DE2203739B2 - Teilstrahlungspyrometer - Google Patents
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- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/52—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using comparison with reference sources, e.g. disappearing-filament pyrometer
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Description
3°
35
40
Meßbereich | . 800 | lilk-ktivc Wellenlänge |
0C | .. 1200 | •/πι |
400 | .1600 | 0,83 |
600.. | ..2000 | 0,60 |
800 . | .. 2500 | 0,49 |
1100.. | . 3000 | 0,35 |
1500.. | ausgebildet ist. | 0,26 |
2000.. | 0,21 | |
Die Erfindung betrifft ein Teilstrahlungspyrometer 45
mit stark überlappten Meßhereichen mit einem Sekundärelektronenvervielfacher
als Strahlungsempfänger und alternierendem Vergleich der Meßstrahlung
mit einer Vergleichsslrahlung sowie Anzeige und/oder Aufzeichnungsvorrichtung für die Meßwerte. Bekannt 50 der Visierkennwert, das Verhältnis zwischen dem not-
700°( bis. zu mehreren tausend Grad verwendet, so
daß bei hohen Temperaturen der Emissionsgradeinfluß wieder erheblich anwächst. Zur Vermeidung fehlerverursachender
Einflüsse irif den Strahlungsempfänger werden vielfach Kompensationsverfahren, die die Meßstrahlung
mit einer Vergleichsstrahlung vergleichen, verwendet. So wird bekanntermaßen in einem Strahlungspyrometer
eine motorisch angetriebene Modulationsscheibe zum Abgleich verwendet, indem alternierend
die Meßstrahlurig und die Vergleichsstrahlung einem Strahlungsempfänger zugeleitet werden (US-Patentschrift
33 54 773).
Weiterhin sind auch Hochtemperaturpyrometer mit UV-Spektralbereichcn bekanntgeworden, die für ein
Kn''4a>
=■ '/' ausgelegt worden sind und einen sehr
geringen Emissionsgradeinfluß besitzen. Sie verwenden Sekundärelektronenvervielfacher als Strahlungsempfänger,
wobei dann aber eine Temperalureinstellung von Hand durchgeführt werden muß und nur eine
Temperatuidifferenzanzeige zwischen eingestellter Solltemperatur und Isttemperatur automatisch erfolgt.
Der An/eigebereich ist infolge der steilen Charakteristik von Strahlungsdichte und Temperatur sehr
schmal (IS-PS 31 61 775).
Mit den bekannten Geräten kann entweder eine automatische Temperaturmessung durchgeführt werden,
und sie sind dann nicht für sehr kleine Kt1/kmo,
geeignet, oder sie besitzen ein sehr kleines k,,„IXmax
und erlauben dieTemperaturmessungnurmiltelsHandeinstellung
und Tempcralurdifleren/anzeige. Nurdiese Ausführung besitzt den schmalen Meßbereichsumfang
infolge der für kleine A111ZAn,,, steilen Charakteristik
von Strahlungsdichte und Temperatur.
Zweck der Erfindung ist es. die angeführten Mangel
weitgehend herabzusetzen und den Anwendungsbereich des Gerätes zu erweitern.
Aufgabe der Erfindung ist es, ein mit dem geringstmöglichen
Enmsionsgradeinfluß arbeitendes und zur
aromatischen i mperaturmessung in breiten Temperaturbereichen
geeignetes Teilstrahlungspyrometer zu entwickeln.
Lrfindungsgemäß wird die Aufgabe durch die Kombination
der im Anspruch 1 f.1 'kennzeichneten Maßnahmen
gelöst. Die sich stark überlappenden Meßbereiche sind so gewählt, daß deren effektive Wellenlängen
bei niedrigen Meßbereichen im infraroten und bei höheren im sichtbaren bzw. ultravioletten Spektralgebict
liegen.
Zur Erreichung eines möglichst kleinen k,,nlkmax wird
sind Gesamtstrahlungs- und Bandstrahlungspyrometer, die für eine möglichst gute Ausnutzung des vorhandenen
Strahlungsspektrums ausgelegt sind. Der Nachteil einer solchen Auslegung der Pyrometer ist ein
starker Emissionsgradeinfluß auf die Temperaturenzeige.
Es sind auch Teilstrahlungspyrometer bekannt, die mit Sekundärelektronenvervielfacher oder Photozellen
arbeiten und für Wellenlängen im sichtbaren Spektralbereich ausgelegt sind. Sie besitzen infolge eines Ver- no
hältnisses der effektiven Wellenlänge zur Wellenliinge mit dem Maximum der spektralen Energieverteilung
Kn/Amax<leine wesentlich steilere Charakteristik von
Strahlungsdichte und Temperatur als vorgenannte Pyrometerarten. Hierdurch wird der Ernissionsgradein- 6s
Ruß stark eingeschränkt.
In Spektralpyrometern wird diese effekte Wellenlänge für alle Meßbereiche im Temperaturbereich von
wendigen Meßobjektdurchmesser und der Meßobjektentl'ernung, auf Werte zwischen 1 :50 bis 1:300 zugunsten
der Bestrahlungsstärke auf der strahlungsempllndlichen
Fläche des Sekundärelektronenvervielfachers in Abhängigkeit vom jeweiligen Meßbereich begrenzt
und λ,./, so gewählt, daß bei der Meßbereichsanfangslempcratur gerade noch die vorgegebene Ansprechempfindlichkeit
eingehalten wird. Als Strahlungsempfänger wird ein Sekundärelektronenvervielfacher
verwendet. Um eventuell fehlerverursachende Einflüsse auf die Temperaturmessung auszuschalten und eine
Hochspannungsstabilisierung zu vermeiden, wird ein Kompensationsverfahren mit einem Vergleichsstrahler
angewendet.
Zur Erreichung von breiten Meßbereichen wird eine Verringerung der Sekundärelektronenvervielfacher-Betriebsspannung
in Abhiingigkeit vom Meßausschlag vorgenommen. Hierdurch tritt eine Begrenzung des
Anodenstromes des Sekundärelektronenvervielfachers ein, so daß bei der Meßbereichsendtemperatur, plus
hundert Grad Sicherheit, keine Überschreitung der maximal zulässigen Stärke des Anodenstromes auftritt.
Eine Ermüdung des Sekundärelektronenvervielfachers durch überhöhte Bestrahlungsstärken wirkt sich durch
das verwendete Kompensalionsvertähren nicht auf die Temperaturmessung aus. Die Reduzierung der Betriebsspannung
des Sekundärelektronenvervielfachers kann entweder durch eine selbstbegrenzende Betriebsspannunffsquelle
oder durch Steuerung einer verstellbaren Betriebsspannungsquelle aus der Kompensationsschaltung
erfolgen. Die Betriebsspannungsquelle ist für den Sekundärelektronenvervielfacher der jeweiligen
Meßtemperatur automatisch anpaßbar ausgebildet Als Kompensationseinrichtung wird ein
servomotorisches Abgleichsystem, bestehend aus Kompensationsverstärker, Stellmotor und Abgleichpotentiometer,
verwendet. Durch diese vorgeschlagene Meßeinrichtung ist es möglich, Temperalurmessungen,
die mit geringsten Fehlern infolge des Emissionsgradeinfiusses behaftet sind, in breiten Temperaturbereichen
automatisch vorzunehmen, wobei durch überlappte Meßbereiche eine optimale Anpassung an bestimmte
Arbeitstemperaturbereiche möglich ist. Als Kompensationseinrichtung werden zuverlässige und
serienmäßig gefertigte Baugruppen verwendet.
Die Erfindung soll an zwei Ausführungsbeispielen und durch Zeichnungen näher erläutert werden. Dabei
zeigt ,ο
Fig. 1 eine grafische Darstellung von Temperaturfenlern,
Fig. 2 den schematischen Aufbau des Gerätes,
Fig. 3 ein Ausführungsbeispie! der Kompensationsschaltung,
Fig. 4ein zweites Ausführungsbeispiel der Kompensationsschaltung.
In der Fig. 1 sind die in den beiden Ausführungsbeispielen auftretenden Abweichungen von der reellen
Temperaturanzeige, infolge einer Änderung des Emissionsgrades von 10% für die einzelnen Meßbereiche
in Abhängigkeit von der Meßbereichstemperatur, grafisch dargestellt.
Die Benummerung der einzelnen Kurven stellt die Zuordnung zu den Meßbereichen dar. Es wurden beispielsweise
folgende Meßbereiche mit nachstehenden effektiven Wellenlängen verwendet:
Lld. Nr.
Meßbereich
0C
0C
Lfd. Nr.
Meßbereich
0C
0C
cfl"
400. | . . 800 | 0,83 |
600. | . . 1200 | 0,60 |
800. | . . 1600 | 0,49 |
1100 | . . 2000 | 0,35 |
1500... 2500
2000 . . . 3000
2000 . . . 3000
Die effektiven Wellenlängen wurden so klein gewählt,
daß der Fehler zwischen 0,3 ... 0,65 % liegt. Die Meßbereiche überlappen sich derartig, daß eine
Anpassung an verschiedene Meßaufgaben bestmöglich ist.
\n Fig. 2 ist der schematische Aufbau des Gerätes dargestellt. Die Strahlung eines Meßobjektes 1 gelangt
über ein optisches System auf einen Sekundärelektronenvervielfacher
2. Durch einen Schwingspiegel 5 wird alternierend die Strahlung eines Vergleichsstrahlers
3 auf den Sekundärelektronenvervielfacher 2 gegeben. Die in Spannungsschwankungen umgesetzten
Slnihlungsunterschiede werden in einer Kompertsalionseinrichtung4
so verarbeitet, daß die Strahlungsdichte des Vergleicltsstrahlers 3 der des Meßobjektes
angeglichen wird.
In Fig. 3 ist ein Ausführungsbeispiel der Kompensationsschaltung schematisch dargestellt. Die Spannungsschwankungen
vom Sekundärelektronenvervielfacher 2 werden in einem Kompensationsverstärker 7 verstärkt und einem Stellmotor 8 zugeführt. Dieser
verstellt ein Abgleichpotentiometer 9 so lange, bis die Bestrahlungsstärke vom Vergleichsstrahler 3 mit der
vom Meßobjekt 1 abgeglichen ist. Das Abgleichpotentiomeler 9 verändert den Heizstrom des Vergleichsstrahlers 3, der aus einer unstabilisierten Spannungsquelle 12 gespeist wird. Der Sekundärelektronenvervielfacher
2 wird aus einer selbstbegrenzenden Betriebsspannungsquelle 6 gespeist. Der Lampenstrom
ist ein Maß der Meßobjekttemperatur. Über einen Normal widerstand 10 können Sekundärgeräte 11 angeschlossen
werden.
In Fig. 4 ist ein zweites Ausführungsbeispiel der Kompensationsschaltung schematisch dargestellt. Hier
wird der Vergleichsstrahler 3 mit einer konstanten Spannung aus der Konstantspannungsquelle 14 gespeist.
Die Stellung des Abgleichpotentiometers 9 ist dann ein Maß der Temperatur des Meßobjektes 1. Somit
ist es möglich, einen Kompensationsbandschreiber bzw. Kompensationsanzeiger 15 als Abgleich- und zusätzlich
als Schreib- bzw. Anzeigeeinrichtung zu verwenden. Der Stellmotor 8 steuert über das Antriebsgetriebe
des Kompensationsbandschreibers bzw. Kompensationsanzeigers 15 gleichzeitig die verstellbare Betriebsspannungsquelle
13 zur Spannungsversorgung des Sekundärelektronenvervielfachers 2 in Abhängigkeit
von der Meßbereichstemperatur so, daß die maximal zulässige Stärke des Anodenstroms für den Sekundärelektronenvervielfacher
2 nicht überschritten wird.
Hierzu 2 BIaI! Zeichnungen
Claims (2)
1. Teilstrahlungspyrometer mit siark überlappten Meßbereichen mit einem Sekundärelektronenvervielfacher
als Strahlungsempfänger und alternierendem Vergleich der Meßstrahlung mit einer Vergleichsstrahlung
sowie Anzeige und/oder Aufzeichnungsvorrichtung für die Meßwerte, gekennzeichnet
durch die Kombination der Merkmale, daß die effektive Wellenlänge in Abhängigkeit vom
jeweiligen Meßbereich kleiner als '/4 der Wellenlänge des Maximums der spektralen Energieverteilung
ist, daß der Visierkennwert auf 1:50 bis 1:300
in Abhängigkeit vom Meßbereich begrenzt ist, daß die Betriebsspannungsquelle (6; 13) für den Sekundärelektronenvervielfacher
(2) der jeweiligen Meßtemperatur automatisch anpaßbar ausgebildet ist
und daß eine Kompensationseinrichtung (4) für die Strahlung des Vergleichsstrahler (3) mit Verstärker
(7), Stellmotor (8) und Abgleichpotentiometer (9) vorgesehen ist.
2. Teilstrahlungspyrometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß es zur Anwendung in
den überlappten Meßbereichen der effektiven WeI- 2s lenlängen
Applications Claiming Priority (2)
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---|---|---|---|
DD15716971 | 1971-08-18 | ||
DD15716971A DD97300A1 (de) | 1971-08-18 | 1971-08-18 |
Publications (3)
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---|---|
DE2203739A1 DE2203739A1 (de) | 1973-02-22 |
DE2203739B2 true DE2203739B2 (de) | 1977-04-14 |
DE2203739C3 DE2203739C3 (de) | 1977-11-24 |
Family
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2203739A1 (de) | 1973-02-22 |
DD97300A1 (de) | 1973-04-23 |
BG25037A1 (en) | 1978-07-12 |
CS182916B1 (en) | 1978-05-31 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
EHJ | Ceased/non-payment of the annual fee |