DE2112435A1 - Synthetische Pruefschaltung - Google Patents

Synthetische Pruefschaltung

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DE2112435A1
DE2112435A1 DE19712112435 DE2112435A DE2112435A1 DE 2112435 A1 DE2112435 A1 DE 2112435A1 DE 19712112435 DE19712112435 DE 19712112435 DE 2112435 A DE2112435 A DE 2112435A DE 2112435 A1 DE2112435 A1 DE 2112435A1
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/327Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
    • G01R31/333Testing of the switching capacity of high-voltage circuit-breakers ; Testing of breaking capacity or related variables, e.g. post arc current or transient recovery voltage
    • G01R31/3333Apparatus, systems or circuits therefor
    • G01R31/3336Synthetic testing, i.e. with separate current and voltage generators simulating distance fault conditions

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Description

  • Synthetische Prüfschaltung Die Erfindung betrifft eine synthetische Prüfschaltung zur Prüfung des Schaltvermögens von Hochspannungs-Leistungsschaltern o.dgl.
  • (Prüfling) mit einem Hochstromkreis, in dem der Prüfling mit einem Hilfsschalter in Reihe liegt, und einem aus einer Kapazität, einer Induktivität, einer steuerbaren Funkenstrecke und entweder einem Hilfsschalter oder dem Prüfling bestehenden Hochspannungskreis, r nach dem Unterbrechen des Hochstromkreises eine Schwingspannung zur Nachbildung der wiederkehrenden Spannung eines Wechselstromnetzes hervorbringt. Eine solche Schwingspannung unterscheidet sich von der aperiodischen Spannung bei der aus der deutschen Auslegeschrift 1 146 196 bekannten Prüfschaltung durch bessere öglichkeiten zur Anpassung an die gewünschte SpannungsbeanspruChung des Prüflings. Dies gilt besonders für die zur Nachbildung der Spannungsbeanspruchung neuerdings von IEC mit 4-Parametern definierte Kurve der wiederkehrenden Spannung, deren Scheitelwert gegenüber dem Verlauf der bisher üblichen Prüfspannungen verzögert auftritt.
  • Die Erfindung hat eine Steigerung der mit der oben definierten Prüfschaltung prüfbaren Ausschaltleistung zum Ziel. Erfindungsgemäß wird mindestens einem Element des Hochspannungskreises eine Kapazität zur Erniedrigung der Frequenz derart parallelgeschaltet, daß eine mehrfrequente Schwingspannung zur Anpassung an die nach dem 4-Parameterverfahren definierte wiederkehrende Spannung auftritt. Dadurch wird die Prüfschaltung so abgewandelt, daß mit geringem Aufwand eine genau den Vorschriften entsprechende Prüfung möglich ist. Die genaue Anpassung an die Vorschriften läßt gegenüber den bisher üblichen Prüfungen eine erhöhte Spannungsbeanspruchung zu. Dies läßt sich in dem Sinne als Steigerung der geprüften Ausschaltleistung ausdrücken, daß Schalter, die in der elektrischen Wiederverfestigung ihrer Schaltstrecke von der Steilheit der wiederkehrenden Spannung abhängen, mit der neuen Prüfschaltung bessere Prüfergebnisse zeigen. Deshalb kann man sagen, daß die neue Prüfschaltung die Prüfung um bis zu 10 ,0 größerC Ausschaltleistungen, je nach Schaltertype, ermöglicht.
  • Die mehrfrequente Schwingspannung kann man dadurch erhalten, daß Prüfling oder Hilfsschalter eine Kapazität über ein Schaltgerät, insbesondere eine steuerbare Funkenstrecke, parallelgeschaltet ist.
  • Mit dem Schließen des Schaltgerätes wird die Frequenz des Hochspannungskreises von ihrem ursprünglichen Wert, der die für den ersten Teil der wiederkehrenden Spannung ausreichende Steilheit ergibt, durch das Zuschalten der Kapazität erniedrigt, damit ein für den Teil der Prüfspannung geeigneter, weniger steiler Verlauf erreicht wird. Mehrfrequent bedeutet also in diesem Falle, daß der Schwingkreis in zwei verschiedenen Zeitabschnitten nicht mehr durch eine einzige Frequenz gekennzeichnet ist. Die parallelgeschaltete Kapazität sollte dabei etwa das Fünf- bis Zwanzigfache, vorzugsweise etwa das Zehnfache, der anfänglichen Kapazität des Hochspannungskreises ausmachen, die im wesentlichen durch den dem Prüfling oder Hilfsschalter unmittelbar parallelgeschalteten Kondensator gegeben ist.
  • Eine andere Möglichkeit besteht in der Verwendung eines Hochspannungskreises, bei dem die zusätzliche Kapazität über eine zusätzliche Induktivität entweder dem Prüfling bzw. Hilfsschalter oder der Induktivität des Hochspannungskreises parallelgeschaltet ist.
  • Zusatzkapazität und -induktivität liegen dabei etwa in der gleichen Größenordnung wie die die Schwingung bestimmenden Induktivitäts-und Kapazitätswerte des Hochspannungskreises. Hierbei ist der Hochspannungskreis von vornherein mehrfrequent in dem Sinne, daß an einzelnen Elementen gleichzeitig Schwingungen verschiedener Frequenz auftreten.
  • Einige Ausführungsformen der Erfindung kann man unter Umständen noch dadurch verbessern, daß man Spannungssprünge, die durch Zuschalten einer Kapazität an sich'verursacht werden, durch eine der Spannung im Schaltzeitpunkt angemessene Ladung der Kapazität vermeidet. Hierfür kann man besondere Ladeeinrichtungen oder aber Wirkungen der vor dem Wirksamwerden der Kapazität bei der Schalterprüfung sich einstellenden Ströme oder Spannungen benutzen.
  • Im folgenden werden an Hand der beiliegenden Figuren drei vereinfachte Ausführungsbeispiele beschrieben. Bs handelt sich jeweils um Prüfschaltungen mit Spannungsüberlagerung, für deren übereinstimmende Teile gleiche Bezugszeichen verwendet werden.
  • In Fig. 1 ist mit 1 der Hochstromkreis bezeichnet, der im wesentlichen von einer generatorischen Hochstromquelle 2 und einer den Strom begrenzenden Induktivität 3 gebildet wird. Im Hochstromkreis liegt die Reihenschaltung des zu prüfenden Leistungsschalters (Prüflings) 4 mit einem Hilfsschalter 5.
  • Dem Hilfsschalter 5 ist ein Kondensator 6 parallelgeschaltet, der in der als Spannungsüberlagerungsschaltung bekannten Anordnung dafür sorgt, daß nach dem Unterbrechen des Stromes der erste Teil der Spannungsbeanspruchung vom Hochstromkreis selbst geliefert wird. Die wiederkehrende Spannung des Hochstromkreises wird dabei durch einen Kondensator 10 und einen Widerstand 11 der erforderlichen Prüfspannung angepaßt.
  • Der Hochspannungskreis 14, der etwa im Scheitelwert der wiederkehrenden Spannung des Hochstromkreises 1 wirksam wird, liegt parallel zum Hilfsschalter 5, so daß sich die Spannungen von Hochstromkreis 1 und Hochspannungskreis 14 addieren. Als Hochspannungsquelle ist ein Kondensator 16 vorgesehen, der von einer nicht dargestellten Ladeeinrichtung aufgeladen wird. Zur Zuschaltung des Hochspannungskreises dient die Funkenstrecke 17, die über eine Induktivität 18 einen Schwingkreis schließt, der durch den Widerstand 19 gedämpft ist.
  • Die beschriebene Schaltung ist erfindungsgemäß durch eine Kapazität 20 erweitert, -die mit einer steuerbaren Funkenstrecke 21 in Reihe geschaltet ist. Die Reihenschaltung 20, 21 liegt parallel zum Hilfsschalter 5, so daß ein von einer Steuereinrichtung 22 verursachtes Zünden der Funkenstrecke 21 unmittelbar die am Prüfling 4 wirksam werdende Hochspannung beeinflußt. Das Zuschalten der Kapazität 20, die etwa den zehnfachen Kapazitätswert des Kondensators 6 hat, bewirkt eine Erniedrigung der Schwingungsfrequenz der Hochspannung, so daß sich eine mehrfrequente Einschwingspannung mit einer Kurvenform ergibt, die in besonders günstiger Weise dem nach dem 4-Parameter-Verfahren definierten Verlauf der IEC-Prüfspannung angepaßt ist.
  • Die Kapazität 20 wird beim Ausführungsbeispiel über einen hochohmigen Widerstand 24 aufgeladen, so daß beim Zuschalten keine nennenswerte Spannungsdifferenz vorhanden ist, die etwa einen Spannungseinbruch in der Prüfspannung zur Folge haben könnte. Für dieFunkenstrecke 21 verwendet man aus diesem Grunde zweckmäßig einen sogenannten Plasmastrahl, der mit genügend genauer Steuerbarkeit eine leitende Verbindung zwischen den Elektroden der Funkenstrecke 21 auch dann herstellt, wenn keine Spannungsdifferenz vorliegt.
  • In Fig. 2 ist der Hochstromkreis 1 in gleicher Weise wie in Fig. 1 ausgebildet. Auch der Hochspannungskreis 14 besitzt die gleichen Elemente. Hier wird aber die Kapazität 20 in Reihe mit einer Induktivität 26 parallel zum Hilfsschalter 5 geschaltet, um einen mehrfrequenten Schwingungskreis zu erhalten. Das ohne Steuermittel in den Hochspannungskreis eingefügte L-C-Glied 20, 26 sorgt von vornherein für einen mehrfrequenten Schwingungsvorgang im Hochspannungskreis, dessen Spannungsverlauf am Prüfling 4 die den IEC-Vorschriften in den 4-Parametern entsprechende Spannung liefert.
  • Beim Ausführungsbeispiel nach Fig. 3 ist das L-C-Glied 20, 26 umgesteuert parallel zur Induktivität 18 des Hochspannungskreises 14 geschaltet. Die damit erreichbare Spannungsbeanspruchung des Prüflings 4 ist aus der Figur 4 ersichtlich. Man erkennt, daß die wiederkehrende Spannung aus zwei überlagerten Komponenten zusammengesetzt ist. Mit U1 ist der aus dem Hochstromkreis 1 stammende Teil bezeichnet. Diesem überlagert sich nach dem Zünden der Funkenstrecke 17 die mehrfrequente Schwingspanaung des Hochspanndngskreises 14, so daß insgesamt die Spannung U2 entsteht. Die Spannung U2 paßt sich der IEC-Prüfspannung sehr gut an, und man erhält mit der neuen Prüfschaltung bis zu 10 eS größere Ausschaltleistungen.
  • Bei den Ausführungsbeispielen der Erfindung handelt es sich um die synthetische Prüfschaltung mit Spannungsüberlagerung, wobei der Hochspannungskreis 14 parallel zum Hilfsschalter 5 angeordnet ist. Die Erfindung kommt aber auch für andere synthetische Prüfschaltungen in Frage, z.B. solche, bei denen der Hochspannungskreis direkt an den Prüfling gelegt ist, und auch für Prüfschaltungen mit Stromüberlagerung, bei denen der Hochspannungskreis bekanntlich vor dem letzten Nulldurchgang des Hochstromes zugeschaltet wird.
  • 4 Figuren 7 Ansprüche

Claims (7)

  1. Patentansprüche 1. Synthetische Prüfschaltung zur Prüfung des Ausschaltvermögens von Hochspannungs-Leistungsschaltern o.dgl. (Prüfling) mit einem Hochstromkreis, in dem der Prüfling mit einem Hilfsschalter in Reihe liegt, und einem im wesentlichen aus einer Kapazität, einer Induktivität, einer steuerbaren Funkenstrecke und entweder Hilfsschalter oder Prüfling bestehenden Hochspannungskreis, der nach dem Unterbrechen des Hochstromkreises eine Schwingspannung zur Nachbildung der Wiederkehrenden Spannung eines Wechselstromnetzes hervorbringt, dadurch gekennzeichnet, daß zu mindestens einem Element des Hochspannungskreises (14) eine Kapazität (20) zur Erniedrigung der Frequenz derart parallel angeordnet ist, daß eine mehrfrequente Schwingspannung zur Anpassung an die nach dem 4-Parameterverfahren von IEC definierte wiederkehrende Spannung auftritt.
  2. 2. Synthetische Prüfschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Prüfling (4) oder Hilfsschalter (5) eine Kapazität (20) über ein Schaltgerät, insbesondere eine steuerbare Funkenstrecke (21), parallelgeschaltet ist (Fig. 1).
  3. 3. Synthetische Prüfschaltung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Kapazität (20) etwa das Fünf- bis Zwanzigfache der anfänglichen Kapazität des Hochspannungskreises (14) beträgt.
  4. 4. Synthetische Prüfschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß mit der Kapazität (20) eine zusätzliche Induktivität (26) in Reihe liegt.
  5. 5. Synthetische Prüfschaltung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß das L-C-Glied (20,- 26) dem Prüfling (4) oder Hilfsschalter (5) parallelgeschaltet ist (Fig. 2),
  6. 6. Synthetische Prüfschaltung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß das L-C-Glied (20, 26) der Induktivität (18) des Hochspannungskreises (14) parallelgeschaltet ist (Fig. 3).
  7. 7. Synthetische Prüfschaltung nach Anspruch 1 oder einem der folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß die Kapazität (20) vor ihrem Wirksamwerden aufgeladen ist.
    Leerseite
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CH1611371A CH542449A (de) 1971-03-09 1971-11-05 Vorrichtung zur synthetischen Prüfung des Ausschaltvermögens eines Hochspannungs-Leistungsschalters
NL7200343A NL170461C (nl) 1971-03-09 1972-01-10 Synthetische beproevingsschakeling voor het beproeven van het uitschakelvermogen van een hoogspanningsvermogensschakelaar of soortgelijke inrichting als proefobject.
JP2192872A JPS525705B1 (de) 1971-03-09 1972-03-02

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1146196B (de) * 1959-12-28 1963-03-28 Siemens Ag Anordnung zur Pruefung von Schaltgeraeten

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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DE1146196B (de) * 1959-12-28 1963-03-28 Siemens Ag Anordnung zur Pruefung von Schaltgeraeten

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NL7200343A (de) 1972-09-12
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DE2112435C2 (de) 1983-11-10
CH542449A (de) 1973-09-30
NL170461B (nl) 1982-06-01

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