DE2138324A1 - Verfahren zur analog-digital-umsetzung von spannungswerten - Google Patents

Verfahren zur analog-digital-umsetzung von spannungswerten

Info

Publication number
DE2138324A1
DE2138324A1 DE2138324A DE2138324A DE2138324A1 DE 2138324 A1 DE2138324 A1 DE 2138324A1 DE 2138324 A DE2138324 A DE 2138324A DE 2138324 A DE2138324 A DE 2138324A DE 2138324 A1 DE2138324 A1 DE 2138324A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
integrator
comparator
voltage
output
value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE2138324A
Other languages
English (en)
Other versions
DE2138324B2 (de
Inventor
Heinz Dr Sommer
Norbert Dipl Ing Wefers
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nixdorf Computer AG
Original Assignee
Nixdorf Computer AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nixdorf Computer AG filed Critical Nixdorf Computer AG
Priority to DE19712138324 priority Critical patent/DE2138324B2/de
Publication of DE2138324A1 publication Critical patent/DE2138324A1/de
Publication of DE2138324B2 publication Critical patent/DE2138324B2/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K7/00Modulating pulses with a continuously-variable modulating signal
    • H03K7/08Duration or width modulation ; Duty cycle modulation
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/10Calibration or testing
    • H03M1/1066Mechanical or optical alignment

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Description

  • Verfahren zur Analog- Digital-Umsetzung von 3pennungs werten Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Analog-Digital-Umsetzung von Spannungswerten mittels eines Integrators und eines ihm nachgeschalteten Komparators, wobei in einer Meßphase ausgehend von einer Anfangsbedingung eine erste Integration des jeweiligen Spannungswertes und danach in einer Auswertephase mindestens eine weitere Integration eines Referezspannungswertes mit zur ersten Integration entgegengesetztem Vorzeichen bis zui durch die Schalt schwelle des Komparators festgestellten Erreichen der Anfangsbedingung durchgefUhrt und die für die weitere Integration erforderliche Zeit als ein dem Spannungswert proportionaler digitaler Wert dargestellt wird.
  • Ein Verfahren dieser Art ist beispielsweise dazu geeignet, gemessene Spannungswerte digital zu verarbeiten, Der Jewellige Spannungswert wird dabei in dem Analog-Digital-Umsetzer in eine proportionale Zahl ungesetzt. Diese Zahl kann entweder mit Digitalrechnern weiter verarbeitet oder mit einem Digitalvoltmeter lediglich angezeigt werden.
  • Um möglicht genaue Meßergbnisse zu erzielen, soll der Analog-Digital-Uisetzer mit geringstmöglichen Fehlern arbeiten. Dies gilt insbesondere fur solche Anwendungsfälle, in denen gemessene Spannung werte innerhalb eines sehr großen Dynamikbereiches umzusetzen sind. Eine solch.
  • Anwendung ist z.B. in der Gaschromatografie gegeben. Dabei werden Analysen durch Auswertung der Eigenschaften von Gasen durchgeführt, wobei diese Eigenschaften in Form winziger bis relativ geringer Spannungswerte gemessen werden. Diese Spannungswerte können als Spannungsverläufe über der Zeit aufgezeichnet terden; Die dabei auftretende Dynamik liegt in der Größenordnung von 106 Ein Verfahren zur Analog-Digital-Umsetzung von Spannungswerten, wie es eingangs beschrieben ist, wird auch als Doppelrampenintegrationsverfahren bezeichnet, well lediglich zwei Integrationen durchgeführt werden. Der jeweils gemessene Spannungswert wird in einer Meßphase mit dem Integrator nach Einstellung einer Anfangsbedingung aufintegriert. Die Zeit für diesen Integrationsvorgang ist durch einen den Integrationsvorgang steuernden Taktgenerator vorgegeben. Danach wird ein Referenzspannungswert an den Integrator angeschlatet, dessen Vorzeichen demJenigen des gemessenen Spannungswertes entgegengesetzt ist.
  • Wenn nun in einer Auswertephase eine weitere Integration in zur ersten Integration entgegengesetzter Richtung durchgeführt wird, so können gleichzeitig die Taktimpulse gezählt werden, welche auf diese Integration entfallen.
  • Durch diese Auszählung der Taktimpulse bzw. Integrations zeitverhältnismessung erhält man eine digitale Zahl, die ein Maß für die zuvor integrierte Meßspannung ist.
  • Es ist auch möglich, mehrere zweite Integrationen durchzuführen, die mit unterschiedlichen Referenzspannungen durchgeführt werden. Dadurch kann der gesamte Ausfertungsvorgang verkürzt werden.
  • Zur bestimmung des Zeitpunktes, zu dem die Anfangsbedingung wend des Integrationsvorganges wieder erreicht wird, dient ein dem Integrator nachgeschalteter Komparator, dessen Schaltschwelle möglichst genau der Anfangsbedingung entsprechen soll. Ist beispielsweise als Anfangsbedingung eine Spannung von 0 Volt vorgesehen, so ermittelt der komparator den Augenblick, in dem die Ausgangsspannung des Integrators wieder den Wert O Volt erreicht hat.
  • Für einen Analog-Digital-Umsetzer, der nach dem vorstehend beschriebenen Verfahren arbeitet, sind zur Wandlung von Spannungswerten hoher Dynamik bei größtmd'glicher Fehlerfreiheit genau arbeitende Baustufen erforderlich. Diese Anforderung ist insbesondere an den Komparator zu stellen.
  • Dieser muß sehr schnell arbeiten, damit die Nuildurchgänge des auszuwertenden Spannungsverlaufs auch bei hoher Dynamik zeitlich genau er£aßt werden.
  • Ein Integrator und ein Komparator kannen durch je einen Operationsverstärker gebildet wsrden, wobei dem Integratorverstärker ein Kondensator als Integrationselement zugeordnet ist, über den der Verstärkerausgang mit dem Verstärkereingang verbunden ist. Ein Operationsverstärker ist ein Gleichspannungsverstar'ker mit hoher Verstärkung, bei dem das Ausgnagsruhepotential den Wert 0 hat. Bei der Verstärkung von Gleichspannungen müssen die Änderungen der Eingenschaften der verwendeten aktiven und passiven Schaltelemente klein gegenüber der Signalspannung sein.
  • Dies gilt insbesondere für die Temperaturabhängigkeit von Transistoren. Die Temperaturdrift eines Transistors läßt sich praktisch nicht beeinflussen, eine gewisse Abhilfe ist jedoch durch Verwendung eines Differenzverstärkers möglich, der lediglich die Differenz zweier Eingangsspannungen verstärkt. Auf die Ausgangsspannung wirkt sich dann lediglich die Drifftdifferenz zweier Transistoren aus.
  • Soll nur eine Eingangsspannung verstärkt werden, so kann einer der beiden Eingänge des Differenzverstärkers auf Nullpotential bzw. auf Schaltschwellenpotential gelegt werden. Von diesem Prinzip wird bei der Anwendung des Operationsverstärkers als Integratorverstärker und als Komparaturverstärker in bekanneten Analog-Digital-Umsetzen Gebre@ch gemacht. Zur Driftkompensation sind die zweiten Eingänge beider Verstärker über regelbare Widerstände mit Nullpotential verbunden, mit denen ein Nullabgleich durchgeführt wird, so daß es möglich ist, auch sogenannte Offsetspannungen zu kompensieren, die beispielsweise durch @@terschiedlicke Fasis-Emitterspannung der im Differenzverstärker vorgesehenen beiden Transistoren entstehen.
  • Former kann eine eine Offsetspannungsdrift entstehen, die bei konstanten Kelle@@@erstren durch abnehmende Basis-Emitterspannung bei steigender Temperatur verursacht wird. Diese Offsetspannungsdrift wird am Ausgang eines Operationsverstärkers als Ausgangspannungsdrift wirksam. Sie kann durch zusätzliche @@@@p@asierende Schaltelemente verringert werden, die eine gegenennte Gleichsktektunterdrückung bewirken. Außerdem kann imfolge der Tatsache, daß zwei Transistoren niemals einen Übereinstimmenden Temperaturkoeffiezienten haben, eine Differenzspannung am Ausgang eines Operationsverstärkers entstehen, die neben der Gleichtaktspannung auftritt. Der Temperaturkoeffizient des jeweiligen Trsnsistors kann durch Veränderung des Kollektorstroms gehindert werden, wozu gleichfalls bei einem der beiden Transistoren des Differenzverstärkers ein Xullabgleich durchgeführt wird.
  • Die bekannten Möglichkeiten zur Beseitigung der vorstehend beschriebenen Drifterscheinungen und Offsetspannungen sind bei solchen Analog-Digital-Umsetzen, die schnell und genau arbeiten müssen, nicht ausreichend. Zur Verwirklichung eines schnellen Schaltverhaltens werden als aaktive Schaltelemente z.B. Bipolartransigtoren verwendet. Diese haben jedoch sehr hohe Eingangsruheströme, , deren Folge eine ungenaue Schaltschwelle ist. Der Eingangsruhestrom kann gleichfalls mit einstellbaren Widerständen kompensiert werden, die am zweiten Eingang eines Differenzverstärkers vorgesehen sind und diesen z.B. mit Nullpotential verbinden. Mit solchen Anordnungen ist jedoch eine Kompensation der Offsetstromdrift nicht möglich, gerade dieser Wert kann jedoch bei Operationsverstärkern mit bipolaren Transistoren relativ groß sein.
  • Aus den vorstehend beschriebenen Nachteilen der Operationsverstärker ergibt sich das Erfordernis, bei einem Analog.
  • Digital-Umsetzer- den IntegratorverstILrker und auch den Komparatorverstärker so zu eichen, daß im Ruhezustand, in dem Nullpotential am Meßeingang des Integratorverstärkere liegt, al Ausgang des Komparatorverstärkers gerade die Schaltschwelle für logische Entscheidungen der nachfolgenden Zählersteuerung auftrift. Außerdem muß für ein Umsetzungsverfahren der oben beschriebenen Art möglichst gewährleistet sein, daß insbesondere nach erfolgter V-setzung keine Drifterscheinung aufgetreten ist, die die auf einen bestimmten Wert kompensierten Offsetspannungen der beiden Verstärker geändert hat und bewirkt, daß das Ausgangsniveau der Integrationsvorgänge nicht mehr mit deren Endniveau übereinstimmt. Diese Forderungen werden durch die bekannten Kompensationsmöglichkeiten für Operationsverstärker jedoch dann nicht mehr ausreichend erfüllt, wenn Spannungswerte innerhalb eines hohen Dynamikbereiches auszuwerten sind. Die durch nicht kompensierbare Drift erscheinungen erzeugte Fehlergröße wirkt eich dann bei der Auswertung geringer Spannungen mit einem sehr hohen prozentualen Anteil aus.
  • Ein derartiger Fehler könnte nach der Umsetzung des Jewelligen Spannungswertes in die digitale Fomn in Anrechnung gebracht werden, sofern er in seiner Größe jeweils erfaßbar wäre. Nach der Digitalisierung können Fehler der beschriebenen Art nämlich nicht mehr auftreten. Zur Anrechnung eines solchen Fehlers wäre jedoch ein erheblicher schaltungstechnischer Aufwand für Fehlererfassungs-, Umsetzungs- und Anapassungsmaßnahmen erforderlich.
  • Die Aufgabe der Erfindung besteht darin, ein Verfahren zur Analog-Digital-Umsetzung zu schaffen, welches sich durch eine hohe Genauigkeit auszeichnet und gewährleistet, daß die während der 3eweiligen Umsetzung durchgefuhrten Integrationsvorgänge übereinstimmende Anfangs- bzw. Endniveau aufweisen, was bedeuetet, daß der Beginn der Meßphase in einem Schaltzustand einsetzt der mit dem Schaltzustand des Endes der Auswertephase möglichst genau Ubereinstimmt.
  • Ein Verfahren der eingangs gennaten Art ist zur Lösung dieser Aufgabe erfindungsgemäß derart ausgebildet, daß der Eingang des Integrators vor der Meßphase in einer Justierungsphase an ein vorgegebens Bezugspotential gelegt und die dabei am Ausgang des Komparators auftretende Größe in eine Regelschleife mit Speicherigenschaften eingespeist wird, die eine durch die Ausgangsgröße des Komparators erzeugte Korrekturspannung an den Eingang des Integrators liefert und zu Beginn der Meßphase vom Komparatorausgang abgetrennt wird.
  • Durch das erfindungsgemäße Verfahren wird zuverlässig erreicht, daß der Integrator seine Integration auf einem Niveaug beginnt, das mit dem Niveau des Endes der Integrationsvorgänge übereinstimmt. Hierzu wird an den Eingang des Integrators in der Justierungsphase ein vorgegebenes Potential angeschaltet, welches einen bestimmten von jeweiligen Augenblicksfehler des Integrator-. und des Komparatorverstärkers abhängigen Wert des Ausgangssignals am Komparatorverstärker zur Folge hat. Wird dieser Wert in die Regelschleife eingespeist und zur Bildung einer Korrektur verwendet, so kann er am Eingang des Integratorverstärkers einen ganz bestimmten Schaltzustand erzeugen, in dem eine zusätzliche Korrektur von Abweichungen erfolgt, die nach einer Kompensation von Offsetspannungen und -strömen durch Drifterscheinungen verursacht werden. Über die normale Kompensation hinaus erfolgt also eine Korrektur des jeweils als vom vorgegebenen Potential abweichende Komparatorausgangsgröße auftretenden Augenblicksfehlers. Wird dann zu Beginn der Meßphase die Regelschleife geöffnet, so kann der Korrekturwert am Eingang des Integratorverstärkers infolge der Speichereigenschaften der Regelschleife gehalten werden, so daß erals Korrekturwert während des gesamten Auswertevorganges erhalten bleibt. Evtl. Drifterscheinungen während der relativ kurzen Auswertephase, deren Dauer in der Grö-Benordnung von 10 msec liegt, können dabei vernachlässigt werden. Dem Integratorverstärker wird bei erfindungsgemäßen Verfahren während des gesamten Ausewertevorganges ein genau definiertes Ausgangsniveau aufgezwungen, welches durch die Schaltungschwelle des Komparatorverstärkers bestimmt ist. Diese hängt von der Drift des Komparatorverstärkers ab. Da diese im Vergleich zu der sehr kurzen Auswertezeit sehr langsame Änderungen erzeugt, fällt sie als Fehleranteil nicht mehr ins Gewicht.
  • Das Verfahren nach der Erfindung bringt nicht nur Vorteile bei der Anwendung von Halbleiterbauelementen, sondern es kann ebense z.B. auch mit Elektronenröhren als aktiven Schaltelementen verwirklicht werden. Auch bei diesen treten Drift erscheinungen durch Temperatureinflüsse auf, die zwar einen anderen Umfang haben, jedoch gleichfalls zu einigen der vorstehend beschriebenen Probleme führen.
  • Das Verfahren nach der Erfindung kann zweckmäßig derart weiter ausgebildet sein, daß in der Regelschleife eine Eingstellung der eingespeisten Ausgangsgröße des Komparators auf einen die Abweichung der Integratorausgangsspannung von den durch das vorgegebene Potential bestimmten Wert kompensierenden Wert vorgenommen wird. Die Ausgangsgröße des Komparators wird also durch Bemessung der Schaltelemente der Regelschleife so dimensioniert, daß der schließlich am Eingang des Integrators auftretende Wert gerade eine Beseitigung der beschreibenen Änderung der Integratorausgangsspannung zur Folge hat. Dabei kann die so erzeugte Korrekturspannung derart bemessen werden, daß auch solche Fehler ausgeglichen werden, die bereits am Eingang des Integrators auftreten und z.B. durch vorgeordnete Verstärker erzeugt werden.
  • Zweckmäßig wird ein Komparator verwendet, dessen Schaltschwelle bei dem durch das vorgegebene Potential bestimmten Ausgangsspannungswert des Integrators liegt. Wenn als vorgegebenes Potential Nullpotential verwendet wird, dann ergibt sich dadurch ein Schaltzustand, in dem der Komparator einen Korrekturwert liefert, der die Ausgangsspannung des Integrators dauernd um einen Wert herum pendeln läßt, der der Schaltschwelle des Komparator8 entspricht.
  • Als Speicherelement wird in der Regelschleife in weiterer Ausbildung des Erfindungsgedankes ein Hilfsintegrator verwendet, an dessen Ausgang der kompensierende Wert erschheit. Dieser integriert einen vom Komparator gelieferten Ausgangsspannungswert und wirkt bei Abtrennung der Regelschleife vom Komparator als ein Haltekreis. Er hält den durch Integration gewonnenen Korrekturwert bis zum Ende des gesamten Umsetzungsvorganges. Dadurch ist während derselben Zeit die Offsetspannung des Integrators immer kompensiert.
  • Die Erfindung wird im folgenden anhand des in den Figuren dargestellten Ausführungsbeispiel einer Schaltungsan ordnung zur Drrchfuhrung des Verfahrens beschriebene Es zeigens Fig. 1 das Funktionsbild eines Analog-Digital-Umsetzers und Fig. 2 das Schaltdiagramm eines elektronischen Schalters zur Auftrennung der gemäß der Erfindung vorgesehenen Regelschleife.
  • In Fig. 1 ist ein Analog-Digital-Umsetzer dargestellt, der nach dem Doppel5ntegrationaveriahren arbeitet. Fr ist aus einem Integrator 1 mit zugeordaetem Widerstand 5 und Kondensator 4 und einem Komparator 2 aufgebaut.
  • Sein Eingang kann durch eine elektrische Steuerschaltung 14, die einen EingangsschQIter 12 betätigt und z.B. eine Steuerlogik einer Datenverarbeitungseinrichtung ist, an eine zu messende Spannung Ux und an eine Referenzspannung Ur angeschaltet werden. Mit dem Eingangsschalter 13 ist ferner die Anschaltung des vorgegebenen Potenta1s Up möglich. Der Ausgang A des Komparators 2 liefert die umgesetzten digitalen Daten und ist über eine Regelschleife mit dem Eingang des Integratorverstärkers 1 verbunden.
  • Diese Regelschleife ist aus einem Spannungsteiler 6,7, einem Schalter 11, einem Hilfsintegrator 3 mit Eondensator 9 und Widerstand 8 und einem Anpassungswiderstand 10 gebildet. Der Spannungsteiler ist zur Symmetrierung der Ausgangsspannung des Komparators 2 =B, zum Spannungswert 0 Volt vorgesehen, um den Hilfsintegrator gleichmä ßig zu positiven und negativen Spannungen ansteuern zu kennen. Der Schalter 11 ist gleichfalls durch die elektrische Steuerschaltung 14 steuerbar.
  • Die Einstellung der gesamten Anordnung nach dem erfindungsgemäßen Verfahren erfolgt vor Jedem Umsetzungsvorgang in einer besonderen Justierungsphase, in der als vorgegebenes Potential Nullpotential über den Eingangsschalter 13 an den Eingang des Integrators 1 angeschaltet wird. Dabei ist der Schalter 11 in der Regeischleife geschlossen. Liegt die Schaltschwelle des Komparators 2 bei 0 Volt, so wird der Integrator 1 über die Regelschleife durch entsprechende Bemessung der Widerstände 6 und 7 und der Integrationskonstante des Hilfsintegrators 9 so gesteuert, daß die Ausgangsspannung des Integrators 1 um einen Wert herumpendelt, der der Schaltschwelle des Komparators 2 entspricht. Jede Abweichung der Ausgangsspannung des Integrators 1 von der Schaltschwelle des Komparators 2 wird durch eine entsprechende Ausgangsgröße des Komparators 2 Uber den Schalter 11 in der Regelschleife wirksam. Am Ausgang des Hilfsintegrators 3 baut sich dadurch eine Korrekturspannung auf, mit der die Abweichung der Ausgangsspannung des Integrators 1 von dem durch das vorbestimmte Potential vorgegebenen Wert rückgängig gemacht werden kann. Eine evtl.
  • Drifterscheinung und damit verbundene Änderung der Ausgangsspannung des Integrators 1 an also wirksam kompensiert werden. Durch die Regelschleife wird eine ganz bestimmte Anfangsbedingung erzeugt, die mit der Schaltschwelle des Komparators 2 überinstimmt. Bei Beginn der Meßphase bewirkt die elektrische Steuerschaltung 14 eine Umschaltung des Eingangsschalters 12 auf die zu messende Spannung Ux und eine Öffnung des Schalters 11 in der Regelschleife. Der Hilfsintegrator 3 arbeitet nun als Halteschaltung und hält den einmal erzeugten Korrekturwert, wodurch bis zum Ende des gesamten Umsetzungsvorganges eine Kompensation der jeweiligen Offsetspannung des Integrators 1 möglich ist. Außerdem ist gewährleistet, daß der Integrator die Integration auf ein und demselben Niveau beginnt und beendet.
  • Der in Fig. 2 dargestellte Schalter kann als Schalter 11 in der Regel schleife verwendet werden. Seine Steuerung erfolgt am Eingang 20 mit elektrischen Steuersignalen der Steuerschaltung 14 (Fig. 1). Als Schalterelement enthält er einen Feldeffekttransistor 21, der unmittelbar in die Regelschleife gelegt ist. Der Anschluß 24 ist mit dem Spannungsteiler 6,7 (Fig. 1) am Ausgang des Komparators 2 verbunden, während der Anschluß 25 zum Widerstand 8 (Fig. 1) des Hilfsintegrators 3 führt. Der Fedeffekttransistor 21 wird durch die Steuersignale am Eingang 20 über zwei Transistoren 22 und 23 gesteuert.
  • Hat das Steuersignal am Eingang 20 den logischen Pegelwert "1", so sind die beiden Transistoren 22 und 23 gesperrt. Die vom Komparator über den Spannungsteiler 6,7 gelieferte Signalspannung liegt an der Source- und an der Gateelektrode des Feldeffektransistors 21. In diesem Zustand ist der Feldeffektransistor 21 leitend.
  • Liegt am Steuereingang 20 ein Signal mit dem logischen Pegelwert "0", so werden die Transistoren 22 und 23 leitend. Dadurch liegt die negative Betriebsspannung über den Transistor 23 an der Gateelektrode des Feldeffekttransistors 21, so daß dieser gesperrt ist.
  • Das erfindungsgemäße Verfahren wurde vorstehend für den Anwandungsfall auf einen Analog-Digital-Umsetzer beschrieben, der nach dem Doppelintegrationsverfahren arbeitet.
  • In gleicher Weise läßt sich die Erfindung jedoch auch auf solche Umsetzer anwenden, die nach einem Integrationsverfahren arbeiten, welches in mehr als zwei Stufen durchgeführt wird. Da hierzu lediglich die Steuerung des Umsetzungsvorganges anders ausgebildet ist, sind an der beim erfindungsgemäßen Verfahren vorgesehenen Regelschleife keine Änderungen vorzunehmen.

Claims (5)

P a t e n t a n s p r ü c h e
1. Verfahren zur Analog- Digital-Umsetzung von Spannungswerten mittels eines Integrators und eines ihm nach geschalteten Komparators, wobei in einer Meßphase ausgehend von einer Anfangsbedingung eine erste Integration des jeweiligen Spannungswertes und danach ia einer Auswertephase mindestens eine weitere Integration eines Referenzspannungswertes mit zur ersten Integration entgegengesetztem Vorzeichen bis zum durch die Schaltsohwelle des Komparators festgestellten Erreichen der Anfangsbedingung durchgeführt und die für die weitere Integration erforderliche Zeit als ein dem Spannungswert proportionaler digitaler Wert dargestellt wird, dadurch gekennzeichnet, daß der Eingang des Integrators (1) vor der Meßphase in einer Justierungaphase an ein vorgegebenes Bezugspotential (Up) gelegt und die dabei am Ausgang des Komparators (2) auftretende Größe in eine Regelschleife (3,8,9) mit Speichereigenschaften eingespeist wird, die eine durch die Ausgangsgröße des Komparators (2) erzeugte Korrekturspannung an den Eingang des Integrators (1) liefert und zu Beginn der Meßphase vorn Komparatorausgang (6,7) abgetrennt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in der Regelsohleife (3,8,9) eine Einstellung der eingespeisten Ausgsngsgröße des Komparatore (2) auf einen die Abweichung der Integratorausgangsspannung von dem durch das vorgegebene Bezugapotential (Up) bestinaten Wert kompensierenden Wert vorgenommen wird.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß ein ii:iparator (2) verwendet wird, dessen Schaltschwelle bei dem durch das vorgegebene Bezugspotential (Up) bestimmten Ausgangsspannungswert des Integrators (1) liegt.
4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als vorgegebenes Bezugspotential (Up) Nullpotential verwendet wird,
5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichtnet, daß als Element mit tpeichereingenschaften in der Regelschleife (3,8,9) ein Hilfsintegrator (3,9) verwendet wird, an dessen Ausgang der kompensierende Wert erscheint.
DE19712138324 1971-07-30 1971-07-30 Verfahren zur analog-digital-umsetzung von spannungswerten Withdrawn DE2138324B2 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19712138324 DE2138324B2 (de) 1971-07-30 1971-07-30 Verfahren zur analog-digital-umsetzung von spannungswerten

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19712138324 DE2138324B2 (de) 1971-07-30 1971-07-30 Verfahren zur analog-digital-umsetzung von spannungswerten

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE2138324A1 true DE2138324A1 (de) 1973-02-08
DE2138324B2 DE2138324B2 (de) 1977-10-27

Family

ID=5815376

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19712138324 Withdrawn DE2138324B2 (de) 1971-07-30 1971-07-30 Verfahren zur analog-digital-umsetzung von spannungswerten

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE2138324B2 (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0037207A2 (de) * 1980-04-02 1981-10-07 Gec Avionics Limited Signalerzeugende Schaltungsanordnungen
EP0200533A2 (de) * 1985-04-29 1986-11-05 Ishida Scales Mfg. Co., Ltd. A/D-Wandler des Doppelintegrationstyps

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0037207A2 (de) * 1980-04-02 1981-10-07 Gec Avionics Limited Signalerzeugende Schaltungsanordnungen
EP0037207A3 (en) * 1980-04-02 1982-07-14 Marconi Avionics Limited Signal generating arrangements
EP0200533A2 (de) * 1985-04-29 1986-11-05 Ishida Scales Mfg. Co., Ltd. A/D-Wandler des Doppelintegrationstyps
EP0200533A3 (en) * 1985-04-29 1988-08-17 Ishida Scales Mfg. Co., Ltd. Double integral type a/d converter

Also Published As

Publication number Publication date
DE2138324B2 (de) 1977-10-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2350083C2 (de) Schaltungsanordnung zur Umformung eines durch einen Fühler erfaßten Meßwertes
EP0253016B1 (de) Ladungsverstärkerschaltung
EP0274767B1 (de) Verfahren und Schaltungsanordnung zur Ermittlung der Stellung des Abgriffes eines Widerstandsferngebers
DE2614697A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur digitalen messung elektrischer spannungen sowie sehr geringer elektrischer widerstaende
DE10024716C2 (de) Meßumformer für potentiometrische Positionssensoren und Verfahren zur Parametrisierung
DE102018201310A1 (de) Stromsensor und Schutzschalter
DE3844333A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur korrektur von bauteiltoleranzen bei der verarbeitung von signalen
DE2138324A1 (de) Verfahren zur analog-digital-umsetzung von spannungswerten
DE2855282C2 (de) Dual-Slope-Integrator
DE2460079C3 (de) Verfahren zur Bestimmung der Stellung des Schleifers eines Potentiometers und Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens
DE2344216C3 (de) Differentialverstärker
EP1132794B1 (de) Verfahren zur Gewinnung einer temperaturunabhängigen Spannungsreferenz sowie Schaltungsanordnung zur Gewinnung einer derartigen Spannungsreferenz
DE3143669C2 (de) Schaltung zum Messen des Effektivwertes einer Wechselspannung
DE4140112A1 (de) Verfahren und schaltung zur messung von teilchenstroemen
DE2308788A1 (de) Strommessgeraet
EP0302002B1 (de) Verfahren zum Umsetzen eines analogen Eingangssignals in ein digitales Ausgangssignal
DE3220736C2 (de)
DE102023127520A1 (de) Verfahren zur Impedanzmessung elektrischer Bauelemente
DE1941134A1 (de) Generator fuer Saegezahnspannung
DE2402091A1 (de) Schaltung fuer die zeitverzoegerung von signalen
DE3715330A1 (de) Schaltungsanordnung zur erzeugung eines pruefsignals
DE2031707A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur elektn sehen Frequenzmessung
DD288046A5 (de) Verstaerkerschaltungsanordnung in einem ad-umsetzer
DE2633296A1 (de) Schaltungsanordnung zur kompensation der offsetspannung bei einem als analog-vergleicher betriebenen operationsverstaerker unter beruecksichtigung der temperaturbedingten aenderungen dieser offsetspannung
WO1995000855A1 (de) Messverstärker

Legal Events

Date Code Title Description
8220 Willingness to grant licences (paragraph 23)
8230 Patent withdrawn