DE2130405A1 - Hall-Effekt-Wandlerverfahren und -Vorrichtung - Google Patents
Hall-Effekt-Wandlerverfahren und -VorrichtungInfo
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Description
PATENTANWÄLTE | 2130405 |
Dipi.-chem. Dr. D. ThoiTisen Dipi.-ing. H.Tiedtke Dlpl.-Chem. G. BÜhlmg Dipl.-Ing. R. ΚίΠΙΊΘ |
MÜNCHEN 15
KAISER-LUDWIG-Plate β TEL. 0811/53 0211 53 0212 CABLES: THOPATENT TELEX: FOLQT |
Dipi.-ing. W.Weinkauff |
FRANKFURT (MAIN) 50
PUCHSHOHL 71 TEL. Ο« 11/51«ββ |
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8000 Mönchen 15 13· Juni 1971
Matsushita Electronics Corporation Osaka / Japan
HaIl-Effekt-Wandlerverfahren und
-Vorrichtung
Die Erfindung bezieht sich 'auf ein Verfahren 2ur
umformung "eines mechanischen Signals in ein elektrisches
Signal, das auf der Nutzung eines Irall-£ffektes basiert.
Die Erfindung bezieht sich ebenfalls auf eine Vorrichtung,
die zur ÖiircHführung dieses Verfahrens dient.
Ls sind verschiedene Verfahren zum Umformen eines mechanischen Signals in ein elektrisches Signal bekannt
einschließlich eines Verfahrens, das einen Piezo-Widerstandseffekt
verwendet. Dieser Piezo-Uiderstandseffekt v/ird
109852/1420
MOndltsfl· Abreden, Insbesondere durch Telefon, bedürfen schriftlicher Bestätigung
Dresdner Bank (München) Kto. 100108 · Deutsch· Bank (Mönchen) Kto. 21/30238 · Verelntbsnk (München) Kto. SI 389 ■ Hypo-Bank (Manchen) Kto.
bei einem halbleitcnden Kristall beobachtet, dem symmetrische
Kristallstrukturen fehlen und in dem eine mechanische
Beanspruchung eine änderung des Widerstandes des Kristalls
hervorruft. Dafür ist die mechanische Verformung im Kristallaufbau verantwortlich, die durch die mechanische Beanspruchung
erzeugt wurde.
Dei einem anderen Verfahren wird ein Effekt ausgenutzt,
bei dem die Spannungs-Stromkennwerte ir. einem Fperrvorspannungsbereich
eines pn-überganges oder einer Schottky-Sperrschicht durch eine daran angelegte mechanische Beanspruchung
geändert werden. Dies ist auf Änderungen der Sperr-Schwellenhöhe
in dem Übergang zurückzuführen.
Trotz der vielfältigen Anwendungen, die diese bekannten
Methoden-gegenwartig finden, tritt ein Problem in
einem relativ niedrigen Wirkungsgrad bei der Wandlung des mechanischen i'n das elektrische Signal auf.
Mit der Erfindung wird daher ein neues Verfahren zur
Umwandlung eines mechanischen in ein elektrisches Signal geschaffen.
Ferner wird mit der Erfindung eine hochempfindliche Halbleitervorrichtung geschaffen, die dieses neue Verfahren
verwendet,
BAD ORIGfNAL
; 109852/1420
,,^«tctniC CIMi ' - '*' \ . '
Das erfindungsgemaße Verfahren Lasiert auf einem neuen
Lffekt, der von bestimmten lialblelterkriställen gezeigt wird,
in denen Lei Anliegen einer mechanischen Beanspruchung in
einer bestimmten Richtung zu den tlalbleiterkristallen und beim Hindurchfließen eir.es Stromes eine Spannung in einer
Richtung erzeugt wird, die senkrecht zur Etromrichtung ist.
Dieser Effekt unterscheidet sich sov.'ohl von dem Piezo-Uicerstandseffekt
als auch dem Schottky-Schwellenhöhen-Knderungseffekt.
Die Erfindung wird im folgenden anhand schematischer
Zeichnungen an Ausführungsbeispielen näher erläutert*
rig. 1 zeigt ein Diagramm von Leitungsbändern in Silizium im zweidimensionalen k-Haum;
Fig. 2 zeigt eine schaubildliche Ansicht einer Vorrichtung
zur Durchführung des erfinäungsgemäßen Verfahrens;
Fig. 3 zeigt eine schaubildliche Ansicht eines MOS-FET
(Metalloxydhalbleiter-Feldeffekttransistor) zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens
in einer abgeänderten Form; und
Fig* 4 zeigt eine Schnittansicht eines Tor-FET (Tor
an einem Leitfähigkeitsübergang) zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens in einer
. 109852/1420 BADORfGiNAt
2130A05
v/eiteren abgeänderten Form.
Bei Siliziumkristallen ist zu beobachten, daß die
Energiebandstruktur der Träger eine Anzahl an· ellipsoidförmigen
Leitungsbändern enthält, die jeweils auf der 100, 010 uncl 001-Kristallachse liegen.
In Fig. 1 sind zur Erläuterung Leitungsbänder in einem zweidimensionalen k-Raum veransehaulicht, worin die
»100- und OlC-Achsen den k -und k -Achsen entsprechen; die
y
ellipsoidförmigen Leitungsbänder sind mit Λ, Λ1 , B und B' beziffert.
Ls ist ein anderes Paar Achsen 1 und ^ gegeber.,
die rechtwinklig zueinander sind und jeweils gegenüber den kj.- und kv-Achsen geneigt sind.
Wird ein elektrisches Feld E in Richtung der 5"Achse
aufgebaut, sind dabei die Ströme in den Dichtungen der S - und
^l -Achsen Ir und I^ folgendermaßen gegeben:
(D
γ> — ±·μ + Lin · \*-l ,
AAB E £
wobei It , Iy, , Ie und Ιη jeweils die J- und Ύ\_ -Achsen]componenten
repräsentieren, die von den zu dem ellipsoidförmigen Leitungsband A, A1, B und B1 gehörenden Trägern getragen
v/erden.
Unter der Annahme, daß das elektrische Feld E so schwach ist, daß die Träger unerregt bleiben, wird cas Energie-
109852/U2O
band symmetrisch gehalten, so daß der Strom Ι™ in der Richtung
der Ji -Achse gleich Null ist. Dabei gilt I^ yd, Ιγ, <^O
Wird in diesem Zustand eine mechanische Beanspruchung an den Siliziumkristall angelegt, wird dann darin eine mechanische
Verformung erzeugt, die ctie Entartung der Träger innerhalb des Leiterbandes beseitigt. Daher sollen die Energieminima
der Leitungsbänder in Übereinstimmung mit der Richtung und der Größe der mechanischen Beanspruchung geändert ä
v/erden. Koinzidiert die Richtung der mechanischen Beanspruchung
mit aer i^-Achse, nehmen die Energieminima der Leitungsbänder
D1 ab, und andererseits nehmen die Energierainima
der Leitungsbänder A und A1 zu, soweit der Winkel e in den
Bereich 0° bis 45° (kleiner als 45°)fällt. In diesem Sustand
sind aie Träger in den Leitungsbändern B und B' wieder in
die Leitungsbänder Λ und A1 gesetzt, um das thermische
Gleichgewicht zu erhalten. Dadurch'nimmt der Strom I« ' ab
und der Strom Iy zu, so daß der Strom Z7, einen bestimmten
Wert annimmt.
Die mechanische Beanspruchung ergibt somit eine elektromotorische Braft in Richtung der Tr-Achse. Dieser besondere
Effekt wird im folgenden als Spannungs-IIalleffekt bezeichnet, da dieser Effekt dem bekannten Hall-Effekt analog
ist, wei.n die mechanische Beanspruchung durch das magnetische Feld ersetzt i/ird. Obgleich hier von dem elektrischen Feld E
angenommen wird, daß es zur Vereinformung ausreichend schwach
·/ U 2 o ^0 ORIOiWAtr
ist, wird dieser Effekt ebenfalls beobachtet, venn das
elektrische Feld E derart stark ist, daß es die Träger "heiß" macht. Es ist nun ersichtlich, daß der Epannungs-Halleffekt
von dem Mangel der Symmetrie in der Energiebandstruktur herrührt, der von der darauf ausgeübten mechanischen Beanspruchung
herbeigeführt wird. Daher ist aie Richtung der
mechanischen Beanspruchung nicht nur auf die Richtungen
der C - und v^-Achsen beschränkt, sondern ist auch für andere
Richtungen möglich. Für die Richtung des elektrischen Feldes E sind andererseits andere Richtungen zulässig als
aie Richtungen der 100-, 010- und 110-Achsen und anderer
äquivalenter Achsen. Obgleich die vorhergehende Erläuterung auf den zweidimensionalen k-Raum gerichtet wurde, ist sie
auch auf einen dreidimensionalen k-Raum anwendbar.
Obwohl der Spannungs-Halleffekt stattfindet durch
Anlegen der mechanischen Beanspruchung in beliebiger Richtung bei Vorhandensein eines elektrischen Feldes in einer von den
Richtungen der 100-, 010- und 001-Achsen abweichenden Richtung,
ist zu bemerken, daß dieser Effekt durch Auswahl der Richtungen der Beanspruchung und des elektrischen Feldes am
wirkungsvollsten gemacht wird.. In einem n-Silziumkristall findet der Spannungs-Ealleffekt am wirkungsvollsten statt,
wenn die Richtungen der Beanspruchung und des elektrischen Feldes jeweils mit den 100- und 110-Achsen fluchten. In einem
η-Germanium findet dieser Effekt am wirkungsvollsten statt, v/enn die Richtungen der Beanspruchung und des elektrischen
Feldes jeweils den 110- und 100-Achsen folgen.
109862/1420 _ ORIatNAU
_ 7 —
IjS tritt jedoch eine Schwierigkeit darin auf, die Beanspruchung und das elektrische Feld in den zuvor beschriebenen
Richtungen genau anzulegen, unci daher liegen in gewöhnlicher Praxis die beanspruchung und das elektrische Feld jeweils in
den Richtungen der 5 - un(ä H "Achsen. Dabei ist die resultierende
elektromotorische Kraft V durch die folgende theoretische Formel gegeben:
T 4 Pt —Q
ΐ p sin χ 10
T 4 Pt Q
V = O.C14 . -ΐ- p . sin χ 10 ,(3)
wobei ρ = der spezifische Viiderstand (ίλ-cm) des Kristalls,
d = die Stärke des Substrats in Richtung der ^-Achse.
I = ein durch das Substrat in Richtung der J-Achse fließender Strom.
P = die Stärke der in Richtung der \ -Achse angelegten
mechanischen Beanspruchung.
Ls ist ersichtlich, daß dieser Effekt von der Bewegung
einer bestimmten Anzahl von Trägern von den Leitungs- ■ bändern B unü Ll in die entgegengesetzten Leitungsbänder A
unc A1 herrührt, wobei die Beweglichkeiten der Träger innerhctlb
der Leitungsbänder A und A1 erhöht ist und zusätzlich die Lnergiebandstruktur asymmetrisch zur £ - oder >£-Achse
ist, obwohl sie symmetrisch zu den Richtungen der 100- oder 010-Achse ist. Der Effekt dieser Art wird daher in solchen
Werkstoffen gezeigt, deren Energiebandstrukturen asymmetrisch zu einer bestimmten Richtung sind. Zusätzlich zu n-leitfahi-
gem Si, Ge sind solche Werkstoffe p-leitfähiges Si, Ge, GaAs,
10 9852/ U2G.
InSb, IrAs, GaSb, GaP, AJtAs2, AflSb, BN, BF und n-leitfähiges
GaP. · ;-:,,
Durch Nutzung dieses Effektes ist es mögich, ein mechanisches
Signal in ein elektrisches Signal umzuwandeln.
Wird die mechanische Beanspruchung P init einem mechanischen
Signal geändert, dann ändert sich der Strom I mit dem mechanischen Signal in über einst immune; mit dem Spann ungs-Halleffekt..
Die Änderung des Stromes I wird durch eine geeignete Einrichtung abgetastet, beispielsweise durch ein Elektrodenpaar,
das an dem Kristall anliegt.
Fig. 2 zeigt eine Vorrichtung zur Durchführung des vorstehend beschriebenen Verfahrens. Diese Vorrichtung besitzt
ein aus n-Silziura bestehendes Substrat 11, das als rechteckiges
Parallelepiped mit drei Paaren von einander gegenüberliegenden Seitenoberflächen gebildet ist, von denen ein erstes
und ein zweites Paar Oberflächen jeweils senkrecht zu den
5 - und ^-rÄchsen- liegt, wenn θ=22,5°. Das erste Paar Seitanoberflächen
befindet sich im Kontakt mit einem Paar Plattenelektroden 12 und 13, die über Leitungen 15 und 16 an eine
Gleichspannungsquelle 14 angeschlossen sind. Das dritte Oberflächenpaar ist mit einem anderen Elektrodenpaar 17 und 18
kontaktiert, das über Leitungen 22 bzw. 23 an ein Anschlußpaar 19 bzw. 21 angeschlossen ist.
SAD ORlOtNAt 10985.2/U 20
Wird beim Betrieb eine mechanische Kraft P an eine
Fläche äes ersten Oberflächenpaares in senkrechter Richtung
dazu oder in Richtung der 5 "Achse angelegt und fließt ein
Strom I zwischen den Elektroden 12 und 13, dann erscheint eine elektromotorische Kraft V zwischen den /Anschlüssen 19
unü 21. In diesem Sustand ist die elcktromotorsiche Kraft V durch die Gleichung (3) gereben.
Ist beispielsweise P = 100£l-cm, d = 0,001cm, d
1 Ampere und P = 10<
motorische Kraft V= l4u V.
motorische Kraft V= l4u V.
2
I = 0,001 Ampere und P = lOOg/cm , dann beträgt die elektro
I = 0,001 Ampere und P = lOOg/cm , dann beträgt die elektro
Selbst wenn die mechanische Kraft P in Richtung der 5-Achse gerichtet ist, wird wegen der Symmetrie der Kristallstruktur in dem Substrat das gleiche Ergebnis erhalten.
Die in Fig. 2 gezeigte Vorrichtung besitzt eine
größere Empfindlichkeit als eine bekannte Vorrichtung, bei- >
spielsweise eine elektromagnetische Hallvorrichtung, und kann daher als Wandler zur Umwandlung eines mechanischen
Signals in ein elektrisches Signal verwendet werden. Ferner kann die Vorrichtung dieser Art als im wesentlichen analog
einer elektromagnetischen Füllvorrichtung angesehen werden, wenn die mechanische Beanspruchung durch das magnetische
Feld ersetzt wird. Daher kann die hier beschriebene Vorrich- "*
tung anstelle einer elektromagnetischen Hallvorrichtung verwendet werden, wenn es schwierig oder sogar unerwünscht ist,
109852/U20
8AO ORIGINAL
ein magnetisches Feld aufzubauen.
Das erfindungsgeinäße Verfahren kann durchgeführt wer-,,
den, indem eine Verrichtung verwendet wird, die einen Aufbau
besitzt, der einem Feldeffekttransistor im wesentlichen gleich ist und daher ein Substrat und Quellen-Senken- und Torelektroden
besitzt, die mit dem Substrat in Berührung stehen. An
diese Elektroden v/erden geeignete Spannungen angelegt, um einen Leitungskanal in dem Substrat zu bilden. Die Leitfähigkeit
qder die Breite des Kanals wird weitestgehend durch das Potential an der Torelektrode reguliert. Wird eine mechanische
Beanspruchung an das Substrat angelegt, tritt dabei der Spannungs-Iialleffekt darin auf, so daß eine bestimmte
Anzahl von Trägern an die Oberfläche des Substrats unter eier
Torelektrode bewegt und dann gespeichert wird. Die gespeicherten
Träger ändern die Stärke des elektrischen Feldes, das durch das Potential an der Torelektrode aufgebaut wurde,
und ändern damit die Leitfähigkeit oder die Weite des Kanals. Die Änderung der mechanischen Belastung führt somit zu einer
Änderung des durch den Kanal fließenden Stromes, der als
elektrisches Signal aufgenommen werden kann.
Fig. 3 zeigt eine nach dem zuvor beschriebenen Prinzip
betreibbare Vorrichtung. Diese Vorrichtung ist in einem MOS-FET gebildet, der ein aus einem η-Silizium gebildetes Substrat 31
besitzt. Dieses Substrat 31 ist als rechteckiges Parallel-
109852/1420 &AD original
epipeö mit drei Paaren einander gegenüberliegender Oberflächen
gebildet. Das erste und das zweite Paar dieser Oberflächen sind jeweils senkrecht zu den £ - und'fy-Achsen, wenn
θ = 22,5° ist. Quellen- und Senkenelektroden 32 und 33 stehen
in ohmschem kontakt mit dem ersten. Paar einander gegenüberliegender
Oberflächen. Eine Torelektrode 34 ist über einen geeigneten Isolator, beispielsweise Siliziumoxyd, auf einer
Fläche des zv/eiten Flächenpaares angeordnet.
Wira beim Betrieb eine vorgewählte Spannung an die ™
Quellen- und Senkenelektroden angelegt, wird ein von der Torelektrode gesteuerter Leitungskanal in dem Substrat aufgebaut.
Die Weite dieses Kanals wird geändert, indem das elektrische Potential an der Torelektrode geändert wird,
lan cen durch das Substrat fließenden Strom zu steuern.
Wird in diesem Zustand bei aufrechterhalten; Kanal eine mechanische Belastung an das Substrat in einer besti/nrnten
Richtung angelegt, beispielsweise in Richtung der ^ -Achse, I
dann tritt der Spannungs-Lalleffekt tiarin auf, wodurch eine
bestimmte Zoizahl von Prägern in der Cberfläche des Substrats
unterhalb der Torelektrode 34 gespeichert werden. Die Uirkung dieser Träger wird der Uirkung der Spannung überlagert,
uie an der Torelektrode anliegt, und ändert demzufolge die
I/eite des Kanals oder die Leitfähigkeit dieses Substrats.
Die mechanische Belastung kann eine mechanische Biegespannung - bei 35 oder 35* gezeigt - oder eine Druck-
10 9 852/1420
BAD %
- 12 - 2 Ί 30405
oder Zug-Eelastung - bei 36 und 3G' gezeigt - sein.
In Fig. 4 ist noch eine weitere Form der Vorrichtung
zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens gezeigt. Diese Vorrichtung ist in einem LeitfuhigLeitsubergangstor-Feldeffekttransistor
gebildet, aer eine Schottky-Sperrschicht aufweist. Diese Vorrichtung besitzt ein n-Silizium-Substrat
31 una Quellen- und Senkenbereiche 32-bzw. 33, die in uem
substrat 3.1. durch eins geeignete bekannte Technik, beispielsweise
das -Dif fusionsverfahren, gebildet sind. Auf der Oberfläche aes Substrats ist zwischen den Quellen- und Senkanbereichen
32 bzw. 33 eine Torelektrode 34 gebildet, die aus einem geeigneten Metall, beispielsweise- Molybdän, durch
Sprühen oder irgendeine andere Technik gebildet ist, wodurch zwischen der Torelektrode 34 und dem Substrat 31 eine Schottky
Sperrschicht gebildet wird.
. An diesen Elektroden 32 bis 34 v/erden geeignete
elektrische Potentiale aufgebaut, um einen Leitungskanal
in dem Substrat 31 zu bilden.
Liegt eine mechanische Belastung in einer bestimmten Richtung, beispielsweise in Richtung der \ -Achse, an dem
Substrat 31 an, wir'd eine bestimmte Anzahl an Trägern in der Nähe der Oberfläche des Substrats 31 oder der Torelektrode
34 gespeichert, so daß das sich aus dem Potential an der Torelektrode 34 ergebende elektrische Feld mit den
elektrischen Ladungen der gespeicherten Träger geändert wird,
109852/1420
BAD
wodurch clic Weite des Kanals geändert wird. Dadurch wird
die Leitfähigkeit des Leitungskanals in dem Substrat 31 mit der änderung der an das Substrat 31 angelegten mechanischen
Belastung geändert.
Die mechanische Belastung kann eine Biegebelastung
- mit 35 und 35' gezeigt - oder eine Druck- oder Zügbelastung
- bei 36 und 36' gezeigt - sein.
In- den in den Fig. 3 und 4 gezeigten Vorrichtungen
sind die Effekte, die durch die an der Torelektrode anliegende
Torspannung herbeigeführt werden und der Spannungs-Halleffekt miteinander überlagert, so daß diese Vorrichtung
unter elektrischen und mechanischen Steuerungen arbeiten kann. Es kann hinzugefüc/t werden, daß sogar ein kleines
mechanisches Signal in ein ausreichend großes elektrisches Signal durch die hier gezeigte Vorrichtung umgewandelt werden;
.kann, die einen inneren Aufbau besitzt, der eine angemes" \
Λ sene Verstärkungseigenschaft liefert.
1 0 9 85 2 / U 2 0
ßAO ORIGINAL
Claims (1)
- Patentansprüche( 1.1Verfahren zur Umwandlung eines mechanischen Signals in ein elektrisches Signal, dadurch gekennzeichnet, ciaß man an einen Iialbleiterkristall, bei dem die Energieband·' struktur von Trägern im k-Raum asymmetrisch zu einer ersten Richtung ist, eine Spannung in dieser Richtung zur Bewegung der Träger anliegt, daß man an diesem Kristall eine mechanische Belastung, die dem mechanischen Signal entspricht, in einer zweiten Richtung zur änderung der Beweglichkeiten der Träger in Übereinstimmung mit dem mechanischen Signal anlegt und daß man elektrische Ladungen der in einer dritten Richtung bewegten Träger abnimmt. '2. Verfahren zum Umwandeln eines mechanischen Signals in ein elektrisches Signal, dadurch gekennzeichnet, daß man ir. einem Halbleiterkristall, bei cem die Energiebandstruktur von Trägern im k-Raum asymmetrisch zu einer ersten Richtung ist, in dieser ersten Richtung einen Leitungskanal mit einer Leitfähigkeit bildet, die mit einem zur Richtung des Kanals senkrechten elektrischen Feld geändert wird, daß man an den Kanal eine Spannung in Richtung des Kanals zur Herbeiführung eines durch ihn führenden Stromes anlegt, daß man an den Kristall eine dem mechanischen Signal entsprechende me^ chanische Belastung in einer weiteren Richtung zur Änderung der Beweglichkeiten der Träger in Übereinstimmung mit dem mechanischen Signal anlegt und daß man eine Änderung desStromes ermittelt.109852/1420BAD3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die erste und die zweite Richtung miteinander koinzindieren.4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die erste und die zweite Richtung rechtwinklig zueinander sind.5. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die erste und die dritte Richtung rechtwinklig zueinander sind.6. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Kristall aus η-Silizium, p-Silizium, η-Germanium, p-Germanium, p-Galliumarsenidjp-Indiumantimonid, p-Indiumarsenid, p-Galliumantimonidjp-Aluminiumarsenit, p-Aluminiumantimonid, p-Bornitrid, p-rBorphosphoridoder p- oder n-Galliumphosphorid besteht. jfl7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß der Kristall aus η-Silizium besteht und daß die erste Richtung im Winkel von 22,5 ° zur loo-Achse verläuft und daß die zweite Richtung rechtwinklig zur ersten Richtung ist.8. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß der Kristall aus η-Germanium besteht und daß die erste Richtung mit der loo-Achse koinzidiert und daß die zweite Richtung rechtwinklig zur ersten Richtung ist.·9· Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch ein Substrat, das aus η-Silizium, p-Silizium, η-Germanium, p-Germanium oder p-Galliumarsenid besteht und als rechteckiges Parallelepiped gebildet ist mit einem Paar einander,gegenüberliegender Seitenoberflächen, die senkrecht zu einer von den Richtungen der loo-, olo- und ool-Achsen abweichenden Richtung sind, durch ein Paar Elektroden (,12, 13), die mit dem Paar einander gegenüberliegender Seitenoberflächen in ohm'schen Kontakt stehen und jeweils mit einem positiven und einem negativen Anschluß einer elektrischen Energiequelle (I1O verbunden sind, und durch ein anderes Paar Elektroden (17, 18), die mit den anderen einander gegenüberliegenden Seitenoberflächen des Substrats in ohm'schen Kontakt stehen und über Leiter (22, 23) mit einem Paar Ausgangsanschlüssen (19, 21) verbunden sind. ·Io. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 8, gekennzeichnet durch ein Substrat aus η-Silizium, p-Silizium, η-Germanium, p-Germanium oder p-Galliümarsenid9 durch Quellen-und Senkenelektroden (32, 33), die in Abstand voneinander angeordnet sind und jeweils in ohm'schen Kontakt mit dem Substrat (31) stehen und mit einer elektrischen Energiequelle verbunden sind, wobei sie durch eine Leitungsstrecke mit einander verbunden sind, die in einer Richtung verläuft, die von den Richtungen der loo-, olo- und ool-Kristallachsen abweicht, und durch eine Torelektrode (31O, die auf dem Substrat (3D.über eine Isolierschicht angeordnet ist109 852/ U20- 17 und mit einer elektrischen Energiequelle verbunden ist.11. Vorrichtung nach Anspruch Io, dadurch gekennzeichnet, daß die Isolierschicht aus einem Oxyd besteht.12. Vorrichtung nach Anspruch Io, dadurch gekennzeichnet, daß die Isolierschicht eine in einem pn-übergang gebildete Verarmungsschicht ist.13. Vorrichtung nach Anspruch lo, dadurch gekennzeichnet, daß die Isolierschicht eine in einer Schottky-Sperrschicht gebildete Verarmungsschicht ist.10985 2/1420.'■■i-m
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