DE2059446A1 - Read-Dioden-Oszillatoranordnung - Google Patents
Read-Dioden-OszillatoranordnungInfo
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Description
7 Stuttgart N, M.:n.,e!straßa 40 2059446
Western Electric Company Inc. " '· ^ίίΖ>
1970
195 Broadway
New Yoiis N. Y. 10007 / USA A 32 002
Read-Dioden-Oszillatoranordnung
Die Erfindung betrifft eine Read-Dioden-Oszillatüranordnung mit
einem zwischen einem ersten und zweiten Kontakt enthaltenen und innerhalb eines Resonators angeordneten Halbleiter, welcher
aufeinanderfolgend eine gleichrichtende Grenzfläche, einen verhältnismäfäg
dünnen Lawinendurchbruchbereich von hoher Leitfähigkeit sowie einen verhältnismäßig dicken Übergangsbereich geringer
Leitfähigkeit aufweist, wobei die Frequenz des Resonators in Zuordnung zu der Übergangszeit des Übergangsbereiches steht,
Bauelementen zur in Umkehrrichtung erfolgenden Vorspannung der Grenzfläche zur Bewirkung eines zeitweiligen Lawinondurchbruchs
dortseibst mit einer sich hieraus ergebenden Ausbildung einer
Konzentration von Mehrheitsträgern, wobei die Mehrheitsträger
durch die Umkehrvorspannungselemente zum Wandern durch den Übergangsbereich zu dem zweiten Kontakt veranlaßt werden, worauf
daa elektrische Feld in der Diode erneut ausreichend wiederverteilt
wird, um einen anderen Tjawinendurchbruch an der Grenzfläche
hervorzurufen, wobei sich der vorangehende Vorgang wiederholt.
Die UfJA-Pa tentoehrift 2 899 652 von Read beschreibt, wie Vielschicht-Lawinendiodon
hergontollt werden können, um einen negativen
Widerntand darzubieton und bei Anordnung in einer geeigneten
Resonanzschaltung Mikrowollonachwingungen erzeugen. Eine angeloßtc
Gleichspannung «pnnnt eine pn-Gronzf Llicho im Ginno eines
Ijnwimmdurchbruohoo vor, wobei ii t;romimpulse erzeugt worden, deren
jodor quer υλχ olnom Übor^angfJboreich innerhalb einer vorgenchriobonem
Zoitporiodrj verläuft. Di. en ο iiborgangoi'.ei t ntoht in Zuordnung
y.u dor R nonarizfroqiumz (lon äußoron Hononatorn in dor
109827/0924 ?
Weise, daß Hochfrequenzspannungen an den Diodenanschlüssen sich außer Phase mit Stromimpulsen in der Diode befinden. Mit einer
geeignet ausgelegten Phasenverschiebung steigt der Strom durch die Anschlüsse, wenn die Spannung an den Anschlüssen abnimmt,
wobei auf diese Weise ein negativer Widerstand hergestellt wird. Schließlich wird ein Teil der zu der Diode geführten
jleichstromenergie in dem Resonator in Hochfrequenaenergie umgewandelt,
und die Schaltung stellt eine Pestkörper-Mikrowellenquelle dar.
Die Read-Diode gehört zu einer Klasse von Dioden, die nunmehr
allgemein als IMPATT-Dioden bekannt sind (Abkürzung von
"Impact Avalanche and Transit Time")« Die Read-Diode ist ein Vierschichtgebilde, beispielsweise ein (p+nin+)-Gebilde, bei
dem die pn-Grenzfläehe zu der Lawine umgekehrt vorgespannt ist. Der η-Bereich ist gegenüber der i-Schicht dünn, so daß
der Stromimpuls gut begrenzt ist, wie dies für einen hohen Wirkungsgrad günstig ist. Der beste Wirkungsgrad wird erzielt,
wenn die Stromdichte in dem Stromimpuls hoch und der Strom um 180 außer Phase mit der äußeren Spannung ist. Das komplementäre
Gebilde, ein (n+pip+)-Gebilde> arbeitet in der gleichen Weise.
Obgleich Read-Dioden in zufriedenstellender Weise betrieben
wurden, erzeugten sie keine Mikrowellen mit dem in der vorangehend erwähnten Druckschrift vorausgesagten Wirkungsgrad. Es
wurde gefunden, daß der Hauptgrund für diesen schlechten Wirkungsgrad die "Rückdiffusion" von Mehrheits trägern in dem
Stromimpuls ist, welcher auftritt, bevor diese durch die eigentliche oder i-Schicht verlaufen i3t. Elektronen des Stromimpulses
zeigen das Bestreben, quer zu der pn-Grenzfläche zu diffundieren und werden in der (pt) -Schicht eingeschlossen,
wenn der Rest den Stromimpulsen durch den Übergangsbore ich
übertragen wird. Diese eingfjnchloüsenen Träger diffundieren
alndnnn quer zu dor pn-Gron:;fläch:; r-uriick und tx-diu·, ioron die
Zeit für die Bildung dea folgenden StromimpuLnon. Pion unterbricht
die Synchron in ie rung dor? Li tromImpulsen mit der äußerem
Spannung,
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BAO ORIGINAL
Erfindungsgemäß sind nun Bauelemente zur Verhinderung der Ein-Schließung
von Mehrhoitsträgern zwischen dem ersten Kontakt
sowie der Grenzfläche vorgesehen^ wobei der Wirkungsgrad des Oszillators verbessert v/ird. Pei einem Ausführungsbeispiel ist
eine p-leitende Schicht zwischen die (p+) -Schicht und die n-Schicht
eingefügt, um ein (p+pnin+) -Gebilde zu erzielen. Die
p-Schicht weist eine beachtlich niedrigere Leitfähigkeit als die (p+) -Schicht auf und muß notwendigerweise einem beachtlichen elektrischen Feld unterworfen werden, selbst wenn der
Stromimpuls quer zu dem Übergangsbereich verläuft. Dieses elektrische Feld verhindert, daß Elektronen in der p-Schicht
eingeschlossen v/erden und treibt diese stattdessen gegen den positiv vorgespannten Kontakt- Durch dickere Ausbildung der p-Schicht
gegenüber der Diffusionslänge eines Mehrheitsträgers kann sichergestellt werden, daß die Diffusion zu der (p+) Schicht
im wesentlichen ausgeschlossen wird.
Gemäß einem anderen Ausführungnbeispiel der Erfindung wird ein
Schottky-Schrankenkontakt verwendet, um die Lawinengrenzfläche zu bilden. Dies bedeutet, daß die Diode eine metallische (nin+) Ausbildung
aufweist. Die Diode wirkt in der gleichen Weise wie vorangehend beschrieben, wobei die Spannungsquelle die
Schottky-Schrankengrenzfläche zwischen dem Metall sowie der η-Schicht in Umkehrrichtung vorspannt. Für die Schottky-Schranke
ist es charakteristisch, daß die Elektronendiffusion von dem
Metallkontakt quer zu der Grenzfläche im wesentlichen verhindert wird. Auch kann Metall nicht Elektronen einschließen, da es
Elektronen frei leitet. Auf diese Weise steigert der metallische Schottky-Schrankenkontakt wesentlich den Wirkungsgrad der
Diode nach der eingangs erwähnten Druckschrift, indem das vorangehend beschriebene Problem beseitigt wird.
Die Erfindung ist nachstehend anhand der Zeichnung näher erläutert.
Es zeigen:
Fig. 1 ein Ausführungsbeispiel einer Diodenoszillatorschaltung
nach Read gemäß dom Stand der Technik,
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Fig. 2 die elektrische Feldverteilung in der Read-Diode gemäß
Fig. 1 in einem bestimmten Augenblick als Funktion des Ortes,
Fig. 3 ein Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäß abgewandelten
Read-Diode in schematiBcher Schnittdarstellung,
Fig. 4 die Feldverteilung der Diode nach Fig. 3 in einer Darstellung
ähnlich Fig. 2,
Fig. 5 ein weiteres Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäß
abgewandelten Read-Diode in einer Darstellung ähnlich Fig. 3.
Die Oszillatorschaltung gemäß Fig. 1 umfaßt eine Read-Diode 11, eine Induktivität 12, eine Kapazität 13, eine Vorspannungsquelle
14 sowie einen Verbraucher 15. Die Read-Diode 11 umfaßt einen
Wafer mit aufeinanderfolgenden Schichten 16, 17, 18S 19 von
(p+)-> (n)-, (i)- bzw. (n+)-Leitfähigkeit/ Die Diode befindet
sich in einem Mikrowellenresonator, der schematisch durch die
Induktivität 12 sowie die Kapazität 13 dargestellt ist. Die gleichrichtende pn-Grenzflache zwischen den Schichten 16, 17
ist durch die Spannungsquelle 14 in Umkehrrichtung vorgespannt. Die Oszillatorschaltung erzeugt Mikrowellenschwingungen, die
zur Auswertung auf den Verbraucher 15 übertragen werden.
Die Kurve 21 von Fig. 2 zeigt die Verteilung der elektrischen Feldstärke als Funktion des Ortes bzw. Abstandes in der Read-Diode
11. Wenn die Umkehrvorspannung anfänglich angelegt ist5
stellt sich das elektrische Feld an der pn-Grenzfläche zwischen den Schichten 16, 17 ausreichend hoch ein, um einen Lawinendurchbruch
zu verursachen. Dies wiederum erzeugt eine Konzentration von Mehrheitsträgerelektronen in der Schicht 17, welche
sich als Stromimpuls über die tatsächliche Schicht 18 auf den positiven Diodenkontakt fortpflanzt. Die Frequenz des äußeren
Mikrowellenresonators ist gegenüber der Übergangszeit des Stromimpulses sowie der für dia Stromimpulsausbildung anzusetzenden
Zeit so gewählt, daß der Strom in der Diode sich um 180° außer Phase gegenüber der äußeren Diodenspannung befindet j die durch
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_ 5 —
den Resonator angelegt ^ird. Die n-Schieht 17 ist günstigerweise
dünn gegenüber der i-Schicht 18, um eine scharfe Spitze des elektrischen Feldes an der Grenzfläche sowie einen scharf
definierten Stromimpuls zu erzielen. Wenn sich der Stromimpuls über den Übergangsbereich fortpflanzt, welcher durch die tatsächliche
Schicht 18 definiert ist, fällt daa elektrische PeId
an der pn-G-renzflache unter den Lawinendurchbruchwert. Nachdem
der Stromimpuls den positiven Kontakt erreicht hat, erreicht das elektrische Feld an der pn-Grenzfläche wiederum den
Lawinendurchbruch, wobei ein anderer Stromimpuls gebildet wird; der Vorgang wiederholt sich auf diese Weise von selbst.
Die n-Schicht 17 ist dünn gegenüber dem Übergangsbereich hergestellt,
der durch die Schicht 18 definiert ist, um einen beschränkten Lawinendurchbruch zu erzielen, wie dies in Fig. 2
angegeben ist, wobei sich hieraus ein begrenzter bzw. abgeschlossener Stromimpuls von hoher Stromdichte ergibt. Theoretisch
ermöglicht dies eine Ausbildung der Diode im Hinblick auf dje Erzielung einer Phasenverschiebung um 180° zwischen dem
Stromimpuls sowie der äußeren Spannung zum Zwecke der Erzielung eines maximalen negativen Widerstandes und Wirkungsgrades.
Tatsächlich ist es bereits seit Jahren bekannt, daß das Gebilde nach Fig. 1 nicht in der Lage ist, eine Mikrowellen-Ausgangsgröße
mit Wirkungsgraden zu erzeugen, welche diejenigen gemäß den Voraussagen der Theorie erreichen.
Es wurde gefundens daß sich dor niedrige Wirkungsgrad aus der
Rückdiffusion von Elektronen in dem Stromimpuls ergibt. Jede
hohe Stromdichtenkonzentration in einem Halbleiter zeigt das Bestreben, in beiden Richtungen von dem Mittelpunkt der Konzentration
zu,, diffundieren. Bgi dor Einrichtung nach Fig. 1
ergibt sich, obgleich dan olelctriaohe Feld den Stromimpuls als
eine Einheit go^on don ponitivon Kontakt anzieht, ein wesentlicher
Di f funionnrjfcrom In Richtung des nogn t L /on Kontakten quer
zu der pn-GronzfLache, Genriß ?\r.. 2 liegt im wesentlichen kein
elektrischer) Pr-Ld in dor (ρ+) -,'!chicht 16 wegon flor hohen
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Leitfähigkeit dieser Schicht vor. Auf diese Weise werden Elektronen,
welche in die Schicht 16 diffundieren können, dort eingeschlossen, weilsie nicht durch irgendein wesentliches
elektrisches Feld beeinflußt werden.
Nachdem sich der Stromimpuls in die Schicht 18 gegen den positiven
Kontakt bewegt hat, zeigen die Elektronen in der Schicht 16 das Bestreben, wiederum quer zu der pn-G-ronzflache zurück
in die Schicht 17 zu diffundieren. Diese Elektronen reduzieren
die erforderliche Zeit zur Ausbildung folgender Stromimpulse, 30 daß der Wirkungsgrad der Einrichtung reduziert wird.
Fig. 3 zeigt eine Diode 23 nach der Erfindung, welche in der
Schaltung nach Fig. 1 verwendbar ist und Schichten 24, 25, 26, 27, 28 vom (p+)->
(p)-, (n)-., (i)- bzw. (n+) -leitenden Typ umfaßt. Die Diode unterscheidet sich von der Diode 11 im
wesentlichen durch die Einfügung der p~leitenden Schicht 25 zwischen die (p+) -leitende Schicht 24 sowie die n-leitende
Schicht 26. Die (p+) -leitende Schicht 24 ermöglicht einen guten Ohm'sehen Kontakt zu dem Wafer, während die (p) -leitende
Schicht 25 die. Ausbildung einen wesentlichen elektrischen Feldes zwischen der (p+) -leitenden Schicht 24 sowie der pn-Grenzfläche
der Schichten 25s 26 sicherstellt.
Die Kurve 29 gemäß Fig. 4 zeigt Λα.3 in der Diode 23 zum Zeitpunkt
den anfänglichen Lawinendurchbruches an der pn-Grenzfläche
aufgebaute elektrische Feld. Wegen der verhältnismäßig niedrigen Leitfähigkeit der p-Schicht 25 verläuft das elektrische
Feld durch die p-Sohicht, anstatt plötzlich an der pn-Grenzfläche gemäß B1Ig. 2 abzufallen. Ein hochkonzentrierter
Stromimpuls wird in der η-leitenden Schicht 26 ausgebildet;
dot· Ete trieb der Diode entspricht im wesentL iohen demjenigen
gemäß Fig. 1. Jedoch werden Elektronen, die <[uor :;u der pn-(irena
f Lache in die Schicht 25 diffundiert, werdon, nicht eingeschlossen,
weil πio untor dom Kirifiuß dos (-1L
> let,r:iriehen
vorbleiben. Hierbei v/ordoti die l'loktnmon gegen den
— 7 —
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BAD ORIGINAL
positiven Kontakt unmittelbar angezogen und bewirken keine Störung bei der Ausbildung eines folgenden Stromimpulses. Auf
diese Weise wird vor der Bildung deB darauffolgenden Lawinendurchbruches
an der pn-G-renzfläche eine η-leitende Schicht 26
zu einem "ausgespülten" oder entleerten Bereich, welcher frei von Mehrheitsträgerelektronen ist>
wie dies bei einer richtigen Ausbildung der Read-Diode zur Erzielung eines optimalen Wirkungsgrades
angenommen wird.
Die Diode 23 kann typischerweise durch epitaxiale oder diffundierte
Schicht 24 - 27 gebildet sein, die auf einem Siliziumunterlagematerial
28 ausgebildet sind. Typische Abmessungen ergeben sich gemäß der folgenden Zusammenstellung:
Schicht 24 0,5 Mikron
» 25 0,4 "
» 26 0,6 »
" 27 4,0 "
» 28 50,0 »
Die Leitfähigkeit der Schichten in Trägern pro cm ergeben sich
gemäß der folgenden Zusammenstellung:
Schicht 24
25
11 26 3 x 10
25
11 26 3 x 10
27 we
28 10
"25 6 χ 1016
Ι6
" 27 weniger als 10 J
\\
no «ι η1— w
Komplementäre Siliziumdioden mit entgegengesetzten Leitfähigkeitstypen
können mit im wesentlichen gleichen Abmessungen und Trägerkonzentrationen gemäß den vorangehenden Angaben hergestellt
werden. Dies bedeutet, daß die Diode in der Form n+npip+ aufgebaut ist. Die Diode kann auch aus anderen bekannten Halbleiterstoffen
hergestellt sein, beispielsweise aus Germanium, und auch in verschiedenen anderen Formen abgewandelt werden, wie
sich dies aus dem Stand der Technik ergibt.
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Ein anderes Gebilde zur Lösung dee Problems des Einschlusses von Trägern ergibt sich auB Pig. 5. Der Halbleiterwafer der Diode
umfaßt Schichten 32, 33, 34 von (n)-, (i)- bzw. (n+) -Leitfähigkeit. Ein positiver Kontakt 35 ist der übliche Ohm'sche
Kontakt, jedoch bildet ein Kontakt 36 eine Schottky-Schrenke
mit der η-leitenden Schicht 32. Eine Grenzfläche 37 ist in Umkehrrichtung durch die äußere Spannung auf einen Lawinendurchbruch
vorgespannt, und die Diode arbeitet in der gleichen Weise wie gemäß Pig. 1.
Eine Rückdiffusion von Elektronen an der Grenzfläche 37 tritt wie bei dem Ausführungsbeispiel nach Fig. 1 auf s mit der Ausnahme,
daß der Metallkontakt 36 unfähig zum Einschluß der Elektronen ist. Dies bedeutet, daß freie Elektronen nicht das
Atomgleichgewicht des Metalls beeinflussen; nachdem der Stromimpuls
die Schicht 32 in seinem Übergang quer zu den Schichten 33, 34 verläßt, kann keine wesentliche Diffusion quer zu der
Grenzfläche 37 als Ergebnis gespeicherter Elektronen in dem Metallkontakt 36 auftreten. Wenn somit die Schottky-Schranken^-
grenzflache 37 mit einer minimalen "Lässigkeit" gut ausgebildet ist, kann die n-Schicht 32 im wesentlichen die Elektronen
vor der Bildung des darauffolgenden Stromimpulses abgeben, und die Diode vermag mit hohem Wirkungsgrad zu arbeiten.
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Claims (4)
1.yRead-Dioden-Oszillatoranordnung mit einem zwischen einem
ersten und zweiten Kontakt enthaltenen und innerhalb eines Resonators angeordneten Halbleiter, welcher aufeinanderfolgend
eine gleichrichtende Grenzfläche, einen relativ* dünnen Lawinendurchbruchbereich von hoher Leitfähigkeit
sowie einen verhältnismäßig dicken Übergangsbereich geringer
Leitfähigkeit aufweist, wobei die Frequenz des Resonators in Zuordnung zu der Übergangszeit des Übergangsbereiches
steht, Bauelementen zur in Umkehrrichtung erfolgenden Vorspannung der Grenzfläche zur Bewirkung eines zeitweiligen
Lawinendurchbruchs dortselbst mit einer sich hieraus ergebenden
Ausbildung einer Konzentration von Mehrheitsträgern, wobei die Mehrheitsträger durch die Umkehrvorspannungselemente
zum Wandern durch den Übergangebereich zu dem zweiten Kontakt veranlaßt werden, worauf das elektrische
Feld in der Diode erneut ausreichend wiederverteilt wird;, um einen anderen Lawinendurchbruch an der Grenzfläche
hervorzurufen, wobei sich der vorangehende Vorgang wiederholt, gekennzeichnet durch Mittel (25) zur Verhinderung
des Einschlusses von Mehrheitsträgern zwischen dem ersten Kontakt sowie der Grenzfläche, entsprechend einem
verbesserten Wirkungsgrad des Oszillators.
2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Mittel zur Verhinderung eines Elektroneneinschlusses eine
er3te HalbleiterDchicht (24) sowie eine zweite Halbleiterschicht (25) umfassen, welche zwischen dem ersten Kontakt
sowie dem Lawinenbereich (26) enthalten ist, und daß die zweite Schicht (25) die gleichrichtende Grenzfläche mit dem
Lawinenbereich bildet und eine wesentlich geringere Leitfähigkeit als die erste Halbleiterschicht aufweist, wobei
ein wesentliches elektrisches Feld durch dio zweite Schicht verläuft, wenn die Diode rückwärts vorgespannt ist, so daß
der Einschluß von Mehrheitsträgern in der zweiten Schicht
verhindert wird.
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— st —
3. Anordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die zweite Schicht (25) dicker als die Diffusionslänge eines
Mehrheitsträgers in dem Lawinenbereich (26) ist.
4. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 - 3S dadurch gekennzeichnet,
daß die Mittel (36) zUr Verhinderung eines Einschlusses einen Metallkontakt von einer Schottky-Schrankengrenzfläche
(37) mit dem Lawinenbereich (32) umfassen.
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