DE2117062B2 - Belichtungsmesser für Elektronenmikroskope - Google Patents

Belichtungsmesser für Elektronenmikroskope

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DE2117062B2 DE19712117062 DE2117062A DE2117062B2 DE 2117062 B2 DE2117062 B2 DE 2117062B2 DE 19712117062 DE19712117062 DE 19712117062 DE 2117062 A DE2117062 A DE 2117062A DE 2117062 B2 DE2117062 B2 DE 2117062B2
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    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/22Optical or photographic arrangements associated with the tube
    • H01J37/224Luminescent screens or photographic plates for imaging ; Apparatus specially adapted therefor, e.g. cameras, TV-cameras, photographic equipment, exposure control; Optical subsystems specially adapted therefor, e.g. microscopes for observing image on luminescent screen
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
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Description

das Verschlußorgan einer fotografischen Kammer werden.
ist, mit einem an den Metallschirm mit Hilfe Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch ge-
eines langen Leiterdrahtes angeschlossenen löst, daß der lange Leiterdraht genau mit der Achse
Widerstand und mit einer mit den Klemmen des 20 des Zapfens des Metallschirmes fluchtet.
Widerstandes verbundenen Meßeinrichtung zur Damit ist sichergestellt, daß der Leiterdraht seine
Messung des Stromes, den der Metallschirm emp- Lage nicht verändert, wenn der Metallschirm bewegt
fängt und der durch den Widersiand fließt, da- wird. Weiterhin erfährt der Leiterdraht nur eine
durch gekennzeichnet, daß der lange schwache Torsion, da er lang ausgebildet ist. Der er-
Leiterdraht (11) genau mit der Achse des Zap- 25 findungsgemäße Belichtungsmesser ermöglicht so bei
fens (7) des Metallschirmes (3) fluchtet. einem einfachen Aufbau sehr genaue Messungen.
Die Erfindung wird an Hand der Zeichnung näher erläutert. Es '.eigt
Fig. 1 vereinfacht eine Stelleinrichtung für einen
30 Metallichinr und dessen elektrische Verbindung mit einer Meßeinrichtung außerhalb eines Mikroskops,
F i g. 2 ein Blockschaltbild der verwendeten Meß-
Die Erfindung betrifft einen Belichtungsmesser für einrichtung zusammen mit einem Spannungs-Zeit-Elektronenmikroskope mit fotografischer Bildauf- Umsetzer und
zeichnung zur Messung der \on der Fotoplatte emp- 35 Fig. 3 ein genauer ausgeführtes Ausführungsbeifangenen Energiemenge, um die optimale Beiich- spiel der Anordnung von F i g. 2.
tungszeit der Fotoplatte zu bestimmen, mit einem Fig. 1 stellt einen Schnitt durch eine Beobach-Elektronen auffangenden Metallschirm, der gegen tungskammer 2 eines Elektronenmikroskops dar, wo-Erde isoliert und zwischen einerseits einer Abschirm- bei der Schnitt senkrecht zur Richtung des Elektrostellung im Elektronenstrahl, in der er den gesamten 40 nenstrahls und etwas oberhalb der Auflage der Foto-Elektronenstrahl auffängt, und andererseits einer ab- platte verläuft. Die Beobachtungskammer 2 ist mit gedunkelten Stellung, in der er den gesamten Elek- Vakuum beaufschlagt. Es ist ein Metallschirm 3 vortronensirahl durchläßt, durch Verschwenken um handen, der in einer ebenfalls metallischen Halte einen Zapfen bewegbar ist, der in seiner Abschirm- rung 4 gehaltert und über ein Isolierstück 5 an einem stellung in der Bildebene angeordnet und das Ver- 45 Hebel 6 befestigt ist, der mit einem Zapfen 7 verbunschlußorgan einer fotografischen Kammer ist, mit den ist, der eine Wand 1 der Beobachtungskammer 2 einem an den Metallschirm mit Hilfe eines langen durchsetzt. Ein Handgriff 8 ist am anderen Ende des Leiterdrahtes angeschlossenen Widerstand und mit Zapfens 7, außerhalb der Wand 1 der Beobachtungseiner mit den Klemmen des Widerstandes verbünde- kammer 2, befestigt und erlaubt ein Verschwenken nen Meßeinrichtung zur Messung des Stromes, den 50 des Metallschirms 3 um den Zapfen 7. Die Lagerung der Metallschirm empfängt und der durch den des Zapfens 7 in der Wand 1 hat verschiedene an sich Widerstand fließt. bekannte Abdichtungen, die nicht abgebildet sind.
Es ist bereits ein Belichtungsmesser für Elektro- Die Halterung 4 hat einen Vorsprung 10, zwischen nenmikroskope mit fotografischer Bildauucichnung dem und einem Isolierglied 12, das bei 13 in der zur Messung der von der Fotoplatte empfangenen 55 Wand 1 befestigt ist, ein Leiterdraht 11 gespannt ist. Energiemenge, um die optimale Belichtungszeit der Der Leiterdraht 11 befindet sich genau auf der Achse Fotoplatte zu bestimmen, bekannt (Kolloid-Zeit- des Zapfens 7. Der Leiterdraht 11 ist elektrisch schrift, Bd. 109, 1944, Heft 2, S. 152 bis 156). Dieser durch das Isolierglied 12 hindurch nach außen zu Belichtungsmesser weist einen Elektronen auffangen- einem äußeren Leiter 14 geführt. Ein Doppelkonden Metallschirm auf, der gegen Erde isoliert und 60 taktgeber 15 ist außerhalb der Wand 1 befestigt und zwischen einerseits einer Abschirmstellung im Elek- in bestimmten Stellungen durch eine Nase 16 des tronenstrahl, in der er den gesamten Elektronenstrahl Handgriffs 8 betätigbar. Ein geerdetes Abschirmrohr auffängt, und andererseits einer abgedunkelten Stei- 18 umgibt koaxial den Leiterdraht 11.
lung, in der er den gesamten Elektronenstrahl durch- In der in F i g. 1 abgebildeten Stellung deckt der läßt, durch Verschwenken um einen Zapfen beweg- 65 Metallschirm 3 die Fotoplatte ab, und der Elektrobar ist. Der Metallschirm ist in der Bildebene an- nenstrahl des Mikroskops erzeugt auf dem Metallgeordnet und bildet das Verschlußorgan einer foto- schirm 3 ein Elektronenbild, das sichtbar gemacht grafischen Kammer. Ein Widerstand ist mit Hilfe werden kann. Wenn das erzeugte Bild zur Belichtung
der Fotoplatte dienen soll, genügt es, den Handgriff 8 Transistor gebildet, während das Relais 31 einfach
zu bedienen, um den Metallschirm 3 urn 90° um den eine Anzeigeleuchte ist. Die Bezugsspannung des
Zapfen 7 in eine Stellung parallel zum Elektronen- Vergleichers 23 wird über ein Potentiometer 38 ein-
strahl zu verschwenken, der dann die Fotoplatte be- gestellt. Die Anzeigeleuchte 24 wird vom Ausgang
lichtet, die durch das Verschwenken des Metall- 5 des Vergleichers 23 über einen Transistor 39 ange-
schinns 3 freigelegt worden ist. steuert.
Es versteht sich, daß durch den eben beschriebe- Während des Beobachtungszeitintervalls, das einer nen Vorgang die Lage des Leiterdrahts 11 im Ab- Aufnahme vorangeht, ist der Metallschirm 3 auf die schiunrohr 18 in keiner Weise verändert wird. Fotoplatte geklappt In dieser Stellung ist der Kon-Außerdem erlaubt der beschriebene Aufbau, den io takt 15 α offen, und der Transistor 25 läßt den Kon-Leiterdraht 11 lang genug vorzusehen, damit er nur densator 26 auf die Ausgangsspannung des Verstäreine schwache Torsion erfährt, ohne daß seine Kapa- kers 21 sich aufladen, die momentan die Helligkeit zität relativ zum Abschirmrohr 18 geändert wird. des erzeugten Bilds charakterisiert. Wenn der Bedie-
In Fi g. 2 ist wieder die Verbindungsieitung 14 zu ner eine Aufnahme einleiten will, verschwenkt er den sehen, die den Metallschirm 3 mit einem Widerstand 15 Metallschirm 3 mittels des Handgriffs 8, so daß der 20 verbindet. Der vom Metallschirm 3 empfangene Kontakt 15 α geschlossen und der Transistor 25 ge-Elektronenstrom, der proportional zu seiner Be- sperrt wird. Die Ladung des Kondensators 26, die leuchtung ist, fließt durch den Widerstand 20 und er- sich jetzt nicht mehr ändern kann, verkörpert also zeugt an dessen Anschlüssen eine Spannung, die die Helligkeit des Bilds im Zeitpunkt der Aufnahme, ebenfalls proportional der Beleuchtung des Metall- 20 so daß eine Speicherwirkung erzielt wird. Die Beweschirms 3 ist. Diese Spannung wird in den Eingang gung des Handgriffs 8 zum Hochklappen des Metalleines Verstärkers 21 mit sehr großer Eingangsimpe- schirms3 öffnet gleichzeitig den Kontakt 15 b, was die danz eingespeist, die größenordnungsmäßig minde- Integration der im Kondensator 26 gespeicherten stens zehnmal größer als der Widerstar.dswert des Spannung veranlaßt. Die Ausgangsspannung des InWiderstands 20 ist. Die Ausgangsspannung des Ver- 25 tegrationsversiärkers 27 wächst gleichmäßig in Abstärkers 21 gelangt gleichzeitig in ein Galvanometer hängigkeit von der Zeit bis ?.u dem Zeitpunkt an, wo 22, das eine direkte Anzeige des Beleuchtungswertes sie eine Bezugsspannung erreicht, die in Abhängiggibt, einen Vergleicher 23, der mit einer Bezugsspan- keit von der Empfindlichkeit der Fotoplatte durch nung beaufschlagt ist und eine Anzeigelampe 24 er- den Umschalter 29 eingestellt worden ist. Wenn die regt, sowie in einen Analogschalter 25, der eine im 30 integrierte Spannung den durch den Umschalter 29 folgenden beschriebene Einrichtung steuert, bestimmten Pegel erreicht, kippt der Vergleicher 28
Der Analogschalter 25 legt die Ausgangsspannung um und steuert den Transistor 30 an, der die Anzeides Verstärkers 21 an einem Analogspeicher 26 an, geleuchte 31 aufleuchten läßt. Beim hier gezeigten der seinerseits mit einem Integrierer 27 verbunden vereinfachten Schaltbild signalisiert die Anzeigeist. Da·, Betätigen des Integrieren 27 findet in 35 leuchte 31 dem Bediener das Ende der Aufnahme. Abhängigkeit vom zweiten Kontakt 15 statt, der Es versteht sich, daß der Transistor 30 auch irgenddurch Bewegung des Handgriffs 8 betätigt wird. ein anderes Relais steuern kann, das automatisch am Das Ausgangssignal des Integrierers 27 wird in einen Ende der Aufnahme betätigt wird.
Vergleicher 28 eingespeist. Der Vergleicher 28 emp- Der Vergleicher 23, dem der Transistor 39 nachfängt auch eine veränderliche Bezugsspannung, die in 40 geschaltet ist, zeigt über die Anzeigeleuchte 24 eine Abhängigkeit von der Empfindlichkeit der verwende- eventuelle Überladung an, wenn z. B. die Beleuchten Fotoplatte durch einen Umschalter 29 festgelegt tung und damit die Ausgangsspannung des Verstärwird. Das Ausgangssignal des Vergleichers 28 steuert kers 21 einem störungsfreien Betrieb des Belichüber einen Verstärker 30 ein Re'ais 31, das die Be- tungsmessers abträglich ist. Die Bezugsspannung des lichtung der Fotoplatte durch den Elektronenstrahl 45 Vergleichers 23 wird durch das Potentiometer 38 beendet. Gegebenenfalls kann das Relais 31 in an eingestellt.
sich bekannter Weise z. B. das Verschwenken des Der beschriebene Belichtungsmesser kann auch
Metallschirms 3 in eine Verschlußstellung bewirken vollkommen manuell betätigt verwendet werden. In
oder das Zwischenschieben einer Blende oder ein diesem Fall wählt der Bediener die Belichtungszeit in
»magnetisches« Ablenken des Elektronenstrahls. Das 50 Abhängigkeit von der Anzeige des Galvanometers
Rfclais 31 kann gleichfalls einen Schallsignalge- 22, dessen Ausschlag der Belichtung proportional ist.
ber oder eine Lichtquelle ansteuern, um das Ende Es sind verschiedene Abwandlungen der hier ge-
der Aufnahme zu signalisieren. zeigten Ausführungsbeispiele im Rahmen der Erfin-
Gemäß der konkreten Ausführung von F i g. 3 be- dung möglich. Insbesondere kann man einen Ana-
slimmen Widerstände 34 und 35 die Verstärkung des 55 log-Digital-Umsetzer am Ausgang des Verstärkers 21
Verstärkers 21. Der Analogschalter 25 ist durch vorsehen und anschließend die Information in Digi-
einen Feldeffekttransistor gebildet, der durch Öffnen talform verwenden, was die Genauigkeit erhöht. Man
eines Kontakts 15 α leitend gemacht wird. Der Ana- kann auch die Ausgangsspannung des Integrierers
logspeicher 26 ist ein Kondensator. Der Integriert mit einer gespeicherten Spannung vergleichen oder
27 hat eine Kapazität 36, die sich über einen Kontakt 60 die Empfindlichkeit mittels eines Potentiometers
15 b entlädt. Der Verstärker 30 ist hier durch einen speichern.
Hierzu i Blatt Zeichnungen

Claims (1)

1 2
eines langen Leiterdrahtes an den Metallschirm ange-
Patentanspruch: schlossen. Mit den Klemmen des Widerstandes ist
schließlich eine Meßeinrichtung zur Messung des
Belichtungsmesser für Elektronenmikroskope Stromes verbunden, den der Metallschirm empfängt
mit fotografischer Bildaufzeichnung zur Messung 5 und der durch den Widerstand fließt,
der von der Fotoplatte empfangenen Energie- Bei dem bekannten Belichtungsmesser verläuft der
menge, um die optimale Belichtungszeit der Fo- Leiterdraht frei. Jede Bewegung des Metallschirmes
toplatte zu bestimmen, mit einem Elektronen auf- bewirkt somit eine Bewegung des Leiterdrahtes, der
fangenden Metallschirm, der gegen Erde isoliert damit seme Kapazität verändert, was wiederum zu
und zwischen einerseits einer Abschirmstellung io weniger genauen Messungen führt, da die durch die
im Elektronenstrahl, in der er den gesamten Meßeinrichtung gemessenen elektrischen Ladungen
Elektronenstrahl auffängt, und andererseits einer fast immer sehr gering sind.
abgedunkelten Stellung, in der er den gesamten Es ist daher Aufgabe der vorliegenden Erfindung,
Elektronenstrahl durchläßt, durch Verschwenken einen Belichtungsmesser der eingangs gegebenen An
um einen Zapfen bewegbar ist, der in seiner Ab- 15 anzugeben, bei dem der Leiterdraht so angeordnet
Schirmstellung in der Bildebene angeordnet und ist, daß durch ihn die Meßergebnisse nicht beeinflußt
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