DE2149083A1 - Transistorschaltung - Google Patents
TransistorschaltungInfo
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Description
PHN.5215 MECL/hr
Pafenfossessor
Anmelder: M. V. PHILIPS' GLOEILAMPENFABfflEKÖK
Anmelder: M. V. PHILIPS' GLOEILAMPENFABfflEKÖK
Akte, PHN- 5215
Anmeldung vom» 29. Sept0 1971
"Transistorschaltung"
Die Erfindung betrifft eine Transistorschaltung mit Mitteln zur Feststellung des Sättigungszustandes
eines Transistors. Bei einer bekannten Schaltung wird, sobald die Basis-Kollektorgrenzschicht des
Transistors in der Vorwärtsrichtung betrieben wird, (J in zweiter Transistor go öffnet und dadurch ein Strom
zur Verfugung gestellt. Dieser" Strom kann z.B. dadurch
ausgenutzt werden, dass eine weitere Au.sk touorimg des
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ersten Transistors und somit übermässige Ladungsspeicherung
in seiner Basis verhütet wird. Eine andere Anwendung ist, dass dieser Strom bzw. die
entsprechende Spannung zur empfindlichen Vorbereitung
eines Triggers dient, wie nachher erläutert werden soll. Der Ausdruck "Sättigung" ist in obiger
Beziehung verwendet um anzudeuten, dass der erste Transistor so stark leitend wird, dass der Kollektor
Ladungen in die Basis und umgekehrt injiziert.
Die Erfindung ist besonders beabsichtigt als integrierte Schaltung (integrated circuit) ausgebildet
zu werden. In diesem Fall kommt es möglichst darauf an, Schaltelemente, die viel Raum beanspruchen,
zu vermeiden. Innerhalb des integrierten Schaltungselementes kommt daher die Verwendung von Selbstinduktionen
überhaupt nicht in Frage und Kapazitäten bzw. Widerstände sind auf eine Mindestzahl herabzusetzen.
Dann wird überdies erreicht, dass die Schaltung für sehr hohe Frequenzen geeignet wird bzw. mit
sehr kurzzeitigen Impulsen betrieben werden kann. Eine derartige Eigenschaft ist bei logischen Schaltungen
sehr erwünscht.
Die Erfindung ist dadurch gekennzeichnet,
dass lateral zu einer durch die KoL Lektor—Basisgrenz—
schicht des (ersten) Transistors umfasste Zone eine wo L tort» Zoruj desselben Loi t fähigke L t s t yps angeordnet
ist, die die Kollokt-orzone eines zweiten, Lateralen
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Transistors bildet, dessen Emitter-Basis-Grenzschicht
dor Basis-Kolloktor-Grenzschicht des ersten Transistors
ontspricht und dass während der Sättigung des orston Transistors vom Kollektor des zweiten Transistors
kol]oktiorten Ladungen einer Impedanz zugeführt
werden, an der oino vom Sättigungszustand des ersten
Transistors abhängige Spannung erzeugt wird.
Nach einer bevorzugten Lösung wird in der
Näho dor Basiszone eines in Integrationstechnik (
iiusgoführt en (orston), transversalen Transistors die
KPiloro Zone mit derselben Leitfähigkeit wie diese
Basiszone und derartig durch die Kollektorzone des transversalen Transistors von dieser Basiszone entfernt,
angeordnet ist, dass der laterale (zweite) Transistor mit dem entgegengesetzten Leitfähigkeitstyp als der transversale (erste) Transistor entsteht,
dessen Kollektor durch die weitere Zone gebildet wird und dass von diesem Kollektor kollektierten
Ladungen einer Impedanz zugeführt werden, an der eine vom Sättigungszustand abhängige Spannung erzeugt
wird.
Vorzugsweise wird diese Impedanz durch die Basis-Emitterstrecke eines dritten Transistors
gebildet, dessen vom Kollektor des zweiten Transistors abgewandte Eingangselektrode praktisch an das gleiche
Potential wie der Emitter des erstgenannten Transistors gologt ist. Dadurch wird erreicht, dass die am
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Kollektor des zweiten Transistors erzeugte Spannung beim Eintreten der Sättigung des ersten Transistors
gerade den richtigen Wert hat um ohne Hinzuschaltung weiterer Schaltelemente die Basis des dritten Transistors
auszusteuern. Selbstverständlich kann man ein Widerstand und/oder ein weiterer Verstärker in
die Verbindungsleitung zwischen dem Kollektor des zweiten und der Basis des dritten Transistor^ einschalten,
aber meistens sind solche Schaltelemente überflüssig und kann man mit einer einzelnen Verbindungsleitung
auskommen. Dann entsteht aber eine sehr einfache und wirksame Schaltung die sich leicht
integrieren lässt.
Eine andere Variante besteht darin,
dass bei einer Transistorschaltung mit Mitteln zur Feststellung der Sättigung eines ersten Transistors
dessen Basis-Kollektorstrecke durch die Emitter-Basisstrecke eines zweiten Transistors überbrückt
ist, ein dritter Transistor vorgesehen ist, und der Kollektor des zweiten Transistors mit einer
Eingangselektrode (der Basis oder dem Emitter) des dritten Transistors verbunden ist, dessen andere
Eingangselektrode (der Emitter oder die Basis) sich praktisch auf das gleiche Potential wie der Emitter
des ersten Transistors befindet.
Es ist an sich bekannt, in der Nähe der Basiszone eines ersten transversalen Transistors
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eine weitere Zone anzuordnen, so dass ein zweiter lateraler Transistor entgegengesetzten Leitfähigkeitstyps
gebildet wird. Ueberlicherweise wird diese weitere Zone dann aber an eine derartige Spannung
gelegt, dass sie als Emitter des zweiten Transistors operiert. Die weitere Zone in der Schaltung nach
der Erfindung ist aber so vorgespannt, dass sie als Kollektor betrieben wird und erst im Falle der
Sättigung eine entsprechende Spannung liefert.
Die Erfindung wird an Hand der Zeichnung weiter erläutert.
Fig. 1 gibt ein Prinzipschaltbild eines Verstärkers nach der Erfindung;
Fig. 2 zeigt die Ausbildung des entsprechenden integrierten Halbleiterelementes in
Durchschnitt bzw. in Obenansicht (Fig. 2a);
Fig. 3 zeigt ein weiteres Schaltbild in dem das Prinzip nach der Erfindung verwendet
wird;
Fig. k zeigt die Ausbildung des Fig. entsprechenden integrierten Schaltungselementes.
Fig. 1 zeigt einen ersten Transistor T1
des ripn—Typs. Der Emitter dieses Transistors liegt
z.B. an Erdpotential, seiner Basis wird eine Eingangsspannung V. zugeführt und seinem Kollektor wird
ein verstärktes Signal, z.B. eine am Lastwiderstand R
erzeugte verstärkte Spannung V entnommen. Bei
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anwachsender Eingangsspannung V. sinkt die Spannung
am Kollektor des Transistors T1 bis etwa den Wert
des Emitterpotentials (Erde) erreicht wird. Bei so niedrigen Kollektorspannungen wird die Spannung an
der Basis des Transistors T1 positiver als seine
Kollektorspannung; die Kollektor-Basis-Grenzschicht kommt dann in Vorwärtsbetrieb und der Kollektor
beginnt Ladungen in die Basis und die Basis Ladungen in dem Kollektor zu injizieren.
Gegenstand der Erfindung ist, diesen
Sättigungszustand festzustellen, seine unangenehme
Folgen abzuhelfen, bzw. die sich aus dieser Feststellung ergebende Spannungsänderung für weitere
Einstellzwecke der Schaltung auszunutzen. Insbesondere wird eine übermässige Ladungsspeicherung in der
Basis verhindert bzw. eine empfindliche Trigger-Vorbereitungseinstellung ermöglicht.
Fig. 2 zeigt die entsprechende Aufbau eines Halbleiterelementes nach der Erfindung. Nach
üblichen Integrationstechniken ist in einem Substrat mit p—Leitfähigkeit eine n—Insel gebildet, die mit
einem Kollektorkontakt C1 versehen ist. In diese
Insel werden gleichzeitig die mit einem Basiskontakt b1 und die mit einem Kollektorkontakt c_
versehenen p-Zonen eindiffundiert, die derart nahe zueinander angeordnet sind, dass laterale pnp-Wirkurig
ermöglicht wird. (Die gegenseitige Entfernung sei
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zu diesem Zweck geringer als die Diffusionslänge der Minoritätsträger - d.h. der Löcher - in der
die p-Zonen trennenden η-Zone zu wählen). Innerhalb der einen p-Zone ist weiter eine mit einem
Emitterkontakt e.. versehene η -Zone gebildet.
Die mit den Kontakten e , b und C1
verbundenen η pn Zonen bilden einen transversalen Transistor, der dem Transistor T- in Fig. 1 entspricht.
Die mit den Kontakten b.., C1 und c„ verbundenen
pnp-Zonen bilden den oben beschriebenen lateralen Transistor, der dem Transistor T„ in
Fig. 1 entspricht. Der Kontakt c„ ist über eine Impedanz Z, die in Fig. 1 durch die Basis-Emitter-Strecke
des Transistors T„ gebildet wird, an Erde gelegt. Infolge dieser Verbindung wird c„ als
Kollektor, b1 als Emitter und C1 als Basis dieses
lateralen Transistors funktionieren.
Wird eine anwachsende positive Spannung V, an den Kontakt b1 angelegt (eine negative Spannung
V. würde überhaupt keine Wirkung hervorrufen denn
alle pn-Schichten wären dann gesperrt), so sinkt die Spannung V am Kontakt c von +B (die Speisespannung)
allmählig auf Erdpotential. Solange V. weniger positiv als V ist, wird die pn—Grenzschicht
zwischen den mit den Kontakten b1 und C1 verbundenen
Zonen im Sperrbereich betrieben und bleibt folglich der laterale pnp-Transistor (T„ in Fig. i) unsperrend.
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Wird aber V. positiver als V (Sättigungseinsatz von T1), beginnt die mit b.. verbundene p-Zone Löcher
in die mit C1 verbundene η-Zone zu emittieren, die
durch die nahe gelegene, mit c_ verbundene p-Zone kollektiert werden, weil eben diese Zone dann in
Bezug auf V. eine negative Spannung führt.
Zur Erhaltung einer derartigen Erscheinung könnte man sich auch' den Transistor T2 in einer gesonderten
Insel denken, wobei dann dessen Emitter-Basisstrecke die Basis-Kollektorstrecke des Transistors
T1 überbrückt. Nicht nur wird dadurch ein grösserer
Raumbedarf erforderlich, aber die in Fig. 2 angegebene Topologie hat überdies den wesentlichen Vorteil,
dass unmittelbar an Ort und Stelle, wo die Kollektor-Basis-Grenzschicht des transversalen Transistors
zu injizieren beginnt - die Sättigung also einsetzt - die mit c_ verbundene p-Zone ein Teil
dieser injizierten Ladungen kollektiert, so dass die Spannungsänderung am Kontakt c weiter ausgenutzt
werden kann. Der Strom fliesst ja von +B durch R und C1, durchquert dann den transversalen Transistor
und fliesst dam von e.. nach Erde ab; die Spannung an C1 ist daher positiver als die Spannung in der
n-Kollektorzone ganz nahe zur Kollektor-Basis-Grenzschicht und diese Grenzschicht kann sich deswegen
schon im Injizierbereich befinden, wenn die Spannung am Kontakt C1 noch nicht unterhalb der am Kontakt b
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herabgesunken ist.
In der Praxis wird bei einer Eingangsspannung
V. von ungefähr +0,6 V der transversale npn-Transistor
völlig gesättigt sein. Die Spannung am Kollektorkontakt C1 wird dann auf nur wenige 10 mV herabgesunken sein.
Der laterale pnp-Transistor ist dann geöffnet und die
Spannung am Kontakt c„ wird um wenige 10 mV unterhalb
der Eingangsspannung V. (^ 0,6 V) bleiben. Diese
Spannung hat gerade den richtigen Wert um den parallel an die Signalquelle gelegten Transistor T„ in Fig. 1
zu öffnen. Dadurch wird die mit grossem Innenwiderstand behaftete Eingangssignalquelle mehr belastet und die
Spannung V, nicht weiter ansteigen, sondern der Basis des Transistors T1 nur noch gerade so viel Strom zugeführt
als für den Sättigungszustand erforderlich ist. Eine übermässige Ladungsspeicherung in der Basiszone
des Transistors T1 wird dadurch vermieden, so dass
die Geschwindigkeit der Schaltung beim Betrieb mit Impulssignalen erhöht wird. Zu diesem Zweck ist die
mit c_ verbundene p-Zone auch nur einem Teil der mit b1 verbundene p-Zone gegenübergestellt, so dass sie
nur eine geringe Eigenkapazität aufweist. Sie kann sogar (z.B. teilweise) durch die mit b1 verbundene
p-Zone umfasst werden, wie in der Obenansicht nach Fig. 2a gezeigt, damit ein hoher inverser Basis-Kollektor-Stromverstärkungsfaktor
des lateralen pnp-Transistors erhalten wird.
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Um den obigen Verlust von wenigen 10 mV auszugleichen kann man den Transistor T„ mit einer
grösseren Emitterfläche als den Transistor T.. versehen,
so dass T„ bei einer geringeren Basisspannung
als T1 öffnet. Auch kann in die Emitterzuleitung
des Transistors T1 ein Widerstand mit einem relativ kleinen Raumbedarf geschaltet werden, so dass die
Spannung V. um den Spannungsabfall an diesem Widerstand (z.B. in der Grössenordnung von 50 mV) erhöht
werden muss, bevor die Sättigung des Transistors T1
einsetzt. Weil der Emitter des Transistors T„ aber unmittelbar an Erde liegt, wird dann ebenfalls erreicht,
dass T„ geöffnet wird, sobald T„ zu leiten
beginnt, d.h. die Sättigung von T1 einsetzt. Wegen
der grossen Gesamtverstärkung der Transistoren T„
und Tr, sind diese Massnahmen aber nicht unbedingt
erforderlich.
Das Ausführungsbeispiel nach Fig. 3 zeigt die Anwendung des Prinzips nach der Erfindung zur
Vorbereitung des Umschlagpunktes eines Flip-Flops. Der eigentliche Flip-Flop besteht aus den beiden
npn-Transistoren T1 und T-·, deren Kollektoren und
Basen über Kreuz verbunden sind. Wie an Hand von Fig. 1 und 2 beschrieben, ist durch die einzelne
Anordnung der mit c„ verbundene p-Zone ein lateraler Transistor T„ mit dieser p-Zone als Kollektor gebildet.
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In Pig. 3 ist der dem transversalen Transistor T1 zugeordnete laterale Transistor ebenfalls
mit Tp bezeichnet; der auf ähnliche Weise dem
transversalen Transistor T1' zugeordnete laterale
Transistor ist mit T„· bezeichnet. Die Kollektoren
dieser Transistoren gehen nun aber auf die Basen zweier weiteren Transistoren Tr1 bzw. T^ zurück,
deren Emitter-Kollektorstrecken denen der Transistoren T.' bzw. T1 parallel liegen.
In einem stabilen Zustand des Flip-Flops sei der Transistor T1 leitend. Die Stromquelle I1
erzeugt dann an seiner Basis eine Spannung von etwa 0,6 V, wobei die Sättigung auftritt. Wie oben
beschrieben wird dann auch am Kollektor des Transistors TQ eine nahezu gleich grosse Spannung erzeugt,
die auf die Basis des Transistors Tk1 überführt
wird. Die Basis des Transistors Tr1 befindet
sich also nahezu auf 0,6 V, die des Transistors Tl
auf 0 V. Ein diesen beiden Basen zugeführter positiver Triggerimpuls V. von nur 0,1 bis 0,2 V bewirkt,
dass der Transistor T. noch nicht geöffnet, der Transistor T^1 aber stark leitend wird und deswegen
die Basis des Transistors T1 auf 0 V bringt. T1 und
Tp werden dann sperrend und die Speisequelle I bewirkt,
dass T1 1 in den leitenden Zustand gebracht wird (T„
kann auch nicht in der verkehrten Richtung leiten, weil die Kollektor-Basis-Grenzschicht von Tp infolge
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der Speisespannung +B die grosser als 0,6 V genommen wird, gesperrt bleibt). Nach Wegfall des Triggerimpulses V. geht dann die Kollektorspannung von Tp,
d.h. die Basisspannung von Tn1 auf 0 V zurück, TJ
wird sperrend und der Flip-Flop bleibt in dem umgekehrten Zustand, wobei T1 sperrend und T1' leitend
ist.
Weil also an der Basis des Transistors TJ
eine dem Sättigungseinsatz des Transistors T1 entsprechende
Spannung erzeugt wird, ist der Flip-Flop deswegen so vorbereitet, dass nur ein sehr geringer
Eingangsimpuls ausreicht, um seinen Umschlag zu bewirken. Es wird einleuchten, dass diese Wirkung
auch unabhängig davon, ob der Transistor TjJ im Ruhezustand
schon leitend ist, also ob die Gegenkopplung der Basisaussteuerung des Transistors T1 schon eingesetzt
hat, erhalten wird. Die oben beschriebenen Massnahmen zur Verlegung dieses Einsatzpunktes
(vergrösserte Emitterfläche von Tj,1 bzw. Tj^ und/oder
Widerstände in den Emitterzuleitungen von T1 bzw.
T1') brauchen deswegen nicht unbedingt angewandt
zu werden.
Wird mit Triggerimpulsen von z.B. 0,6 V oder grosser gearbeitet, besteht die Gefahr, dass
nicht nur der Transistor TJ stark leitend, sondern dass auch der Transistor Tj, geöffnet wird, was zu
unzuverlässigem Umkippen des Flip-Flops rühren würde.
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Um dies zu vermeiden, ist die Basis von IV (bzw.
ΊΥ ') an eine weitere Zone des Transistors T1
(bzw. T1 1) gelegt, die im Halbleiterelement nach
Fig. 2 als eine weitere η -Zone neben der mit e^
verbundenen η -Zone und mit dieser einen lateralen npn-bildenden Transistor T_ verwirklicht ist und
deswegen in Fig. 3 mit einem Emittersymbol angegeben ist, obschon die Funktion dieser weiteren
Zone die eines Kollektors ist, wie nachfolgend erläutert wird.
Im Ruhezustand wobei T1 leitend, T1' sperrend
ist, ist die Spannung an der Basis von Tr O V, wie oben argumentiert. Weil die mit dem Transistor
T1 gemeinsame Basis-Emitterstrecke des Transistors
Tj, leitend ist (infolge der Sättigung des
Transistors T werden auch Elektronen vom Kollektor dieses Transistors in seine Basis injiziert, die
den Kollektor des Transistors T- erreichen), kann auch aus diesem Grunde die Basisspannung von Tj,
nicht positiv werden. An diesem Zustand ändert nichts wenn der Exngangsxmpuls V. eintrifft, solange der
Transistor T1 noch leitet. Wird der Transistor T1
aber infolge des Oeffnens des Transistors T^1 sperrend,
kippt der Flip-Flop um und bewirkt dass durch den Kollektor von T2 1 sowie durch V. eine positive
Spannung an der Basis von Tj erzeugt wird. Gleichzeitig
wird der Transistor T-' leitend und entlädt
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die zwischen seinen Emitter und die V. Klemme
geschaltete Kapazität, Anstatt der als Kapazitäten wirksamen Dioden D bzw. D1 (die in Fig. 3 gezeichneten
Kapazitäten stellen den Ersatz dieser Dioden dar) kann der Impuls V. auch über Widerstände den
Basen der Transistoren ΊΥ bzw. ΊΥ · zugeführt werden,
so dass die V. lieferende Quelle weniger belastet wird. Auch kann diese Quelle als Transistor mit
zwei Kollektoren ausgebildet sein, wobei der eine Kollektor mit der Verbindungsleitung zwischen dem
Kollektor von T_ und der Basis von Tj,, der andere
Kollektor mit der Verbindungsleitung zwischen dem Kollektor von T' und der Basis von Tjl1 verbunden
wird.
In Fig. h ist die Topologie des Fig. 3 entsprechenden Halbleiterelementes veranschaulicht.
Das Element enthält vier Inseln, die durch ρ Typ-Inseldiffusion
(strichpunktierte Linie) voneinander getrennt sind. Die mit einer vergrabenen Schicht
versehenen η-Typ Kollektorzonen der Transistoren T
und T. bzw. T' und T. · füllen die Inselflächen
links bzw. rechts oben aus. Im unteren Teil befinden sich die Dioden (D und D1 in Fig. 3), denen das
Eingangssignal über die Kontaktfläche V. zugeführt
werden.
Die Anoden dieser Dioden sind mittels der Fenstern w bzw. w1 mit einer schraffiert angedeuteten
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Kontaktierungsstreife verbunden, die zum Kollektor
ct (bzw. c ·) des Transistors T_ (bzw. T_') zur
Basis b. (bzw. b·1) des Transistors Tr (bzw. Tr1)
und zum Kollektor c ' (bzw. c_) des Transistors T„'
(bzw. Tp) führt. Die Transistoren T.., T^, Tr und T-befinden
sich in der Insel links oben, die Transistoren T ·, Τ«1, T.· und T ' in der Insel rechts
oben. Der Emitter e.. (bzw. e ·) des Transistors T1
(bzw. T1 1) ist mittels des Fensters w (bzw. w ·)
mit der Inseldiffusionszone verbunden. In gleicher Weise ist der Emitter e. (bzw. e. ·) des Transistors
T. (bzw. T.1) mittels des Fensters w. (bzw. w.')
mit der Inseldiffusionszone verbunden. Die Basis b1
(bzw. b..1) ist mit der Kollektorzone C1 1 (bzw. C1)
verbunden, die weiter an der Ausgangskontaktfläche V ' (bzw. V ) liegt. Die ρ dotierten Zonen sind durch
Stricliellinien angegeben. Die mit V bzw. V · verbundenen
Stromquellen sind üblicherweise durch die Kollektor-Emitterstrecken von lateralen pnp Transistoren
gebildet. Man erkennt, dass die Kollektorzonen zu c„( bzw. Cp1) nur als verhältnismässig kleine
Diffusionszonen in der Nähe der zu b.. (bzw. b^)
gehörenden Basiszonen angeordnet ist, wobei sie mit dieser Basiszone und der zwischenliegenden Kollektorzone
einen lateralen pnp Transistor bildet. Die η Zonen zu e und c_ bilden mit der Basiszone zu b1
einen lateralen npn Transistor, wobei wegen der geringen
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Abmessungen, der grossen Diffusionslänge der Minoritätsträger sowie wegen Elektroneninjizierung vom
Kollektor zur Basis des ersten Transistors dem Kollektor c erreichenden Ladungen, die Stromverstärkung
ausreicht um die an Hand der Fig. 3 beschriebenen Effekte zu erhalten. Erwünschtenfalls können
die Zonen zu e.. und c_ auch unmittelbar nebeneinander
angeordnet sein.
^ Selbstverständlich sind noch viele Abänderungen möglich. So könnte der am Kollektor c„ (bzw.
c ') erzeugte Strom gegebenenfalls dem Emitter eines
weiteren pnp Transistors dessen Basis an Erde liegt, zugeführt und dann weiter ausgenutzt werden. Die
Anordnung und Grosse der verschiedenen Zonen in Fig. h
lässt sich nach Wunsch anders wählen ohne die angestrebten Effekte zu beeinträchtigen. Anstatt der
angegebenen Dotierungen könnten diese auch umgetauscht werden, also transversale pnp und laterale
P npn Transistoren verwendet werden. Auch könnten auf einem Halbleiterelement gemeinsam komplementäre
transversale sowie komplementäre laterale Transistoren angeordnet werden. Auch könnte der erste
Transistor T1 als laterale (z.B. pnp) Transistor
ausgebildet sein und die weitere dem Kollektor des Transistors T„ bildende (p) Zone in die (n) Basisinsel
lateral zur (p) Kollektorzone des Transistors T1 angeordnet sein. In diesem Fall sei darauf zu
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achten, dass die vom Emitter in die Basis des Transistors T1 injizierten (Löcher-) Ladungen
nicht unmittelbar die weitere Zone erreichen (z.B. durch Ausgestaltung der (p) Kollektorzone des
ersten Transistors als einer seiner (p) Emitterzone ringförmig umgebende (p) Zone), damit diese weitere
Zone erst dann (Löcher)-Ladungen kollektiert, wenn der Kollektor des ersten Transistors infolge Sättigung
(Löcher-)Ladungen in seine Basis injiziert, die die weitere Zone erreichen. Man erkennt, dass
diese gegenseitige Entkopplung zwischen Emitter des ersten und Kollektor des zweiten Transistors im
Beispiel nach Fig. 2 bzw. h ohne weiteres gegeben ist.
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Claims (2)
- 2U9083PATENTANSPRÜCHE; .f 1 .) Transistorschaltung mit Mitteln zur Feststellung des Sattigungszustand.es eines Transistors einer integrierten Schaltung, dadurch gekennzeichnet, dass lateral zu einer durch die Kollektor-Basisgrenzschicht des (ersten) Transistors umfasste Zone eine weitere Zone desselben Leitfähigkeitstyps angeordnet ist, die die Kollektorzone eines zweiten, lateralen Transistors bildet, dessen Emitter—Bais-Grenzschicht der Basis-Kollektor-Grenzschicht des ersten Transistors entspricht und dass während der Sättigung des ersten Transistors vom Kollektor des zweiten Transistors kollektierten Ladungen einer Impedanz zugeführt werden, an der eine vom Sättigungszustand des ersten Transistors abhängige Spannung erzeugt wird.
- 2. Transistorschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die weitere Zone nur einem Teil der erstgenannten Zone lateral gegenübergestellt ist. 3· Transistorschaltung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass dieser Teil der erstgenannten Zone die weitere Zone wenigstens teilweise umfasst. h. Transistorschaltung nach einer der Ansprüche 1-3, dadurch gekennzeichnet, dass in der Nähe der Basiszone eines in Integrationstechnik ausgeführten (ersten), transversalen Transistors die weitere Zone mit derselben Leitfähigkeit wie diese Basiszone und derartig durch die Kollektorzone des transversalen Transistors von dieser Basiszone entfernt, angeordnet209818/0952- Λ9 -2U9083ist, dass der laterale (zweite) Transistor mit dem entgegengesetzten Leitfähigkeitstyp als der transversale (erste) Transistor entsteht, dessen Kollektor durch die weitere Zone gebildet wird und dass von diesem Kollektor kollektierten Ladungen einer Impedanz zugeführt werden, an der eine vom Sättigungszustand abhängige Spannung erzeugt wird.5. Transistorschaltung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Impedanz durch die Basis-Emitterstrecke eines dritten Transistors gebildet wird.6. Transistorschaltung mit Mitteln zur Feststellung der Sättigung eines ersten Transistors dessen Basis-Kollektorstrecke durch die Emitter-Basisstrecke eines zweiten Transistors überbrückt ist, dadurch gekennzeichnet, dass ein dritter Transistor vorgesehen ist, und der Kollektor des zweiten Transistors mit einer Eingangselektrode (der Basis oder dem Emitter) des dritten Transistors verbunden ist dessen andere Eingangselektrode (der Emitter oder die Basis) sich praktisch auf das gleiche Potential wie der Emitter des ersten Transistors befindet.7. Schaltung nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Kollektor-Emitterstrecke des dritten Transistors und die Basis-Emitterstrecke des ersten Transistors in parallelen Kreisen angeordnet sind.209818/0952~2Ü" 2U90838. Schaltung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass im Emitterkreis des ersten Transistor ein Widerstand aufgenommen ist, an dem während der Sättigung eine Spannung in der Grössenordnung von 50 mV abfällt.9. Schaltung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass sie zur Gegenkopplung einer während der Sättigung in der Basiszone des ersten Transistors auftretende übermässige Ladungsspeicherung ausgelegt ist.10. Schaltung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass sie zur Vorbereitung des Umschlagpunktes eines Flip-Flops ausgelegt ist.11. Schaltung nach Anspruch 10 mit einem dritten Transistor gemäss Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, dass Triggerpulsen an die Basis des dritten Transistors zugeführt werden.12. Schaltung nach Ansprüchen 1 und 11, dadurch gekennzeichnet, dass in der Basiszone des ersten Transistors eine weitere Zone mit demselben Leitfähigkeitstyp als die Emitterzone dieses Transistors aufgenommen ist, welche weitere Zone mit dem Emitter und der Basis dieses Transistors einen lateralen Transistor bildet und die den Kollektor dieses lateralen Transistors bildende weitere Zone mit der die Triggerimpulsen lieferenden Quelle verbunden ist.209818/0952Leerseite
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