anschluß 81 gleich
Zum Verständnis der Funktion und der Zusammenwirkung zwischen dem Summierungskreis 60 und dem Integrationskreis 80 ist es erforderlich, einen Unterschied zu machen zwischen der Zeit, während der der
to Schalter SW offen ist, und der Zeit, während der er geschlossen ist. Zur Erleichterung dieser Unterscheidung bezeichnet ein Stern auf dem Spannungssymbol den Wert dieser Spannung während der Zeit, in der der Schalter SW geschlossen ist Zum Beispiel wird bei
Ii Bezugnahme auf die Spnnung ei an der Klemme 64 bei geschlossenem Schalter SW das Symbol ei benul/t. während das Symbol C\ nur bei offenem Schalter SW
ten Ausmaß ab, wenn die Eingangsspannung zum Integrator positiv ist Je positiver die Eingangsspannung, um so schneller fällt die Ausgangsspannung. Wenn die Eingangspannung zum Integratorkreis 80 gleich Null ist, dann bleibt die Ausgangsspannung fest und erfährt keinerlei Veränderung, solange die Eingangsspannung auf den Wert Null verbleibt. Wenn die Eingangsspannung zum Integrator negativ ist. dann nimmt die Ausgangsspannung in einem durch die Eingangsspannung bestimmten Maße zu. Je negativer die Eingangsspanuung ist, um so schneller steigt die Ausgangsspannung an.
Bei der Auslegung des Summierungskreises 60 und des Integratorkreises 80 wird für die Eingangsklemmen 61, 62 und 81 durch die Anordnung der daran angeschlossenen Komponenten und deren Werte eine jtromkreiskonstante abgeleitet Zur Erläuterung der Funktion der verschiedenen hier erörterten Stromkreise sind die Netzverbindungen für die Rechenverstärker fortgelassen worden, da deren Anschluß Fachleuten auf diesem Gebiet klar ist Verbindungen mit der Chassismasse sind angedeutet durch das Ende der elektrischen Leitungen an der die einzelnen Stromkreise umgebenden punktierten Linie.
Ein Rückkopplungswiderstand Ro ist zwischen der Ausgangsklemme 63 und der Klemme 61 angeschlossen, während zwischen dem Verstärker 51 und der Klemme 6! ein Eingangswiderstand ,?, angeschlossen ist. Somit ist eine Konstante K\ für die Eingangsklemme 61 gleich
Ein Widerstand Ri ist zwischen der Ausgangsklemme 83 des Integrators 80 und der Klemme 62 angeschlossen, während zwischen der Klemme 62 und der Chassismasse ein Widerstand Rj angeschlossen ist Es ist ersichtlich, daß dann eine Konstante K2 für die Klemme 62 gleich
ist Ein Kondensator C ist zwischen der Ausgangsklemrr,e S3 und der EsngangsidcninicSJ des intcgrstionskreises angeschlossen, während zwischen der Eingangsklemme 81 und dem Schalter SW ein Widerstand A4 angeschlossen ist Somit ist die Konstante K0 für den
In dem durch den Summierungskreis 60 und den
Integrator 80 gebildeten Kreis wird das Produkt der Konstanten K0 und K2 negativ gemacht. Wie bereits erwähnt, bleibt das Ausgangssignal des Integrators 80 nur dann unverändert, wenn seine Eingangsspannung gleich Null ist. Wenn daher die Ausgangsspannung eS
2ϊ von der Klemme 63 positiv gemacht wird sinkt die Ausgatigsspannung ej an der Klemme 83 ab. Wenn die SpannuK ? ej negativ ist, dann steigt die Ausgangsspannung e| an der Klemme 83 an. Da das Produkt der Konstanten Ko und Ki negativ gemacht wird, ist der
in Anstieg oder Abfall in der Spannung e* derart, daß K\e* + K2e$ die Neigung habin, den Wert Null anzunehmen.
Da der Wert Ki ef + ^eJ die Summe der Eingangssignale am Summierungskreis 60 ist, ist dieser Wert
j5 gleich der Ausgangsspannung eS an der Klemme 63. Wenn die Spannung aj auf Null gebracht wird, dann bleibt die Ausgangsspannung ef an der Klemme 83 des Integrators 80 fest; somit bleibt dann die Ausgangsspannung ej an der Klemme 63 des Summierungskreises 60 auf Null. Das heißt, die Anlage ist gesättigt und es treten keine Veränderungen ein, wenn sich nicht die Eingangsspannung ef zur Klemme 64 ändert
Wenn somit der Schalter SWgeschlossen ist, was nur dann der Fall ist, wenn sich kein Glas vor oder in der Nähe der Sonde 49 befindet dann wird die Ausgangsspannung e£ die gleich der Surr;—.c aus K,c* -i- K1C* ist, auf Null gebracht und zwar mit einer Geschwindigkeit die durch das Produkt der Konstanten K0 und K2 bestimmt wird. Wenn der Schalter SW durch die Schalteinrichtung 70 geöffnet wird und sich danr. ein Glas vor der Sonde 49 befindet dann bleibt die Spannung ef an der Klemme 83 unverändert auf ihrem unmittelbar vorhergehenden Wert e£ weil das Eingangssignal zum Integratorkreis 80 bei geöffentem
Schalter SW auf Null ist Die Eingangsspannung ef an der Klemme 64 ändert sich in ihrer Amplitude gemäß der Dicke des Glases vor der Sonde 49. Dieses verursacht einen Anstieg der Ausgangsspannung ejdes Summierungskreises 60 auf eine Nicht-Null-Spannung, die zu der Dicke des Glases von der Sonde 49 in einer im wesentlichen monotonen Weise in Beziehung steht Das heißt wenn der Wert von ej gleich Null ist dann ist die entsprechende Glasdicke gleich NuE
Die Spannung e$ an der Klemme 63 stellt dann ein
b3 Dickensignai dar.
Beim Betrieb der Anlage ohne Glas vor der Sonde 49 wird eine Ausgangsspannung ef erzielt die das Nichtvorhandensein eines Gegenstandes anzeigt, und
die eine Bezugsspannung darstellt, die eine Glasdicke »Null« anzeigt. Diese Bezugsspannung ej berücksicht sämtliche Veränderungen, die möglicherweise in den Komponenten der Anlage oder in den Umgebungsfaktoren aufgetreten sein können, und die unter Umständen cV Höhe der durch die Anlage erzeugten Spannungen beeinträchtigen können, z. B. Umgebungstemperatur, Anhäufung von Schmutz auf den Sonden oder den Abstandsrollen oder dergleichen Wenn die Anlage ein Signal verarbeitet, das bei Vorhandensein eines Glases vor der Sonde 49 empfangen wird, dann kann die automatisch abgeglichene Spannung ο als Uezugsspannung zum Vergleich mit der Eingangsspnnnung Ci benutzt werden. Die Summierungseinrichtung 60 wird so in die Lage versetzt, an der Klemme 63 eine Dickenspannung a> zu erzeugen, die ein echtes Maß für die Dicke de? UC der
hnfinrllirhpn ΓΐΙ;ι<.ΡΛ
darstellt.
Die automatisch abgeglichene Bezugsspannung C2 an der Klemme 83 wird auch benutzt zur Erzeugung einer automatisch ausgeglichenen Referenzspannung. An die Klemme 83 des Integrators 80 ist ein Potentiometer 90 mit einem beweglichen Schleifer 91 angeschlossen. Durch die Bewegung des Schleifers 91 kann die Auswerfdicke, entsprechend einer annehmbaren Mindestglasstärke, gewählt werden. Da die dem Potentiometer 90 zugeführte Spannung C2 automatisch abgeglichen wird, wird auch die bei 91 am Schleifer abgem mmene Referenzspannung automatisch abgeglichen.
Fig. 3 zeigt außerdem die Einrichtungen zum Vergleich des Ausgangssignals des Summierungskreis 60 mit dem Referenzsignal. Ein Auswerfsignal wird erzeugt, wenn die Dicke des Gegenstandes unter dem annehmbaren Mindestwert liegt, der durch die Größe des Referenzsignals gegeben ist.
Zu diesen Vergleichseinrich'ungen gehört ein erster Vergleichskreis 100 einschließlich eines Rechenverstärkers OA-3 mit einer Eingangsklemme 101, einer Eingangsklemme 102 und einer Ausgangsklemme 103. Ein Widerstand Re stellt eine Verbindung zwischen der Eingarigskiemme 101 und dem von dem Summierungskreis 60 herangeführten Dickensignal her. Ein Widerstand Ri verbindet die Eingangsklemme 102 mit dem einstellbaren Schleifer des Potentiometers 90 und somit mit dem Referenzsignal. Zwischen der Ausgangsklemme 103 und der Chassismasse ist eine Diode D1 angeschlossen. Die Diode D1 an dem Ausgang des Rechenverstärkers OA-3 begrenzt das Ausgan^ssignal des Vergleichskreises auf eine Spannung zwischen der positiven Speisespannung (Sättigung) und Null. Infolge der sehr hohen Verstärkung durch den Verstärker OA-3 ist nur ein leicht positives Eingangssignal erforderlich, um das Ausgangssignal auf den positiven Sättigungspunkt zu bringen, oder ein leicht negatives Eingangssignal, um das Ausgangssignal des Vergleichskreises 100 auf Null zu bringen.
Zu den Vergleichsvorrichtungen gehört außerdem ein zweiter Vergleichskreis 120 einschließlich eines Rechenverstärkers OA-A mit einer Eingangsklemme 121, einer Eingangsklemmc 122 und einer Ausgangsklemme 123. Die Eingangsklemme 121 ist über einen Widerstand Rc, so angeschlossen, daß sie das Dickensignal von dem Summierungskreis 60 empfängt. Die Eingangsklemme -, 121 ist ebenso über einen Widerstand Rg an den Ausgang des Vergleichskreises 100 angeschlossen. Die Eingangsklemme 121 kann über einen Widerstand /?io an eine Vorspannungsquelle angeschlossen werden. Der Eingang 122 ist an die Chassismasse angeschlossen. Die
m Diode Dl verbindet die Ausgangsklemme 123 mit der Chassismasse, um das Ausgangssignal des Vergleichskreises 120 auf eine Spannung zwischen der positiven Netzspannung und Null zu begrenzen. Aufgrund der sehr hohen Verstärkung durch den Verstärker OA-4
π wird wiederum nur ein leicht positives Eingangssignal benötigt, um das Ausgangssignal auf den positiven Süttigung.spunkt zu bringen, und nur ein leicht negatives Eingangssignal, um das Ausgangssignal auf Null /u bringen.
jo Es ist wünschenswert, die Gesamtanzahl der untersuchten Flaschen festzustellen. Es kann Zeiträume geben, in denen die Untersuchungseinrichtung ununterbrochen betrieben wird, in denen jedoch keine Flaschen verfügbar sind. In diesem Falle kann das Ausgangssignal
)-, aus einem einfachen Vergleich zwischen dem Dickensignal und dem Referenzsignal nicht dazu benutzt werden, sowohl die Durchführung einer Flaschenuntersuchung anzuzeigen als auch ein Signal zum Auswerfen einer fehlerhaften Flasche zu bilden. Dies ist darauf
so zurückzuführen, daß sowohl die Abwesenheit einer Flasche an der Untersuchungsstation als auch eine Flasche mit einer zu dünnen Wand an dem Ausgang des ersten Vergleichskreises 100 eine Anzeige hervorrufen.
Der erste Vergleichskreis 100 bildet ein positives
r> Ausgangssignal, wenn das Dickensignal von dem Summierungskreis 60 über dem Referenzsignal liegt. Wenn das Dickensignal eine geringere Größe hat als das Referenzsignal, dann ist das Ausgangssignal des Vergleichskreises 100 gleich Null. Da es kaum vorkommen kann, daß die zu untersuchende Flasche nicht irgendwelche Bereiche mit einer größeren als der Mindestdicke aufweist, zu haben, wird das Ausgangssignal des ersten Vergleichskreises 100 dazu benutzt, einen Zähler 110 für die insgesamt untersuchten
*- Flaschen auszulösen
Wie bereits erwähnt, erscheint bei Nichtvorhandensein einer Flasche an dem Ausgang des ersten Vergleichskreises 100 ein Signal wie bei einer dünnwandigen Flasche. Damit der zweite Vergleichskrei.. 120 ein Ausgangssignal von einem anderen Wert als Null bzw. ein positives Ausgangssignal hat, das ein Auswerfen anzeigt, wird das Dickensignal von der Summierungseinrichtung 60 über den Widerstand R? überwacht; es muß einen festgelegten Mindestwert überschreiten, um das Vorhandensein eines Gegenstandes anzuzeigen. Außerdem muß das Ausgangssignal des ersten Vergleichskreises 100 gleich Null sein. Dann bildet der zweite Vergletchskreis 120 ein positives Auswertsignal an der Ausgangsklemme 123 zum Betrieb der Auswerfsteuerung 130.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen

Claims (9)

  1. Patentansprüche:
    t. Verfahren zur Dickenmessung von dielektrischen Körpern, insbesondere Glasbehältern, bei s dem der untersuchte Körper in ein Hochfrequenzfeld gebracht wird, dieses beeinflußt und dadurch in einer Sonde eine Veränderung der induzierten Spannung hervorruft, die mit der Dicke des untersuchten Körpers in Beziehung steht, da- to durch gekennzeichnet, daß in den Perioden des Arbeitstaktes, in denen sich kern Körper (B) im Hocbfrequenzfefct befindet, ein NuOsignal abgeglichen und gespeichert wird, und daß in den Perioden des Arbeitstaktes, in denen sich ein Körper (B) im ts Hochfrequenzfefcl befindet, das Meßsignal ermittelt und mit dem Nullsignal verglichen wird; woraus ein Dickensignal ermittelt wird.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, da& zusB Aasarerfets eines feh&fenensianierten Körpers (B) aus dem Nullsignal ein Referenzsignal abgeleitet wird, das mit dem Dickenmeßsignal verglichen wird.
  3. 3. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1, mit einer Untersuchungsstation, m der ein Hochfrequenzfeld erzeugt werden kann und in die der zu: untersuchende Körper zumindest zum Teil eingebracht werden kann, mit einer Sonde, die das jeweils an der Untersuchungsstation herrschende Feld ermittelt und ein Meßsignal liefert, das eine jo Funktion der Dicke des jeweils vorhandenen Körpers ist, dadurch gekennzeichnet, daß ein Schalter (SW) vorgesehen ist, der geschlossen ist, wenn sich ein Körper//?} in der Mc-»station befindet, und in dieser Schließstellung eine Kompensationsschaltung (60, 80) gebildet wird, die ein Nullsignal (ei) erzeugt und speichert, das für die Dicke »0« des untersuchten Körpers (B) repräsentativ ist, daß der Schalter (SW) offen ist, wenn sich ein Körper (B) in der Meßstation befindet, und daß in dieser Offenstellung an eine Komparatorschaltung (60) das Meßsignal (ei) sowie das gespeicherte Nullsignal (ei) angelegt sind und hieraus ein Dickenmeßsignal (e&) am Ausgang der Komparatorschaltung (60) ermittelt wird.
  4. 4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Kompensationsschaltung einen Summierungskreis (60) und einen Integrationskreis (80) umfaßt wobei der Ausgang des Summierungskreises (60) über den Schalter (SW)m\\ dem Eingang des Integrationskreises (80) verbindbar ist und der Summierungskreis (60) einen ersten Eingang zum Empfang des Meßsignals und einen zweiten Eingang zum Empfang des Ausgangssignals des Integrationskre ises (80) aufweist
  5. 5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Ausgangssignal des Integrationskreises (80) als negatives Rückkopplungssignal, bezogen auf das von dem Summierungskreis (60) empfangene Meßsignal, an den Eingang des μ Summierungskreis» (60) gegeben ist, wodurch das Ausgangssignal dieses Summterungskreises (60) auf Null gebracht wird, wenn der Schalter (SW) geschlossen ist
  6. 6. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet daß der Integrationskreis (80) ein Ausgangssignal bildet das sich mit einer durch das empfangene Eingangssignal bestimmten Geschwindigkeit ändert und bei einem Ausgangswert von »Null« einen festen Wert annimmt
  7. 7. Vorrichtung nach; Ansprach 4, gekennzeichnet durch Mittel (91) zum Abtaten eines Referenzsignals von dem Ausgangssignal des Integrationskreises (80) und eine Vergieichseinrichtung (100, 120) zum Vergleich des Ausgangssignals des Sumtaierungskretses (60) mit dem Referenzsignal und zur Bildung eines Auswerfsignals, wenn die Dicke des Gegenstandes unterhalb eines Mmdestwertes liegt der durch die Größe des Referenzsignals festgelegt ist.
  8. 8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet daß die Vergleichseinrichtung einen ersten Vergleichskreis (100) einschließt der einen ersten Eingang für das Ausgangssignal des Summierungskreises (60), einen zweiten Eingang für das Referenzsignal und einen Ausgang aufweist zn dem ein Ausgangssignal gebildet wird, wenn das Referenzsignal durch das Ausgangssignal des Sununierungskreises (60) überschritten wird, sowie einen zweiten Vergleichskreis (120) mit einem Eingang für das Ausgangssignal des Summierungskreises (60) und für das Ausgangssignal des ersten Vergleichskreises (108) und einem Ausgang, an dem ein Auswerfsignal erscheint wenn das Summierungskreis-Ausgangssigr.Al eine meßbare Dicke und das Ausgangssignal des ersten Vergleichskreises (100) eine geringere als die Mindestdicke für den Gegenstand anzeigt
  9. 9. Vorrichtung nach Anspruch 8, gekennzeichnet durch eine Zähleinrichtung (110), die auf das Ausgangssignal des ersten Vergleichskreises (100) anspricht
DE2206409A 1971-03-16 1972-02-11 Verfahren und Vorrichtung zur Dickenmessung von dielektrischen Körpern Expired DE2206409C3 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US12468071A 1971-03-16 1971-03-16

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE2206409A1 DE2206409A1 (de) 1972-09-21
DE2206409B2 true DE2206409B2 (de) 1979-05-10
DE2206409C3 DE2206409C3 (de) 1980-01-17

Family

ID=22416243

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE2206409A Expired DE2206409C3 (de) 1971-03-16 1972-02-11 Verfahren und Vorrichtung zur Dickenmessung von dielektrischen Körpern

Country Status (5)

Country Link
US (1) US3708064A (de)
JP (1) JPS5146617B1 (de)
DE (1) DE2206409C3 (de)
FR (1) FR2129416A5 (de)
GB (1) GB1380349A (de)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3776380A (en) * 1973-01-24 1973-12-04 Owens Illinois Inc Apparatus and method for monitoring the status of a radio frequency thickness gauge
US3779378A (en) * 1973-01-31 1973-12-18 Owens Illinois Inc Apparatus and method for linearizing the output of a normally nonlinear radio frequency thickness gauge
US3780859A (en) * 1973-02-08 1973-12-25 Owens Illinois Inc Apparatus and method for displaying the minimum thickness of a dielectric member measured by a radio frequency thickness gauge
DE2434736C3 (de) * 1974-07-19 1980-06-19 Hauni-Werke Koerber & Co Kg, 2050 Hamburg Verfahren und Anordnung zum Prüfen der Umhüllung stabf örmiger Artikel der tabakverarbeitenden Industrie
US4117935A (en) * 1976-06-09 1978-10-03 Bedford Engineering Corp. Apparatus for and method of measuring product mass
US4046258A (en) * 1976-07-02 1977-09-06 Owens-Illinois, Inc. Method and apparatus for measuring the eccentricity of containers
US4147618A (en) * 1977-03-14 1979-04-03 Bedford Engineering Corporation Method and apparatus for measuring product contents
US4413738A (en) * 1981-03-11 1983-11-08 Owens-Illinois, Inc. Apparatus and method for controlling the inspection of finished products
EP0363113B1 (de) * 1988-10-05 1992-12-09 Emhart Glass Machinery Investments Inc. Glasbehälter-Prüfapparat
US5164676A (en) * 1990-12-19 1992-11-17 Emhart Industries, Inc. Machine for inspecting the wall thickness of glass bottles
US5155443A (en) * 1990-12-19 1992-10-13 Emhart Industries, Inc. Machine for inspecting the wall thickness of glass containers
US5394097A (en) * 1992-11-24 1995-02-28 Bechtel; Friend K. Dielectric sensor
GB9317633D0 (en) * 1993-08-25 1994-10-26 Secr Defence Detection of liquid incendiaries
US7308836B1 (en) * 2004-05-28 2007-12-18 Owens-Brockway Glass Container Inc. Apparatus and method for inspecting articles of glassware
US7971497B2 (en) * 2007-11-26 2011-07-05 Air Products And Chemicals, Inc. Devices and methods for performing inspections, repairs, and/or other operations within vessels

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2833937A (en) * 1952-06-19 1958-05-06 Mandrel Industries Compensator, regulator, and two-point compensator-regulator for photoelectric amplifier and sorting system
US3366236A (en) * 1966-04-06 1968-01-30 Mandrel Industries Classifying and sorting by density
US3390769A (en) * 1966-11-23 1968-07-02 Continental Can Co X-ray thickness gauging and classifying apparatus
US3393799A (en) * 1966-12-21 1968-07-23 Owens Illinois Inc Apparatus for measuring the thickness of dielectric members
US3594579A (en) * 1968-06-06 1971-07-20 Univ California Device and method using gamma rays for size and density produce selection

Also Published As

Publication number Publication date
DE2206409A1 (de) 1972-09-21
DE2206409C3 (de) 1980-01-17
GB1380349A (en) 1975-01-15
JPS5146617B1 (de) 1976-12-10
FR2129416A5 (de) 1972-10-27
US3708064A (en) 1973-01-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2206409C3 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Dickenmessung von dielektrischen Körpern
DE2755517A1 (de) Kapazitive vorrichtung zur messung eines fluessigkeitspegels
DE2842028A1 (de) Vorrichtung zum messen der kapazitaet eines kondensators
EP0061520A1 (de) Magnetkernloser Messwandler zum berührungslosen Messen eines Messstromes
DE2152406A1 (de) Anordnung zum bestimmen der aktivitaet von versuchstieren
DE3032155A1 (de) Vorrichtung zur messung einer kapazitaet
DE2412020A1 (de) Positionstableau auf hohem aufloesungsvermoegen
DE19926454A1 (de) Vektorieller Netzwerkanalysator
DE2062073A1 (de) Integrationsgenerator zur Angabe des Numerus einer loganthmischen Funktion
DE2432659A1 (de) Artikelkontrollvorrichtung
DE2637331A1 (de) Sortiereinrichtung fuer furnierabschnitte
CH644952A5 (de) Geraet zur zerstoerungsfreien materialpruefung.
DE2944364C2 (de) Anordnung zur Messung einer Größe, die einen Feldeffekttransistor beeinflußt
DE1287207B (de) Frequenzvergleichsanordnung
DE2036895A1 (de) Satelliten Lageregelung
CH650347A5 (de) Verfahren und einrichtung zum pruefen und identifizieren elektrisch leitender muenzen.
DE1548794A1 (de) Verfahren und Schaltungsanordnung zum Ausloesen eines Integrators
DE3720473A1 (de) Kapazitive fuellstandsmessung
DE3336974A1 (de) Schaltungsanordnung, insbesondere zur anzeige des fluessigkeitsstands in behaeltern
DE1952750A1 (de) Fernmessanlage
DE1294051B (de) Verfahren und Vorrichtung zum Messen des Volumens bzw. des Gewichts einer Menge von im wesentlichen unregelmaessig durch einen Kanal bestimmten Querschnitts gefoerderten Koerpern
DE2252898A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur aenderung der visuellen anzeige einer datenverteilung
DE2261963C2 (de) Vorrichtung zum Anzeigen von Veränderungen in der Dicke von auf einer Bahn vorbewegbaren Gegenständen
DE1498614A1 (de) Vorrichtung zur Bestimmung der elektrischen Leitfaehigkeit von Fluessigkeiten
DE112020002442T5 (de) Sensor zur Detektion elektrostatischer Kapazität

Legal Events

Date Code Title Description
C3 Grant after two publication steps (3rd publication)